JPS58204377A - コネクタの接触不良検出方法 - Google Patents
コネクタの接触不良検出方法Info
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- JPS58204377A JPS58204377A JP57087412A JP8741282A JPS58204377A JP S58204377 A JPS58204377 A JP S58204377A JP 57087412 A JP57087412 A JP 57087412A JP 8741282 A JP8741282 A JP 8741282A JP S58204377 A JPS58204377 A JP S58204377A
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- port
- terminal
- potential
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
- G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は機器間をプラグとソケットを用いて結合させる
コネクタの接触不良検出方法に関する。
コネクタの接触不良検出方法に関する。
上記コネクタにつき、ＲＡＭパ、り・コネクタと飲われ
るものを例にとって説明するが、ここでＲＡＭ−母ック
というものを先ず説明する。コンピュータの主配憶装置
の一部を構成する［１４領域は、主電源のオフとともに
記憶内容が破壊される。そこで主電源をオフする前に、
前記ＲＡＭ領域の内容を補助記憶装置に退避させておき
、後刻必要に応じて補助記憶装置内のデータやプログラ
ムを、主記憶装置にロードするという手法が用いられる
。補助記憶装置としては、磁気的な記憶素子が用いられ
ることが多いが、近年相補ＭＯＳ型（ＣＭＯ８） ＲＡ
Ｍが用いられるようになったこと・は周知の通りである
。ここで云うＲ入Ｍ／４．りとは相補ＭＯＳ型ＲＡＭで
構成された補助記憶装置であり、第１図の１で示される
部分である。このＲＡＭ ／４ 、り１において２はメ
モリ一部（例ｉハｃＭｏｓ ＲＡＭ Ｏ，５”Ｘ３２Ｐ
ｃ” ５５１４ ）。
るものを例にとって説明するが、ここでＲＡＭ−母ック
というものを先ず説明する。コンピュータの主配憶装置
の一部を構成する［１４領域は、主電源のオフとともに
記憶内容が破壊される。そこで主電源をオフする前に、
前記ＲＡＭ領域の内容を補助記憶装置に退避させておき
、後刻必要に応じて補助記憶装置内のデータやプログラ
ムを、主記憶装置にロードするという手法が用いられる
。補助記憶装置としては、磁気的な記憶素子が用いられ
ることが多いが、近年相補ＭＯＳ型（ＣＭＯ８） ＲＡ
Ｍが用いられるようになったこと・は周知の通りである
。ここで云うＲ入Ｍ／４．りとは相補ＭＯＳ型ＲＡＭで
構成された補助記憶装置であり、第１図の１で示される
部分である。このＲＡＭ ／４ 、り１において２はメ
モリ一部（例ｉハｃＭｏｓ ＲＡＭ Ｏ，５”Ｘ３２Ｐ
ｃ” ５５１４ ）。
３はパス、４はデコーダ（例えば４→１６デコーダＩＣ
４５１５）、５はパ、クア、ｆ電源。
４５１５）、５はパ、クア、ｆ電源。
６は主電源がオフした時メモリーチツノを非活性とする
部分、７はデータ書き込み時のみ抑圧操作してＲ／Ｗ端
子を°Ｌ’（低）レベルとして、データを書き込めるよ
うにするスイッチである。
部分、７はデータ書き込み時のみ抑圧操作してＲ／Ｗ端
子を°Ｌ’（低）レベルとして、データを書き込めるよ
うにするスイッチである。
−万、コンピュータ８としてＣＰＵ （中央処理装置）
は、ｚ−８０または８０８０をもち、／ −トＡないし
ボートＣを有した出力ポート９が、□ Ｐ、Ｐ、Ｉ ＩＣ８２５５によってできている標準型
マイクロコンピュータを考える。なお主記憶装置の被セ
ーブ領域は８０００ＩｉからＢＦＦＦｋｌ（添字Ｈは１
６進を表わす）番地までの１６□バイトになっているも
のとする。このシステムによる書き込み／読み出しプロ
グラムは、下記の第１表、第２表に示される。
は、ｚ−８０または８０８０をもち、／ −トＡないし
ボートＣを有した出力ポート９が、□ Ｐ、Ｐ、Ｉ ＩＣ８２５５によってできている標準型
マイクロコンピュータを考える。なお主記憶装置の被セ
ーブ領域は８０００ＩｉからＢＦＦＦｋｌ（添字Ｈは１
６進を表わす）番地までの１６□バイトになっているも
のとする。このシステムによる書き込み／読み出しプロ
グラムは、下記の第１表、第２表に示される。
ＰＵＳＨＨ，ＰＳＷ
ＭＶＩ、Ｎ８（Ｊ
ＯＵＴ Ｐ、Ｐ、Ｉ
ＬＸＩ ｋ（，００８０
一オ蘇Ｉ ＭＯＶＡ、Ｌ
ＯＵＴＰ、Ｂ
ＭＯＶＡ、Ｈ
ＯｊｌｌＩ Ｇ。
０ＵＴｐ、Ａ
ＭＯＶＡ、Ｍ
ｏｕｒ ｐ、ｃ
ＭＯＶＡ、Ｈ
Ｎ１３Ｆ
ＯＵＴ Ｐ、Ａ
ＲＩ Ｃ０
０ＵＴＰ、Ａ
ＩＮＸｉ（
ＭＯｖ′＾、Ｈ
ＣＰＩ Ｃ０
ＪＮＺ １口
ＰＯＰ ＰＳＶＶ、Ｈ
ＬＴ
ＰＵ８ｋｌ Ｈ，ＰＳＷ
ＭＶＩ Ａ、８９
ＯＵＴ Ｐ、Ｐ、Ｉ
ＬＸＩＨ、ｕｏ８゜
四１９１ ＭＯＶ Ａ、Ｌ
ＯＵＴ Ｐ、Ｂ
ＩＶＩＯＶ Ａ、１（
ＯＵＴ Ｐ、Ａ
ＩＮ、 Ｐ、Ｃ
ＭＯＶＭ、Ａ
ＩＮＸ ＋１
ＭｏＶ ん、Ｈ
ＣＰＩ ＣＵ
ＪＮＺ ロσ回
ｐｏｐ ｐｓｗ 、１−ｉ
１（ＬＴ
さて＊題のバスコネクタＯ襞触不良の検出方法であるが
、従来”検出方法″なる概念に刺違する前の段階として
、コネクタの接触不良を如何に少なくするか１ｃ従ポ技
術は注力されてきたのでるって、コネクタ素子の一偲ｌ
ｌ１１度化を図ることが開発の０橡とはなり′Ｃも、接
触不良の検出という技術截念には到らなかった。しかし
、いかに高信頼度コネクタといえども、前記ＲＡＭ・ン
ックの如き使用方法で抜差動作を何回も繰り返すうちに
、２４個の接点のうちのどれかが接触不良を起こさぬ保
証はない。その接触不良というのが、差し込み方が浅す
き′だとかいったコネクタ自体の信頼性と関係のない誤
操作によるものであったとしても、そのことを知らずに
ロード（１ｏａｄ ）やセーブ（５ａｖｅ ）をすれば
、確実にエラーを起こすわけであり、そのエラーを知ら
ずに主電源をオフすれば、ｒ−夕がこわれて取９返す方
法はなくなるめである。
、従来”検出方法″なる概念に刺違する前の段階として
、コネクタの接触不良を如何に少なくするか１ｃ従ポ技
術は注力されてきたのでるって、コネクタ素子の一偲ｌ
ｌ１１度化を図ることが開発の０橡とはなり′Ｃも、接
触不良の検出という技術截念には到らなかった。しかし
、いかに高信頼度コネクタといえども、前記ＲＡＭ・ン
ックの如き使用方法で抜差動作を何回も繰り返すうちに
、２４個の接点のうちのどれかが接触不良を起こさぬ保
証はない。その接触不良というのが、差し込み方が浅す
き′だとかいったコネクタ自体の信頼性と関係のない誤
操作によるものであったとしても、そのことを知らずに
ロード（１ｏａｄ ）やセーブ（５ａｖｅ ）をすれば
、確実にエラーを起こすわけであり、そのエラーを知ら
ずに主電源をオフすれば、ｒ−夕がこわれて取９返す方
法はなくなるめである。
コネクタが劣化した場合も、何度か抜き差し動作を繰９
返すと完全接触する場合が多いのと同様、信頼性の低い
コネクタでは、新品といえども同様な操作が必谷な場合
もある。そこで要望されるのは、容易に劣化しない高信
頼度のコネクタのコストダウンであるが、発想を転換す
れば、コネクタに接触不良があれば確実にこれを検出し
、ユーザに再抜き差し等の必要性を警龜してくれるシス
テムであれば、必ずしも超高信頼度コネクタを要しない
ということである。
返すと完全接触する場合が多いのと同様、信頼性の低い
コネクタでは、新品といえども同様な操作が必谷な場合
もある。そこで要望されるのは、容易に劣化しない高信
頼度のコネクタのコストダウンであるが、発想を転換す
れば、コネクタに接触不良があれば確実にこれを検出し
、ユーザに再抜き差し等の必要性を警龜してくれるシス
テムであれば、必ずしも超高信頼度コネクタを要しない
ということである。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、簡便かつ確
実゛にコネクタの接触不良を検出し得る方法を提供しよ
うとするものである。
実゛にコネクタの接触不良を検出し得る方法を提供しよ
うとするものである。
本発明は上記目的を達成するため、機器間をプラグとソ
ケットを用いて結合させるものにおいて、各配春のプラ
グ側とソケット１４１１を、これが非結合時に互に反対
方向の電位にプルアップまたはプルダウンさせるインピ
ーダンス素子を殴り、かつプラグ側とソケット側の結合
時における第１の機器、側の配線電位を、前記非結合時
の電位関係と反対の関係になるように構成し、この関係
を検出してコネクタの接触不良を検出するようにしたも
のである。
ケットを用いて結合させるものにおいて、各配春のプラ
グ側とソケット１４１１を、これが非結合時に互に反対
方向の電位にプルアップまたはプルダウンさせるインピ
ーダンス素子を殴り、かつプラグ側とソケット側の結合
時における第１の機器、側の配線電位を、前記非結合時
の電位関係と反対の関係になるように構成し、この関係
を検出してコネクタの接触不良を検出するようにしたも
のである。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第２
図は同実施例を示す回路構成図であるが、構成的に第１
図のものと対応させ九場合の例であるから、対応個所に
は同一符号を付して説明を省略し、特徴とする点の説明
を行なう。
図は同実施例を示す回路構成図であるが、構成的に第１
図のものと対応させ九場合の例であるから、対応個所に
は同一符号を付して説明を省略し、特徴とする点の説明
を行なう。
第２図において１ノはパスφコネクタでアリ、Ｈｋ、ｄ
−’？ 、り１側のコネクターノへ接続されるべき端
子には、例えばｒ＝４．７にΩの抵抗が電源の例えば＋
５■に接続され、正方向にプルアップしである。−万マ
イコンｇ＠では、ポート９の各端子は、例えばＲ＝４７
にΩでゾルダウンしである。
−’？ 、り１側のコネクターノへ接続されるべき端
子には、例えばｒ＝４．７にΩの抵抗が電源の例えば＋
５■に接続され、正方向にプルアップしである。−万マ
イコンｇ＠では、ポート９の各端子は、例えばＲ＝４７
にΩでゾルダウンしである。
上記のような構成とすると、コネクター１が連結状態に
ない場合、マイコン８側及びＲＡＭ ／＃７りｌ側は互
に逆の論理値にゾルされておシ、コネクター１が一担連
結状態になるや、コネクタに接続された端子の論理値の
ピッ）−・９ターンは低抵抗値のついた端子がもってり
だビット・パターンに統一される。換言すれば高抵抗値
のついた端子（ここではポート９＠）のビット・１１．
１ ・９ターンが反転することになる。なぜなら高抵抗によ
るデルダウ／の効果は、低抵抗によるシルア、デの効果
の一部を減するけれども、七の減する効果はｒ／Ｈに関
連して小さく、ゾルダウン抵抗がついているのと殆んど
変わらなくなるからである。この状態においてパス３を
、“Ｌ”（低）レベルの信号が損なわれることな（ＲＡ
Ｍ・母、り１とポート９間を行き来出来るようにｒ。
ない場合、マイコン８側及びＲＡＭ ／＃７りｌ側は互
に逆の論理値にゾルされておシ、コネクター１が一担連
結状態になるや、コネクタに接続された端子の論理値の
ピッ）−・９ターンは低抵抗値のついた端子がもってり
だビット・パターンに統一される。換言すれば高抵抗値
のついた端子（ここではポート９＠）のビット・１１．
１ ・９ターンが反転することになる。なぜなら高抵抗によ
るデルダウ／の効果は、低抵抗によるシルア、デの効果
の一部を減するけれども、七の減する効果はｒ／Ｈに関
連して小さく、ゾルダウン抵抗がついているのと殆んど
変わらなくなるからである。この状態においてパス３を
、“Ｌ”（低）レベルの信号が損なわれることな（ＲＡ
Ｍ・母、り１とポート９間を行き来出来るようにｒ。
Ｒの抵抗値が選ばれることが必要である。即ちｒ、Ｒの
抵抗値は、バスの機能を害しない程度に大きく、コネク
タが外されている場合に各々が１ルアツデ／デルダウン
の機能を果す程度に小さく、かつコネクタ１１が連結状
１１ｒこなると、マイコン８側の入出力ポート９のビッ
ト・・母ターンが反転するようなｒ ／ＲＯ［で選ばれ
る。
抵抗値は、バスの機能を害しない程度に大きく、コネク
タが外されている場合に各々が１ルアツデ／デルダウン
の機能を果す程度に小さく、かつコネクタ１１が連結状
１１ｒこなると、マイコン８側の入出力ポート９のビッ
ト・・母ターンが反転するようなｒ ／ＲＯ［で選ばれ
る。
第２図の構成においては、抵抗ｒ、Ｒが上記条件を満足
しているため、コネクタの接触の有無は、／−）＃個人
出力端子の論理レベルが全て“１″（Ｈレベル）である
かどうかを確認することによってチェ、りできることに
なる、従うて前記第１表、第２表等の人、出力命令をも
ったプログラムを走らせる前に、マイコン８で下記の第
３表のプログラムをサブルーチンとじてこれをコールし
てやれば、コネクタが不完全接触の場合には警告サブル
ーチンにより、ユーザはそれを知ることができるわけで
ある。
しているため、コネクタの接触の有無は、／−）＃個人
出力端子の論理レベルが全て“１″（Ｈレベル）である
かどうかを確認することによってチェ、りできることに
なる、従うて前記第１表、第２表等の人、出力命令をも
ったプログラムを走らせる前に、マイコン８で下記の第
３表のプログラムをサブルーチンとじてこれをコールし
てやれば、コネクタが不完全接触の場合には警告サブル
ーチンにより、ユーザはそれを知ることができるわけで
ある。
第３表
プログラム コメント
ＯＵＴ ＲＦ Ｐ、Ｐ、Ｉ ＡＤＤ
ＲＥＳ８ＩＮ ＢＣＰｏｒｔＡ かｇ ｋ’Ｆ ＪＮＺ ケイコク ＩＮ ＢＤ Ｐ
ｏｒｔｒ５ＦＥ ＦＦ ＪＮＺ ケイコク ＩＮ ＢＥ
ＰｏｒｔＣＦＷ Ｆｋ’ ＪＮＺ ケイコク ＰＯＰ ａｔ、ｏｇ、ｇｃ、ｐｓｗ ここで第３表のプログラムの意味を説明しておく。ｌｆ
マイコン８＠の本す！を−テンで使用する全レジスタ内
容をスタ、りに退避させ、その恢ポート９全体を人力モ
ードにする。ポート９内の、ｊｅ−）ムの内存をＣＰＵ
内ＯＡレジスタにとシ込み、このＡレジスタの内存とＦ
Ｆ＆Ｉ （Ｈは１６進を表わす）とを比較する。もしそ
の内存がＦ ＦＭでなければ、１ケイコク”という簀告
サシルーチンにとび、使用者にコネクタが接触不良であ
る旨知らせで。次（こポー・ト９内の・？−トＢの内ｄ
をＣＰＵ内のＡレジスタにとり込み、このＡレジスタの
内存とＦＦ計を比較する。もしその内容がＦＦでなけれ
ば“クイコク”のサブルーチンにとび、接触不良を知ら
せる。同様のことを／−）Ｃについても実ｂｍ後、Ａｔ
Ｊ記スメスタック全てのし・ンスタの内存を呼びもどす
、あとは第３表のサブルーチンを呼んだ次の命令に′リ
ターンさせるものである。
ＲＥＳ８ＩＮ ＢＣＰｏｒｔＡ かｇ ｋ’Ｆ ＪＮＺ ケイコク ＩＮ ＢＤ Ｐ
ｏｒｔｒ５ＦＥ ＦＦ ＪＮＺ ケイコク ＩＮ ＢＥ
ＰｏｒｔＣＦＷ Ｆｋ’ ＪＮＺ ケイコク ＰＯＰ ａｔ、ｏｇ、ｇｃ、ｐｓｗ ここで第３表のプログラムの意味を説明しておく。ｌｆ
マイコン８＠の本す！を−テンで使用する全レジスタ内
容をスタ、りに退避させ、その恢ポート９全体を人力モ
ードにする。ポート９内の、ｊｅ−）ムの内存をＣＰＵ
内ＯＡレジスタにとシ込み、このＡレジスタの内存とＦ
Ｆ＆Ｉ （Ｈは１６進を表わす）とを比較する。もしそ
の内存がＦ ＦＭでなければ、１ケイコク”という簀告
サシルーチンにとび、使用者にコネクタが接触不良であ
る旨知らせで。次（こポー・ト９内の・？−トＢの内ｄ
をＣＰＵ内のＡレジスタにとり込み、このＡレジスタの
内存とＦＦ計を比較する。もしその内容がＦＦでなけれ
ば“クイコク”のサブルーチンにとび、接触不良を知ら
せる。同様のことを／−）Ｃについても実ｂｍ後、Ａｔ
Ｊ記スメスタック全てのし・ンスタの内存を呼びもどす
、あとは第３表のサブルーチンを呼んだ次の命令に′リ
ターンさせるものである。
なお上記１ケイコク”が行なわれた場合、使用者はコネ
クタ１１の接触状態を正して後、再度プログラムをやり
直すとよい。またコネクタ１１の第伺番目のピンが接触
不良奮起しているかを知シたい場合は、ポートからＩＮ
ＰＵＴ命令で、接触状態のビット・・臂ターンをとり込
んだ後、ビット・マスクをしてＩｌｌ！１次“Ｈ”（”
１”）レベルであるか否かを判定させるプログラムにす
れげよいわけである。
クタ１１の接触状態を正して後、再度プログラムをやり
直すとよい。またコネクタ１１の第伺番目のピンが接触
不良奮起しているかを知シたい場合は、ポートからＩＮ
ＰＵＴ命令で、接触状態のビット・・臂ターンをとり込
んだ後、ビット・マスクをしてＩｌｌ！１次“Ｈ”（”
１”）レベルであるか否かを判定させるプログラムにす
れげよいわけである。
以上の説明で分力、る通り、本実施例においては前記第
１表、第２表のプログラムの処理ＨＩＪＩが１秒萌後で
あるためもあるが、信頼性の修めて低いコネクタを使用
しているにもかかわらず、コネクタの接触不良による事
故を１００チ未然に防ぐことができるのみならず、ＲＡ
Ｍノや、りの差し忘れに対しても警告を受けることがで
きるだめ、前記要望は完全に満たされるのである。
１表、第２表のプログラムの処理ＨＩＪＩが１秒萌後で
あるためもあるが、信頼性の修めて低いコネクタを使用
しているにもかかわらず、コネクタの接触不良による事
故を１００チ未然に防ぐことができるのみならず、ＲＡ
Ｍノや、りの差し忘れに対しても警告を受けることがで
きるだめ、前記要望は完全に満たされるのである。
上記実施例の１゛之明から容易に分かるように、一般に
コネクタを介してＣＰＵがデータを人、出力する全ての
り−スに）いて、前記ＲＡＭ−ｆツクで実施しだ類似の
方法、即ちコネクタに関してＣＰＵ側の人、出力瑞子全
ピ、ト毎にプルアップまたはゾルダウンしておき、反対
側の人、出力端子を、対応する端子と逆方向にプルアッ
プまたはゾルダウンし、かつコネクタの脱着に応じてＣ
ＰＵ ＠でみた端子電圧が１Ｈ＃←″″Ｌ″レベルに反
転し得るようにシルア、デ／デルダ９ン抵抗の値を選ん
でおけば、ＣＰＵ側の端子のヒツト・ノ母ターンは、コ
ネクタが完全接触を保っているならば所定の・譬ターン
となるが、一つでも不完全接触端子があればこれと異な
る・り一ンとなることを利用し、簡単なプログラムによ
って不完全接触の有無を判定することができる。
コネクタを介してＣＰＵがデータを人、出力する全ての
り−スに）いて、前記ＲＡＭ−ｆツクで実施しだ類似の
方法、即ちコネクタに関してＣＰＵ側の人、出力瑞子全
ピ、ト毎にプルアップまたはゾルダウンしておき、反対
側の人、出力端子を、対応する端子と逆方向にプルアッ
プまたはゾルダウンし、かつコネクタの脱着に応じてＣ
ＰＵ ＠でみた端子電圧が１Ｈ＃←″″Ｌ″レベルに反
転し得るようにシルア、デ／デルダ９ン抵抗の値を選ん
でおけば、ＣＰＵ側の端子のヒツト・ノ母ターンは、コ
ネクタが完全接触を保っているならば所定の・譬ターン
となるが、一つでも不完全接触端子があればこれと異な
る・り一ンとなることを利用し、簡単なプログラムによ
って不完全接触の有無を判定することができる。
なお本発明は前記実施例のみに限られることなく、種々
の応用が可能である。例えば上記実施例ではｃｐＵｓ
ＩＩをすべてのビットについてプルダウンしであり、
ＲＡＭノ母、り１１ｉｌＩは逆に全てプルアップし、完
全接触時は全ビットが“Ｈ″となるようになっていたた
め、第３表のプログラムにおいては各ポートのビット・
・母ターンヲインプット、命令で取り込んだ後、ＦＦＭ
即ちヒツト・ノ９ターンで云えば＠１１１１１１１１”
と比較しているわけであるが、入出力周辺機器の都合に
よっては、完全接触時のヒツト・・母ターンが必ずし４
ＦＦ、とは限らない。そのような場合もコネクタの抜き
差しによりて、ＣＰＵ側のヒツト・・９ターンが補数表
示されるように！ルアツブ／デルダウンの抵抗が選んで
あれば、成るポートの各ヒツトの接触の有無は、縞３表
のプログラムで云えばＦＦとあるところを、その場合の
完全接触時のピットノ々ターン例えば−００１０１１０
１”であるならＩＤＩＩ（２は上位側４桁、Ｄは下位側
４桁）とすれば、検出することができる。また本発明に
あっては補数・ぐターンの検出は、マイコンのみでなく
例えばテスタでも行なえる。
の応用が可能である。例えば上記実施例ではｃｐＵｓ
ＩＩをすべてのビットについてプルダウンしであり、
ＲＡＭノ母、り１１ｉｌＩは逆に全てプルアップし、完
全接触時は全ビットが“Ｈ″となるようになっていたた
め、第３表のプログラムにおいては各ポートのビット・
・母ターンヲインプット、命令で取り込んだ後、ＦＦＭ
即ちヒツト・ノ９ターンで云えば＠１１１１１１１１”
と比較しているわけであるが、入出力周辺機器の都合に
よっては、完全接触時のヒツト・・母ターンが必ずし４
ＦＦ、とは限らない。そのような場合もコネクタの抜き
差しによりて、ＣＰＵ側のヒツト・・９ターンが補数表
示されるように！ルアツブ／デルダウンの抵抗が選んで
あれば、成るポートの各ヒツトの接触の有無は、縞３表
のプログラムで云えばＦＦとあるところを、その場合の
完全接触時のピットノ々ターン例えば−００１０１１０
１”であるならＩＤＩＩ（２は上位側４桁、Ｄは下位側
４桁）とすれば、検出することができる。また本発明に
あっては補数・ぐターンの検出は、マイコンのみでなく
例えばテスタでも行なえる。
また本発明の対象とする機器も、コンピュータのみに限
られるものではない。
られるものではない。
以上説明した如く本発明によれば、信頼性の低いコネク
タを使用してもその接触不良を未然に防止できるなどの
利点を有したコネクタの接触不良検出方法が提供できる
ものである。
タを使用してもその接触不良を未然に防止できるなどの
利点を有したコネクタの接触不良検出方法が提供できる
ものである。
第１図は従来のＲＡＭ Ｊ＃ツクのバスコネクタ部の説
明図、第２図は本発明の一実施例を示す回路構成図であ
る。 １・・・ＲＡＭノ＃、／、３・・・パス、８・・・マイ
コン、９・・・／−）、ＪＪ・・・コネクタ、ｒ・・・
デルアッゾ抵抗、Ｒ・・・ゾルダウン抵抗。
明図、第２図は本発明の一実施例を示す回路構成図であ
る。 １・・・ＲＡＭノ＃、／、３・・・パス、８・・・マイ
コン、９・・・／−）、ＪＪ・・・コネクタ、ｒ・・・
デルアッゾ抵抗、Ｒ・・・ゾルダウン抵抗。
Claims (2)
- （１） 第１の機器と＃！２の機器間をプラグとソケ
ットを用いて結合させるものにおいて、各配線のプラグ
側とソケット餉を、これらが非結合時に互に反対方向の
電位にシルア、！またはデルダウンさせるインピーダン
ス素子を設け、がっプラグ側とソケット側の結合時にお
ける前記第１の機器側の配線電位を、前記非結合時の電
位関係と反対の関係になるように構成することを特徴と
するコネクタの接触不良検出方法。 - （２） 前記第１の機器は、コンピュータに、第２の
機器は、前記コンピュータの入出力４−トに接続される
周辺機器にそれぞれ対応し、前記各配線の数は、ビット
数に、前記第１の機器側の配線電位は、前記コンピュー
タ側のコネクタ配線のビット・ノ９ターンに、前記非結
合時の電位関係と反対関係は、前記非結合時のビット・
・Ｉターンの補数ノ母ターンであることを特徴とする特
許請求の範囲第１項に記載のコネクタの接触不良検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57087412A JPS58204377A (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | コネクタの接触不良検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57087412A JPS58204377A (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | コネクタの接触不良検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58204377A true JPS58204377A (ja) | 1983-11-29 |
Family
ID=13914156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57087412A Pending JPS58204377A (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | コネクタの接触不良検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58204377A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6276674U (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-16 | ||
| EP0450808A2 (en) * | 1990-04-03 | 1991-10-09 | Ford Motor Company Limited | Fault detection and isolation in automotive wiring harness |
| US5672917A (en) * | 1994-09-27 | 1997-09-30 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor power switch system |
-
1982
- 1982-05-24 JP JP57087412A patent/JPS58204377A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6276674U (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-16 | ||
| JPH0511507Y2 (ja) * | 1985-10-31 | 1993-03-22 | ||
| EP0450808A2 (en) * | 1990-04-03 | 1991-10-09 | Ford Motor Company Limited | Fault detection and isolation in automotive wiring harness |
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