DE19756082A1 - Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung - Google Patents

Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung

Info

Publication number
DE19756082A1
DE19756082A1 DE19756082A DE19756082A DE19756082A1 DE 19756082 A1 DE19756082 A1 DE 19756082A1 DE 19756082 A DE19756082 A DE 19756082A DE 19756082 A DE19756082 A DE 19756082A DE 19756082 A1 DE19756082 A1 DE 19756082A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
row
lines
column lines
structuring
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19756082A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19756082C2 (de
Inventor
Stefan Kaefer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE19756082A priority Critical patent/DE19756082C2/de
Priority to EP98963333A priority patent/EP0976009A1/de
Priority to PCT/DE1998/003239 priority patent/WO1999031547A1/de
Priority to KR1019997007408A priority patent/KR20000071120A/ko
Priority to JP53186899A priority patent/JP2001511916A/ja
Publication of DE19756082A1 publication Critical patent/DE19756082A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19756082C2 publication Critical patent/DE19756082C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G02F1/136263—Line defects
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G02F1/136272—Auxiliary lines

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

Stand der Technik
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen eines Aktiv-Matrix-Flüssigkristalldis­ plays.
Die Zeilen- und Spaltenleitungen dienen der Ansteuerung der einzelnen Bildpunkte des Aktiv-Matrix-Flüssigkristalldisplays und werden über Treiberstufen mit den entsprechenden elektri­ schen Signalen versorgt. Die Zeilen- und Spaltenleitungen werden in der Regel aus metallischen Schichten hergestellt, die durch eine oder mehrere isolierende und halbleitende Schichten voneinander elektrisch getrennt sind. Während des Herstellungsprozesses des Flüssigkristalldisplays kann es zu Unterbrechungen der Leitungen kommen, wodurch die nach der Unterbrechungsstelle angeordneten Bildpunkte nicht mehr ange­ steuert werden können. Um eine spätere Reparatur von unter­ brochenen Leitungen zu ermöglichen, werden im Display-Layout außerhalb des eigentlichen Bildpunkt-Matrixbereichs zusätzli­ che redundante Zeilen- und/oder Spaltenleitungen als sogenann­ te Reparaturleitungen vorgesehen, die die eigentlichen Leitun­ gen der Matrix an beiden Enden kreuzen. Wird nun eine Lei­ tungsunterbrechung festgestellt, so kann diese mit Hilfe der Reparaturleitung überbrückt werden. Hierzu werden die Enden der Leitung mit der Reparaturleitung verbunden, was in der Regel durch eine Verschweißung der Kreuzungsstellen erfolgt. Die Reparatur von unterbrochenen Leitungen erfordert somit einen zusätzlichen und relativ zeitaufwendigen Arbeitsschritt.
Vorteile der Erfindung
Das erfindungsgemäße Verfahren mit den Merkmalen des unabhän­ gigen Anspruchs hat demgegenüber den Vorteil, daß keine zu­ sätzlichen Schichten und Ätzschritte zur Reparatur unterbro­ chener Matrixleitungen erforderlich sind. Der erfindungsgemäße Herstellungsprozeß zeichnet sich dadurch aus, daß die Isola­ tionsschichten zwischen den beiden Leitungsebenen erst nach der Strukturierung der Leitungen strukturiert werden. Die Leitungen werden vor der Strukturierung der Isolationsschich­ ten auf Unterbrechungen überprüft. Dadurch ist es möglich, festgestellte Unterbrechungen von Leitungen durch eine Kon­ taktierung zwischen einer Reparaturleitung und der unterbro­ chenen Leitung mittels der später im Herstellungsprozeß des Flüssigkristalldisplays aufgebrachten leitfähigen Schicht für die Bildpunktelektroden zu überbrücken. Dazu wird während der Strukturierung der mindestens einen Isolationsschicht diese Schicht an den späteren Kontaktstellen entfernt.
Die abhängigen Ansprüche enthalten vorteilhafte Weiterbildun­ gen des Verfahrens gemäß dem unabhängigen Anspruch. So kann zur Strukturierung der mindestens einen Isolationsschicht ein Positiv-Fotolack aufgebracht werden, der auch an den Kontakt­ stellen zwischen unterbrochenen Zeilen- und/oder Spaltenlei­ tungen und entsprechenden Reparaturleitungen belichtet wird. Die Strukturierung der mindestens einen Isolationsschicht kann anschließend in einem Ätzprozeß erfolgen. Die Isolations­ schicht wird dabei an denjenigen Stellen entfernt, an denen der Fotolack belichtet wurde. Die Kontaktierung zwischen der unterbrochenen Leitung und der Reparaturleitung kann durch eine geeignete Struktur aus der später abgeschiedenen und strukturierten Bildpunktelektrodenschicht, die in das in die Isolationsschicht geätzte Kontaktloch eindringt, erzeugt wer­ den.
Zeichnung
In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele der Erfindung ge­ zeigt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Ansicht eines Flüssig­ kristalldisplays mit Reparaturleitungen;
Fig. 2 eine Draufsicht auf eine Kreuzungsstelle zwischen einer Reparaturleitung und einer Spaltenleitung;
Fig. 3 einen vergrößerten Querschnitt durch die Anordnung nach Fig. 2;
Fig. 4 eine Draufsicht auf eine Kreuzungsstelle zwischen einer Reparaturleitung und einer Spaltenleitung mit erfolgter Kontaktie­ rung;
Fig. 5 einen Querschnitt durch die Anordnung nach Fig. 4;
Fig. 6 einen Querschnitt durch eine weitere Aus­ gestaltung einer Kreuzungsstelle zwischen einer Zeilenleitung und einer Spaltenlei­ tung.
Beschreibung
Fig. 1 zeigt schematisch ein Flüssigkristalldisplay 10. Die eigentliche Bildpunkt-Matrix 11 ist durch eine schraffierte Fläche angedeutet. Die einzelnen Bildpunkte werden durch Zei­ lenleitungen 13 und Spaltenleitungen 12 über entsprechende Treiberstufen 14 und 15 angesteuert. Außerhalb des eigentli­ chen Bildpunkt-Matrixbereichs 11 sind zwei Reparaturleitun­ gen 16 und 17 vorgesehen, die die Zeilen- bzw. Spaltenleitun­ gen 13, 12 kreuzen.
Fig. 1 zeigt des weiteren eine unterbrochene Spaltenlei­ tung 12a. Damit dennoch alle Bildpunkte entlang dieser Spalten­ leitung 12a ansteuerbar sind, werden die Enden der Leitung 12a über Kontakte 18 mit einer Reparaturleitung 17 verbunden, um die Unterbrechungsstelle 8 zu überbrücken.
Im folgenden wird die Erzeugung der Kontakte 18 exemplarisch für den Fall einer unterbrochenen Spaltenleitung 12a erläu­ tert. Fig. 2 zeigt den Kreuzungsbereich 9 aus Fig. 1 zwischen einer nicht unterbrochenen Spaltenleitung 12 und der Repara­ turleitung 17 im Detail. Des weiteren ist eine im Falle einer Kontaktierung notwendige Kontaktstruktur 19 aus einer elek­ trisch leitenden Bildpunktelektrodenschicht zu sehen. Die dazugehörenden Schichtfolgen sind Fig. 3 zu entnehmen. Ober­ halb der Reparaturleitung 17 ist eine Isolationsschicht 20 vorgesehen, welche die beiden Leitungen 12 und 17 gegenein­ ander isoliert.
Die Fig. 4 und 5 verdeutlichen das Kontaktieren der Reparatur­ leitung 17 im Bereich einer Kreuzungsstelle zu der unterbro­ chenen Spaltenleitung 12a. Der Kontakt zwischen 12a und 17 wird nun mit der Kontaktstruktur 19 über ein zuvor erzeugtes Kontaktloch 23 in der Isolationsschicht erzeugt.
Fig. 6 zeigt den Querschnitt einer Kontaktstelle zwischen der Spaltenleitung 12 und der Reparaturleitung 17 für eine abge­ wandelte Prozeßreihenfolge mit zwei Isolationsschichten 26 und 25 zwischen den Leitungen 12 und 17. Im dargestellten Beispiel wird während dem Herstellungsprozeß ein Loch in die obere Isolationsschicht 26 an der Stelle 27 und 28 geätzt, was wiederum noch keine Kontaktierung zwischen 12 und 17 zur Folge hat. Wird eine Kontaktierung im Falle einer unterbrochenen Spaltenleitung 12a benötigt, muß in die untere Isolations­ schicht 25 an der Stelle 27 ebenfalls ein Kontaktloch geätzt werden, was durch die gestrichelte Linie angedeutet wurde.

Claims (4)

1. Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitun­ gen (13, 12) eines Aktiv-Matrix-Flüssigkristalldisplays, gekennzeichnet durch die Schritte:
  • - Aufbringen und Strukturieren einer ersten leitfähigen Schicht für die Zeilenleitungen (13),
  • - Aufbringen mindestens einer Isolations- und mindestens einer Halbleiterschicht (20, 25, 26),
  • - Aufbringen einer zweiten leitfähigen Schicht für die Spaltenleitungen (12),
  • - Strukturieren der Spaltenleitungen (12),
  • - Überprüfung der Zeilen- und Spaltenleitungen (13, 12) auf Unterbrechungen,
  • - vor oder nach der Überprüfung der Zeilen- und/oder Spaltenleitungen (13, 12) Strukturieren der Halblei­ terschicht,
  • - Strukturieren der mindestens einen Isolations­ schicht (20, 25, 26), wobei Kontaktlöcher (23, 27) zwischen einer oder mehreren unterbrochenen Zeilen- und/ oder Spaltenleitungen (13, 13) und einer oder mehreren Reparaturleitungen (16, 17) mitstrukturiert werden, falls Leitungsunterbrechungen festgestellt wurden,
  • - Aufbringen und Strukturieren einer leitfähigen Schicht (19, 28) für die Bildpunktelektroden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Strukturierung der mindestens einen Isolations­ schicht (20, 22, 25, 26) ein Positiv-Fotolack aufgebracht wird, der zusätzlich an den Kontaktstellen (23, 27) zwi­ schen unterbrochenen Zeilen- und/oder Spaltenleitun­ gen (13, 12) und Reparaturleitungen (16, 17) belichtet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Strukturierung der mindestens einen Isolations­ schicht (20, 25, 26) zur Herstellung der Kontaktlö­ cher (23, 27) zusammen mit dem Ätzprozeß für die Isola­ tionsschicht erfolgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der zur Kontaktierung zwischen unter­ brochener Zeilen- und/oder Spaltenleitung (12a) und Repa­ raturleitung (16, 17) notwendige Kontakt (23, 27) durch eine geeignete Struktur aus der Bildpunktelektroden­ schicht (19, 28) erzeugt wird.
DE19756082A 1997-12-17 1997-12-17 Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung Expired - Lifetime DE19756082C2 (de)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19756082A DE19756082C2 (de) 1997-12-17 1997-12-17 Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung
EP98963333A EP0976009A1 (de) 1997-12-17 1998-11-06 Verfahren zur reparatur der zeilen- und spaltenleitungen eines aktiv-matrix-flüssigkristalldisplays
PCT/DE1998/003239 WO1999031547A1 (de) 1997-12-17 1998-11-06 Verfahren zur reparatur der zeilen- und spaltenleitungen eines aktiv-matrix-flüssigkristalldisplays
KR1019997007408A KR20000071120A (ko) 1997-12-17 1998-11-06 활성 매트릭스 액정디스플레이의 행 회로 및 열 회로 수리방법
JP53186899A JP2001511916A (ja) 1997-12-17 1998-11-06 アクティブマトリックス液晶ディスプレイの行及び列線路の修理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19756082A DE19756082C2 (de) 1997-12-17 1997-12-17 Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19756082A1 true DE19756082A1 (de) 1999-07-01
DE19756082C2 DE19756082C2 (de) 1999-10-14

Family

ID=7852235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19756082A Expired - Lifetime DE19756082C2 (de) 1997-12-17 1997-12-17 Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0976009A1 (de)
JP (1) JP2001511916A (de)
KR (1) KR20000071120A (de)
DE (1) DE19756082C2 (de)
WO (1) WO1999031547A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113031358A (zh) * 2021-03-22 2021-06-25 滁州惠科光电科技有限公司 一种阵列基板的断线修补方法及阵列基板

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101058094B1 (ko) * 2004-12-10 2011-08-24 삼성전자주식회사 어레이 기판, 이를 갖는 표시장치 및 리페어 방법
CN103207487B (zh) * 2013-03-26 2015-08-05 北京京东方光电科技有限公司 阵列基板、显示装置及阵列基板的维修方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0404528A2 (de) * 1989-06-20 1990-12-27 Sharp Kabushiki Kaisha Matrixanzeigevorrichtung

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4688896A (en) * 1985-03-04 1987-08-25 General Electric Company Information conversion device with auxiliary address lines for enhancing manufacturing yield
FR2605437A1 (fr) * 1986-10-17 1988-04-22 Thomson Csf Procede de reparation des electrodes defectueuses d'un reseau matriciel et reseau de reparation mettant en oeuvre ce procede
US5834321A (en) * 1995-12-18 1998-11-10 General Electric Company Low noise address line repair method for thin film imager devices
US5608245A (en) * 1995-12-21 1997-03-04 Xerox Corporation Array on substrate with repair line crossing lines in the array

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0404528A2 (de) * 1989-06-20 1990-12-27 Sharp Kabushiki Kaisha Matrixanzeigevorrichtung

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113031358A (zh) * 2021-03-22 2021-06-25 滁州惠科光电科技有限公司 一种阵列基板的断线修补方法及阵列基板

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001511916A (ja) 2001-08-14
EP0976009A1 (de) 2000-02-02
KR20000071120A (ko) 2000-11-25
DE19756082C2 (de) 1999-10-14
WO1999031547A1 (de) 1999-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19624916C2 (de) Flüssigkristallanzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE69635647T2 (de) Flüssigkristallanzeigevorrichtung
DE102016113794B4 (de) Arraysubstrat, verfahren zum reparieren einer berührungsleitung und anzeigetafel
DE69624322T2 (de) Matrize auf Substrat und Herstellungsverfahren
DE2843144C2 (de)
DE3887484T2 (de) Flüssigkristall Anzeigevorrichtung.
DE2319011C2 (de) Verfahren zum Prüfen eines Leiternetzes auf einem isolierenden Substrat und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE19906815B4 (de) Flüssigkristallanzeige und Verfahren zur Herstellung derselben
DE68922483T2 (de) Herstellungsmethode für eine Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung.
DE102014108124B4 (de) Display-vorrichtung und verfahren zur reparatur unterbrochener leitungen derselben
EP1057038B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum prüfen von gedruckten leiterplatten
DE4318028A1 (de) Flüssigkristallanzeigeeinrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE69013239T2 (de) Matrixanzeigevorrichtung.
DE102015226797B4 (de) Arraysubstrat, Berührungsanzeigebedienfeld, Berührungsanzeigevorrichtung und Erfassungsverfahren
DE112012006646T5 (de) Detektionsschaltung und Verfahren zur Herstellung eines LCD-Paneels
DE2418906B2 (de) Verfahren zur Verbindung der in einer Halbleiterscheibe erzeugten Schaltungskreise
DE69125190T2 (de) Verfahren zur herstellung elektrophoretischer flachanzeigetafeln mit doppelter anode
DE3100935A1 (de) "verfahren zur herstellung einer gasanzeigetafel mit glasschichtenaufbau"
DE102006027657B4 (de) Flüssigkristalldisplay mit einem Gatekontaktfleck und Verfahren zu dessen Herstellung
DE19756082C2 (de) Verfahren zur Reparatur der Zeilen- und Spaltenleitungen einer Aktiv-Matrixflüssigkristallanzeigevorrichtung
DE19638433B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung
DE69232910T2 (de) Redundante Schieberegister für Abtastungsvorrichtungen
DE19718637A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
DE19501558A1 (de) Halbleitervorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE60121820T2 (de) Verfahren zur Herstellung integrierter Schaltungen mit verbesserten Leiterbahnen in sogenannter "Sägebügel"-Form

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
R071 Expiry of right