DE19940232B4 - Testgerät für ein Computersystem und Verfahren zum Testen eines Computersystems - Google Patents

Testgerät für ein Computersystem und Verfahren zum Testen eines Computersystems Download PDF

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits

Abstract

Testgerät für ein Computersystem aufweisend:
ein Einbrenn-Rack (10) mit einer Vielzahl von Arbeitszellen (12), wobei jede Arbeitszelle (12) einen Arbeitszellen-Identifizierer (a, b, c, d) hat;
ein Simple-Network-Management-Protokoll-Schaltergerät (18) neben dem Einbrenn-Rack (12), wobei das Schaltergerät (18) eine Vielzahl von Ports (1, 2, 3, ... 96) und Schaltern (S1, S2, S3, S4) umfasst, wobei jeder Port (1, 2, 3, ... 96) einen Port-Identifizierer (P1, P2, P3, ... P25...) und jeder Schalter (S1, S2, S3, S4) einen Schalter-Identifizierer (S1, S2, S3, S4) hat,
wobei jeder Schalter (S1, S2, S3, S4) und ein zugeordneter Port (1, 2, 3, ... 96) eine Port-Identifizierung (P1, P2, P3, ... P25 ...) bezeichnen;
eine Vielzahl von Kabeln (C), wobei jedes Kabel (C) einen entsprechenden Port (1, 2, 3, ... 96) des Schaltergeräts (18) und eine entsprechende Arbeitszelle (12) miteinander verbindet;
einen Monitor (R) neben dem Einbrenn-Rack (10), wobei der Monitor (R) mit...

Description

  • Hintergrund
  • Die Erfindung betrifft ein Testgerät für ein Computersystem und ein Verfahren zum Testen eines Computersystems. Insbesondere geht es um das Testen von auf Bestellung gebauten Computersystemen nach ihrer Herstellung.
  • Die Anmeldung ist verwandt mit der US-Patentanmeldung mit der Nr. 08/919,959, die am 29. August 1997 eingereicht worden ist und den Titel trägt „Software Installation and Testing For A Built-To-Order Computer System", mit den Erfindern Reichard D. Amberg, Roger W. Wong und Michael A. Brundridge. Diese Anmeldung wird hiermit durch Referenz in ihrer Gesamtheit mit aufgenommen und ist dem Anmelder dieser Erfindung zugewiesen.
  • Die Anmeldung ist mit der US-Patentanmeldung mit der Nr. 08/921,438 verwandt, die am 29. August 1997 eingereicht worden ist und den Titel trägt „ Database For Facilitating Software Installation And Testing For A Built-To-Order Computer-System", mit den Erfindern Richard D. Amberg, Roger W. Wong and Michael A. Brundridge. Diese Anmeldung wird hiermit in ihrer Gesamtheit mit aufgenommen und ist dem Anmelder dieser Erfindung zugewiesen.
  • Viele Verfahren sind erdacht worden zum Überwachen eines Lagerbestandes. Im US-Patent 5,434,775 werden die Orte einer Vielzahl von Geräten überwacht, unter der Verwendung eines Netzwerks von Kommunikationsverbindungen, die jeweils einem Ort entsprechen. Jedem Gerät wird eine Markierung gegeben, die das Gerät im Hinblick auf andere Geräte identifiziert und die mit einer Kommunikationsverbindung verbunden werden kann, wenn das Gerät an dem Ort aufgestellt wird, der der Verbindung entspricht. Jede Markierung, die mit der Kommunikationsverbindung verbunden worden ist, wird detektiert und der Ort von jedem Gerät wird auf der Grundlage der Detektierung bestimmt. Ein Merkmal der Technik ist das zusätzliche Feststellen der Zustände der Geräte durch das Korrelieren von einer oder mehrerer Kommunikationsverbindungen mit Zuständen. Die Technik ist einfach zu verwenden und eine hocheffektive Technik zur Überwachung von Geräten, die an verschiedenen Orten innerhalb einer Einrichtung gespeichert sind. Der Ort eines Gerätes und sein Zustand werden kontinuierlich überwacht, wodurch das Risiko, daß die Entfernung eines Gerätes aus dem Speicher nicht detektiert wird, reduziert wird.
  • Ein gegenwärtiger Trend unter einigen Computerherstellern ist es, einem Kunden ein nach Kundenwunsch gefertigtes Computersystem zu liefern, bei dem der Kunde festgelegt hat, daß bestimmte Komponenten und Fähigkeiten in dem bestellten System enthalten sind. Es ist daher wichtig, die Effizienz bei jedem Schritt des Vorgangs zum Bauen gemäß einer Bestellung, zu maximieren. Diese Effizienz beginnt zu dem Zeitpunkt, wenn die Bestellung aufgegeben und verarbeitet wird, und setzt sich fort während des Zusammenbaus, des Testens und des Versands der nach Kundenwunsch gefertigten Einheit.
  • Während der Herstellung von gemäß einer Bestellung gebauten Computersystemen, werden spezielle Teile für einen Computer dem Lager entnommen und in einen Zusammenbaubehälter getan, wo die speziellen Teile in das Gehäuse des Computers zusammengebaut werden. Nach dem Zusammenbau wird das Chassis zu einem Quick-Test-Bereich gebracht, wo Tests ausgeführt werden, um schnell festzustellen, ob die korrekten Teile für die Bestellung installiert worden sind, und ob die Teile arbeiten.
  • Nach dem Quick-Test-Vorgang werden die zusammengebauten Gehäuse zu einem Einbrenn-Rack gebracht, wo die Teile "eingebrannt werden", und wo Betriebsfehler entdeckt werden können. Viele Einheiten werden gleichzeitig in den Einbrenn-Racks getestet und der Abschluß der Tests kann mehrere Stunden in Anspruch nehmen. Wenn mehrere Einheiten in der Produktion darauf warten, getestet zu werden, ist es wichtig, daß die Plätze im Einbrenn-Rack, die zum Testen zur Verfügung stehen, effizient genutzt werden. Es ist daher wichtig, daß die Computer oder Geräte, die gerade getestet werden (devices under test, DUT), in einer Weise getestet werden, die schnell und zuverlässig feststellt, ob ein DUT zufriedenstellend arbeitet und das andernfalls schnell und effizient die Fehler im Betrieb feststellt, so daß das DUT aus dem Einbrenn-Rack entfernt werden kann, um den eingenommenen Platz im Einbrenn-Rack für ein anderes DUT zum Testen freizugeben.
  • Wenn ein DUT im Einbrenn-Rack ist, wird ferner die Software, die mit dem System bestellt worden ist, von einem Server auf das DUT heruntergeladen. Personal überwacht die Testeinheiten des Einbrenn-Racks für audiovisuelle Anzeigen, d.h. Leuchtdioden und Pieptöne, wie weit das Testen und der Vorgang des Herunterladens fortschreiten. Eine rote Leuchtdiodenanzeige, zusammen mit einem hörbaren Piep, zeigt das Versagen eines DUTs an, das zum Quick-Test zurückgegeben wird, wo es ausführlich von einem Techniker getestet wird. Eine grüne LED-Anzeige bedeutet, daß eine Einheit bereit ist, zum abschließenden Test gebracht zu werden, um den Bildschirm und das Betriebssystem zu überprüfen vor dem Versand der Einheit.
  • Wenn das Herunterladen der Software durchgeführt werden soll, wird das DUT gegenüber dem Server identifiziert für das Herunterladen der passenden Software.
  • Jedes DUT wird durch eine lebenslange Identifizierung (Seriennummer) in der Form eines Barcodes identifiziert. Wenn das DUT sich auf dem Einbrenn-Rack befindet, wird sein physikalischer Ort ebenfalls durch ein Rack identifiziert, eine Spalte auf dem Rack und eine Zeile in der Spalte. Jeder Ort des Einbrenn-Racks wird durch ein für den Ort spezifisches Kabel- und Netzwerkgerät bedient, das das Kabel mit dem DUT verbindet. Obwohl das Kabel nur einen speziellen Ort im Rack bedienen kann, ist es möglich und passiert auch, daß gelegentlich das Netzwerkgerät sich von einem Kabel löst und mit einem anderen verbunden wird. Jedes Netzwerkgerät hat eine MAC-Adresse, die auf einen Ort im Sinne des Racks, der Spalte und der Zeile abgebildet wird. Die Abbildungsinformation wird in einer Datenbank in der Netzwerkumgebung gespeichert. Das DUT kann mit der Datenbank kommunizieren. Im Ergebnis kann der exakte Ort des DUT bestimmt werden. Wenn daher der Verbinder zu einem anderen Rack-Ort gebracht wird und mit einem anderen Kabel verbunden wird, ist die Information in der Datenbank inkonsistent mit dem exakten Ort des DUT.
  • Im US-Patent 5 557 559 wird ein Softwaresystem zum Testen von Halbleiterbausteinen auf einem Einbrennrack beschrieben. Dieses Driversystem, welches durch einen Vielzweck-Computer gesteuert wird, kann mehrere Arbeitsplätze gleichzeitig bearbeiten. Es arbeitet mit der Einbrenn-Hardware und kontrolliert diese, um ein Testen von einer großen Vielfalt von Geräten schnell und effizient zu erreichen, wobei die Zahl der Systemaufbauten und -umrüstungen minimiert wird. Im US-Patent 4 706 208, das sich ebenfalls auf das Testen von Halbleiterbausteinen bezieht, wird eine Operational-Life-Test- oder Einbrennkammer bereitgestellt, die ebenfalls mehrere Arbeitsplätze gleichzeitig bedienen kann. Die Operational-Life-Test-Kammer ist mit vielen Auswertungsboards ausgestattet, die in Regalen innerhalb der Kammer montiert sind, wobei jedes Board separat seine zugehörige Mikroprozessor-integrierte Schaltung testet. Während des Einbrenn-Vorgangs wird in jedem Board seine eigene Diagnostik durchgeführt und ein eventueller Fehler der zugehörigen Schaltung an ein zentrales Computersystem der Kammer gemeldet.
  • Was daher gebraucht wird, ist ein Überwachungssystem für ein Einbrenn-Rack, das der Herstellung ermöglicht, den physikalischen Ort von jedem DUT exakt zu bestimmen und aufzuspüren, so daß jedes Gerät zur Korrektur lokalisiert werden kann, im Fall eines Versagens eines Testes und um sicherzustellen; daß Geräte, die den Test erfolgreich bestanden haben, an den korrekten Kunden versandt werden.
  • Dieses Problem wird gelöst durch ein Testgerät nach Anspruch 1 und ein Verfahren nach Anspruch 6.
  • Die prinzipiellen Vorteile dieser Ausführungsformen sind, daß DUTs, die hergestellt werden, während des Herstellungsprozesses auf den Einbrenn-Racks nachverfolgt werden können. Dies ermöglicht eine optimale Verwendung des Platzes der Einbrenn-Racks und erspart Wartezeit für Systeme, die in die Einbrenn-Racks geladen werden sollen. Zusätzlich ist es möglich, die Zeitlänge, die benötigt wird, um DUTs auf den Einbrenn-Racks zu testen, zu schätzen. Ferner hilft die Einfachheit des Nachverfolgens der DUTs dabei, alle Systeme zu bündeln, die zu einer einzelnen großen Bestellung gehören, zum effizienten Versenden und Ausliefern.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist eine diagrammartige Ansicht, die eine Ausführungsform eines Einbrenn-Rack-Testgeräts illustriert.
  • 2 ist eine diagrammartige Ansicht, die eine Ausführungsform eines Einbrenn-Rack-Testgeräts illustriert, das mit einem SNMP-Schaltergerät verbunden ist.
  • 3 ist eine Tabelle, die die Zuordnung eines Arbeitsbereiches an einen Schalter illustriert.
  • 4 ist eine Tabelle, die eine Port-Identifizierung illustriert.
  • 5 ist eine Tabelle, die eine Abbildung einer Arbeitszelle auf ein Kabel illustriert.
  • 6 ist eine Tabelle, die eine Übertragung von zu testenden Geräte auf einem Einbrenn-Rack illustriert.
  • 7 ist eine Tabelle, die eine Abbildung von einer Port-Nummer auf eine Mac-Adresse illustriert.
  • 8 ist eine Tabelle, die eine Abbildung von einer Port-Identifizierung auf eine Mac-Adresse illustriert.
  • 9 ist eine Tabelle, die den aktuellsten Zustand der getesteten Geräte illustriert.
  • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsform
  • Die vorliegende in 1 dargestellte Ausführungsform ist für ein Einbrenn-Rack 10, das in Arbeitszellen 12 aufgeteilt ist, die in Spalten 14 und Zeilen 16 angeordnet sind. Ein SNMP-Schaltergerät 18 befindet sich neben dem Rack 10 und hat mehrere Ports P, die durch die Kabel C mit Computersystemen oder DUTs, die mit M bezeichnet sind, in jeder Arbeitszelle 12 verbunden sind. Ein weiterer Port P verbindet das Schaltergerät 18 mit einem Monitor R, der wiederum mit einer Datenbank DB verbunden ist.
  • Das Einbrenn-Rack 10, das in 2 dargestellt ist, hat mehrere Arbeitszellen 12, die in vertikalen Spalten 14 und horizontalen Reihen 16 angeordnet sind, um ein netzartiges Feld zu bilden. Jedes Einbrenn-Rack 10 umfaßt eine A-Seite und eine identische B-Seite, von denen nur eine, die A-Seite, weiter detailliert diskutiert wird. Die A-Seite des Einbrenn-Racks 10 ist in Spalten eins bis neun aufgeteilt und Reihen eins bis fünf und bildet damit fünfundvierzig Arbeitszellen 12. Die Seiten A und B des Racks 10 bilden damit insgesamt neunzig Arbeitszellen 12. Üblicherweise hat eine Herstellungseinrichtung viele dieser Einbrenn-Racks 10 und stellt damit hunderte von Arbeitszellen 12 zum Testen von Computersystemen M vor dem Versand zur Verfügung.
  • In der vorliegenden Ausführungsform ist ein SNMP-Schaltergerät 18 neben dem Einbrenn-Rack 10 vorgesehen. Das Schaltergerät 18 umfaßt eine Vielzahl von Schaltern S1, S2, S3 und S4, die jeweils mehrere Ports haben, beispielsweise Ports eins bis vierundzwanzig. Es wird daher ein Minimum von vier Schaltern S1, S2, S3 und S4 benötigt, um eine ausreichende Anzahl von Ports für die neunzig Arbeitszellen 12 des Einbrenn-Racks 10 zur Verfügung zu stellen.
  • Die vierundzwanzig Ports des Schalters S1 sind von eins bis vierundzwanzig numeriert, die des Schalters S2 von fünfundzwanzig bis achtundvierzig, die des Schalters S3 von neunundvierzig bis zweiundsiebzig, und die des Schalters S4 von dreiundsiebzig bis sechsundneunzig. Die Kombination von Port eins des Schalters S1 wird durch eine Port-ID P1 angegeben, Port zwei von Schalter S1 wird als P2 bezeichnet, Port drei von Schalter S1 als P3 usw.. In ähnlicher Weise wird die Kombination von Port 25 von Schalter S2 als P25 bezeichnet usw.. Die Port-IDs werden weiter unten diskutiert.
  • Jeder Arbeitszelle 12 des Einbrenn-Racks 10 wird ebenfalls eine Identifizierung gegeben, wie in 2 dargestellt, beispielsweise Arbeitszelle 12 von Rack 10, Spalte eins, Reihe eins, wird eine Arbeitszellen ID a zugeordnet, die Arbeitszelle des Rack 10, Spalte eins, Reihe zwei, wird die Arbeitszellen ID b zugeordnet usw.. Für die weitere Diskussion werden jedoch nur vier Arbeitszellen 12, die mit a-d bezeichnet sind, im folgenden detailliert diskutiert. Die Rack-Schalterbeziehung, die in 3 dargestellt ist, ist in der Datenbank DB gespeichert, die Information enthält, die das Rack 10 mit den Schaltern S1, S2, S3 und S4 in Beziehung setzt und Funktionen in Form einer Tabelle, die die Zuordnung eines Arbeitsbereiches zu einem Schalter speichert.
  • Die Port-Identifizierung, beispielsweise die Port-ID, kann in einer Tabelle, die in 4 dargestellt ist, festgestellt werden, die identifiziert, wie die oben beschriebenen Port-IDs P1 bis P4 dieses Beispiels mit der Schalter-ID S1 und den Port- Nummern eins bis vier in Beziehung stehen. Ferner wird eine Schalter-IP-Adresse manuell in der Datenbank DB gespeichert, um eine Netzwerkverbindung zu erzeugen. Im Ergebnis wird so Information in der Datenbank DB gespeichert, daß jede Arbeitszellen-ID a bis d mit einer Port-ID P1 bis P4 verbunden ist, wie in 5 dargestellt, die eine Tabelle zeigt, zum Speichern einer Zuordnung von Arbeitszellen und Kabeln.
  • Wenn die mit M bezeichneten DUTs, wie in 1 in dem Einbrenn-Rack 10 angeordnet werden, senden die DUTs IPX-Meldungen, die eine Mac-Adresse umfassen, die in jedem DUT über eine Netzwerkkarte installiert sind. Die Sendungen von den DUTs werden in der Datenbank DB gespeichert. Die Information, die gespeichert wird, liegt in der in 6 gezeigten Tabellenform vor, die die Mac-Adresse mit der lebenslänglichen Barcode-Identifizierung von jedem DUT, einer Testidentifizierung und einer Zeitmarke für den Beginn des Tests in Beziehung setzt.
  • Die Mac-Adressen werden dazu verwendet, um die Schalter S1 bis S4 am Einbrenn-Rack 10 abzufragen um festzustellen, mit welchem Port jeder Schalter S1 bis S4 verbunden ist. Diese Mac-Adresseninformation wird durch die Schalter S1 bis S4 in der Netzwerkdatenbank gespeichert und ist in der Tabelle von 7 dargestellt. Nachdem die Port-Nummer identifiziert worden ist, können die Mac-Adressen in der Tabelle von 8 aktualisiert werden, wodurch die Mac-Adressseninformation vervollständigt wird, die in der Tabelle nicht zur Verfügung stand, und wodurch die gesamte Information, die zum Feststellen des Ortes von jedem DUTs benötigt wird, geliefert wird. Schließlich wird die Information in einer gebündelten Form in der Tabelle aus 9 gespeichert, die nur den aktuellsten Zustand für das DUT anzeigt. Diese Information wird dazu verwendet, um den Ort eines DUT nachzuverfolgen. Auf wiederholte Sendungen der DUTs hin werden frühere Daten in der Tabelle zum Archivieren entfernt, wodurch nur die aktuellste Information gespeichert wird.
  • Wie man sehen kann, liegen die prinzipiellen Vorteile dieser Ausführung darin, daß die DUTs, die hergestellt werden, während des Herstellungsvorgangs auf dem Einbrenn-Rack nachverfolgt werden können. Dies ermöglicht eine perfekte Verwendung des Platzes der Einbrenn-Racks und spart Wartezeit für Systeme, die in die Einbrenn-Racks geladen werden müssen. Zusätzlich ist es möglich, die Zeitdauer zu schätzen, die benötigt wird, um DUTs auf den Einbrenn-Racks zu testen. Ferner hilft das einfache Nachverfolgen der DUTs dabei, alle Systeme zu bündeln, die zu einer einzelnen großen Bestellung gehören, für einen effizienten Versand und eine effiziente Auslieferung.
  • Im Ergebnis liefert eine Ausführungsform ein Einbrenn-Rack-Testgerät, das ein Einbrenn-Rack umfaßt, mit einer Vielzahl von Arbeitszellen. Ein Schaltergerät für ein Simple-Network-Management-Protokoll wird neben dem Einbrenn-Rack zur Verfügung gestellt. Das Schaltergerät umfaßt eine Vielzahl von Ports. Ein entsprechendes Kabel ist vorgesehen, um jeden Port des Schaltergeräts mit einer entsprechenden Arbeitszelle zu verbinden. Eine weitere Ausführungsform schafft einen Monitor neben dem Einbrenn-Rack, der mit einem Port des Schaltergeräts verbunden ist, und mit einer Datenbank für das Einbrenn-Rack verbunden ist. Eine weitere Ausführungsform schafft ein Verfahren zum Testen eines Computers während des Herstellungsvorgangs, ein Einbrenn-Rack wird geschaffen, und umfaßt eine Vielzahl von Arbeitszellen. Ein Gerät für ein Simple-Network-Management-Protokoll ist neben dem Einbrenn-Rack befestigt, und umfaßt eine Vielzahl von Ports. Eine Vielzahl von Kabeln verbinden jeden Port und jede Arbeitszelle. Ein Monitor ist neben dem Einbrenn-Rack befestigt und mit einem Port des Schaltergeräts verbunden. Ein Computer ist befestigt in zumindest einer der Arbeitszellen. Der Computer ist mit dem entsprechenden Kabel in der entsprechenden Arbeitszelle verbunden. Der Monitor ist mit der Datenbank des Einbrenn-Racks verbunden.

Claims (6)

  1. Testgerät für ein Computersystem aufweisend: ein Einbrenn-Rack (10) mit einer Vielzahl von Arbeitszellen (12), wobei jede Arbeitszelle (12) einen Arbeitszellen-Identifizierer (a, b, c, d) hat; ein Simple-Network-Management-Protokoll-Schaltergerät (18) neben dem Einbrenn-Rack (12), wobei das Schaltergerät (18) eine Vielzahl von Ports (1, 2, 3, ... 96) und Schaltern (S1, S2, S3, S4) umfasst, wobei jeder Port (1, 2, 3, ... 96) einen Port-Identifizierer (P1, P2, P3, ... P25...) und jeder Schalter (S1, S2, S3, S4) einen Schalter-Identifizierer (S1, S2, S3, S4) hat, wobei jeder Schalter (S1, S2, S3, S4) und ein zugeordneter Port (1, 2, 3, ... 96) eine Port-Identifizierung (P1, P2, P3, ... P25 ...) bezeichnen; eine Vielzahl von Kabeln (C), wobei jedes Kabel (C) einen entsprechenden Port (1, 2, 3, ... 96) des Schaltergeräts (18) und eine entsprechende Arbeitszelle (12) miteinander verbindet; einen Monitor (R) neben dem Einbrenn-Rack (10), wobei der Monitor (R) mit einer Datenbank (DB) und mit einem Port (1, 2, 3, ... 96) des Schaltergerätes (18) verbunden ist; wobei in einer Vielzahl von Arbeitszellen (12) ein Computer (M) befestigbar ist und mit dem entsprechenden Kabel (C) in der entsprechenden Arbeitszelle (12) verbindbar ist; wobei die Datenbank wiederholt eine für jeden Computer eindeutige MAC-Adresse empfängt; wobei die Datenbank die MAC-Adresse verwendet, um festzustellen, mit welchem Port (1, 2, 3, ... 96) jeder Schalter (S1, S2, S3, S4) verbunden ist; wobei die Datenbank (DB) die Information speichert und wobei die Datenbank die zuvor gesandte Information beim Empfang einer nachfolgenden Information entfernt und die aktualisierte Information aus der nachfolgenden Sendung speichert.
  2. Testgerät nach Anspruch 1, wobei die Datenbank (DB) eine Zuordnung Arbeitszelle (12) zu Schalter (S1, S2, S3, S4) speichert.
  3. Testgerät nach Anspruch 1, wobei eine IP-Adresse eines Schalters (S1, S2, S3, S4) in der Datenbank (DB) gespeichert wird, um eine Netzwerkverbindung zu erzeugen.
  4. Testgerät nach Anspruch 1, wobei die Datenbank (DB) eine Zuordnung Arbeitszelle (12) zu Kabel (M) speichert.
  5. Testgerät nach Anspruch 1, wobei die Sendungen von jedem getesteten Computer (M) in der Datenbank (DB) gespeichert werden, die die MAC-Adresse einer lebenslänglichen Barcode-Identifizierung von jedem getesteten Computer (M) zuordnet.
  6. Verfahren zum Testen eines Computers (M) während des Herstellungsvorgangs mit den folgenden Schritten: Bereitstellen eines Einbrenn-Racks (10) mit einer Vielzahl von Arbeitszellen (12), wobei jede Arbeitszelle (12) einen Arbeitszellen-Identifizierer (a, b, c, d) hat; Befestigen eines Simple-Network-Management-Protokoll-Schaltergeräts (18) neben dem Einbrenn-Rack (10), wobei das Schaltergerät (18) eine Vielzahl von Ports (1, 2, 3, ... 96) und Schalter (S1, S2, S3, S4) umfasst, wobei jeder Port (1, 2, 3, ... 96) einen Port-Identifizierer (P1, P2, P3, ... P25 ...) hat und jeder Schalter einen Schalter-Identifizierer (S1, S2, S3, S4) hat; Verbinden einer Vielzahl von Kabeln (C), wobei ein Kabel (C) jeweils einen entsprechenden Port (1, 2, 3, ... 96) des Schaltergerätes (18) und eine entsprechende Arbeitszelle (12) miteinander verbindet; Befestigen eines Monitors (R) neben dem Einbrenn-Rack (10), wobei der Monitor (R) mit einer Datenbank(DB) und einem Port (1, 2, 3, ... 96) des Schaltergerätes (18) verbunden ist; Befestigen eines Computers (M) in zumindest einer der Arbeitszellen (12), wobei der Computer mit einem entsprechenden Kabel (C) in der entsprechenden Arbeitszelle (12) verbunden ist; Bereitstellen einer eindeutigen MAC-Adresse für jeden Computer (M); Verwenden jedes Schalters (S1, S2, S3, S4) und eines zugeordneten Ports (1, 2, 3, ... 96), um eine Port-Identifizierung (P1, P2, P3, ... P25 ...) zu bezeichnen; Verwenden der MAC-Adresse, um festzustellen mit welchem Port (1, 2, 3, ... 96) jeder Schalter (S1, S2, S3, S4) verbunden ist; Senden von Informationen von dem Computer (M) inklusive der MAC-Adresse; Speichern der gesendeten Information in einer Datenbank (DB); Wiederholen einer Sendung für jeden Computer (M), um zuvor gesandte Information zu entfernen; und Speichern der aktualisierten Information von der wiederholten Sendung in der Datenbank (DB).
DE19940232A 1998-09-10 1999-08-25 Testgerät für ein Computersystem und Verfahren zum Testen eines Computersystems Expired - Lifetime DE19940232B4 (de)

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US09/150,800 US6477486B1 (en) 1998-09-10 1998-09-10 Automatic location determination of devices under test

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19940232A1 DE19940232A1 (de) 2000-04-06
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US (1) US6477486B1 (de)
JP (1) JP2000088905A (de)
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MY (1) MY120811A (de)
SG (1) SG77688A1 (de)
TW (1) TW454136B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007036664A1 (de) * 2007-08-03 2009-02-05 Wincor Nixdorf International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Benutzerendgeräten

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6285967B1 (en) * 1998-10-22 2001-09-04 Dell Usa, L.P. Troubleshooting computer systems during manufacturing using state and attribute information
GB2355824B (en) * 1998-10-22 2003-05-28 Dell Usa Lp Troubleshooting computer systems during manufacturing using state and attribute information
US6654347B1 (en) * 1999-10-22 2003-11-25 Dell Usa L.P. Site-to-site dynamic virtual local area network
ATE473568T1 (de) * 2000-12-05 2010-07-15 Rit Techn Ltd System zum automatischen identifizieren der physischen lage von netzwerk-endeinrichtungen
JP3761155B2 (ja) * 2001-03-26 2006-03-29 富士通テン株式会社 データ演算装置およびそれを用いる電子制御機器の調整方法
US6919816B2 (en) * 2001-06-07 2005-07-19 Dell Products, L.P. System and method for displaying computer system status information
US7095908B2 (en) * 2002-11-12 2006-08-22 Dell Products L.P. Method and system for information handling system custom image manufacture
US7266820B2 (en) * 2003-08-14 2007-09-04 Dell Products L.P. Trunked customized connectivity process for installing software onto an information handling system
US7284120B2 (en) 2003-11-17 2007-10-16 Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. Method and system for allowing a system under test (SUT) to boot a plurality of operating systems without a need for local media
US20050114640A1 (en) * 2003-11-17 2005-05-26 International Business Machines Corporation Method and system for efficiently binding a customer order with a processing system assembly in a manufacturing environment
US20050138205A1 (en) * 2003-12-17 2005-06-23 Schneider Automation Sas Bar Coded Addressing Technique
US7853926B2 (en) * 2005-11-21 2010-12-14 International Business Machines Corporation Automated context-sensitive operating system switch
US7853832B2 (en) * 2007-10-10 2010-12-14 Alcatel Lucent System and method for tracing cable interconnections between multiple systems
CN102195937B (zh) * 2010-03-10 2014-07-09 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 机台定位系统及方法
CN103675497A (zh) * 2012-09-18 2014-03-26 英业达科技有限公司 电子装置检测时的电子装置定位系统及其方法
US10756984B2 (en) * 2015-04-13 2020-08-25 Wirepath Home Systems, Llc Method and apparatus for creating and managing network device port VLAN configurations
JP6568036B2 (ja) * 2016-10-05 2019-08-28 エスペック株式会社 環境形成装置
US11182399B2 (en) 2018-09-04 2021-11-23 Spirent Communications, Inc. Effective correlation of multiple time-series result sets
US10862799B2 (en) * 2018-11-19 2020-12-08 Dell Products, L.P. Virtual burn rack monitor

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4706208A (en) * 1985-09-03 1987-11-10 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Technique for the operational life test of microprocessors
US5557559A (en) * 1992-07-06 1996-09-17 Motay Electronics, Inc. Universal burn-in driver system and method therefor

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4636725A (en) * 1982-01-04 1987-01-13 Artronics Corporation Electronic burn-in system
FR2549256B1 (fr) * 1983-06-22 1985-11-29 Philips Ind Commerciale Procede et machine automatiques pour tester simultanement des systemes informatiques
US4761747A (en) * 1986-06-24 1988-08-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Switching network for monitoring stations
US4737953A (en) * 1986-08-04 1988-04-12 General Electric Company Local area network bridge
US4866714A (en) * 1987-10-15 1989-09-12 Westinghouse Electric Corp. Personal computer-based dynamic burn-in system
US5060068A (en) * 1988-10-31 1991-10-22 James E. Lindstrom Audio/video distribution system
GB8908470D0 (en) * 1989-04-14 1989-06-01 Smiths Industries Plc Processors
JP2752265B2 (ja) * 1991-05-10 1998-05-18 株式会社東芝 Lanからの切離し機能を持つ計算機システム
US5513188A (en) * 1991-09-10 1996-04-30 Hewlett-Packard Company Enhanced interconnect testing through utilization of board topology data
CA2092134C (en) * 1992-03-24 1998-07-21 Anthony J. Mazzola Distributed routing network element
DK0702873T3 (da) * 1992-06-15 1998-05-11 British Telecomm Serviceplatform
US5457729A (en) * 1993-03-15 1995-10-10 Symmetricom, Inc. Communication network signalling system link monitor and test unit
US5706508A (en) * 1993-04-05 1998-01-06 International Business Machines Corporation System and method for monitoring SNMP tables
US5434775A (en) * 1993-11-04 1995-07-18 The General Hospital Corporation Managing an inventory of devices
JPH08241185A (ja) * 1994-11-03 1996-09-17 Motorola Inc 統合型試験および測定手段ならびにグラフィカル・ユーザ・インタフェースを採用する方法
US5680585A (en) * 1995-03-31 1997-10-21 Bay Networks, Inc. Method and apparatus for defining data packet formats
US5774695A (en) * 1996-03-22 1998-06-30 Ericsson Inc. Protocol interface gateway and method of connecting an emulator to a network
JP3451415B2 (ja) * 1996-03-29 2003-09-29 富士通株式会社 ネットワーク管理システムのデータベース同期方法
US5966021A (en) * 1996-04-03 1999-10-12 Pycon, Inc. Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in
US5913037A (en) * 1996-07-03 1999-06-15 Compaq Computer Corporation Dynamic management information base manager
US5784516A (en) * 1996-09-09 1998-07-21 Lucent Technologies Inc. Optical fiber distribution shelf assembly containing a modular optical switch
US5689604A (en) * 1996-09-09 1997-11-18 Lucent Technologies Inc. Fiber optic operations center
US5914609A (en) * 1996-11-08 1999-06-22 Bitrode Corporation Method and system for battery charging and testing with semi-automatic calibration
US5708654A (en) * 1996-11-27 1998-01-13 Arndt; Manfred R. Method for detecting proxy ARP replies from devices in a local area network
US5889470A (en) * 1996-12-24 1999-03-30 Paradyne Corporation Digital subscriber line access device management information base
US6097705A (en) * 1997-01-06 2000-08-01 Cabletron Systems, Inc. Buffered repeater with independent ethernet collision domains
US5862040A (en) * 1997-02-03 1999-01-19 A.I.M., Inc. Smart pallet for burn-in testing of computers
US5954832A (en) * 1997-03-14 1999-09-21 International Business Machines Corporation Method and system for performing non-standard insitu burn-in testings
US5991759A (en) * 1997-03-25 1999-11-23 Mci Communications Corporation Method and system for defining equipment in a telecommunication network down to the rackface level
US5919248A (en) * 1997-03-25 1999-07-06 Fluke Corporation Method and apparatus for determining network health as a function of combined percent utilization and percent collisions
US5903698A (en) * 1997-04-11 1999-05-11 Wiltron Company Fiber optic connection assembly
EP0881572B1 (de) * 1997-05-28 2001-10-10 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Permanente Fehlerüberwachung in komplexen Systemen
US5982753A (en) * 1997-06-09 1999-11-09 Fluke Corporation Method of testing a switched local area network
US6069873A (en) * 1997-10-01 2000-05-30 U S West, Inc. Closed-loop automated testing of system equipment and management
US6079034A (en) * 1997-12-05 2000-06-20 Hewlett-Packard Company Hub-embedded system for automated network fault detection and isolation
US6285967B1 (en) * 1998-10-22 2001-09-04 Dell Usa, L.P. Troubleshooting computer systems during manufacturing using state and attribute information

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4706208A (en) * 1985-09-03 1987-11-10 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Technique for the operational life test of microprocessors
US5557559A (en) * 1992-07-06 1996-09-17 Motay Electronics, Inc. Universal burn-in driver system and method therefor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007036664A1 (de) * 2007-08-03 2009-02-05 Wincor Nixdorf International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Benutzerendgeräten

Also Published As

Publication number Publication date
SG77688A1 (en) 2001-01-16
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FR2784476A1 (fr) 2000-04-14
GB2343766A (en) 2000-05-17
US6477486B1 (en) 2002-11-05
ITTO990653A1 (it) 2001-01-23
KR100638427B1 (ko) 2006-10-24
BR9901668B1 (pt) 2011-11-16
GB9918882D0 (en) 1999-10-13
IT1310637B1 (it) 2002-02-19
JP2000088905A (ja) 2000-03-31
CN1250872A (zh) 2000-04-19
FR2784476B1 (fr) 2004-04-02

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