DE19519777A1 - Oberflächenkontrolleuchte - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Kontrolleuchte gemäß dem
Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Z.B. aus DE-C 21 11 103 ist es bereits bekannt, zur Kontrol
le der Oberfläche von Körpern mehrere, parallel zueinander
angeordnete Leuchtreihen vorzusehen, die dazu dienen, auf die
zu prüfende Fläche, beispielsweise die Karosserie eines
Kraftfahrzeuges, Hell/Dunkel-Streifen zu projizieren. Zeigen
sich bei seitlicher Betrachtung der zu prüfenden Oberfläche
Unregelmäßigkeiten im Verlauf dieser Projektionslinien, dann
ist eine Fehlstelle, Einbuchtung oder Ausbeulung, in der
Oberfläche der visuell untersuchten Karosserie dafür die Ur
sache.
Steigende Anforderungen der Käufer von Kraftfahrzeugen an die
optische Qualität von Kraftfahrzeuglackierungen waren die Ur
sache dafür, auch die Leistungsfähigkeit derartiger Prüfein
richtungen zu verbessern. So ist aus DE-C 34 18 317 ein Prüf
raum bekannt, bei dem oberhalb und seitlich der zu untersu
chenden Fahrzeugkarosserie parallel zueinander verlaufende
Leuchtreihen angeordnet sind. Die Leuchtreihen sind quer zur
Förderrichtung des zu untersuchenden Fahrzeuges angeordnet,
das durch den länglich gestalteten Prüfraum auf einem Förder
band hindurchgeschleppt wird. Die Leuchtreihen sind gruppen
weise zu Mehrfach-Leuchtreihen mit nicht leuchtenden und
nicht reflektierenden schmalen Zwischenstreifen zwischen den
einzelnen Leuchtreihen zusammengefaßt. Mit dieser Leuchtenan
ordnung wird auf der zu prüfenden Karosserie ein projiziertes
Kontrastmuster von Hell/Dunkel-Streifen erzeugt, das ein gu
tes Erkennen von Fehlern auf der zu untersuchenden Karosserie
ermöglicht.
Aus DE-C 36 13 137 ist eine weitere Ausgestaltung eines sol
chen Prüfraumes mit einer Prüfleuchte bekannt, die im wesent
lichen aus einer Leuchtstoffröhre und einem im Querschnitt im
wesentlichen trapezförmigen Reflektor gebildet ist. Um mit
dieser Prüfleuchte ein möglichst kontrastreiches und vielfäl
tiges Hell/Dunkel-Muster erzeugen zu können, andererseits je
doch lediglich eine insgesamt mäßige und dauernd ertragbare
Lichtintensität hervorzurufen sowie einen mäßigen Energiever
brauch zu bewirken, ist der Reflektor der Prüfleuchte im un
mittelbaren Bereich hinter der Leuchtstoffröhre matt ge
schwärzt und unterbrochen. Außerdem ist der Reflektor im Be
reich seiner Schenkel plan eben und hoch glänzend spiegelnd
ausgebildet. Dadurch wird ein scharf und möglichst geradlinig
konstruiertes Spiegelbild der Leuchtstoffröhre in jedem der
Reflektorschenkel erzeugt.
Aus DE 44 17 884 A1 ist schließlich eine Lackkontrolleuchte
bekannt, bei der vorzugsweise mehrere Leuchtstofflampen par
allel zueinander in einer Reflektoranordnung mit im wesentli
chen trapezförmigen Querschnitt angeordnet sind. In die die
ser Reflektoranordnung in bezug auf die Leuchtstofflampen ge
genüberliegende Lichtaustrittsöffnung der Leuchte ist eine
plane Abdeckscheibe eingesetzt. Diese trägt, jeder Leucht
stofflampe zugeordnet, zwei Prismenoptiken mit parallel zu
der Leuchtenlängsachse verlaufenden Prismen, wobei diese
Prismenoptiken auf Abstand spiegelbildlich symmetrisch zur
Lampenvertikalebene angeordnet sind. Festgelegt sind diese
Prismenoptiken durch parallel zur Leuchtenlängsachse verlau
fende Abdeckstreifen, die Abstandhalter für einander benach
barte Prismenoptiken bilden und schwarz lackiert sind und da
mit auch nicht leuchtende Kontraststreifen bilden.
Die Prismenoptiken der bekannten Kontrolleuchte dienen dem
Zweck, hohe Leuchtdichteunterschiede in der Lichtaustritts
öffnung herabzusetzen und damit eine Reflexblendung einer
Prüfperson zu vermeiden, die die von der Kontrolleuchte be
leuchtete Oberfläche des Prüfkörpers, insbesondere die
lackierte Karosserie eines Kraftfahrzeuges visuell unter
sucht. Die alternierende Anordnung von Prismenflächen, von
transparenten, d. h. unbedeckten Flächen der Abdeckscheibe
und von schwarz lackierten Abdeckstreifen dient dazu, kon
trastreiche Hell/Dunkel-Streifen auf der zu prüfenden Ober
fläche zu schaffen, die Fehlstellen auf dieser Oberfläche
sichtbar werden lassen, wenn sich eine Prüfperson relativ zu
der betrachteten Oberfläche bewegt.
Nun sind derartige Prüfleuchten ganz spezifisch auf den Ver
wendungszweck abgestimmte Spezialleuchten, keine in großer
Zahl einsetzbare Serienleuchten und deshalb in der Herstel
lung aufwendig. Die bekannten Leuchten dienen dem Verwen
dungszweck insbesondere bei kritischen Prüfbedingungen bisher
nur unvollkommen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, für eine Kon
trolleuchte der eingangs genannten Art eine weitere Ausfüh
rungsform zu schaffen, mit der es gelingt, mit möglichst ein
fachen Mitteln eine lichttechnisch wirkungsvolle Beleuch
tungseinrichtung zur Verfügung zu stellen, die dem Verwen
dungszweck noch besser genügt als die bekannten Kontrolleuch
ten dieser Art und dabei insbesondere in ihren Ausgestaltun
gen leicht an unterschiedliche Anforderungen verschiedener
Prüfaufgaben anzupassen ist.
Bei einer Kontrolleuchte der eingangs genannten Art wird
diese Aufgabe erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des
Patentanspruches 1 beschriebenen Merkmale gelöst.
Bei der erfindungsgemäßen Lösung werden weder in Teilflächen
schwarz lackierte Reflektoranordnungen wie bei einem Teil der
bekannten Prüf- bzw. Kontrolleuchten eingesetzt, noch werden
konstruktiv aufwendige Halterungen und ähnliches benötigt, um
die erforderlichen Kontrastmuster reproduzierbar zu realisie
ren. Vielmehr wird eine robuste, dem Einsatzbereich angepaßte
Leuchte vorgeschlagen, die sich infolge der in die Lichtaus
trittsöffnung eingesetzten Abdeckscheibe von außen bequem
reinigen läßt. Dies ist in dem vorgesehenen Verwendungsfall
von besonderem Vorteil, weil mit Staub und sich niederschla
genden Farbnebeln trotz aufwendiger Vorkehrungen zu rechnen
ist. Denn die Prüfperson soll während des Durchlaufes der Ka
rosserie durch den Prüfraum einen festgestellten Fehler durch
Nachbearbeiten unmittelbar, beispielsweise durch Schleifen,
Polieren beheben können. Lichttechnisch gesehen, ist die er
findungsgemäße Lösung besonders wirkungsvoll, weil sie es mit
einer an sich bekannten, deshalb herstellungstechnisch durch
aus beherrschten Reflektoranordnung ermöglicht, in der Licht
austrittsöffnung - von dem an sich notwendigen Kontrastmuster
zunächst abgesehen - eine möglichst gleichmäßige Lichtaus
strahlung zu erreichen. Dem Verwendungszweck angepaßte Kon
trastmuster werden unmittelbar auf eine der Oberflächen, vor
zugsweise die innenliegende Fläche der Abdeckscheibe aufge
bracht. Dabei ist diese Oberfläche so ausgestaltet, daß sie
in den lichtdurchlässigen Teilflächen das Licht vorzugsweise
ungerichtet durchläßt. Eine derartige diffuse Transmission
läßt sich durch eine Mattierung dieser Flächen erreichen. Mit
dieser Maßnahme ist sichergestellt, daß harte Reflexe auf der
durch die Kontrolleuchte beleuchteten Oberfläche des Prüf
lings vermieden werden, so daß keine Reflexblendung bei einer
die zu prüfende Oberfläche untersuchenden Prüfperson auftre
ten kann.
Wie in Unteransprüchen beschriebene Weiterbildungen der Er
findung zeigen, kann das Kontrastmuster in unterschiedlichen
Ausgestaltungen besonders vorteilhaft an bestimmte Prüfaufga
ben angepaßt werden. Dies läßt sich auf einfache Weise durch
eine Folienbeschichtung oder auch durch ein Bedrucken der Ab
deckscheibe in einem Siebdruckverfahren erreichen.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand
der Zeichnung näher erläutert. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine erfindungsgemäß ausgebildete Kontrolleuchte
schematisch im Querschnitt,
Fig. 2 und 3 je einen Ausschnitt aus einer in die Lichtaus
trittsöffnung der Kontrolleuchte nach Fig. 1 eingesetzten
Abdeckscheibe unter anderem mit der Feinstruktur eines Kon
trastmusters aus parallelen Rasterstreifen bzw. in Form eines
Gitterrasters.
In Fig. 1 ist in einem Querschnitt schematisch eine Kon
trolleuchte für die Verwendung bei visuellem Erkennen von Un
regelmäßigkeiten auf zu untersuchenden Oberflächen eines
Prüflings dargestellt. In einem Leuchtengehäuse 1 sind in
diesem Ausführungsbeispiel parallel zueinander drei Leucht
stofflampen 2 angeordnet. Die Leuchtstofflampen 2 sind teil
weise von einer Reflektoranordnung 3 umgeben, die in diesem
Fall aus drei, jeweils einer der Leuchtstofflampen 2 zugeord
neten Teilreflektoren 31 besteht, die im Querschnitt parabel
förmig ausgebildet bzw. aus Parabelabschnitten zusammenge
setzt sind, wobei wegen der endlichen Ausdehnung der Leucht
stofflampe 2 die Brennpunkte der Parabelabschnitte eines
Teilreflektors 31 mit reflektornahen Randpunkten der Lampen
kontur zusammenfallen. In die der Reflektoranordnung 3 in be
zug auf die Leuchtstofflampen 2 gegenüberliegende Lichtaus
trittsöffnung der Leuchte ist eine plane Abdeckscheibe 4 ein
gesetzt, die vorzugsweise aus einem Einscheiben-Sicherheits-
Glas (ESG) besteht.
Das Material dieser Abdeckscheibe 4 ist normalerweise trans
parent. In diesem Fall jedoch ist diese optische Eigenschaft,
dem Verwendungszweck der Kontrolleuchte entsprechend, zumin
destens in einem weiten Umfang unerwünscht. Zunächst wird mit
der beschriebenen Reflektoranordnung 3 angestrebt, das von
den Leuchtstofflampen 2 direkt bzw. über die Teilreflektoren
31 als reflektiertes Licht auf die Abdeckscheibe 4 abge
strahlte Licht möglichst gleichmäßig auf die den Teilreflek
toren 31 gegenüberliegenden Teilflächen der Lichtaustritts
öffnung der Kontrolleuchte zu verteilen. Unterstützt wird
dies durch eine weitgehende Mattierung der den Leucht
stofflampen 2 zugekehrten Innenseite der Abdeckscheibe 4. An
sich läßt sich dies in bekannter Weise durch Ätzen oder auch
Sandstrahlen dieser Innenfläche der Abdeckscheibe 4 errei
chen. Nun soll auf der Abdeckscheibe 4 darüber hinaus ein
Kontrastmuster insbesondere in Form länglicher, in Richtung
der Leuchtenlängsachse parallel verlaufender Hell/Dunkel-
Streifen erzeugt werden. Andererseits soll die Außenseite der
Abdeckscheibe möglichst nicht bearbeitet werden, um sie be
quem und einfach, auch mit aggressiven Reinigungsmitteln be
handeln zu können. Es erscheint zwar möglich, ist herstel
lungstechnisch aber relativ diffizil, auf eine vorbehandelte
mattierte Glasoberfläche unmittelbar ein weiteres Muster auf
zubringen. Deshalb wird vorzugsweise sowohl die Mattierung
für hell erscheinende Teilflächen sowie die Einfärbung der
dazu kontrastreich ausgebildeten, dunkel erscheinenden Teil
flächen der Abdeckscheibe 4 jeweils vorzugsweise in einem Ar
beitsgang vorgenommen. Dies kann in Form der Beschichtung ei
ner Folie mit entsprechend ausgebildetem Farbmuster gesche
hen, die auf die Abdeckscheibe anschließend aufgebracht wird
bzw. unmittelbar durch Bedrucken der Innenseite der Abdeck
scheibe 4 in einem Siebdruckverfahren erzielt werden.
In Fig. 1 ist ein derartiges Grundmuster für die Beschich
tung der den Leuchtstofflampen 2 zugekehrten Innenseite der
Abdeckscheibe 4 angegeben. Vorzugsweise sind Mittelstreifen
41, deren Fläche etwa der senkrechten Projektion der jeweili
gen Leuchtstofflampe 2 auf die Abdeckscheibe 4 entspricht,
transparent ausgebildet. Bei weniger kritischen Prüfaufgaben
kann es aber auch zweckmäßig sein, diese Mittelstreifen 41
ebenso zu mattieren, wie dazu benachbarte Seitenstreifen 42,
die sich etwa bis zum Rand der zugeordneten Teilreflektoren
31 erstrecken. Wie Fig. 1 zeigt, liegen die Außenränder ein
ander benachbarter Teilreflektoren 31 in einem vorgegebenen
Abstand voneinander. In diesem Abstandsbereich sind auf der
Abdeckscheibe 4 dunkle, vorzugsweise völlig schwarz ausgebil
dete Kontraststreifen 43 vorgesehen. Angestrebt wird, daß die
Gesamtfläche der hellen Zonen auf der Abdeckscheibe 4 ein
Mehrfaches der Gesamtfläche der dunklen Zonen beträgt. Vor
zugsweise beträgt das Flächenverhältnis der Kontraststreifen
43 zu den dazwischenliegenden Mittel- und Seitenstreifen 41
bzw. 42 etwa 1 : 3. Mit der beschriebenen Reflektoranordnung 3
sowie der entsprechenden Ausgestaltung der Abdeckscheibe 4
gelingt es, das von den Leuchtstofflampen 2 abgestrahlte
Licht möglichst wirkungsvoll zu nutzen und in ein aus eindeu
tigen, voneinander scharf abgesetzten Hell/Dunkel-Streifen
gebildetes Kontrastmuster umzusetzen.
Sofern es für besonders kritische Oberflächen notwendig ist,
läßt sich der aus einem Mikropunktraster gebildeten Mattie
rung der Seitenstreifen 42, gegebenenfalls einschließlich der
dann auch mattierten Mittelstreifen 41 eine weitere Kontrast
struktur überlagern. Fig. 2 und 3 zeigen dafür schematisch
zwei Beispiele.
In Fig. 2 ist ein Ausschnitt aus der Oberfläche der Abdeck
scheibe 4 dargestellt. Dabei sind die Kontraststreifen 43 aus
Gründen der Übersicht in der Zeichnung nicht völlig ge
schwärzt dargestellt, sondern lediglich dick schraffiert. Die
Mattierung der Seitenstreifen 42 ist durch eine Doppelschraf
fur angedeutet. Dagegen ist der in diesem Beispiel vorgese
hene transparente Mittelstreifen 41 völlig unschraffiert. In
Fig. 2 ist der aus einem Mikropunktraster bestehenden Mat
tierung der Seitenstreifen 42 ein Muster aus dünnen, vorzugs
weise nur wenige Millimeter breiten, zueinander parallelen
Rasterstreifen 44 überlagert. Damit ist es für kritische Un
tersuchungen möglich, auf der zu untersuchenden Oberfläche
ein kleinflächiges, scharf begrenztes Hell/Dunkel-Muster zu
erzeugen, mit dem auch noch kleinste Unebenheiten in der un
tersuchten Fläche festzustellen sind.
In Fig. 3 ist schematisch eine weitere Ausführungsform für
ein derartiges kleinflächiges Kontrastmuster dargestellt. Im
Vergleich zu Fig. 2 ist hier kein transparenter Mittelstrei
fen 41 vorgesehen, sondern die Fläche zwischen den Rändern
eines der Teilreflektoren 31 vollständig mattiert, so daß die
beiden Seitenstreifen 42 zu einer Fläche zusammenfallen. In
dieser mattierten Fläche ist hier im Gegensatz zu dem Bei
spiel von Fig. 2 eine überlagerte Gitterstruktur 45 vorgese
hen, die aus parallel zur Leuchtenlängsachse sowie quer dazu
verlaufenden dünnen Rasterstreifen gebildet ist.
Die beschriebenen Ausführungsformen illustrieren, daß es mit
relativ einfachen Mitteln möglich ist, eine bestehende Grund
form für eine Kontrolleuchte an unterschiedliche Beleuch
tungsaufgaben für verschiedene Prüfzwecke anzupassen. So kann
man beispielsweise von einer definierten Ausgestaltung der
Abdeckscheibe 4, wie sie etwa anhand von Fig. 1 beschrieben
wurde, ausgehen und die weiteren verfeinerten Kontrastmuster
erforderlichenfalls durch einen weiteren Beschichtungsvorgang
zusätzlich überlagern. Auf diese Weise ist es in einer einfa
chen, beherrschbaren Fertigungstechnologie möglich, ohne ei
nen besonderen Aufwand eine Serie von Ausführungsformen von
Kontrolleuchten bereitzustellen und damit den unterschied
lichsten Prüfungsaufgaben angemessene Beleuchtungseinrichtun
gen zur Verfügung zu stellen. Obwohl vielfach streifenförmige
Hell/Dunkel-Muster bei der visuellen Kontrolle von Körpern,
auch zweidimensionalen Flächen eingesetzt werden, ist es im
Rahmen der Erfindung auch denkbar, statt der streifenförmig
linearen überlagerten Kontrastmuster konzentrische alternie
rend hell bzw. dunkel ausgebildete Ringe einzusetzen, die
sich ebenso auf die Abdeckscheibe auftragen lassen wie ein
linear ausgebildetes Muster.
Claims (10)
1. Kontrolleuchte zur Verwendung bei visuellem Erkennen von
Unregelmäßigkeiten auf zu untersuchenden Oberflächen mit min
destens einer von einer Reflektoranordnung (3) teilweise um
gebenen Leuchtstofflampe (2), mit einer der Reflektoranord
nung in bezug auf die mindestens eine Leuchtstofflampe gegen
überliegenden, in einer Lichtaustrittsöffnung der Kon
trolleuchte angeordneten, transparenten Abdeckung (4) und mit
Mitteln (41 bis 45) zum Erzeugen von kontrastreich voneinan
der abgesetzten Teilflächen unterschiedlicher Leuchtdichte in
der Lichtaustrittsöffnung, dadurch gekennzeichnet,
daß die Reflektoranordnung (3) eine zumindestens angenähert
kegelschnittförmige Querschnittskontur aufweist, die in bezug
auf die Längsachse der mindestens einen Leuchtstofflampe (2)
derart angeordnet und ausgebildet ist, daß sich eine mög
lichst gleichmäßige Lichtverteilung in der Lichtaustrittsöff
nung ausbildet, daß die Abdeckung (4) im wesentlichen eben
ausgebildet ist und auf einer ihrer Oberflächen ein unmittel
bar aufgebrachtes Kontrastmuster (41 bis 45) aufweist, das
aus alternierend ausgebildeten, zueinander parallelen
und/oder konzentrischen und unterschiedlich strukturierten
Teilflächen (41 bis 45) mit hohem Absorptionsgrad bzw. hoher
ungerichteter Transmission gebildet ist.
2. Kontrolleuchte nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die gesamte Fläche der Teilflächen (41, 42)
hohen Transmissionsgrades ein Mehrfaches der gesamten Fläche
der Teilflächen (43) hohen Absorptionsgrades beträgt.
3. Kontrolleuchte nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Teilflächen hohen Transmissionsgrades
gleichmäßig durchscheinend ausgebildet sind.
4. Kontrolleuchte nach Anspruch 2 oder 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß eine sich etwa aus der senkrechten
Projektion der mindestens einen Leuchtstofflampe (2) auf die
plane Abdeckung (4) ergebende Teilfläche (41) transparent
ausgebildet ist.
5. Kontrolleuchte nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß den Teilflächen (41 ggf.
42) hohen Transmissionsgrades eine Struktur aus mindestens
einer schmalen Rasterlinie (44) mit hohem Absorptionsgrad
überlagert ist.
6. Kontrolleuchte nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß den Teilflächen (42) hohen
Transmissionsgrades eine Gitterstruktur aus schmalen Raster
linien (45) mit hohem Absorptionsgrad überlagert ist.
7. Kontrolleuchte nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß das Kontrastmuster (41 bis
45) auf der der mindestens einen Leuchtstofflampe (2) zuge
kehrten Innenseite der Abdeckung (4) im Siebdruckverfahren
aufgebracht ist.
8. Kontrolleuchte nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß das Kontrastmuster auf der
der mindestens einen Leuchtstofflampe (2) zugekehrten Innen
seite der Abdeckung (4) in Form von entsprechend ausgebilde
ten Folienstreifen aufgebracht ist.
9. Kontrolleuchte nach einem der Ansprüche 1 bis 8, da
durch gekennzeichnet, daß die Querschnittskontur der
Reflektoranordnung (3) aus Parabeln gebildet bzw. aus Para
belabschnitten zusammengesetzt ist.
10. Kontrolleuchte nach Anspruch 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß bei einer mehrlampigen Ausführung jeder der
Leuchtstofflampen (2) ein Teilreflektor (31) zugeordnet ist,
wobei diese Teilreflektoren, im Querschnitt der Leuchte be
trachtet, einen derartigen Abstand voneinander aufweisen, daß
zwischen ihnen Randstreifen gebildet sind, die etwa ein Drit
tel der Gesamtfläche der Abdeckung (4) einnehmen, wobei die
sen Randstreifen Teilflächen (43) hohen Absorptionsgrades auf
der Abdeckung (4) deckungsgleich entsprechen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19519777A DE19519777A1 (de) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | Oberflächenkontrolleuchte |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19519777A DE19519777A1 (de) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | Oberflächenkontrolleuchte |
Publications (1)
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DE19519777A1 true DE19519777A1 (de) | 1996-12-12 |
Family
ID=7763205
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19519777A Ceased DE19519777A1 (de) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | Oberflächenkontrolleuchte |
Country Status (1)
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