DE19827014A1 - Lötverfahren und Löteinrichtung - Google Patents
Lötverfahren und LöteinrichtungInfo
- Publication number
- DE19827014A1 DE19827014A1 DE19827014A DE19827014A DE19827014A1 DE 19827014 A1 DE19827014 A1 DE 19827014A1 DE 19827014 A DE19827014 A DE 19827014A DE 19827014 A DE19827014 A DE 19827014A DE 19827014 A1 DE19827014 A1 DE 19827014A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- solder
- molten
- base material
- soldering
- binary
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
- B23K1/06—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering making use of vibrations, e.g. supersonic vibrations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/26—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
- B23K35/262—Sn as the principal constituent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2101/00—Articles made by soldering, welding or cutting
- B23K2101/36—Electric or electronic devices
- B23K2101/40—Semiconductor devices
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Lötverfahren und eine
Löteinrichtung, die zum Verbinden von Teilen oder Bauteilen
von Geräten verwendet werden. Insbesondere betrifft die
vorliegende Erfindung ein Lötverfahren und eine
Löteinrichtung, die bei der Herstellung von
Schaltungsplatinen verwendet werden können, bei welchen
elektronische Bauteile, gedruckte Schaltungen und dergleichen
vorgesehen werden, und die für eine Lötbearbeitung unter
Verwendung eines bleifreien Lotes geeignet sind.
Löten ist eine Technik zum Verbinden von Gegenständen
miteinander unter Verwendung einer Substanz mit einem
niedrigen Schmelzpunkt, und wurde seit sehr langer Zeit
eingesetzt. Der Ursprung des Lötens kann bis zu der alten
mesopotamischen Kultur zurückverfolgt werden. Heutzutage wird
in der Industrie das Löten in weitem Ausmaß bei der
Verbindung elektronischer Geräte eingesetzt, beispielsweise
bei der Verbindung derartiger elektronischer Geräte wie
Halbleiter, Mikroprozessoren, Speicher und Widerstände mit
einem Substrat. Der Vorteil besteht nicht nur in der
Befestigung eines Teils an dem Substrat, sondern auch in der
Ausbildung einer elektrischen Verbindung durch die
elektrische Leitfähigkeit des Metalls, das in dem Lot
enthalten ist. Dieser Gesichtspunkt stellt einen Unterschied
zu organischen Klebemitteln dar.
Das üblicherweise verwendete Lot ist ein eutektisches Lot,
das aus Zinn und Blei besteht, und einen eutektischen Punkt
von 183°C aufweist. Dieses Lot wird zur Verbindung
plattenförmiger Materialien aus Kupfer oder dergleichen
verwendet. Es zeichnet sich durch den eutektischen Punkt aus,
der nicht nur niedriger ist als der Schmelzpunkt des
Basismetallmaterials, das verlötet werden soll, sondern auch
niedriger als die Temperatur, bei welcher die Vergasung eines
durch Wärmeeinwirkung aushärtenden Harzes beginnt. Weiterhin
ist bekannt, daß der Zinnbestandteil des eutektischen Lots
eine bestimmte intermetallische Verbindung auf einer
Grenzfläche mit einer Kupferplatte bildet, wodurch die
Verbindungsfestigkeit zwischen dem Lot und Kupfer erhöht
wird. Zusätzlich zu einem eutektischen Lot, das aus Zinn und
Blei besteht, und die voranstehend geschilderten
Eigenschaften aufweist, wurden Lote verwendet, die aus Zinn
und Zink, aus Silber und Zinn, usw. bestehen, jedenfalls auf
Versuchsbasis. Allerdings zeigen sie nur eine geringe
Benetzbarkeit, so daß ihre Verbindungseigenschaften schlecht
sind. Daher wurden sie herkömmlicherweise in der Praxis nicht
eingesetzt.
Wie voranstehend geschildert ist die Verbindung durch Löten
bei der Herstellung elektronischer Geräte immer noch
wesentlich. Heutzutage, wo sich personenbezogene
Elektrogeräte immer schneller verbreitern, beispielsweise ein
PC (Personalcomputer), ein zelluläres Telefon, ein
Personensuchgerät und dergleichen, erhöht sich die Bedeutung
von Sod bei Anbringungsverfahren für elektronische Geräte.
Die Verbreitung elektronischer Geräte trägt zur Bereicherung
des Lebens der Menschen bei. Wenn jedoch im Gegensatz hierzu
eine große Anzahl elektronischer Geräte, die nicht mehr
verwendet werden, entsorgt wird, so besteht die Befürchtung,
daß derart verschwendete elektronische Geräte die Umgebung
verschmutzen können. Das Recycling nicht mehr verwendeter
Gegenstände, und die Ausschaltung schädlicher Substanzen bei
den Materialien, die zur Herstellung von Gegenständen
verwendet werden, wurde daher gefordert. Insbesondere ist
unter Umweltschutzgesichtspunkten die Ausschaltung
schädlicher Bestandteile erwünscht.
Unter diesen Bedingungen wurde gefordert, daß Verbindungen
unter Verwendung von Lot hergestellt werden, welches kein
Blei enthält. Lot, bei welchem Blei durch ein anderes
Material ersetzt ist, oder Lot, das eine Kombination anderer
Metalle enthält, kann jedoch nicht bei einer derartig
niedrigen Temperatur eingesetzt werden, daß ein negativer
Einfluß auf das Basismetall bei hohen Temperaturen vermieden
werden kann, und die Benetzbarkeit ist so schlecht, daß das
Lot nicht ordnungsgemäß an dem Basismetall anhaftet. Daher
kann ein derartiges Lot weder bei feinen Lötarbeiten wie bei
der Anbringung elektronischer Geräte noch bei der üblichen
Verbindung durch Lot eingesetzt werden. Insbesondere ein Lot
mit Zinn und Zink zeigt daher zu schwerwiegende Probleme, als
daß diese überwunden werden könnten, und daher wurde es als
unmöglich angesehen, ein derartiges Lot tatsächlich bei der
Montage elektronischer Bauteile einzusetzen (vgl. Tadashi
Takemoto et al, "Environmental Conscious Lead-free Solder
Alloys compatible with Fine Pitch Soldering", Proceedings of
the Third International Conference on Ecomaterials (10. bis
12. September 1997, Tsukuba, Japan)).
Um die Verwendung eines bleifreien Lots bei feinen
Lötarbeiten zu ermöglichen, beispielsweise der
Dickfilmerzeugung, der Leiterschaltungsausbildung und der
Halbleitermontage, wurde ein Siebdruckverfahren
vorgeschlagen, bei welchem Lötpaste verwendet wird, in
welcher Lotpulver und Flußmittel gemischt sind. Das
Flußmittel, das bei der Lotpaste verwendet wird, wird im
allgemeinen in organische Verbindungen, anorganische
Verbindungen und Harz unterteilt. Wenn organische
Verbindungen oder Harz verwendet werden, werden ein
Halogenharz, das Salz einer organischen Säure und
dergleichen, einer organischen Säure, und eine Aminogruppe
häufig als aktives Bestandteil hinzugefügt. Bei anorganischen
Verbindungen werden häufig ein Amoniumhalogenid, ein
Zinkhalogenid, ein Zinnhalogenid, Phosphorsaure, ein
Wasserstoffsäurehalogenid und dergleichen hinzugefügt. Da
diese Zusatzstoffe zur Korrosion von Metallen führen, ist
eine Untersuchung in Bezug auf Korrosion infolge eines
übrigbleibenden Flußmittels nach dem Rückfluß der Lotpaste
erforderlich. Darüber hinaus müssen organische Substanzen
behandelt werden, die verdampfen, wenn die Paste erwärmt
wird, um das Flußmittel zu entfernen.
Ein Ziel der vorliegenden Erfindung besteht daher in der
Bereitstellung eines Lotverfahrens und einer Loteinrichtung
zur Herstellung eines Gegenstands unter Verwendung einer
Lotlegierung, die Metalle enthält, die für weite Bereiche
einsetzbar sind, anstatt von Blei, welches eine
Umweltverschmutzung hervorrufen kann, wenn ein Gegenstand
entsorgt wird, bei welchem ein derartiges Lot eingesetzt
wird, und welches zur Montage elektronischer Bauteile auf
einem Substrat geeignet ist.
Ein Verfahren zum Verlöten eines Basismaterials gemäß der
vorliegenden Erfindung umfaßt folgende Schritte: Erzeugung
eines binären Lots, welches im wesentlichen aus Zinn und
einer Metallkomponente besteht, die eine eutektische
Legierung mit Zinn bilden kann, und welche kein Blei enthält,
so daß der Anteil anderer Metallbestandteile mit Ausnahme der
Metallkomponente und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger
beträgt, und der Sauerstoffgehalt 100 ppm oder weniger
beträgt; Schmelzen des binären Lots in einer nicht
oxidierenden Umgebung zur Erzeugung eines geschmolzenen
binären Lots; und Verteilung des geschmolzenen binären Lots
an dem Basismaterial in einer Atmosphäre, in welcher der
Sauerstoffgehalt 2000 ppm oder weniger beträgt, um das
Basismaterial mit dem binären Lot zu verlöten.
Der Metallbestandteil des binären Lots wird aus der Gruppe
ausgewählt, die aus Zink, Silber, Wismuth, Indium und Kupfer
besteht, und der Schmelzschritt umfaßt einen
Erwärmungsschritt, in welchem das binäre Lot auf eine
Temperatur erwärmt wird, die dem eutektischen Punkt des
binären Lots entspricht oder darüberliegt.
Der Verteilungsschritt umfaßt: das geschmolzene binäre Lot
wird in Kontakt mit dem Basismaterial gebracht, während auf
das Basismaterial eine Schwingungswellenenergie bei einer
Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz einwirkt.
Eine Einrichtung zum Verlöten eines Basismaterials gemäß der
vorliegenden Erfindung weist auf: eine Vorbereitungseinheit
zur Erzeugung eines geschmolzenen binären Lots, welches im
wesentlichen aus Zinn und einer Metallkomponente besteht, die
eine eutektische Legierung mit Zinn bilden kann, so daß der
Bestandteil anderer Metalle mit Ausnahme der Metallkomponente
und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt; eine
Oxidationsverhinderungseinheit zum Verhindern der Oxidation
des geschmolzenen binären Lots, so daß der Sauerstoffgehalt
in dem geschmolzenen binären Lot nicht 100 ppm überschreitet;
eine Lötmittelverteilungseinheit zum Verteilen des
geschmolzenen binären Lots durch Anordnen des Basismaterials
in Berührung mit dem geschmolzenen binären Lot in einer
Atmosphäre, in welcher der Sauerstoffgehalt 2000 ppm oder
weniger beträgt; und einen Oszillator zum Liefern von
Schwingungswellenenergie, die eine Frequenz von 15 kHz bis 1
MHz aufweist, auf das Basismaterial, welches in Berührung mit
dem geschmolzenen binären Lot steht.
Die Lotverteilungseinheit weist eine Pumpe auf, um einen Fluß
des geschmolzenen binären Lots in dem Schmelzbad zu erzeugen,
sowie eine Transporteinheit zum Transportieren des
Basismaterials auf den Fluß des geschmolzenen binären Lots,
und der Oszillator liefert die Schwingungswellenenergie an
den Umlauffluß des geschmolzenen binären Lots zum
Basismaterial hin.
Gemäß einer weiteren Zielrichtung weist eine Einrichtung zum
Verlöten eines Basismaterials gemäß der vorliegenden Erfindung
auf: eine Düseneinheit mit einem Schmelzgerät zum Schmelzen
eines binären Lots, welches im wesentlichen aus Zinn und einer
Metallkomponente besteht, die mit Zinn eine derartige
eutektische Legierung bilden kann, daß der Anhalt anderer
Metallkomponenten mit Ausnahme der genannten Metallkomponente
und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt, um ein
geschmolzenes binäres Lot zu erzeugen, wobei das binäre Lot
gegenüber der Atmosphäre abgeschirmt ist, und zum Verteilen
des geschmolzenen binären Lots an das Basismaterial; und eine
Gaszufuhreinheit zum Liefern eines im wesentlichen nicht
oxidierenden Gases um das geschmolzene binäre Lot herum,
welches von der Düseneinheit abgegeben wurde.
Die Düseneinheit weist eine Tropfenerzeugungsvorrichtung auf,
die dazu dient, Tropfen des geschmolzenen binären Lots mit
Hilfe von Schwingungswellenenergie zu erzeugen, so daß die
Düseneinheit das geschmolzene binäre Lot in Form von
Tröpfchen verteilt.
Gemäß einer weiteren Zielrichtung weist eine Einrichtung zum
Verlöten eines Basismaterials gemäß der vorliegenden
Erfindung auf: einen Lötkolben zum Schmelzen eines Lots durch
Erhitzung des Löteisens in Berührung mit dem Lot, so daß das
geschmolzene Lot auf dem Basismaterial verteilt wird; eine
Gaszufuhreinheit zum Liefern eines nicht-oxidierenden Gases
um das Löteisen herum, um eine Oxidation es geschmolzenen
Lots und des Basismaterials zu verhindern; und einen
Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das
Basismaterial und an das geschmolzene Lot.
Gemäß einer weiteren Zielrichtung weist eine Einrichtung zum
Verlöten eines Basismaterials gemäß der vorliegenden
Erfindung auf: eine Düseneinheit mit einem Schmelzgerät zum
Schmelzen eines binären Lots, welches im wesentlichen aus
Zinn und einer Metallkomponente besteht, die so eine
eutektische Legierung mit Zinn bilden kann, daß der Anteil
anderer Metallbestandteile mit Ausnahme der Metallkomponente
und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt, um ein
geschmolzenes binäres Lot zu erzeugen, während das binäre Lot
gegenüber der Atmosphäre abgeschirmt ist, und zum Verteilen
des geschmolzenen binären Lots an das Basismaterial; und eine
Gaszufuhreinheit zum Liefern eines im wesentlichen nicht
oxidierenden Gases um das geschmolzene binäre Lot herum,
welches von der Düseneinheit verteilt wurde.
Die Düseneinheit weist eine Tropfenerzeugungsvorrichtung auf,
um Tröpfchen aus dem geschmolzenen binären Lot mit Hilfe von
Schwingungswellenenergie zu erzeugen, so daß die Düseneinheit
das geschmolzene binäre Lot in Form von Tröpfchen abgibt.
Gemäß einer weiteren Zielrichtung weist eine Einrichtung zum
Verlöten eines Basismaterials gemäß der vorliegenden
Erfindung auf: ein Löteisen zum Schmelzen eines Lots durch
Erhitzung des Löteisens in Kontakt mit dem Lot, so daß das
geschmolzene Lot auf dem Basismaterial verteilt wird; eine
Gaszufuhreinheit zum Liefern eines nicht-oxidierenden Gases
um das Löteisen herum, um eine Oxidation des geschmolzenen
Lots und des Basismaterials zu verhindern; und einen
Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das
Basismaterial und das geschmolzene bot.
Gemäß einer weiteren Zielrichtung weist eine Einrichtung zum
Verlöten eines Basismaterials gemäß der vorliegenden
Erfindung auf: mehrere Schmelzbäder zum getrennten Schmelzen
mehrerer Lote, um getrennt die mehreren geschmolzenen Lote zu
empfangen; eine Gaszufuhreinheit zur Bereitstellung einer
nicht-oxidierenden Gasatmosphäre bei den mehreren
Schmelzbädern, um die Oxidation der mehreren geschmolzenen
Lote zu verhindern; eine Transporteinheit zum Transportieren
des Basismaterials zu einem der mehreren Schmelzbäder, um das
Basismaterial in das geschmolzene Lot einzutauchen, welches
in dem einen der Schmelzbäder aufgenommen ist; und einen
Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das
Basismaterial, das in das geschmolzene Lot eingetaucht ist,
welches in einem der Schmelzbäder enthalten ist.
Bei den voranstehenden Aufbauten ist es möglich, die
Löttemperatur abzusenken, bei welchem das Basismaterial in
Berührung mit dem geschmolzenen Lot gelangt, oder die
Temperatur, bei welcher das Lot erwärmt und geschmolzen wird,
bis in die Nähe der Liquiduslinientemperatur des Lots, durch
Verringerung des Sauerstoffgehalts, der in dem Lot enthalten
ist, und durch Verringerung der Anteile von
Metallbestandteilen mit Ausnahme der die Lotlegierung
bildenden Bestandteile. Wenn das geschmolzene Lot und die
Basismaterialien in einer nicht-oxidierenden Umgebung
miteinander in Berührung gelangen, wird die Benetzbarkeit des
geschmolzenen Lots ausreichend aufrecht erhalten. Durch
Zuführung von Schwingungswellenenergie werden die
Oberflächenbedingungen des Basismaterials verbessert, wodurch
verbesserte Kontakteigenschaften und eine hohe Benetzbarkeit
zwischen dem geschmolzenen Lot und der Oberfläche des
Basismaterials erzielt werden. Hierdurch wird ermöglicht,
feine Lötarbeiten mit einem Lot auszuführen, bei welchem kein
Blei vorhanden ist, und normale Metalle verwendet werden.
Daher wird eine Umweltverschmutzung durch Blei verhindert,
das in den Abfallmaterialien enthalten ist, und wird es
möglich, Löten ohne Flußmittel bei der Herstellung von
Erzeugnissen wie beispielsweise Halbleitergeräten
durchzuführen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch
dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert, aus
welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen, wobei
gleiche Bezugszeichen gleiche oder entsprechende Bestandteile
oder Fälle in den Zeichnungen bezeichnen; es zeigt:
Fig. 1 schematisch eine erste Ausführungsform einer
Einrichtung zur Durchführung des Lötverfahrens
gemäß der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer zweiten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
des Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer dritten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
des Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer vierten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
des Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 5 eine vergrößerte Ansicht der wesentlichen Teile
der Einrichtung gemäß Fig. 4;
Fig. 6 eine schematische Darstellung einer fünften
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
des Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 7 eine schematische Darstellung einer sechsten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
eines Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 8 eine schematische Darstellung einer siebten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
eines Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer achten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
eines Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung; und
Fig. 10 eine schematische Darstellung einer neunten
Ausführungsform einer Einrichtung zur Durchführung
eines Lötverfahrens gemäß der vorliegenden
Erfindung.
Es gibt verschiedene Arten von Loten entsprechend den Arten
der Metallbestandteile, die verwendet werden sollen, und
deren Zusammensetzung, und die Lote lassen sich in Weichlote
und Hartlote unterteilen. Das übliche Lot, welches
normalerweise eingesetzt wird, ist ein Weichlot, welches aus
einer eutektischen Zusammensetzung von Zinn und Blei besteht.
Dies wird häufig als Lot bezeichnet, nach einer engen
Definition. Allerdings wird darauf hingewiesen, daß ein Lot
gemäß der vorliegenden Erfindung so zu verstehen ist, daß ein
Verbindungsmaterial vorhanden ist, welches Metall enthält,
und einen niedrigen Schmelzpunkt aufweist. Es ist zur
Verbindung verschiedener Metallteile verwendbar,
einschließlich einer Kupferplatte, die als übliches Beispiel
dient.
Theoretisch kann die Temperatur des geschmolzenen Lots, in
welches das Basismaterial eingetaucht werden soll, um das
Löten durchzuführen (diese Temperatur wird nachstehend als
Löttemperatur bezeichnet) auf die Liquiduslinientemperatur
oder höher eingestellt werden. Die in der Praxis verwendete
Standardlöttemperatur liegt jedoch herkömmlicherweise etwa
50°C oberhalb der Liquiduslinientemperatur, und es wurde als
schwierig angesehen, unterhalb dieser Standardlöttemperatur
Lötvorgänge durchzuführen. Nach diesem Standard muß die
Löttemperatur eines eutektischen Lots aus Sn-9Zn in der Nähe
von 250°C liegen, und die eines eutektischen Lots aus
Sn-3,5Ag bei etwa 270°C. Da diese Temperaturen höher sind
als die Standard-Löttemperatur eines Lots aus Zinn und Blei,
erzeugt leicht eine schwerwiegende Beeinträchtigung der zu
verlötenden Basismaterialien durch derartige hohe
Temperaturen während des Lötens. Insbesondere sind diese
Temperaturen zu hoch, um bei der Verbindung elektronischer
Bauteile verwendet zu werden, beispielsweise bei einem
Substrat mit einer gedruckten Schaltung und dergleichen. Der
herkömmliche Vorschlag zur Lösung derartiger Probleme bestand
darin, eine dritte Komponente hinzuzufügen. Diese Maßnahme
führt jedoch zu einem weiteren Problem, nämlich daß es in der
Praxis nachteilig ist und es immer noch schwierig ist, die
Löttemperatur bis auf eine ausreichend niedrige Temperatur
abzusenken. Dieser Zustand bildet einen der Gründe dafür, daß
das Löten mit einem bleifreien Lot bislang als schwierig zu
erzielen angesehen wurde.
Da Blei ein Bestandteil ist, welches dem bot eine
Benetzbarkeit verleiht, weisen normalerweise Lote, die kein
Blei enthalten, beispielsweise ein Lot aus Zinn und Zink, ein
Lot aus Silber und Zinn und dergleichen, eine eingeschränkte
Benetzbarkeit auf, und eine verschlechterte Haftung am
Basismaterial. Daher wurden derartige Lote als in der Praxis
nicht einsetzbar angesehen. Insbesondere ist die
Benetzbarkeit eines Lots aus Zinn und Zink so niedrig, daß in
der Praxis das Löten mit diesem Lot schwierig erscheint. Wie
voranstehend geschildert stellt die geringe Benetzbarkeit
einen weiteren Grund dafür dar, die Erzielung eines
bleifreien Lots zu verhindern.
Beim Löten läßt sich der Effekt beobachten, daß ein sehr
dünner Film auf der Oberfläche des geschmolzenen Lots erzeugt
wird, der dazu neigt, einen Kontakt mit dem geschmolzenen Lot
des Basismaterials zu verhindern. Dieser Dünnfilm besteht aus
Metalloxid. Insbesondere wenn das Lot ein Lot aus Zinn und
Blei ist, besteht der Metalloxidfilm, der darauf erzeugt
wird, hauptsächlich aus Bleioxid, und bei einem Lot aus Zinn
und Zink hauptsächlich aus Zinkoxid. Ein Film aus Bleioxid
weist eine relativ niedrige Festigkeit auf, und wird leicht
zerstört, wenn das Basismaterial in das geschmolzene Lot
eingetaucht wird, so daß das innere, das geschmolzene Lot in
Berührung mit dem Basismaterial gelangt, und so das Löten
ermöglicht. Im Gegensatz hierzu wird bei einem zinkhaltigen
Lot leicht ein Zinkoxidfilm erzeugt, der ein starker Film
ist, und das geschmolzene Lot erheblich daran hindert, in
Berührung mit dem Basismaterial zu gelangen. Angesichts der
voranstehenden Überlegungen ist es zur Verbesserung der
Benetzbarkeit des Lots zunächst erforderlich, den
Kontaktwiderstand auszuschalten, der durch den Film auf der
Oberfläche des geschmolzenen Lots hervorgerufen wird. Zu
diesem Zweck ist es erforderlich, daß das geschmolzene Lot in
eine nicht-oxidierende Umgebung verbracht wird, bis es in
Kontakt mit dem Basismaterial gelangt, um zu verhindern, daß
Sauerstoff in Kontakt mit dem Lot gelangt und zur Ausbildung
eines Metalloxidfilms führt.
Es gibt einen weiteren Faktor, der die Benetzbarkeit des Lots
in Bezug auf das Basismaterial verschlechtert. Dies ist eine
Membran, die auf der Oberfläche des Basismaterials
ausgebildet wird. Im einzelnen wird im Falle eines
Basismaterials aus Kupfer eine Kupferoxidmembran auf der
Oberfläche des Basismaterials infolge des in der Atmosphäre
vorhandenen Sauerstoffs erzeugt, und führt zu einer
Beeinträchtigung der Benetzbarkeit und der
Verbindungsfestigkeit des Lots. Um daher die Benetzbarkeit
des Lots zu verbessern ist es erforderlich, die Oberfläche
des Basismaterials zu reinigen. Zu diesem Zweck ist es
relativ wirksam, Schwingungswellenenergie zur Verfügung zu
stellen, beispielsweise Ultraschallwellenenergie,
Hochfrequenzwellenenergie, Bogenwellenenergie und
dergleichen. Die Oberflächenmembran des Basismaterials wird
durch die Schwingungswellenenergie ausgebrochen oder
verteilt, und es wird ein direkter Kontakt des geschmolzenen
Lots und des Basismaterials gefördert, und eine festere
Lötverbindung. Wenn eine Membran aus Öl, Fett oder
dergleichen die Oberfläche des Basismaterials bedeckt, und so
die Benetzbarkeit mit dem Lot verhindert, ist die
Schwingungswellenenergie auch in der Hinsicht wirksam, die
Oberfläche des Basismaterials so zu reinigen, daß eine
derartige Abdeckung entfernt wird.
Aus den voranstehenden Überlegungen wird deutlich, daß dann,
wenn das Basismaterial das geschmolzene Lot in einer nicht
oxidierenden Umgebung berührt, während dem Basismaterial
Schwingungswellenenergie zugeführt wird, die Benetzbarkeit
mit dem Lot wesentlich verbessert wird, und das Löten mit
einem binären, bleifreien Lot erzielt werden kann. Darüber
hinaus wird die Ausbeute vollständiger Verbindungen, die
durch Löten hergestellt werden, durch Auswahl geeigneter
Bedingungen wesentlich verbessert.
Der Begriff "nicht-oxidierende Umgebung" bezeichnet eine
Umgebung, bei welcher das Metall des geschmolzenen Lots im
wesentlichen kein Oxid infolge einer oxidierenden Substanz
wie Sauerstoff und dergleichen bildet, und dies läßt sich
beispielsweise dadurch erzielen, daß der Atmosphäre ein nicht
aktives oder Inertgas zugeführt wird, oder durch Entfernen
der Luft mit einer Pumpe und dergleichen. Das Ausmaß der
nicht-oxidierenden Eigenschaften, welches bei der Umgebung
erforderlich ist, um die Benetzbarkeit durch das Lot zu
verbessern, unterscheidet sich in gewissem Ausmaß,
entsprechend der Tatsache, wie leicht sich das benutzte Lot
oxidieren läßt. Im Falle eines Lots aus Zinn und Zink,
welches eines der Lote darstellt, die unter den bleifreien
Loten die geringste Benetzbarkeit aufweisen, läßt sich eine
Verbesserung der Benetzbarkeit durch Verhinderung der
Erzeugung eines Metalloxids erkennen, wenn der
Sauerstoffgehalt der Atmosphäre etwa 10 000 ppm oder weniger
beträgt, wie in Tabelle 1 angegeben ist. Angesichts dieser
Überlegungen beträgt der Sauerstoffgehalt der nicht
oxidierenden Umgebung oder Atmosphäre beim Löten vorzugsweise
etwa 10 000 ppm oder weniger, und besonders bevorzugt etwa
500 ppm oder weniger.
Benetzbarkeit eines Lots aus Zinn und Zink
bei einer Kupferplatte
Benetzbarkeit eines Lots aus Zinn und Zink
bei einer Kupferplatte
Da Zink sich einfach oszillieren läßt, wird ein Zinn-Zink-
Lot, welches einen großen Zinkanteil aufweist, einfach durch
die Atmosphärenluft oxidiert, und führt leicht zu einer
Beeinträchtigung des Fließvermögens und der Benetzbarkeit
infolge der Erzeugung eines Metalloxids. Unter diesen
Gesichtspunkten ist ein Lot vorzuziehen, welches weniger Zink
enthält. Andererseits wird die Viskosität des geschmolzenen
Zinks bei derselben Temperatur in der Nähe der eutektischen
Zusammensetzung minimiert, also bei einem Zinkgehalt von etwa
9 Gew.-%, und steigen daher das Fließvermögen und die
Benetzbarkeit an. Unter diesem Gesichtspunkt ist ein Lot mit
eutektischer Zusammensetzung vorteilhaft. Da ein Lot, das
eine Zusammensetzung in der Nähe des eutektischen Punkts
aufweist, einen niedrigen Schmelzpunkt hat, ermöglicht es die
Verwendung eines derartigen Lots, eine niedrige Löttemperatur
zu wählen. Entsprechend diesem Absinken der Temperatur kann
die Gasabsorption des geschmolzenen Lots verringert werden,
die temperaturabhängig ist. Daher ist es einfacher, die
Oxidation des Lots durch Absorption von Atmosphärenluft zu
verhindern. Der in Tabelle 1 angegebene Abfall wird als
Ergebnis der voranstehend geschilderten Faktoren angesehen.
Gemäß den voranstehenden Ausführungen ist ein Zinn-Zink-Lot
mit einer Zusammensetzung in der Nähe des eutektischen
Punkts, anders ausgedrückt mit 3 bis 15 Gew.-% Zink,
geeignet, und ist ein Zinn-Zink-Lot mit eutektischer
Zusammensetzung (91Sn-9Zn) besonders hervorragend. Die
Benetzbarkeit des Zinn-Zink-Lots ist besonders gering im
Vergleich mit anderen verschiedenen binären Zinn-Loten, die
möglicherweise eine eutektische Legierung bilden, und andere
binäre Zinn-Lote zeigen denselben Abfall, wie er in Tabelle 1
aufgeführt ist. Jedes binäre Zinn-Lot, dessen
Sauerstoffgehalt 2000 ppm oder weniger beträgt, zeigt nämlich
eine gute Benetzbarkeit. Der Zusammensetzungsbereich, in
welchem das Lot eine gute Benetzbarkeit zeigt, beträgt etwa
0,1 bis 28 Gew.-% Silber im Falle eines Zinn-Silber-Lots,
etwa 21 bis 99,9 Gew.-% Wismuth im Falle eines Zinn-Wismuth-
Lots, etwa 0,1 bis 7,6 Gew.-% Kupfer in einem Zinn-Kupfer-
Lot, und etwa 0,1 bis 75 Gew.-% Indium in einem Zinn-Indium-
Lot, und bei jeder dieser Arten von Lot ist ein Lot besonders
vorzuziehen, welches eine eutektische Zusammensetzung
aufweist.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird der Sauerstoffgehalt im
Lot dadurch verringert, daß die Herstellung des
Rohmateriallots verbessert wird. In diesem Zusammenhang ist
es ebenfalls möglich, den Anteil anderer Bestandteile als
Zinn und von Metallen zu verringern, die eine eutektische
Legierung mit Zinn bilden. Daher kann nicht nur eine hohe
Benetzbarkeit erzielt werden, sondern sinkt auch die
Schmelztemperatur des Lots ab, so daß bei einem eutektischen
Lot aus Zinn und Zink bei einer Schmelztemperatur von etwa
210°C gelötet werden kann, also in der Nähe der eutektischen
Temperatur. Das Hinzufügen anderer Bestandteile wie Wismuth
oder dergleichen zur Absenkung der Schmelztemperatur ist
daher nicht nötig, und es erfolgt eine Verwendung als
Zweikomponentenlot oder binäres Lot zum Löten. Bei dieser
Zusammensetzung besteht keine Befürchtung, daß eine ternäre
eutektische Substanz erzeugt wird, und ist der Vorteil
vorhanden, daß stabile Löteigenschaften erzielt werden. Daher
kann eine Änderung der Umschmelztemperatur des Lotmaterials
unterdrückt werden. Auch der Einsatz beim Recycling ist
einfach. Anders ausgedrückt ist es vorzuziehen, wenn man den
Einfluß auf die Löteigenschaften berücksichtigt, keine
anderen Bestandteile als Zinn und Zink oder dergleichen
hinzuzufügen, die eine eutektische Legierung mit Zinn bilden.
Zum Einsatz beim Niedertemperaturlöten ist daher ein binäres
Lot geeignet, bei welchem der Sauerstoffgehalt weniger als
100 ppm beträgt, vorzugsweise weniger als 10 ppm, und keine
Fremdbestandteile mit Ausnahme unvermeidlicher
Verunreinigungen oder andere Metallbestandteile vorhanden
sind, also der Anteil an Fremdbestandteilen und anderen
Metallbestandteilen weniger als 0,1 Gew.-% beträgt. Unter
Verwendung eines derartigen Lots beim Löten in der
voranstehend geschilderten, nicht-oxidierenden Umgebung kann
darüber hinaus die Löttemperatur niedrig gehalten werden.
Die Herstellung eines Zinn-Zink-Legierungslotes, bei welchem
der Sauerstoffgehalt verringert ist, kann unter Verwendung
von Phosphor, Magnesium oder dergleichen erzielt werden, die
einen niedrigen Schmelzpunkt aufweisen, und leicht mit
Sauerstoff reagieren, um dieses zu entfernen, das heißt als
Antioxidationsmittel wirken. Im einzelnen wird
Zinkrohmaterial einem Zinnrohmaterial hinzugefügt, abhängig
vom Anteil an der Zusammensetzung einer gewünschten
Lotlegierung, und durch Erwärmung geschmolzen. Dann wird
Phosphor mit einem Gewichtsanteil von 0,01 bis 0,1 Gew.-% dem
geschmolzenen Material hinzugefügt. Dies führt dazu, daß sich
Sauerstoff in dem geschmolzenen Material mit Phosphor
verbindet, und als Schlacke auf der Oberfläche des
geschmolzenen Materials fließt. Dann wird diese Schlacke
entfernt, und das geschmolzene Material in eine Form
gegossen, in welcher es aushärtet. Daher erhält man ein
festes Lotmaterial, bei welchem der Sauerstoffgehalt auf
30 ppm oder weniger verringert ist. Durch diese Behandlung
kann auch der Anteil anderer Bestandteile oder
Verunreinigungen verringert werden.
Als Ausführungsform einer Vorrichtung, die dazu dient,
geschmolzenes Lot in Berührung mit einem Basismaterial in
einer nicht-oxidierenden Umgebung zu bringen, läßt sich ein
Eintauchschmelzbad angeben, welches mit einer
Versorgungseinheit für ein inaktives Gas versehen ist. Bei
diesem Schmelzbad wird Lot unter einer inaktiven
Gasatmosphäre geschmolzen, und wird ein Basismaterial in
geschmolzenes Lot eingetaucht. Es ist ebenfalls möglich,
Sauerstoff aus der Atmosphäre zu absorbieren und zu
entfernen, wenn eine Säule, ein Filter oder dergleichen
verwendet wird, die bzw. das mit einem
Sauerstoffabsorptionsmittel gefüllt ist, beispielsweise einer
oxidierbaren Substanz, und das geschmolzene Metall von der
Atmosphäre unter Verwendung eines Trennblechs abzutrennen.
Alternativ hierzu ist es ebenfalls möglich, durch
Bereitstellung des geschmolzenen Lots, welches in einer
nicht-oxidierenden Umgebung geschmolzen wird, direkt zum
Basismaterial durch eine Düse oder dergleichen, ohne Kontakt
mit der Atmosphäre, das geschmolzene Lot einfach in Kontakt
mit dem Basismaterial in einer nicht-oxidierenden Umgebung zu
bringen. Beim Erwärmen und Schmelzen von Lot unter Verwendung
eines Portions-Schmelzbades zum Eintauchen läßt sich die
nicht-oxidierende Umgebung einfach erzeugen, und wird der
Kostenwirkungsgrad dadurch verbessert, daß das Verhältnis des
Volumens der Atmosphäre über dem Lot in Bezug auf das Volumen
des Lots in dem Schmelzbad verringert wird, durch Einstellung
der Menge an Lot, die dem Bad eingegeben wird, oder durch
entsprechende Konstruktion der Form des Bades.
Da Lot Sauerstoff besonders leicht im geschmolzenen Zustand
absorbiert, so daß es schnell oxidiert wird, ist es
erforderlich, den Vorgang des Schmelzens des Lots, um das Lot
mit dem Basismaterial in Berührung zu bringen, in einer
nicht-oxidierenden Umgebung durchzuführen.
In Bezug auf das Reinigen der Oberfläche des Basismaterials
durch Schwingungswellenenergie ist es am wirksamsten, die
Schwingungswellenenergie direkt auf eine Lötposition des
Basismaterials oder deren Umgebung aufzubringen. Die
Schwingungswellenenergie, die eingesetzt werden soll, kann in
Abhängigkeit vom Einsatzzweck geeignet gewählt werden.
Elastische Wellen in der Nähe von Ultraschallwellen mit
15 kHz bis 1 MHz lassen sich einfach handhaben, und stellen
darüber hinaus eine geeignete Kontaktoberfläche zur
Verfügung. Die Fähigkeit, die Oxidmembran auf der Oberfläche
des Basismaterials aufzubrechen, hängt von der Größe der
Schwingungswellenenergie ab, die auf die Membran einwirkt.
Dieser Wirkungsgrad wird daher in Abhängigkeit von der
Entfernung zwischen der Schwingungswellenenergiequelle
(Oszillator) und der Membran festgelegt, aber Stärke der
Schwingungswellenenergie, und dem Medium, auf welches die
Schwingungen einwirken.
Wenn das Löten dadurch durchgeführt wird, daß die
Schwingungswellenenergie dem Lot und dem Basismaterial unter
einer nicht-oxidierenden Umgebung zugeführt wird, wird die
Benetzbarkeit des Lots in Bezug auf das Basismaterial
überraschend verbessert. Wenn nur entweder die nicht
oxidierende Umgebung oder Schwingungswellenenergie eingesetzt
wird, so läßt sich kein ordnungsgemäßes Löten durchführen,
und ergibt sich keine zufriedenstellende Ausbeute an
verlöteten Erzeugnissen.
Wenn ein geringer Anteil an Sauerstoff in der Atmosphäre oder
dem Lot vorhanden ist, so ist es möglich, die Ausbildung oder
das Wachstum eines Metalloxidfilms in dem geschmolzenen Lot
durch die voranstehend geschilderte Schwingungswellenenergie
zu verhindern, so daß der Kontakt zwischen dem geschmolzenen
Lot und dem Basismaterial verbessert wird.
Darüber hinaus wirkt die Schwingungswellenenergie so, daß sie
nicht nur die Benetzbarkeit, sondern auch die Trennung des
Lots verbessert. Gemäß der vorliegenden Erfindung wird daher
dem Lot eine äußerst hohe Benetzbarkeit und eine
hervorragende Trennung verliehen. Durch Verwendung eines
bleifreien Lots läßt sich nicht nur das Löten einer großen
Ebene erreichen, sondern auch das Löten einer kleinen,
bandförmigen Ebene und komplizierter Formen. Die
Löteinrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung kann daher
auch beim Verlöten mehrerer Drähte eingesetzt werden, die auf
einem Isoliersubstrat vorgesehen sind, das aus Harz oder
Keramik besteht, beispielsweise bei einer Gehäuseplatine oder
einer Platine mit einer gedruckten Schaltung, und
insbesondere beim exakten Verlöten dicht angeordneter Drähte.
Bei der Gehäuseplatine oder der Platine mit einer gedruckten
Schaltung des Halbleitergeräts ist ein Leitermuster aus einem
Leiter wie beispielsweise Wolfram, Kupfer oder dergleichen
auf einem isolierenden Substrat vorgesehen, das aus einem
wärmebeständigen Harz besteht, beispielsweise Epoxy-Glasharz
oder Keramik, beispielsweise Aluminiumnitrid. Um diese
Verdrahtung mit einer Eingangs/Ausgangsklemme zu verbinden,
beispielsweise einer Klemme eines Halbleiterelements, wird
Lot auf der Leitung angebracht, und umgeschmolzen, um eine
Verbindung mit dem Halbleitergerät auszubilden. Entsprechend
der erhöhten Anzahl von Funktionen von Halbleitergeräten und
deren Verkleinerung hat das Leitermuster des Substrats eine
hohe Dichte angenommen. Um eine Leitung geringer Breite mit
verringertem Unterteilungsabstand zu verlöten sind die
Benetzbarkeit und die Trennung des Lots erforderlich. In
dieser Hinsicht sind das Lötverfahren und die Löteinrichtung
gemäß der vorliegenden Erfindung dazu befähigt, diese
Anforderungen zu erfüllen. Durch Löten in einer nicht
oxidierenden Umgebung mit Zufuhr von Schwingungsenergie zum
Lot und dem Basismaterial (dem Draht oder der Leitung) kann
selbst dann, wenn ein bleifreies Lot verwendet wird, das
Löten mit hoher Genauigkeit bei Leitungen mit einer
Leitungsbreite von einigen zehn bis einigen hundert um und
entsprechenden Leitungsabständen erzielt werden, und tritt der
Fall nicht auf, daß ein Zwischenraum zwischen den Leitungen
mit Lot gefüllt wird, oder zwischen den Leitungen eine Brücke
ausgebildet wird.
Das Löten auf einer Verdrahtung (einem Leitungsmuster) eines
Substrats kann mit der nachstehend angegebenen Prozedur
erzielt werden. Zunächst wird als Lotmaterial beispielsweise
ein Lot aus Zinn und Zink mit einem Sauerstoffgehalt von
weniger als 0,01 Gew.-% verwendet, und wird das Lot bei einer
Temperatur oberhalb der Schmelztemperatur des Lots
geschmolzen, vorzugsweise bei 10 bis 50°C mehr als der
Liquidustemperatur, beispielsweise bei 210 bis 230°C. Als
nächstes wird das mit einem Leitungsmuster versehene Substrat
in das geschmolzene Lot eingetaucht, und
Schwingungswellenenergie auf das geschmolzene Lot ausgeübt.
Zu diesem Zweck werden elastische Wellen in der Nähe des
Ultraschallbereichs verwendet, beispielsweise in der Nähe von
18 kHz. Die Eintauchzeit des mit einem Leitungsmuster
versehenen Substrats beträgt vorzugsweise weniger als 10
Sekunden, besonders bevorzugt 0,01 bis 5 Sekunden. Um eine
unerwünschte Reaktion zu vermeiden ist die Eintauchzeit
vorzugsweise so kurz wie möglich. Nach dem Eintauchen wird
das Substrat mit dem Leitungsmuster aus dem geschmolzenen Lot
herausgezogen und abgekühlt. Dies führt dazu, daß man ein
Substrat erhält, bei welchem Lot nur an den Leitungen
anhaftet. Die Herausziehrichtung des ein Leitungsmuster
aufweisenden Substrats verläuft vorzugsweise parallel zur
Längsrichtung der Leitungen auf dem Substrat. Wenn die
Herausziehrichtung senkrecht zur Längsrichtung der Leitungen
liegt, wird die Lotabtrennung schlechter als bei einer
parallelen Ausrichtung. Falls nicht nur eine einzige Richtung
der Leitungsanordnung auf dem Substrat vorhanden ist, so
verläuft vorzugsweise die Herausziehrichtung des ein
Leitungsmuster aufweisenden Substrats nicht senkrecht zur
Längsrichtung der Leitungen.
Wie aus der voranstehenden Beschreibung deutlich wird, wird
durch das Lötverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung
erreicht, daß die Benetzbarkeit des Lots verbessert wird, und
zwar durch Einstellung der Berührungsfläche zwischen dem
geschmolzenen Lot und dem Basismaterial auf einen geeigneten
Zustand. Daher läßt sich die vorliegende Erfindung nicht nur
beim Löten mit einem bleifreien Lot einsetzen, beispielsweise
einem Zinn-Zink-Lot, einem Zinn-Silber-Lot, einem Zinn-
Wismuth-Lot, einem Zinn-Silber-Kupfer-Lot, einem Zinn-
Wismuth-Silber-Kupfer-Lot und dergleichen, sondern auch beim
Löten mit einem bleihaltigen Lot, einem aus einem einzigen
Metall bestehenden Lot, und einem Lot, welches eine andere
Substrat als ein Metall enthält. Darüber hinaus läßt sich die
vorliegende Erfindung beim Plattieren durch Einsatz eines
derartigen Lots als Plattierungsmaterial verwenden, bei
Montagearbeiten unter Verwendung eines Verbindungsmaterials,
und dergleichen.
In Bezug auf das Basismaterial kann die vorliegende Erfindung
nicht nur bei einem Basismaterial aus einem einzigen Metall
eingesetzt werden, beispielsweise Kupfer, Silber, Gold,
Nickel, Aluminium, Silikon, Edelstahl und dergleichen,
sondern auch bei einem Legierungsmaterial, einem
Verbundmetall und dergleichen. Weiterhin läßt sich die
vorliegende Erfindung beim Löten von Drähten oder Leitungen
auf einem Substrat einsetzen, welches aus Glas, Keramik, Harz
und Verbundmaterialien aus diesen Substanzen besteht. Durch
Einsatz und Abänderung der vorliegenden Erfindung ist es
darüber hinaus möglich, ein direktes Auflöten auf Keramik und
dergleichen durchzuführen.
Fig. 1 zeigt eine Ausführungsform der Löteinrichtung gemäß
der vorliegenden Erfindung. Diese Löteinrichtung 1 weist ein
Schmelzbad 5 auf, das mit einer Heizvorrichtung 3 zum
Schmelzen von Lot durch Wärme versehen ist, einen Oszillator
7 zur Erzeugung elastischer Wellen, beispielsweise
Ultraschallwellen, die durch Lot S übertragen werden, das in
dem Schmelzbad 5 geschmolzen ist, und ein Gaseinspritzgerät 9
zum Einspritzen eines inaktiven Gases oder Inertgases in das
Schmelzbad 5, um eine Oxidation des geschmolzenen Lotes S zu
verhindern.
Nach dem Eingeben in das Schmelzbad 5 wird das Lot S, das
durch die Heizvorrichtung 3 geschmolzen wurde, auf einer
konstanten Temperatur gehalten, durch ein
Temperaturregelgerät 13, welches einen Sensor 11 zur
Feststellung der Temperatur des Lots aufweist. Die Temperatur
des Lots S wird so eingestellt, daß sie geringfügig höher ist
als der Schmelzpunkt des Lots. Die Wellenlänge der
elastischen Wellen, die von dem Oszillator 7 ausgesandt
werden, wird auf geeignete Weise durch ein Einstellgerät 15
kontrolliert. Ein Basismaterial 17, welches verlötet werden
soll (oder ein Substrat mit einem Leitungsmuster) wird durch
eine bewegbare Halterung 19 gehalten. In einer
Ablaufsteuerung 21 werden vorher die Eintauchzeit für das
Basismaterial 17 in das Lot S, die Zufuhrgeschwindigkeit für
das Basismaterial 17 in das Lot S, und die
Herausziehgeschwindigkeit des Basismaterials 17 aus dem Lot S
eingestellt. Der bewegbare Halter 19 wird entsprechend diesen
Einstellungen bewegt. Das Lot S wird durch eine Umlaufpumpe
23 im Umlauf gehalten, die in dem Schmelzpunkt 5 vorgesehen
ist.
Fig. 2 zeigt eine weitere Ausführungsform der
Löteinrichtung. Diese Löteinrichtung 25 enthält ein
Leitungsrohr 27, das vom inneren des Schmelzbades 5 nach
außen verläuft, und die Umlaufpumpe oder Umwälzpumpe 23 ist
in dem Leitungsrohr 27 angeordnet. Auf diese Weise wird das
geschmolzene Lot S in dem Schmelzbad 5 umgewälzt, und
erreicht die Außenseite des Schmelzbades 5. Das geschmolzene
Lot S in dem Leitungsrohr 27 kann über eine Auslaßöffnung 29
aufgenommen werden. Da die übrigen Abschnitte dieser
Einrichtung dieselbe Funktion haben wie jene Abschnitte, die
in Fig. 1 mit denselben Bezugszeichen bezeichnet sind,
erfolgt insoweit keine erneute Beschreibung.
Fig. 3 zeigt eine weitere Ausführungsform der
Löteinrichtung. Ein Oszillator 33 dieser Löteinrichtung 31
ist so aufgebaut, daß eine elastische Welle direkt auf das
Basismaterial einwirkt (oder ein mit einem Leitungsmuster
versehenes Substrat und dergleichen), nämlich 17. Der
Oszillator 33 ist mit einem Spalt 35 versehen, in welchen das
Basismaterial 17 eingeführt werden kann. Durch Einführung des
Basismaterials 17 in den Spalt 35 werden die elastischen
Wellen direkt auf das Basismaterial 17 übertragen, so daß das
Aufbrechen und das Abt rennen einer Oxidmembran auf der
Oberfläche des Basismaterials 17 beschleunigt werden. Da die
übrigen Abschnitte dieselbe Funktion haben wie jene
Abschnitte, die in Fig. 1 mit denselben Bezugszeichen
bezeichnet sind, erfolgt insoweit keine erneute Beschreibung.
Es ist auch eine solche Konstruktion möglich, daß die Breite
des Spaltes 35 größer als die Breite des Basismaterials ist,
so daß der Oszillator 33 in Berührung mit einer einzigen
Oberfläche des Basismaterials gelangt, und die
Schwingungsenergie abwechselnd auf die jeweiligen Oberflächen
des Basismaterials übertragen wird.
Die Fig. 4 und 5 zeigen ein Beispiel für eine
Löteinrichtung, welche zwei Schmelzbäder aufweist, so daß das
Lotmaterial ersetzt werden kann, ohne daß der Lötvorgang
unterbrochen werden muß. Diese Löteinrichtung 41 weist einen
Arm 43 auf, der auf einer Haltebasis 45 vorgesehen ist, das
Basismaterial ergreift, und es in Vertikalrichtung anhebt
bzw. absenkt. Weiterhin sind zwei Schmelzbäder 47a, 47b, die
aneinander befestigt sind, gleitbeweglich auf der Haltebasis
45 in einer einzigen Richtung vorgesehen. Deckel 49a, 49b
sind zu dem Zweck vorgesehen, die Oberseiten der Schmelzbäder
47a, 47b abzudecken. Unterhalb der Deckel 49a, 49b sind
schmale, rechteckige Fenster 51a, 51b an Endabschnitten der
Schmelzbäder 47a, 47b vorgesehen. Die Fenster 51a, 51b sind
nach oben hin offen. Die Gleitrichtung der Schmelzbäder 47a,
47b ist so festgelegt, daß dann, wenn ein Basismaterial 53
durch Betätigung des Arms 43 abgesenkt wird, das
Basismaterial entweder in das Schmelzbad 47a oder 47b durch
das Fenster 51a bzw. 51b eingeführt werden kann, durch
Verschiebung der Schmelzbäder 47a, 47b. Weiterhin ist ein
Vibrator 55, der sich in Horizontalrichtung erstreckt, um
elastische Wellen, beispielsweise Ultraschallwellen zu
liefern, auf der Haltebasis 45 angeordnet, so daß er
senkrecht zur Gleitrichtung der Schmelzbäder 47a, 47b
verschoben werden kann. Wenn das Schmelzbad 47a an einem Ort
angeordnet ist, an welchem das Basismaterial 53 auf dem Arm
43 in das Schmelzbad 47a eingetaucht werden kann, wird der
Vibrator 55 so angeordnet, daß ein Ende des Vibrators 55 von
einer Seitenöffnung des Schmelzbades 47a nach überhalb des
geschmolzenen Lots eingeführt wird, und das abgesenkte
Basismaterial 53 sich in der Nähe des Endes des Vibrators 55
befindet. Die Schmelzbäder 47a, 47b weisen Drehflügel 57a,
57b auf. Durch Drehen der Drehflügel 57a, 57b wird ein
Düsenstrahlstrom in dem geschmolzenen Lot in den
Schmelzbädern 47a, 47b erzeugt, so daß der Düsenstrahlstrom
auf das Ende des Vibrators 55 auftrifft, und das
Basismaterial 53 abgesenkt wird. Die Schmelzbäder 47a, 47b
weisen jeweils ein Leitungsrohr zum Liefern eines inaktiven
Gases oder Inertgases auf, und die Auslässe 59 der
Leitungsrohre sind an einem oberen Abschnitt einer Seitenwand
des Schmelzbades 47a angeordnet, so daß das inaktive Gas,
welches von dem Leitungsrohr zugeführt wird, die Oberfläche
des geschmolzenen Lots abdeckt, und den Düsenstrahlstrom des
geschmolzenen Lots umgibt. Die Halterungsbasis 45 enthält
eine Steuerung 61 zum Steuern des Betriebs und der Positionen
der Schmelzbäder 47a, 47b, ein Flußmeßgerät 63 zum Steuern
der Zufuhrmenge des inaktiven Gases, und einen Oszillator 65
zum Steuern der elastischen Wellen, die von dem Vibrator 55
geliefert werden.
Bei der voranstehend geschilderten Anordnung wird das
Schmelzbad 47a unmittelbar unterhalb des Arms angeordnet, und
wird Lot in die Schmelzbäder 47a, 47b eingegeben und durch
Wärmeeinwirkung geschmolzen, während das inaktive Gas den
Schmelzbädern 47a, 47b zugeführt wird. Die Drehflügel 57a
werden so gedreht, daß ein Düsenstrahlstrom erzeugt wird, und
von dem Vibrator 55 werden elastische Wellen oder
Schwingungen erzeugt. Das Basismaterial 53 wird von dem Arm
43 ergriffen und so abgesenkt, daß es in Berührung mit dem
Düsenstrahlstrom aus dem geschmolzenen Lot gelangt. Dann wird
das Basismaterial 53, welches sich in geringer Entfernung von
dem Vibrator 55 befindet, in Richtung auf den Vibrator 55
angezogen, infolge des Einflusses der elastischen Wellen, und
gelangt in Berührung mit dem Vibrator 55. Dies führt dazu,
daß die elastischen Wellen direkt dem Basismaterial 53
zugeführt werden, so daß die Benetzbarkeit des geschmolzenen
Lots verbessert wird. Daraufhin wird der Arm 43 angehoben, um
das Basismaterial 53 aus dem geschmolzenen Lot zu entfernen.
Wenn das zum Löten verwendete Lot gegen ein anderes Lot
ausgetauscht wird, werden die Schmelzbäder 47a, 47b so
verschoben, daß sich das Schmelzbad 47b unmittelbar unterhalb
des Arms 43 befindet. Dann werden die Drehflügel 57a
angehalten, und die Drehflügel 57b in Betrieb genommen, und
daraufhin wird dieselbe Prozedur wiederholt, wie sie
voranstehend beschrieben wurde.
Die Löteinrichtung 41, die mit zwei Schmelzbädern versehen
ist, ermöglicht es, die Zeit einzusparen, die zum Austausch
des Lots bei dem Lötvorgang erforderlich ist. Diese
Einrichtung ist insbesondere in einem solchen Fall effektiv,
wenn zwei Arten von Lot bei einem einzigen Basismaterial
angebracht werden sollen.
Bei der voranstehend geschilderten Löteinrichtung 41 ist es
möglich, die Schmelzbäder 47a, 47b so zu befestigen, daß der
Arm 43 und der Vibrator 55 in Horizontalrichtung auf der
Halterungsbasis 45 bewegt werden können. Es ist ebenfalls
möglich, zwei Vibratoren auf jedem Schmelzbad anzuordnen, so
daß nur die Horizontalposition des Arms geändert wird.
Die voranstehend geschilderte Löteinrichtung ist zum böten
oder Plattieren des relativ großen Bereiches geeignet, wobei
das Basismaterial in das geschmolzene Lot eingetaucht wird,
jedoch ist eine Löteinrichtung, welche Lot durch eine Düse
einspritzt, zum Verlöten kleiner Abschnitte von
Leitungsmustern und die Montage von Halbleitern und
dergleichen geeignet. Als nächstes wird ein Beispiel für eine
mit einer Düse arbeitenden Einrichtung beschrieben.
Fig. 6 zeigt ein Beispiel für eine Düsen-Löteinrichtung
gemäß der vorliegenden Erfindung. Diese Löteinrichtung 100
weist ein Schmelzbad 101 zum Erwärmen und Schmelzen des Lotes
auf, eine an das Schmelzbad 101 angeschlossene Düse 103, die
eine Heizvorrichtung (nicht gezeigt) aufweist, eine
Oszillatoreinheit 105, die an der Düse 103 angebracht ist,
eine Einheit 107 zur Erzeugung eines elektrischen Feldes, die
entlang der Einspritzrichtung der Düse 103 angeordnet ist,
und Platten zur Erzeugung eines elektrischen Feldes aufweist,
eine Gaszufuhreinheit 109 zum Liefern eines inaktiven Gases
oder eines Inertgases, und eine Übertragungseinheit 111. Das
Lot wird in das Schmelzbad eingebracht, und durch Erwärmung
geschmolzen. Daraufhin wird das geschmolzene Lot der Düse 103
mit konstanter Geschwindigkeit zugeführt. Elastische Wellen,
die von der Oszillatoreinheit 105 abgestrahlt werden, werden
auf das geschmolzene Lot S in der Düse 103 übertragen. Daher
wandelt sich das Lot S in Tröpfchen S' um, die in
regelmäßigen Abständen von der Düsenöffnung 103' der Düse 103
abgegeben werden. Ein Tröpfchen S', das von der Düse 103
ausgestoßen wird, wird durch die Platten zur Erzeugung eines
elektrischen Feldes der Einheit 107 zur Erzeugung eines
elektrischen Feldes aufgeladen, und bewegt sich in dem
elektrischen Feld, das von der Einheit 107 erzeugt wird. Das
elektrische Feld, welches von der Einheit 107 erzeugt wird,
wird durch eine Steuerung 113 gesteuert, und entsprechend
ändert sich die Bahn des Tröpfchens S'. Das Tröpfchen S'
erreicht das Substrat 115, welches ein Basismaterial
darstellt, und auf die Übertragungseinheit 111 aufgesetzt
ist. Die Düse 103 ist mit einer Haube 117 versehen, um eine
Oxidation des Tröpfchens S' zu verhindern, nämlich durch ein
inaktives oder Inertgas, das von der Gaszufuhreinheit 109
geliefert wird. Die Einheit 107 zur Erzeugung eines
elektrischen Feldes ist an die Steuerung 113 angeschlossen,
und die Steuerung 113 weist eine
Positionierungssteuerfunktion auf, um die
Übertragungsgeschwindigkeit der Übertragungseinheit 111 zu
steuern, und das von der Einheit 107 erzeugte elektrische
Feld, so daß das Tröpfchen S' einen gewünschten Ort auf dem
Substrat 115 erreicht. Weiterhin ist ein Behälter 119
vorgesehen, um die Tröpfchen zurückzugewinnen, die das
Substrat 115 nicht erreichen, und das zurückgewonnene Lot
wird zum Schmelzbad 101 über eine Umwälzvorrichtung
zurücktransportiert (in der Figur nicht gezeigt). Die
Übertragungseinheit 111 weist eine Heiz/Kühleinheit 121 auf,
und die Temperatur des Schmelzbades 101, der Heiz/Kühleinheit
121 und der Düse 103 werden durch eine Temperatursteuerung
oder Temperaturregelung 123 gesteuert bzw. geregelt.
Weiterhin ist die Übertragungseinheit 111 mit einem
Oszillator 125 zum Liefern elastischer Wellen an das Substrat
115 versehen. Die Wellenlänge der elastischen Wellen, die von
dem Oszillator 125 und der Oszillatoreinheit 105 übertragen
werden, wird durch eine Frequenzeinstelleinheit 127
gesteuert.
Bei der voranstehend geschilderten Einrichtung wird die
Oszillatoreinheit 105 als Vorrichtung zum Ausstoß von Lot
verwendet, und kann durch eine bekannte Vorrichtung ersetzt
werden, die mit Funken oder Blasen arbeitet, und bei der
Tintenstrahltechnik verwendet wird.
Ein Beispiel für das Einspritzen beispielsweise eines Lots,
bei welchem der Zinnanteil zumindest 90,9 Gew.-% beträgt, der
Zinkanteil 9 Gew.-%, und der Anteil anderer metallischer
Elemente weniger als 0,1 Gew.-% beträgt, und der
Sauerstoffgehalt weniger als 5 ppm beträgt (eutektischer
Punkt: 198°C), unter Verwendung der voranstehend
geschilderten Löteinheit 100, wird nachstehend beschrieben.
Zuerst wird das Lot in das Schmelzbad 101 eingebracht, und
wird von der Gaszufuhreinheit 109 Stickstoffgas in die Nähe
der Düse 103 als inaktives Gas oder Inertgas geliefert,
während das Lot in dem Schmelzbad 101 auf der Temperatur von
280°C gehalten wird, so daß es vollständig geschmolzen ist.
Das geschmolzene Lot wird der Düse 103 zugeführt, und
elastische Wellen, die von der Oszillatoreinheit 105
geliefert werden, werden dem geschmolzenen Lot S zugeführt.
Dies führt dazu, daß kleinere Lottröpfchen S' aus der Düse
103 ausgestoßen werden. Wenn sich das elektrische Feld, das
von der Einheit 107 zur Erzeugung eines elektrischen Feldes
erzeugt wird, nicht ändert, erreichen die Lottröpfchen S'
einen vorbestimmten Ort auf dem Substrat 115, so daß die
Lottröpfchen S' übereinander gestapelt werden, und sich
verfestigen, wodurch allmählich die Dicke des Lots auf dem
Substrat 115 erhöht wird. Wenn in diesem Zustand die
Übertragungseinheit 111 in Horizontalrichtung mit konstanter
Geschwindigkeit bewegt wird, werden aufeinanderfolgende
Punkte oder eine Linie durch Lotteilchen auf dem Substrat
ausgebildet. Durch Zufuhr elastischer Wellen zum Substrat 115
durch den Oszillator 125 wird, wenn die Löttröpfchen S' in
Berührung mit dem Substrat 115 gelangen, der Oxidfilm oder
die Oxidmembran auf der Oberfläche des Substrats 115
aufgebrochen, so daß die Benetzbarkeit verbessert wird.
Durch den Lötvorgang unter Verwendung der voranstehend
geschilderten Düse wird das Löten an Punkten mit einem
Durchmesser von 5 µm bis 50 µm oder das Löten einer Linie mit
derselben Breite ermöglicht.
Eine Heiz/Kühleinheit 121 der Übertragungseinheit 111 wird
dazu verwendet, die Verfestigung des Lots auf dem Substrat zu
steuern, und kann dazu verwendet werden, die Dicke des
aufgebrachten Lots zu erhöhen. Wenn beispielsweise die
Temperatur des Substrats unter den eutektischen Punkt des
Lots abgesenkt wird, so beginnt sich das Lottröpfchen,
welches die Oberfläche des Substrats erreicht, zu
verfestigen. Wenn dieses Substrat über den eutektischen Punkt
hinaus wieder erwärmt wird, beginnt das verfestigte Lot
damit, erneut geschmolzen zu werden, so daß sich ein
halbgeschmolzener Zustand ergibt, in welchem eine Mischung
aus flüssiger Phase und fester Phase auftritt. Die
Oberflächenspannung des Lots in diesem Zustand ist größer als
bei einem vollständig geschmolzenen Lot. Wenn ein weiteres
Lottröpfchen dem Lot in dem halbgeschmolzenen Zustand
hinzugefügt wird, verläuft es daher nicht in
Horizontalrichtung, sondern vereinigt sich mit dem
halbgeschmolzenen Lot, so daß es sich verfestigt. Dies führt
dazu, daß ein Lotfilm mit einer ausreichenden Dicke erhalten
wird. Der Ort und die Temperatur der Heiz/Kühleinheit 121 der
Übertragungseinheit 111 werden daher so festgelegt, daß das
zusätzliche Lottröpfchen in geeigneter Weise dem Lot in dem
halbgeschmolzenen Zustand auf dem Substrat 115 hinzugefügt
werden kann. Durch Aufeinanderstapeln von Lotpunkten mit
Hilfe mehrerer Düsen wird daher ein dicker Lotfilm
ausgebildet.
Eine in Fig. 7 gezeigte Löteinrichtung 200 weist eine Düse
203 auf, die mit mehreren Düsenöffnungen 203a', 203b' und 203c'
versehen ist. Lottröpfchen Sa', Sb' und Sc' werden von
den jeweiligen Düsenöffnungen durch Oszillatorgeräte 105a,
105b und 105d ausgestoßen, und erreichen das Substrat 115
durch Durchgangsöffnungen 209a, 209b, 209c, die auf dem
Behälter 219 zur Rückgewinnung des Lots vorgesehen sind.
Lottröpfchen, die nicht durch die Durchgangsöffnungen 209a,
209b und 209c hindurchgehen, infolge der Auswirkungen des
elektrischen Feldes, welches von der Einheit 107 zur
Erzeugung eines elektrischen Feldes erzeugt wird, werden
durch den Behälter 219 zurückgewonnen, und zum Schmelzbad 101
zurückgebracht. Teile, die mit denselben Bezugszeichen wie in
Fig. 6 bezeichnet sind, führen die gleichen Aktionen aus wie
entsprechende Teile der Löteinheit 100, so daß insoweit hier
keine erneute Beschreibung erfolgt.
Das Lötverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung kann von
einer Düseneinheit ausgeführt werden, bei welcher
Schwingungsenergie von der Düse selbst einem Basismaterial
zugeführt wird, welches verlötet werden soll. Es ist
beispielsweise die folgende Düseneinheit verfügbar. Ein
Oszillator zur Erzeugung elastischer Wellen ist in der Nähe
einer Düse vorgesehen, die mit einem Schmelzbad in Verbindung
steht, in welchem Lot in einer nicht-oxidierenden Umgebung
geschmolzen wird, und die Düse ist so abgeschirmt, daß die
Düsenspitze von einer Umgebung aus einem nicht-oxidierenden
Gas abgedeckt wird, und ein nicht-oxidierendes Gas wie
beispielsweise Stickstoff in dieser Umhüllung fließt. Während
ein nicht-oxidierendes Gas der Düsenspitze einer derartigen
Düseneinheit zugeführt wird, nähert sich die Düse an das
Basismaterial an, welches verlötet werden soll, und wird dann
die Düsenspitze in Berührung mit dem Basismaterial gebracht.
Während das geschmolzene Lot, welches von dem Schmelzbad der
Düsenspitze zugeführt wird, in Berührung mit dem
Basismaterial gebracht wird, läßt man auf die Düse
Schwingungsenergie einwirken. Daraufhin wird die Düse von dem
Basismaterial entfernt, während eine vorbestimmte Menge an
Lot aus der Düsenspitze herausgedrückt wird. Durch diese
Operation kann ein Löten kleiner Teile erzielt werden. Es ist
zulässig, die Düsenspitze in geringer Entfernung von dem
Basismaterial zu halten, und Schwingungsenergie nur dann
zuzuführen, wenn das geschmolzene Lot in Kontakt mit dem
Basismaterial gehalten wird. Wenn die Düse bewegt wird,
während ständig geschmolzenes Lot herausgedrückt wird, kann
das Löten entlang einer Linie durchgeführt werden.
Wenn die Schwingungswellenenergie auf ein Substrat einwirkt,
welches in geringer Neigung angeordnet ist, und wenn ein
nicht-oxidierendes Gas durch die voranstehend geschilderte
Düse so ausgestoßen wird, daß das geschmolzene Lot über das
Substrat verteilt wird, wird das Leitungsmuster des Substrats
durch das Lot benetzt. Überschüssiges Lot fließt vom Substrat
herunter und wird dann zurückgewonnen.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist es möglich, eine
Löteinrichtung zum Löten mit einer Maske auszubilden. In
diesem Fall umfaßt die Löteinrichtung beispielsweise ein
Lotzufuhrteil zum Liefern des geschmolzenen Lots in Form
einer Ebene durch Ausstoßen des geschmolzenen Lots aus einer
ebenen Platte, die mehrere kleine Ausstoßlöcher aufweist,
einen auf der ebenen Platte vorgesehenen Generator für
elastische Wellen, ein Zufuhrrohr für ein inaktives Gas oder
Inertgas, und eine Maske. Bei einer derartigen Löteinrichtung
wird die Maske so angeordnet, daß sie das Basismaterial
überlagert, wird das Lotzufuhrteil in Berührung mit der Maske
gebracht, während die Atmosphäre durch das inaktive Gas oder
Inertgas ersetzt wird, wird das geschmolzene Lot in Kontakt
mit dem Basismaterial durch die Löcher der Maske gebracht,
und läßt man Schwingungswellenenergie einwirken, so daß das
Lot an dem Basismaterial anhaftet. Dann werden das
Lotzufuhrteil und die Maske von dem Basismaterial entfernt.
Festes Lot läßt sich schwieriger oxidieren als geschmolzenes
Lot, und die vorliegende Erfindung läßt sich auch beim Löten
mit festen Lotteilchen einsetzen. Wenn beispielsweise die
festen Lotteilchen in enge Berührung mit dem Basismaterial
gebracht werden, so daß eine Oberflächenberührung zwischen
den Lotteilchen und dem Basismaterial erzielt wird, befindet
sich dazwischen keine Atmosphäre, so daß die
Kontaktgrenzfläche im wesentlichen eine nicht-oxidierende
Umgebung darstellt. Wenn Schwingungswellenenergie auf die
Lotteilchen einwirkt, während die Lotteilchen durch
Wärmeeinwirkung geschmolzen werden, ergibt sich eine relativ
gute Benetzbarkeit des geschmolzenen Lots an dem
Basismaterial. Wenn daraufhin das Basismaterial abgekühlt
wird, ist das Löten beendet. Ein Lötvorgang mit derartigen
Lotteilchen kann unter Verwendung eines Lötkolbens
durchgeführt werden, wie er in Fig. 8 gezeigt ist. Dieser
Lötkolben 300 weist ein Eisenteil 301 auf, welches eine
Heizvorrichtung zur Erhitzung des Lots enthält, und einen
Ultraschallwellenoszillator 303, der in dem Eisenteil 301
vorgesehen ist. Der Ultraschallwellenoszillator 303 ist in
der Nähe einer Heizoberfläche des Eisenteils 301 angeordnet,
und liefert Schwingungswellenenergie wirksam an das
geschmolzene Lot. Die Entfernung zwischen der Heizoberfläche
des Eisenteils 301 und dem Schwingungsabschnitt des
Ultraschallwellenoszillators 303 beträgt bevorzugt 1 bis
10 mm. Die Schwingungswellenenergie wird an die Oberfläche
des Basismaterials durch das Lot übertragen, welches durch
Erwärmung des Eisenteils 301 geschmolzen wird. Weiterhin ist
ein (nicht dargestellter) Temperatursensor in dem Eisenteil
301 enthalten, und an eine Temperatursteuerung und eine
Einstellvorrichtung für die Ultraschallwellen angeschlossen.
Der in Fig. 8 gezeigte Lötkolben kann als Lötarm für einen
Lötschritt in der nicht-oxidierenden Umgebung einer
automatischen Einrichtung verwendet werden.
Fig. 9 zeigt einen weiteren Lötkolben. Der Lötkolben 400
weist ein Gaszufuhrrohr 405 zur Abdeckung eines Eisenteils
401 auf, und enthält einen Ultraschallwellenoszillator 403.
Um die Umgebung zum Schmelzen des Lots durch Wärmeeinwirkung
in einem nicht-oxidierenden Zustand zu halten, wird ein
inaktives Gas oder Inertgas von dem Gaszufuhrrohr 405 der
Umgebung einer Heizoberfläche des Lötkolbens 401 zugeführt.
Die Lötkolben 300, 400, die in den Fig. 8 und 9 gezeigt
sind, können nicht nur bei Lötvorgängen von Hand und im
automatischen Betrieb bei der automatischen Einrichtung
verwendet werden, sondern auch zur Korrektur unvollständiger
Lötverbindungen und dergleichen. Weiterhin können die
Lötkolben 300, 400 vorzugsweise zum Löten unter Verwendung
einer Lötpaste verwendet werden, in welcher ein Flußmittel
mit Lotmaterial gemischt ist. In diesem Fall wird, nachdem
das Flußmittel durch Erhitzung der Lötpaste vorher entfernt
wurde, das Lot durch den Lötkolben erhitzt, und wird
gleichzeitig Schwingungswellenenergie zugeführt. Wenn der
Lötkolben 400 von Fig. 9 verwendet wird, so ist es möglich,
die Lötpaste vorher dadurch zu erwärmen, daß das aktive Gas
aufgeheizt wird, welches von einem Gaszufuhrrohr 405
geliefert wird.
Fig. 10 zeigt ein Beispiel für eine Löteinrichtung, die so
aufgebaut ist, daß das inaktive Gas umgewälzt und
zurückgewonnen wir, welches zugeführt wird, um einen
Lötarbeitsbereich in einer Umgebung aus inaktivem Gas oder
Inertgas zur Verfügung zu stellen. Diese Löteinrichtung 500
weist ein Schmelzbad 503 auf, das mit einer Heizvorrichtung
501 zum Schmelzen von Lot versehen ist, eine Pumpe 505 zum
Umwälzen des geschmolzenen Lots S, einen Vibrator 507 zum
Liefern elastischer Wellen an das Lot S, das von einer Pumpe
505 zugeführt wird, die in der Nähe der Oberfläche des
geschmolzenen Lots angeordnet ist, ein Gaszufuhrrohr 509, und
ein Gassaugrohr 511. Das Lot S, das durch die Heizvorrichtung
501 geschmolzen wurde, wird oberhalb des Vibrators 507 aus
einem Ausgang der Pumpe 505 ausgestoßen. Durch Anordnung des
Basismaterials oberhalb des Vibrators 507 gelangt das
ausgestoßene Lot S in Berührung mit dem Basismaterial, so daß
die elastischen Wellen von dem Vibrator 507 an das
Basismaterial über das Lot S übertragen werden. Die
Atmosphärenluft über der Oberfläche des Lots S wird durch ein
inaktives oder Inertgas wie beispielsweise Stickstoff
ersetzt, welches aus dem Gaszufuhrrohr 509 ausgestoßen wird,
um so eine Oxidation der Oberfläche des Lots S und des
Basismaterials zu unterdrücken. Die Atmosphärenluft, die
durch das inaktive oder Inertgas ersetzt wird, wird über das
Gassaugrohr 511 ausgestoßen, um einen Anstieg des
Sauerstoffgehalts infolge einer Zumischung von Sauerstoff von
außen zu verhindern, und um recycelt zu werden. Das
Gassaugrohr 511 ist an eine Sauerstoffentfernungseinrichtung
(nicht gezeigt) angeschlossen. Weiterhin sind Sensoren 513,
515 zur Feststellung der Temperatur des Lots, das zum Lot im
Schmelzbad ausgestoßen wird, und des Basismaterials
vorgesehen, und an eine Temperatursteuerung 517 zum Steuern
oder Regeln der Heiztemperatur der Heizvorrichtung 501
entsprechend der gemessenen Temperatur angeschlossen. Die
Frequenz der elastischen Wellen, die von dem Vibrator
abgegeben werden, wird durch eine
Schwingungsfrequenzeinstellvorrichtung 519 gesteuert.
Oberhalb des Schmelzbades 503 sind ein Rack 521 zum Tragen
des Basismaterials und eine Transportvorrichtung 525 mit
variabler Geschwindigkeit zur Bewegung des Racks 521 entlang
einer Schiene 523 vorgesehen. Das Transportgerät 525 mit
variabler Geschwindigkeit wird durch eine Steuerung 527 so
gesteuert, daß die Transportgeschwindigkeit und die Höhe des
Racks 521 entsprechend gesteuert werden.
Eine Platine 529 mit einer gedruckten Schaltung, die eine
Anschlußfläche 531 aufweist, ist auf dem Rack 521 der in
Fig. 10 gezeigten Einrichtung angebracht, wobei die
Anschlußfläche 531 nach unten zeigt, und nach oberhalb des
Schmelzbades 503 durch das Transportgerät 525 mit variabler
Geschwindigkeit entlang der Schiene 525 transportiert wird.
Wenn sich die Anschlußfläche 531 oberhalb des Vibrators 507
befindet, gelangt das geschmolzene Lot S, weiches von der
Pumpe 505 ausgestoßen wird, in Berührung mit der
Anschlußfläche 531. Gleichzeitig werden elastische Wellen,
die vom Vibrator 507 geliefert werden, an die Anschlußfläche
über das geschmolzene Lot S übertragen. Die Umgebung wird
dadurch nicht-oxidierend ausgestaltet, daß das inaktive oder
Inertgas von dem Gaszufuhrrohr 509 zugeführt wird, so daß die
Anschlußfläche ordnungsgemäß verlötet wird. Die Platine 529
mit der gedruckten Schaltung, bei welcher das Verlöten der
Anschlußfläche beendet ist, wird aus dem Schmelzbad 503
entfernt. Eine Umgebung, in welcher Sauerstoff zugemischt
wird, infolge des Transports der Platine mit der gedruckten
Schaltung, wird ständig durch das Gassaugrohr 511 vermieden,
so daß eine nicht-oxidierende Umgebung aufrechterhalten wird.
Auf die voranstehende Art und Weise wird die Anschlußfläche
der Platine mit einer gedruckten Schaltung aus einem
Epoxyharzglasmaterial als Basismaterial verlötet. In diesem
Fall wird vorzugsweise eine derartige Konstruktion
vorgesehen, daß der Transport des Substrats so eingestellt
wird, daß der obere Abschnitt des Schmelzbades nicht geöffnet
wird, es sei denn, dies wäre absolut erforderlich, oder ein
Deckel zur Abdeckung zum Abdecken des Schmelzbades vorgesehen
wird. Es ist möglich, die nicht-oxidierende Umgebung dadurch
aufrecht zu erhalten, daß die Zufuhrgeschwindigkeit des
inaktiven oder Inertgases in dem Gaszufuhrrohr 509
eingestellt wird.
Nachstehend wird die vorliegende Erfindung mit weiteren
Einzelheiten unter Bezugnahme auf einige Beispiele erläutert.
Es wurde die Einrichtung von Fig. 1 verwendet. Lot in einer
Menge von 80 kg, mit einem Zinnanteil von mehr als 90,9
Gew.-%, einem Zinkanteil von 9 Gew.-%, einem Anteil an
anderen Metallbestandteilen und weniger als 0,1 Gew.-%, und
einem Sauerstoffgehalt von 7 ppm an der gesamten
Zusammensetzung, wurde in das Schmelzbad 5 eingegeben, und
auf 280°C erhitzt, was mehr als 10° höher ist als der
theoretische eutektische Punkt von 198°C, so daß das Lot
vollständig geschmolzen wurde. Zu dem Zeitpunkt, als die
Temperatur 190°C erreicht, wurde bei diesem Vorgang
Stickstoff als inaktives Gas oder Inertgas der Umgebung
oberhalb der Oberfläche des geschmolzenen Lots zugeführt, und
wurde die Stickstoffversorgung fortgesetzt, um so zu
verhindern, daß das Lot in Kontakt mit Sauerstoff gelangte.
Eine Stunde nach Beginn der Erwärmung war das Lot
geschmolzen, und wurde die Temperatur auf 208°C gehalten.
Schwingungswellen mit einer Frequenz von 18,82 kHz wurden dem
Schmelzbad von dem Oszillator 7 zugeführt, der auf dem
Schmelzbad angeordnet war. Es stellte sich heraus, daß zu
diesem Zeitpunkt in einem Bereich mit einer Länge von 10 cm
und einer Breite von 1 cm die Oberfläche des geschmolzenen
Lots um etwa 1 cm anstieg. Ein Abschnitt von zwei Dritteln
eines Kupferstücks mit Abmessungen von 50 mm×10 mm×0,5 mm,
welches nicht endbearbeitet wurde, wurde in das
geschmolzene Lot an einem Ort innerhalb von 2 mm entfernt von
einem Vibrator des Oszillators 7 eine Sekunde lang
eingetaucht, und dann angehoben.
Man ließ das herausgenommene Kupferstück sich abkühlen, und
dann wurde es mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet.
Es stellte sich heraus, daß die Dicke des Lots 14 µm betrug,
und der Benetzungswinkel weniger als 90°C. Es stellte sich
heraus, daß bezüglich der Löteigenschaften keine
Schwierigkeiten auftraten.
Es wurde dieselbe Prozedur wie beim Beispiel 1 durchgeführt,
jedoch mit der Ausnahme, daß keine Schwingungswellen von dem
Oszillator 7 abgegeben wurden. Es wurde die Benetzbarkeit des
Lots an einem Kupferstück beobachtet. Die Benetzung des Lots
an dem Kupferstück wurde durch eine Sichtüberprüfung nicht
festgestellt.
Nachdem andererseits die Oberfläche des Kupfers mit Salzsäure
und reinem Wasser gereinigt wurde, wurde das Kupferstück in
das geschmolzene Lot eingetaucht, ohne der Atmosphäre
ausgesetzt zu werden. Wie im voranstehend geschilderten Fall
wurde der Lötvorgang ohne Einsatz von Schwingungswellen
durchgeführt. Es stellte sich heraus, daß das Lot an dem
Kupferstück anhaftete.
Es wurde dieselbe Operation wie beim Beispiel 1 durchgeführt,
mit Ausnahme der Tatsache, daß die Prozedur unter
Atmosphärenbedingungen durchgeführt wurde, ohne dem
Schmelzbad 5 Stickstoffgas zuzuführen. Dünne Lotfilme, die
sich auf der Oberfläche des geschmolzenen Lots ausbildeten,
hafteten an dem Kupferstück an, so daß auf dem Lot mehrere
Falten erzeugt wurden, und überschüssiges Lot vom Ende des
Kupferstücks herabtropfte. Versuchte man, nach dem Abkühlen
das Lot abzukratzen, so schälte sich das Lot von dem
Kupferstück ab.
Es wurde die Einrichtung von Fig. 1 verwendet. 60 kg Lot mit
einem Zinnanteil von mehr als 90,9 Gew.-%, einen Zinnanteil
von 9 Gew.-%, einem Anteil anderer metallischer Bestandteile
von weniger als 0,1 Gew.-%, und einem Sauerstoffgehalt von
7 ppm in Bezug auf das Zusammensetzungsverhältnis wurde in
das Schmelzbad 5 eingegeben, welches ein Volumen von 10 l
aufwies, und auf 220°C erhitzt, also 20°C höher als seinen
theoretischen eutektischen Punkt von 198°C, so daß das Lot
vollständig geschmolzen wurde. Bei dieser Operation wurde zu
dem Zeitpunkt, an dem das Lot zum Teil schon geschmolzen war,
Stickstoff als inaktives Gas oder Inertgas der Umgebung über
der Oberfläche des geschmolzenen Lots zugeführt, und wurde
dies fortgesetzt, um ein kontaktes Lot mit Sauerstoff zu
verhindern. Eine Stunde nach Beginn der Erhitzung war das Lot
geschmolzen, und wurde die Temperatur beibehalten. Die
Sauerstoffkonzentration der Umgebung oberhalb des
geschmolzenen Lots wurde gemessen und betrug 120 bis 160 ppm.
In diesem Zustand wurde die Ausgangsfrequenz des Oszillators
7, der für das Schmelzbad vorgesehen war, auf 18,83 kHz
eingestellt, und wurden die elastischen Wellen als
Schwingungswellenenergie dem Schmelzbad zugeführt. Hierbei
stellte sich heraus, daß in einem Bereich mit einer Länge von
10 cm und einer Breite von 1 cm die Oberfläche des
geschmolzenen Lots um etwa 1 cm angestiegen war. Ein Substrat
zur Montage elektrischer Teile, das nachstehend noch
erläutert wird, wurde in das geschmolzene Lot an einem Ort
innerhalb von 2 mm von dem Vibrator des Oszillators
2,0 Sekunden eingetaucht und dann angehoben.
Einzelheiten des Substrats:
Abmessungen: 50 mm×50 mm×1,0 mm
Material: Epoxyglasharz
Endbearbeitung: Durchgangsloch, doppelseitige Plattierung, Lötmittelwiderstandsbehandlung.
Abmessungen: 50 mm×50 mm×1,0 mm
Material: Epoxyglasharz
Endbearbeitung: Durchgangsloch, doppelseitige Plattierung, Lötmittelwiderstandsbehandlung.
Einzelheiten der Leiterbahnen:
Leiterbahnen: Laminierte Leiterbahnen aus Kupfer 18 µm/Nickel 5 µm/Gold 0,05 µm
Leitungsbreite: 200 µm
Minimales Abstandsintervall: 400 µm
Das angehobene Substrat wurde abgekühlt, und dann mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet. Lot haftete an jedem Abschnitt der Leitungen an, und es wurde keine Lotbrücke zwischen den Leitungen aufgefunden.
Leiterbahnen: Laminierte Leiterbahnen aus Kupfer 18 µm/Nickel 5 µm/Gold 0,05 µm
Leitungsbreite: 200 µm
Minimales Abstandsintervall: 400 µm
Das angehobene Substrat wurde abgekühlt, und dann mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet. Lot haftete an jedem Abschnitt der Leitungen an, und es wurde keine Lotbrücke zwischen den Leitungen aufgefunden.
Für eine genauere Untersuchung wurde das Substrat
durchgeschnitten, und sein Querschnitt betrachtet, um die
Benetzung mit Lot auf den Leitungen zu überprüfen. Es stellte
sich heraus, daß der Benetzungswinkel weniger als 90°
betrug, und in Bezug auf die Löteigenschaften keine
Schwierigkeiten auftraten. Die Dicke des Lots betrug etwa
15 µm.
Es wurde die Einrichtung von Fig. 1 verwendet. 80 kg Lot mit
einem Zinnanteil von mehr als 96,4 Gew.-%, Silber mit einem
Anteil von 3,5 Gew.-%, einem Anteil anderer metallischer
Bestandteile von weniger als 0,1 Gew.-%, und einem
Sauerstoffgehalt von 8 ppm in Bezug auf das Verhältnis der
Zusammensetzung, wurde in das Schmelzbad 5 eingegeben, und
auf 231°C erhitzt, also auf 10°C höher als den
theoretischen eutektischen Punkt von 221°C, so daß das Lot
vollständig geschmolzen wurde. Hierbei wurde zu dem
Zeitpunkt, an welchem die Temperatur 220°C erreichte,
Stickstoff als inaktives oder Inertgas der Umgebung über der
Oberfläche des geschmolzenen Lots zugeführt, und wurde dies
fortgesetzt, um einen Kontakt des Lots mit Sauerstoff zu
verhindern. Eine Stunde nach Beginn der Erwärmung war das Lot
geschmolzen, und wurde dann die Temperatur auf 231°C
gehalten.
Ein Schwingungswellenausgangssignal mit einer Frequenz von
18,82 kHz wurde von dem Oszillator 7 abgegeben, der sich in
dem Schmelzbad befand, und zwar an das Schmelzbad. Hierbei
stellte sich heraus, daß in einem Bereich mit einer Länge von
10 cm und einer Breite von 1 cm die Oberfläche des
geschmolzenen Lots um etwa 1 cm angestiegen war. Ein
Abschnitt von zwei Drittel eines Kupferstücks mit Abmessungen
von 50 mm×50 mm×0,3 mm, welches nicht endbearbeitet
wurde, wurde in das geschmolzene Lot an einem Ort innerhalb
von 2 mm von dem Vibrator des Oszillators 7 eine Sekunde lang
eingetaucht, und dann angehoben.
Man ließ das angehobene Kupferstück sich abkühlen, und dann
wurde es mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet. Es
stellte sich heraus, daß Lot gleichmäßig an dem eingetauchten
Abschnitt anhaftete. Für eine Untersuchung im einzelnen wurde
das Kupferstück durchgeschnitten, und dessen Querschnitt
untersucht. Der Benetzungswinkel des Lots stellte sich als
weniger als 90° heraus, und es gab keine Schwierigkeiten in
Bezug auf die Löteigenschaften.
Es wurde die Löteinrichtung von Fig. 3 verwendet. 80 kg Lot
mit einem Zinnanteil von mehr als 41,9 Gew.-%, Wismuth mit
einem Anteil von 55 Gew.-%, einem Anteil anderer metallischer
Bestandteile von weniger als 0,1 Gew.-%, und einem
Sauerstoffgehalt von 4 ppm in Bezug auf das
Zusammensetzungsverhältnis, wurde in das Schmelzbad 5 mit
einem Volumen von 10 l eingegeben, und auf 149°C erhitzt,
also auf 10°C höher als den theoretischen eutektischen Punkt
von 139°C, so daß das Lot vollständig geschmolzen wurde. Zu
dem Zeitpunkt, an dem das Lot teilweise geschmolzen war,
wurde Stickstoffgas als inaktives Gas oder Inertgas der
Umgebung über der Oberfläche des geschmolzenen Lotes
zugeführt, und wurde dies fortgesetzt, um einen Kontakt des
Lots mit Sauerstoff zu verhindern. Eine Stunde nach Beginn
der Erwärmung war das Lot geschmolzen, und wurde die
Temperatur beibehalten.
Ein Schwingungswellenausgangssignal mit einer Frequenz von
18,52 kHz wurde dem Schmelzbad von dem Oszillator 33
zugeführt, der sich in dem Schmelzbad befand. Ein Kupferstück
mit Abmessungen von 50 mm×50 mm×0,3 mm, das nicht
endbehandelt wurde, wurde in den Spalt 35 des Oszillators 33
eingeführt, und ein Abschnitt von zwei Drittel des
Kupferstücks wurde in das geschmolzene Lot 2,0 Sekunden
eingetaucht und dann angehoben.
Man ließ das angehobene Kupferstück sich abkühlen, und dann
wurde es mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet. Für
eine genauere Untersuchung wurde das Kupferstück
durchgeschnitten, und dessen Querschnitt untersucht. Der
Benetzungswinkel des Lots stellte sich als weniger als 90°
heraus, und es gab keine Schwierigkeiten in Bezug auf die
Löteigenschaften.
Es wurde die Löteinrichtung von Fig. 1 verwendet. 80 kg Lot
mit einem Zinnanteil von 90,9 Gew.-%, einem Zinkanteil von
9 Gew.-%, einem Anteil an anderen Metallbestandteilen von
weniger als 0,1 Gew.-%, und einem Sauerstoffgehalt von 7 ppm
in Bezug auf das Zusammensetzungsverhältnis, wurde in das
Schmelzbad 5 eingegeben, welches ein Volumen von 10 l
aufwies, und auf 220°C erwärmt, also auf etwa 20°C höher
als den theoretischen eutektischen Punkt von 198°C, so daß
das Lot vollständig geschmolzen wurde. Zu dem Zeitpunkt, an
dem das Lot teilweise geschmolzen war, wurde Stickstoff als
inaktives Gas oder Inertgas der Umgebung über der Oberfläche
des geschmolzenen Lots zugeführt, und wurde dies fortgesetzt,
um einen Kontakt des Lots mit Sauerstoff zu verhindern. Etwa
eine Stunde nach Beginn der Erwärmung war das Lot
geschmolzen, und wurde dann die Temperatur beibehalten.
Ein Schwingungswellenausgangssignal mit einer Frequenz von
18,52 kHz wurde dem Schmelzbad von dem Oszillator 7
zugeführt, der sich in dem Schmelzbad befand. Hierbei stellte
sich heraus, daß in einem Bereich mit einer Länge von 10 cm
und einer Breite von 1 cm die Oberfläche des geschmolzenen
Lots um etwa 1 cm angestiegen war. Ein Abschnitt von zwei
Drittel eines Kupferstücks mit Abmessungen von 50 mm×10 mm×0,3 mm,
mit welchem keine Endbearbeitung durchgeführt
wurde, wurde in das geschmolzene Lot an einem Ort innerhalb
von 2 mm von dem Vibrator des Oszillators 7 entfernt zwei
Sekunden lang eingetaucht, und dann angehoben.
Das angehobene Kupferstück ließ man abkühlen, und dann wurde
es mit einer Vergrößerungseinrichtung untersucht. Es stellte
sich heraus, daß das Lot gleichmäßig an dem eingetauchten
Abschnitt anhaftete. Für eine genauere Untersuchung wurde das
Kupferstück durchgeschnitten, und dessen Querschnitt
untersucht. Der Benetzungswinkel des Lots stellte sich als
weniger als 90° heraus, und es gab keine Schwierigkeiten in
Bezug auf die Löteigenschaften.
Es wurde die Einrichtung von Fig. 1 verwendet. 80 kg Lot mit
einem Zinnanteil von mehr als 96,4 Gew.-%, einem Silberanteil
von 3,5 Gew.-%, einem Anteil an anderen Metallbestandteilen
von weniger als 0,1 Gew.-%, und einem Sauerstoffgehalt von 8
ppm in Bezug auf das Zusammensetzungsverhältnis, wurde in das
Schmelzbad 5 eingegeben, und auf 231°C erhitzt, also auf
10°C höher als den theoretischen eutektischen Punkt von
221°C, so daß das Lot vollständig geschmolzen war. Hierbei
wurde zu dem Zeitpunkt, als die Temperatur 220°C erreichte,
Stickstoff als inaktives Gas der Umgebung über der Oberfläche
des geschmolzenen Lots zugeführt, und wurde dies fortgesetzt,
um einen Kontakt des Lots mit Sauerstoff zu verhindern. Eine
Stunde nach Beginn der Erwärmung war das Lot geschmolzen, und
wurde dann die Temperatur auf 231°C gehalten.
In diesem Zustand wurde die Frequenz des Oszillators, der
sich auf dem Schmelzbad befand, auf 18,52 kHz eingestellt,
und wurde ein Ausgangssignal in Form elastischer Wellen dem
Schmelzbad als Schwingungswellenenergie zugeführt. Hierbei
stellte sich heraus, daß in einem Bereich mit einer Länge von
10 cm entlang der Schwingungsrichtung der elastischen Wellen
und einer Breite von 1 cm die Oberfläche des geschmolzenen
Lots um etwa 1 cm angestiegen war. Ein Substrat für die
Montage elektronischer Bauteile, das nachstehend genauer
erläutert wird, wurde in das geschmolzene Lot an einem Ort
innerhalb von 2 mm von dem Vibrator entfernt eingetaucht und
dann angehoben.
Einzelheiten des Substrats:
Material: Glas-Epoxyharz
Endbearbeitung: Durchgangsloch, doppelseitige Plattierung, Lotbeständigkeitsbearbeitung.
Material: Glas-Epoxyharz
Endbearbeitung: Durchgangsloch, doppelseitige Plattierung, Lotbeständigkeitsbearbeitung.
Einzelheiten der Leiterbahnen:
Leiterbahnen: Laminierte Leiterbahnen aus Kupfer 18 µm/Nickel 5 µm/Gold 0,05 µm
Leitungsbreite: 200 µm
Minimaler Leiterabstand: 400 µm.
Leiterbahnen: Laminierte Leiterbahnen aus Kupfer 18 µm/Nickel 5 µm/Gold 0,05 µm
Leitungsbreite: 200 µm
Minimaler Leiterabstand: 400 µm.
Man ließ das angehobene Substrat sich abkühlen, und dann
wurde es mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet. Lot
haftete an jedem Ort auf den Leiterbahnen an, und zwischen
den Leiterbahnen wurde keine Lotbrücke festgestellt.
Für eine genauere Untersuchung wurde das Substrat
durchgeschnitten, und sein Querschnitt untersucht, um die
Benetzung durch das Lot zu überprüfen. Es stellte sich ein
Benetzungswinkel von weniger als 90° heraus, und es gab
keine Schwierigkeiten in Bezug auf die Löteigenschaften.
Lot mit einem Zinnanteil von mehr als 90,9 Gew.-%, einem
Zinkanteil von 9 Gew.-%, einem Sauerstoffgehalt von weniger
als 5 ppm, und einem Anteil anderer Metallbestandteile von
weniger als 0,1 Gew.-% in Bezug auf das
Zusammensetzungsverhältnis wurde in das Schmelzbad 101 der
Löteinrichtung 100 von Fig. 6 eingegeben, und auf 208°C
erwärmt, also 10°C höher als den theoretischen eutektischen
Punkt von 198°C. Zu dem Zeitpunkt, an welchem die Temperatur
einen Wert von etwa 10°C unterhalb des theoretischen
eutektischen Punktes erreichte, wurde Stickstoff als
inaktives oder Inertgas einem Bereich zugeführt, der durch
Platten zur Erzeugung eines elektrischen Feldes der
Vorrichtung 107 zur Erzeugung eines elektrischen Feldes
umgeben war, und dann wurde dies fortgesetzt, um zu
verhindern, daß Sauerstoff in einer Haube 117 vorhanden war.
Etwa eine Stunde nach Beginn der Erwärmung war das Lot
geschmolzen, und dann wurde die Temperatur konstant gehalten.
Die Düse wurde auf 208°C erwärmt, und Schwingungswellen mit
einer Frequenz von 18 kHz bis 30 kHz wurden von der
Oszillatoreinheit 105 abgegeben, während das geschmolzene Lot
der Düse 103 von dem Schmelzbad 101 aus zugeführt wurde. Es
wurde bestätigt, daß von der Düse kleine Lotteilchen
ausgestoßen wurden. Die Spur der Lotteilchen wurde durch
Erzeugung eines elektrischen Feldes von dem Generator 107 zur
Erzeugung eines elektrischen Feldes gesteuert, so daß die
Lotteilchen an einem bestimmten Ort auf einer
Übertragungseinheit 111 stapelförmig übereinander angeordnet
wurden.
Eine Kupferplatte wurde auf die Übertragungseinheit 111
aufgesetzt, und der Boden der Kupferplatte wurde durch eine
Heizvorrichtung 121 erwärmt, so daß die Oberfläche der
Kupferplatte eine Temperatur von etwa 180°C erreichte, während
der Oszillator 125 so betätigt wurde, daß er elastische Wellen
mit einer Frequenz von 80,52 kHz auf die Übertragungseinheit
111 ausgab. Die Übertragungseinheit 111 wurde in
Horizontalrichtung mit einer Geschwindigkeit von 2 cm pro
Sekunde bewegt, und unterhalb der Düse hindurchgeführt.
Danach wurde die Kupferplatte abgekühlt, und das Lot auf der
Kupferplatte betrachtet. Es stellte sich heraus, daß
Lotpunkte mit einem Durchmesser von etwa 25 µm entlang einer
Linie angeordnet waren. Die Kupferplatte, auf welche die
Lötpunkte aufgebracht wurden, wurde in Vertikalrichtung
durchgeschnitten, und es wurde ihr Querschnitt untersucht.
Der Benetzungswinkel des Lots stellte sich als weniger als
90° heraus, und es wurde bestätigt, daß eine hervorragende
Benetzung mit dem Lot erfolgt war.
Dann wurde die Transportgeschwindigkeit der
Übertragungseinheit 111 verringert, so daß die Kupferplatte
jedesmal dann um 20 µm bewegt wurde, wenn ein Lotteilchen die
Kupferplatte erreichte. Nachdem die Kupferplatte unter der
Düse hindurchgeführt wurde, ließ man sie abkühlen. Es zeigte
sich, daß Lot in Form eines Bandes mit einer Breite von 20
bis 25 µm sich auf der Kupferplatte feststellen ließ. Die
Lotdicke betrug etwa 10 µm. Die Kupferplatte wurde
durchgeschnitten, und ihr Querschnitt wurde untersucht. Der
Benetzungswinkel zwischen der Lotoberfläche und der
Kupferplatte betrug weniger als 90°, und es wurde bestätigt,
daß eine hervorragende Benetzung mit Lot erfolgt war.
Statt eines Zinn-Zink-Lotes wurde ein anderes Lot verwendet,
bei welchem der Zinnanteil mehr als 99,2 Gew.-% betrug, er
Kupferanteil 0,7 Gew.-%, der Anteil an anderen metallischen
Bestandteilen weniger als 0,1 Gew.-%, und der
Sauerstoffgehalt 5 ppm, und es wurde die Erwärmungstemperatur
für das Schmelzbad und die Düse so geändert, daß sie 237°C
betrug, also 10°C mehr als der theoretische eutektische
Punkt von 227°C. Weiterhin wurde die Temperatur der
Kupferplatte auf 220°C geändert. Ansonsten wurde dieselbe
Prozedur wie beim Beispiel 7 durchgeführt, um so ein
punktförmiges bzw. bandförmiges Lotmuster auf der
Kupferplatte zu erzielen.
Das punktförmige Lot, welches auf die Kupferplatte
aufgebracht wurde, wurde untersucht. Seine Abmessungen
betrugen etwa 25 µm. Die Kupferplatte wurde in
Vertikalrichtung geschnitten, und es wurde ihr Querschnitt
untersucht. Es ergab sich, daß der Benetzungswinkel zwischen
dem Lot und der Kupferplatte weniger als 90° betrug, und es
wurde bestätigt, daß die Benetzung durch das Lot hervorragend
war.
In Bezug auf das bandförmige Lot betrug dessen Breite 20 bis
25 µm, und seine Dicke etwa 10 µm. Die Kupferplatte wurde
durchgeschnitten, und ihr Querschnitt untersucht. Es stellte
sich heraus, daß der Benetzungswinkel zwischen der
Lotoberfläche und der Kupferplatte weniger als 90° betrug,
und es wurde bestätigt, daß die Benetzung durch das Lot
hervorragend war.
Statt des Zinn-Zink-Lots wurde ein Lot verwendet, bei welchem
der Zinnanteil mehr als 42,9 Gew.-% betrug, der Wismuthanteil
57 Gew.-%, der Anteil anderer metallischer Bestandteile
weniger als 0,1 Gew.-%, und der Sauerstoffgehalt 5 ppm, und
es wurde die Heiztemperatur des Schmelzbades und der Düse auf
149°C geändert, also 10°C höher als der theoretische
eutektische Punkt von 139°C. Statt Verwendung einer
Kupferplatte wurde eine Aluminiumplatte mit Abmessungen von
50 mm×10 mm×0,3 mm verwendet, und die Temperatur der
Aluminiumplatte auf 130°C geändert. Ansonsten wurde die
gleiche Prozedur wie beim Beispiel 7 durchgeführt, um Lot
punktförmig und bandförmig auf der Aluminiumplatte
auszubilden.
Das punktförmige Lot, welches auf die Aluminiumplatte
aufgebracht wurde, wurde betrachtet. Seine Abmessungen
betrugen etwa 25 µm. Die Aluminiumplatte wurde in
Vertikalrichtung durchgeschnitten, u 06706 00070 552 001000280000000200012000285910659500040 0002019827014 00004 06587nd es wurde ihr
Querschnitt untersucht. Es stellte sich heraus, daß der
Benetzungswinkel zwischen der Lotoberfläche und der
Aluminiumplatte weniger als 90° betrug, und es wurde
bestätigt, daß die Benetzung durch das Lot hervorragend war.
In Bezug auf das bandförmige Lot betrug seine Breite 20 bis
25 µm, und seine Dicke etwa 10 µm. Die Aluminiumplatte wurde
geschnitten, und ihr Querschnitt wurde untersucht. Es stellte
sich heraus, daß der Benetzungswinkel zwischen der
Lotoberfläche und der Aluminiumplatte weniger als 90°
betrug, und es wurde bestätigt, daß die Benetzung durch das
Lot hervorragend war.
Statt des Zinn-Zink-Lotes wurde ein anderes Lot verwendet,
mit einem Zinnanteil von mehr als 96,4 Gew.-%, einem
Silberanteil von 3,5 Gew.-%, einem Anteil an anderen
metallischen Bestandteilen von weniger als 0,1 Gew.-%, und
einem Sauerstoffgehalt von 5 ppm, und die Heiztemperatur des
Schmelzbades und der Düse wurde auf 231°C geändert, also
10°C höher als der theoretische eutektische Punkt von 221°C.
Die Temperatur der Kupferplatte wurde auf 200°C geändert. Es
wurde dieselbe Prozedur wie beim Beispiel 7 durchgeführt, mit
Ausnahme der Tatsache, daß die Temperatur der Kupferplatte
auf 200°C gehalten wurde, um so punktförmig und bandförmig
Lot auf die Kupferplatte aufzubringen.
Es wurde das punktförmige Lot, das auf die Kupferplatte
aufgebracht wurde, untersucht. Seine Abmessungen betrugen
etwa 25 µm. Die Kupferplatte wurde in Vertikalrichtung
geschnitten, und ihr Querschnitt wurde untersucht. Es stellte
sich heraus, daß der Benetzungswinkel zwischen der
Lotoberfläche und der Kupferplatte weniger als 90° betrug,
und es wurde bestätigt, daß die Benetzung durch das Lot
hervorragend war.
Im Falle des bandförmigen Lots betrug seine Breite 20 bis
25 µm, und seine Dicke etwa 10 µm. Die Kupferplatte wurde
durchgeschnitten, und es wurde ihr Querschnitt untersucht. Es
stellte sich heraus, daß der Benetzungswinkel zwischen der
Lotoberfläche und der Kupferplatte weniger als 90° betrug,
und es wurde bestätigt, daß die Benetzung durch das Lot
hervorragend war.
Es wurde dieselbe Prozedur wie beim Beispiel 1 durchgeführt,
mit Ausnahme der Tatsache, daß statt einer Kupferplatte ein
Stück aus Edelstahl in das geschmolzene Lot eingetaucht
wurde. Dann wurde die Benetzung des Lots an dem
Edelstahlstück betrachtet. Es stellte sich heraus, daß das
Lot gleichmäßig an dem Edelstahl in einer Dicke von 14 µm
anhaftete. Der Benetzungswinkel betrug weniger als 90°, und
in Bezug auf die Löteigenschaften gab es keine Schwierigkeit.
Es wurde die Einrichtung mit den in Fig. 1 gezeigten Aufbau
verwendet. Ein Kilogramm Lot mit einer solchen
Zusammensetzung, daß der Zinnanteil mehr als 48,4 Gew.-%
betrug, der Indiumanteil 51,5 Gew.-%, der Anteil anderer
metallischer Bestandteile weniger als 0,1 Gew.-%, und der
Sauerstoffgehalt 7 ppm, wurde in das Schmelzbad 5 eingegeben
und auf 127°C erwärmt, also 10°C höher als der theoretische
eutektische Punkt von 117°C, so daß das Lot vollständig
geschmolzen wurde. Bei diesem Vorgang wurde Stickstoff als
inaktives Gas oder Inertgas der Umgebung über der Oberfläche
des geschmolzenen Lots zugeführt, um so einen Kontakt des
Lots mit Sauerstoff zu verhindern. Etwa 20 Minuten nach
Beginn der Erwärmung war das Lot geschmolzen, und wurde seine
Temperatur auf 127°C gehalten.
Ein Ausgangssignal elastischer Wellen mit einer Frequenz von
18,82 kHz wurde dem Schmelzbad von dem im Schmelzbad
angeordneten Oszillator zugeführt. Ein Abschnitt von zwei
Dritteln eines Kupferstücks mit Abmessungen von 50 mm×10 mm×0,5 mm,
welches nicht endbearbeitet wurde, wurde in das
geschmolzene Lot an einem Ort innerhalb von 2 mm vom Vibrator
des Oszillators entfernt eine Sekunde lang eingetaucht, und
dann angehoben.
Man ließ das angehobene Kupferstück abkühlen, und dann wurde
es mit einer Vergrößerungseinrichtung betrachtet. Die Dicke
des Lots betrug 13 µm, und der Benetzungswinkel war kleiner
als 90°. Es wurde bestätigt, daß keine Schwierigkeiten in
Bezug auf die Löteigenschaften auftragen.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann die Löttemperatur bis
in die Nähe einer Liquidustemperatur des Lots verringert
werden, so daß erheblich niedrigere Temperaturen als
Löttemperatur eingesetzt werden können, im Vergleich zur
herkömmlichen Löttemperatur, die 40 bis 50°C höher ist als
die Liquidustemperatur. Durch Verbesserung der Benetzung des
Basismaterials durch das Lot ist es möglich, bessere
Löteigenschaften zu erzielen, unter Verwendung eines Lots,
welches an sich eine schlechtere Benetzbarkeit zeigt und kein
Blei enthält, und kann das bleifreie Lot auch zum Verlöten
kleiner, kompliziert geformter Abschnitte verwendet werden.
Als Lötmaterial für verschiedene Einrichtungen und Geräte
kann daher ein bleifreies Lot verwendet werden. Durch die
vorliegende Erfindung kann daher der Bleigehalt von
Abfallprodukten verringert werden, und läßt sich ein besseres
Recycling von Abfallprodukten erreichen. Die vorliegende
Erfindung ist daher für die Industrie sehr nützlich, und
ebenso für den Umweltschutz.
Die binäre Lotlegierung, die im wesentlichen aus Zinn und
Zink besteht, ohne eine zusätzliche andere Komponente zu
verwenden, ist in der Hinsicht vorteilhaft, daß keine
Befürchtung besteht, daß sich die Eigenschaften des Lots
infolge der Erzeugung einer ternären eutektischen Substanz
oder einer intermetallischen Verbindung nach dem Löten
ändern. Insbesondere wird es, wenn als Zusatzstoff Wismuth
oder Indium verwendet wird, schwierig, nutzbare gereinigte
Materialien aus der Lötlegierung zur Verwendung beim
Recycling wiederzugewinnen. Darüber hinaus ist eine
Lotlegierung aus Zinn und Zink, die kein Wismuth und kein
Indium enthält, zum Verbinden elektronischer Geräte besonders
bevorzugt, aus den voranstehend erläuterten Gründen.
Da sich zahlreiche, stark unterschiedliche Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung denken lassen, die ohne Abweichung
vom Wesen und Umfang der vorliegenden Erfindung eingesetzt
werden können, wird darauf hingewiesen, daß die Erfindung
nicht auf ihre spezifischen Ausführungsformen beschränkt ist,
sondern daß sich Wesen und Umfang der vorliegenden Erfindung
aus der Gesamtheit der vorliegenden Anmeldeunterlagen ergeben
und von den beigefügten Patentansprüchen umfaßt sein sollen.
Claims (20)
1. Verfahren zum Löten eines Basismaterials mit folgenden
Schritten:
Erzeugung eines binären Lots, welches im wesentlichen aus Zinn und einem Metallbestandteil besteht, der mit Zinn eine eutektische Legierung bilden kann, und kein Blei aufweist, so daß der Anteil anderer metallischer Bestandteile als jener des Metallbestandteils und Zinn 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt, und der Sauerstoffgehalt 100 ppm oder weniger beträgt;
Schmelzen des binären Lots in einer nicht-oxidierenden Umgebung zur Erzeugung geschmolzenen binären Lots; und
Verteilen des geschmolzenen binären Lots an das Basismaterial in eine Atmosphäre, in welcher der Sauerstoffgehalt 2000 ppm oder weniger beträgt, um das Basismaterial mit dem binären Lot zu verlöten.
Erzeugung eines binären Lots, welches im wesentlichen aus Zinn und einem Metallbestandteil besteht, der mit Zinn eine eutektische Legierung bilden kann, und kein Blei aufweist, so daß der Anteil anderer metallischer Bestandteile als jener des Metallbestandteils und Zinn 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt, und der Sauerstoffgehalt 100 ppm oder weniger beträgt;
Schmelzen des binären Lots in einer nicht-oxidierenden Umgebung zur Erzeugung geschmolzenen binären Lots; und
Verteilen des geschmolzenen binären Lots an das Basismaterial in eine Atmosphäre, in welcher der Sauerstoffgehalt 2000 ppm oder weniger beträgt, um das Basismaterial mit dem binären Lot zu verlöten.
2. Lötverfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Metallbestandteil des binären Lots aus der Gruppe
ausgewählt wird, die aus Zink, Silber, Wismuth, Indium
und Kupfer besteht, und daß der Schmelzschritt einen
Erwärmungsschritt zum Erhitzen des binären Lots auf eine
Temperatur umfaßt, die größer oder gleich dem
eutektischen Punkt des binären Lots ist.
3. Lötverfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Metallbestandteil des binären Lots Zink ist, der
Zinnanteil in dem binären Lot innerhalb eines Bereiches
von 85 bis 97 Gew.-% liegt, der Anteil an Zink in dem
binären Lot innerhalb eines Bereiches von 3 bis 15
Gew.-% beträgt, und der Schmelzschritt einen
Erwärmungsschritt zur Erhitzung des binären Lots auf
eine Temperatur von 210 bis 230°C umfaßt.
4. Lötverfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Verteilungsschritt umfaßt:
das geschmolzene binäre Lot wird in Kontakt mit dem Basismaterial gebracht, während Schwingungswellenenergie bei einer Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz auf das Basismaterial einwirkt.
das geschmolzene binäre Lot wird in Kontakt mit dem Basismaterial gebracht, während Schwingungswellenenergie bei einer Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz auf das Basismaterial einwirkt.
5. Lötverfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Schwingungswellenenergie indirekt von einem Oszillator
über das geschmolzene binäre Lot auf das Basismaterial
einwirkt.
6. Lötverfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das
Basismaterial ein elektrisch leitfähiges Teil ist,
welches auf einem Substrat vorgesehen ist, das aus einem
Harz oder einer Keramik besteht.
7. Lötverfahren nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß das
elektrisch leitfähige Teil eine Leitung, eine Leiterbahn
oder eine Anschlußfläche ist.
8. Lötverfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das
Basismaterial ein elektronisches Bauteil ist, welches
auf einem Substrat eines Halbleitergeräts angebracht
werden soll.
9. Löteinrichtung zum Verlöten eines Basismaterials, welche
aufweist:
eine Erzeugungseinheit zur Erzeugung eines geschmolzenen binären Lots, das im wesentlichen aus Zinn und einem Metallbestandteil besteht, der mit Zinn eine eutektische Legierung bilden kann, so daß der Anteil anderer Metallbestandteile mit Ausnahme des Metallbestandteils und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt;
eine Anti-Oxidationseinheit zum Verhindern einer Oxidation des geschmolzenen binären Lots, so daß der Anteil an Sauerstoff in dem geschmolzenen binären Lot nicht 100 ppm überschreitet;
eine Lotverteilungseinheit zum Verteilen des geschmolzenen binären Lots dadurch, daß das Basismaterial in Kontakt mit dem geschmolzenen binären Lot in eine Atmosphäre gebracht wird, in welcher der Sauerstoffgehalt kleiner oder gleich 2000 ppm ist; und
eine Oszillatoreinheit zum Liefern von Schwingungswellenenergie mit einer Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz an das Basismaterial, welches in Kontakt mit dem geschmolzenen binären Lot steht.
eine Erzeugungseinheit zur Erzeugung eines geschmolzenen binären Lots, das im wesentlichen aus Zinn und einem Metallbestandteil besteht, der mit Zinn eine eutektische Legierung bilden kann, so daß der Anteil anderer Metallbestandteile mit Ausnahme des Metallbestandteils und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt;
eine Anti-Oxidationseinheit zum Verhindern einer Oxidation des geschmolzenen binären Lots, so daß der Anteil an Sauerstoff in dem geschmolzenen binären Lot nicht 100 ppm überschreitet;
eine Lotverteilungseinheit zum Verteilen des geschmolzenen binären Lots dadurch, daß das Basismaterial in Kontakt mit dem geschmolzenen binären Lot in eine Atmosphäre gebracht wird, in welcher der Sauerstoffgehalt kleiner oder gleich 2000 ppm ist; und
eine Oszillatoreinheit zum Liefern von Schwingungswellenenergie mit einer Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz an das Basismaterial, welches in Kontakt mit dem geschmolzenen binären Lot steht.
10. Löteinrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Oszillatoreinheit so angeordnet ist, daß die
Schwingungswellenenergie, die von dem Oszillator
geliefert wird, über das geschmolzene Lot an das
Basismaterial übertragen wird.
11. Löteinrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß das Anti-
Oxidationsgerät eine Gasversorgung zur Lieferung eines
inaktiven Gases oder Inertgases an das geschmolzene
binäre Lot aufweist, um das geschmolzene binäre Lot mit
einer inaktiven oder inerten Gasatmosphäre abzudecken.
12. Löteinrichtung nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Schmelzeinheit ein Schmelzbad zur Aufnahme des binären
Lots und eine Heizvorrichtung zum Erwärmen des binären
Lots aufweist, und daß die Gasversorgung das inaktive
oder Inertgas dem Schmelzbad zuführt, um in dem
Schmelzbad die inaktive oder Inertgasatmosphäre zur
Verfügung zu stellen.
13. Löteinrichtung nach Anspruch 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Lotverteilungseinheit eine Pumpe aufweist, um einen Fluß
des geschmolzenen binären Lots in dem Schmelzbad zu
erzeugen, und eine Transporteinheit zum Transport des
Basismaterials auf den Fluß des geschmolzenen binären
Lots, und daß der Oszillator die
Schwingungswellenenergie dem Fluß des geschmolzenen
binären Lots zum Basismaterial hin zuführt.
14. Löteinrichtung zum Verlöten eines Basismaterials, welche
aufweist:
eine Düseneinheit mit einem Schmelzgerät zum Schmelzen eines binären Lots, das im wesentlichen aus Zinn und einem Metallbestandteil besteht, der mit Zinn eine eutektische Legierung bilden kann, so daß der Anteil anderer metallischer Bestandteile als des Metallbestandteils und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt, um ein geschmolzenes binäres Lot zu erzeugen, wobei das binäre Lot gegenüber der Atmosphäre abgeschirmt ist, und zum Verteilen des geschmolzenen binären Lots an das Basismaterial; und
eine Gasversorgungseinheit zum Liefern eines im wesentlichen nicht-oxidierenden Gases um das geschmolzene binäre Lot herum, welches von der Düseneinheit verteilt wird.
eine Düseneinheit mit einem Schmelzgerät zum Schmelzen eines binären Lots, das im wesentlichen aus Zinn und einem Metallbestandteil besteht, der mit Zinn eine eutektische Legierung bilden kann, so daß der Anteil anderer metallischer Bestandteile als des Metallbestandteils und des Zinns 0,1 Gew.-% oder weniger beträgt, um ein geschmolzenes binäres Lot zu erzeugen, wobei das binäre Lot gegenüber der Atmosphäre abgeschirmt ist, und zum Verteilen des geschmolzenen binären Lots an das Basismaterial; und
eine Gasversorgungseinheit zum Liefern eines im wesentlichen nicht-oxidierenden Gases um das geschmolzene binäre Lot herum, welches von der Düseneinheit verteilt wird.
15. Löteinrichtung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Metallbestandteil des binären Lots Zink ist, und daß das
Basismaterial ein elektrisch leitfähiges Teil ist,
welches auf einem Substrat vorgesehen ist, das aus einem
Harz oder einer Keramik besteht.
16. Lötverfahren nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet, daß das
elektrisch leitfähige Teil eine Leitung, eine Leiterbahn
oder eine Anschlußfläche ist.
17. Lötverfahren nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Düseneinheit eine Tröpfchenerzeugungsvorrichtung
aufweist, um Tröpfchen aus dem geschmolzenen binären Lot
mit Hilfe von Schwingungswellenenergie zu erzeugen, so
daß die Düseneinheit das geschmolzene binäre Lot in Form
von Tröpfchen verteilt.
18. Lötverfahren nach Anspruch 14,
bei welchem weiter vorgesehen sind:
ein Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie mit einer Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz an das Basismaterial, welches in Kontakt mit dem geschmolzenen binären Lot steht.
ein Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie mit einer Frequenz von 15 kHz bis 1 MHz an das Basismaterial, welches in Kontakt mit dem geschmolzenen binären Lot steht.
19. Löteinrichtung zum Verlöten eines Basismaterials, welche
aufweist:
einen Lötkolben zum Schmelzen eines Lots, welches auf dem Basismaterial angeordnet ist, durch Erwärmung des Lots, um ein geschmolzenes Lot zu erzeugen;
eine Gasversorgungseinheit zum Liefern eines nicht oxidierenden Gases um ein Lötkolben herum, um eine Oxidation des geschmolzenen Lots und des Basismaterials zu verhindern; und
einen Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das Basismaterial und das geschmolzene Lot.
einen Lötkolben zum Schmelzen eines Lots, welches auf dem Basismaterial angeordnet ist, durch Erwärmung des Lots, um ein geschmolzenes Lot zu erzeugen;
eine Gasversorgungseinheit zum Liefern eines nicht oxidierenden Gases um ein Lötkolben herum, um eine Oxidation des geschmolzenen Lots und des Basismaterials zu verhindern; und
einen Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das Basismaterial und das geschmolzene Lot.
20. Löteinrichtung zum Verlöten eines Basismaterials mit
zumindest einem von mehreren Loten, welche aufweist:
mehrere Schmelzbäder zum getrennten Schmelzen der mehreren Lote, und zur getrennten Aufnahme der mehreren geschmolzenen Lote;
eine Gasversorgungseinheit zum Liefern einer nicht oxidierenden Gasatmosphäre an die mehreren Schmelzbäder, um eine Oxidation der mehreren geschmolzenen Lote zu verhindern;
eine Transporteinheit zum Transportieren des Basismaterials zu einem der mehreren Schmelzbäder, um das Basismaterial in das geschmolzene Lot einzutauchen, welches in dem betreffenden Schmelzbad enthalten ist; und
eine Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das Basismaterial, das in das geschmolzene Lot eingetaucht ist, welches sich in einem der Schmelzbäder befindet.
mehrere Schmelzbäder zum getrennten Schmelzen der mehreren Lote, und zur getrennten Aufnahme der mehreren geschmolzenen Lote;
eine Gasversorgungseinheit zum Liefern einer nicht oxidierenden Gasatmosphäre an die mehreren Schmelzbäder, um eine Oxidation der mehreren geschmolzenen Lote zu verhindern;
eine Transporteinheit zum Transportieren des Basismaterials zu einem der mehreren Schmelzbäder, um das Basismaterial in das geschmolzene Lot einzutauchen, welches in dem betreffenden Schmelzbad enthalten ist; und
eine Oszillator zum Liefern von Schwingungswellenenergie an das Basismaterial, das in das geschmolzene Lot eingetaucht ist, welches sich in einem der Schmelzbäder befindet.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16164497A JP3592486B2 (ja) | 1997-06-18 | 1997-06-18 | ハンダ付け装置 |
JPP9-161644 | 1997-06-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19827014A1 true DE19827014A1 (de) | 1998-12-24 |
DE19827014B4 DE19827014B4 (de) | 2005-12-01 |
Family
ID=15739109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19827014A Expired - Fee Related DE19827014B4 (de) | 1997-06-18 | 1998-06-17 | Belotungsverfahren |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6123248A (de) |
JP (1) | JP3592486B2 (de) |
DE (1) | DE19827014B4 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1148548A3 (de) * | 2000-04-19 | 2002-01-30 | Advanced Interconnect Technology Ltd. | Verfahren zur Herstellung bleifreier höckerartiger Anschlusskontakten |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6861159B2 (en) * | 1992-03-27 | 2005-03-01 | The Louis Berkman Company | Corrosion-resistant coated copper and method for making the same |
JP3592486B2 (ja) * | 1997-06-18 | 2004-11-24 | 株式会社東芝 | ハンダ付け装置 |
US20020046627A1 (en) * | 1998-06-10 | 2002-04-25 | Hitoshi Amita | Solder powder, flux, solder paste, soldering method, soldered circuit board, and soldered joint product |
JP4138965B2 (ja) * | 1998-10-01 | 2008-08-27 | 三井金属鉱業株式会社 | 無鉛ハンダ粉及びその製造方法 |
CN1142034C (zh) * | 1999-03-08 | 2004-03-17 | 约翰逊父子公司 | 用于连接承受振荡的雾化器部件的方法及雾化器 |
MY127389A (en) * | 1999-06-02 | 2006-11-30 | Speedline Tech Inc | Closed loop solder wave height control system |
JP3580731B2 (ja) | 1999-06-11 | 2004-10-27 | 和美 松重 | 鉛フリー半田の半田付け方法、及び当該半田付け方法にて半田付けされた接合体 |
JP3753168B2 (ja) * | 1999-08-20 | 2006-03-08 | 千住金属工業株式会社 | 微小チップ部品接合用ソルダペースト |
EP1211011B1 (de) * | 1999-10-20 | 2011-04-06 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Herstellungsverfahren eines mit lot beschichteten materials ; entsprechendes lotbeschischtetes material |
US20010052536A1 (en) * | 1999-12-06 | 2001-12-20 | Scherdorf Ronald Drost | Method and apparatus for making an electrical device |
JP2001332575A (ja) * | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Sony Corp | フラックス洗浄方法及び半導体装置の製造方法 |
JP3671815B2 (ja) * | 2000-06-12 | 2005-07-13 | 株式会社村田製作所 | はんだ組成物およびはんだ付け物品 |
US7034402B1 (en) * | 2000-06-28 | 2006-04-25 | Intel Corporation | Device with segmented ball limiting metallurgy |
US6416597B1 (en) | 2000-08-18 | 2002-07-09 | Visteon Global Tech., Inc. | Solder composition and a method for making the same |
EP1405687B1 (de) * | 2000-09-26 | 2009-12-09 | Panasonic Corporation | Schwallötvorrichtung und -methode |
JP2002329956A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Ricoh Co Ltd | はんだ付け方法および該はんだ付け方法を用いて製造した電子回路基板ならびに電子機器 |
CN1191747C (zh) * | 2001-09-06 | 2005-03-02 | 株式会社理光 | 电子元件组装检查方法 |
US7251880B2 (en) * | 2001-09-28 | 2007-08-07 | Intel Corporation | Method and structure for identifying lead-free solder |
KR20030033920A (ko) * | 2001-10-25 | 2003-05-01 | 동영전자주식회사 | 무연납땜 공정기술 |
TWI274367B (en) * | 2002-06-17 | 2007-02-21 | Harison Toshiba Lighting Corp | Low-voltage discharge lamp and its manufacturing method |
US7632750B2 (en) * | 2006-07-07 | 2009-12-15 | Semigear Inc | Arrangement for solder bump formation on wafers |
US6892925B2 (en) * | 2002-09-18 | 2005-05-17 | International Business Machines Corporation | Solder hierarchy for lead free solder joint |
JP4112946B2 (ja) * | 2002-10-31 | 2008-07-02 | 株式会社東芝 | 非鉛系接合材、ソルダーペースト及び接合方法 |
US6854636B2 (en) * | 2002-12-06 | 2005-02-15 | International Business Machines Corporation | Structure and method for lead free solder electronic package interconnections |
US6917113B2 (en) * | 2003-04-24 | 2005-07-12 | International Business Machines Corporatiion | Lead-free alloys for column/ball grid arrays, organic interposers and passive component assembly |
DE10319888A1 (de) * | 2003-04-25 | 2004-11-25 | Siemens Ag | Lotmaterial auf SnAgCu-Basis |
US8608422B2 (en) * | 2003-10-08 | 2013-12-17 | Tokyo Electron Limited | Particle sticking prevention apparatus and plasma processing apparatus |
US7180195B2 (en) * | 2003-12-17 | 2007-02-20 | Intel Corporation | Method and apparatus for improved power routing |
EP1591185A1 (de) * | 2004-04-28 | 2005-11-02 | Ernst Hohnerlein | Verfahren und Vorrichtung zum Reinigen und zum Beschichten und/oder Befüllen einer Lötspitze durch Tauchen in eine heisse fliessende Lotwelle |
US7691932B2 (en) * | 2004-09-27 | 2010-04-06 | 3M Innovative Properties Company | Method of making a composition and nanocomposites therefrom |
JP2007275921A (ja) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | はんだ合金およびはんだ付方法 |
US20080187391A1 (en) * | 2007-02-01 | 2008-08-07 | Applied Materials, Inc. | Automation adjustment utilizing low melting point alloys |
US7699208B2 (en) | 2007-11-30 | 2010-04-20 | Nordson Corporation | Soldering tip, soldering iron, and soldering system |
DE102010000520A1 (de) * | 2010-02-23 | 2011-08-25 | SCHOTT Solar AG, 55122 | Verfahren und Vorrichtung zum Aufbringen von Lot auf ein Werkstück |
EP3915718A1 (de) * | 2011-08-02 | 2021-12-01 | Alpha Assembly Solutions Inc. | Lötlegierung mit hoher schlagfestigkeit |
CN103212761B (zh) * | 2012-06-26 | 2015-05-06 | 深圳市堃琦鑫华股份有限公司 | 一种焊接方法 |
KR101453306B1 (ko) * | 2014-01-07 | 2014-10-22 | 주식회사 멕스기연 | 초음파 셀렉티브 솔더링 장치 |
WO2017221425A1 (ja) * | 2016-06-24 | 2017-12-28 | 朝日インテック株式会社 | ガイドワイヤ |
JP6800768B2 (ja) * | 2017-02-01 | 2020-12-16 | 株式会社日立製作所 | 半田付け装置 |
CN113894380A (zh) * | 2021-09-10 | 2022-01-07 | 常德富博智能科技有限公司 | 一种自动刮锡清理锡渣机构 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51138561A (en) * | 1975-05-27 | 1976-11-30 | Asahi Glass Co Ltd | Soldering method of oxidized metal surface |
US3994430A (en) * | 1975-07-30 | 1976-11-30 | General Electric Company | Direct bonding of metals to ceramics and metals |
US4610391A (en) * | 1984-12-18 | 1986-09-09 | Union Carbide Corporation | Process for wave soldering |
US4868034A (en) * | 1988-02-11 | 1989-09-19 | Heraeus Incorporated Cermalloy Division | Non-oxidizing copper thick film conductors |
US5255840A (en) * | 1989-12-26 | 1993-10-26 | Praxair Technology, Inc. | Fluxless solder coating and joining |
DE4032192C2 (de) * | 1990-10-08 | 1994-05-26 | Michael Kising | Vorrichtung zum Erhitzen eines ultraschallbetriebenen Löt- oder Schweißkopfes |
US5491036A (en) * | 1992-03-27 | 1996-02-13 | The Louis Berkman Company | Coated strip |
US5597656A (en) * | 1993-04-05 | 1997-01-28 | The Louis Berkman Company | Coated metal strip |
US5368814A (en) * | 1993-06-16 | 1994-11-29 | International Business Machines, Inc. | Lead free, tin-bismuth solder alloys |
DE4322782A1 (de) * | 1993-07-08 | 1995-01-12 | Messer Griesheim Gmbh | Verfahren zum Entfernen von Zinn, Arsen und Antimon aus schmelzflüssigem Blei |
DE4432402C2 (de) * | 1994-08-30 | 1998-07-02 | Ersa Loettechnik Gmbh | Schwall-Lötdüse zum flußmittelfreien Löten |
US5560543A (en) * | 1994-09-19 | 1996-10-01 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Heat-resistant broad-bandwidth liquid droplet generators |
US5569433A (en) * | 1994-11-08 | 1996-10-29 | Lucent Technologies Inc. | Lead-free low melting solder with improved mechanical properties |
US5894985A (en) * | 1995-09-25 | 1999-04-20 | Rapid Analysis Development Company | Jet soldering system and method |
US6186192B1 (en) * | 1995-09-25 | 2001-02-13 | Rapid Analysis And Development Company | Jet soldering system and method |
US5938102A (en) * | 1995-09-25 | 1999-08-17 | Muntz; Eric Phillip | High speed jet soldering system |
US6276589B1 (en) * | 1995-09-25 | 2001-08-21 | Speedline Technologies, Inc. | Jet soldering system and method |
US5894980A (en) * | 1995-09-25 | 1999-04-20 | Rapid Analysis Development Comapny | Jet soldering system and method |
JPH09155587A (ja) * | 1995-11-30 | 1997-06-17 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 錫−亜鉛系無鉛半田合金 |
US5772106A (en) * | 1995-12-29 | 1998-06-30 | Microfab Technologies, Inc. | Printhead for liquid metals and method of use |
US5730932A (en) * | 1996-03-06 | 1998-03-24 | International Business Machines Corporation | Lead-free, tin-based multi-component solder alloys |
GB2312438A (en) * | 1996-04-26 | 1997-10-29 | Ibm | Electrodeposition bath containing zinc salt |
GB2312391A (en) * | 1996-04-26 | 1997-10-29 | Ibm | Soldering with lead free alloys |
US6224180B1 (en) * | 1997-02-21 | 2001-05-01 | Gerald Pham-Van-Diep | High speed jet soldering system |
US5990564A (en) * | 1997-05-30 | 1999-11-23 | Lucent Technologies Inc. | Flip chip packaging of memory chips |
JP3592486B2 (ja) * | 1997-06-18 | 2004-11-24 | 株式会社東芝 | ハンダ付け装置 |
-
1997
- 1997-06-18 JP JP16164497A patent/JP3592486B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-06-17 DE DE19827014A patent/DE19827014B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-06-18 US US09/099,522 patent/US6123248A/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-08-25 US US09/645,595 patent/US6464122B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1148548A3 (de) * | 2000-04-19 | 2002-01-30 | Advanced Interconnect Technology Ltd. | Verfahren zur Herstellung bleifreier höckerartiger Anschlusskontakten |
US6638847B1 (en) | 2000-04-19 | 2003-10-28 | Advanced Interconnect Technology Ltd. | Method of forming lead-free bump interconnections |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6123248A (en) | 2000-09-26 |
DE19827014B4 (de) | 2005-12-01 |
US6464122B1 (en) | 2002-10-15 |
JPH1110385A (ja) | 1999-01-19 |
JP3592486B2 (ja) | 2004-11-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19827014B4 (de) | Belotungsverfahren | |
EP0875331B1 (de) | Verfahren zum Verbinden von einem Substrat und einem elektronischen Bauteil | |
KR101026970B1 (ko) | 납 프리 솔더 페이스트 | |
DE69837224T2 (de) | Mit bleifreiem Lötmittel verbundene elektronische Vorrichtung | |
DE10208635B4 (de) | Diffusionslotstelle, Verbund aus zwei über eine Diffusionslotstelle verbundenen Teilen und Verfahren zur Herstellung der Diffusionslotstelle | |
DE112011101556B4 (de) | Gemischtlegierungslötmittelpaste | |
EP2890517B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum verbinden von leitern mit substraten | |
DE69923337T2 (de) | Löten eines halbleiterchips auf ein substrat | |
DE1244530B (de) | Verwendung eines Lotes und Verfahren zum UEberziehen von Koerpern aus Glas, Keramik oder schwerschmelzbaren Metallen | |
EP0781186B1 (de) | Verfahren zur belotung von anschlussflächen, sowie verfahren zur herstellung einer lotlegierung | |
EP1250467A1 (de) | Lotlegierung | |
DE2623778A1 (de) | Verfahren zum loeten von schwer loetbarem metall und vorrichtung zur durchfuehrung desselben | |
DE60127911T2 (de) | Verfahren zum Steuern der Zusammensetzung einer Schmelzlötlegierung in einem Lötbad | |
DE60213173T2 (de) | Verfahren zum Herstellen von Aufbauanordnungen ohne Verminderung von Bindekraft von elektronischen Teilen durch Trennung von niederfesten/niedrig schmelzenden Legierungen | |
DE2852132A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum massenloeten von mit bauteilen bestueckten gedruckten schaltungsplatten | |
DE60016413T2 (de) | Verfahren zum löten mit bleifreiem lötmaterial | |
WO2007085563A1 (de) | Verfahren zum aufbringen eines lotdepots aus einem lotwerkstoff auf ein substrat durch kaltgas s pri t z en sowie pulverförmiger lotwerkstoff , wobei der lotwerkstoff pulverförmiges weichlot und pulverförmiges aluminium enthält | |
WO2004039526A1 (ja) | ハンダ付け方法と装置 | |
DE2728330A1 (de) | Verfahren zum verloeten von kontaktteilen und/oder halbleiterplaettchen | |
EP0276386B1 (de) | Verfahren zum Aufbringen einer Lotschicht auf metallische oder metallisierte Flächen von Bauelementen | |
EP3511108B1 (de) | Verfahren zur herstellung eines lotmittels | |
EP2219426A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Kontaktstellen | |
EP2559061B1 (de) | Verfahren zur ausbildung von lotdepots auf erhöhten kontaktmetallisierungen eines substrats | |
DE2633269B1 (de) | Verfahren zum anlöten von bauelementen an metallisierte bereiche eines schichtschaltungssubstrates | |
JPH1197839A (ja) | 電子部品実装用基板、電子部品実装基板及び実装方法並びに基板の被接合部材 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP K |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20150101 |