DE19533968A1 - Halbleiter-Leistungsschaltersystem - Google Patents

Description

Hintergrund der Erfindung Gebiet der Erfindung

Die Erfindung bezieht sich auf ein Halbleiter-Leistungsschal­ tersystem, das eine Halbleiter-Leistungsschaltereinheit um­ faßt, die eine Selbstdiagnosefunktion aufweist, um einem Steuerabschnitt des Systems die Erzeugung eines anormalen Zu­ stands mitzuteilen, wie einen Abfall oder Kurzschluß einer Last in dem System oder einen Zustand eines exzessiven Stroms

Beschreibung des Standes der Technik

Fig. 10 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines herkömmlichen Halbleiter-Leistungsschaltersystems zeigt. Ein Halbleiter-Leistungsschaltersystem 100 umfaßt einen Steuerabschnitt 1, der einen Mikrocomputer oder ähnliches umfaßt, eine Halblei­ ter-Leistungsschaltereinheit 10 (nachstehend als "PSU" be­ zeichnet), die zwischen einer Leistungsversorgung 20 und ei­ ner Last 30 geschaltet ist, und eine Signalleitungsgruppe 40 zum Verbinden der vorstehenden Elemente. Obwohl eine PSU 10 in Fig. 10 dargestellt ist, sind tatsächlich eine Vielzahl von PSU 10 mit einem Steuerabschnitt 1 verbunden und der Steuerabschnitt 1 steuert die PSU 10 kollektiv.

In dem Steuerabschnitt 1 kennzeichnet das Bezugszeichen 2 einen Ausgabeanschluß zum Übermitteln eines Steuersignals und 3 einen Eingabeanschluß zum Empfangen eines Abnormalitätssi­ gnals von der PSU 10.

In der PSU 10 kennzeichnet das Bezugszeichen 11 einen Ein­ gangsanschluß zum Empfangen des Steuersignals, 12 einen Dia­ gnoseanschluß zum Übermitteln des Abnormalitätssignals, 13 einen Eingangspufferschaltkreis zum Wandeln der Impedanz und 14 einen Halbleiter-Leistungsschalter, der einen Leistungs- MOSFET oder ähnliches umfaßt, mit dem die Zufuhr/Unterbrechung von elektrischer Leistung von der Lei­ stungsquelle 20 zu der Last 30 geschaltet wird. Das Bezugs­ zeichen 15 kennzeichnet einen Stromdetektor zum Erfassen ei­ nes übermäßigen Stroms in dem Halbleiter-Leistungsschalter 14, und 16 kennzeichnet einen Abfall/Kurzschluß-Detektor zum Erfassen des Abfalls oder Kurzschlusses einer Last 30.

Das Bezugszeichen 17 kennzeichnet einen Steuerlogikschalt­ kreis zum Übermitteln des Steuersignals zu dem Halbleiter-Leistungsschalter 14 und ebenso zum Abschalten des Halblei­ ter-Leistungsschalters 14 und Erzeugen eines internen Abnor­ malitätserfassungssignals, falls eine Abnormalität durch den Stromdetektor 15 oder den Abfall/Kurzschluß-Detektor 16 er­ faßt wurde.

Das Bezugszeichen 18 kennzeichnet einen Transistor zum Erzeu­ gen eines Abnormalitätssignals, wobei der Transistor 18 ein­ geschaltet wird, falls über den Diagnoseanschluß 12 ein Ab­ normalitätssignal erzeugt werden soll. Das Bezugszeichen 19 kennzeichnet einen monostabilen Schaltkreis zum Einschalten des Transistors 18 für eine vorbestimmte Zeit als Reaktion auf das interne Abnormalitätserfassungssignal von dem Steuer­ logikschaltkreis 17. Das Bezugszeichen 21 kennzeichnet einen Ausgangsanschluß, an dem die Last 30 angeschlossen ist. Das Bezugszeichen 22 kennzeichnet einen Leistungsquellenanschluß und 23 einen Masseanschluß.

Das Bezugszeichen 40 kennzeichnet die Signalleitungsgruppe, die zwischen dem Steuerabschnitt 1 und der PSU 10 verbunden ist. Das Bezugszeichen 41 kennzeichnet eine Steuersignallei­ tung, 42 eine Abnormalitätssignalleitung, 43 einen Widerstand zur Spannungsherabsetzung und 44 einen Haltewiderstand, um üblicherweise den Pegel auf der Abnormalitätssignalleitung 42 auf einen einen Normalzustand anzeigenden hohen Pegel zu fi­ xieren, wobei der Haltewiderstand 44 an eine beispielsweise 5V-Leistungsquelle angeschlossen ist, die den hohen Pegel in diesem Ausführungsbeispiel darstellt.

Die Arbeitsweise wird nun detailliert beschrieben. Die PSU 10 wird durch den Steuerabschnitt 1 so gesteuert, daß diese den Halbleiter-Leistungsschalter 14 als Reaktion auf das Steuer­ signal von dem Steuerabschnitt 1 einschaltet, so daß elektri­ sche Leistung von der Leistungsquelle 20 der Last 30 zuge­ führt wird. Die PSU 10 hat die Selbstdiagnosefunktion und veranlaßt den Transistor 18 abzuschalten, falls der Betrieb normal durchgeführt wird. Als ein Ergebnis wird die Abnorma­ litätssignalleitung 42 auf den hohen Pegel durch die Lei­ stungsquelle 20 fixiert, die damit über den Haltewiderstand 44 verbunden ist. Mithin empfängt der Eingangsanschluß 3 des Steuerabschnitts 1 das Signal mit hohem Pegel, das einen Nor­ malzustand repräsentiert.

Falls durch den Stromdetektor 15 ein übermäßiger Strom erfaßt wird oder ein Abfall oder ein Kurzschluß der Last 30 durch den Abfall/Kurzschluß-Detektor 16 erfaßt wird, während elek­ trische Leistung zu der Last 30 zugeführt wird, schaltet der Steuerlogikschaltkreis 17 den Halbleiter-Leistungsschalter 14 ab. Gleichzeitig wird das interne Abnormalitätserfassungssi­ gnal an den monostabilen Schaltkreis 19 übermittelt.

Als ein Ergebnis wird der monostabile Schaltkreis 19 betä­ tigt, um den Transistor 18 für eine vorbestimmte Zeit einzu­ schalten. Damit wird der Pegel auf der Abnormalitätsleitung 42 von dem hohen Pegel auf den niedrigen Pegel geändert, und das Abnormalitätssignal mit niedrigem Pegel, das die Erzeu­ gung einer Abnormalität anzeigt, wird an den Eingangsanschluß 3 des Steuerabschnitts 1 übermittelt. Als ein Ergebnis ist der Steuerabschnitt 1 in der Lage, die Erzeugung einer Abnor­ malität in der PSU 10 zu erfassen.

Da das bekannte Halbleiter-Leistungsschaltersystem mit der Selbstdiagnosefunktion wie vorstehend beschrieben aufgebaut ist, sind zumindest zwei Leitungen, das heißt, die Steuersi­ gnalleitung und die Abnormalitätssignalleitung, zwischen ei­ ner Halbleiter-Leistungsschaltereinheit und dem Steuerab­ schnitt vorzusehen. Falls eine Vielzahl von Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheiten mit dem Steuerabschnitt verbunden sind, müssen daher die Abnormalitätssignalleitungen in glei­ cher Anzahl wie die Steuersignalleitungen vorgesehen werden. Falls die Anzahl an Leitungen sich erhöht, entsteht ein Pro­ blem dahingehend, daß die Schaltkreisleitungen kompliziert werden, falls der Steuerabschnitt und die Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheiten voneinander getrennt sind. Gleicher­ maßen entsteht ein weiteres Problem dahingehend, daß die An­ zahl an Kontakten längs den Leitungen und die Anschlüsse pro­ portional zu der Anzahl der Halbleiter-Leistungsschalterein­ heiten ansteigen und damit die Zuverlässigkeit absinkt.

Zusammenfassung der Erfindung

Die vorliegende Erfindung wurde zur Überwindung der vorste­ henden Probleme getätigt und ein Ziel der vorliegenden Erfin­ dung ist es, ein zuverlässiges Halbleiter-Leistungsschalter­ system zu schaffen, mit dem die Anzahl an Verbindungsleitun­ gen zwischen dessen Steuerabschnitt und dessen Halbleiter-Leistungsschaltereinheit verringert werden kann und mit dem die Anzahl an Anschlüssen in der Halbleiter-Leistungsschal­ tereinheit verringert werden kann, wodurch die Verbindungs­ leitungen vereinfacht werden können und die Anzahl an Verbin­ dungspunkten verringert werden kann.

Halbleiter-Leistungsschaltersystem mit einem Steuerabschnitt,
zumindest einer Halbleiter-Leistungsschaltereinheit zum Steu­ ern der Zufuhr von elektrischer Leistung von einer Leistungs­ quelle zu einer Last in Reaktion auf ein von dem Steuerab­ schnitt zugeführtes Steuersignal, wobei die Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit eine Selbstdiagnosefunktion aufweist, mit der ein Abnormalitätssignal dem Steuerabschnitt übermit­ telt wird, wobei der Steuerabschnitt das Steuersignal der Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit zuführt, um die Halbleiter-Leistungs­ schaltereinheit zu steuern, und einen Ausgangsanschluß zum Übermitteln des Steuersignals und einen Eingangsanschluß zum Empfangen des Abnormalitätssignals von der Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit aufweist,
die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit einen Halbleiter-Lei­ stungsschalter zum Schalten einer Zufuhr/Verhinderung der Zu­ fuhr an elektrischer Leistung zu der Last, einen Abnormali­ tätserfassungsabschnitt zum Erfassen einer Abnormalität in der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit, einen Steuerlogikab­ schnitt zum Steuern des Halbleiter-Leistungsschalters in Re­ aktion auf das Steuersignal von dem Steuerabschnitt und ebenso zum Abschalten des Halbleiter-Leistungsschalters und Erzeugen eines internen Abnormalitätserfassungssignals, falls eine Abnormalität durch den Abnormalitätserfassungsabschnitt erfaßt wurde, einen Abnormalitätserzeugungsabschnitt zum Er­ zeugen eines Abnormalitätssignals in Reaktion auf das interne Abnormalitätserfassungssignal und einen Eingangs-/Ausgangsabschnitt zum Empfangen des Steuersignals von dem Steuerabschnitt und zum Übermitteln des Abnormalitätssignals, das durch den Abnormalitätssignalerzeugungsabschnitt erzeugt wurde, umfaßt, und wobei
eine bidirektionale Signalübertragungsleitung zwischen den Ausgangsanschluß und den Eingangsanschluß des Steuerab­ schnitts und den Eingangs-/Ausgangsabschnitt der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit geschaltet ist, so daß das Steuersi­ gnal und das Abnormalitätssignal über die bidirektionale Si­ gnalübertragungsleitung mitgeteilt werden.

System nach Anspruch 1, wobei die Halbleiter-Leistungsschal­ tereinheit umfaßt:
den Eingangs-/Ausgangsabschnitt, der einen Eingangsanschluß für das Steuersignal, einen Diagnoseanschluß zum Übermitteln des Abnormalitätssignals und eine Verbindungsleitung zum Ver­ binden des Diagnoseanschlusses mit dem Eingangsanschluß in einem Außenabschnitt aufweist, und
den Abnormalitätssignalerzeugungsabschnitt, der einen Schalt­ kreis umfaßt, der den Pegel der bidirektionalen Signalüber­ tragungsleitung auf einem Pegel fixiert, der, wenn eine Ab­ normalität aufgetreten ist, über den Diagnoseanschluß und die Verbindungsleitung realisiert wird, wenn das interne Abnorma­ litätserfassungssignal erzeugt wurde, und der den fixierten Pegel dem Eingangsanschluß des Steuerabschnitts mitteilt. System nach Anspruch 1, wobei die Halbleiter-Leistungsschal­ tereinheit umfaßt:
den Eingangs-/Ausgangsabschnitt, der einen Eingangs-/Diagnoseanschluß zum Empfangen des Steuersignals und zum Übermitteln des Abnormalitätssignals aufweist, und
den Abnormalitätssignalerzeugungsabschnitt, der einen Schalt­ kreis umfaßt, der den Pegel an der bidirektionalen Signal­ übertragungsleitung auf einen Pegel fixiert, der, wenn eine Abnormalität aufgetreten ist, über den Eingangs-/Diagnoseanschluß realisiert wird, falls das interne Abnorma­ litätserfassungssignal erzeugt wurde, und der diesen fixier­ ten Pegel an den Eingangsanschluß des Steuerabschnitts mit­ teilt.

System nach Anspruch 1, wobei der Abnormalitätserzeugungsab­ schnitt Abnormalitätssignale entsprechend einem Zustande bei dem die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit betrieben wird, und einen Zustand erzeugt, bei dem die Halbleiter-Leistungs­ schaltereinheit nicht betrieben wird.

In der vorliegenden Erfindung wird die Verbindungsleitung zwischen dem Steuerabschnitt und zumindest einer Halbleiter-Leistungsschaltereinheit geteilt, so daß die Anzahl der Ver­ bindungsleitungen und der Verbindungspunkte verringert ist.

In der vorliegenden Erfindung weist die Halbleiter-Leistungs­ schaltereinheit einen derartigen Aufbau auf, daß der Diagno­ seanschluß zum Übermitteln des Abnormalitätssignals durch die Verbindungsleitung in einem äußeren Abschnitt mit dem Ein­ gangsanschluß zum Empfang des Steuersignals verbunden ist. Somit werden das Steuersignal, das von dem Steuerabschnitt zu der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit zuzuführen ist, und das Abnormalitätssignal, das von der Halbleiter-Leitungs­ schaltereinheit zu dem Steuerabschnitt zuzuführen ist, über eine bidirektionale Signalübertragungsleitung mitgeteilt.

In der vorliegenden Erfindung sind der Eingangsanschluß und der Diagnoseanschluß in der Halbleiter-Leistungsschalterein­ heit zu einem gemeinsamen Eingangs/Diagnose-Anschluß zusam­ mengefaßt und der Eingangs/Diagnose-Anschluß und der Steuer­ abschnitt sind miteinander über eine bidirektionale Signal­ übertragungsleitung verbunden.

In der vorliegenden Erfindung umfaßt der Abnormalitätssi­ gnalerzeugungsabschnitt zwei Abschnitte, die jeweils Abnorma­ litätssignale erzeugen, um die Art der erzeugten Abnormalität zu erfassen, so daß eine Abnormalität, wie ein übermäßiger Strom oder ein Kurzschluß der Last, die in einem Betriebszustand auftreten können, und ein Öffnen der Last in einem Nicht-Betriebszustand, dem Steuerabschnitt mitgeteilt werden kann.

Kurzbeschreibung der Zeichnung

Fig. 1 und 1A sind Diagramme, die den Aufbau eines Halb­ leiter-Leistungsschaltersystems gemäß einem Ausführungsbei­ spiel der vorliegenden Erfindung zeigen,

Fig. 2 zeigt Bedingungen zum Unterscheiden der Normalität oder Abnormalität in dem Steuerabschnitt.,

Fig. 3 ist ein Diagramm, das ein Beispiel eines detaillier­ teren Aufbaus der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit gemäß Fig. 1 zeigt,

Fig. 4 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines Halbleiter-Leistungsschaltersystems gemäß einem weiteren Ausführungsbei­ spiel der vorliegenden Erfindung zeigt,

Fig. 5 ist ein Diagramm, das ein Beispiel eines detaillier­ teren Aufbaus der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit gemäß Fig. 4 zeigt,

Fig. 6 ist ein Diagramm, das ein weiteres Beispiel der Halb­ leiter-Leistungsschaltereinheit gemäß Fig. 4 zeigt,

Fig. 7 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines wesentlichen Abschnittes einer Halbleiter-Leistungsschaltereinheit eines Halbleiter-Leistungsschaltersystems gemäß einem weiteren Aus­ führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt,

Fig. 8 ist ein Diagramm, das einen detaillierteren Aufbau der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit gemäß Fig. 7 zeigt,

Fig. 9 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines Abschnittes zum Erfassen des Abfalls der Last gemäß Fig. 8 zeigt, und

Fig. 10 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines bekannten, aber unpublizierten Halbleiter-Leistungsschaltersystems zeigt.

Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachstehend unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher beschrieben.

Erstes Ausführungsbeispiel

Fig. 1 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines Halbleiter-Leistungsschaltersystems gemäß einem ersten Ausführungsbei­ spiel der vorliegenden Erfindung zeigt. Unter Bezugnahme auf die Fig. 1 umfaßt ein Halbleiter-Leistungsschaltersystem 101 einen Steuerabschnitt 1a, der einen Mikrocomputer oder ähnli­ ches umfaßt, eine Halbleiter-Leistungsschaltereinheit 10a (nachstehend als "PSU" bezeichnet), die zwischen eine Lei­ stungsquelle 20 und eine Last 30 geschaltet ist, und eine bi­ direktionale Signalübertragungsleitung 40a zum Verbinden der vorstehenden Elemente. Obwohl nur eine PSU 10a in Fig. 1 dargestellt ist, sind tatsächlich eine Vielzahl von PSU 10a mit einem Steuerabschnitt 1a verbunden, wie dies in Fig. 1A gezeigt ist und bereits bei dem bekannten Aufbau vorgenommen wurde. Der Steuerabschnitt 1a steuert die PSU 10a kollektiv.

In dem Steuerabschnitt 1a kennzeichnet das Bezugszeichen 2 einen Ausgangsanschluß zum Übermitteln eines Steuersignals und 3 einen Eingangsanschluß zum Empfangen eines Abnormali­ tätssignals von der PSU 10a.

In der PSU 10a kennzeichnet das Bezugszeichen 11 einen Ein­ gangsanschluß zum Empfangen des Steuersignals, 12 einen Dia­ gnoseanschluß zum Übermitteln des Abnormalitätssignals und 33 eine Verbindungsleitung zum Verbinden des Diagnoseanschlusses 12 der PSU 10a mit der bidirektionalen Übertragungsleitung 40a. Das Bezugszeichen 13 kennzeichnet einen Eingangspuffer­ schaltkreis zum Wandeln der Impedanz, 14 einen Halbleiter-Leistungsschalter, der einen Leistungs-MOSFET oder ähnliches umfaßt, der die Zufuhr/Unterbrechung von elektrischer Lei­ stung von der Leistungsquelle 20 zu der Last 30 schaltet. Das Bezugszeichen 15 kennzeichnet einen Stromdetektor zum Erfas­ sen eines übermäßigen Stroms in dem Halbleiter-Leistungs­ schalter 14, und 16 kennzeichnet einen Abfall/Kurzschluß-De­ tektor zum Erfassen des Abfalls oder Kurzschlusses der Last 30.

Bezugszeichen 31 und 32 kennzeichnen einen Spannungsdetektor und einen Temperaturdetektor zum Erfassen einer exzessiven Spannung und einer Überhitzung des Halbleiter-Leistungsschal­ ters 14. Obwohl die vorstehenden Einheiten für die bekannte Einheit vorgesehen sind, sind diese in Fig. 10 weggelassen.

Das Bezugszeichen 17a kennzeichnet einen Steuerlogikschalt­ kreis zum Übermitteln des Steuersignals zu dem Halbleiter- Leistungsschalter 14 und ebenso zum Abschalten des Halblei­ ter-Leistungsschalters 14 und zum Erzeugen eines Abnormali­ tätserfassungssignals, falls eine Abnormalität durch einen der Detektoren erfaßt wurde, das heißt, durch den Stromdetektor 15, den Abfall/Kurzschluß-Detektor 16, den Spannungsdetektor 31 oder den Temperaturdetektor 32.

Das Bezugszeichen 18 kennzeichnet einen Transistor zum Erzeu­ gen des Abnormalitätssignals, wobei der Transistor 18 einge­ schaltet wird, um an dem Diagnoseanschluß 12 das Abnormali­ tätssignal zu erzeugen. Das Bezugszeichen 19 kennzeichnet einen monostabilen Schaltkreis zum Einschalten des Transi­ stors 18 für eine vorbestimmte Zeit als Reaktion auf das in­ terne Abnormalitätserfassungssignal von dem Steuerlogik­ schaltkreis 17a. Das Bezugszeichen 21 kennzeichnet einen Aus­ gangsanschluß, mit dem die Last 30 verbunden ist. Das Bezugs­ zeichen 22 kennzeichnet einen Leistungsquellenanschluß und 23 einen Masseanschluß.

Bei der bidirektionalen Signalübertragungsleitung 40a, die zwischen dem Steuerabschnitt 1a und der PSU 10a verbunden ist, kennzeichnet ein Bezugszeichen 43 einen Widerstand für den Spannungsabfall.

Der Stromdetektor 15, der Abfall/Kurzschluß-Detektor 16, der Spannungsdetektor 31 und der Temperaturdetektor 32 bilden einen Abnormalitätserfassungsabschnitt, der monostabile Schaltkreis 19 und der Transistor 18 bilden einen Abnormali­ tätssignalerzeugungsabschnitt und der Eingangsanschluß 11, der Diagnoseanschluß 12 und die Verbindungsleitung 33 bilden einen Eingangs-/Ausgangsabschnitt.

Die Arbeitsweise wird nachstehend beschrieben. Genauer ein Fall, bei dem die PSU 10a einen Hoch-Aktivaufbau aufweist (bei dem die PSU 10a in einen Aktivzustand gebracht wird, wenn der Pegel des Steuersignals hoch ist). Wenn die Pegel an dem Ausgangsanschluß 2 und an dem Eingangsanschluß 3, wie in Fig. 2 gezeigt ist, gleich sind, entscheidet der Steuerab­ schnitt 1a, daß die PSU 10a sich in einem Normalzustand be­ findet. Wenn der Pegel des Ausgangsanschlusses 2 hoch ist und der Pegel des Eingangsanschlusses 3 niedrig ist, entscheidet der Steuerabschnitt 1a, daß sich die PSU 10a in einem abnor­ malen Zustand befindet. Die vorstehende Entscheidung wird in Übereinstimmung mit einem in dem Steuerabschnitt 1a gesteuer­ ten Programm durchgeführt.

Falls ein Steuersignal mit hohem Pegel dem Eingangsanschluß 11 der PSU 10a über den Ausgangsanschluß 2 des Steuerab­ schnittes 1a zugeführt wird, wird der Halbleiter-Leistungs­ schalter 14 in einen Normalzustand eingeschaltet, so daß elektrische Leistung von der Leistungsquelle 20 zu der Last 30 zugeführt wird. Da das interne Abnormalitätserfassungssi­ gnal von dem Steuerlogikschaltkreis 17a nicht übermittelt wurde, wird der Transistor 18 durch den Steuerlogikschalt­ kreis 17a so gesteuert, daß dieser abgeschaltet ist. Als Er­ gebnis wird der Eingangsanschluß 11 auf dem hohen Pegel ge­ halten, so daß ein Signal mit hohem Pegel dem Eingangsan­ schluß 3 des Steuerabschnittes 1a zugeführt wird. Es ist zu berücksichtigen, daß die Impedanz an dem Eingangsabschnitt der PSU 10a durch den Eingangspufferschaltkreis 13 vergrößert wird.

Falls ein Steuersignal mit niedrigem Pegel dem Eingangsan­ schluß 11 der PSU 10a über den Ausgangsanschluß 2 des Steuer­ abschnittes 1a übermittelt wird, wird der Halbleiter-Lei­ stungsschalter 14 abgeschaltet, so daß eine Zufuhr an elek­ trischer Leistung von der Leistungsquelle 20 zu der Last 30 unterbunden ist. Auch in diesem Zustand ist der Transistor 18 abgeschaltet und daher der Pegel an dem Eingangsanschluß 3 des Steuerabschnittes 1a niedrig.

Falls einer von dem Stromdetektor 15, dem Abfall/Kurzschluß-Detektor 16, dem Spannungsdetektor 31 oder dem Temperaturde­ tektor 32 eine Abnormalität erfaßt hat und zwar in einem Zu­ stand, in dem der Halbleiter-Leistungsschalter 14 eingeschal­ tet ist, weil das Steuersignal mit hohem Pegel dem Eingangs­ anschluß 11 der PSU 10a zugeführt wurde, schaltet der Steuer­ logikschaltkreis 17a den Halbleiter-Leistungsschalter 14 ab und führt des weiteren das interne Abnormalitätserfassungssi­ gnal dem monostabilen Schaltkreis 19 zu.

Als ein Ergebnis wird der monostabile Schaltkreis 19 in der Art beaufschlagt, daß der Transistor 18 für eine vorbestimmte Zeit eingeschaltet wird, wodurch der Pegel auf der bidirek­ tionalen Signalübertragungsleitung 40a, das heißt, der Pegel an dem Eingangsanschluß 11, zwangsweise über die Verbindungs­ leitung 33, die mit dem Diagnoseanschluß 11 und dem Außenab­ schnitt der PSU 10a verbunden ist, abgesenkt wird. Daher wird ein Signal mit niedrigem Pegel dem Eingangsanschluß 3 des Steuerabschnittes 1a zugeführt, so daß der Steuerabschnitt 1a in der Lage ist, die Erzeugung einer Abnormalität in der PSU 10a zu erfassen. Genauer kann die Steuerung der PSU 10a und die Mitteilung der Erzeugung einer Abnormalität von der PSU 10a an den Steuerabschnitt 1a über eine bidirektionale Si­ gnalübertragungsleitung 40a durchgeführt werden.

Fig. 3 zeigt ein Beispiel eines detaillierteren Aufbaus der PSU 10a, die in Fig. 1 gezeigt ist. Elemente mit den glei­ chen Bezugszeichen, wie denen in Fig. 1 gezeigten, sind die gleichen oder äquivalente Elemente. Der Stromdetektor 15 um­ faßt einen Stromerfassungswiderstand 151, einen Stromerfas­ sungsabschnitt 152 und einen Schutzabschnitt gegen übermäßi­ gen Strom 153, um das Signal mit hohem Pegel auf das Signal mit niedrigem Pegel umzuschalten, falls ein exzessiver Strom größer als ein vorbestimmter Wert erfaßt wurde. Der Span­ nungsdetektor 31 umfaßt einen Spannungserfassungsabschnitt 311 und einen Schutzabschnitt gegen übermäßige Spannung 312, um das Signal mit hohem Pegel von dem Schutzabschnitt gegen übermäßige Spannung 312 auf ein Signal mit niedrigem Pegel umzuschalten, falls der Spannungsdetektor 31 eine übermäßige Spannung höher als ein vorbestimmter Pegel erfaßt hat.

Der Temperaturdetektor 32 umfaßt einen Temperaturerfassungs­ abschnitt 321 und einen Überhitzungsschutzabschnitt 322, um das Signal mit hohem Pegel von dem Überhitzungsschutzab­ schnitt 322 auf ein Signal mit niedrigem Pegel umzuschalten, falls die Temperatur des Halbleiter-Leistungsschalters 14 auf einen Pegel angestiegen ist, der höher als ein vorbestimmter Pegel ist. Der Abfall/Kurzschluß-Detektor 16 umfaßt einen Last-Abfall-Erfassungsabschnitt 161 und einen Last- Kurzschluß-Erfassungsabschnitt 162, um den Ausgangsanschluß 21 zu überwachen, mit dem die Last 30 verbunden ist. Falls der Abfall/Kurzschluß-Detektor 16 den Abfall oder Kurzschluß der Last 30 erfaßt hat, schaltet der Abfall/Kurzschluß-Detek­ tor 16 das Ausgangssignal mit hohem Pegel auf ein Signal mit niedrigem Pegel.

Das Steuersignal, das dem Eingangsanschluß 11 zuzuführen ist, wird sowohl dem Last-Abfall-Erfassungsabschnitt 161 und dem Last-Kurzschluß-Erfassungsabschnitt 162 zugeführt. Dies liegt darin begründet, daß, ob der Pegel des Steuersignals, das heißt, der Pegel an dem Eingangsanschluß 11, hoch oder nied­ rig ist, muß zum Zeitpunkt der Durchführung der Erfassung er­ kannt werden. Beispielsweise wird die Erfassung eines Kurz­ schlusses der Last 30 gemäß Fig. 3 so durchgeführt, daß der Last-Kurzschluß-Erfassungsabschnitt 162 entscheidet, daß ein Kurzschluß der Last 30 aufgetreten ist, falls die Spannung des Ausgangsanschlusses 21 niedriger als ein vorbestimmter Pegel ist (beispielsweise 1/2 Vcc). Da der Ausgangsanschluß 21 natürlich 0 V in einem Zustand ist, in dem der Pegel des Einganganschlusses 11 niedrig ist und der Halbleiter-Lei­ stungsschalter 14 abgeschaltet ist, muß der Pegel des Ein­ gangsanschlusses berücksichtigt werden, um eine fehlerhafte Beurteilung zu vermeiden, so daß ein Normalzustand als ein Auftreten eines Kurzschlusses beurteilt wird.

Der Steuerlogikschaltkreis 17a umfaßt einen UND-Schaltkreis 171., einen Vorverstärker 172, das heißt eine Schnittstelle zwischen dem UND-Schaltkreis 171 und dem Leistungsschalter 14, und einen ODER-Schaltkreis 173 zum Übermitteln des inter­ nen Abnormalitätserfassungssignals zu dem monostabilen Schaltkreis 19, wobei der ODER-Schaltkreis 173 einen Eingang, einen inversen Eingang, aufweist.

Das Bezugszeichen 4 kennzeichnet einen Freigabesignal-Ein­ gangsanschluß (nicht in Fig. 1 gezeigt), der individuell für das vorherige Steuersignal vorgesehen ist und der für den Steuerabschnitt 1a erforderlich ist, um kollektiv eine Viel­ zahl von PSU 10a zu steuern, um die PSU 10a, die zur Steuerung vorgesehen sind, anzuweisen. Das Freigabesignal kann bei dem Aufbau weggelassen werden.

Zweites Ausführungsbeispiel

Fig. 4 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines Halbleiter-Leistungsschaltersystems gemäß einem zweiten Ausführungsbei­ spiel der vorliegenden Erfindung zeigt. In diesem Ausfüh­ rungsbeispiel sind der Eingangsanschluß und der Diagnosean­ schluß der PSU 10b zu einem gemeinsamen Anschluß zusammenge­ faßt, um die Anzahl der Verbindungspunkte in dem Schaltkreis zu verringern. Das heißt, das Halbleiter-Leistungsschaltersy­ stem 102, das in Fig. 4 gezeigt ist, unterscheidet sich von dem in Fig. 1 gezeigten in den nachstehenden Strukturen.

Die PSU 10b hat einen Eingangs-/Diagnoseanschluß 11a, der als beides dient, das heißt als Eingangsanschluß und als Diagno­ seanschluß. Als ein Ergebnis ist der Kollektor eines Transi­ stors 11a zum Erzeugen des Abnormalitätssignals in der PSU 10b direkt mit dem Eingangs-/Diagnoseanschluß 11a verbunden.

Als ein Ergebnis ist eine bidirektionale Signalübertragungs­ leitung 40b zwischen dem Eingangs-/Diagnoseanschluß 11a der PSU 10b und dem Ausgangsanschluß 2 und dem Eingangsanschluß 3 in dem Steuerabschnitt 1a verschaltet. Auch der Ausgang von dem Stromdetektor 15 ist mit dem Abfall/Kurzschlußdetektor 16 verbunden, um den Abfall der Last 30 in Übereinstimmung mit dem Ausgang des Stromdetektors 15 zu ermitteln. Die anderen Abschnitte sind im wesentlichen gleich denen des ersten Aus­ führungsbeispiels.

Fig. 5 zeigt ein Beispiel eines detaillierteren Aufbaus der in Fig. 4 gezeigten PSU 10b. Die PSU 10b ist hinsichtlich der nachstehenden Strukturen unterschiedlich gegenüber der in Fig. 3 gezeigten: Der Transistor 18a zum Erzeugen des Abnor­ malitätssignals ist in der PSU 10b mit dem Eingangs-/Diagnoseanschluß 11a verbunden, und ein Last-Abfall-Erfas­ sungsabschnitt 161a erfaßt einen Abfall der Last 30 in Über­ einstimmung mit dem Ausgang des Stromdetektors 152.

Die Arbeitsweise ist im wesentlichen gleich der des ersten Ausführungsbeispiels, so daß der Steuerabschnitt 1a in der Lage ist, eine Abnormalität der PSU 10b in Übereinstimmung mit den in Fig. 2 gezeigten Bedingungen zu erfassen.

Wie vorstehend beschrieben enthält das Halbleiter-Leistungs­ schaltersystem 102 gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel einen Anschluß, der als der Eingangsanschluß der PSU 10b und als deren Diagnoseanschluß dient. Mithin ist die Anzahl der Verbindungspunkte bei der Verbindungsleitung von dem Steuer­ abschnitt 1a zu der PSU 10b verringert, wodurch die Zuverläs­ sigkeit des Systems gesteigert ist.

Obwohl jedes der vorstehenden Ausführungsbeispiele vier Fak­ toren ausnutzt, das heißt, den übermäßigen Strom, die übermä­ ßige Spannung, die Überhitzung und einen Abfall/Kurzschluß der Last, um eine Abnormalität der PSU zu erfassen, sind diese Faktoren nicht auf die vorstehenden Faktoren begrenzt. So kann ein Teil der vorstehenden Faktoren verwendet werden oder weitere Faktoren können hinzugefügt werden, um die Ab­ normalität zu erfassen.

Obwohl der npn-Transistor, der eingeschaltet wird, wenn eine Abnormalität aufgetreten ist, in den vorstehenden Ausführungs­ beispielen verwendet wurde, und zwar als der Transistor, der das Abnormalitätssignal erzeugt, kann ein gleicher Effekt er­ halten werden, wenn die PSU als ein Niedrig-Aktiv-Aufbau aus­ gebildet ist. Beispielsweise umfaßt die in Fig. 6 gezeigte PSU 10c einen Transistor 18b, der das Abnormalitätssignal er­ zeugt, wobei ein pnp-Transistor enthalten ist, um den Pegel des Eingangs-/Diagnoseanschlusses 11a auf einem hohen Pegel zu halten.

Drittes Ausführungssbeispiel

Fig. 7 ist ein Diagramm, das den Aufbau eines wesentlichen Teils einer PSU 10d eines Halbleiter-Leistungsschaltersystems gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er­ findung zeigt. In diesem Ausführungsbeispiel sind zum Erzeu­ gen von Abnormalitätssignalen zwei Transistoren 18a und 18b vorgesehen, um die Art der Abnormalität zu erfassen.

Die PSU 10d hat einen Hoch-Aktivaufbau, so daß, falls bei­ spielsweise ein Kurzschluß der Last oder ein exzessiver Strom in einem Zustand erfaßt wird, in dem der Pegel des Steuersi­ gnals von dem Steuerabschnitt hoch ist, das heißt in einem Betriebszustand, der npn-Transistor 18a eingeschaltet wird, um den Pegel des Eingangs-/Diagnoseanschlusses 11a auf einem niedrigen Pegel zu fixieren. Falls ein Öffnen bzw. Abfall der Last in einem Zustand erfaßt wird, in dem der Pegel des Steu­ ersignals niedrig ist, das heißt, in einem Nichtbetriebszu­ stand, wird der npn-Transistor 18a eingeschaltet, um den Pe­ gel des Eingangs-/Diagnoseanschlusses 11a auf einem hohen Pe­ gel zu fixieren.

Fig. 8 zeigt einen detaillierteren Aufbau der in Fig. 7 ge­ zeigten PSU 10d. In diesem Fall ist der monostabile Schalt­ kreis 19a aus zwei monostabilen Schaltkreisen 191 und 192 ausgebildet. Der Ausgang von dem Last-Abfall-Erfassungsab­ schnitt 161b ist mit dem monostabilen Schaltkreis 191 verbun­ den, der den pnp-Transistor 18b einschaltet. Die Ausgänge von dem Schutzabschnitt gegen übermäßigen Strom 153 und dem Last- Kurzschluß-Erfassungsabschnitt 162 sind mit dem monostabilen Schaltkreis 162 verbunden, der den Transistor 18a einschal­ tet. Das Bezugszeichen 173 kennzeichnet einen Inverterschalt­ kreis. Der Erfassungsabschnitt für eine übermäßige Spannung und der Überhitzungs-Erfassungsabschnitt sind zur Vereinfa­ chung der Beschreibung des Aufbaus weggelassen.

Als ein Ergebnis kann, wenn die PSU 10d in Betriebszustand ist, eine Erzeugung eines übermäßigen Stroms und ein Kurz­ schluß der Last dem Steuerabschnitt mitgeteilt werden, wohin­ gegen, wenn die PSU 10d in einem Nichtbetriebszustand ist, ein Abfall der Last dem Steuerabschnitt mitgeteilt werden kann.

Fig. 9 zeigt ein Beispiel des in Fig. 8 gezeigten Last-Ab­ fall-Erfassungsabschnitts 161b. Das Bezugszeichen 163 kenn­ zeichnet einen Vergleicher, 164 kennzeichnet einen Haltewi­ derstand, der zwischen dem Ausgangsanschluß 21 und Vcc ge­ schaltet ist-und einen Widerstand von einigen KΩ oder mehr aufweist, und 165 kennzeichnet eine 1/2 Vcc Bezugsspannungs­ quelle. Das Symbol R kennzeichnet den Widerstand der Last. Der Widerstand der Last beträgt beispielsweise einige Ω.

Wenn der Pegel des Eingangs-/Diagnoseanschlusses 11a niedrig ist, beträgt der Widerstand R der Last einige Ω und der des Haltewiderstands 164 einige KΩ. Daher liegt, falls der Halb­ leiter-Leistungsschalter 14 abgeschaltet ist, der Spannungs­ pegel des Ausgangsanschlusses 21 bei 0 V. Falls sich der Aus­ gangsanschluß 21 in einem Abfall-Zustand befindet, beträgt der Widerstand mehrere KΩ und der Spannungspegel des Aus­ gangsanschlusses 21 ist Vcc. Mithin kann, indem der Verglei­ cher 163 die Bezugsspannungsquelle 165 als 1/2 Vcc einstellt, ein Abfall erfaßt werden.

In dem Abfall-Zustand ist der Pegel des Ausgangs von dem mo­ nostabilen Schaltkreis 161 ein niedriger Pegel und der pnp-Transistor ist eingeschaltet, so daß der Pegel des Eingangs-/Diagnoseanschlusses 11a für eine vorbestimmte Zeit angehoben ist. Zu diesem Zeitpunkt ist, um ein Einschalten des Halblei­ ter-Leistungsschalters 14 zu verhindern, auch der Ausgang des monostabilen Schaltkreises 191 mit dem UND-Schaltkreis 171 verbunden, um den Halbleiter-Leistungsschalter 14 abzuschal­ ten.

Wie vorstehend beschrieben ist, sind in diesem Ausführungs­ beispiel zwei Transistoren 18a und 18b zum Erzeugen von Ab­ normalitätssignalen vorgesehen, um die Art der Abnormalität zu erfassen. Mithin kann die Abnormalität, wie ein übermäßi­ ger Strom oder ein Kurzschluß der Last, wenn die PSU betrie­ ben wird, so wie ein Abfall der Last, wenn die PSU nicht be­ trieben wird, dem Steuerabschnitt mitgeteilt werden. Daher kann ein Halbleiter-Leistungsschaltersystem mit einer weiter verbesserten Diagnosefunktion zusätzlich zu dem Effekt der vorstehenden Ausführungsbeispiele realisiert werden.

Obwohl der monostabile Schaltkreis in jedem der vorstehenden Ausführungsbeispiele verwendet wird, kann statt dessen ein Halteschaltkreis anstelle des monostabilen Schaltkreises ver­ wendet werden.

Wie vorstehend beschrieben ist, wird gemäß der vorliegenden Erfindung die Verbindungsleitung zwischen dem Steuerabschnitt und zumindest einer Halbleiter-Leistungsschaltereinheit ge­ teilt, um die Anzahl an Leitungen und der Verbindungspunkte zu verringern. Damit kann ein dahingehender Effekt erreicht werden, daß ein Halbleiter-Leistungsschaltersystem mit einem einfachen Aufbau, das geringe Kosten erfordert und eine ex­ zellente Zuverlässigkeit zeigt, bereitgestellt werden kann.

Im einzelnen hat die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit den Aufbau, daß der Diagnoseanschluß zum Übermitteln des Abnorma­ litätssignals außerhalb mittels der Verbindungsleitung mit dem Eingangsanschluß verbunden ist, der das Steuersignal emp­ fängt, so daß das Steuersignal von dem Steuerabschnitt zu der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit und das Abnormalitätssi­ gnal von der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit zu dem Steu­ erabschnitt über eine bidirektionale Signalübertragungslei­ tung übertragen werden kann. Als ein Ergebnis kann ein dahin­ gehender Effekt erzielt werden, daß ein Halbleiter-Leistungs­ schaltersystem bereitgestellt werden kann, bei dem die Ver­ bindungsleitungen zwischen dem Steuerabschnitt und der Halb­ leiter-Leistungsschaltereinheit vereinfacht sind.

Des weiteren werden der Eingangsanschluß und der Diagnosean­ schluß der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit zu einem ge­ meinsamen Eingangs-/Diagnoseanschluß zusammengefaßt und der Eingangs-/Diagnoseanschluß und der Steuerabschnitt sind mit­ einander über eine bidirektionale Signalübertragungsleitung verbunden. Als ein Ergebnis kann ein dahingehender Effekt er­ zielt werden, daß ein zuverlässiges Halbleiter-Leistungs­ schaltersystem bereitgestellt werden kann, bei dem die Verbindungsleitungen zwischen dem Steuerabschnitt und der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit vereinfacht und die An­ zahl der Verbindungspunkte in der Verschaltung verringert sind.

Zusätzlich umfaßt der Abnormalitätssignal-Erzeugungsabschnitt zwei Abschnitte, die Abnormalitätssignale erzeugen, so daß die Art der Abnormalität erfaßt werden kann. Mithin kann die Abnormalität, wie ein übermäßiger Strom oder ein Kurzschluß der Last, wenn die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit in Be­ trieb ist, und ein Abfall der Last, wenn die Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit nicht in Betrieb ist, dem Steuerab­ schnitt übermittelt werden. Daher kann ein dahingehender Ef­ fekt erzielt werden, daß eine Halbleiter-Leistungsschal­ tereinheit bereitgestellt werden kann, die zusätzlich zu den Effekten der vorstehenden Aspekte eine weiter verbesserte Diagnosefunktion aufweist.

Claims (7)

1. Halbleiter-Leistungsschaltersystem mit einem Steuerabschnitt,
zumindest einer Halbleiter-Leistungsschaltereinheit zum Steu­ ern der Zufuhr von elektrischer Leistung von einer Leistungs­ quelle zu einer Last in Reaktion auf ein von dem Steuerab­ schnitt zugeführtes Steuersignal, wobei die Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit eine Selbstdiagnosefunktion aufweist, mit der ein Abnormalitätssignal dem Steuerabschnitt übermit­ telt wird, wobei
der Steuerabschnitt das Steuersignal der Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit zuführt, um die Halbleiter-Leistungs­ schaltereinheit zu steuern, und einen Ausgangsanschluß zum Übermitteln des Steuersignals und einen Eingangsanschluß zum Empfangen des Abnormalitätssignals von der Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit aufweist,
die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit einen Halbleiter-Lei­ stungsschalter zum Schalten einer Zufuhr/Verhinderung der Zu­ fuhr an elektrischer Leistung zu der Last, einen Abnormali­ tätserfassungsabschnitt zum Erfassen einer Abnormalität in der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit, einen Steuerlogikabschnitt zum Steuern des Halbleiter-Leistungs­ schalters in Reaktion auf das Steuersignal von dem Steuerab­ schnitt und ebenso zum Abschalten des Halbleiter-Leistungs­ schalters und Erzeugen eines internen Abnormalitätserfas­ sungssignals, falls eine Abnormalität durch den Abnormali­ tätserfassungsabschnitt erfaßt wurde, einen Abnormalitätser­ zeugungsabschnitt zum Erzeugen eines Abnormalitätssignals in Reaktion auf das interne Abnormalitätserfassungssignal und einen Eingangs-/Ausgangsabschnitt zum Empfangen des Steuersi­ gnals von dem Steuerabschnitt und zum Übermitteln des Abnor­ malitätssignals, das durch den Abnormalitätssignalerzeugungs­ abschnitt erzeugt wurde, umfaßt, und wobei
eine bidirektionale Signalübertragungsleitung zwischen den Ausgangsanschluß und den Eingangsanschluß des Steuerab­ schnitts und den Eingangs-/Ausgangsabschnitt der Halbleiter-Leistungsschaltereinheit geschaltet ist, so daß das Steuersi­ gnal und das Abnormalitätssignal über die bidirektionale Si­ gnalübertragungsleitung mitgeteilt werden.

2. System nach Anspruch 1, wobei die Halbleiter-Leistungs­ schaltereinheit umfaßt:
den Eingangs-/Ausgangsabschnitt, der einen Eingangsanschluß für das Steuersignal, einen Diagnoseanschluß zum Übermitteln des Abnormalitätssignals und eine Verbindungsleitung zum Ver­ binden des Diagnoseanschlusses mit dem Eingangsanschluß in einem Außenabschnitt aufweist, und
den Abnormalitätssignalerzeugungsabschnitt, der einen Schalt­ kreis umfaßt, der den Pegel der bidirektionalen Signalüber­ tragungsleitung auf einem Pegel fixiert, der, wenn eine Ab­ normalität aufgetreten ist, über den Diagnoseanschluß und die Verbindungsleitung realisiert wird, wenn das interne Abnorma­ litätserfassungssignal erzeugt wurde, und der den fixierten Pegel dem Eingangsanschluß des Steuerabschnitts mitteilt.

3. System nach Anspruch 2, wobei der Abnormalitätserzeugungs­ abschnitt einen Transistor umfaßt, der den Diagnoseanschluß mit Masse verbindet, um den Pegel des Diagnoseanschlusses auf einen Massepegel zu fixieren, falls das interne Abnormali­ tätserfassungssignal erzeugt wurde.

4. System nach Anspruch 1, wobei die Halbleiter-Leistungs­ schaltereinheit umfaßt:
den Eingangs-/Ausgangsabschnitt, der einen Eingangs-/Diagnoseanschluß zum Empfangen des Steuersignals und zum Übermitteln des Abnormalitätssignals aufweist, und
den Abnormalitätssignalerzeugungsabschnitt, der einen Schalt­ kreis umfaßt, der den Pegel an der bidirektionalen Signal­ übertragungsleitung auf einen Pegel fixiert, der, wenn eine Abnormalität aufgetreten ist, über den Eingangs-/Diagnoseanschluß realisiert wird, falls das interne Abnorma­ litätserfassungssignal erzeugt wurde, und der diesen fixier­ ten Pegel an den Eingangsanschluß des Steuerabschnitts mit­ teilt.

5. System nach Anspruch 4, wobei der Abnormalitätssignaler­ zeugungsabschnitt einen Transistor aufweist, der den Ein­ gangs-/Diagnoseanschluß mit Masse verbindet, um den Pegel des Diagnoseanschlusses auf einem Massepegel zu fixieren, falls das interne Abnormalitätserfassungssignal erzeugt wurde.

6. System nach Anspruch 1, wobei der Abnormalitätserzeugungs­ abschnitt Abnormalitätssignale entsprechend einem Zustand f, bei dem die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit betrieben wird, und einen Zustand erzeugt, bei dem die Halbleiter-Lei­ stungsschaltereinheit nicht betrieben wird.

7. System nach Anspruch 6, wobei der Abnormalitätssignaler­ zeugungsabschnitt einen ersten Transistor, der den Eingangs-/Ausgangsabschnitt mit Masse verbindet und den Pegel des Ein­ gangs-/Ausgangsabschnittes auf dem Massepegel fixiert, falls das interne Abnormalitätserfassungssignal in einem Zustand erzeugt wurde, in dem die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit betrieben wird, und einen zweiten Transistor umfaßt, der den Eingangs-/Ausgangsabschnitt mit der Leistungsquelle verbin­ det, um den Pegel des Eingangs-/Ausgangsabschnittes auf dem Pegel der Leistungsquelle zu fixieren, falls das interne Ab­ normalitätserfassungssignal in einem Zustand erzeugt wurde, in dem die Halbleiter-Leistungsschaltereinheit nicht betrie­ ben wurde.