DE19748844C1 - Prüfkörper - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft einen Prüfkörper zur Ermittlung der Positionier- und Montage­ toleranzen bei der Fixierung elektronischer Bauelemente auf Leiterplatten mittels Bestüc­ kungsautomaten.

Bei der Bestückung von Leiterplatten mit elektrischen und elektronischen Bauelementen und Baugruppen mittels Bestückungseinrichtungen kommt es aufgrund von mechanischen, optischen, steuerungstechnischen sowie subjektiven Einflüssen durch den Bediener zu Positionierunggenauigkeiten und daraus resultierenden Lageabweichungen beim Aufsetzen der Bauteile auf die zu bestückende Leiterplatte. Zur Gewährleistung geringer Positionier- und Montagetoleranzen bei der Bestückung ist es daher notwendig, die Bestückungsautomaten in zyklischen Abständen meßtechnisch zu überprüfen.

Unter realen Prozeßbedingungen unterliegt die erreichbare Positioniergenauigkeit an den einzelnen Arbeitspunkten des Arbeitsraumes eines Bestückungsautomaten stochastischen Schwankungen, deren Verteilung nicht in jedem Fall durch bekannte Verteilungsfunktionen beschrieben werden kann. Somit fehlen die Voraussetzungen für eine hinreichend genaue mathematische Prognose der Verteilung der Montagetoleranzen über dem Arbeitsbereich des Bestückungsautomaten.

Zur Ermittlung der tatsächlich erreichbaren Montagetoleranzen müssen daher möglichst viele Meßpunkte innerhalb des Arbeitsbereiches des Bestückungsautomaten meßtechnisch erfaßt werden. Anschließend kann mit Hilfe von Korrekturprogrammen die Soll-Ist-Abweichung an jedem ermittelten Punkt des Arbeitsbereiches ermittelt und Fehler kompensiert werden. In gleicher Weise besteht die Möglichkeit, die Prozeßgüte des Bestückungsautomatens quantitativ und qualitativ zu beurteilen, um daraus Rückschlüsse auf die verbleibende Restnutzungsdauer oder den spätesten Zeitpunkt von Ersatzinvestitionen zu ziehen.

Zur Ermittlung der Soll-Ist-Abweichungen bei der Positionierung von SMD-Bauteilen auf Leiterplatten werden in der Regel Nachbildungen (Dummies) verwendet, die unter simulier­ ten, prozeßnahen Bedingungen montiert werden.

Aus der US 5.537.204 A sind derartige Prüfkörper zur Erfassung der Bestückungsgenauig­ keit bzw. der zulässigen Montagetoleranzen bekannt. Die transparenten Prüfkörper bestehen aus Glas, Acryl oder anderen lichtdurchlässigen Werkstoffen. Als Positioniernormal weisen die Prüfkörper auf ihrer Deckfläche Positionsmarken auf. Die Positionsmarken können auch als gitterförmige Netzstrukturen ausgebildet oder dem tatsächlichen Layout eines elektroni­ schen Schaltkreises nachgebildet sein.

Um eine Lageverschiebung der aufgesetzten Prüfkörper auf der Testleiterplatte zu verhin­ dern, werden Klebemittel in Form zweiseitig adhäsiver Klebestreifen verwendet. Diese Klebe­ streifen werden vor der Versuchsdurchführung auf der Testplatte fixiert.

Nachteilig an dieser Lösung ist, daß durch das anschließende Entfernen der Klebestreifen von der Testplatte und/oder den Prüfkörpern Nacharbeiten in einem erheblichen Umfang verursacht werden. Auch ist nicht vollständig ausgeschlossen, daß Klebstoffreste auf der Testplatte oder den transparenten Grundkörpern der Dummies verbleiben, die die Prüfer­ gebnisse bei einer nachfolgenden Testung verfälschen.

Auch hat es sich gezeigt, daß die in der US 5.537.204 A verwendeten doppelseitigen Klebe­ streifen nicht völlig spannungsfrei auf der Testleiterplatte aufgebracht werden können. So wurde festgestellt, daß die unter Spannung stehenden Klebestreifen eine Kriechneigung aufweisen, so daß die positionierten Dummies ihre ursprüngliche Lage und Position verän­ derten. Nachteilig ist auch, daß sich bei der Verwendung der beschriebenen beidseitig adhäsiven Klebestreifen Lufteinschlüsse (Lunker) zwischen der Testplatte und der Unterseite des Klebestreifens bilden, die zu einer Verfälschung der Meßergebnisse führen.

Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß die ungeschützten Prüfkörper anfällig gegenüber stoß- oder schlagartiger Beanspruchung sind und bei mehrfachem Gebrauch durch mecha­ nischen Abrieb Verschleißspuren auf der Oberfläche der Prüfkörper entstehen, die bei der meßtechnischen Auswertung unter Umständen als Positioniermarke erkannt werden.

Aufgrund der Viskosität der Klebstoffschicht, in die die gläsernen Testdummies beim Bestücken der Testleiterplatte mit ihrer Grundfläche vollständig eintauchen, kommt es auch nach dem Bestücken zu Fließvorgängen, die eine nachträgliche Lageveränderung des Glasdummies auf der Testleiterplatte und somit eine Verfälschung des Meßergebnisses bewirken.

Nachteilig ist ebenso, daß die Testdummies nach Abschluß der Messungen und vor einem erneuten Einsatz von Klebstoffresten befreit werden müssen. Auch werden durch verbleiben­ de Klebstoffreste und anhaftende Schmutzpartikel auf der Testleiterplatte Verunreinigungen erzeugt, die eine aufwendige Nachbehandlung erfordern, um mechanische Beschädigungen an der Glasoberfläche des Dummies zu vermeiden.

Die relativ teuren Glasdummies sind zudem anfällig gegenüber schlag- und stoßartigen Beanspruchungen sowie gegen Abrieb an der Oberfläche. Dieses bekannte Verfahren zur Lagefixierung von Glasdummies erlaubt daher wegen der vorgenannten technologischen Unzulänglichkeiten keine permanente Prozeßüberwachung an Bestückungsautomaten.

Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile des Standes der Technik zu eliminieren und einen Prüfkörper zu schaffen, der sich durch hohe Einsatzsicherheit und Verschleißresistenz aus­ zeichnet, der leicht gereinigt werden kann und durch den nachträgliche Lageveränderungen des Prüfkörpers auf der Testleiterplatte vermieden werden.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe durch die kennzeichnenden Merkmale des Haupt­ anspruches gelöst. Vorzugsweise Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Ansprüchen 2 bis 12 dargelegt.

Der Prüfkörper (Dummy) besteht aus einem transparenten Grundkörper, der auf seiner Grund- und/oder Deckfläche maschinell abtastbare Codierungen aufweist. Der Grundkörper ist eingebettet in ein Gehäuse, das den Grundkörper vor mechanischen Beschädigungen schützt. In einer fertigungstechnisch bevorzugten Ausgestaltung ist das Gehäuse als offener Rahmen ausgebildet, der den Grundkörper an den Umfangsseiten umschließt. In einer anderen, gleichfalls bevorzugten Ausbildung ist der Grundkörper von einem Rahmen und einer die Oberseite umschließenden Deckfläche umgeben, die lichtdurchlässige Öffnungen oder Durchbrüche aufweist.

In einer anderen vorzugsweisen Gestaltung wird der Grundkörper von einem Gehäuse in Form eines zweiteiligen Rahmens aufgenommen, wobei beide Rahmenteile lösbar mit dem Grundkörper verbunden sind.

Der Grundkörper besteht vorzugsweise aus Glas, insbesondere aus hochreinem Quarzflach­ glas.

Das Gehäuse, das den Grundkörper trägt, besteht vorzugsweise aus einem lichtundurch­ lässigen Material, das eine gute Kontrastbildung bei der fotooptischen Abtastung der Codie­ rungen des Grundkörpers im Auf- oder Durchlichtverfahren ermöglicht.

Vorzugsweise besteht der Grundkörper aus einem spritzgießfähigen Kunststoff oder einer Aluminium-Druckguß-Legierung. Vorteilhaft ist die Oberfläche des Grundkörpers mit einer lichtabsorbierenden Schicht versehen, um Reflektionen oder Beugungen des Lichtstrahles bei der fotooptischen Abtastung der Markierungen des Dummys zu vermeiden.

Die vorzugsweise rahmenförmigen Ränder des Gehäuses, die im Montagezustand der Test­ platte zugewandt sind, ragen 0,05 mm bis 0,25 mm über den, in das Gehäuse eingebetteten Grundkörper heraus. Die Ränder des Gehäuses, die beim simulierten Positionieren auf der Glasleiterplatte aufsetzen, sind partiell, insbesondere punktförmig, oder vollflächig mit einem dauerelastischen Haftmittel beschichtet.

Vorzugsweise werden glasklar transparente Transferkleber als Haftmittel verwendet. Da die Haftmittelschicht lediglich an den Randzonen des Gehäuses aufgebracht ist, wird der Strah­ lendurchgang einer Up-and-Down-Kamera nicht unterbrochen oder abgelenkt, da sich kein Klebstoff oder Haftmittel zwischen den Codierungen des Dummies, die als Maßverkörper­ ungen dienen und den Markierungen auf der angrenzenden Testleiterplatte befindet.

Zur Lagebestimmung des Dummies auf der Testleiterplatte sind am oder auf dem Dummy maschinell abtastbare Codierungen als Positionsmarken angeordnet, mit dessen Hilfe Lage- und Formabweichungen des aufgesetzten Dummies gegenüber der Testleiterplatte ermittelt werden können.

Ein Vorteil des neuen Prüfkörpers ist die hohe Resistenz gegenüber schlag- und stoßartigen Beanspruchungen sowie Reibung an der Oberfläche. Durch die Umhüllung bzw. Ummante­ lung des transparenten Grundkörpers, der die Maßverkörperung trägt, wird eine sichere und zerstörungsfreie Übertragung mechanischer Kräfte und Momente realisiert.

Durch den überstehenden Rand des Gehäuses an der Unterseite des Meßdummies wird eine direkte mechanische Berührung des vorzugsweise gläsernen Grundkörpers des Dummies mit der Testplatte vermieden.

Durch die Verwendung eines lösungsmittelfreien, dauerelastischen Haftmittels ist grundsätz­ lich keine abschließende Reinigung der Testplatte sowie der verwendeten Glasdummies vor der Durchführung einer weiteren Meßreihe notwendig.

Das Haftmittel wird punktuell oder flächig an der Unterseite des Gehäuses aufgebracht, die der Testplatte zugewandt ist. Durch die Wahl eines geeigneten Haftmittels, wie beispielsweise des mikroporösen Haftmittels 4656 der Fa. Scotch, 3M, kann der Meßdummy quasi zeitlich unbegrenzt als Simulationsobjekt Verwendung finden. In praktischen Langzeiterprobungen hat es sich herausgestellt, daß eine neuerliche Beschichtung des Gehäuses des Glasdummies mit einem Haftmittel frühestens nach mehreren hundert Meßversuchen notwendig ist.

Durch das gleichförmige, homogene Haftmittel werden Meßfehler erster Ordnung infolge Neigung oder Verkippen des Glasdummies gegenüber der Oberfläche der Testplatte ver­ mieden. Durch den lokalen Auftrag des Haftmittels auf den Gehäuserändern der Glasdummies werden Fließeigenschaften simuliert, die dem Verhalten realer Bauteile sehr nahe kommen. So ist das Aufsetzen eines SMD-Schaltkreises auf die mit einer Lotpaste oder einem anderen Lötmittel benetzten Oberfläche der Leiterplatte dem Positionierverhalten des Dummies auf einer Testleiterplatte gleichzusetzen.

Ein weiterer Vorteil besteht in der besseren Handhabung des gekapselten und dadurch bruchsicheren Dummies unter realen Produktionsbedingungen. Durch die Schutzfunktion des Gehäuses kann der Glaskörper, der als Meß- und Lagenormal dient, extrem dünnwandig ausgebildet werden. Damit ist eine höhere Auflösung und genauere meßtechnische Erfassung der Markierungen des Glaskörpers realisierbar.

Vorteilhaft wird das Gehäuse aus einem schlag- und stoßresistenten sowie abriebfesten Kunst­ stoff gefertigt.

In einer fertigungstechnisch vorteilhaften Variante wird das einteilige Gehäuse durch Spritz­ gießen hergestellt. Dadurch können die Fertigungskosten bei hinreichend geringen Fertigung­ stoleranzen minimiert werden. Aufgrund der Elastizität des Kunststoffes kann der Grundkör­ per kraftschlüssig in das Gehäuseinnere eingebettet werden. In einer alternativen Variante erfolgt die Verbindung des Grundkörpers mit dem Gehäuse durch einen hochreinen, glas­ klaren Transferkleber.

Ebenfalls läßt sich das Gehäuse des Prüfkörpers vorteilhaft als Aluminiumdruckgußteil fertigen. Dadurch können bei geringen Stückkosten ebenfalls hinreichend genaue Fertigungs­ toleranzen realisiert werden, so daß sich eine nachfolgende spanende Bearbeitung der Aufnahmeflächen des Gehäuses erübrigt.

Daneben besteht die vorteilhafte Möglichkeit, durch Variation der Legierungsbestandteile oder durch das Eingießen von Masseteilchen die Gesamtmasse des Prüfkörpers zu variieren, um die tatsächlich wirkenden statischen und dynamischen Kräfte und Momente bei der Bestückung realer Schaltkreise mittels Bestückungsautomaten besser simulieren zu können.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung sind die Innenwandungen des Gehäuses, die den Grund­ körper aufnehmen, mit einer lichtabsorbierenden Schicht ausgebildet. Dadurch können Reflektionen und Beugungen eines Abtast-Lichtstrahls, der auf die Innenwandung des Gehäuses auftrifft, vermieden werden.

Um die Prüfkörper auch bei der Durchführung von Messungen nach dem Durchlichtprinzip einsetzen zu können, weist das Gehäuse vorteilhaft mindestens eine Ausnehmung auf, die einen ungehinderten Strahlendurchgang von einer - unterhalb der Testplatte mit den darauf angeordneten Dummies befindlichen Lichtquelle - zu einer darüber angeordneten Kamera ermöglicht.

Das Haftmittel, das der Fixierung des Prüfkörpers auf der Testplatte dient, wird vorteilhaft punktförmig auf der Unterseite des Gehäuses, insbesondere auf der auskragenden Fläche der Auflage aufgebracht. Durch den punktförmigen Kleberauftrag können die fixierten Dummies nach Abschluß einer Meßreihe mit nur geringem Kraftaufwand manuell oder maschinell ent­ fernt werden.

Als gleichfalls vorteilhaft erweist sich der vollflächige Auftrag des Haftmittels auf der Auflage. Dadurch kann das tatsächliche Positionierverhalten einer SMD-Flachbaugruppe simuliert werden, die unter realen Prozeßbedingungen auf einer Schicht aus viskoser Lötpaste aufliegt.

Als Haftmittel wird vorzugsweise ein druckempfindliches, trägerloses Transferklebeband verwendet. Damit besteht die Möglichkeit, die Adhäsionskräfte zwischen Haftmittel und Auflage des Gehäuses auf der einen und der Oberfläche der Testplatte auf der anderen Seite so zu dimensionieren, daß das Haftmittel nach dem Abnehmen des Prüfkörpers von der Test­ platte sicher auf der Auflage verbleibt.

Da der bevorzugt verwendete Transferkleber keine freiwerdenden Lösungsmittel aufweist, entstehen keine toxischen Abprodukte, die eine zusätzliche Entlüftung des Arbeitsraumes am Bestückungsautomaten während der Meßdurchführung erforderlich machen würden.

Als besonders vorteilhaft hat es sich herausgestellt, wenn die Unterseite des Grundkörpers (1) im eingebetteten Zustand im Gehäuse (2) etwa 0,05 mm bis 0,25 mm von der Oberfläche der Testplatte beabstandet ist. Durch die Minimierung des Abstandes zwischen der Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1), die die maschinenlesbaren Codierungen trägt, und der Oberfläche der benachbarten Testglasplatte werden Kippfehler bei der Messung bzw. Prüfung weitest­ gehend vermieden.

Diese möglichen Kippfehler können vollständig eliminiert werden, wenn in einer vorteilhaften Ausgestaltung die Grund- und die Deckfläche (1g), (1d) des Grundkörpers (1) zueinander fluchtend angeordnete, maschinell abtastbare Codierungen aufweisen. Gemeinsam mit der dritten Codierung, die sich auf der Oberfläche oder nahe der Oberfläche der transparenten Test-Leiterplatte befindet, können Kipp- oder Neigungsfehler des Prüfkörpers sicher erkannt und lokalisiert werden.

Eine gegebenenfalls notwendige Reinigung des Dummies kann in einer vorzugsweisen Form dadurch erfolgen, daß die verschleißgefährdete Unterseite des Grundkörpers mit einer dünnwandigen, etwa 0,1 mm starken Platte abgedeckt wird, die formschlüssig zwischen die überstehenden Ränder des Gehäuses gefügt werden kann. Nachfolgend können mit bekannten mechanischen, biologischen und/oder chemischen Mitteln vorhandene Haftmittelreste oder Verunreinigungen von den Auflageflächen des Gehäuses entfernt werden.

Drei ausführende Beispiele der Erfindung sind in den Fig. 1 bis 3 dargestellt und nachfol­ gend näher erläutert:

Fig. 1 zeigt in einer geschnittenen Seitenansicht und einer Draufsicht einen zweiteiligen Prüfkörper. Der Grundkörper (1) wird gebildet durch eine 0,3 mm starke quadratische Quarzglasplatte (hochreines SiO₂) mit den Abmessungen 19 × 19 mm.

Die Quarzglasplatte ist kraftschlüssig eingebettet in ein einteiliges Gehäuse (2) aus Kunst­ stoff. Das rahmenförmige Gehäuse (2) weist an der Unterseite einen umlaufenden Bund (5) auf, auf dem die Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1) aufsitzt. Dadurch ist eine genaue, planparallele Ausrichtung des Grundkörpers (1) in bezug auf die umlaufende Auflage (4) des Gehäuses (2) gegeben. Die Höhe des Bundes (5) beträgt 0,1 mm. Durch den geringen Abstand zwischen der Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1) und der angrenzenden, nicht näher dargestellten Oberfläche einer gläsernen Testplatte werden Meßfehler bei der optischen Antastung der Markierungen (3) des Grundkörpers (1) minimiert.

Um mögliche Meßfehler 1. Ordnung zu verhindern, die beim Aufsetzen des Prüfkörpers durch ein Verkippen auf der Testglasplatte auftreten können (z. B. als Folge von Verunreinigungen an der Oberfläche oder durch eine ungleichmäßige Schichtdicke des aufgetragenen Haft­ mittels), weist die Deckfläche (1d) des Grundkörpers (1) in einer bevorzugten Ausgestaltung ebenfalls Markierungen (3) auf, die fluchtend oberhalb der Markierungen (3) auf der Grund­ fläche (1g) des Grundkörpers (1) angeordnet sind.

Ein umlaufender Kragen (6) des Gehäuses (2) schützt die Deckfläche (1d) des Grundkörpers (1) vor mechanischen Beschädigungen.

Bei einer zyklischen Reinigung des Prüfkörpers von Verunreinigungen wird der Grundkörper (1) unter leichtem Druck aus dem elastischen Gehäuse (2) entnommen. Anschließend können der Grundkörper (1) und das Gehäuse (2) in Ultraschallreinigungsanlagen von anhaftenden Verschmutzungen und Verunreinigungen gesäubert werden. Die nachfolgende Montage der beiden Bauelemente des Prüfkörpers erfolgt in umgekehrter Reihenfolge.

Fig. 2 zeigt eine weitere Ausgestaltungsform des Prüfkörpers. Der Grundkörper (1) wird durch eine rechteckiges, 0,1 mm starkes Plättchen aus optischem Glas gebildet. Auf der Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1) sind vier Markierungen (3) aufgebracht, die der Lagebestimmung des Prüfkörpers auf der Testplatte dienen. Daneben sind auf der Grundseite (1g) weitere Simulationsbilder (8) aufgebracht. Die vier symmetrisch angeordneten Simulati­ onsbilder (8) deuten den Verlauf der Pins eines realen Schaltkreises an. Durch die Simulati­ onsbilder (8) kann die Lage der Pins in bezug auf Durchbrüche oder Lötstellen an der darunter befindlichen Testleiterplatte dargestellt werden.

Der gläserne Grundkörper (1) ist schlag- und stoßgeschützt untergebracht in einem Gehäuse (2) aus einer Aluminium-Druckgußlegierung AlMgSi9. Die kraftschlüssige Verbindung zwischen Grundkörper (1) und Gehäuse (2) erfolgt durch einen nicht näher dargestellten glasklar transparenten Transferkleber.

Das Gehäuse (2) weist am unteren Rand eine umlaufende Auflage (4) auf, auf der eine durchgehende Schicht eines mikroporösen, dauerelastischen Haftmittels aufgebracht ist. Dieses Haftmittel ermöglicht ein mehrmaliges Positionieren des Prüfkörpers, zum Beispiel bei der Durchführung mehrerer Meßreihen, ohne daß die Haftschicht erneuert werden muß. Nach Erreichen einer vorgegebenen Standzeit erfolgt ein präventive Erneuerung der Haftmittel­ schicht, um etwaige Verunreinigungen zu beseitigen, die in der Haftschicht eingeschlossen worden sind. Duch die zyklische Erneuerung der Haftmittelschicht können Ursachen für Meßfehler beseitigt werden, die aus einer ungleichmäßigen Schichtdicke des auf der Auflage des Gehäuses befindlichen Haftmittels resultieren.

Die Oberfläche des Gehäuses (2) ist vollständig mit einer lichtabsorbierenden, schwarzen Eloxal-Schicht versehen. Dadurch werden Ablenkungen des Lichtstrahles innerhalb des Gehäuses (2) beim Abtasten der Markierungen (3) vermieden.

Die Reinigung des Prüfkörpers kann mit mechanischen Mitteln oder unter Zuhilfenahme biologischer oder chemischer Reinigungsmittel erfolgen. Zum Schutz der Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1) wird diese mit einer nicht näher dargestellten Schutzplatte abgedeckt, die formschlüssig in den inneren Rahmen des Gehäuses (2) einsteckbar ist, der durch die nach unten auskragende, umlaufende Auflage (4) gebildet wird.

In der mittleren Schnittdarstellung von Fig. 2 sind kegelstumpfförmige Ausnehmungen (7) sichtbar. Durch diese Ausnehmungen (7) kann bei Messungen nach dem Durchlichtverfahren der Abtastlichtstrahl der betreffenden Lichtquelle durch den Prüfkörper und die angrenzende Testplatte bis zum Empfänger (Aufnahmekamera) geleitet werden. Der Abstand zwischen der Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1) und der Aufstandsfläche der umlaufenden Auflage (4) beträgt 0,05 mm.

In der unteren Abbildung von Fig. 2 ist der Prüfkörper in einer Draufsicht dargestellt. Durch die Ausnehmungen (7) sind die Markierungen (3) sichtbar, die sich an der Grundfläche (1g) des Grundkörpers (1) befinden.

In einem dritten Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 3 besteht der Grundkörper aus einer rechteckigen, 0,5 mm starken, planparallelen Floatglasplatte.

Der Schutz des Grundkörpers (1) vor mechanischen Einwirkungen erfolgt durch zwei taschenartige, U-förmige Gehäuseteile, die formschlüssig auf die Stirnseiten des rechteckigen Grundkörpers (1) aufschiebbar sind. Die Lagefixierung des Prüfkörpers auf der Testplatte erfolgt - wie in Ausführungsbeispiel 1 - mittels eines Transferklebers, der auf die Auflage­ fläche (4) der beiden Gehäuseteile (2) aufgebracht ist.

Eine bedarfsweise oder zyklisch-präventive Reinigung des Prüfkörpers erfolgt durch Abzie­ hen der beiden formschlüssig aufgebrachten Kunststoff-Gehäuseteile (2) vom Grundkörper (1). Nachfolgend werden die Bauteile mit bekannten Mitteln gereinigt. Abschließend werden die rahmenartigen Gehäuseteile erneut mit dem Grundkörper (1) verbunden und eine neue Klebstoffschicht wird als Haftmedium auf der Auflage (4) der Gehäuseteile (2) aufgebracht.

Bezugszeichenliste

1

Grundkörper

1

gGrundfläche des Grundkörpers

1

dDeckfläche des Grundkörpers

2

Gehäuse

3

Markierung

4

Auflage

5

Bund

6

Kragen

7

Ausnehmung

8

Simulationsbild

Claims (11)

1. Prüfkörper zur Ermittlung der Positionier- und Montagetoleranzen bei der Bestückung von Leiterplatten und elektronischen Bauteilen, bestehend aus einem transparenten Grundkörper (1), der auf seiner Grund- und/oder Deckfläche maschinell abtastbare Codierungen zur Lagebestimmung aufweist und in einem Gehäuse (2) geschützt angeordnet ist, wobei das Gehäuse (2) so ausgebildet ist, daß es mit Haftmitteln an der Grundplatte fixierbar ist.

2. Prüfkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (2) aus Kunststoff oder aus einer Aluminiumlegierung besteht.

3. Prüfkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Wandungen des Gehäuses (2), die den Grundkörper (I) umschließen oder aufnehmen, teilweise oder vollständig lichtabsorbierend ausgebildet sind.

4. Prüfkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (2) Ausnehmungen (7) aufweist, die einen Strahlendurchgang durch den Prüfkörper ermöglichen.

5. Prüfkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (2) mindestens eine Auflage (4) aufweist, auf der das Haftmittel punkt- oder flächenförmig aufgebracht ist.

6. Prüfkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Auflage (4) als umlaufender Rahmen ausgebildet ist.

7. Prüfkörper nach Anspruch 1 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Haftmittel ein druckempfindliches, trägerloses, beidseitig selbstklebendes Band aus einem druckempfindlichen Kleber aufgebracht ist.

8. Prüfkörper nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Auflage (4) des Gehäuses (2) 0,05 mm bis 0,25 mm über die Grundfläche (1g) des in das Gehäuse (2) eingebetteten Grundkörpers (1) ausragt.

9. Prüfkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper (1) aus Siliciumflachglas besteht.

10. Prüfkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper (1) auf seiner Grundfläche maschinell abtastbare Codierungen aufweist.

11. Prüfkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper (1) auf seiner Grund- und Deckfläche fluchtend angeordnete maschinell abtastbare Codierungen aufweist.