DE2047673C3 - Mikroskopobjektiv mit einer Frontlinsengruppe in Form eines auswechselbaren Semiobjektivs - Google Patents
Mikroskopobjektiv mit einer Frontlinsengruppe in Form eines auswechselbaren SemiobjektivsInfo
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Description
X XI XII |
3 | Radien | Linsendicke | 4 | ν | |
Element | Rn = -0,1726Z) R1. = 0,1422 D R13= 1.S24 D Rlt = -1,824 D |
tla = 0,031 D ^=0,019/3 r4, = 0,05 D |
33,8 59,6 64,5 |
|||
1,649 1,518 1,517 |
||||||
Abstand S0 zwischen XI und XII = 1,0 D.
Beim Mikroskopobjektiv nach der Erfindung werden
die Bildfehler des als Frontlinse vorgesehenen Semiobjektivs, das gegen andere Semiobjektive mit entsprechend
abgestufter Vergrößerung austauschbar ist, durch die allen Semiobjektiven zugeordnete Korrekturlinsengruppe
kompensiert. Die okularseitige Einzellinse der Korrekturlinsengruppe dient zum Ausgleich des Randfarbenfehlers der Semiobjektive,
von denen die weniger stark vergrößernden Semiobjektive hinsichtlich des Randfarbenfehlers so stark
überkorrigiert sind, daß ihr Randfarbcnfehler den der stärker vergrößernden Semiobjektive entspricht.
Das negative Dublett korrigiert den Astigmatismus, as
die Koma und die Bildfeldwölbung des von den austauschbaren Semiobjektiven erzeugten Bildes, so daß
der zwischen dem negativen Dublett und der positiven Einzellinse vorliegende parallele Strahlengang hinsichtlich
seiner Länge ohne Schwierigkeiten verändert werden kann und die Einfügung einer Zwischenoptik,
beispielsweise eines Strahlenteilers, ermöglicht.
Die Erfindung wird nun näher an Hand von Zeichnungen erläutert, in denen zeigt:
F i g. 1 ein Diagramm zur Erläuterung der Erfindung und
F i g. 2 bis 4 schematische Darstellungen von Mikroskopobjektiven nach der Erfindung mit unterschiedlicher
Vergrößerung.
Ein Mikroskopobjektiv 22 nach der Erfindung besteht aus einem auswechselbaren Semiobjektiv 12,
14, 16 bzw. 17 und einem Korrekturlinscnsystem 21. Das Korrekturlinsensystem 21 enthält ein negatives
Glied X, XI, das die von den Semiobjektiven 12, 14. 16 und 17 ankommenden Strahlen nach Unendlich
fokussiert und gleichzeitig mindestens den Astigmatismus, die Koma und die Bildfeldwölbung korrigiert,
und eine positive Linse XII, die die Strahlen in die Brennebene 20 eines Okulars 25 fokussiert und die
praktisch alle Rcstfarbenfehlcr dos gesamten Linsen- so
systems 22, 26, 28 und 30 korrigiert.
Ein typischer Satz untereinander zusammenhängender Semiobjektive kann auf einem Revolverkopf
angebracht sein. Dabei sind die Vergrößerungen, Brennweiten und numerischen Aperturen der einzelnen
Semiobjektive verschieden, wobei die Vergrößerungen niedriger sind als entsprechende Werte
bei Standardobjektiven. Bevorzugte Werte für die Semiobjektive sind in den Tabellen I bis IV angegeben.
60
VergröUerung | Brennweite | Numerische Apertur |
0,8 mal 8,0 mal 20 mal |
16,517 6,917 3^269 |
0,09 0(65 1,25 |
Tabelle II (Vergrößerung 0,8)
-Fi | 0,139 D | 0,183 D |
Fn = | 0,162 D | 0,2995 D |
fm = | 0,198 D | 0,261 D |
-Fiv = | 0,259 D | 0,193 D |
Fv | 0,312 D | 0,263 D |
S1 = | 0,127 D | 0,181 D |
S2 = | 0,00025 D | 0,007 D |
S3 = | 0,298 D | 0,003 D |
S1 = | 0,005Z) | 0,006 D |
ss = | 0,041 D | 0,006 D |
U - | 0,019 D | 0,311 D |
U = | 0,031 D | 0,090 D |
h = | 0,038 D | 0,031 D |
0,023 D | 0,019 Z) | |
h = | 0,031 D | 0,047 D |
-Ri = | 0,213 D | 0.039 O |
R% = | 0,150 D | 0,052 D |
R3 | 0,159 D | |
-R1 = | 0,399 D | |
-Rs | 1,002 D | |
-Rs = | 0,093 D | |
-R7 = | 0,198 D | |
jRa = | 0,234 D | |
—Ra = | 0,489 D | |
HD© = | 1,620 | |
Hd(II) = | 1,720 | |
HD(IU) = | 1,514 | |
hd(IV) = | 1,751 | |
«d(V) = | 1,514 | |
V(D = | 60,3 | |
V(II) = | 29,3 | |
V(III) = | 70,0 | |
v(IV) = | 27,8 | |
v(V) = | 70,0 | |
>elle IH (Vergrößerung | ||
•Fbi = | ||
^BII = | ||
jFbiii = | ||
fmv = | ||
Fbvi = | ||
Sn | ||
S)Z = | ||
Su | ||
Ul | ||
ht — | ||
Ui — | ||
Ή = | ||
£ = |
Tabelle III (Fortsetzung) Tabelle IV (Fortsetzung)
Rb1 | = 0,079 D |
Rb2 | = 0,067/) |
Rv3 | = 0,984 D |
R-Bt | -. 0,134Z) |
R-Bs | = 0,865Z) |
AB, | = 0,153Z) |
ÄD7 | = 0,252Z) |
i?B8 | = 0,507Z) |
= 0,137Z) | |
Rbio | = 0,256 D |
77D(BI) = | = 1,620 |
72D(BII) = | = 1,514 |
Md(BIII) = | = 1,720 |
nD(BlV\ = | = 1,514 |
77D(BV) = | = 1,749 |
no(BVI) = | = 1.514 |
ν (Bl) = | = 60,3 |
ν (BII) = | = 70,0 |
l'(BIII) = | = 29,3 |
ν (BIV) = | = 70,0 |
ν (BV) = | = 35,0 |
ν (BVI) = | = 70,0 |
e IV (Ver£ | ;rößerung 20 |
Fei | = CC |
Fen | = 0,044Z) |
Fein | = 0,192Z) |
Fciv | = 0,237Z) |
-Fcv | = 0,197 D |
Fcyj | = 0,174Z) |
■Fcvn | = 0,200Z) |
J7CVIn | = 0,190Z) |
Feix | = 3.193 Z) |
S1, | = 0,0014Z) |
Slt | = 0,0003Z) |
S17 | = 0,007Z) |
S1S | = 0,0012Z) |
S19 | = 0,0012Z) |
S20 | = 0,0027Z) |
S21 | = 0,295 D |
hl | = 0,013Z) |
he | = 0,027Z) |
hl | = 0,029Z) |
= 0,030Z) | |
hl | = 0,019Z) |
t22 | = 0,044Z) |
I23 | = 0,019Z) |
tu | = 0,044Z) |
«25 | = 0.050 D |
-Rc1 | = Ebene |
Rc2 | = Ebene |
Rc3 | = 0.027 D |
Ra | = 0,162Z) |
Res | = 0,073Z) |
Rc6 | = 0,881 D |
-RC7 | = 0,14OD |
Rc, | = 0,746Z) |
Rcs | = 0,118Z) |
-Rc10 | = 0,314Z) |
Rc11 | = 0,706Z) |
Rc12 | = 0,118Z) |
-Rc13 | = 0,488Z) |
Reu | = 0,168Z) |
Rcls | = 0,168Z) |
/71,(CI) | = 1,670 |
771,(CII) | = 1,620 |
77D(CIII) | = 1,620 |
7/D(ClV) | = 1.514 |
"D(CV) | = 1,720 |
HD(CVl) | = 1,514 |
/Iu(CVII) | = 1,720 |
7!D(CVIlI) | = 1,514 |
7Jd(CIX) | = 1,514 |
V(CI) | = 47,2 |
ν (CIi) | = 60,3 |
v(CIII) | = 60,3 |
V(CIV) | = 70,0 |
v(CV) | = 29,3 |
V(CVI) | = 70,0 |
ν (CVII) | = 29,3 |
V(CVIII) | = 70,0 |
V(CIX) | -= 70,0 |
Jedes Semiobjektiv ist unvollständig für Aberration korrigiert und bezüglich seiner optischen Eigenschaften
auf die anderen Semiobjektive abgestimmt. Der Bezugsparameter ist in den Zeichnungen und
in der Beschreibung mit D bezeichnet und stellt den
ϊ5 axialen Abstand zwischen dem Objekt oder der
Deckglasoberfläche P und der Bildebene 19 dar, die die Semiobjektive 14, 16 und 17 für sich alkine genommen
bilden. Der numerische Wert für den Abstand D ist 80,0 mm.
Die Konstruktionsdaten betreffen:
a) Die Brennweiten — Fi bis Fv für die aufeinanderfolgenden
Linsen I bis V, wobei das Minuszeichen (—) eine negative Brennweite darstellt;
b) die aufeinanderfolgenden Luftzwischenräume S1
bis S5 zwischen der Deckglasoberfiäche P und
dem Korrekturlinsensystem21;
c) die axialen Dicken h bis '5 der aufeinanderfolgenden
Linsen;
d) die Radien der aufeinanderfolgenden Linsenoberflächen, die mit -Zi1 bis —Λ9 bezeichnet sind,
wobei ein Minuszeichen (—) bedeutet, daß die Oberfläche gegenüber dem einfallenden Licht
konkav ist;
e) den Brechungsindex nD (I) bis nD (V) der Glassorlen
der einzelnen Linsen I bis V; und
f) die Abbesche Zahl ν der Glassorten der Linsen I
bis V, bezeichnet mit ν (1) bis ν (V).
Das Korrekturlinsensystem 21 ist feststehend angeordnet
und auf das jeweils verwendete Semiobjektiv optisch ausgerichtet und kompensiert den
Astigmatismus und die Bildfeldwölbung der Semiobjektive sowie Reslfarbfehler. Die Brennweilen der
Linsen des Korrekturlinsensystems 21 sind so optimicrt,
daß das Bildfeld 20 sehr gut geebnet ist. Die optimale Vergrößerung des Korrekturlinsensystems 21
ist + 5ma1.
Das Korrekturlinsensystem 21 besteht aus einem vorderen Dublett mit negativer Brennweite und einer
hinteren positiven Einzellinse. Das Dublett besteht aus einer Plankonvexlinse X, die mit ihrer Rückseite
an eine Bikonkavlinse Xl angrenzt; die erwähnte Einzellinse mit positiver Brennweite ist mit XII bezeichnet.
Die Brennweiten Fk, —Fxi und Fxn beziehen
sich auf die Lins.cn X, XI und XlI und haben die im folgenden angegebenen rechnerischen Werte,
wobei ein Minuszeichen ( — ) eine negative Brennweite bedeutet.
1,644 | Idealfall: | < /Id(X) | < | 1,654 | 33,8 |
1,513 | Fl0(X) = | < /id(XI) | < | 1,523 | 59,6 |
1,512 | < /id(XH) | < | 1,522 | 64,5 | |
29,6 | /id(XII) = | <v(X) | < | 37,0 | |
55,4 | < ν (XI) | < | 63,8 | ||
60,3 | < V(XH) | < | 68,7 | ||
1,649 und | v(X) = | ||||
1,518 und | |||||
1,517 und | CI) = | ||||
ν (XlI) = | |||||
7 8
0,246 D < Fx < 0,286 D Außerdem bestehen die Linsen X bis XlI aus Glas
0,128 D < — Fxi < 0,168 D mit den folgenden Werten für Brechungsindex «d
1,644 D < i'xn < 1,90 D und Abbesche Zahl v.
Absolutwerte:
Im Idealfall würden die Werte für Fx, —Fxi und 5
fxii im wesentlichen 0,266 D, -0,148 D und 1,772 D
betragen. Die entsprechenden Werte der axialen
Dicke Z40, /4l und ti2 für die Linsen X bis XII sind
durch die folgenden rechnerischen Ausdrücke festgelegt: 10
fxii im wesentlichen 0,266 D, -0,148 D und 1,772 D
betragen. Die entsprechenden Werte der axialen
Dicke Z40, /4l und ti2 für die Linsen X bis XII sind
durch die folgenden rechnerischen Ausdrücke festgelegt: 10
0,029 D < Uo < 0,033 D
0,017 Z) < /„, < 0,021 D
0,047 D < t42 < 0,053 D
0,017 Z) < /„, < 0,021 D
0,047 D < t42 < 0,053 D
Im Idealfall betragen die Werte für f40, f41 und /42 15
im wesentlichen 0,031 D, 0,019 D und 0,05 D.
im wesentlichen 0,031 D, 0,019 D und 0,05 D.
Die Radien der Linsenoberflächen der Linsen X,
XI und XII sind der Reihe nach mit R10, -.R11, A12, Die Bildvergrößerung der Semi-Objektivc in Ver-
.R13 und — Ru bezeichnet und ihre Werte sind im fol- bindung mit dem Korrekturlinsensystem 21 beträgt
genden angegeben: ao 4,0mal, 40mal und lOOmal.
. „ onn £*as allgemein mit 25 bezeichnete Okular liefert ein
7,„. <
ρ10 < f.'if " n vergrößertes Bild des Primärbildes in der Bildebene 20
η 1 inn η ^ ρ Z- ηΛΔ η und kann ein herkömmliches Standard-Okular sein.
1 «1» η Z- /? Z- inn Die v°rstehende Beschreibung betrifft im wesent-1
fi4R η Z- -ß Z- 2 0 D a5 lichen ein Mikroskpo-Objektivlinsensystem aus meh-1.04S
υ < K11 < L,\j υ ^^^ Semi-Objektiven mit verschiedenen, abgestuften
Im Idealfall sind die Werte für die Radien R10 bis Vergrößerungen, die zusammen mit einem gemeinsam
-Rn die folgenden: verwendeten Aberrations-Korrekturlinsensystem 21
R _ p, eine erheblich bessere Bildqualität des letztlichen
_Jo10 Z 01726 D 3° Bildes liefern; die Semi-Objektive stehen in gegen-
_u ~ n'i4?9 D seitiger Beziehung zueinander und sind bezüglich dem
ρ Z ι'™ η Korrekturlinsensystem 21 so ausgelegt, daß eine
_R Z 1 824 η außerordentlich gute Korrektur der Linsenfehler
14 ~~ ' erzielt wird, insbesondere für Bildfeldwölbung, Astig-Der
axiale Abstand zwischen dem Dublett (X, XI) 35 matismus, Koma, sphärische Aberration und restund
der Einzellinse XII ist S6, und sein Wert ist liehe Randfarbenfehler. Die Korrektur der sphärischen
gegeben durch Aberration wird in einem beträchtlichen Ausmaß η fin η <? 1 75 D dadurch unterstützt, daß maximal viele Linsen mit
1 6 ' schwach gekrümmten Oberflächen in dem optischen
Im Idealfall ist S6 = 1,0 D. 40 System verwendet sind.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Mikroskopobjektiv mit einer Frontlinsengruppe in Form eines auswechselbaren Semiobjektivs und einer darauffolgenden feststehenden, ein negatives Dublett umfassenden Korrekturlinsengruppe, die absichtlich bei den Semiobjektiven vorgesehene Abbildungsfehler ausgleicht und eine Vergrößerung des vom jeweiligen Semiobjektiv erzeugten Bildes herbeiführt, dadurch gekennzeichnet, daß das negative Dublett (X, XI) der Korrekturlinsengruppe (21) das vom jeweiligen Semiobjektiv (14, 16 bzw. 17) ausgehende Strahlenbündel nach Unendlich fokussiert, die Korrekturlinsengruppe weiterhin eine okularseitige positive Einzellinse (XII) aufweist, die das von dem Dublett ausgehende Strahlenbündel in die Brennebene eines Okulars (25) fokussiert, und für die Linsen (X, XI, XII) folgende Bedingungen für die auf den Abstand (D) zwischen Objektebene und Bildebene der Semiobjeklive bezogenen Flächenradien (R), Mittendicken (r) und Luftabstand (5β) zwischen den Linsen (XI und XII) sowie für die Brechwerte (mj) und die Abbe-Werte (v) eingehalten sind:
-2,0 D < c A10(X) < 0,1588D < C -An(X, XI) < 0,1300Z) < C .R12(XI) < 1,648 D < C i?13(X") < 1,648 D < c /J11(XII) < 0,029 D < c UX) < 0,017 D < C Z41(XI) < 0,047 D < c UX") < 0,60 D < ζ S6 < 1,644 C /Jd(X) < 1,513 C /Id(XI) < 1,512 C /id(XII) < 29,6 C V(X) < 55,4 C ν (XI) < 60,3 C ν (XII) < : 2,0 D : 0,1864 Z) : 0,1544 D : 2,0 D : 2,0 Z) ; 0,033 Z) ; 0,021 Z) ; 0,053 D ; 1,75 D : 1..654 : 1,523 C 1,522 : 37,0 : 63,8 : 68,7 denen zwischen Objektiv und Okular eine Zwischenoptik vorgesehen ist, die jedoch nicht zur Korrektur von Bildfehlern herangezogen wird und auch keine Vergrößerung bewirkt, sondern lediglich einen pa-S rallclen Strahlengang erzeugt und daher die Anordnung eines Strahlenteilers zur simultanen Abbildung des vom Objektiv erzeugten Bildes in mehrere äquivalente Bildebenen ermöglicht.Aus der USA.-Palentschrifi 1 761 441 ist auch bereits die Verwendung einer Korrekturlinsengruppe aus einer negativen und aus einer positiven Einzellinse zum Ausgleich der Bildfehler von inibesondere Mikroskopobjektiven bekannt. Dabei ist für jedes Objektiv eine spezielle Korrekturlinsengruppe erforderlich. Aus der USA.-Patentschrift 3 132 200 ist auch bereits die Verwendung eines Teleskopobjektives in Verbindung mit einem Mikroskopobjektiv zur Erzielung eines geebneten Bildfeldes bekannt, wobei jedoch optimale Bildfeldebnung nur für ein bestimmtes Objektiv erzielt wird und bei Verwendung eines stärker vergrößernden Objektives daher nur die Mittelzone des Bildfeldes ausreichend korrigiert ist. In vielen Fällen, insbesondere bei der Herstellung von Mikroaufnahmen, sind jedoch Bildfelder erforderlich, bei denen nicht nur ein verhältnismäßig kleiner zentraler Bereich, sondern vielmehr auch die Randbereiche gut geebnet und korrigiert sind.Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Objektiv der eingangs genannten Art derart auszugestalten, daß das erzeugte Bild im wesentlichen abberationsfrei ist, d. h. mit herkömmlichen Standardokularen betrachtet werden kann, und im Strahlengang ein Bereich mit parallel verlaufenden Strahlen vorhanden ist, der die Einführung einer Zwischenoptik sowie verschiedene Tubuslängen ermöglicht. Gelöst wird diese Aufgabe bei einem Mikroskopobjektiv der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch, daß das negative Dublett der Korrekturlinsengruppe das vom jeweiligen Semiobjektiv ausgehende Strahlenbündel nach Unendlich fokussiert, die Korrekturlinsengruppe weiterhin eine okularseitige positive Einzellinse aufweist, die das von dem Dublett ausgehende Strahlenbündel in die Brennebene eines Okulars fokussiert, und für die Linsen folgende Bedingungen für die auf den Abstand D zwischen Objektebene und Bildebene der Semiobjektive bezogenen Flächenradien, Mittendicken und Luftabstand zwischen den Linsenelementen sowie für die Brechwerte und die Abbe-Werte eingehalten sind:Die Erfindung betrifft ein Mikroskopobjektiv mit einer Frontlinsengruppe in Form eines auswechselbaren Semiobjektivs und einer darauffolgenden feststehenden, ein negatives Dublett umfassenden Korrekturlinsengruppe, die absichtlich bei den Senriobjektiven vorgesehene Abbildungsfehler ausgleicht und eine Vergrößerung des vom jeweiligen Semiobjektiv erzeugten Bildes herbeiführt.Aus .der britischen Patentschrift ist bereits ein Mikroskopobjektiv der vorgenannten Art bekannt, das auf eine bestimmte endliche Tubuslänge abgestimmt ist und bei dem zur Betrachtung des erzeugten Bildes ein speziell abgestimmtes Kompensationsokular erforderlich ist, das die restlichen Abbildungsfehler des Mikroskopobjektives, insbesondere den Randfarbenfehler, ausgleicht.Es sind auch bereits Mikroskope bekannt, bei-2,0 D < ^10(X) < D D 0,1588 D < ρ /γ γτ\ ^ : 0,18641) D 0,1300 D < R j 2(XI) < : 0,1544 D 1,648 D < K13(XH) < : 2,0 D 1,648 D < K11(X") < : 2,0 D 0,029 D < UX) < : 0,033 D 0,017 D < UXi) < : 0,021 D 0,047 D < fK(XII) < ; 0,053 0,60 D < S6 < : 1,75 1,644 < «d(X) < : 1,654 1,513 < /Id(XI) < : 1,523 1,512 < /Id(X") < : 1,522 29,6 < ν(Χ) ; 37,0 55,4 < ν (XI) ; 63,8 60,3 < ν (XII) < ; 68,7. : 2,0 Vorzugsweise ist die KorrekturÜnsengruppe durch folgende Daten gekennzeichnet:
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE2047673A Expired DE2047673C3 (de) | 1969-11-06 | 1970-09-28 | Mikroskopobjektiv mit einer Frontlinsengruppe in Form eines auswechselbaren Semiobjektivs |
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