EP1238262A2 - Verfahren und einrichtung zur messung von kenngrössen einer probe - Google Patents

Verfahren und einrichtung zur messung von kenngrössen einer probe

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EP1238262A2
EP1238262A2 EP00991062A EP00991062A EP1238262A2 EP 1238262 A2 EP1238262 A2 EP 1238262A2 EP 00991062 A EP00991062 A EP 00991062A EP 00991062 A EP00991062 A EP 00991062A EP 1238262 A2 EP1238262 A2 EP 1238262A2
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EP
European Patent Office
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reference samples
parameters
calibration
sample
calculated
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Withdrawn
Application number
EP00991062A
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English (en)
French (fr)
Inventor
Peter Maier
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Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
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Withdrawn legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
    • G01N2201/12723—Self check capacity; automatic, periodic step of checking

Definitions

  • the invention relates to a method for measuring characteristic quantities of a sample by means of spectral analysis, the characteristic quantities being calculated from the spectral data obtained thereby using a calibration model created on the basis of reference samples.
  • the invention further relates to a device for measuring characteristic quantities of a sample with a spectrometer for spectral analysis of the sample and with a calibration model created on the basis of reference samples, which calculates the characteristic quantities from spectral data supplied by the spectrometer.
  • NIR spectroscopy in which the molecular structure in the sample material is excited with radiation quanta in the near infrared range (NIR). The molecules get into vibrational states according to their structure and show typical energy absorption. In the resulting spectrum, the energy absorption is recorded using a detector based on discrete wavelengths. From the spectral data thus obtained, characteristic quantities of the sample to be determined are calculated using a calibration model. These parameters can basically include all parameters of the sample that correlate with the information content of the spectrum. The parameters therefore include in particular the molecular structure of the sample and the resulting physical and chemical properties.
  • the calibration model is based on the spectral data and using chemometric methods such as MLR (Multiple Linear Regression) or PLS (Partial Least Squares)
  • Characteristics of selected or prepared reference samples created the characteristics of the reference samples already are known and / or determined by reference analysis, for example in the laboratory.
  • the reference samples must correspond as closely as possible to the samples to be analyzed and cover the range of variation of the characteristic quantities of the samples to be determined.
  • the invention is based, with as little effort possible measurement deviations before an object
  • the object is achieved in that in the method of the type mentioned at the beginning, by means of at least one further calibration model created on the basis of further reference samples, a further calculation of the parameters of the sample is carried out and that deviations between the parameters calculated in each case by the calibration models determined and output.
  • a further calculation of the parameters of the sample is carried out and that deviations between the parameters calculated in each case by the calibration models determined and output.
  • Posted for the initially mentioned device is the on ⁇ handover characterized solved in that at least one of additional reference samples created on the basis of another calibration model is present, theteurbowt a further calculation of the ISIN large, and that the calibration models comparing means is arranged downstream of the deviations between determines and outputs the parameters calculated by the calibration models.
  • the two or multiple calculation of the parameters in independent calibration models and the determination of the deviations between the calculated parameters lead to an improvement in the reliability of the measurements and their robustness against undetected error influences. Since the determined deviations are available together with the calculated parameters, the user can assess the quality of the measurement for each sample. In particular, it can be determined by monitoring the deviations ascertained that a predetermined threshold is exceeded if the measurement error becomes too large. This can be carried out automatically in routine operation by the measuring device according to the invention, so that it can also be used in otherwise unmonitored on-line operation; Regular control measurements are then not necessary and a recalibration is only necessary when an automatically detected and reported threshold is exceeded.
  • the additional calibration and computational effort caused by the at least one further calibration model is only slight and corresponds to the number and selection of the
  • Calibration used calibration samples.
  • the possible objection with a summary of the reference samples used for the independent calibration models to create a single, more comprehensive calibration model, a comparable improvement in the measurement behavior could only be achieved in particularly favorable cases, since the distribution of the reference samples carefully according to the facial point of a uniform coverage of the measuring range must be selected.
  • the reference samples and the other reference samples each cover different ranges of variation in the parameters to be determined for the samples.
  • the one calibration model can be formed by covering a relatively large range of variation with naturally selected reference samples, while the further calibration model is created over a relatively narrow range of variation with specially prepared samples; one calibration model then calculates the parameters in the larger range of variation with a relatively low resolution, while the other calibration model calculates the parameters in the narrower range with high resolution.
  • a high degree of robustness of the measurement is achieved in the narrower coverage area of the two calibration models, while a still usable measurement result is achieved in the wide area.
  • the calibration models can be created with reference samples or other reference samples under slightly different boundary conditions or with reference samples and other reference samples from different times.
  • the calibration models can of course also be based on partially identical reference samples.
  • the type of selection of the other calibration models whose range of validity must of course overlap in the normal measuring range, offers the possibility of taking into account, as experience has shown, deviations or changes in the samples that are associated with a further calibration were recorded, with the previous experience being re-calibrated.
  • the measuring device can be adapted step by step to changes or a new calibration can be tested for preservation in measuring operation and can be improved step by step.
  • the selection of already determined spectral data from samples of known composition is a step that is varied and optimized several times, so that the further calibration models can be created without any significant additional effort.
  • a sample 1 is subjected to a spectral analysis in a spectrometer 2.
  • the polychromatic light 3 is fed to a radiation source 4, for example a halogen lamp, to a monochromator 5.
  • the monochromatic light 6 is fed to a measuring cell 7, in which it interacts with the sample for 1 m.
  • the molecules of sample 1 come into oscillation states according to their structure and show typical energy absorptions.
  • the light 8 transmitted or reflected by the sample 1 reaches a detector 9 which detects the energy absorption and provides it on the output side as spectral data 10.
  • Data 10 parameters 12 to be determined of sample 1, for example a specific molecular concentration, are calculated.
  • first spectral data 10 'and known or determined by analytical reference characteristic Great 12' of selected or specially prepared reference samples l 1 determines are being calculated by means of a chemometric method weighting functions in the form of a Kalibrationsmat ⁇ x 13, its application to the spectral data 10 'or 10 gives the parameters 12' or 12 except for a certain amount of error.
  • the two calibration models 11 and 14 are shown here as separate circuit blocks because of their independence, but in practice the associated calibration matrices 13, 14 can be combined to form a single matrix in which the input and output variables can occur two or more times from the further calibration model 14 from the spectral data 10 of sample 1, calculated parameters 16 are compared in a comparison 17 with parameters 12 calculated by calibration model 11. If the deviation between the calculated parameters 12 and 16 exceeds a predetermined threshold, the comparison device 17 generates a warning 18, which indicates an excessive measurement error.
  • the calibration models 11 and 14 can be followed by a selection device 19 which, on the basis of predetermined criteria 20, e.g. Temperature or sample consistency, decides which of the calculated parameters 12, 16 are the most trustworthy and outputs them as the result 21 of the measurement.
  • predetermined criteria e.g. Temperature or sample consistency

Abstract

Bei der Messung von Kenngrössen einer Probe durch Spektralanalyse werden aus den dabei erhaltenen spektralen Daten mittels eines auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodells die Kenngrössen berechnet. Um die Robustheit der Messung zu erhöhen, erfolgt mittels mindestens eines auf der Grundlage von weiteren Referenzproben (1'') erstellten weiteren Kalbrationsmodells (14) eine weitere Berechnung der Kenngrössen (16) der Proben (1), wobei Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen (11, 14) jeweils berechneten Kenngrössen (12, 16) ermittelt und ausgegeben werden.

Description

Beschreibung
Verfahren und Einrichtung zur Messung von Kenngroßen einer Probe
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung von Kenngroßen einer Probe durch Spektralanalyse, wobei aus den dabei erhaltenen spektralen Daten mittels eines auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodells die Kenn- großen berechnet werden.
Die Erfindung betrifft ferner eine Einrichtung zur Messung von Kenngroßen einer Probe mit einem Spektrometer zur Spektralanalyse der Probe und mit einem auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodell, das aus von dem Spektrometer gelieferten spektralen Daten die Kenngroßen berechnet .
Ein Beispiel für die Spektralanalyse von Proben ist die NIR- Spektroskopie, bei der die Molekulstruktur im Probenmaterial mit Strahlungsquanten im nahen Infrarotbereich (NIR) angeregt wird. Dabei gelangen die Moleküle entsprechend ihrer Struktur in Schwingungszustande und zeigen typische Energieabsorptionen. In dem resultierenden Spektrum werden die Energieabsorp- tionen mittels eines Detektors bezogen auf diskrete Wellenlangen erfaßt. Aus den so erhaltenen spektralen Daten werden mittels eines Kalibrationsmodells zu bestimmende Kenngroßen der Probe berechnet. Diese Kenngroßen können grundsatzlich alle Parameter der Probe umfassen, die mit dem Informations- gehalt des Spektrums korrelieren. Zu den Kenngroßen gehören daher insbesondere der molekulare Aufbau der Probe und die sich daraus ergebenden physikalischen und chemischen Eigenschaften. Das Kalibrationsmodell wird mittels chemometrischer Verfahren, wie MLR (Multiple Linear Regression) oder PLS (Partial Least Squares), aufgrund der spektralen Daten und
Kenngroßen von ausgewählten oder präparierten Referenzproben erstellt, wobei die Kenngroßen der Referenzproben bereits bekannt sind und/oder durch Referenzanalyse, beispielsweise im Labor ermittelt werden. Die Referenzproben müssen den eweils zu analysierenden Proben so weit wie möglich entsprechen und dabei den Variationsbereich der zu bestimmenden Kenngroßen der Proben repräsentativ abdecken.
In der Praxis besteht die Schwierigkeit, sicherzustellen, daß die mit dem einmal erstellten Kalibrationsmodell durchgeführten Messungen bestimmter Kenngroßen von Proben für eine mog- liehst lange Zeit richtig bleiben. So können im Laufe der Zeit unbemerkt Veränderungen an der Meßeinrichtung oder in der Probenzusammensetzung auftreten. Außerdem können immer wieder Einflüsse auftreten, die bei der Erstellung des Kalibrationsmodells durch die Auswahl der Referenzproben oder durch die äußeren Umstände der Kalibration nicht erfaßt wurden. Dies kann zur erhöhten Meßfehlern fuhren. Das Kalibrationsmodell muß daher im Rahmen von Kontrollmessungen in gewissen Zeitabstanden oder bei Veränderungen der äußeren Bedingungen mittels einer Kalibrationsstichprobe überprüft werden, wobei im Falle einer zu großen Meßabweichung eine Neukalibration oder eine Korrektur des bestehenden Kalibrationsmodells erforderlich ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, mit möglichst geringem Aufwand mögliche Meßabweichungen noch vor einer
Kontrollmessung automatisch zu erkennen und die betroffene Probe zu identifizieren.
Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe dadurch gelost, daß bei dem Verfahren der eingangs angegebenen Art mittels mindestens eines auf der Grundlage von weiteren Referenzproben erstellten weiteren Kalibrationsmodells eine weitere Berechnung der Kenngroßen der Probe erfolgt und daß Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen jeweils berechneten Kenn- großen ermittelt und ausgegeben werden. Bezuglich der eingangs angegebenen Einrichtung wird die Auf¬ gabe dadurch gelost, daß mindestens ein auf der Grundlage von weiteren Referenzproben erstelltes weiteres Kalibrationsmodell vorhanden ist, das eine weitere Berechnung der Kenn- großen durchfuhrt, und daß den Kalibrationsmodellen eine Vergleichseinrichtung nachgeordnet ist, die Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodelllen jeweils berechneten Kenngroßen ermittelt und ausgibt.
Die zwei- oder mehrfache Berechnung der Kenngroßen in unabhängigen Kalibrationsmodellen und die Ermittlung der Abweichungen zwischen den berechneten Kenngroßen fuhren zu einer Verbesserung der Zuverlässigkeit der Messungen und ihrer Robustheit gegenüber unbemerkten Fehlereinflussen . Da die ermittelten Abweichungen zusammen mit den berechneten Kenngroßen zur Verfugung stehen, kann der Anwender die Qualität der Messung bei jeder Probe beurteilen. Insbesondere kann durch eine Überwachung der ermittelten Abweichungen auf Überschreiten einer vorgegebenen Schwelle festgestellt wer- den, wenn der Meßfehler zu groß wird. Dies kann von der erfmdungsgemaßen Meßeinrichtung automatisch im Routinebetrieb durchgeführt werden, so daß sie auch im ansonsten unuberwachten On-Line-Betrieb einsetzbar ist; regelmäßige Kontrollmessungen sind dann nicht notig und erst bei einer automatisch erkannten und gemeldeten Schwellenuberschreitung wird eine Nachkalibration erforderlich.
Der durch das mindestens eine weitere Kalibrationsmodell bedingte zusatzliche Kalibrier- und Rechenaufwand ist nur gering und entspricht der Anzahl und Auswahl der zur
Kalibration herangezogenen Kalibrationsproben . Der mögliche Einwand, mit einer Zusammenfassung der für die unabhängigen Kalibrationsmodelle herangezogenen Referenzproben zur Erstellung eines einzigen, umfassenderen Kalibrationsmodells konnte eine vergleichbare Verbesserung des Meßverhaltens erreicht werden, trifft nur in besonders gunstigen Fallen zu, da die Verteilung der Referenzproben sorgfaltig nach dem Gesichts- punkt einer gleichmäßigen Uberdeckung des Meßbereichs gewählt werden muß. Außerdem würde man die Möglichkeit verlieren, eine Veränderung gegenüber den Kalibrationsbedingungen einfach und automatisch zu erkennen, so wie dies durch die Erfindung ermöglicht ist.
Für die Auswahl der Referenzproben zur Erstellung des Kalibrationsmodells und die weiteren Referenzproben zur Erstellung des weiteren Kalibrationsmodells bestehen unterschiedliche Möglichkeiten. Sinnvoll ist es, daß die Referenzproben und die weiteren Referenzproben jeweils unterschiedlich große Variationsbereiche der bei den Proben zu bestimmenden Kenngroßen abdecken. So kann beispielsweise das eine Kalibrationsmodell unter Abdeckung eines relativ großen Variations- bereichs mit naturlich ausgewählten Referenzproben gebildet werden, wahrend das weitere Kalibrationsmodell über einen relativ engen Variationsbereich mit eigens präparierten Proben erstellt wird; das eine Kalibrationsmodell berechnet dann die Kenngrößen in dem größeren Variationsbereich mit relativ geringer Auflösung, während das weitere Kalibrationsmodell die Kenngroßen in dem engeren Bereich mit hoher Auflosung berechnet. In dem engeren Uberdeckungsbereich der beiden Kalibrationsmodelle wird eine hohe Robustheit der Messung erreicht, wahrend in dem breiten Bereich ein noch nutzbares Meßergebnis erzielt wird.
Darüber hinaus können die Kalibrationsmodelle mit Referenzproben bzw. weiteren Referenzproben unter geringfügig unterschiedlichen Randbedingungen oder mit Referenzproben und weiteren Referenzproben aus unterschiedlichen Zeiten erstellt werden. Naturlich können den Kalibrationsmodellen neben unterschiedlichen Referenzproben auch teilweise identische Referenzproben zugrunde liegen. Die Art der Auswahl der weiteren Kalibrationsmodelle, deren Gültigkeitsbereich sich naturlich im normalen Meßbereich überschneiden muß, bietet die Möglichkeit, erfahrungsgemäß zu erwartende Abweichungen zu berücksichtigen oder Veränderungen der Proben, die mit einer weiteren Kalibration erfaßt wurden, unter Erhalt der früheren Erfahrungen emzukalibrieren. Auf diese Weise kann die Meßeinrichtung schrittweise an Veränderungen adaptiert werden oder auch eine neue Kalibration auf die Bewahrung im Meßbetrieb hin getestet und schrittweise verbessert werden. Beim Erzeugen einer Kalibration ist ohnehin die Auswahl von bereits ermittelten spektralen Daten von Proben bekannter Zusammensetzung ein Schritt, der mehrfach variiert und optimiert wird, so daß die weiteren Kalibrationsmodelle ohne nennenswerten Zusatzaufwand erstellt werden können.
Mit einer den Kalibrationsmodellen nachgeordneten Auswahleinrichtung besteht die Möglichkeit, aufgrund von proben- und/oder meßsituationsspezifischen Kriterien, wie z.B. Temperatur oder Probenkonsistenz, unter den von den verschiedenen Kalibrationsmodellen berechneten Kenngroßen die jeweils vertrauenswürdigsten auszuwählen. So können auch vorhersehbare äußere Einflüsse einfach berücksichtigt werden, indem diejenigen berechneten Kenngroßen weiter verwendet werden, für die die Kalibrationsbedmgungen am besten dem Einfluß entsprechen, ohne daß die Kalibration selbst geändert werden muß .
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird im folgenden auf die Zeichnung Bezug genommen, die ein Ausfuhrungsbeispiel der erfmdungsgemaßen Meßeinrichtung als vereinfachtes Blockschaltbild zeigt.
Eine Probe 1 wird in einem Spektrometer 2 einer Spektral- analyse unterzogen. Dazu wird das polychromatische Licht 3 einer Strahlungsquelle 4, z.B. einer Halogenlampe, einem Monochromator 5 zugeführt. Bei dem gezeigtem Monochromator 5 handelt es sich um ein akusto-optisches Filter (AOTF = Acous- to-Optic Tunable Filter) , dessen optische Eigenschaften durch gezielte Anregung mit Ultraschall-Wellen gesteuert werden, so daß aus dem polychromatischem Licht 3 monochromatische Strahlungsmoden 6 mit hoher Wellenlangengenauigkeit im nahen Infrarotbereich (NIR) erzeugt werden. Das monochromatische Licht 6 wird einer Meßzelle 7 zugeführt, in der es mit der Probe 1 m Wechselwirkung tritt. Dabei gelangen die Moleküle der Probe 1 entsprechend ihrer Struktur in Schwmgungszu- stände und zeigen typische Energieabsorptionen. Das von der Probe 1 transmittierte oder reflektierte Licht 8 gelangt auf einen Detektor 9, der die Energieabsorptionen erfaßt und ausgangsseitig als spektrale Daten 10 bereitstellt.
In einem Kalibrationsmodell 11 werden aus den spektralen
Daten 10 zu bestimmende Kenngroßen 12 der Probe 1, z.B. eine bestimmte Molekulkonzentration, berechnet. Zur Erstellung des Kalibrationsmodells 11 werden zunächst spektrale Daten 10' und bekannte oder durch Referenzanalyse ermittelte Kenngroßen 12' von ausgewählten oder eigens präparierten Referenzproben l1 ermittelt, wobei mittels eines chemometrischen Verfahrens Gewichtsfunktionen in Form einer Kalibrationsmatπx 13 berechnet werden, deren Anwendung auf die spektralen Daten 10' bzw. 10 die Kenngroßen 12' bzw. 12 bis auf einen gewissen Fehlerbetrag ergibt.
In der Praxis kommen immer wieder Einflüsse vor, die bei der Erstellung des Kalibrationsmodells 11 durch die Auswahl der Referenzproben l' oder durch die äußeren Umstände der Kalib- ration nicht erfaßt wurden. Dies kann zu erhöhten Meßfehlern im Betrieb fuhren. Um derartige Meßfehler frühzeitig erkennen und die betroffene Probe 1 identifizieren zu können, ist ein von dem Kalibrationsmodell 11 unabhängiges weiteres Kalibrationsmodell 14 vorgesehen, das auf der Grundlage von Refe- renzproben l" unter geringfügig veränderten Randbedingungen erstellt wurde. Die beiden Kalibrationsmodelle 11 und 14 sind hier wegen ihrer Unabhängigkeit als separate Schaltungsblocke dargestellt; in der Praxis können jedoch die zugehörigen Ka- librationsmatrizen 13, 14 zu einer einzigen Matrix zusammen- gefaßt werden, in der die Eingangs- und Ausgangsgroßen zwei- oder mehrmals vorkommen können. Die beim Betrieb der Meßeinrichtung von dem weiteren Kalibrationsmodell 14 aus den spektralen Daten 10 de Probe 1 berechneten Kenngroßen 16 werden in einer Vergle-_chεeιnπchtung 17 mit den von dem Kalibrationsmodell 11 berechneten Kenngroßen 12 verglichen. Wenn die Abweichung zwischen den berechneten Kenngroßen 12 und 16 eine vorgegebene Schwelle überschreitet, erzeugt die Vergleichsemπchtung 17 eine Warnung 18, die auf einen zu hohen Meßfehler hinweist.
Wie gestrichelt dargestellt ist, kann den Kalibrationsmo- dellen 11 und 14 eine Auswahleinrichtung 19 nachgeordnet sein, die aufgrund von vorgegebenen Kriterien 20, wie z.B. Temperatur oder Probenkonsistenz, entscheidet, welche der berechneten Kenngroßen 12, 16 am vertrauenswürdigsten sind, und diese als Ergebnis 21 der Messung ausgibt.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Messung von Kenngrößen einer Probe durch Spektralanalyse, wobei aus dabei erhaltenen spektralen Daten mittels eines auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodells die Kenngroßen berechnet werden, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß mittels mindestens eines auf der Grundlage von weiteren Referenzproben (1") erstellten weiteren Kalibrationsmodells (14) eine wei- tere Berechnung der Kenngroßen (16) der Proben (1) erfolgt und daß Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen (11, 14) jeweils berechneten Kenngroßen (12, 16) ermittelt und ausgegeben werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Abweichungen auf Überschreiten einer vorgegebenen Schwelle überwacht werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g e - k e n n z e i c h n e t , daß die Referenzproben (1') und die weiteren Referenzproben (1") jeweils unterschiedlich große Variationsbereiche der Kenngroßen (12, 16) abdecken.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die
Kalibrationsmodelle (11, 14) mit Referenzproben (l1) und weiteren Referenzproben (l") unter geringfügig unterschiedlichen Randbedingungen erstellt werden.
5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Kalibrationsmodelle (11, 14) mit Referenzproben (l1) und weiteren Referenzproben (l") aus unterschiedlichen Zeitpunkten erstellt werden.
6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß aufgrund von proben- und/oder meßsituationsspezifischen Kriterien (20) eine Auswahl der von einem der Kalibrationsmodelle (11, 14) berechneten Kenngroßen (12, 16) erfolgt.
7. Einrichtung zur Messung von Kenngroßen einer Probe mit einem Spektrometer zur Spektralanalyse der Probe und mit einem auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodell, das aus von dem Spektrometer gelieferten spektralen Daten die Kenngroßen berechnet, d a d u r c h g e - k e n n z e i c h n e t , daß mindestens ein auf der Grundlage von weiteren Referenzproben (1") erstelltes weiteres Kalibrationsmodell (11) vorhanden ist, das eine weitere Berechnung der Kenngroßen (16) durchfuhrt, und daß den Kalibrationsmodellen (11, 14) eine Vergleichseinrichtung (17) nachgeordnet ist, die Abweichungen zwischen den von den
Kalibrationsmodellen (11, 14) jeweils berechneten Kenngroßen (12, 16) ermittelt und ausgibt.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n - z e i c h n e t , daß die Vergleichseinrichtung (17) Mittel aufweist, die die Abweichungen aufs Überschreiten einer vorgegebenen Schwelle überprüfen.
9. Einrichtung nach Anspruch 7 oder 8, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß den Kalibrationsmodellen
(11, 14) eine Auswahleinrichtung (19) nachgeordnet ist, die aufgrund von ihr zugefuhrten proben- und/oder meßsituations- spezifischen Kriterien (20) eine Auswahl der von einem der Kalibrationsmodelle (11, 14) berechneten Kenngroßen (12, 16) vornimmt.
EP00991062A 1999-12-15 2000-12-14 Verfahren und einrichtung zur messung von kenngrössen einer probe Withdrawn EP1238262A2 (de)

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PCT/DE2000/004456 WO2001044788A2 (de) 1999-12-15 2000-12-14 Verfahren und einrichtung zur messung von kenngrössen einer probe

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