DE19514692A1 - Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken - Google Patents
Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung von WerkstückenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine optische Koordina
ten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen
Vermessung von Werkstücken gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Berührungslose optische Meßsysteme auf der Basis elek
tronischer Bildverarbeitung sind zumeist als Meßmi
kroskope ausgelegt, die in den Bereichen der Mikro
elektronik, Mikromechanik und Präzisionsteilefertigung
eingesetzt werden. Mittels CCD-Kameras werden dabei
zweidimensionale Abbildungen der Meßobjekte aufgenom
men und elektronisch ausgewertet. Diese Geräte erwei
tern das Spektrum der Meßmöglichkeiten gegenüber
tastenden Koordinaten-Meßmaschinen und Meßprojektoren
auf die automatisierte Vermessung ebener Submilli
meter-Strukturen. Die erforderliche Meßgenauigkeit im
Mikrometerbereich beschränkt die Einsatzfähigkeit der
Geräte auf Meßlabors mit geschützten Umgebungsbedin
gungen. Im Fertigungsbereich der Massenproduktion von
Metall- oder Kunststoffteilen sind diese wegen der
offenen Bauweise und der Erschütterungsempfindlichkeit
gar nicht oder nur sehr eingeschränkt einsetzbar. Als
wesentlichste Einschränkung für den Produktionsbereich
ist jedoch die Beschränkung auf eine Abbildungsrich
tung anzusehen. Die Auswertung ist auf die zweidimen
sionale Vermessung von Teilansichten von Werkstücken
eingeschränkt, die in einer der parallelen Abbildungs
ebenen der CCD-Kamera liegen. Mittels Zusatzgeräten
(z. B. Autofocus oder Lichtschnittverfahren) ist maxi
mal nur noch das Höhenprofil des Werkstückes ermittel
bar. Zur vollständigen dreidimensionalen Vermessung
müssen daher die Werkstücke oft mehrfach gedreht und
neu positioniert werden.
Aus der DE 42 08 455 ist eine Vorrichtung zur berüh
rungslosen, dreidimensionalen Messung eines Werk
stückes bekannt, bei der die Höheninformationen mit
tels des Triangulationsverfahrens bestimmt werden. Da
zu sind ein als Lichtquelle dienender Laser und die
CCD-Kammera im Raum frei positionierbar. Dies wird
durch die Möglichkeit einer translatorischen und rota
torischen Verschiebung des Meßgutes und einer rotato
rischen Bewegung des Tastkopf es erreicht, d. h. eine
Kippung, bestehend aus einer festen Anordnung des La
sers zur CCD-Kamera und deren Optiken. Bei einer be
rührungslosen, dreidimensionalen Aufnahme wird das
Werkstück auf dem Meßtisch befestigt, wobei sich der
Tastkopf senkrecht über dem Werkstück befindet. Durch
den verwendeten Laser und eine astigmatische Kollimar
optik wird auf dem Meßgut ein Lichtband erzeugt, wel
ches durch die CCD-Kamera erfaßt wird. Die Berechnung
der Höheninformation erfolgt nach dem Triangulations
prinzip und wird mit der ebenfalls vorhandenen Ortsin
formation (z. B. X-Koordinate) verknüpft. Die dritte
benötigte Ortsinformation (z. B. Y-Koordinate) wird
durch Auswertung der Bewegung des Meßgutes erzeugt.
Das Werkstück wird systematisch abgescannt und be
schreibt dann ein dreidimensionales Oberflächenmodell.
Nachteilig bei dieser bekannten Vorrichtung ist, die
geringe Auflösung bzw. zu große Ungenauigkeit des Ver
fahrens. Außerdem sind die durch das Abscannen ent
stehenden Datenmengen sehr groß und beschränken somit
die Verarbeitungszeit. Des weiteren werden keine Sei
tenansichten des Werkstückes berücksichtigt. Das Be
stimmen relevanter Abmessungen, wie z. B. Durchmesser
des Werkstückes oder Abstände zwischen bestimmten
Punkten, müßten in einem separaten Koordinatenauswer
tungsprogramm erfolgen. Die bekannte Vorrichtung ist
daher für die schnelle und einfache Ausmessung von
dreidimensionalen Werkstücken, insbesondere in der
Qualitätssicherung ungeeignet. Außerdem ist der ope
rative Aufwand des Handhabens derart hoch, daß sich
diese Vorrichtung nicht zur Verwendung in der Massen
produktion eignet.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine
optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen,
dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken zu
schaffen, mit der Abmessungen, wie z. B. Abstände,
Durchmesser oder Winkel einfach handhabbar bzw. auto
matisierbar dreidimensional vermessen werden können,
ohne die Werkstücke umzuspannen.
Die Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus den kenn
zeichnenden Merkmalen des Patentanspruches 1. Durch
die Anordnung mindestens eines optisch planparallelen
Spiegels im 45°-Winkel zur Meßfläche und zur senkrecht
zum Meßtisch stehenden optischen Achse der CCD-Kamera,
dessen Unterkante sich auf Höhe der Meßfläche befin
det, kann auch eine senkrecht zur Meßfläche stehende
Seite des Werkstückes vermessen werden. Dazu wird der
Spiegel unter die CCD-Kamera verschoben, so daß die
Seitenfläche des Werkstücks unverzerrt über den Spie
gel auf die CCD-Kamera abgebildet wird. Weitere vor
teilhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich
aus den Unteransprüchen. Durch die zusätzliche Rota
tionsbewegung des Meßtisches können bliebig viele Sei
tenansichten von z. B. rotationssymetrischen Werk
stücken einfach vermessen werden. Außerdem sind somit
z. B. alle vier Seiten eines Werkstückes mit Seiten
flächen, die zueinander rechtwinklig stehen, einer
Vermessung zugänglich. Das gleiche Ergebnis wird er
zielt, wenn an allen vier Kanten des Meßfläche je ein
optisch planparalleler Spiegel im Winkel von 45° zur
Meßfläche und zur optischen Achse der CCD-Kamera ange
ordnet ist. Mittels einer zweiten CCD-Kamera kann eine
Gesamtsicht des Werkstückes aufgenommen werden. Diese
Gesamtsicht kann z. B. auf einem Monitor dargestellt
werden. Bei der Erstellung eines Meßprogrammes können
die relevanten Meßpunkte des Werkstückes besonders
einfach erkannt und selektiert werden. Zusätzlich kann
der Bediener der Meßmaschine dadurch erkennen, wo ge
rade das Werkstück vermessen wird.
Die Erfindung ist anhand eines in den Zeichnungen dar
gestellten bevorzugten Ausführungsbeispieles einer op
tischen Koordinaten-Meßmaschine näher erläutert. Die
Figuren zeigen:
Fig. 1 eine schematische Seitenansicht,
Fig. 2 einen schematischen Querschnitt durch die
Spiegelanordnung mit einem Werkstück auf
der Meßfläche und
Fig. 3 eine schematische Draufsicht auf die
Spiegelanordnung mit einem Werkstück auf
der Meßfläche.
In der Fig. 1 ist eine schematische Seitenansicht einer
Meßmaschine 1 dargestellt. Die Meßmaschine 1 besteht
im wesentlichen aus einem Portal 18, einer am Portal
18 befestigten in die Z-Richtung verfahrbaren Positio
nierachse 19, einer an der Positionierachse 19 be
festigten CCD-Kamera 2, zwei zueinander senkrecht an
geordneten in X- bzw. Y-Richtung verfahrbaren Positio
nierachsen 4, 5, einem horizontalen Meßtisch 9 mit
einer ebenen Meßfläche 8 und vier im Winkel von 45°
zur Meßfläche 8 und zur vertikalen optischen Achse der
CCD-Kamera 2 angeordneten Spiegeln 6, 7, wobei die
Unterkanten der Spiegel 6, 7 sich auf der Höhe (glei
che Z-Koordinate) der Meßfläche 8 befinden. Innerhalb
des Portals 18 ist parallel zur Meßfläche 8 eine dif
fus lichtdurchlässige Streuscheibe 20 angeordnet, die
mittig eine Öffnung für die CCD-Kamera 2 aufweist.
Ebenso besteht die Meßfläche 8 aus einer diffus licht
durchlässigen Streuscheibe. Oberhalb der diffus licht
durchlässigen Streuscheibe innerhalb des Portals 18
sind Lichtquellen 21, 22 angeordnet. Die in unmittel
barer Umgebung der in X-Y-Richtung ortsfesten CCD-Ka
mera 2 angeordneten Lichtquellen 21 dienen vor allem
zur Vermessung im Auflichtverfahren, wohingegen die zu
den Seitenträgern des Portals 18 hin angeordneten
Lichtquellen 22 sowohl im Auflicht als auch im Durch
lichtverfahren zur Anwendung kommen. Ebenso sind
Lichtquellen 23 für das Durchlichtverfahren im Meß
tisch 9 unterhalb der Meßfläche 8 angeordnet.
Der Tiefenschärfe-Bereich der CCD-Kamera 2 ist durch
deren telezentrisches Objektiv 3 festgelegt. Um daher
für unterschiedlich hohe Meßobjekte jeweils scharfe
Abbildungen zu erhalten, ist die CCD-Kamera 2 mittels
der Positionierachse 19 in Richtung der Z-Achse ver
schiebbar angeordnet. Allerdings könnte auch eine
CCD-Kamera 2 mit verstellbarem Kamera-Objektiv verwen
det werden, so daß keine Verschiebung der CCD-Kamera 2
in Z-Richtung erforderlich wäre. Die CCD-Kamera 2
nimmt z. B. einen Bereich von 5 × 5 mm auf, wobei z. B.
die Meßfläche 8 Abmessungen von 400 × 300 mm aufweist.
Der ebene Meßtisch 9 ist mittels der Positionierachsen
4, 5 in X- bzw. Y-Richtung verschiebbar. Prinzipiell
ist es auch möglich, die CCD-Kamera 2 in X-Y-Richtung
verfahrbar auszulegen und somit auf die Positionier
achsen 4, 5 zu verzichten. Allerdings besteht bei
einer Verschiebung der CCD-Kamera 2 in X-Y-Richtung
immer die Gefahr, daß sich die senkrecht zum Meßtisch
9 bzw. Meßfläche 8 befindliche optische Achse der
CCD-Kamera 2 verschiebt.
Anhand der Fig. 2 und 3 wird das Meßprinzip näher er
läutert. Mittels einer zweiten neben der CCD-Kamera 2
angeordneten nicht dargestellten CCD-Kamera wird zu
nächst das zu vermessende Werkstück 14 in seiner Ge
samtheit aufgenommen. D.h. zusätzlich zur Draufsicht
15 auf das Werkstück 14 werden die beiden Seitenan
sichten 10, 12, die Vorderansicht 11 und die Hinteran
sicht 13 über die Spiegel 6, 7 in die Ebene der CCD-
Kamera 2 abgebildet und auf einem nicht dargestellten
Monitor dargestellt. Anhand dieser Darstellung werden
vom Bediener die gewünschten Meßpunkte im Monitorbild
festgelegt. Um nun z. B. die Länge d des Werkstückes 14
zu vermessen, wird das Werkstück 14 mit seiner linken
Außenkante 16 unter die CCD-Kamera 2 gefahren. Sind
die Lichtquellen 23 im Meßtisch 9 angeschaltet, so
wird von der CCD-Kamera 2 die Außenkante 16 als schar
fe dunkle Kontur wahrgenommen. Mittels eines Bildver
arbeitungsprogrammes werden die genauen X-Y-Koordina
ten der Außenkante 16 oder eines selektierten Meßpunk
tes ermittelt. Anschließend wird das Werkstück 14 mit
seiner rechten Außenkante 17 unter die CCD-Kamera 2
gefahren. Erneut wird die Kontur abgebildet und als
Kordinate ausgewertet. Aus den Koordinaten der Bilder
und dem Verfahrweg wird die Länge d des Werkstückes 14
berechnet.
Soll zusätzlich der Winkel β des Werkstückes 14 ausge
messen werden, so wird dies ohne Umspannen des Werk
stücks 14 durch die Spiegelanordnung ermöglicht. Dazu
wird der vordere Spiegel 6 oder der hintere Spiegel 7
unter die CCD-Kamera 2 gefahren. Über den Spiegel 6
wird die Vorderansicht 11 oder über den Spiegel 7 die
Hinteransicht 13 des Werkstücks 14 von der CCD-Kamera
2 aufgenommen. Mittels der Koordinaten der Außenkan
ten, die den Schenkel des Winkels bilden, läßt sich
der Winkel β bestimmen. Analog lassen sich Merkmale
der Seitenansichten 10, 12 des Werkstücks 14 vermes
sen.
Zur Abbildung von Werkstück-Konturen erweist sich zu
meist das Durchlichtverfahren als das geeignetste. Für
Konturen in der X-Y-Ebene wird dazu - wie zuvor be
schrieben - die Lichtquelle im Meßtisch 9 eingeschal
tet. In der X-Y-Ausdehnung des Werkstückes 14 wird das
Licht der Lichtquellen 23 auf dem Weg zur CCD-Kamera 2
reflektiert bzw. absorbiert. Neben dem Werkstück 14
wird das Licht von der CCD-Kamera 2 empfangen. Dadurch
entsteht ein starker hell-dunkel Kontrast an der Kon
tur des Werkstückes 14 in der Abbildung. Sollen Kontu
ren in der Y-Z bzw. X-Z-Achse abgebildet werden, so
gibt es verschiedene Möglichkeiten, das Durchlichtver
fahren zu realisieren. Bei der Ausführung mit nur
einem Spiegel 6 wird dieser unter die CCD-Kamera 2 ge
fahren. Auf der zum Spiegel 6 gegenüberliegenden Seite
wird eine Lichtquelle angeordnet, die vorzugsweise in
Richtung des Spiegels 6 abstrahlt. Licht, das auf das
Werkstück 14 fällt, wird teilweise reflektiert. Ein
anderer Teil des Lichts fällt am Werkstück 14 vorbei
auf den Spiegel 6 und wird von diesem auf die CCD-
Kamera 2 reflektiert. Bei Ausführungen mit vier Spie
geln 6, 7 wird wieder der entsprechende Spiegel 6
unter die CCD-Kamera 2 gefahren. Dann wird die Licht
quelle 22 über dem gegenüberliegenden Spiegel 7 ein
geschaltet. Das Licht fällt überwiegend auf den gegen
überliegenden Spiegel 7 und wird von diesem in Rich
tung des Spiegels 6, der unter der CCD-Kamera 2 ange
ordnet ist, reflektiert. Wiederum wird die unverzerrte
Kontur des Werkstücks 14 über den Spiegel 6 auf die
darüber angeordnete CCD-Kamera 2 abgebildet. Bei ent
sprechender Beleuchtungsanordnung sind somit die Kon
tur des Werkstückes 14 in Seitenansicht 10, 12 bzw.
Vorder- oder Hinteransicht 11, 13 vermessbar. Ver
deckte Kanten und Strukturen auf den Seitenflächen
werden im Auflichtverfahren vermessen. Im Auflicht
verfahren wird eine Lichtquelle 21 neben der CCD-
Kamera 2 eingeschaltet. Das Licht fällt dann auf den
unterhalb der CCD-Kamera 2 angeordneten Spiegel 6 und
wird von diesem auf die Seitenfläche des Werkstückes
14 reflektiert. Die so beleuchtete Seitenfläche wird
dann vom Spiegel 6 unverzerrt auf die CCD-Kamera 2 ab
gebildet. Ebenfalls mit den Lichtquellen 21 neben der
CCD-Kamera 2 werden Strukturen innerhalb der Drauf
sicht 15 direkt beleuchtet und im Auflichtverfahren
vermessen.
Insbesondere im Rahmen der Qualitätssicherung und
-kontrolle werden häufig wiederkehrend die gleichen
Werkstücke 14 vermessen. Hierzu läßt sich die Vermes
sung der Werkstücke leicht automatisieren. Zuerst
werden die relevanten Meßpunkte, an denen die Meßbil
der aufgenommen werden sollen, in der Gesamtansicht
der zweiten CCD-Kamera festgelegt. Anschließend werden
die Beleuchtungsbedingungen und die Auswertungsbe
reiche der einzelnen Meßbilder optimal eingestellt.
Das Bildverarbeitungsprogramm wertet dann selbststän
dig die ermittelten Konturen aus und vergleicht diese
mit den vorher eingegebenen Sollwerten und den gefor
derten Toleranzen. Sämtliche Meßpunkte und Einstel
lungen werden in ein Meßprogramm des entsprechenden
Werkstücks gespeichert. Der Benutzer der Meßmaschine 1
benötigt dann keine programmiertechnischen oder ver
fahrenstechnischen Kenntnisse, sondern muß zur Ver
messung lediglich das Werkstück an gekennzeichneten
Stellen auf der Meßfläche 8 befestigen und das ent
sprechende Meßprogramm starten.
Bezugszeichenliste
1 Meßmaschine
2 CCD-Kamera
3 telezentrisches Objektiv
4 Positionierachse
5 Positionierachse
6 Spiegel
7 Spiegel
8 Meßfläche
9 Meßtisch
10 Seitenansicht (des Werkstücks)
11 Vorderansicht (des Werkstücks)
12 Seitenansicht (des Werkstücks)
13 Hinteransicht (des Werkstücks)
14 Werkstück
15 Draufsicht (des Werkstücks)
16 Außenkante (des Werkstücks)
17 Außenkante (des Werkstücks)
18 Portal
19 Positionierachse
20 Streuscheibe
21 Lichtquelle
22 Lichtquelle
23 Lichtquelle
2 CCD-Kamera
3 telezentrisches Objektiv
4 Positionierachse
5 Positionierachse
6 Spiegel
7 Spiegel
8 Meßfläche
9 Meßtisch
10 Seitenansicht (des Werkstücks)
11 Vorderansicht (des Werkstücks)
12 Seitenansicht (des Werkstücks)
13 Hinteransicht (des Werkstücks)
14 Werkstück
15 Draufsicht (des Werkstücks)
16 Außenkante (des Werkstücks)
17 Außenkante (des Werkstücks)
18 Portal
19 Positionierachse
20 Streuscheibe
21 Lichtquelle
22 Lichtquelle
23 Lichtquelle
Claims (8)
1. Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslo
sen, dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken,
bestehend aus einem Meßtisch, einer CCD-Kamera, de
ren optische Achse senkrecht zum Meßtisch steht,
wobei der Meßtisch und die CCD-Kamera in X-Y-Rich
tung zueinander verfahrbar sind, einem elektro
nischen Bildverarbeitungssystem und Beleuchtungs
einrichtungen,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Meßtisch (9) mindestens ein optisch plan
paralleler Spiegel (6) im 45°-Winkel zur Meßfläche
(8) und zur optischen Achse der CCD-Kamera (2) zu
geordnet ist, wobei die Unterkante des Spiegels (6)
sich auf gleicher Höhe wie die Meßfläche (8) befin
det.
2. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Meßtisch (9) mit
tels Positionierachsen (4, 5) in X-Y-Richtung
verfahrbar ausgelegt ist.
3. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die CCD-Kamera (2)
mittels Positionierachsen in X-Y-Richtung verfahr
bar ausgelegt ist.
4. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der Spiegel (6) neben dem Meßtisch (9) ange
ordnet ist.
5. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach Anspruch 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel (6)
auf dem Meßtisch (9) angeordnet ist.
6. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßtisch (9) rotierbar um die optische
Achse der CCD-Kamera (2) gelagert ist.
7. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß an jeder Seite des Meßtisches (9) je ein plan
paralleler Spiegel (6, 7) im Winkel von 45° zur
Meßfläche (8) und zur optischen Achse der CCD-
Kamera (2) angeordnet ist, wobei die Unterkanten
der Spiegel (6, 7) auf der Höhe der Meßfläche (8)
angeordnet sind.
8. Optische Koordinaten-Meßmaschine nach einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß neben der CCD-Kamera (2) in gleicher Ebene eine
zweite CCD-Kamera angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995114692 DE19514692C2 (de) | 1995-04-13 | 1995-04-13 | Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken auf einer Meßfläche |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995114692 DE19514692C2 (de) | 1995-04-13 | 1995-04-13 | Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken auf einer Meßfläche |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19514692A1 true DE19514692A1 (de) | 1996-10-24 |
DE19514692C2 DE19514692C2 (de) | 1998-12-17 |
Family
ID=7760039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995114692 Revoked DE19514692C2 (de) | 1995-04-13 | 1995-04-13 | Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken auf einer Meßfläche |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19514692C2 (de) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1022541A2 (de) * | 1999-01-22 | 2000-07-26 | Wohlenberg Schneidesysteme GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von blattförmigem Gut oder Stapeln davon |
DE19922544A1 (de) * | 1999-05-10 | 2000-12-21 | T & T Medilogic Medizintechnik | Meßeinrichtung zum Ausmessen unregelmäßig geformter Meßobjekte |
WO2002061368A2 (en) * | 2001-02-01 | 2002-08-08 | Marel Hf. | Method and apparatus for determining a three dimensional image of a moving object by means of light |
DE102010046737A1 (de) * | 2010-09-28 | 2012-03-29 | Mag Ias Gmbh | Walzen mit Nutenblech |
ES2377893A1 (es) * | 2010-02-08 | 2012-04-03 | Carlos Jesús Vega Vera | Sistema de detección óptica de posición 3d con cámara única. |
US20120263344A1 (en) * | 2011-04-12 | 2012-10-18 | Stefan Viviroli | Measuring apparatus and method for determining at least of the crimp height of a conductor crimp |
DE102007015257B4 (de) * | 2006-03-29 | 2016-03-10 | Schmid Elektronik Ag | Messeinrichtung |
CN105953729A (zh) * | 2016-06-09 | 2016-09-21 | 佛山市勾股动力信息技术有限公司 | 一种移动式图像速测仪 |
EP2738515B1 (de) | 2012-11-30 | 2019-04-24 | Mitutoyo Corporation | Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt |
CN110487220A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-11-22 | 长春理工大学 | 一种用于空间激光通信终端光轴一致性装调检测装置及方法 |
DE102019200479A1 (de) | 2019-01-16 | 2020-07-16 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Palette für optische Messgeräte |
CN113701634A (zh) * | 2021-09-07 | 2021-11-26 | 东莞市英拓精密仪器有限公司 | 一种基于光学影像技术的精准型影像测量仪 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3853620B2 (ja) | 2001-08-21 | 2006-12-06 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置用パートプログラム生成装置及びプログラム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD239858A1 (de) * | 1985-07-29 | 1986-10-08 | Grotewohl Boehlen Veb | Anordnung zur dreidimensionalen bemessung und lageerkennung mit optischem sensor |
DE3805455A1 (de) * | 1988-02-22 | 1989-08-31 | Linck Masch Gatterlinck | Vorrichtung zum fotoelektrischen abtasten und/oder vermessen von holzerzeugnissen |
DE3809711A1 (de) * | 1988-03-23 | 1989-10-05 | Zett Mess Technik Gmbh | Hoehenmess- und anreissgeraet |
DE4208455A1 (de) * | 1992-03-17 | 1993-09-23 | Peter Dr Ing Brueckner | Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen dreidimensionalen messung |
-
1995
- 1995-04-13 DE DE1995114692 patent/DE19514692C2/de not_active Revoked
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD239858A1 (de) * | 1985-07-29 | 1986-10-08 | Grotewohl Boehlen Veb | Anordnung zur dreidimensionalen bemessung und lageerkennung mit optischem sensor |
DE3805455A1 (de) * | 1988-02-22 | 1989-08-31 | Linck Masch Gatterlinck | Vorrichtung zum fotoelektrischen abtasten und/oder vermessen von holzerzeugnissen |
DE3809711A1 (de) * | 1988-03-23 | 1989-10-05 | Zett Mess Technik Gmbh | Hoehenmess- und anreissgeraet |
DE4208455A1 (de) * | 1992-03-17 | 1993-09-23 | Peter Dr Ing Brueckner | Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen dreidimensionalen messung |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1022541A2 (de) * | 1999-01-22 | 2000-07-26 | Wohlenberg Schneidesysteme GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von blattförmigem Gut oder Stapeln davon |
DE19902401A1 (de) * | 1999-01-22 | 2000-08-17 | Wohlenberg Schneidesysteme Gmb | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von blattförmigem Gut oder Stapeln davon |
DE19902401C2 (de) * | 1999-01-22 | 2001-02-01 | Wohlenberg Schneidesysteme Gmb | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von blattförmigem Gut oder Stapeln davon |
EP1022541A3 (de) * | 1999-01-22 | 2001-10-10 | Wohlenberg Schneidesysteme GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von blattförmigem Gut oder Stapeln davon |
DE19922544A1 (de) * | 1999-05-10 | 2000-12-21 | T & T Medilogic Medizintechnik | Meßeinrichtung zum Ausmessen unregelmäßig geformter Meßobjekte |
DE19922544C2 (de) * | 1999-05-10 | 2001-11-29 | T & T Medilogic Medizintechnik | Verfahren und Meßeinrichtung zum Ausmessen unregelmäßig geformten Meßobjekten |
WO2002061368A2 (en) * | 2001-02-01 | 2002-08-08 | Marel Hf. | Method and apparatus for determining a three dimensional image of a moving object by means of light |
WO2002061368A3 (en) * | 2001-02-01 | 2002-10-03 | Marel Hf | Method and apparatus for determining a three dimensional image of a moving object by means of light |
US7205529B2 (en) | 2001-02-01 | 2007-04-17 | Marel Hf | Laser mirror vision |
DE102007015257B4 (de) * | 2006-03-29 | 2016-03-10 | Schmid Elektronik Ag | Messeinrichtung |
ES2377893A1 (es) * | 2010-02-08 | 2012-04-03 | Carlos Jesús Vega Vera | Sistema de detección óptica de posición 3d con cámara única. |
DE102010046737A1 (de) * | 2010-09-28 | 2012-03-29 | Mag Ias Gmbh | Walzen mit Nutenblech |
US20120263344A1 (en) * | 2011-04-12 | 2012-10-18 | Stefan Viviroli | Measuring apparatus and method for determining at least of the crimp height of a conductor crimp |
EP2738515B1 (de) | 2012-11-30 | 2019-04-24 | Mitutoyo Corporation | Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt |
CN105953729A (zh) * | 2016-06-09 | 2016-09-21 | 佛山市勾股动力信息技术有限公司 | 一种移动式图像速测仪 |
DE102019200479A1 (de) | 2019-01-16 | 2020-07-16 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Palette für optische Messgeräte |
DE102019200479B4 (de) | 2019-01-16 | 2022-03-17 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Palette zur Aufnahme eines zu vermessenden Werkstücks für ein optisches Messgerät |
CN110487220A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-11-22 | 长春理工大学 | 一种用于空间激光通信终端光轴一致性装调检测装置及方法 |
CN110487220B (zh) * | 2019-08-30 | 2021-01-26 | 长春理工大学 | 一种用于空间激光通信终端光轴一致性装调检测装置及方法 |
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