DE1925053C3 - Objektträger, insbesondere für ein Dunke lfeldmikroskop - Google Patents

Description

mingsfrei in dieser Ausnehmung gelagert ist, wobei schnitt mi,l einer alternativen Lagerung der Deckdie Unterseite der Deckplatte eine Auflagefläche für platte an der Tragplatte des Objektträgers,
die Probe bildet und Auflagefläche für <Jas Ablegen F i g. I bis 4 zeigen einen Mikroskop-Objektträger des Objektträgers in die Bezugsebene des Mikro- 10 gemäß einer bevorzugten Ausführungform der skops ist. Zum Ablegen des Objektträgers mit der 5 vorliegenden Erfindung. Der Objektträger 10 umfallt Unterseite der Deckplatte in die Bezugsebene des eine im aligemeinen flache längliche Tragplatte 12, Mikroskops weist dieses zweckmäßig drei Fixierstifte mit einer Unterseite 14 und einer Oberseite 16. Die auf, die geringfügig über die Oberseite des Objektti- Tragplatte 12, die beispielsweise aus einem undurehsches vorstehen und die Bezugsebene zur Einstellung sichtigen Kunststoff besteht, ist vorzugsweise rechtdiT Mikroskoplinsen bilden. io eckig und weist eine Ausnehmung 18 in der Unter-

Eine Immersionsflüssigkeit kann zwischen die seile 14 auf. Die übliche Dicke der Tragplatte 12 Probe auf der Unterseite der Deckplatte und die liegt in der Größenordnung von etwa 1,6 mm, wobei Kondensorlinse des Mikroskops gegeben werden. Die die Dicke nach dem jeweiligen Verwendungszweck Immersionsflüssigkeit bildet eine Grenzfläche zwi- variieren kann. Eine öffnung 20 verbindet die Aussehen der Kondensorlinse und der Probe, wobei der 15 nehmung 18 mit der Oberseite 16 der Tragplatte 12. Brechungskoeffizient der Immersionsflüssigkeit an- Die Ausnehmung 18 weist Bohrungen 22 zur Aufnahernd jenem der Kondensorlinse ist. Die Objektiv- nähme eines geeigneten Bindemittels 24 zur standftliiise wird in die öffnung der Tragplatte oberhalb der sten Befestigung einer Deckplatte -16 in der Ausneh-Deckplatte gebracht und auf die durch die Unteiseitc mung 18 auf.

der Deckplatte bestimmte Ebene, welche d.e Bezugs- 20 Die Deckplatte 26 besteht vorzugsweise aus Glas ebene des Mikroskops ist, fokussiert. Da die Brenn- und weist vorzugsweise eine Dicke von weniger als punktebene in die Auflagefläche der Probe fällt und 0,22'mm zwischen ihrer Unterseite 28 und ihrer tkr Objektträger mit dieser Auflagefläche in der Oberseite 30 auf. üblicherweise liegt diese Dicke durch die Fixierglieder bestimmten Bezugsebene des zwischen etwa 0,15 und 0,20mm. Wie nachfolgend Mikroskops abgelegt wird, ist unabhängig von Dik- 35 näher erläutert, stellt die Unterseite 28 der Deckkenschwankungen der Objektträger ein Auseinander- platte 26 eine Brennpunktebene dar, auf weiche die fallen von Brennpunkt- und Bezugsebene nicht mög- Objektiv- und die Kondensorlinse des Mikroskops lieh, so daß jedes Nachfokussieren beim Wechsel der fokussiert werden. Die Unterseite 28 bildet auch eine Objektträger wegfallen kann. Stütz- und Auflagefläche, auf welche das Untersu-

AIs weiteren Vorteil bietet der erfindungsgemäßc 30 chungsmaterial gelegt werden kann. Die Unterseite Objektträger, daß ein Zerbrechen der dünnen Deck- 28 ist vorzugsweise genau eben. Die Deckplatte 26 platte weitgehend ausgeschlossen ist. Spannungen, kann an einem Ende der Tragplatte 12 angeordnet denen der Objektträger beim Hantieren unterworfen sein, so daß (nicht gezeigte) Ideniifizierungszeichen wird, können nämlich auf Grund der spannungs- auf den Abschnitt 32 auf der Oberseite 16 der Tragfreien Lagerung der Deckplatte nicht auf diese über- 35 platte aufgedruckt oder eingeprägt werden können iragen werden. (Fig. 1 und 2). Der das Objekt stützende Abschnitt

Erwähnenswert ist noch, daß mit dem erfindungs- des Mikroskop-Objektträgers kann wahlweise — wie

gemäßen Objektträger nur ein einmaliges Auftragen in F i g. 5 und 6 veranschaulicht — mittig angeordnet

von Immersionsflüssigkeit auf die Deckplatte wäh- sein.

rend eines Untersuchungsvorganges erforderlich ist. 40 Bezugnehmend auf F i g. 5 und 6 wird nun die

Dadurch wird die Zeit zum Niederlegen des Objekt- Wirkungsweise des erfindungsgcmäßen Objektträgers

trägers zu Untersuchungszwecken auf den Objekt- für Mikroskope erläutert. In Fig. 5 und 6 ist ein Mi-

tisch des Mikroskops verringert. kroskop 40 mit einem Fuß 42 abgebildet. Der Fuß

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nach- 42 stützt den Objekttisch 44, die Objektivlinse 46

folgend an Hand der Zeichnungen näher beschrie- 45 oberhalb des Objekttisches und die Kondensorlinse

ben. Es zeigt < 48 unterhalb des Objekttisches. Verstellmittel 50 zur

Fig. 1 eine perspektivische Ansicht von unten Einstellung des Brennpunktes der Objektivlinse 46 eines Mikroskop-Objekiträgers nach einer bevorzug- und Verstellmittel 52 zur Einstellung des Brennten Ausfünrungsform der vorliegenden Erfindung, punktcs der Kondensorlinse 48 sind vorgesehen. Die

Fig. 2 einen Querschnitt des in Fig. 1 dargestell- 5" Objsktivlinsc 46 ist mit einem Okular 54 verbunden,

ten Objektträgers entlang der Linie 2-2 in Fig. 1, durch welches der Betrachter ein Bild des L'ntersu-

F i g. 3 einen Querschnitt des in F i g. I und 2 dar- chungsmaterials ansehen kann. Gegebenenfalls kann

gestellten Objektträgers entlang der Linie 3-3 in ein Spiegel oder eine andere lichtwerfende Vorrich-

F i g. 2, lung 56 unterhalb der Kondensorlinse 48 zur t'ber-

F i g. 4 eine Schnittansicht des in Fig. 1 bis 3 dar- 55 tragung von L.l^'ht auf die Kondensorlinse vorgesehen

gestellten Objektträgers entlang der Linie 4-4 in sein.

Fig. 2, Das Objekt 60 wird auf die Unterseite 28 der

F i g. 5 eine perspektivische Ansicht eines Mikro- Glasdeckplalte 26 gegeben und bleibt an 'lieser haf-

skops mit einem erfindungsgemäßen Objektträger auf ten. Der Objekttisch 44 weist einen Durchtritt 62

dessen Objekttisch, . 60 auf, und die Kondensorlinse 48 wird in diesem

Fig. 6 einen Teilquerschnitt des Mikroskops von Durchtritt 62 einige Mikron von der Oberfläche 28 Fig. 5 im Bereich des Objekttisches und darauf an- der Deckplatte 16 entfernt angeordnet. Immersionsgeordnetem Objektträf?r, flüssigkeit 64 wird zwischen die Deckplatte 26 und

Fig.7 einen vergrößerten Teilschnitt des in die Kondensorlinsc 48 innerhalb des Durchtritts 62

Fig. 1 bis4 und6 dargestellten Objektträgers, zur 65 gegeben, um eine Grenzfläche zu bilden, deren Bre-

Darstellung der Lagerung der Deckplatte an der chungskocffizient jenem der Kondensorlinse und der

Tragplatte, und Deckplatte ähnlich ist. Die Immersionsflüssigkeit

Fig. 8' einen der Fig. 7 entsprechenden Teil- kann beispielsweise aus Glyzerin oder einer anderen

geeigneten Substanz bestehen. Vorzugsweise sind drei oder mehr Fixierstiftc 66 vorgesehen, auf denen der Objektträger IO mit der Oberfläche 28 der Deckplatte 26 abgelegt wird.

Bei Mikroskopen wird eine Bezugsebene für die Objektträger verwendet. Die Bezugsebene wird gewöhnlich vom Objekttisch gebildet. Vorliegend ist das Mikroskop jedoch mit den Fixierstiften 66 ausgestaltet, die mit der Oberfläche 28 der Deckplatte 26

so strecken sich eine oder mehrere Kittstellen oder trennen sich sogar zeitweilig von der Deckplatte, wodurch dieser ermöglicht wird, ohne Bruch-; oder Verzerrungsgefahr teilweise frei in der Ausnehmung 18 5 zu liegen. Nach Beseitigung der Verzerrung oder der Beanspruchung an der Tragplatte 12 kehrt die Deckplatte 26 in ihre normale Stellung in der Ausnehmung zurück, und der Kitt vereinigt wieder die Dekplatte mit der Ausnehmungsoberfläche. Es ist daher

von Dickcnschwankungcn des Objektträgers in der gleichen Lage verbleibt und das Mikroskop nicht für jeden Mikroskop-Objektträger wieder eingestellt werden muß.

Dieses Zusammenfallen der Brennpunktebene mit der Bezugsebene wird auf Grund einer neuartigen Konstruktion des Mikroskop-Objektträgers erzielt, wie deutlicher in Fig. 7 und 8 veranschaulicht ist.

in Anschlag kommen und diese Bezugsebene bilden. i° verständlich, daß die Deckplatte 26 nicht verzerrt Bisher war die durch den Mikroskop-Objektträger oder zerbrochen wird, selbst wenn die Tragplatte 12 bestimmte Brennpunklebenc in einem gewissen Ab- stark strapaziert wird. Es wurde gefunden, daß, falls stand von der Bezugsebene angeordnet, wie er durch die Tragplatte 12 aus Nylon oder einem ähnlichen die Dicke des Mikroskop-Objektträgers bedingt war. Polyamidmaterial und die Deckplatte 26 aus Glas Schwankungen in der Dicke der Objektträger führten 15 hergestellt ist, ein besonders zweckmäßiges Bindezur Änderung der Lage der Brennpunktebenc in be- oder Klebemittel ein Kitt auf Gummibasis ist. zug auf die Bezugsebene. Da die Linsen des Mikro- In F i g. 8 ist eine wahlweise Möglichkeit zur Befe-

skops auf eine auf die Bezugsebene bezogene Ebene stigung der Deckplatte 26 an der Tragplatte 12 verfokussiert sind, verursachen die Schwankungen in anschaulicht. Gemäß Fig.8 sind in der Ausnehmung der Dicke der Mikroskop-Objektträger eine Ände- »0 18 der Tragplatte keine Bohrungen vorgesehen. Die rung der Lage der zugeordneten Brennpunktebene, Begrenzungswand 33 der Ausnehmung 18 weist wodurch eine Nachfokussierung der Linsen für den einen senkrechten Abschnitt 33 a und eine überhän-Objektträgcr erforderlich ist. Bei dem Objektträger gende Kante 33 ft auf. Die Kante 33 6 dient zur Haifür Mikroskope nach der vorliegenden Erfindung fal- terung der Deckplatte 26. Wie in F i g. 8 gezeigt, ist lcn die Brennpunktebene und die Bezugsebene zu- »5 ein Spielraum 32 zwischen dem Rand der Deckplatte sammcn, so daß die Brennpunktebene unabhängig und dem Wandabschnitt 33ο vorgesehen. Die Deckplatte wird in die Tragplatte 12 eingesetzt, indem diese etwas gebogen wird, um den Einbau der Deckplatte in die Ausnehmung zu ermöglichen. Obwohl 30 die in Fig.8 dargestellte Anordnung eine gewisse Relativbewegung zwischen der Deckplatte 26 und der Tragplatte 12 gestattet, beeinträchtigt diese Bewegung nicht die normale Verwendung des Objektträgers. Die in F i g. 7 und 8 dargestellten Anordnun-

F i g. 7 ist eine vergrößerte Schnittansicht zur Veran- 35 gen sind, wie unter Bezugnahme auf F i g. 5 und 6 erschaulichtung der Einzelheiten der Befestigung der sichtlich ist, vorteilhaft, wobei auf den Mikroskop-

Glasdcckplatte 26 an der Tragplatte 12. Die Trag- ™-:~<--*-~ <-:-=-·-..= -■- ■- ·. — . - -

platte 12 weist eine Ausnehmung 18, in welcher die Deckplatte 26 liegt, und eine Anzahl Vertiefungen oder Bohrungen 22 in der Ausnehmungsoberfläche 4° auf. Innerhalb jeder Bohrung ist eine Menge nichthärtcndcn Kitts 24 genügenden Volumens enthalten, um die Bohrung weitgehend auszufüllen und ein Haften der Glasdeckplatte 26 an der Tragplatte 12

zu erzielen. Die Kittstellen 24 schaffen eine genü- 45 die Fixierstifte 66 festgelegt, die vorzugsweise geringgcndc Haftkraft bei der Zusammenfügung der Deck- fügig über die obere Oberfläche des Objekttisrhes 44 platte mit der Tragplatte 12. Zwischen der Kante der vorspringen. Nachdem die Linsen auf die durcli Glasdeckplatte 26 und der Wandung 33 der Ausneh- einen Objektträger des Mikroskops bestimmte und mung ist ein Abstand oder Spielraum 32 vorhanden. durch die Stifte 66 festgelegte Bezugsebene fokussierl Dieser Spielraum und die besondere Art der Befesti- 50 worden sind, kommen die Brennpunktebenen nachgung der Glasdeckplatte sind von Bedeutung, da der folgend aufgelegter Mikroskop-Objektträger selbsttä-Objektträger zur mechanischen Hantierung beson- tig in die Bezugsebene, so daß das Mikroskop nichl ders geeignet ist, bei welcher er gelegentlich auf Bie- neuerdings eingestellt werden muß. gung oder Verdrehung beansprucht wird, die falls Die Unterseite 28 der Deckplatte braucht nicht mil

auf die Glasdeckplatte übertragen, ihren Bruch oder 55 der Unterseite 14 der Tragplatte zu fluchten. Wie ir zumindest ihre Verschiebung aus einer Ebene verur- den Zeichnungen veranschaulicht, kann die Decksachen könnten. Ein Bruch oder eine solche Ver- platte 26 von dieser Unterseite 14 abgesetzt sein. Schiebung oder Verformung der Deckplatte würde Der Objektträger nach vorliegender Erfindung eig

das Betrachten mit dem Mikroskop beeinträchtigen. net sich besonders zur Anwendung bei Mikroskoper Die auf der Ausnehmungsoberfläche angeordnete 60 mit Vorschubautomaten zum selbsttätigen Vorschul und an mehreren Kittstellen 24 der Tragplatte 12 der Objektträger auf den Objekttisch des Mikroskop; haftende Glasdeckplatte weist eine Bewegungsfreiheit und zur selbsttätigen Einführung von Immersions auf Grund des weichbleibenden Kitts auf. so daß es flüssigkeit zwischen die Kondensorlinse und die Un der Deckplatte bei einer geringen Verformung der terseile des Objektträgers. Wird ein Objektträger füi Tragplatte ermöglicht wird, sich etwas von der Ober- 65 Mikroskope nach der vorliegenden Erfindung be fläche der Ausnehmung weg zu bewegen, während einem Vorschubautomaten verwendet, so können di< sie gleichzeitig an dem nichthärtenden Kitt haften auf den Objektträgern des Mikroskops befindlichei bleibt. Wird die Tragplatte 12 verformt oder verzerrt. Untersuchungsmaterialien ohne Wiedereinstellunj

Objektträger hinsichtlich der Unterseite 28 der Deckplatte 26 und nicht hinsichtlich der Oberseite der Tragplatte 12 Bezug genommen wird.

Bei Gebrauch des Mikroskops ist die Bezugsebene, auf welche die Linsen fokussiert werden, durch die Unterseite 28 der Deckplatte bestimmt. Diese bilde! auch eine Auflagefläche für das Objektiv 60. Die Lage der Unterseite 28 der Deckplatte wird durch

:r Mikroskoplinsen hintereinander untersucht wer-

Die vorliegende Erfindung schafft also einen Obktträger für Mikroskope, der die zur Einstellung :s Mikroskops erforderliche Zeit gegenüber der bis-

her erforderlichen herabsetzt. Der erfindungsj Objektträger für Mikroskope ist leicht hen und auf Grund seiner Konstruktion strapazier als die bisher bekannten Objektträger für
skope.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (6)

.3 1 2 Objektivs und mit einer die Ausnehmung mit der Patentansprüche· Oberseite der Tragplatte verbindenden öffnung zum 1 ' ungehinderten Heranfahren des Mikroskopobjektivs an die unterhalb der Deckplatte angeordnete Probe.

1. Objektträger, insbesondere zur Reihenunter- 5 Grundsätzlich weist ein Dunkelfeldmikroskop suchung von Proben in einem Dunkelfeldmikro- einen Fuß zum Abstützen eines einen Objektträger skcp, bestehend aus einer Tragplatte mit einer stützenden Objekttisches auf. Eine Konc'onsorlinse Ausnehmung zur Aufnahme einer durchsichtigen ist unter dem Objektlisch angeordnet, und zwar zum Deckplatte, deren Dicke geringer ist als die Fokussieren von Strahlen — wie z. B. Lichtstrahlen Brennweite des verwendeten Mikroskopobjektivs, io — auf eine Brennpunktebene oberhalb des Objektti- und mit einer die Ausnehmung mit der Oberseife sches, während eine Objektivlinse oberhalb des Obder Tragplatte verbindenden öffnung zum unge- jekttisches des Mikroskops zum Fokussieren auf die ninderten Heranfahren des Mikroskopobjektivs Brennpunktebene vorgesehen ist, so daß das Bild des an die unterhalb der Deckplatte angeordnete Untersuchungsmaterials oder Objekts auf der Brenn-Probe, dadurch gekennzeichnet, daß 15 punktebene zur Betrachtung auf ein Okular übertradie Ausnehmung (18) in der Unterseite (14) der gen wird.

Tragplatte ^ 12) vorgesehen und die Deckplatte Bei dem obigen, aus der USA.-Patentschrift

(26) spannungsfrei in dieser Ausnehmung (18) 3 029 695 bekannten Objektträger dient die Deckgelagert ist, wobei die Unterseite (28) der Deck- platte lediglich zur Abdeckung einer Höhlung, in platte eine Auflagefläche für die Probe (60) bil- 20 welche die zu untersuchende Probe eingebracht wird, det und Auflagefläche für das Ablegen des Ob- Durch das Zusammenwirken von Höhlung und jektträgers in die Bezugsebenc des Mikroskops Deckplatte in dem Objektträger soll verhindert werist. den, daß bei einer Neigung des Objektträgers die zu

2. Objektträger nach Anspruch 1, dadurch ge- untersuchende flüssige Probe wegfließt oder daß kennzeichnet, daß die Deckplatte (26) in der as diese bei längerer Untersuchungszeit austrocknet. Ausnehmung (18) mittels eines nichthärtenden Zur Untersuchung der Probe wird der Objektträger Kitts (24) gehalten ist. mit seiner Grundfläche auf den Objekttisch des Mi-

3. Objektträger nach Anspruch I oder 2, da- kroskops gelegt und die Objektivlinse auf die Probe durch gekennzeichnet, daß die Unterseite (28) fokussiert. Auf Grund von Dickeschwankungen bei der Deckplatte (26) zwischen der Ober- und Un- 30 den Objektträgern kommt die zu untersuchende terseite (16 bzw. 14) der Traj\ilatte (12) angeord- Probe in unterschiedlichen Abstand zum Objekttisch, net ist. d. h. zur Bezugsebene des Mikroskops, so daß die

4. Objektträger nach Anspruch 3 dadurch gc- Objektivlinse jeweils neu fokussiert werden muß.
kennzeichnet, daß die Deckplatte (26) in der An dem bekannten Objektträger ist weiterhin Ausnehmung (18) mittels einer den Rand der 35 nachteilig, daß die gewöhnlich sehr dünne Deckplatte Deckplatte mit Spiel umgreifenden, von der relativ starr in der Ausnehmung des Objektträgers Tragplatte (12) vorstehenden Kante (33/)) gehal- gehalten ist. Spannungen, denen der Objektträger ten ist. beim Hantieren unterworfen wird, können sich damit

5. Objektträger nach einem der Ansprüche 1 auf die Deckplatte übertragen und deren Zerbrechen bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Tragplatte 40 bewirken.

(12) aus einem elastischen Kunststoff besteht. Der Objektträger nach der genannten USA.-Pa-

6. Mikroskop, insbesondere Dunkelfeldmikro- tentschrift scheint auch wenig für Dunkelfeld-Mikroskop, zur Verwendung mit einem Objektträger skope geeignet zu sein. Die zwischen Kondensor line nach einem der vorstehenden Ansprüche, mit zu untersuchender Probe befindliche Glas- odei einem Objekttisch mit Durchtrittsöffnung und 45 Kunststoffschicht der Tragplatte des Objektträgers einer unterhalb des Objekttisches angeordneten je nachdem aus welchem Material diese Tragplatte Kondensorlinse, gekennzeichnet durch minde- besteht, verringert die Lichtausbeute und kann zi stens drei Fixierstifte (66), die geringfügig über einer Verfälschung der Meßergebnisse führen.

die Oberseite des Objekttisches (44) vorstehen Weiterhin ist zur mikroskopischen Untersuchung

und eine Auflagefläche für das Ablegen des Ob- 50 von Proben die Methode des hängenden Tropfen! jektträgers mit der Unterseite (28) der Deckplatte bekannt. Bei dieser Methode wird die zu untersu (26) sowie eine Bezugsebene zur Einstellung der chende Probe auf die Unterseite des Objektträger: Mikroskoplinsen bilden. aufgebracht, mit der dieser auf dem Objekttisch de:

Mikroskops abgelegt wird.

55 Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einet Objektträger, insbesondere für ein Dunkelfeldmikro skop zu schaffen, mit dem Reihenuntersuchunger

von Proben möglich sind, ohne daß eine Neufokus

sierung der Mikroskoplinsen bei wechselnden Ob

60 jcktträgern erforderlich ist und ohne daß die Gefah

des Zerbrechens insbesondere der dünnen Deckplat

ten besteht. Weiterhin soll ein Mikroskop zur Ver

Die Erfindung betrifft einen Objektträger, insbe- wendung mit solchen Objektträgern geschaffen wer sondere zur Reihenuntersuchung von Proben in den.

einem Dunkelfeldmikroskop, bestehend aus einer 65 Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch ge Tragplatte mit einer Ausnehmung zur Aufnahme löst, daß bei einem Objektträger des eingangs ge einer durchsichtigen Deckplatte, deren Dicke gerin- nannten Aufbaus die Ausnehmung in der Unterseil cer ist als die Brennweite des verwendeten Mikroskop- der Tragplatte vorgesehen und die Deckplatte span