DE4034136C2 - - Google Patents
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- DE4034136C2 DE4034136C2 DE19904034136 DE4034136A DE4034136C2 DE 4034136 C2 DE4034136 C2 DE 4034136C2 DE 19904034136 DE19904034136 DE 19904034136 DE 4034136 A DE4034136 A DE 4034136A DE 4034136 C2 DE4034136 C2 DE 4034136C2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren
zum Messen des Abstandes von runden oder
eckigen Durchgangs- oder Sacklöchern mit
Durchmesser oder Kantenlänge kleiner 18 mm gemäß
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein derartiges Verfahren ist aus der Firmenschrift:
"UWM-Universelles Meßlichtmikroskop als Bausteinsystem
für Werkstatt und Meßraum", Ernst Leitz GmbH, Wetzlar,
Impressum: 810-10e, XI71/Ax/g bekannt.
Für die Einkoordinatenmessung des Abstandes von Öff
nungen, insbesondere von runden oder eckigen Durch
gangs- oder Sacklöchern stehen moderne Durch- oder
Auflichtmeßgeräte, z. B. Meßmikroskope oder Meßpro
jektoren zur Verfügung. Bei der Messung von Lochmitten-
Abständen oder der Lochmitten zu anderen Bezugspunk
ten ist jedoch durch Konturen-Unschärfe, z. B. ma
terialbedingt durch Phasenbildung am Lochrand oder
kegelförmiger Ausbildung des Loches, eine exakte
Messung kaum möglich. Sacklöcher mit schlecht erkenn
baren Konturen, z. B. Duroplast - schwarz- oder Por
zellan-weiß - lassen sich auch bei Verwendung eines
Doppelprismas nicht genau messen, weil sich hierdurch
eine Lichtstärkenreduzierung ergibt, die ein genaues
Ausmessen verhindert. Auch bei Sechskantlöchern ist
aufgrund der nicht vorauszusetzenden Parallelität von
zwei Lochseiten als Meßkanten zueinander eine prak
tische Messung in Frage gestellt. Außerdem ist bei
hilfsweiser Messung von Lochkante zu Lochkante oder
anderen Bezugspunkten für das Bestimmen der Lochmitten
abstände ein Rechengang erforderlich.
Ziel der Erfindung ist eine Verbesserung der Meßge
nauigkeit oder eine Zeitverkürzung bei o. g. Meßprozessen,
ohne Erhöhung des gerätetechnischen Aufwandes.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum
Messen des Abstandes von runden oder eckigen Durchgangs-
oder Sacklöchern mit Durchmesser oder Kantenlänge kleiner
18 mm zueinander oder zu Bezugspunkten, insbesondere zum
Messen ihrer Mittenabstände, unter Verwendung von Auf-
oder Durchlichtmeßgeräten mit Blendenverstellung und/oder
Doppelprismen zu schaffen, die eine exakte Messung bei
konstruktions-, material-, reflektions- und toleranzbe
dingt sich unscharf abbildenden Konturen der Meßobjekte
ermöglicht.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die
Sacklöcher mit Flüssigkeit gefüllt werden und die Durch
gangslöcher einseitig abgedichtet und dann mit Flüssigkeit
gefüllt werden. Die Abdichtung der Sacklöcher erfolgt mit
wieder entfernbaren Dichtungen, z. B. Plasteline. Die
Flüssigkeit besteht vorzugsweise aus Wasser oder Öl.
Durch die näherungsweise Parabolspiegelkrümmung der Flüssigkeits
oberfläche zeichnet sich ein kreisrunder Lichtfleck mit
scharfer Kontur in Lochmitte ab, der mittels Blendenver
stellung im Durchmesser bis auf Punkt- oder Strichmaße
verändert werden kann.
Folgende Daten konnten beim Zeiss-Meßprojektor MP 320
bei Verwendung von Wasser und einem Meßgegenstand aus Poly
äthylen ermittelt werden:
Mit Hilfe der Blendenvariierung kann damit in Abhän
gigkeit von den Lochdurchmessern ein direktes Aus
messen von Lochmitte zu Lochmitte bis zur Genauig
keit der Strichbreite ohne Rechenarbeit erfolgen.
Bei den darüberliegenden Größen kann mit Hilfe des
Doppelprismas aufgrund guter Lichtreflexion der
Flüssigkeitsoberfläche ohne Rücksicht auf den Re
flexionsgrad des Werkstoffes und die Konturenschärfe
eine Messung exakt durchgeführt werden.
Claims (4)
1. Verfahren zum Messen des Abstandes von runden oder eckigen
Durchgangs- oder Sacklöchern mit Durchmesser oder Kanten
länge kleiner 18 mm zueinander oder zu Bezugspunkten, ins
besondere zum Messen ihrer Mittenabstände, unter Verwen
dung von Auf- oder Durchlichtmeßgeräten mit Blendenver
stellung und/oder Doppelprismen, dadurch gekennzeichnet,
daß
- - die Sacklöcher mit Flüssigkeit gefüllt werden und
- - die Durchgangslöcher einseitig abgedichtet und dann mit Flüssigkeit gefüllt werden.
2. Verfahren zum Messen des Abstandes von runden oder eckigen
Durchgangs- oder Sacklöchern nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Durchgangslöcher mit wieder entfern
baren Dichtungen einseitig abgedichtet werden.
3. Verfahren zum Messen des Abstandes von runden oder
eckigen Durchgangs- oder Sacklöchern nach
Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
wieder entfernbaren Dichtungen aus Plasteline
bestehen.
4. Verfahren zum Messen des Abstandes von runden oder eckigen Durchgangs-
oder Sacklöchern nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Sack- oder Durchgangslöcher mit Wasser
oder Öl gefüllt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904034136 DE4034136A1 (de) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | Messanordnung fuer einkoordinatenmessung an loechern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904034136 DE4034136A1 (de) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | Messanordnung fuer einkoordinatenmessung an loechern |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4034136A1 DE4034136A1 (de) | 1992-04-30 |
DE4034136C2 true DE4034136C2 (de) | 1992-10-01 |
Family
ID=6417135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904034136 Granted DE4034136A1 (de) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | Messanordnung fuer einkoordinatenmessung an loechern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4034136A1 (de) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1098213B (de) * | 1959-08-07 | 1961-01-26 | Hensoldt & Soehne Optik | Messmikroskop |
US4596037A (en) * | 1984-03-09 | 1986-06-17 | International Business Machines Corporation | Video measuring system for defining location orthogonally |
DE3437957A1 (de) * | 1984-10-17 | 1986-04-17 | Dr. Staiger, Mohilo + Co GmbH, 7060 Schorndorf | Verfahren zur beruehrungslosen bestimmung der lage bzw. des versatzes eines in einem werkstueck befindlichen lochs |
-
1990
- 1990-10-26 DE DE19904034136 patent/DE4034136A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4034136A1 (de) | 1992-04-30 |
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Legal Events
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
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