DE19928612A1 - Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung, Verfahren zum Prüfen einer gedruckten Schaltung, und Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen der Prüfadapterkarte - Google Patents

Abstract

Die Erfindung stellt eine Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung bereit, die Prüfelektroden in einem Abstand aufweist, der größer ist als der von zu prüfenden Elektroden, die die Durchführung der erforderlichen Prüfung für eine gedruckte Schaltung durch ein Prüfgerät mit einem geringen Leistungsvermögen erlaubt und die einfach zu entwerfen und herzustellen ist, sowie ein Verfahren zum Prüfen der gedruckten Schaltung durch eine Prüfadapterkarte. Die Erfindung stellt ferner ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erzeugen von Information zum Herstellen einer derartigen Prüfadapterkarte bereit. Die Prüfadapterkarte ist mit Prüfelektroden entsprechend den zu prüfenden Elektroden ausgerüstet. Zumindest eine der Prüfelektroden ist eine gemeinsame Prüfelektrode, die gemeinsam einer oder mehreren zu prüfenden Elektroden entspricht. Die gemeinsame Prüfelektrode ist in einem Zustand ausgebildet, derart, daß Verdrahtungsnetzwerke keinen geschlossenen Kreis bilden. Alternativ ist zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentative Prüfelektrode entsprechend einer zu prüfenden Elektrode in jedem Verdrahtungsnetzwerk ausgebildet.

Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfadapterkarte mit einer Funk­ tion, die erlaubt, eine gedruckte Schaltung als den Gegen­ stand einer Prüfung elektrisch mit einem Prüfgerät zu verbin­ den, um das elektrische Leistungsvermögen der gedruckten Schaltung zu prüfen, ein Verfahren zum Prüfen der gedruckten Schaltung, und ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erzeu­ gen von Informationen zum Herstellen der Prüfadapterkarte.

Eine gedruckte Verdrahtungsschaltung (nachstehend in Kurzform nur als "gedruckte Schaltung" bezeichnet) dient als Substrat bzw. Unterbau zum Tragen aktiver Elemente und passiver Ele­ mente, wie beispielsweise integrierte Schaltungen (ICs), hoch integrierte Schaltungen (LSIs), Transistoren und Widerstände, und hat darüber hinaus eine Verdrahtungsfunktion zum Erzielen der erforderlichen elektrischen Verbindung zwischen in Bezug zu diesen Elementen stehenden Elektroden. Im einzelnen ist bei der gedruckten Schaltung die bestimmte Anordnung einzel­ ner Elektroden in Übereinstimmung mit dem Anordnungszustand und Verbindungsbedingungen von auf die gedruckte Schaltung aufzubringenden Elementen festgelegt, und sind eine Anzahl von elektrischen Netzwerken bzw. Netzen durch Erzeugen des elektrisch verbundenen Zustands oder isolierten Zustands zwi­ schen diesen Elektroden ausgebildet.

Im allgemeinen umfaßt eine Prüfung in Bezug auf das elektri­ sche Leistungsvermögen einer gedruckten Schaltung eine elek­ trische Leitungsprüfungskontrolle (nachstehend in Kurzform nur als "Leitungsprüfung" bezeichnet) zum Prüfen bzw. Unter­ suchen, ob ein Verdrahtungsbruch in einem Verdrahtungsnetz­ werk, in dem mehrere Elektroden auf der gedruckten Schaltung elektrisch miteinander zu verbinden sind, auftritt oder nicht, und eine Isolationsprüfungskontrolle (nachstehend in Kurzform nur als "Isolationsprüfung" bezeichnet) zum Prüfen bzw. Untersuchen, ob ein Isolationsfehler zwischen zwei be­ liebigen der unabhängig auf der gedruckten Schaltung ausge­ bildeten Verdrahtungsnetzwerke auftritt oder nicht. Der Be­ griff "Verdrahtungsnetzwerk" wie hierin verwendet bedeutet eine Schaltungsanordnung, die aus einem Satz von auf einer gedruckten Schaltung ausgebildeten Elektroden, deren Zahl 2 oder höher ist und die elektrisch miteinander verbunden sind, und gedruckten Verdrahtungen bzw. Leitungsverbindungen zum Verbinden der jeweiligen Elektroden miteinander, einschließ­ lich elektrisch leitender Teile für eine Zwischenschichtver­ bindung, wie beispielsweise durchkontaktierte Löcher und Durchgänge, besteht. Diese Schaltungsanordnung ist vorwiegend ein offener Schaltkreis, kann jedoch in manchen Fällen ein geschlossener Schaltkreis oder eine Kombination derselben sein.

Verfahren zum Durchführen dieser Prüfungen umfassen individu­ elle Prüfverfahren, wie beispielsweise ein Verfahren mit ei­ ner fliegenden Sonde, bei dem Prüfsonden in individuellen Kontakt mit jeder eines Paars von zu prüfenden Elektroden ge­ bracht werden, um einen elektrischen Widerstand zwischen bei­ den Elektroden zu messen, und außerdem kollektive Prüfverfah­ ren, wie beispielsweise ein Verfahren, bei dem nadelartige Sonden, die an vielen zu prüfenden Elektroden entsprechenden Positionen angeordnet sind, kollektiv in Kontakt mit sämtli­ chen der zu prüfenden Elektroden gebracht werden, und ein Verfahren, das Gebrauch von einer Prüfadapterkarte macht, die aus einer gedruckten Schaltung besteht, bei welcher Prüfelek­ troden mit jeweils einer Form und einer Größe geeignet für die und an Positionen entsprechend den zu prüfenden Elektro­ den als Sonden anstelle der nadelartigen Sonden angeordnet sind.

In den vergangenen Jahren wurde die Verdrahtungsdichte in ei­ ner gedruckten Schaltung schnell angehoben, welches folglich zu der Verkürzung der Entfernung oder des Abstands zwischen Leitungsverbindungen und weiterhin zu der Miniaturisierung der Elektroden selbst und der Erhöhung der Anordnungsdichte derselben führte. Infolgedessen war es natürlich auch für ei­ ne Prüfsondeneinheit erforderlich, zu ermöglichen, die erwar­ tete Prüfung einer zu prüfenden gedruckten Schaltung, auf der extrem kleine zu prüfende Elektroden in enger Nachbarschaft zueinander angeordnet sind, sicher durchzuführen.

Die vorstehenden individuellen Prüfverfahren können dieses Erfordernis mit vergleichsweiser Leichtigkeit erfüllen. Je­ doch muß der Prüfvorgang dadurch ausgeführt werden, daß die Sonden in individuellen Kontakt mit sämtlichen von vielen Paaren zu prüfender Elektroden gebracht werden, so daß es ei­ ne lange Zeit in Anspruch nimmt, die notwendige Prüfung durchzuführen, welches daher für eine praktische Anwendung ungeeignet ist.

In Bezug auf die kollektiv prüfenden Verfahren muß anderer­ seits in jedem Fall, in dem die nadelartigen Sonden verwendet werden, oder in dem die Prüfadapterkarte mit den Prüfelektro­ den verwendet wird, eine große Anzahl kleinster Nadelsonden oder Prüfelektroden in einem begrenzten, schmalen Bereich mit hoher positioneller Genauigkeit in einer Prüfsondeneinheit angeordnet werden. Extrem hochentwickelte Verfahren sind er­ forderlich, um diese Anordnung zu verwirklichen, so daß die Herstellung einer solchen Prüfsondeneinheit in in der Praxis nicht realisierbarem Umfang hohe Kosten und lange Zeit erfor­ dert.

Bei der Prüfung einer gedruckten Schaltung mit kleinsten und hoch dichten Verdrahtungsmustern ist es tatsächlich unmög­ lich, die beabsichtigte Prüfung durchzuführen, sofern auch nur eine geringfügige Fehlausrichtung zwischen einer gedruck­ ten Schaltung als dem Gegenstand der Prüfung und der in Kon­ takt mit der gedruckten Schaltung gebrachten Prüfadapterkarte auftritt, so daß das Resultat der Prüfung unzuverlässig wird. Daher muß zwangsläufig gleichzeitig auch ein Verfahren zum präzisen Ausrichten derselben zueinander für eine solche Prü­ fung bereitgestellt werden.

Wie vorstehend beschrieben wurde, besteht auf dem Gebiet ge­ genwärtiger Sondeneinheiten für die Prüfung gedruckter Schal­ tungen ein Bedarf nach der Entwicklung eines spezifischen Verfahrens zum Anordnen kleinster nadelartiger Sonden oder Prüfelektroden mit hoher Dichte und mit hoher positioneller Genauigkeit in Antwort auf die Dichteerhöhung und Miniaturi­ sierung von Verdrahtungsmustern auf der gedruckten Schaltung, so daß unter den gegebenen Umständen in dieser Richtung un­ tersucht wurde.

Eine spezifische Beschreibung erfolgt unter Bezugnahme auf Fig. 1, die Prüfelektroden, welche auf einer Seite einer bei­ spielhaften, herkömmlichen Prüfadapterkarte bereitgestellt sind, die als eine Prüfsonde in dem Verfahren zum kollektiven Prüfen einer zu prüfenden gedruckten Schaltung (die nachste­ hend auch als "zu prüfende Platine" bezeichnet sein kann) verwendet wird, und Anschlußelektroden, die auf der anderen Seite derselben in einem einander überlappenden Zustand oder in einem Durchsichtzustand bereitgestellt sind, darstellen.

Prüfelektroden 51, 51, die durch schwarze Rechtecke oder Kreise bzw. Punkte dargestellt sind, sind auf einer Seite dieser Prüfadapterkarte angeordnet, der die zu prüfende Pla­ tine gegenüberliegt, und Anschlußelektroden 52, 52, die durch weiße Kreise dargestellt sind, sind an Gitterpunkten in re­ gelmäßigen Abständen auf der anderen Seite angeordnet, um Gitter auszubilden. Darüber hinaus sind entsprechende Prüf­ elektroden 51 und Anschlußelektroden 52 elektrisch miteinan­ der durch eine gedruckte Verdrahtung 53 miteinander verbun­ den, um jeweilige Paare auszubilden.

Jede der Prüfelektroden 51 entspricht in Form, Größe und Po­ sition bzw. Lage ihrer entsprechenden von vielen zu prüfenden Elektroden auf der zu prüfenden Platine.

Eine solche Prüfadapterkarte wird in einer Prüfvorrichtung für eine gedruckte Schaltung installiert und zum Prüfen des elektrischen Leistungsvermögens der zu prüfenden Platine ver­ wendet.

Fig. 2 veranschaulicht ein Beispiel der Prüfvorrichtung für eine gedruckte Schaltung, und Bezugssymbole A und B stellen einen Prüfkopfmechanismus bzw. einen Prüfsteuermechanismus dar.

In dem Prüfkopfmechanismus A bezeichnet ein Bezugszeichen 10 einen unteren Kopf. Eine Prüfadapterkarte 12 ist auf dem un­ teren Kopf 10 installiert, und eine zu prüfende Platine 20 ist auf der Prüfadapterkarte 12 angeordnet. Im einzelnen ist die Adapterkarte 12, auf deren beiden Seiten Verbindungslagen 16 und 17, bestehend aus beispielsweise anisotropischen, elektrisch leitenden Gummilagen oder dergleichen, separat an­ geordnet wurden, in dem unteren Kopf 10 installiert, und ist die zu prüfende Platine 20 auf diesen angeordnet. In einem oberen Kopf 11 über dem unteren Kopf 10 sind eine Prüfadap­ terkarte 12 und Verbindungslagen 16 und 17 auf dieselbe Art und Weise wie vorstehend beschrieben in einem übereinanderge­ schichteten Zustand installiert.

Ein Bezugszeichen 19 bezeichnet einen Antriebsmechanismus, der durch einen Steuermechanismus angesteuert wird, welcher durch einen Steuerrechner 22 in dem Prüfsteuermechanismus B gesteuert wird, wodurch der untere Kopf 10 gegen den oberen Kopf gepresst wird, so daß jede der Prüfadapterkarten 12, 12 unter Druck in Kontakt mit der zu prüfenden Platine 20 ge­ bracht wird, um die elektrische Verbindung zwischen diesen über die Verbindungslagen 16, 17 zu erzielen. Zu dieser Zeit werden die Zustände der zu prüfenden Elektroden auf der zu prüfenden Platine 20 in Bezug darauf, ob die Elektroden elek­ trisch leiten oder nicht, über den unteren Kopf 10 und den oberen Kopf 11 an ein Prüfgerät 24 übermittelt, wodurch die Prüfung durchgeführt wird.

Um die notwendige Prüfung für die zu prüfende Platine 20 durch eine solche Prüfvorrichtung durchzuführen, ist es we­ sentlich, einen Zustand zu erreichen derart, daß die Positio­ nen der zu prüfenden Elektroden auf der Platine 20 akkurat mit den Positionen ihrer entsprechenden Prüfelektroden auf der Prüfadapterkarte 12 übereinstimmen. Um diesen Zustand zu erreichen, werden vorwiegend irgendein oder mehrere von ver­ schiedenen Arten von Ausrichtungsmechanismen in die Prüfvor­ richtung einbezogen.

Jedoch war es unter den bestehenden Umständen dahingehend, daß Elektroden auf einer gedruckten Schaltung in den vergan­ genen Jahren miniaturisiert und in der Dichte erhöht wurden, extrem schwierig, die zu prüfende Platine 20 akkurat zu der Prüfadapterkarte 12 auszurichten.

Bei den herkömmlichen Prüfadapterkarten ist es notwendig, Prüfelektroden in derselben Anzahl und Anordnung wie viele zu prüfende Elektroden auf der individuell zu prüfenden Platine entsprechend zu den zu prüfenden Elektroden bereitzustellen. Dementsprechend muß auch ein Prüfgerät eine große Prüfkapazi­ tät haben.

Mit der Miniaturisierung und der Erhöhung der Anordnungsdich­ te von Elektroden auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung stellt sich derzeit auch die elektrische Verbindung zwischen den Prüfelektroden und den Anschlußelektroden (Gittern) auf der Prüfadapterkarte durch Verdrahtungen als extrem schwierig heraus. Vor kurzem war es unmöglich, die notwendigen Verdrah­ tungen innerhalb einer Platine zu erzeugen, solange nicht ei­ ne Mehrlagen-Zwischenverbindungsstruktur, bei der eine oder mehrere Zwischenschichtverdrahtungen ausgebildet sind, be­ reitgestellt wurde, obwohl ein ausreichender Verdrahtungsbe­ reich bisher durch beide Seiten einer Platine allein bereit­ gestellt worden war.

In der Praxis verwendete gedruckte Schaltungen werden vorwie­ gend unter der Voraussetzung hergestellt, daß dieselbe Art von Platinen in einer Menge von zumindest gewissen Anzahlen produziert werden, so daß ihr Entwurf und ihre Herstellung Zeit und Kosten entsprechend ihrer eigenen Art in Anspruch nehmen darf. Die Prüfadapterkarte jedoch wird grundlegend als nur ein einziges Produkt hergestellt, so daß es daher erfor­ derlich ist, diese in einer kürzestmöglichen Produktionszeit und zu geringstmöglichen Kosten zu produzieren. Demgemäß auf­ erlegt die Verwendung der Mehrlagen-Zwischenverbindungsstruk­ tur in der Prüfadapterkarte entsprechend der Miniaturisierung und Dichteerhöhung von Elektroden auf der zu prüfenden Plati­ ne eine schwere Belastung für die Herstellung der Prüfadap­ terkarte.

Die Erfindung erfolgte auf der Grundlage der vorstehenden Ge­ gebenheiten und hat als allgemeine Aufgabe die Bereitstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung, die Prüfelektroden großer Abmessungen und ausgebildet mit einem Abstand größer als der kleinste Abstand zwischen zu prüfenden kleinen Elektroden, die mit hoher Dichte auf einer zu prüfen­ den gedruckten Schaltung angeordnet sind, aufweist und infol­ gedessen die Durchführung der notwendigen Prüfung auch durch eine Platinenprüfvorrichtung oder ein Prüfgerät erlaubt, die bzw. das ein geringes Leistungsvermögen hat und leicht ent­ worfen und hergestellt werden kann, die Bereitstellung eines Verfahrens zum Prüfen einer gedruckten Schaltung unter Ver­ wendung einer solchen Prüfadapterkarte, sowie die Bereitstel­ lung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen der Prüfadapterkarte.

Im einzelnen besteht eine erste Aufgabe oder Hauptaufgabe der Erfindung darin, eine erste Prüfadapterkarte mit gemeinsamen Prüfelektroden bereitzustellen, die zum Prüfen des elektri­ schen Leitungszustands einer zu prüfenden Platine ausgelegt sind.

Darüber hinaus soll die Erfindung eine zweite Prüfadapterkar­ te mit repräsentativen Prüfelektroden bereitstellen, die dazu ausgelegt ist, den Isolationszustand einer zu prüfenden Pla­ tine zu prüfen.

Ferner soll die Erfindung ein Verfahren zum Prüfen einer zu prüfenden Platine unter Verwendung der ersten Prüfadapterkar­ te zum Prüfen des elektrischen Leitungszustands und der zwei­ ten Prüfadapterkarte zum Prüfen des Isolationszustands be­ reitstellen.

Überdies soll die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrich­ tung zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen einer Prüfadapterkarte für die Leitungsprüfung bereitstellen, mit­ tels welchen Informationen bezüglich gemeinsamer Prüfelektro­ den mit außerordentlicher Einfachheit entsprechend einer tat­ sächlichen zu prüfenden Platine erzeugt werden können.

Weiterhin soll die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrich­ tung zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen einer Prüfadapterkarte für die Isolationsprüfung bereitstellen, mittels welchen Informationen bezüglich repräsentativer Prüf­ elektroden und Informationen bezüglich Überwachungs-Prüfelek­ troden mit außerordentlicher Einfachheit entsprechend einer tatsächlichen zu prüfenden Platine erzeugt werden können.

Darüber soll die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen sowohl der er­ sten als auch der zweiten Prüfadapterkarte bereitstellen.

Die vorstehenden Aufgaben und Ziele können durch die nachste­ hend beschriebene Erfindung erreicht werden.

Erfindungsgemäß wird daher eine Prüfadapterkarte für eine ge­ druckte Schaltung bereitgestellt, die mit Prüfelektroden an Positionen entsprechend den Positionen einer Vielzahl von zu prüfenden Elektroden auf einer zu prüfenden gedruckten Schal­ tung ausgerüstet ist und für die Leitungsprüfung der gedruck­ ten Schaltung verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, daß zu­ mindest eine der Prüfelektroden eine gemeinsame Prüfelektrode ist mit einer Form entsprechend einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden, die aus zumindest zwei zu prüfenden Elektroden besteht, und die gemeinsame Prüfelektrode in einem Zustand ausgebildet ist derart, daß Verdrahtungsnetzwerke, die unab­ hängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildet sind, keinen elektrisch geschlossenen Kreis mit­ einander über die gemeinsame Prüfelektrode bilden, wenn die gemeinsame Prüfelektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der gedruckten Schaltung gebracht wird.

Bei dieser Prüfadapterkarte können eine Vielzahl der Prüf­ elektroden durch Verdrahtungen elektrisch miteinander verbun­ den sein.

Erfindungsgemäß wird ferner eine Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung bereitgestellt, die mit Prüfelektroden ausgerüstet ist und zur Isolationsprüfung einer zu prüfenden gedruckten Schaltung verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentative Prüfelektrode ausgebildet ist, die mit nur einer zu prüfenden Elektrode elektrisch zu verbinden ist, welche zu jedem von zu prüfenden Verdrahtungsnetzwerken gehört, die unabhängig von­ einander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung an einer Position entsprechend der einen zu prüfenden Elektrode ausge­ bildet sind.

Bei dieser Prüfadapterkarte kann bevorzugt eine Überwachungs- Prüfelektrode, die elektrisch mit der repräsentativen Prüf­ elektrode verbunden ist, ausgebildet sein.

Erfindungsgemäß wird weiter ein Verfahren zum Prüfen einer gedruckten Schaltung bereitgestellt, gekennzeichnet durch Verwenden der vorstehend beschriebenen Prüfadapterkarten zum Durchführen einer Leitungsprüfung in Bezug auf jedes von auf der gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungsnetzwer­ ken, und Verwenden der Prüfadapterkarte zum Durchführen einer Isolationsprüfung zwischen den auf der gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungsnetzwerken.

Erfindungsgemäß wird nochmals weiter ein Verfahren zum Prüfen von gedruckten Schaltungen bereitgestellt, gekennzeichnet durch Bereitstellen einer Prüfadapterkarte zum Durchführen einer Leitungsprüfung in Bezug auf jedes von auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungs­ netzwerken, und einer Prüfadapterkarte zum Durchführen einer Isolationsprüfung zwischen den Verdrahtungsnetzwerken Seite an Seite, und Plazieren von zu prüfenden gedruckten Schaltun­ gen jeweils auf diesen Adapterkarten zur Leitungsprüfung und zur Isolationsprüfung, um eine Leitungsprüfung für eine ge­ druckte Schaltung und eine Isolationsprüfung für die andere gedruckte Schaltung gleichzeitig durchzuführen.

Als die Adapterkarten für die Leitungsprüfung und für die Isolationprüfung können die erstbeschriebene Prüfadapterkarte bzw. die zweitbeschriebene Prüfadapterkarte für die Isolati­ onsprüfung verwendet werden.

In Übereinstimmung mit derartigen Prüfadapterkarten wie vor­ stehend beschrieben können gedruckte Schaltungen mit miniatu­ risierten und in der Dichte erhöhten Elektroden der notwendi­ gen Leitungsprüfung und Isolationsprüfung unterzogen werden, obwohl die Adapterkarten Prüfelektroden aufweisen, die klei­ ner sind bzw. deren Zahl kleiner ist als die zu prüfende An­ zahl von Elektroden und die eine extrem hohe Größenflexibili­ tät und Anordnungsdichte aufweisen. Demgemäß genügt bei jeder Prüfung eine geringe Leistungsfähigkeit bzw. Kapazität eines Prüfgeräts.

Darüber hinaus können notwendige Prüfungen für eine zu prü­ fende Platine mit Sicherheit für eine zu prüfende Platine er­ reicht werden durch Ausführen sowohl einer Leitungsprüfung als auch einer Isolationsprüfung, und genügen außerdem einfa­ che Prüfadapterkarten für beide Prüfungen. Daher werden der Entwurf und die Herstellung derselben einfach, und genügt ei­ ne geringe Kapazität für ein Prüfgerät. Darüber hinaus können die notwendigen Prüfungen für eine große Anzahl von gedruck­ ten Schaltungen unter Verwendung der vorstehend beschriebenen Prüfadapterkarten mit extrem hoher Effizienz durchgeführt werden.

Erfindungsgemäß wird ferner ein Verfahren bereitgestellt zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen einer Prüfadapter­ karte für gedruckte Schaltungen, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden an Positionen entsprechend den Positionen meh­ rerer zu prüfender Elektroden auf einer zu prüfenden gedruck­ ten Schaltung ausgerüstet ist, wobei zumindest eine der Prüf­ elektroden eine gemeinsame Prüfelektrode ist mit einer Form, die einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden entspricht, wel­ che aus zumindest zwei zu prüfenden Elektroden besteht, und die gemeinsame Prüfelektrode in einem Zustand ausgebildet ist derart, daß Verdrahtungsnetzwerke, die unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildet sind, keinen elektrisch geschlossenen Kreis miteinander über die gemeinsame Prüfelektrode bilden, wenn die gemeinsame Prüf­ elektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der gedruckten Schal­ tung gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren das Erzeugen von Informationen in Bezug auf die gemeinsame Prüfelektrode umfaßt durch Ausführen: (1) einer Gruppierungs­ verarbeitung, bei der geometrische Informationen in Bezug auf sämtliche der zu prüfenden Elektroden und Informationen in Bezug auf eine elektrische Verbindung zwischen den Elektroden genutzt werden, um zumindest eine Gruppe auszubilden, die aus mehreren zu prüfenden Elektroden besteht; und (2) einer Ver­ arbeitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode, bei der eine virtuelle gemeinsame Elektrode entsprechend einem Zu­ stand derart, daß sämtliche der zu prüfenden Elektroden, die zu einer Gruppe der zu prüfenden Elektroden gehören, elek­ trisch miteinander verbunden wurden, erzeugt wird.

Erfindungsgemäß wird ferner eine Vorrichtung bereitgestellt zum Erzeugen von Informationen, welche eine Informationsver­ arbeitungseinrichtung ist, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für gedruckte Schaltungen verwendet wird, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden an Positionen entspre­ chend den Positionen mehrerer zu prüfender Elektroden auf ei­ ner zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgerüstet ist, wobei zumindest eine der Prüfelektroden eine gemeinsame Prüfelek­ trode ist mit einer Form, die einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden entspricht, welche aus zumindest zwei zu prüfenden Elektroden besteht, und die gemeinsame Prüfelektrode in einem Zustand ausgebildet ist derart, daß Verdrahtungsnetzwerke, die unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildet sind, keinen elektrisch geschlossenen Kreis miteinander über die gemeinsame Prüfelektrode bilden, wenn die gemeinsame Prüfelektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der gedruckten Schaltung gebracht wird, gekennzeichnet durch (1) eine Gruppierungsverarbeitungsfunktion, durch wel­ che geometrische Informationen in Bezug auf sämtliche der zu prüfenden Elektroden und Informationen in Bezug auf eine elektrische Verbindung zwischen den Elektroden genutzt wer­ den, um zumindest eine Gruppe auszubilden, die aus mehreren zu prüfenden Elektroden besteht; und (2) eine Verarbeitungs­ funktion zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode, durch welche eine virtuelle gemeinsame Elektrode entsprechend einem Zustand derart, daß sämtliche der zu prüfenden Elektroden, die zu einer Gruppe der zu prüfenden Elektroden gehören, elektrisch miteinander verbunden wurden, erzeugt wird, wobei Informationen in Bezug auf die gemeinsame Prüfelektrode er­ zeugt werden.

Erfindungsgemäß wird ferner ein Verfahren bereitgestellt zum Erzeugen von Informationen zum Herstellen einer Prüfadapter­ karte für gedruckte Schaltungen, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden ausgerüstet ist, wobei zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentative Prüfelektrode ausge­ bildet ist, die elektrisch mit einer zu prüfenden repräsenta­ tiven Elektrode zu verbinden ist, bestehend aus nur einer zu prüfenden Elektrode, die zu jedem von Verdrahtungsnetzwerken gehört, welche unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung an einer Position entsprechend der zu prüfenden repräsentativen Elektrode ausgebildet sind, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren das Erzeugen von Informa­ tionen in Bezug auf die repräsentative Prüfelektrode und In­ formationen in Bezug auf eine Überwachungs-Prüfelektrode um­ faßt durch Ausführen: (1) einer Verarbeitung zum Auswählen einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode, bei der nur ei­ ne Elektrode aus mehreren zu prüfenden Elektroden, die zu je­ dem der unabhängig auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungsnetzwerke gehört, als die zu prü­ fende repräsentative Elektrode ausgewählt wird; und (2) einer Verarbeitung zum Auswählen einer zu prüfenden Überwachungs­ elektrode, bei der zumindest eine zu prüfende Elektrode als die zu prüfende Überwachungselektrode aus anderen als der zu prüfenden repräsentativen Elektrode zu prüfenden Elektroden, welche elektrisch mit der zu prüfenden repräsentativen Elek­ trode verbunden sind, aus den auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten zu prüfenden Elektroden ausgewählt wird.

Erfindungsgemäß wird ferner eine Vorrichtung bereitgestellt zum Erzeugen von Informationen, welche eine Informationsver­ arbeitungseinrichtung ist, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltungen verwendet wird, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden ausgerüstet ist, wobei zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsenta­ tive Prüfelektrode ausgebildet ist, die elektrisch mit einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode zu verbinden ist, be­ stehend aus nur einer zu prüfenden Elektrode, die zu jedem von Verdrahtungsnetzwerken gehört, welche unabhängig vonein­ ander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung an einer Po­ sition entsprechend der zu prüfenden repräsentativen Elektro­ de ausgebildet sind, gekennzeichnet durch (1) eine Verarbei­ tungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfenden repräsentati­ ven Elektrode, bei welcher nur eine Elektrode aus mehreren zu prüfenden Elektroden, die zu jedem der unabhängig auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungs­ netzwerke gehört, als die zu prüfende repräsentative Elektro­ de ausgewählt wird; und (2) eine Verarbeitungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfenden Überwachungselektrode, bei wel­ chem zumindest eine zu prüfende Elektrode als die zu prüfende Überwachungselektrode aus anderen als der zu prüfenden reprä­ sentativen Elektrode zu prüfenden Elektroden, welche elek­ trisch mit der zu prüfenden repräsentativen Elektrode verbun­ den sind, aus den auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten zu prüfenden Elektroden ausgewählt wird, wobei Informationen in Bezug auf die repräsentative Prüfelektrode und Informationen in Bezug auf eine Überwachungs-Prüfelektro­ de erzeugt werden.

Erfindungsgemäß wird ferner ein Verfahren bereitgestellt zum Erzeugen von Informationen, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung verwendet wer­ den, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren das Ausführen der vorstehend beschriebenen Gruppierungsverarbeitung und der Verarbeitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode, und Ausführen der vorstehend beschriebenen Verarbeitung zum Aus­ wählen einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode und der Verarbeitung zum Auswählen einer zu prüfenden Überwachungs­ elektrode umfaßt.

Erfindungsgemäß wird ferner eine Vorrichtung bereitgestellt zum Erzeugen von Informationen, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung verwendet wer­ den, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung die vorste­ hend beschriebene Gruppierungsverarbeitungsfunktion und die Verarbeitungsfunktion zum Ausbilden einer gemeinsamen Elek­ trode, und die vorstehend beschriebene Verarbeitungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode und die Verarbeitungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfen­ den Überwachungselektrode umfaßt.

In Übereinstimmung mit der Erfindung werden in dem Fall, in dem die erstbeschriebene Prüfadapterkarte und die zweitbe­ schriebene Prüfadapterkarte hergestellt werden, mehrere Ver­ arbeitungseinrichtungen und Einstellbedingungen bzw. -zustände bereitgestellt, um durch Verarbeiten von Informa­ tionen in Bezug auf die zu prüfenden Elektroden Informationen in Bezug auf gemeinsame Prüfelektroden, repräsentative Prüf­ elektroden und Überwachungselektroden entsprechend zu prüfen­ den Elektroden auf einer zu prüfenden Platine zu erzeugen, wobei diese Einrichtungen und Bedingungen optional zur Ver­ wendung geändert werden, wodurch die Informationen auf vielen Arten von zu prüfenden Platinen derart verarbeitet werden können, daß optimale Resultate in Übereinstimmung mit den je­ weiligen Zwecken erhalten werden können. Demgemäß können die beabsichtigten Prüfadapterkarten mit extremer Leichtigkeit bereitgestellt werden.

Die Erfindung wird nachstehend anhand bevorzugter Ausfüh­ rungsbeispiele unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung näher beschrieben. Es zeigen:

Fig. 1 Prüfelektroden und Anschlußelektroden auf einer bei­ spielhaften herkömmlichen Prüfadapterkarte in einem Zustand, in dem diese sich überlappen;

Fig. 2 vereinfacht den Aufbau einer Prüfvorrichtung für eine gedruckte Schaltung;

Fig. 3 Prüfelektroden auf einer Prüfadapterkarte gemäß einem Ausführungsbeispiel und zu prüfende Elektroden auf einer zu prüfenden Platine in einem Zustand, in dem sich diese über­ lappen;

Fig. 4 Prüfelektroden gemäß einem weiteren Ausführungsbei­ spiel und zu prüfende Elektroden auf einer zu prüfenden Pla­ tine in einem Zustand, in dem sich diese überlappen;

Fig. 5 eine Abwandlung des in Fig. 4 dargestellten Falls; und

Fig. 6 eine Vorrichtung, mittels welcher das Prüfverfahren für eine gedruckte Schaltung mit hoher Effizienz durchgeführt werden kann.

Die Prüfadapterkarten gemäß den Ausführungsbeispielen werden nachstehend im einzelnen beschrieben.

Fig. 3 veranschaulicht Prüfelektroden auf einer Prüfadapter­ karte (nachstehend als "die erste Prüfadapterkarte" bezeich­ net) gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel und zu prüfende Elektroden auf einer zu prüfenden Platine in einem Zustand, in dem diese sich überlappen (Durchsichtzustand).

In Fig. 3 geben schwarze Rechtecke, Quadrate und Kreise bzw. Punkte zu prüfende Elektroden X auf einer zu prüfenden Plati­ ne an, während weiße Rechtecke gemeinsame Prüfelektroden Y der (nicht dargestellten) Prüfadapterkarte angeben. Auf der Prüfadapterkarte sind Prüfelektroden Z entsprechend zu ande­ ren als den in Beziehung zu den gemeinsamen Prüfelektroden stehenden zu prüfenden Elektroden X ausgebildet.

Die an die zu prüfenden Elektroden X angefügten Nummern die­ nen dazu, die einzelnen Elektroden X zu spezifizieren, wel­ ches in der vorliegenden Beschreibung durch Setzen derselben in Klammern ausgedrückt wird, während die an die gemeinsamen Prüfelektroden angefügten Kleinbuchstaben dazu dienen, die einzelnen gemeinsamen Prüfelektroden zu spezifizieren, wel­ ches in der vorliegenden Beschreibung durch Setzen derselben in Klammern ausgedrückt wird.

Wie Fig. 3 entnehmbar ist, entspricht jede der gemeinsamen Prüfelektroden Y weder in Form noch Größe den einzelnen zu prüfenden Elektroden X, und ist in einem Zustand entsprechend einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden ausgebildet, die aus zumindest zwei Elektroden X besteht. Mit anderen Worten ist jede gemeinsame Prüfelektrode Y als eine Elektrode ausgebil­ det mit einer Form, einer Größe und einer Position derart, daß sie in gemeinsamen Kontakt mit sämtlichen der Elektroden X kommt, die zu der Gruppe der zu prüfenden Elektroden gehö­ ren.

Im einzelnen ist in dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungs­ beispiel eine gemeinsame Prüfelektrode (a) mit einer solchen bandartigen Form, Größe und Position ausgebildet, daß sie ge­ meinsam eine aus vier zu prüfenden Elektroden (1) bis (4) be­ stehende Gruppe von zu prüfenden Elektroden überdeckt, ist eine gemeinsame Prüfelektrode (b) mit einer solchen Form, Größe und Position ausgebildet, daß sie gemeinsam eine aus drei zu prüfenden Elektroden (5) bis (7) bestehende Gruppe von zu prüfenden Elektroden überdeckt, und sind weitere ge­ meinsame Prüfelektroden (c) bis (i) ebenfalls auf vergleich­ bare Art und Weise ausgebildet.

Jede der gemeinsamen Prüfelektroden Y muß in einem Zustand derart erzeugt werden, daß unabhängig voneinander auf der zu prüfenden Platine ausgebildete Verdrahtungsnetzwerke keinen elektrisch geschlossenen Kreis miteinander über die gemeinsa­ me Prüfelektrode bilden, wenn die gemeinsame Prüfelektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der zu prüfenden Platine gebracht wird.

Im einzelnen muß jede der gemeinsamen Prüfelektroden Y gleichzeitig elektrisch mit sämtlichen der spezifizierten mehreren Elektroden X verbunden werden, so daß mehrere Elek­ troden X, die eine Gruppe von zu prüfenden Elektroden mit Be­ zug zu einer bestimmten gemeinsamen Prüfelektrode Y bilden, jeweils zu voneinander unabhängigen Verdrahtungsnetzwerken gehören müssen.

Die nachstehende Beschreibung erfolgt unter Bezugnahme auf Fig. 3. Beispielsweise müssen 4 der gemeinsamen Prüfelektrode (a) entsprechende zu prüfende Elektroden (1) bis (4) jeweils zu 4 voneinander unabhängigen Verdrahtungsnetzwerken gehören. Wenn dies nicht der Fall ist, also beispielsweise die Elek­ troden (2) und (3) zu demselben Verdrahtungsnetzwerk gehören, wird das zu den Elektroden (2) und (3) in Beziehung stehende Verdrahtungsnetzwerk über die gemeinsame Prüfelektrode (a) kurzgeschlossen, wenn die gemeinsame Prüfelektrode (a) mit den Elektroden (1) bis (4) in Kontakt gebracht wird, wodurch ein elektrisch geschlossener Kreis gebildet wird. Demgemäß ist es unmöglich, eine elektrische Prüfung mit hoher Zuver­ lässigkeit durchzuführen.

Bei der ersten Prüfadapterkarte sind die gemeinsamen Prüf­ elektroden Y in einem Zustand ausgebildet derart, daß die vorstehend beschriebenen Bedingungen erfüllt worden sind. Da­ her kann die notwendige Prüfung auf elektrische Leitung durch Verwenden dieser Prüfadapterkarte auf allen Verdrahtungsnetz­ werken auf einer zu prüfenden Platine durchgeführt werden.

Eine spezielle Beschreibung erfolgt unter Bezugnahme auf das in Fig. 3 dargestellte Ausführungsbeispiel. Unter der Annah­ me, daß Verdrahtungen auf einer zu prüfenden Platine wie durch feine Linien L angegeben hergestellt sind, um die not­ wendige Prüfung, d. h. eine Leitungsprüfung zwischen in Be­ ziehung zu allen Verdrahtungen stehenden Elektroden X, durch­ zuführen, wird die Prüfung wie üblich durchgeführt, um zu prüfen, ob alle Paare von Elektroden, die zu jeder von von­ einander unabhängigen Verdrahtungsleitungen gehören, elek­ trisch leiten oder nicht.

Wenn jedoch die erste Prüfadapterkarte verwendet wird, kann dieselbe Prüfung durchgeführt werden, ohne sämtliche der Paa­ re von zu prüfenden Elektroden zu untersuchen.

Beispielsweise ist die Leitungsprüfung zwischen den gemeinsa­ men Prüfelektroden (a) und (g) äquivalent zu der Leitungsprü­ fung zwischen der zu prüfenden Elektrode (3) und einer elek­ trisch mit dieser verbundenen Elektrode (18), und ist die Leitungsprüfung zwischen den gemeinsamen Prüfelektroden (b) und (g) äquivalent zu der Leitungsprüfung zwischen der zu prüfenden Elektrode (6) und einer elektrisch mit dieser ver­ bundenen Elektrode (19).

Ergebnisse, die äquivalent zu denjenigen in dem Fall sind, in dem die elektrische Leitung an allen Paaren von zu prüfenden Elektroden geprüft wird, können durch Prüfen der elektrischen Leitung bezüglich aller Kombinationen der gemeinsamen Prüf­ elektroden Y und anderen Prüfelektroden Z als den gemeinsamen Prüfelektroden Y auf der Prüfadapterkarte auf vergleichbare Art und Weise erhalten werden.

Aufgrund der vorstehenden Tatsache kann die erste Prüfadap­ terkarte die folgenden Wirkungen zustande bringen.

• a) Da eine Prüfadapterkarte, auf der Prüfelektroden mit ei­ nem Abstand breiter als der kleinste Abstand zwischen zu prü­ fenden Elektroden auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung angeordnet wurden, als eine Prüfadapterkarte zum Durchführen der notwendigen Leitungsprüfung für die zu prüfende Platine verwendet werden kann, wird die mit dem Entwurf der Verdrah­ tung auf der Prüfadapterkarte verbundene Last in großem Aus­ maß verringert, und wird außerdem die mit der Herstellung der Prüfadapterkarte verbundene Last verringert. Darüber hinaus werden die Bedingungen für die Ausrichtung der Prüfadapter­ karte zu der zu prüfenden Platine gemäßigt.
• b) Es ist möglich, die elektrische Leitung einer zu prüfen­ den Platine mit einer Zahl von zu prüfenden Elektroden größer als die Prüfkapazität eines Prüfgeräts bzw. Testers zu prü­ fen.

Wie der vorstehenden Beschreibung in Bezug auf Fig. 3 ent­ nehmbar ist, wird bei der ersten Prüfadapterkarte die Zahl von auf der ersten Prüfadapterkarte bereitzustellenden Prüf­ elektroden (einschließlich gemeinsamer Prüfelektroden), die für die Leitungsprüfung zwischen allen Paaren von zu prüfen­ den Elektroden auf einer zu prüfenden Platine notwendig sind, weit kleiner als die Zahl von zu prüfenden Elektroden. Infol­ gedessen kann die Zahl von mit einem Prüfgerät zu verbinden­ den Anschlußelektroden (Gittern) im Vergleich zu der Gesamt­ zahl der zu prüfenden Elektroden verringert werden, so daß die Leitungsprüfung zwischen einer größeren Zahl von zu prü­ fenden Elektroden auch mittels einem Prüfgerät mit einer kleineren Prüfkapazität durchgeführt werden kann.

Wie vorstehend beschrieben wurde, ist die erste Prüfadapter­ karte dadurch gekennzeichnet, daß eine gemeinsame Prüfelek­ trode, die gemeinsam auf mehrere zu prüfende Elektroden wirkt, welche zu einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden ge­ hören, vorgesehen ist. Um eine derartige entsprechende Bezie­ hung zwischen den Prüfelektroden und den zu prüfenden Elek­ troden zu verwirklichen, brauchen mehrere zu prüfende Elek­ troden, die zu einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden gehö­ ren, nicht immer diejenigen zu sein, die in enger Nachbar­ schaft zueinander in einem endlichen Bereich angeordnet sind, soweit sie eine Gruppe von zu prüfenden Elektroden bilden, die in elektrischer Beziehung zueinander stehen.

Bei der ersten Prüfadapterkarte können an voneinander ent­ fernten Positionen angeordnete Prüfelektroden (einschließlich gemeinsamer Prüfelektroden) durch zusätzliche Verbindungslei­ tungen bzw. -adern elektrisch miteinander verbunden werden.

Im einzelnen veranschaulicht Fig. 4 denselben Zustand wie in Fig. 3, d. h. den Zustand dahingehend, daß Anordnungen von zu prüfenden Elektroden und Prüfelektroden einander überlappen. Schwarze Rechtecke, Quadrate und Kreise geben zu prüfende Elektroden X einer zu prüfenden Platine an, während weiße Rechtecke gemeinsame Prüfelektroden Y einer Prüfadapterkarte angeben. Auf der Prüfadapterkarte sind Prüfelektroden Z ent­ sprechend zu anderen zu prüfenden Elektroden X als denjeni­ gen, die zu den gemeinsamen Prüfelektroden Y in Beziehung stehen, bereitgestellt. Dem in Fig. 4 dargestellten Verdrah­ tungsbeispiel ist entnehmbar, daß die Zahl von zu prüfenden Elektroden insgesamt 28 beträgt mit 10 Elektroden in einem linken Bereich, 10 Elektroden in einem mittleren Bereich und 8 Elektroden in einem rechten Bereich, wohingegen die Zahl der Prüfelektroden auf 16 insgesamt Elektroden reduziert ist mit 5 Elektroden (1 gemeinsame Prüfelektrode Y und 4 Prüf­ elektroden Z) in dem linken Bereich, 8 Elektroden (1 gemein­ same Prüfelektrode Y und 7 Prüfelektroden Z) in dem mittleren Bereich und 3 Elektroden (1 gemeinsame Prüfelektrode Y und 2 Prüfelektroden Z) in dem rechten Bereich.

In einem in Fig. 5 dargestellten Beispiel sind jeweils zwei Prüfelektroden, Z1 und Z2 bzw. Z3 und Z4 in dem in Fig. 4 dargestellten Beispiel, durch 2 Verbindungsleitungen C, die durch dicke Linien dargestellt sind, elektrisch verbunden. In diesem Fall wirken beispielsweise die Prüfelektroden Z1 und Z2 als eine gemeinsame Prüfelektrode zusammen. Infolgedessen kann in dem Beispiel in Fig. 5 die Gesamtzahl unabhängiger Prüfelektroden, d. h. der gemeinsamen Prüfelektroden Y und der nicht gemeinsamen Prüfelektroden Z, auf 14 Elektroden re­ duziert werden, so daß die Anzahl von auf der Prüfadapterkar­ te bereitzustellenden Anschlußelektroden weiter verringert wird. Daher braucht ein verwendetes Prüfgerät eine Kapazität zum Prüfen von nur 14 Prüfpunkten zu haben.

Im allgemeinen besteht eines der wichtigsten Probleme bei dem Entwurf einer Prüfadapterkarte darin, effizient zu verdrah­ ten, um die auf einer Seite einer Platine bzw. Karte angeord­ neten Prüfelektroden und die auf der anderen Seite angeordne­ ten Anschlußelektroden (Gitter) elektrisch zu verbinden. Na­ türlich wird dieser Verdrahtungsvorgang mit zunehmender Ge­ samtzahl von Prüfelektroden oder höher werdender Elektroden­ dichte schwieriger. Demgemäß bedeutet die Verringerung der Gesamtzahl der unabhängigen Prüfelektroden wie vorstehend be­ schrieben, daß es möglich ist, einen Abstand zwischen Prüf­ elektroden zu verbreitern, so daß der Verdrahtungsentwurf leicht wird. Infolgedessen, daß der Vedrahtungsvorgang leicht wird, ist es möglich, dickere Verdrahtungsleitungen und grö­ ßere Durchgangslöcher auszubilden, so daß die auf der Her­ stellung oder Produktion lastende Last ebenfalls verringert wird.

Unter den gegebenen Umständen dahingehend, daß die Schwierig­ keiten sowohl des Entwurfs als auch der Herstellung einer Prüfadapterkarte mit der Miniaturisierung von Elektroden und der Erhöhung der Anordnungsdichte von Elektroden auf einer gedruckten Schaltung wie vorstehend beschrieben zunehmen, ist es ziemlich unpraktisch, eine Prüfadapterkarte herzustellen, auf der wie gewöhnlich eine Prüfelektrode an jedem Prüfpunkt vorgesehen ist.

Um damit fertig zu werden, wurde als ein zweckmäßiges Verfah­ ren bisher eine Prüfadapterkarte verwendet, mittels der die Leitungsprüfung zwischen einer Vielzahl kleiner zu prüfender Elektroden und anderer zu prüfender Elektroden, die nicht sehr klein sind, ohne akkurate Unterscheidung der kleinen Elektroden durchgeführt wird.

In dem Fall, in dem eine Funktion zum Prüfen aller Verdrah­ tungen innerhalb einer zu prüfenden Platine nicht in eine Prüfadapterkarte einbezogen werden kann, wurde auch ein Ver­ fahren durchgeführt, bei dem die Verdrahtungen geteilt wer­ den, durch ein geeignetes Verfahren zum Herstellen mehrerer Prüfadapterkarten jeweils entsprechend den geteilten Verdrah­ tungsabschnitten, und eine Prüfung für jeden Verdrahtungsab­ schnitt ausgeführt wird.

Diese Verfahren berücksichtigen jedoch keine gegenseitigen Beziehungen bzw. Wechselbeziehungen zwischen Prüfelektroden, die mehreren zu prüfenden Elektroden entsprechen. Daher be­ steht für diese Verfahren natürlich eine Beschränkung.

Andererseits kann gemäß dem hierin beschriebenen Ausführungs­ beispiel die Anzahl von Prüfelektroden in der Prüfadapterkar­ te verringert werden. Daher kann die notwendige Prüfung für alle zu prüfenden Elektroden mittels einer Prüfadapterkarte durchgeführt werden, während die mit der Kapazität eines Prüfgeräts und dem Entwurf sowie der Herstellung der Prüf­ adapterkarte verbundenen Lasten reduziert werden und in die­ sem Zustand die Bedingungen für die Ausrichtung der Prüfadap­ terkarte zu der zu prüfenden Platine gemäßigt worden sind.

Es wird daher deutlich, daß die Prüfadapterkarte gemäß dem hierin beschriebenen Ausführungsbeispiel in dieser Hinsicht eine extrem große technische Wirkung hat.

In Übereinstimmung mit der ersten Prüfadapterkarte ist die gemeinsame Prüfelektrode elektrisch gemeinsam mit mehreren zu prüfenden Elektroden verbunden. Daher können vollständige Prüfergebnisse in Bezug auf die Isolation zwischen innerhalb einer zu prüfenden Platine unabhängig voneinander ausgebilde­ ten Verdrahtungsnetzwerken nicht gleichzeitig erhalten wer­ den. Mit anderen Worten kann die Isolationsprüfung nicht durchgeführt werden.

Um die Isolationsprüfung durchzuführen, wird erfindungsgemäß eine weitere Prüfadapterkarte (nachstehend als "die zweite Prüfadapterkarte" bezeichnet) bereitgestellt. Die zweite Prüfadapterkarte weist als eine repräsentative Prüfelektrode eine Prüfelektrode entsprechend einer zu prüfenden Elektrode auf (nachstehend als die "repräsentative zu prüfende Elektro­ de" bezeichnet) auf, die geeignet aus vielen zu prüfenden Elektroden ausgewählt ist, welche zu jedem von bzw. jeweils unabhängigen Verdrahtungsnetzwerken auf einer zu prüfenden Platine gehören.

Die notwendige Prüfung in Bezug auf Isolation kann unter Ver­ wendung dieser Prüfadapterkarte für die Isolationsprüfung si­ cher durchgeführt werden.

Da die repräsentative zu prüfende Elektrode, die der reprä­ sentativen Prüfelektrode entspricht, irgendeine aus den zu prüfenden Elektroden in jedem Verdrahtungsnetzwerk sein kann, kann beispielsweise eine zu prüfende Elektrode mit der größ­ ten Größe oder eine am weitesten von benachbarten Elektroden entfernte zu prüfende Elektrode als die repräsentative zu prüfende Elektrode ausgewählt werden. Demgemäß können Prüf­ elektroden in der Prüfadapterkarte für die Isolationsprüfung, d. h. repräsentative Prüfelektroden, mit beträchtlich gerin­ ger Anordnungsdichte und großer durchschnittlicher Größe ver­ glichen mit denjenigen der zu prüfenden Elektroden der zu prüfenden Platine ausgebildet werden. Daher sind der Entwurf und die Herstellung derselben sehr einfach.

Die Tatsache, daß zwei Prüfungen, die Leitungsprüfung und die Isolationsprüfung, auf einer zu prüfenden Platine wie vorste­ hend beschrieben durchgeführt werden, bringt eine weitestge­ hende Zunahme der Betriebsablaufschritte mit sich. Jedoch wird ein Vorteil dahingehend, daß der Entwurf und die Her­ stellung der Prüfadapterkarten einfach werden, erhalten, und werden außerdem damit einhergehende Wirkungen wie beispiels­ weise eine Verringerung der Kosten und eine Verkürzung von Zeitdauern in insgesamt großem Ausmaß herbeigeführt. Daher werden auch dann weitreichende Vorteile erhalten, wenn der vorstehende beschriebene Nachteil berücksichtigt wird.

Fig. 6 veranschaulicht eine Prüfvorrichtung für eine gedruck­ te Schaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel, mittels der die Leitungsprüfung und die Isolationsprüfung für zu prüfende ge­ druckte Schaltungen mit hoher Effizienz durchgeführt werden können.

Bei der Prüfvorrichtung für eine gedruckte Schaltung bezeich­ net das Bezugssymbol A einen Prüfkopfmechanismus, der im we­ sentlichen denselben Aufbau hat wie der in Fig. 2 dargestell­ te Prüfkopfmechanismus. Der Betrieb desselben wird durch den selben Prüfsteuermechanismus (nicht dargestellt) wie in Fig. 2 gesteuert.

An sowohl dem unteren Kopf 10 als auch dem oberen Kopf 11 des Prüfkopfmechanismus A in der Prüfvorrichtung sind die ersten Prüfadapterkarten 32 für die Leitungsprüfung bzw. die zweiten Prüfadapterkarten 34 für die Isolationsprüfung angebracht, in einem ersten Bereich Ra und einem zweiten Bereich Rb dersel­ ben, welche sich Seite an Seite liegend befinden. Diese Prüf­ adapterkarten können auf einer gemeinsamen Basis angebracht worden sein.

Auf beiden Seiten des Prüfkopfmechanismus A sind Platinensta­ peleinrichtungen 36 bzw. 38 bereitgestellt. Die Platinensta­ peleinrichtung 36 weist eine Doppelstapelstruktur auf derart, daß ein erster Stapelteil 36a und ein zweiter Stapelteil 36b wie der erste und der zweite Bereich Ra und Rb Seite an Seite angeordnet sind. Hierzu vergleichbar hat auch die Platinen­ stapeleinrichtung 38 eine Doppelstapelstruktur derart, daß ein erster Stapelteil 38a und ein zweiter Stapelteil 38b Sei­ te an Seite angeordnet sind. In jeder der Platinenstapelein­ richtungen 36 und 38 können die beiden Stapelteile bezüglich eines Abstands zwischen ihnen und bezüglich jeweiliger Größen in Übereinstimmung mit den Größen von zu prüfenden Platinen 40, die eigentlich der Prüfung unterzogen werden, eingestellt werden.

Bei der Prüfung werden zunächst dieselbe Art zweier zu prü­ fender Platinen 40, die auf der Grundlage desselben Entwurfs hergestellt worden sind, aus dem ersten Stapelteil 36a und dem zweiten Stapelteil 36b der Platinenstapeleinrichtung 36 mittels beispielsweise einer Schienenfördereinrichtung oder einer Roboterfördereinrichtung gleichzeitig auf dem ersten Bereich Ra bzw. dem zweiten Bereich Rb des unteren Kopfs 10 angeordnet.

In dem Prüfkopfmechanismus A wird dann der untere Kopf 10 mittels einem Antriebsmechanismus 19 gegen den oberen Kopf 11 gepreßt, um die beiden Platinen 40 gleichzeitig der Leitungs­ prüfung durch die ersten Prüfadapterkarten 32 in dem ersten Bereich Ra und der Isolationsprüfung durch die zweiten Prüf­ adapterkarten 34 in dem zweiten Bereich Rb zu unterziehen. Nach dem Abschluß der Prüfungen werden die beiden Platinen 40 gleichzeitig entnommen und in dem ersten Stapelteil 38a bzw. dem zweiten Stapelteil 38b der anderen Platinenstapeleinrich­ tung 38 aufbewahrt.

Nachdem die vorstehend beschriebenen Tests für alle zu prü­ fenden Platinen in der Platinenstapeleinrichtung 36 abge­ schlossen sind, werden die in der anderen Platinenstapelein­ richtung 38 enthaltenen Platinen in die Platinenstapelein­ richtung 36 zurückgeführt, wobei die gegenseitigen Positionen der beiden gleichzeitig geprüften Platinen gewechselt werden. Im einzelnen werden die in dem ersten Stapelteil 38a der an­ deren Stapeleinrichtung 38 enthaltenen zu prüfenden Platinen in den zweiten Stapelteil 36b der Stapeleinrichtung 36 zu­ rückgeführt, während die in dem zweiten Stapelteil 38b der anderen Stapeleinrichtung 38 enthaltenen zu prüfenden Plati­ nen in den ersten Stapelteil 36a der Stapeleinrichtung 36 zu­ rückgeführt werden. Danach werden dieselben Tests wie vorste­ hend beschrieben gemacht.

Auf die vorstehend beschriebene Art und Weise werden sämtli­ che der zu prüfenden Platinen 40 sowohl der Leitungsprüfung durch die Prüfadapterkarte 32 als auch der Isolationsprüfung durch die Prüfadapterkarte 34 unterzogen.

In Übereinstimmung mit einer derartigen Prüfvorrichtung kann die notwendige Leitungsprüfung und Isolationsprüfung für die zu prüfenden Platinen 40 mit hoher Effizienz durchgeführt werden.

In Übereinstimmung mit den Prüfadapterkarten gemäß den be­ schriebenen Ausführungsbeispielen können gedruckte Schaltun­ gen mit miniaturisierten Elektroden und erhöhter Dichte als zu prüfende Platinen der notwendigen Leitungsprüfung oder Isolationsprüfung unterzogen werden, obwohl die Adapterkarten weniger Prüfelektroden als die Zahl von zu prüfenden Elektro­ den mit extrem hoher Größenflexibilität und Anordnungsdichte haben. Demgemäß genügt bei jeder Prüfung eine geringe Kapazi­ tät für ein Prüfgerät.

Die notwendigen Prüfungen für die zu prüfenden Platinen kön­ nen durch Ausführen sowohl der Leitungsprüfung als auch der Isolationsprüfung sicher durchgeführt werden, und außerdem genügen einfache Prüfadapterkarten für die jeweiligen Prüfun­ gen. Daher wird deren Entwurf und Herstellung einfach, und genügt eine geringe Kapazität bzw. ein geringes Leistungsver­ mögen für ein Prüfgerät. Darüber hinaus können die notwendi­ gen Prüfungen für eine große Zahl von gedruckten Schaltungen durch Verwenden der vorstehend beschriebenen Prüfadapterkar­ ten mit extrem hoher Effizienz durchgeführt werden.

In Übereinstimmung mit der ersten und der zweiten Prüfadap­ terkarte werden die Beschränkungen im Entwurf und in der Her­ stellung derselben in großem Ausmaß gemildert, und wird die Flexibilität extrem hoch, so daß damit verbundene praktische Wirkungen, wie beispielsweise die Verringerung der Kosten und die Verkürzung von Zeitdauern, in großem Ausmaß herbeigeführt werden. Daher werden weitreichende Vorteile insgesamt erhal­ ten, auch wenn der Nachteil der Notwendigkeit des Durchfüh­ rens sowohl der Leitungsprüfung als auch der Isolationsprü­ fung berücksichtigt wird.

Wie vorstehend beschrieben wurde, sind die erste und die zweite Prüfadapterkarte dahingehend grundlegend herausragend, daß ein großer Vorteil erhalten wird. Jedoch wurde festge­ stellt, daß die praktische Herstellung derselben einige grö­ ßere Probleme mit sich bringt.

Wenn beispielsweise der Entwurf einer Prüfadapterkarte zum Prüfen einer bestimmten zu prüfenden Platine manuell auf der Grundlage des Prinzips jeder der vorstehend beschriebenen Prüfadapterkarten erfolgt, dauert es wenigstens mehrere Tage, um den elektrisch verbundenen Zustand von zu prüfenden Elek­ troden auf der zu prüfenden Platine zu analysieren, und ist es außerdem notwendig, einen Vorgang zum Ermitteln der Posi­ tionen und Formen gemeinsamer Prüfelektroden, die als optimal betrachtet werden, sowie eine Eingabe zum Speichern von aus diesem Vorgang erhaltener Informationen zu Zwecken nachfol­ gender Prozesse bzw. Verarbeitungen in einen Rechner oder dergleichen durchzuführen.

Insbesondere ist es bei dem Vorgang zum Ermitteln der Bedin­ gungen für die gemeinsamen Prüfelektroden auf der ersten Prüfadapterkarte, im einzelnen der Größe, der Positionen etc. derselben, erforderlich, die Bedingungen für die gemeinsamen Prüfelektroden derart zu ermitteln, daß die Anzahl von zu ei­ ner zu prüfenden Gruppe von Elektroden gehörenden zu prüfen­ den Elektroden entsprechend einer gemeinsamen Prüfelektrode größer wird, und daß eine größere Zahl der gemeinsamen Prüf­ elektroden ausgebildet werden kann. Wenn die Bedingungen für die gemeinsamen Prüfelektroden jedoch unvorsichtig ermittelt bzw. festgelegt werden, besteht eine Möglichkeit dahingehend, daß einige zu prüfende Elektroden aus dem Prüfgegenstand aus­ geschlossen werden können. Demgemäß muß dieser Vorgang vor­ sichtig durch eine Person durchgeführt werden, die das Objekt und dessen Prinzip vollständig versteht. Darüber hinaus dau­ ert es eine extrem lange Zeit, beispielsweise etwa 2 Wochen oder länger, um den Vorgang durchzuführen, obwohl diese Zeit in Übereinstimmung mit dem Maßstab einer zu prüfenden Platine und der Komplexität von elektrischen Schaltungsanordnungen auf derselben variiert.

Im allgemeinen folgt die Grundregel im Entwurf einer gedruck­ ten Schaltung vielen Systemen in Übereinstimmung mit ver­ schiedenen Bedingungen wie beispielsweise der Art von Vor­ richtung oder Instrument (beispielsweise Telefon, Steuerein­ richtung einer Werkzeugmaschine, Spielgerät oder derglei­ chen), in welche(s) die gedruckte Schaltung eingebaut wird, dem Anwendungsgebiet (Vorrichtung oder Instrument für das öf­ fentliche Wohl, industrielle Verwendung, militärische Verwen­ dung oder dergleichen), der Art von zu verarbeitenden elek­ trischen Signalen (analoge Signale, digitale Signale oder ei­ ne Kombination derselben), und der Dienstumgebung (tragbare Form oder ortsfeste Form). Infolgedessen sind die Einzelhei­ ten des Entwurfs (die Zahl, Formen, Größen und Anordnungen von Elektroden, und Verdrahtungsnetzwerke, die elektrisch verbundene Körper zwischen oder unter den Elektroden sind) der zu prüfenden Platine in ihrer Vielfalt unendlich. Daher gibt es kein gemeinsames Verfahren zum Erzeugen von Informa­ tionen bezüglich Prüfadapterkarten, welches ohne Modifikation auf alle Fälle anwendbar ist.

Wie vorstehend beschrieben wurde, beinhaltet die Herstellung der ersten Prüfadapterkarte ein Problem dahingehend, daß ins­ besondere der Entwurf derselben einen extrem langen Betriebs­ schritt verglichen mit den herkömmlichen Prüfadapterkarten mit Prüfelektroden entsprechend einzelnen zu prüfenden Elek­ troden erfordert.

Andererseits sind auch bei der Herstellung der zweiten Prüf­ adapterkarte mit den repräsentativen Prüfelektroden die Um­ stände im wesentlichen dieselben wie in dem Fall des ersten Prüfadapters.

Erfindungsgemäß werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen bereitgestellt, welche nachfolgend beschrieben werden, um ein derartiges Problem zu lösen.

Grundlegende Umstände bezüglich zweier Arten von in Überein­ stimmung mit diesem Informationserzeugungsverfahren herzu­ stellender Prüfadapterkarten werden wie folgt bestätigt:

(A) Erste Prüfadapterkarte für die Leitungsprüfung

Bei der ersten Prüfadapterkarte für die Leitungsprüfung sind gemeinsame Prüfelektroden in Übereinstimmung mit den spezifi­ schen Bedingungen bereitgestellt. Die Bedingungen umfassen die folgenden drei Bedingungen:

• a) Jede der gemeinsamen Prüfelektroden kommt gleichzeitig in Kontakt mit mehreren zu prüfenden Elektroden.
• b) Eine zu prüfende Elektrode gehört zu einem beliebigen von Verdrahtungsnetzwerken auf einer zu prüfenden Platine, aber jede von mehreren zu prüfenden Elektroden entsprechend einer gemeinsamen Prüfelektrode gehört zu jeweiligen unabhängig voneinander ausgebildeten Verdrahtungsnetzwerken.
• c) Jeder durch jedes Verdrahtungsnetzwerk auf der zu prüfen­ den Platine gebildete Kreis und jede Prüfelektrode auf der Prüfadapterkarte bilden keinen geschlossenen Kreis, wenn die Prüfadapterkarte zu Zwecken der elektrischen Prüfung in Kon­ takt mit der zu prüfenden Platine gebracht wird.

In Übereinstimmung mit einer Prüfadapterkarte mit den gemäß den vorstehenden Bedingungen (a) bis (c) erzeugten gemeinsa­ men Prüfelektroden kann die Leitungsprüfung für alle Verdrah­ tungsnetzwerke auf einer zu prüfenden Platine für jedes Ver­ drahtungsnetzwerk unabhängig ausgeführt werden. Dies ist be­ reits der Beschreibung des in Fig. 3 dargestellten Ausfüh­ rungsbeispiels entnehmbar.

(B) Zweite Prüfadapterkarte für die Isolationsprüfung

Bei dem Entwurf der zweiten Prüfadapterkarte für die Isolati­ onsprüfung wird derart verfahren, daß nur eine Elektrode als eine repräsentative zu prüfende Elektrode aus jedem von Ver­ drahtungsnetzwerken auf einer zu prüfenden Platine ausgewählt wird. Im einzelnen wird die Isolationsprüfung durch Überprü­ fen der Tatsache, daß dann, wenn eine bestimmte Spannung an eine repräsentative zu prüfende Elektrode in einem Verdrah­ tungsnetzwerk, zu dem zu prüfende Elektroden als der Gegen­ stand der Prüfung gehören, angelegt wird, kein Fließen eines elektrischen Stroms an jeder anderen repräsentativen zu prü­ fenden Elektrode erfaßt wird, und aufeinanderfolgendes Wie­ derholen dieses Prozesses über alle repräsentativen zu prü­ fenden Elektroden durchgeführt. Nachdem der vorstehende Prüf­ vorgang über alle Kombinationen der repräsentativen zu prü­ fenden Elektroden abgeschlossen ist, ist die beabsichtigte Isolationsprüfung beendet.

Diese Isolationsprüfung kann die folgenden Wirkungen herbei­ führen:

• a) Die Kapazität eines Prüfgeräts in einer Prüfvorrichtung für eine gedruckte Schaltung kann kleiner gemacht werden als diejenige, die zu prüfenden Elektroden auf einer zu prüfenden Platine entspricht.
• b) Ein Abstand zwischen Prüfelektroden auf der Prüfadapter­ karte kann breiter gemacht werden als der kleinste Abstand zwischen zu prüfenden Elektroden auf einer zu prüfenden ge­ druckten Schaltung.

Das Informationserzeugungsverfahren und die Informationser­ zeugungsvorrichtung gemäß der Erfindung werden nachstehend vor dem Hintergrund der vorstehend beschriebenen Gegebenhei­ ten im einzelnen beschrieben.

Um die bezüglich einer bestimmten zu prüfenden Platine bei der Leitungsprüfung verwendete erste Prüfadapterkarte und die bei der Isolationsprüfung verwendete zweite Prüfadapterkarte herzustellen, werden grundlegend die folgenden Schritte aus­ geführt.

• 1. Ein Schritt zum Eingeben von Informationen bezüglich zu prüfender Elektroden auf der zu prüfenden Platine;
• 2. Ein Schritt zum Erzeugen von Informationen bezüglich Prüfelektroden der ersten Prüfadapterkarte;
• 3. Ein Schritt zum Erzeugen von Informationen bezüglich Prüfelektroden der zweiten Prüfadapterkarte; und
• 4. Ein Schritt zum Ausgeben der erzeugten Informationen.

Diese Schritte werden nachstehend im einzelnen beschrieben.

(1) Schritt zum Eingeben von Informationen bezüglich zu prü­ fender Elektroden auf der zu prüfenden Platine

Dieser Schritt ist ein Schritt zum Lesen von, als grundlegen­ de Informationen, geometrischen Informationen, wie beispiels­ weise relative Positionen, Formen und Größen von zu prüfenden Elektroden auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung, und Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung zwischen den zu prüfenden Elektroden, d. h. Informationen bezüglich elektrischer Leitung oder Isolation, in ein durch einen Rech­ ner bzw. Computer oder eine beliebige andere Informationsver­ arbeitungsvorrichtung verarbeitetes Medium.

Eine Quelle von Informationen als der Gegenstand der Eingabe unterliegt soweit keiner besonderen Beschränkung, als sie die vorstehend beschriebenen Informationen bezüglich der zu prü­ fenden Platine gibt. Beispielsweise können Entwurfsinforma­ tionen bezüglich der zu prüfenden Platine und Informationen, die durch Analysieren einer tatsächlichen gedruckten Schal­ tung erhalten werden, verwendet werden. Informationen bezüg­ lich einer Prüfadapterkarte in Übereinstimmung mit dem her­ kömmlichen Verfahren zum Prüfen einer zu prüfenden Platine als dem Gegenstand der Prüfung können ebenfalls als eine Quelle von Informationen genutzt werden, da die Informationen im wesentlichen äquivalent zu den vorstehend beschriebenen Informationen bezüglich der zu prüfenden Elektroden sind.

Ein allgemeines Mittel zum Einlesen der grundlegenden Infor­ mationen ist ein Verfahren, bei dem ein Aufzeichnungsmedium wie beispielsweise eine entfernbare Festplatte oder Wechsel­ platte, eine Diskette, ein magnetooptisches Medium, ein Ma­ gnetband oder eine CD-ROM verwendet wird. Als ein Eingabemit­ tel ist es jedoch ebenfalls möglich, die Informationen mit­ tels einer Kommunikationseinrichtung wie beispielsweise dem Internet, einem Lokalbereichsnetzwerk (LAN) oder einer Perso­ nal Computer-Kommunikation direkt einzulesen. Es kann auch eine manuelle Eingabe durchgeführt werden. Die manuelle Ein­ gabe nimmt jedoch eine lange Zeit für die Eingabe in An­ spruch, und es besteht eine große Wahrscheinlichkeit eines Eingabefehlers. Daher ist die manuelle Eingabe mit Ausnahme in Fällen wie beispielsweise bei einer geringfügigen Korrek­ tur bei einer Entwurfsänderung nachteilig.

(2) Schritt zum Erzeugen von Informationen bezüglich Prüf­ elektroden der ersten Prüfadapterkarte

Dieser Schritt ist ein Schritt zum Ausbilden einiger zu prü­ fender Elektroden in eine Gruppe auf der Grundlage der durch den Schritt (1) zugeführten geometrischen Informationen und Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung der zu prüfenden Elektroden, und Erhalten von Informationen bezüg­ lich einer gemeinsamen Prüfelektrode entsprechend dieser Gruppe.

Dieser Schritt ist in 2 Stufen einer Gruppierungsverarbeitung zum. Ausbilden einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden und einer Verarbeitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode unterteilt.

(2-1) Gruppierungsverarbeitung

Die zu prüfenden Elektroden werden in Gruppen unterteilt der­ art, daß die Leistungsfähigkeit (Kapazität) einer Prüfvor­ richtung für eine gedruckte Schaltung oder eines Prüfgeräts, das tatsächlich bei der Prüfung einer zu prüfenden gedruckten Schaltung verwendet wird, und die Kapazität von Verdrahtungen auf der Prüfadapterkarte sowie die Kapazität von Verdrahtun­ gen auf der zu prüfenden Platine effizient genutzt werden, um eine hohe Prüfeffizienz zu erreichen. Im einzelnen wird die Gruppierung in Übereinstimmung mit der folgenden Prozedur un­ ter den folgenden Bedingungen durchgeführt.

• 1. [a] Bedingungen für zu prüfende Elektroden, um zu derselben Gruppe zu gehören:
  In Bezug auf alle oder Teile von zu prüfenden Elektroden wer­ den mehrere zu prüfende Elektroden, welche zu derselben Grup­ pe gehören sollten, hauptsächlich auf der Grundlage von geo­ metrischen Informationen, wie beispielsweise den Größen, den relativen Positionen und den Formen tatsächlicher Elektroden, und Abständen zwischen benachbarten Elektroden ausgewählt.
  Im einzelnen wird zumindest ein aus den folgenden Punkten [a-1) bis [a-5] von Bedingungen ausgewählter Punkt angewandt, und werden mehrere zu prüfende Elektroden entsprechend diesem Punkt als diejenigen ausgewählt, die zu derselben Gruppe ge­ hören. Der in jedem Punkt angegebene Zahlenwert ist ein Bei­ spiel eines Schwellenwerts und kein absoluter Wert oder be­ schränkter Wert. Wenn mehrere Punkte in Kombination angewandt werden, können bedarfsweise Gewichtungen bei einzelnen Punk­ ten durchgeführt werden, wodurch stärker bevorzugte Ergebnis­ se erhalten werden können.
  • 1. [a-1] Seiend Elektroden, deren Mittenabstand zwischen sich kurz ist (beispielsweise 1,000 µm oder kürzer);
  • 2. [a-2] seiend Elektroden, deren Abstand von einer benachbarten Elektrode kurz ist (beispielsweise 500 µm oder kürzer);
  • 3. [a-3] seiend Elektroden, die mit einer hohen Dichte in einem schmalen Bereich positioniert sind (beispielsweise 30 Elek­ troden/cm² oder höher);
  • 4. [a-4] seiend Elektroden, die einer bestimmten Anordnung fol­ gen, beispielsweise Elektroden, die in Form eines Gitters entsprechend einer integrierten Schaltung angeordnet sind; und
  • 5. [a-5] seiend Elektroden, die zusätzlich besonders geeignet sind, gruppiert zu werden.
• 2. Bedingungen für zu prüfende Elektroden, um aus derselben Gruppe ausgeschlossen zu werden:
  In Bezug auf alle oder Teile von zu prüfenden Elektroden wer­ den zu prüfende Elektroden, die aus derselben Gruppe ausge­ schlossen werden sollten, hauptsächlich auf der Grundlage von Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung ausge­ wählt, so daß eine elektrisch unabhängige Prüfung durchführ­ bar ist.
  Alle der folgenden Punkte von Bedingungen werden allgemein angewandt, und zu prüfende Elektroden entsprechend diesen Punkten werden ausgeschlossen. Die entsprechenden Punkte dür­ fen jedoch in manchen Fällen nicht angewandt werden, bei­ spielsweise in dem Fall, in dem ersichtlich ist, daß bei der Herstellung kein Aderbruch aufgetreten ist.
  • 1. [b-1] Seiend eine Elektrode unter in demselben Verdrahtungs­ netzwerk enthaltenen Elektroden;
  • 2. [b-2] seiend Elektroden, die durch eine andere Gruppe zu ver­ binden sind; und
  • 3. [b-3] seiend Elektroden, die besonders ungeeignet sind, grup­ piert zu werden.

(C) Andere Bedingungen

Die folgenden Bedingungen können hinzugefügt werden, obwohl sie keine wesentlichen Bedingungen in Beziehung zu der Grup­ pierungsverarbeitung sind. Durch diese Bedingungen kann die Gruppierungsverarbeitung schnell und akkurat ausgeführt wer­ den, und können die Ausführung der Prüfung und die Analyse von. Prüfergebnissen einfacher durchgeführt werden. Diese Punkte von Bedingungen werden entweder einzeln oder in einer beliebigen Kombination derselben angewandt. Wenn die Punkte in Kombination angewandt werden, können Gewichtungen bei ein­ zelnen Punkten durchgeführt werden, wodurch stärker bevorzug­ te Ergebnisse erhalten werden können. Diese Punkte dürfen an­ ders als die vorstehenden Punkte [a] und [b] in manchen Fäl­ len überhaupt nicht angewandt werden.

Beispiele dieser Beschränkungen umfassen eine Beschränkung durch Festlegen entweder der oberen Grenze oder der unteren Grenze oder beider Grenzen, und eine Beschränkung durch Fest­ legen einer bestimmten Toleranz oder eines verbotenen Be­ reichs. Diese Beschränkungen dürfen in Kombination festgelegt werden. Die einzelnen Beschränkungen können in manchen Fällen tatsächlich als direkte oder indirekte Beschränkungen in Form einer Zahl, wie beispielsweise der Gesamtzahl von zu prüfen­ den Elektroden, einer Fläche, wie beispielsweise dem Verhält­ nis der Gesamtfläche von zu prüfenden Elektroden zu der Ge­ samtfläche der zu prüfenden gedruckten Schaltung, der Anord­ nungsdichte von Elektroden, etc. bereitgestellt werden.

• 1. [c-1] Eine Beschränkung wird der Gesamtzahl von zu einer Gruppe gehörenden Elektroden auferlegt.
• 2. [c-2] Eine Beschränkung wird der Gesamtzahl von auf der ge­ samten zu prüfenden Platine gruppierten Elektroden auferlegt.
• 3. [c-3] Eine Beschränkung wird der von einer Gruppe belegten Fläche auferlegt.
• 4. [c-4] Eine Beschränkung wird der erzeugten Zahl von Gruppen auferlegt.
• 5. [c-5] Eine Beschränkung wird einer Entfernung zwischen er­ zeugten Gruppen und/oder der Größe des Abstands bzw. der In­ tervallgröße auferlegt.
• 6. [c-6] Eine Beschränkung wird einer Entfernung zwischen Ele­ menten, die aus erzeugten Gruppen bestehen, und zu prüfenden Elektroden, die zu keiner Gruppe gehören, und der Größe des Abstands auferlegt.
• 7. [c-7] Eine Beschränkung wird der Gesamtzahl von Elektroden, die gruppiert werden, um ein Verdrahtungsnetzwerk zu erzeu­ gen, auferlegt.
• 8. [c-8] Eine Beschränkung wird den zu einer Gruppe gehörenden Elektroden auferlegt derart, daß die Figur des Bereichs der auszubildenden gemeinsamen Prüfelektrode leicht verarbeitbar werden kann.

Die Prozedur zum Anwenden der vorstehenden Punkte an zu prü­ fende Elektroden auf einer zu prüfenden Platine zum Ausbilden von Gruppen kann aus den folgenden drei Verfahren anhand der Reihenfolge der Anwendung ausgewählt werden:

Prozedur (1)

Die zu [a] gehörenden Punkte und die zu [b] gehörenden Punkte werden gleichzeitig auf alle Elektroden auf einer nachfolgend zu prüfenden Platine angewandt, um die Gruppierung und den Ausschluß gleichzeitig durchzuführen.

Prozedur (2)

Die zu [a] gehörenden Punkte werden zunächst auf alle Elek­ troden auf einer zu prüfenden Platine angewandt, um vorläufi­ ge Gruppen auszubilden, und Elektroden entsprechend den Punk­ ten [b] werden dann ausgeschlossen, wodurch endgültige Grup­ pen ausgebildet werden.

Prozedur (3)

Die zu [b] gehörenden Punkte werden zunächst auf alle Elek­ troden auf einer zu prüfenden Platine angewandt, um Elektro­ den auszuschließen, die ungeeignet sind, gruppiert zu werden, und die zu [a] gehörenden Punkte werden dann angewandt, um Gruppen auszubilden.

Bei der praktischen Verarbeitung ist die Prozedur (1) einfach und kann Standardergebnisse bezüglich sowohl der Zahl gemein­ samer Prüfelektroden entsprechend ausgebildeter Gruppen von zu prüfenden Elektroden als auch der Geschwindigkeit der Gruppierungsverarbeitung bereitstellen.

Gemäß der Prozedur (2) wird die Qualität auszubildender ge­ meinsamer Prüfelektroden verglichen mit dem Fall der Prozedur (1) verbessert. Die Prozedur erfordert jedoch einen großen Arbeitsbereich in einem Verarbeitungssystem.

Gemäß der Prozedur (3) wird die Geschwindigkeit der Gruppie­ rungsverarbeitung hoch. Jedoch besteht eine Möglichkeit da­ hingehend, daß Elektroden entsprechend den zu [b] gehörenden Punkten durch Gruppieren neu erzeugt werden können, wenn die Anordnung der zu prüfenden Elektroden kompliziert ist. Es wird daher bevorzugt, eine erneute Überprüfung durchzuführen.

Aufgrund der vorstehenden Tatsache wird bevorzugt, daß die Prozedur (2) ausgewählt wird, wenn ein Adapterkarten-Ent­ wurfssystem eine ausreichende Verarbeitungsgeschwindigkeit und einen ausreichenden Arbeitsbereich für die Komplexität und den Maßstab einer zu prüfenden Platine aufweist, und daß in anderen Fällen als diesem die Prozedur (1) oder (3) ausge­ wählt wird.

Ferner können als Verfahren zum Ausschließen von Elektroden entsprechend den zu [b] gehörenden Punkten die folgenden bei­ den Verfahren gewählt werden.

Ausschlußverfahren (1)

Ein. Verfahren, bei dem Elektroden einfach aus der entspre­ chenden vorläufigen Gruppe oder einem Kandidaten für die Gruppierung ausgeschlossen werden.

Ausschlußverfahren (2)

Ein Verfahren, bei dem eine vorläufige Gruppe in mehrere Gruppen unterteilt wird.

Bei dieser Ausschlußverarbeitung von Elektroden kann in man­ chen Fällen Raum zur Auswahl von auszuschließenden Elektroden und des Ausschlußverfahrens bestehen. In einem solchen Fall können tatsächlich auszuschließende Elektroden und das Aus­ schlußverfahren unter Bezugnahme auf geometrische Informatio­ nen, wie beispielsweise die Größen, die Formen, die relative positionelle Beziehung der Elektroden, die Abstände zwischen benachbarten Elektroden, und sofern einer bestimmten Anord­ nung gefolgt wird, der Regelmäßigkeit der Anordnung, zusätz­ lich zu den Informationen bezüglich der elektrischen Verbin­ dung der Elektroden, ermittelt werden.

In der vorstehenden Beschreibung wurde der Fall, in dem die zu prüfenden Elektroden auf der zu prüfenden Platine alle ge­ meinsam verarbeitet werden, aus Gründen des leichteren Ver­ ständnisses beschrieben. Es kann jedoch ein Verfahren verwen­ det werden, bei dem eine Fläche bzw. ein Bereich einer zu prüfenden Platine in mehrere Abschnitte unterteilt wird, und Elektroden innerhalb jedes Bereichs aufeinanderfolgend der Gruppierungsverarbeitung wie vorstehend beschrieben unterzo­ gen werden. Das Verfahren zum abschnittsweisen Ausführen der Verarbeitung hat einen Vorteil dahingehend, daß von der In­ formationsverarbeitungsvorrichtung und dem Verarbeitungssy­ stem benötigte Arbeitsbereiche schmal bzw. klein sein können. Jedoch wird eine Gruppe natürlich an einer Grenze zwischen Abschnitten geteilt. Es ist daher notwendig, dies zu berück­ sichtigen.

In Bezug auf die zu [c] gehörenden Punkte ist es notwendig, den Punkt zu einem geeigneten Zeitpunkt in Übereinstimmung mit der Beschränkung anzuwenden.

Bei der vorstehend beschriebenen Gruppierungsverarbeitung be­ steht eine Möglichkeit dahingehend, daß ein für die Verarbei­ tung ausgewählter Punkt oder eine für die Verarbeitung ausge­ wählte Prozedur für eine zu prüfende Platine nicht geeignet ist, so daß die Verarbeitung nicht abgeschlossen werden kann oder keine erwarteten bzw. nicht erwartete Ergebnisse auch dann, wenn die Verarbeitung abgeschlossen worden ist, erhal­ ten werden. In einem solchen Fall kann deren Schwellenwert geändert werden, oder kann die Kombination von Punkten geän­ dert werden, und wird die Verarbeitung dann erneut durchge­ führt, wodurch die beabsichtigten Ergebnisse erhalten werden können.

(2-2) Verarbeitung zu Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode

Diese Verarbeitung ist eine Verarbeitung, bei der zu prüfende Elektroden, die zu derselben Gruppe gehören, welche durch die vorstehende Gruppierungsverarbeitung festgelegt wurde, "on the date" elektrisch miteinander verbunden werden, um eine virtuelle gemeinsame Elektrode auszubilden. Durch Ausführen dieser Verarbeitung können direkte Informationen bezüglich gemeinsamer Prüfelektroden der beabsichtigten Prüfadapterkar­ te, d. h. die geometrischen Informationen und Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung derselben, erhalten werden.

Mittel, die in der Verarbeitung zum Ausbilden einer gemeinsa­ men Elektrode verwendbar sind, sind grob in die folgenden drei Verfahren unterteilt.

• 1. [a] Einfach elektrisch verbindendes Mittel:
  Bei diesem Mittel wird ein Vorgang durchgeführt, bei dem Elektroden, die zu einer Gruppe gehören, durch eine Leitung mit einer Breite in einer Darstellung einer vorbestimmten Prüfadapterkarte, bei der beispielsweise zu prüfende Elektro­ den überlappend dargestellt sind, tatsächlich verbunden wer­ den.
• 2. [b] Mittel, bei dem angenommen wird, daß frei wählbare Berei­ che jeweils entsprechend zu Elektroden, die zu einer Gruppe gehören, ihre Überlappungen nutzen:
  Bestimmte Mittel derselben sind wie folgt.
  • 1. [b-1] Eine Einrichtung, durch welche ein Kreis mit einem ge­ eigneten Radius mit einem bestimmten Punkt innerhalb des Be­ reichs jeder von zu einer Gruppe gehörenden Elektroden als Mittelpunkt gezogen wird, um einen Zustand dahingehend zu finden, daß ein Kreis in Übereinstimmung mit einer Elektrode einen zu irgendeiner anderen Elektrode in Beziehung stehenden Kreis überlappt, wobei ein Bereich innerhalb dessen Randver­ lauf als ein Bereich für die Ausbildung einer gemeinsamen Elektrode betrachtet wird; und
  • 2. [b-2] eine Einrichtung, durch welche jede von zu einer Gruppe gehörenden Elektroden unter Beibehaltung der ähnlichen Figur ihres Umrisses vergrößert wird, wodurch ein Zustand gefunden wird dahingehend, daß ein zu einer vergrößerten Elektrode in Beziehung stehender Bereich einen anderen, zu einer anderen Elektrode in Beziehung stehenden Bereich überlappt, wobei ein Bereich innerhalb ihres Randverlaufs als ein Bereich für die Ausbildung einer gemeinsamen Elektrode betrachtet wird.
• 3. [c] Eine Einrichtung, durch welche ein polygonförmiger Be­ reich zur Ausbildung einer gemeinsamen Elektrode, in dem alle zu einer Gruppe gehörenden Elektroden enthalten sind, gefun­ den wird:
  Bestimmte Mittel derselben sind wie folgt.
  • 1. [c-1] Eine Einrichtung, durch welche ein Bereich eines Rechtecks, Kreises oder einer beliebigen anderen Form, der sämtliche zu einer Gruppe gehörenden Elektroden umgibt, vor­ eingestellt wird, wobei dieser Bereich als ein Bereich zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode betrachtet wird;
  • 2. [c-2] eine Einrichtung, durch welche Polygone, die je­ weils durch zu einer Gruppe gehörende Elektroden voreinge­ stellt werden, um einen Vorgang dahingehend durchzuführen, daß in jedem Paar von optionalen Polygonen alle Leitungen bzw. Linien, die jeweils eine von Spitzen eines Polygons und eine von Spitzen des anderen Polygons verbinden, um das Paar von Polygonen aufgelistet werden, wobei diese Auflistung um jedes Paar von Polygonen wiederholt wird derart, daß jede Li­ nie aufgelistet wird, die jedes Paar von Spitzen jedes Paars von Polygonen verbindet, Linien, die einander kreuzen, aus einer Gruppe aller der auf diese Art und Weise erhaltenen Li­ nien ausgeschlossen werden, und ein Bereich, der von einem Polygon umgeben wird, welches durch eine Gruppe verbleibender Linien gebildet wird, als ein Bereich zur Ausbildung einer gemeinsamen Elektrode betrachtet wird; und
  • 3. [c-3] eine Einrichtung, durch welche Polygone, die je­ weils mit zu einer Gruppe gehörenden Elektroden umschrieben sind, voreingestellt werden, und ein Bereich, der von einem Polygon umgeben ist, das durch Betrachten eines Punkts einer Spitze, die sich entlang einer X-Achse oder einer Y-Achse un­ ter Spitzen der voreingestellten Polygone am weitesten ent­ fernt befindet, als einen Anfangspunkt zum aufeinanderfolgen­ den Verbinden von Spitzen, die sich am weitesten außerhalb von Spitzen innerhalb eines bestimmten Abstandsbereichs be­ finden, durch eine gerade Linie entgegen dem Uhrzeigersinn oder im Uhrzeigersinn, als ein Bereich zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode betrachtet wird.

Jedes dieser Verfahren kann auf seine eigene bzw. geeignete Art und Weise in Übereinstimmung mit den Bedingungen indivi­ dueller Gruppen verwendet werden. Es ist daher nicht notwen­ dig, ein bestimmtes Mittel einheitlich auf eine zu prüfende Platine anzuwenden. Tatsächlich kann in manchen Fällen ein nicht notwendiger Teil in dem resultierenden Bereich zur Aus­ bildung einer gemeinsamen Elektrode enthalten sein. In diesem Fall kann der nicht notwendige Teil gelöscht werden.

In einem beliebigen der Verfahren besteht in der Praxis eine Möglichkeit dahingehend, daß eine Elektrode in einem aus dem erzeugten Bereich zur Ausbildung einer gemeinsamen Elektrode ausgeschlossenen Zustand vorhanden ist, obwohl die Elektrode zu der betroffenen Gruppe gehören sollte, oder demgegenüber eine Elektrode in Kontakt mit oder überlappend mit dem er­ zeugten Bereich zur Ausbildung einer gemeinsamen Elektrode vorhanden ist, obwohl die Elektrode zu einer anderen als der betroffenen Gruppe gehören sollte. Es ist daher notwendig, eine Tatsache dahingehend zu überprüfen, daß ein solcher Nachteil nicht verursacht wird. Infolgedessen ist es wün­ schenswert, ein System zu verwenden, bei dem die Bedingungen und Verfahren änderbar sind, um die Verarbeitung erneut aus­ zuführen, falls der vorstehende Nachteil verursacht wird.

(3) Schritt zum Erzeugen von Informationen bezüglich Prüf­ elektroden der zweiten Prüfadapterkarte

Dieser Schritt ist ein Schritt zum Erzeugen von, basierend auf den durch den Schritt (1) zugeführten geometrischen In­ formationen und den Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung der zu prüfenden Elektroden, Informationen zum Herstellen der zweiten bei der Prüfung bezüglich der Isolati­ onseigenschaften zwischen Verdrahtungsnetzwerken auf der zu prüfenden Platine verwendeten Prüfadapterkarte.

Dieser Schritt ist in 2 Stufen einer Auswahlverarbeitung von zu prüfenden repräsentativen Elektroden, bei der zu prüfende repräsentative Elektroden zum jeweiligen Anlegen einer be­ stimmten Spannung an zu prüfende Verdrahtungsnetzwerke oder zum Erfassen des Fließens elektrischen Stroms ausgewählt wer­ den, und einer Auswahlverarbeitung von zu prüfenden Überwa­ chungselektroden, bei der zu prüfende Überwachungselektroden zum Überprüfen der Tatsache, daß die zu prüfenden repräsenta­ tiven Elektroden exakt elektrisch mit repräsentativen Prüf­ elektroden verbunden werden, wenn sie in Kontakt mit der Prüfadapterkarte gebracht werden, ausgewählt werden.

(3-1) Auswahlverarbeitung von zu prüfenden repräsentativen Elektroden

Die zu prüfenden Elektroden sind Elektroden zum jeweiligen Anlegen einer Prüfspannung an Verdrahtungsnetzwerke auf einer zu prüfenden Platine als dem Gegenstand der Prüfung, und eine Elektrode wird in jedem Verdrahtungsnetzwerk ausgewählt. Die zu prüfende repräsentative Elektrode kann als eine Sonden­ elektrode zum Erfassen eines Kurzschlusses zwischen dem Ver­ drahtungsnetzwerk und irgendeinem anderen Verdrahtungsnetz­ werk genutzt werden.

Zu prüfende Elektroden, die die folgenden Bedingungen erfül­ len, werden als die repräsentativen zu prüfenden Elektroden ausgewählt.

Bedingung 1

Seiend eine Elektrode mit einer Größe, die einen mechanischen, Kontakt gewährleistet, der ausreicht, um eine stabile elek­ trische Verbindung mit einer Prüfelektrode zu erzielen. Dem­ gemäß wird eine Elektrode mit der größten Fläche in jedem Verdrahtungsnetzwerk allgemein als eine repräsentative zu prüfende Elektrode ausgewählt.

Bedingung 2

Seiend eine Elektrode mit der Form eines Quadrats, eines Kreises oder dergleichen, damit sie leicht den Kontakt mit einer Prüfelektrode erzielen kann.

Bedingung 3

Seiend eine Elektrode, die in einem Bereich mit geringer Elektrodendichte vorhanden ist.

(3-2) Auswahlverarbeitung zum Überwachen von zu prüfenden Elektroden

Jede der Überwachungselektroden wird aus zu prüfenden Elek­ troden in einem Zustand elektrischer Leitung zu einer belie­ bigen der repräsentativen zu prüfenden Elektroden wie vorste­ hend ausgewählt.

Eine Überwachungs-Prüfelektrode, die auf der Prüfadapterkarte entsprechend zu dieser zu prüfenden Überwachungselektrode ausgebildet ist, und eine repräsentative Prüfelektrode, die auf der Prüfadapterkarte entsprechend zu der repräsentativen zu prüfenden Elektrode ausgebildet ist, können dazu verwendet werden, die elektrische Leitung zwischen der zu prüfenden Überwachungselektrode und der zu prüfenden repräsentativen Elektrode zu überprüfen, wodurch der Zustand dahingehend, daß sich die repräsentative Prüfelektrode in exaktem Kontakt mit der repräsentativen zu prüfenden Elektrode befindet, über­ prüft wird, so daß eine Spannung, die für das Verdrahtungs­ netzwerk notwendig ist, angelegt wird.

Um die elektrische Verbindung mit der repräsentativen Prüf­ elektrode zu überprüfen, ist es ideal, eine zu prüfende Über­ wachungselektrode pro jedem Verdrahtungsnetzwerk auszuwählen. Jedoch genügen einige bis einige zehn Elektroden für die ge­ samte zu prüfende Platine aus der Sicht der praktischen An­ wendung.

Es wird bevorzugt, daß die Auswahl der zu prüfenden Überwa­ chungselektroden die folgenden Bedingungen erfüllen.

Bedingung 1

Eine zu prüfende Überwachungselektrode muß eine Elektrode sein, die kleiner ist als sämtliche der in Beziehung stehen­ den repräsentativen zu prüfenden Elektroden.

Bedingung 2

Eine zu prüfende Überwachungselektrode muß eine Elektrode sein mit der Form eines Quadrats, eines Kreises oder derglei­ chen, damit sie leicht den Kontakt mit einer Überwachungs- Prüfelektrode erzielen kann.

Bedingung 3

Einige von mehreren zu prüfenden Elektroden müssen allgemein an 4 Ecken einer zu prüfenden Platine oder in zu diesen nahe­ liegenden Bereichen vorhanden sein.

Bedingung 4

Zu prüfende Überwachungselektroden müssen über eine zu prü­ fende Platine verteilt sein.

Durch Auswählen zu prüfender Überwachungselektroden, die die vorstehenden Bedingungen erfüllen, wird aus der Sicht einer praktischen Verwendung durch Überprüfen der elektrischen Ver­ bindung zwischen den zu prüfenden Überwachungselektroden und Überwachungs-Prüfelektroden auf der Prüfadapterkarte die Tat­ sache, daß sich die repräsentativen Prüfelektroden auf der Prüfadapterkarte in einem Zustand befinden, der exakt elek­ trisch mit den repräsentativen zu prüfenden Elektroden, die über die gesamte Fläche der zu prüfenden Platine verteilt sind, verbunden ist, mit zufriedenstellender Genauigkeit ge­ währleistet.

(4) Schritt zum Ausgeben der erzeugten Informationen

Dieser Schritt ist ein Schritt zum Ausgeben der in dem Infor­ mationserzeugungsschritt nach (2) erhaltenen Informationen als Informationen zum Entwerfen der ersten Prüfadapterkarte, und Ausgeben der in dem Informationserzeugungsschritt nach (3) erhaltenen Informationen als Informationen zum Entwerfen der zweiten Prüfadapterkarte.

Bei dem Entwurf der ersten Prüfadapterkarte wird eine einzel­ ne virtuelle gemeinsame Elektrode spezifisch durch die Verar­ beitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode und Her­ stellen einer tatsächlichen gemeinsamen Prüfelektrode ent­ sprechend einem durch die virtuelle gemeinsame Elektrode be­ legten Bereich, d. h. einem Bereich zur Ausbildung einer ge­ meinsamen Elektrode, angenommen. Demgemäß werden dann, wenn die geometrischen Informationen und Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung der gemeinsamen Elektroden, die durch die vorstehend beschriebene Verarbeitung erzeugt worden sind, a 13638 00070 552 001000280000000200012000285911352700040 0002019928612 00004 13519usgegeben werden, geometrische Informationen zum tat­ sächlichen Festlegen von Bedingungen, wie beispielsweise den Positionen, Formen und Größen gemeinsamer Prüfelektroden, die in der ersten Prüfadapterkarte auszubilden sind, und spezifi­ sche Informationen zum Erzeugen eines elektrisch verbundenen Zustands, der in den gemeinsamen Prüfelektroden zu erzielen ist, bereitgestellt.

Nebenbei bemerkt sind in dem normalen Fall außer den gemein­ samen Prüfelektroden ebenfalls nicht gemeinsame Prüfelektro­ den, die individuell zu prüfenden Elektroden entsprechen, auf der Prüfadapterkarte vorhanden. In diesem Fall beinhalten die Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung natürlich diejenigen bezüglich diesen nicht gemeinsamen Prüfelektroden.

Es wird bevorzugt, zusätzliche Informationen auszugeben, die die Zugehörigkeitsbeziehung zwischen den auszubildenden ge­ meinsamen Prüfelektroden und ihren entsprechenden zu prüfen­ den Elektroden zusammen mit den vorstehend beschriebenen In­ formationen angeben. Stärker bevorzugt wird es, Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung zwischen zu prüfenden Elektroden auszugeben, die in Übereinstimmung mit den auszu­ bildenden gemeinsamen Prüfelektroden in den Zustand elektri­ scher Leitung oder Isolation gebracht werden. Die Ausgabe derartiger zusätzlicher Informationen hat beispielsweise den Vorteil, daß für die Prüfung in einer Platinenprüfvorrichtung verwendete Daten aus solchen Informationen erzeugt werden können.

Bei dem Entwurf der zweiten Prüfadapterkarte werden dann, wenn die geometrischen Informationen und die Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung der ausgewählten reprä­ sentativen zu prüfenden Elektroden ausgegeben werden, geome­ trische Informationen zum eigentlichen Ermitteln von Bedin­ gungen, wie beispielsweise die Positionen, die Formen und die Größen repräsentativer Prüfelektroden und Überwachungs-Prüf­ elektroden, die bei der zweiten Prüfadapterkarte auszubilden sind, und bestimmte Informationen zum Erzeugen eines bei den repräsentativen Prüfelektroden und den Überwachungs-Prüfelek­ troden zu erzielenden elektrisch verbundenen Zustands bereit­ gestellt. Demgemäß können solche Informationen genutzt wer­ den, um die zweite Prüfadapterkarte für die Isolationsprüfung für die beabsichtigte zu prüfende Platine genutzt werden.

Die Informationen in den vorstehend beschriebenen jeweiligen Schritten müssen nicht immer in einer Datei zusammengeführt sein, sondern können in Übereinstimmung mit der Natur und dem Grad der Wichtigkeit der Informationen sowie nachfolgender Schritte in mehrere Dateien aufgeteilt sein.

Als ein Mittel zum Ausgeben der Informationen kann ein be­ schreibbares Aufzeichnungsmedium wie beispielsweise eine ent­ fernbare Festplatte, eine Diskette, ein magnetooptisches Me­ dium (MO), ein Magnetband oder eine CD-ROM verwendet werden. Außerdem ist es ebenfalls möglich, die Informationen mittels einer Kommunikationseinrichtung wie beispielsweise dem Inter­ net, einem LAN oder einer Personal Computer-Kommunikation di­ rekt in einen Computer auszugeben, der einen nachfolgenden Prozeß steuert. Die notwendigen Informationen können auf ei­ ner Anzeige angezeigt werden, damit ein Bediener den Fort­ schritt und die Ergebnisse der Verarbeitung bestätigen kann.

Bei der vorstehenden Verarbeitung ist es dann, wenn Identifi­ kationsmarken zum individuellen Identifizieren der zu prüfen­ den Elektroden, zu prüfender Gruppen von Elektroden, zu prü­ fender repräsentativer Elektroden und zu prüfender Überwa­ chungselektroden auf der zu prüfenden Platine vorab hinzuge­ fügt werden, möglich, diese bei der Ausgabe oder der Eingabe mittels der Identifikationsmarken zu identifizieren oder an­ zugeben. In diesem Fall können als die Identifikationsmarken Zahlen, Symbole nach Buchstaben und/oder dergleichen, indivi­ duelle Bezeichnungen und andere Codes oder Zeichen verwendet werden.

Mittels der Verarbeitung durch die jeweiligen Schritte (1) bis (4) können die Informationen, die zum tatsächlichen Her­ stellen der ersten Prüfadapterkarte und der zweiten Prüfadap­ terkarte notwendig sind, insbesondere bestimmte und direkte Informationen bezüglich der gemeinsamen Prüfelektroden der repräsentativen Prüfelektroden und der Überwachungs-Prüfelek­ troden, die auszubilden sind, d. h. die geometrischen Infor­ mationen und Informationen bezüglich der elektrischen Verbin­ dung derselben, in einer extrem kurzen Zeitdauer erzeugt wer­ den. Einige Minuten bis hin zu mehreren zehn Minuten genügen für die tatsächlich erforderliche Zeit.

Die Kombinationen von Bedingungen und Schwellenwerten, die in individuellen Stufen der Verarbeitung in jedem der vorstehend beschriebenen Schritte verwendet werden, müssen vorab in eine Informationsverarbeitungsvorrichtung oder in ein Verarbei­ tungssystem eingebaut werden. In dem Fall jedoch, in dem eine Änderung der Einstellung bedarfsweise erlaubt ist, ist es möglich, eine Ausnahmeverarbeitung durchzuführen, welche da­ hingehend vorteilhaft ist, daß der Bereich von zu prüfenden Platinen als der Gegenstand der Prüfung breiter wird.

Es ist allgemein notwendig, die erste Prüfadapterkarte und die zweite Prüfadapterkarte wie festgelegt herzustellen. Dem­ gemäß werden bevorzugt die Informationsverarbeitungsvorrich­ tung oder das Verarbeitungssystem derart voreingestellt, daß die gesamte Verarbeitung in Übereinstimmung mit sämtlichen der vorstehend beschriebenen Schritte automatisch ausgeführt wird. In manchen Fällen können jedoch zu prüfende Platinen entweder der Leitungsprüfung oder der Isolationsprüfung un­ terzogen werden. Für einen solchen Fall ist es möglich, das Verarbeitungssystem derart voreinzustellen, daß es mit dem Entwurf allein einer beliebigen der ersten Prüfadapterkarte und der zweiten Prüfadapterkarte zurechtkommt.

Ferner ist es in jedem der vorstehenden Schritte ebenfalls möglich, die Informationsverarbeitung derart auszuführen, daß mehrere Ergebnisse in Übereinstimmung mit unterschiedlichen Voreinstellzuständen ausgeführt werden. In diesem Fall werden die Einzelheiten jeweiliger Entwürfe miteinander verglichen, um den für die Anwendung optimalen Entwurf auszuwählen, wo­ durch eine Prüfadapterkarte mit hoher Zuverlässigkeit erhal­ ten wird.

Die erste Prüfadapterkarte und die zweite Prüfadapterkarte werden in Übereinstimmung mit den Einzelheiten des Entwurfs auf der Grundlage der auf die vorstehende Art und Weise er­ zeugten Informationen produziert. Als eine bestimmte Her­ stelleinrichtung können die aus dem Stand der Technik bekann­ ten Einrichtungen verwendet werden.

Die auf diese Art und Weise hergestellte erste Prüfadapter­ karte und zweite Prüfadapterkarte werden dazu verwendet, eine Leitungsprüfung bzw. eine Isolationsprüfung für die zu prü­ fende Platine, von der die grundlegenden Informationen erhal­ ten wurden, durchzuführen.

Aufgrund der Tatsache bei der Leitungsprüfung dahingehend, daß die erste Prüfadapterkarte die gemeinsamen Prüfelektroden aufweist, und der Tatsache bei der Isolationsprüfung dahinge­ hend, daß die zweite Prüfadapterkarte die repräsentativen zu prüfenden Prüfelektroden und Überwachungselektroden aufweist, können die jeweiligen bereits festgestellten herausragenden Wirkungen erreicht werden.

Das elektrische Leistungsvermögen der zu prüfenden Platine kann mit ausreichend hoher Zuverlässigkeit durch Durchführen sowohl der Leitungsprüfung als auch der Isolationsprüfung überprüft werden.

In Übereinstimmung mit dem erfindungsgemäßen Verfahren und der erfindungsgemäßen Vorrichtung kann die notwendige Verar­ beitung in mehreren Minuten bis hin zu einigen zehn Minuten ausgeführt werden, obwohl dies in Übereinstimmung mit dem Maßstab einer zu prüfenden Platine und der konstruktionellen Komplexität von Verdrahtungsnetzwerken variiert. Darüber hin­ aus können die Ergebnisse hieraus so wie sie sind an einen nachfolgenden Prozeß übergeben werden, so daß in großem Um­ fang eine Verkürzung der benötigten Zeit und eine Ersparnis von Problemen bei dem Entwurf und der Herstellung der Prüfadapterkarten erreicht werden kann.

Ein Bediener, der tatsächlich Teil an der Informationsverar­ beitung hat, führt hauptsächlich nur die Arbeit des Zuführens der Informationen bezüglich der vorgegebenen, zu prüfenden Platine zu einem Verarbeitungssystem einer Informationsverar­ beitungsvorrichtung, wie beispielsweise einem Personal Compu­ ter, und die Arbeit des Lieferns der Ergebnisse der Informa­ tionsverarbeitung an einen nachfolgenden Prozeß so wie sie sind, durch. Es besteht daher keine Notwendigkeit, das cha­ rakteristische Prinzip und Ziel des Prozesses für diese Ar­ beiten zu verstehen, und nur das Verständnis des grundlegen­ den Wegs der Bedienung der Informationsverarbeitungsvorrich­ tung genügt für die Arbeiten. Daher braucht der Bediener kein Experte oder Fachmann zu sein, so daß eine beliebige Person die Verarbeitung ohne weiteres ausführen kann.

In Übereinstimmung mit der Erfindung werden die geometrischen Informationen und die Informationen bezüglich der elektri­ schen Verbindung von zu prüfenden Elektroden auf einer zu prüfenden Platine in eine Informationsverarbeitungsvorrich­ tung, beispielsweise einen Personal Computer, eingelesen, werden die Gruppierungsverarbeitung der zu prüfenden Elektro­ den und die Verarbeitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode auf der Grundlage dieser Informationen ausgeführt, und werden spezifische Informationen bezüglich der auf einer Prüfadapterkarte auszubildenden gemeinsamen Prüfelektroden auf der Grundlage der resultierenden Informationen erzeugt. Die für die Verarbeitung solcher Informationen notwendigen Bedingungen werden in der Informationsverarbeitungsvorrich­ tung oder in dem Verarbeitungssystem voreingestellt, oder als auszuwählende Bedingungen voreingestellt, wodurch die geome­ trischen Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung gemeinsamer Prüfelektroden, die in der beabsichtigten Prüf­ adapterkarte für die Leitungsprüfung auszubilden sind, in ei­ ner extrem kurzen Zeitdauer und leicht erzeugt werden können.

Außerdem werden in Übereinstimmung mit der Erfindung die geo­ metrischen Informationen und Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung von zu prüfenden Elektroden auf einer zu prüfenden Platine in die Informationsverarbeitungsvorrich­ tung eingelesen, werden die Auswahlverarbeitung repräsentati­ ver zu prüfender Elektroden und die Auswahlverarbeitung zu prüfender Überwachungselektroden für jedes Verdrahtungsnetz­ werk auf der Grundlage dieser Informationen ausgeführt, und werden spezifische Informationen bezüglich der Bedingungen für repräsentative Prüfelektroden und Überwachungs-Prüfelek­ troden, die auf einer Prüfadapterkarte auszubilden sind, auf der Grundlage der resultierenden Informationen erzeugt. Die Bedingungen, die für die Verarbeitung solcher Informationen notwendig sind, sind in der Informationsverarbeitungsvorrich­ tung oder in dem Informationsverarbeitungssystem voreinge­ stellt, oder als auszuwählende Bedingungen voreingestellt, wodurch die geometrischen Informationen und die Informationen bezüglich der elektrischen Verbindung von repräsentativen Prüfelektroden und Überwachungs-Prüfelektroden, die auf der beabsichtigten Prüfadapterkarte für die Isolationsprüfung auszubilden sind, in einer extrem kurzen Zeitdauer und leicht zu erzeugen sind.

Ferner können in Übereinstimmung mit der Erfindung die beab­ sichtigte Prüfadapterkarte für die Leitungsprüfung mit den gemeinsamen Prüfelektroden und die beabsichtigte Prüfadapter­ karte für die Isolationsprüfung mit den repräsentativen Prüf­ elektroden und den Überwachungs-Prüfelektroden auf der Grund­ lage der auf die vorstehende Art und Weise erzeugten Informa­ tionen extrem einfach und leicht hergestellt werden. Darüber hinaus weisen diese Prüfadapterkarten eine hohe Zuverlässig­ keit auf. Demgemäß können die notwendige Leitungsprüfung und Isolationsprüfung für eine zu prüfende Platine unter Verwen­ dung der Prüfadapterkarten sicher und mit hoher Zuverlässig­ keit durchgeführt werden.

Wie vorstehend beschrieben wurde, stellt die Erfindung eine Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung bereit, die Prüfelektroden in einem Abstand aufweist, der größer ist als der von zu prüfenden Elektroden, die die Durchführung der er­ forderlichen Prüfung für eine gedruckte Schaltung durch ein Prüfgerät mit eine geringen Kapazität erlaubt und die einfach zu entwerfen und herzustellen ist, sowie ein Verfahren zum Prüfen der gedruckten Schaltung durch eine Prüfadapterkarte. Die Erfindung stellt ferner ein Verfahren und eine Vorrich­ tung zum Erzeugen von Information zum Herstellen einer derar­ tigen Prüfadapterkarte bereit. Die Prüfadapterkarte ist mit Prüfelektroden entsprechend den zu prüfenden Elektroden aus­ gerüstet. Zumindest eine der Prüfelektroden ist eine gemein­ same Prüfelektrode, die gemeinsam einer oder mehreren zu prü­ fenden Elektroden entspricht. Die gemeinsame Prüfelektrode ist in einem Zustand ausgebildet derart, daß Verdrahtungs­ netzwerke keinen geschlossenen Kreis bilden. Alternativ ist zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentative Prüfelektrode entsprechend einer zu prüfenden Elektrode in jedem Verdrahtungsnetzwerk ausgebildet.

Claims (13)

1. Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung, die mit Prüfelektroden an Positionen entsprechend den Positionen einer Vielzahl von zu prüfenden Elektroden auf einer zu prü­ fenden gedruckten Schaltung ausgerüstet ist und für die Lei­ tungsprüfung der gedruckten Schaltung verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, daß
zumindest eine der Prüfelektroden eine gemeinsame Prüf­ elektrode ist mit einer Form entsprechend einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden, die aus zumindest zwei zu prüfenden Elektroden besteht, und
die gemeinsame Prüfelektrode in einem Zustand ausgebil­ det ist derart, daß Verdrahtungsnetzwerke, die unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausge­ bildet sind, keinen elektrisch geschlossenen Kreis miteinan­ der über die gemeinsame Prüfelektrode bilden, wenn die ge­ meinsame Prüfelektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der ge­ druckten Schaltung gebracht wird.

2. Prüfadapterkarte nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß eine Vielzahl der Prüfelektroden durch Verdrah­ tungen elektrisch miteinander verbunden sind.

3. Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung, die mit Prüfelektroden ausgerüstet ist und zur Isolationsprüfung einer zu prüfenden gedruckten Schaltung verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentati­ ve Prüfelektrode ausgebildet ist, die mit nur einer zu prü­ fenden Elektrode elektrisch zu verbinden ist, welche zu jedem von zu prüfenden Verdrahtungsnetzwerken gehört, die unabhän­ gig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung an einer Position entsprechend der einen zu prüfenden Elektrode ausgebildet sind.

4. Prüfadapterkarte nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Überwachungsprüfelektrode, die elektrisch mit der repräsentativen Prüfelektrode verbunden ist.

5. Verfahren zum Prüfen einer gedruckten Schaltung, ge­ kennzeichnet durch Verwenden der Prüfadapterkarte nach An­ spruch 1 oder 2 zum Durchführen einer Leitungsprüfung in Be­ zug auf jedes von auf der gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungsnetzwerken, und Verwenden der Prüfadapterkarte nach Anspruch 3 oder 4 zum Durchführen einer Isolationsprü­ fung zwischen den auf der gedruckten Schaltung ausgebildeten Verdrahtungsnetzwerken.

6. Verfahren zum Prüfen von gedruckten Schaltungen, ge­ kennzeichnet durch Bereitstellen einer Prüfadapterkarte zum Durchführen einer Leitungsprüfung in Bezug auf jedes von auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten Ver­ drahtungsnetzwerken, und einer Prüfadapterkarte zum Durchfüh­ ren einer Isolationsprüfung zwischen den Verdrahtungsnetzwer­ ken Seite an Seite, und Plazieren von zu prüfenden gedruckten Schaltungen jeweils auf diesen Adapterkarten zur Leitungsprü­ fung und zur Isolationsprüfung, um eine Leitungsprüfung für eine gedruckte Schaltung und eine Isolationsprüfung für die andere gedruckte Schaltung gleichzeitig durchzuführen.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Adapterkarte für die Leitungsprüfung die Prüfadapter­ karte nach Anspruch 1 oder 2 ist, und daß die Adapterkarte für die Isolationsprüfung die Prüfadapterkarte nach Anspruch 3 oder 4 ist.

8. Verfahren zum Erzeugen von Informationen zum Herstel­ len einer Prüfadapterkarte für gedruckte Schaltungen, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden an Positionen entsprechend den Positionen mehrerer zu prüfender Elektroden auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgerüstet ist, wobei zumin­ dest eine der Prüfelektroden eine gemeinsame Prüfelektrode ist mit einer Form, die einer Gruppe von zu prüfenden Elek­ troden entspricht, welche aus zumindest zwei zu prüfenden Elektroden besteht, und die gemeinsame Prüfelektrode in einem Zustand ausgebildet ist derart, daß Verdrahtungsnetzwerke, die unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildet sind, keinen elektrisch geschlossenen Kreis miteinander über die gemeinsame Prüfelektrode bilden, wenn die gemeinsame Prüfelektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der gedruckten Schaltung gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren das Erzeugen von Informationen in Bezug auf die gemeinsame Prüfelektrode umfaßt durch Ausführen:

• 1. einer Gruppierungsverarbeitung, bei der geometrische Informationen in Bezug auf sämtliche der zu prüfenden Elek­ troden und Informationen in Bezug auf eine elektrische Ver­ bindung zwischen den Elektroden genutzt werden, um zumindest eine Gruppe auszubilden, die aus mehreren zu prüfenden Elek­ troden besteht; und
• 2. einer Verarbeitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode, bei der eine virtuelle gemeinsame Elektrode ent­ sprechend einem Zustand derart, daß sämtliche der zu prüfen­ den Elektroden, die zu einer Gruppe der zu prüfenden Elektro­ den gehören, elektrisch miteinander verbunden wurden, erzeugt wird.

9. Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen, welche eine Informationsverarbeitungseinrichtung ist, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für gedruckte Schaltungen verwendet wird, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden an Po­ sitionen entsprechend den Positionen mehrerer zu prüfender Elektroden auf einer zu prüfenden gedruckten Schaltung ausge­ rüstet ist, wobei zumindest eine der Prüfelektroden eine ge­ meinsame Prüfelektrode ist mit einer Form, die einer Gruppe von zu prüfenden Elektroden entspricht, welche aus zumindest zwei zu prüfenden Elektroden besteht, und die gemeinsame Prü­ felektrode in einem Zustand ausgebildet ist derart, daß Ver­ drahtungsnetzwerke, die unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildet sind, keinen elek­ trisch geschlossenen Kreis miteinander über die gemeinsame Prüfelektrode bilden, wenn die gemeinsame Prüfelektrode zu Prüfzwecken in Kontakt mit der gedruckten Schaltung gebracht wird, gekennzeichnet durch

• 1. eine Gruppierungsverarbeitungsfunktion, durch welche geometrische Informationen in Bezug auf sämtliche der zu prü­ fenden Elektroden und Informationen in Bezug auf eine elek­ trische Verbindung zwischen den Elektroden genutzt werden, um zumindest eine Gruppe auszubilden, die aus mehreren zu prü­ fenden Elektroden besteht; und
• 2. eine Verarbeitungsfunktion zum Ausbilden einer ge­ meinsamen Elektrode, durch welche eine virtuelle gemeinsame Elektrode entsprechend einem Zustand derart, daß sämtliche der zu prüfenden Elektroden, die zu einer Gruppe der zu prü­ fenden Elektroden gehören, elektrisch miteinander verbunden wurden, erzeugt wird, wobei

Informationen in Bezug auf die gemeinsame Prüfelektrode erzeugt werden.

10. Verfahren zum Erzeugen von Informationen zum Her­ stellen einer Prüfadapterkarte für gedruckte Schaltungen, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden ausgerüstet ist, wobei zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentative Prüfelektrode ausgebildet ist, die elektrisch mit einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode zu verbinden ist, beste­ hend aus nur einer zu prüfenden Elektrode, die zu jedem von Verdrahtungsnetzwerken gehört, welche unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung an einer Position entsprechend der zu prüfenden repräsentativen Elektrode aus­ gebildet sind, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren das Erzeugen von Informationen in Bezug auf die repräsentative Prüfelektrode und Informationen in Be­ zug auf eine Überwachungs-Prüfelektrode umfaßt durch Ausfüh­ ren:

• 1. einer Verarbeitung zum Auswählen einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode, bei der nur eine Elektrode aus mehreren zu prüfenden Elektroden, die zu jedem der unabhängig auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten Ver­ drahtungsnetzwerke gehört, als die zu prüfende repräsentative Elektrode ausgewählt wird; und
• 2. einer Verarbeitung zum Auswählen einer zu prüfenden Überwachungselektrode, bei der zumindest eine zu prüfende Elektrode als die zu prüfende Überwachungselektrode aus ande­ ren als der zu prüfenden repräsentativen Elektrode zu prüfen­ den Elektroden, welche elektrisch mit der zu prüfenden reprä­ sentativen Elektrode verbunden sind, aus den auf der zu prü­ fenden gedruckten Schaltung ausgebildeten zu prüfenden Elek­ troden ausgewählt wird.

11. Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen, welche eine Informationsverarbeitungseinrichtung ist, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schal­ tungen verwendet wird, welche Adapterkarte mit Prüfelektroden ausgerüstet ist, wobei zumindest eine der Prüfelektroden als eine repräsentative Prüfelektrode ausgebildet ist, die elek­ trisch mit einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode zu verbinden ist, bestehend aus nur einer zu prüfenden Elektro­ de, die zu jedem von Verdrahtungsnetzwerken gehört, welche unabhängig voneinander auf der zu prüfenden gedruckten Schal­ tung an einer Position entsprechend der zu prüfenden reprä­ sentativen Elektrode ausgebildet sind, gekennzeichnet durch

• 1. eine Verarbeitungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode, bei welcher nur eine Elektrode aus mehreren zu prüfenden Elektroden, die zu jedem der unabhängig auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung aus­ gebildeten Verdrahtungsnetzwerke gehört, als die zu prüfende repräsentative Elektrode ausgewählt wird; und
• 2. eine Verarbeitungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfenden Überwachungselektrode, bei welchem zumindest eine zu prüfende Elektrode als die zu prüfende Überwachungselek­ trode aus anderen als der zu prüfenden repräsentativen Elek­ trode zu prüfenden Elektroden, welche elektrisch mit der zu prüfenden repräsentativen Elektrode verbunden sind, aus den auf der zu prüfenden gedruckten Schaltung ausgebildeten zu prüfenden Elektroden ausgewählt wird, wobei

Informationen in Bezug auf die repräsentative Prüfelek­ trode und Informationen in Bezug auf eine Überwachungs-Prüf­ elektrode erzeugt werden.

12. Verfahren zum Erzeugen von Informationen, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung verwendet werden, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren das Ausführen der Gruppierungsverarbeitung und der Verarbeitung zum Ausbilden einer gemeinsamen Elektrode nach Anspruch 8, und Ausführen der Verarbeitung zum Auswählen ei­ ner zu prüfenden repräsentativen Elektrode und der Verarbei­ tung zum Auswählen einer zu prüfenden Überwachungselektrode nach Anspruch 10 umfaßt.

13. Vorrichtung zum Erzeugen von Informationen, die bei der Herstellung einer Prüfadapterkarte für eine gedruckte Schaltung verwendet werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung die Gruppierungsverarbeitungsfunktion und die Verarbeitungsfunktion zum Ausbilden einer gemeinsamen Elek­ trode nach Anspruch 9, und die Verarbeitungsfunktion zum Aus­ wählen einer zu prüfenden repräsentativen Elektrode und die Verarbeitungsfunktion zum Auswählen einer zu prüfenden Über­ wachungselektrode nach Anspruch 11 umfaßt.