CN102721835B - 测试适配器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于BC3199测试系统的测试适配器，应用于电压调整器MSK5101/MSK5102测试，包括测试外围电路，该测试外围电路包括：开关K1、开关K2、开关K3、开关K4及开关K5；开关K1的一端与测试系统的小功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K2的一端与测试系统的大功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K3的一端与测试系统的小功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的标识端连接；开关K4的一端与测试系统的地线连接，另一端与被测器件的接地端连接；开关K5的一端与测试系统的中功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的接地端连接。
Description
技术领域
本发明涉及模拟集成电路测试领域，特别是指一种基于BC3199测试系统的MSK5101/MSK5102测试适配器。
背景技术
BC3199为模拟集成电路测试系统，为被测器件提供测试需要的硬件资源即：小功率电压/电流源及表、中功率电压/电流源及表、大功率电压/电流源及表、精密测量单元、时间测量单元。BC3199主要对电压调节器、电压基准、运算放大器、比较器、音频放大器、PWM等模拟器件进行参数测试。BC3199仅是提供硬件资源和接口，直接应用BC3199无法对MSK5101/MSK5102进行测试。电压调整器MSK5101有可调输出模式和固定输出模式两种，电压调整器MSK5102只有固定输出模式一种。基于测试系统BC3199实现具体型号器件的测试均需要设计专用测试适配器，目前还没有基于BC3199测试系统的MSK5101/MSK5102测试适配器。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提出一种测试适配器，实现基于BC3199测试系统的MSK5101/MSK5102测试适配。
基于上述目的本发明提供的一种基于BC3199测试系统的测试适配器，应用于电压调整器MSK5101/MSK5102测试，包括测试外围电路，该测试外围电路包括：开关K1、开关K2、开关K3、开关K4及开关K5；开关K1的一端与测试系统的小功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K2的一端与测试系统的大功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K3的一端与测试系统的小功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的标识端连接；开关K4的一端与测试系统的地线连接，另一端与被测器件的接地端连接；开关K5的一端与测试系统的中功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的接地端连接；在K1和开关K2闭合且开关K3断开时，对应被测器件MSK5101可调输出模式；在开关K3闭合且开关K1和开关K2断开时，对应MSK5101固定输出模式；在开关K1、开关K2、开关K3均断开时，对应MSK5102固定输出模式；在开关K4断开，开关K5闭合时，测量被测器件的接地端电流。
可选的，测试系统的大功率电压/电流源给被测器件的输入端施加规定电压，通过精密测量表测试被测器件调整端和输出端的电压。
可选的，所述测试适配器还包括：锁紧装置、专用插座和转接板。
可选的，所述锁紧装置用于固定被测器件与所述专用插座；所述专用插座用于放置被测器件，并通过弹簧针表面接触方式与转接板接连；所述转接板通过连接器与测试外围电路连接。
可选的，所述专用插座为10线陶瓷扁平封装。
可选的，所述连接器为2mm、32线插针。
可选的，所述被测器件的输入端和输出端均采用开尔文连接。
可选的，测试过程中，测试系统的大功率电压/电流源给被测器件的输入端施加规定电压，通过大功率电压/电流源测试被测器件的输出电压；通过小功率电压/电流源测试被测器件的使能端、调整端、标识端的电压/电流；通过中功率电压/电流源测试被测器件的接地端电流。
从上面所述可以看出，本发明提供的测试适配器，兼顾了电压调整器MSK5101/MSK5102的三种管脚定义模式，避免了此类测试器件的重复开发；输入输出管脚同时采用开尔文连接，消除线上损耗，提高测量精度。
附图说明
图1为本发明实施例的一种测试外围电路框图；
图2为本发明实施例的一种测试外围电路示意图；
图3为本发明实施例的一种MSK5101/MSK5102适配器结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
如图1所示，一种基于BC3199测试系统的测试适配器，应用于电压调整器MSK5101/MSK5102测试，包括测试外围电路，该测试外围电路包括：开关K1、开关K2、开关K3、开关K4及开关K5。
开关K1的一端与测试系统的小功率电压/电流源A连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K2的一端与测试系统的大功率电压/电流源B连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K3的一端与测试系统的小功率电压/电流源A连接，另一端与被测器件的标识端连接；开关K4的一端与测试系统的地线D连接，另一端与被测器件的接地端连接；开关K5的一端与测试系统的中功率电压/电流源C连接，另一端与被测器件的接地端连接。
在K1和开关K2闭合且开关K3断开时，对应被测器件MSK5101可调输出模式；在开关K3闭合且开关K1和开关K2断开时，对应MSK5101固定输出模式；在开关K1、开关K2、开关K3均断开时，对应MSK5102固定输出模式；在开关K4断开，开关K5闭合时，测量被测器件的接地端电流。这种切换模式可以兼顾MSK5101/MSK5102三种管脚模式。
测试系统通过向被测器件输入端施加规定的电压或电流，被测器件的输出端信号通过测试系统的电压/电流源或精密测量表测试相应管脚的电压/电流。除了测量器件的输出，还测试器件调整端电压/电流、标识端电压/电流、使能端电压/电流和接地端电流。
如图2所示，MSK5101可调输出模式管脚包括使能端Enable、输入端VinA和VinB、输出端VoutA和VoutB、调整端Adj；MSK5101固定输出模式管脚包括使能端Enable、输入端VinA和VinB、输出端VoutA和VoutB及VoutC、标识端Flag。MSK5102固定输出模式管脚包括使能端Enable、输入端VinA和VinB、输出端VoutA和VoutB及VoutC。
进一步地，以MSK5101为例，MSK5101的输入端VinA与测试系统提供的大功率电压/电流源APVIF0连接，输入端VinB与测试系统提供的大功率电压/电流源APVIS0连接，MSK5101的输入端VinA和输入端VinB采用开尔文连接，消除线上损耗，提高测试精度。输入端VinA与测试系统地线之间连接第一电容1，滤除干扰，提高测试精度。使能端Enable与测试系统提供的小功率电压/电流源连接。MSK5101的输出端VoutA与测试系统提供的大功率电压/电流源APVIS1连接，输出端VoutB与VoutC可以分别连接大功率电压/电流源APVIF1，也可以并联后连接APVIF1，也就是输出端VoutA、VoutB和VoutC采用开尔文连接，消除线上损耗，提高测试精度。接地端GND与测试系统地线之间连接第二电容2，接地端GND与测试系统地线之间连接开关K4，其中开关K4与第二电容2并联。接地端GND与AMVI0之间连接开关K5。
当MSK5101为可调输出模式时，调整端Adj与测试系统BC3199提供的小功率电压电流源BLVI2之间连接的开关K1闭合，调整端Adj与测试系统BC3199提供的大功率电压电流源APVIF1之间连接的开关K2闭合，在开关K2与大功率电压/电流源APVIF1之间连接电阻R1，接地端GND与测试系统BC3199提供的中功率电压电流源AMVI0之间连接的开关K5闭合，在开关K2与开关K5之间连接电阻R2。可选地，开关K2与大功率电压/电流源APVIF1直接连接，不需要连接电阻R1。此时Flag端悬空不接。
当MSK5101为固定输出模式时，标识端Flag与测试系统BC3199提供的小功率电压电流源BLVI1直接连接，开关K3连接电阻R3，并连接到器件的输入端；在开关K3与输入管脚VinA或VinB之间连接电阻R3，从而可以测到正常的FLAG端输出值。在开关K1和开关K2闭合且开关K3断开时，对应被测器件MSK5101可调输出模式；在开关K3闭合且开关K1和开关K2断开时，对应MSK5101固定输出模式；在开关K1、开关K2、开关K3均断开时，对应MSK5102固定输出模式。MSK5102的各功能管脚与测试系统的连接与MSK5101的各功能管脚与测试系统的连接一致。
测试时，测试系统BC3199提供的大功率电压电流源给测试器件MSK5101/MSK5102的输入端VinA和VinB施加规定电压，用系统提供的电压电流源或精密测量表测试输出端电压、标识端Flag电压/电流、调整端Adj电压/电流和接地端GND的电流。具体来说，测试被测器件MSK5101/MSK5102输出端VoutA电压时，大功率电压电流源APVI0在输入端VinA端施加规定电压值，由于VinA与VinB在器件内部已经连接，即VinA端电压与VinB端电压相等，系统资源大功率电压电流源APVIF1源给VoutA施加规定的电流值，用精密测量表测试VoutA的电压，由于VoutA、VoutB、VoutC在器件内部已经连接，即VoutA、VoutB、VoutC端的电压相同。
测试被测器件MSK5101标识端Flag电压时，开关K1、开关K2断开，K3闭合，大功率电压电流源APVI0在输入端VinA端施加规定电压值，由于VinA与VinB在器件内部已经连接，VinA端电压与VinB端电压相同，小功率电压电流源BLVI1源给测试标识端Flag施加规定的电流值，用小功率电压电流源BLVI1测试标识端Flag的电压；测试被测器件MSK5101标识端Flag电流时，开关K1、开关K2断开，开关K3断开，大功率电压电流源APVI0在输入端VinA端施加规定电压值，由于VinA与VinB在器件内部已经连接，即VinA=VinB，小功率电压电流源BLVI1源给测试标识端Flag施加规定的电压值，用小功率电压电流源BLVI1测试标识端Flag的电流。
测试被测器件MSK5101调整端Adj电压时，开关K1、开关K2闭合，开关K3断开，大功率电压电流源APVI0在输入端VinA端施加规定电压值，由于VinA与VinB在器件内部已经连接，即VinA=VinB，用精密测量表测试调整端Adj电压；测试被测器件MSK5101调整端Adj电流时，开关K1闭合、开关K2和开关K3断开，大功率电压电流源APVI0在输入端VinA端施加规定电压值，由于VinA与VinB在器件内部已经连接，即VinA=VinB，小功率电压电流源BLVI2源给调整端Adj施加规定电压值，用功率电压电流源BLVI2测试试调整端Adj电流。
测试被测器件MSK5101/MSK5102接地端GND电流时，开关K4断开，K5开关关闭，系统资源APVI0在器件的输入端即VinA和VinB施加规定电压，系统资源中功率电压电流源AMVI0给GND管脚施加0电压，采用加压测流的方式测量GND管脚电流，即用AMVI0测量GND管脚电流。
测试被测器件MSK5101/MSK5102使能端Enable电压时，系统资源APVI0在器件的输入端即VinA和VinB施加规定电压，BLVI3给使能端Enable施加开启电压，系统资源大功率电压电流源APVIF1源给VoutA施加规定的电流值，用精密测量表测试VoutA的电压，由于VoutA、VoutB、VoutC在器件内部已经连接，即VoutA、VoutB、VoutC端的电压相同。采用逐步减小的方式逐渐改变Enable端的电压值，直到输出电压VoutA、VoutB和VoutC由正常变为截止状态，此时记下Enable的电压值即为Enable关断阈值电压。同理BLVI3给使能端Enable施加截止电压，系统资源大功率电压电流源APVIF1源给VoutA施加规定的电流值，用精密测量表测试VoutA的电压，由于VoutA、VoutB、VoutC在器件内部已经连接，即VoutA、VoutB、VoutC端的电压相同。采用逐步增大的方式逐渐改变Enable端的电压值，直到输出电压VoutA、VoutB和VoutC由截止变为正常状态，此时记下Enable的电压值即为Enable开启阈值电压。测试被测器件MSK5101/MSK5102使能端Enable电流时，系统资源APVI0在器件的输入端即VinA和VinB施加规定电压，BLVI3给使能端Enable施加规定的电压，用小功率电压电流源BLVI3源测试使能端Enable电流。在其它实施例中，由于VoutA、VoutB、VoutC在器件内部已经连接，所以VoutA、VoutB、VoutC三个输出管脚可以同时均接APVIS1和APVIF1。在其它实施例中，也可以不用精密测量表来测量器件的电压，直接用系统的提供的大功率电压电流源或小功率电压电流源测试电压。
如图3所示，MSK5101/MSK5102专用适配器从上至下依次包括：锁紧装置201、专用插座202、转接板203、测试外围电路板204；锁紧装置201用于固定被测器件MSK5101/MSK5102和专用插座202，以保证被测器件与专用插座202的良好接触。专用插座202选择为10线陶瓷扁平封装，用于放置被测器件MSK5101/MSK5102，并通过四个螺钉与转接板203进行安装定位，螺钉压紧弹簧针与转接板203接触面接触。转接板203通过连接器与下层板连接，连接器为2mm、32线插针结构。测试外围电路板204通过SMA插座与测试系统BC3199的电压调整器测试通用接口板连接。
在其它实施例中，此适配器可以应用于同MSK5101/MSK5102器件的封装形式相同，具有类似功能的器件测试。本发明适配器的测试外围电路板具有通用性，可以依据器件不同的封装形式更换锁紧装置、器件放置处和转接板，无需重新设计测试外围电路，就能完成类似功能器件的适配器制作，实现全参数测试。
从上面所述可以看出，本发明提供的测试适配器，兼顾了电压调整器MSK5101/MSK5102的三种管脚定义模式，避免了此类测试器件的重复开发；输入输出管脚同时采用开尔文连接，消除线上损耗，提高测量精度。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种基于BC3199测试系统的测试适配器，应用于电压调整器MSK5101/MSK5102测试，其特征在于，包括测试外围电路，该测试外围电路包括：开关K1、开关K2、开关K3、开关K4及开关K5；
开关K1的一端与测试系统的小功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K2的一端与测试系统的大功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的调整端连接；开关K3的一端与测试系统的小功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的标识端连接；开关K4的一端与测试系统的地线连接，另一端与被测器件的接地端连接；开关K5的一端与测试系统的中功率电压/电流源连接，另一端与被测器件的接地端连接；
在K1和开关K2闭合且开关K3断开时，对应被测器件MSK5101可调输出模式；在开关K3闭合且开关K1和开关K2断开时，对应MSK5101固定输出模式；在开关K1、开关K2、开关K3均断开时，对应MSK5102固定输出模式；在开关K4断开，开关K5闭合时，测量被测器件的接地端电流。
2.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于，测试系统的大功率电压/电流源给被测器件的输入端施加规定电压，通过精密测量表测试被测器件调整端和输出端的电压。
3.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于，所述测试适配器还包括：锁紧装置、专用插座和转接板。
4.根据权利要求3所述的测试适配器，其特征在于，所述锁紧装置用于固定被测器件与所述专用插座；所述专用插座用于放置被测器件，并通过弹簧针表面接触方式与转接板接连；所述转接板通过连接器与测试外围电路连接。
5.根据权利要求3或4所述的测试适配器，其特征在于，所述专用插座为10线陶瓷扁平封装。
6.根据权利要求4所述的测试适配器，其特征在于，所述连接器为2mm、32线插针。
7.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于，所述被测器件的输入端和输出端均采用开尔文连接。
8.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于，测试过程中，测试系统的大功率电压/电流源给被测器件的输入端施加规定电压，通过大功率电压/电流源测试被测器件的输出电压；通过小功率电压/电流源测试被测器件的使能端、调整端、标识端的电压/电流；通过中功率电压/电流源测试被测器件的接地端电流。
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Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103884955B (zh) * | 2014-03-19 | 2017-01-25 | 上海无线电设备研究所 | 测试适配器对被测电路板的智能识别系统及其识别方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3313449C2 (zh) * | 1983-04-13 | 1987-01-02 | Computer Gesellschaft Konstanz Mbh, 7750 Konstanz, De | |
| US6194906B1 (en) * | 1998-06-23 | 2001-02-27 | Jsr Corporation | Inspection adapter board for printed board, method for inspecting printed board, and method and apparatus for producing information for fabricating the inspection adapter board |
| CN1714294A (zh) * | 2002-12-20 | 2005-12-28 | 德商·Atg测试系统股份有限公司 | 测试一个和多个导体组件的适配器 |
| CN2748385Y (zh) * | 2004-09-24 | 2005-12-28 | 上海沪特航空技术有限公司 | 机载设备综合检测系统 |
| CN1852177A (zh) * | 2005-10-13 | 2006-10-25 | 华为技术有限公司 | 测试适配器和测试工具系统及其测试方法 |
| CN101051474A (zh) * | 2006-04-04 | 2007-10-10 | 广明光电股份有限公司 | 光盘机测试系统 |
| EP1956488A2 (de) * | 2007-02-12 | 2008-08-13 | Göpel electronic GmbH | Testsystem mit einem Testadapter und Verfahren zum elektrischen Prüfen einer Baugruppe |
| CN201917585U (zh) * | 2010-11-05 | 2011-08-03 | 北京自动测试技术研究所 | 一种集成电路测试适配器 |
-
2012
- 2012-07-03 CN CN201210229392.XA patent/CN102721835B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3313449C2 (zh) * | 1983-04-13 | 1987-01-02 | Computer Gesellschaft Konstanz Mbh, 7750 Konstanz, De | |
| US6194906B1 (en) * | 1998-06-23 | 2001-02-27 | Jsr Corporation | Inspection adapter board for printed board, method for inspecting printed board, and method and apparatus for producing information for fabricating the inspection adapter board |
| CN1714294A (zh) * | 2002-12-20 | 2005-12-28 | 德商·Atg测试系统股份有限公司 | 测试一个和多个导体组件的适配器 |
| CN2748385Y (zh) * | 2004-09-24 | 2005-12-28 | 上海沪特航空技术有限公司 | 机载设备综合检测系统 |
| CN1852177A (zh) * | 2005-10-13 | 2006-10-25 | 华为技术有限公司 | 测试适配器和测试工具系统及其测试方法 |
| CN101051474A (zh) * | 2006-04-04 | 2007-10-10 | 广明光电股份有限公司 | 光盘机测试系统 |
| EP1956488A2 (de) * | 2007-02-12 | 2008-08-13 | Göpel electronic GmbH | Testsystem mit einem Testadapter und Verfahren zum elektrischen Prüfen einer Baugruppe |
| CN201917585U (zh) * | 2010-11-05 | 2011-08-03 | 北京自动测试技术研究所 | 一种集成电路测试适配器 |
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| Publication number | Publication date |
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