DE1798125A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Roentgenfluoreszenzmessung eines gewaehlten Elementes hoeherer Atomzahl in einem UEberzug auf einer Unterlage - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Roentgenfluoreszenzmessung eines gewaehlten Elementes hoeherer Atomzahl in einem UEberzug auf einer Unterlage

Info

Publication number
DE1798125A1
DE1798125A1 DE19681798125 DE1798125A DE1798125A1 DE 1798125 A1 DE1798125 A1 DE 1798125A1 DE 19681798125 DE19681798125 DE 19681798125 DE 1798125 A DE1798125 A DE 1798125A DE 1798125 A1 DE1798125 A1 DE 1798125A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
coating
filter
characteristic
base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19681798125
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Hill Robert C
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
3M Co
Original Assignee
Minnesota Mining and Manufacturing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Minnesota Mining and Manufacturing Co filed Critical Minnesota Mining and Manufacturing Co
Publication of DE1798125A1 publication Critical patent/DE1798125A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
DE19681798125 1965-10-28 1968-08-27 Verfahren und Vorrichtung zur Roentgenfluoreszenzmessung eines gewaehlten Elementes hoeherer Atomzahl in einem UEberzug auf einer Unterlage Pending DE1798125A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US505479A US3417243A (en) 1965-10-28 1965-10-28 Method and apparatus for x-ray fluorescence gauging of a higher atomic number selected element in a coating on a base
GB40962/68A GB1239797A (en) 1965-10-28 1968-08-27 Method and apparatus for x-ray fluorescence gauging of a higher atomic number selected element in a coating on a base.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1798125A1 true DE1798125A1 (de) 1972-01-20

Family

ID=26264550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19681798125 Pending DE1798125A1 (de) 1965-10-28 1968-08-27 Verfahren und Vorrichtung zur Roentgenfluoreszenzmessung eines gewaehlten Elementes hoeherer Atomzahl in einem UEberzug auf einer Unterlage

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3417243A (enExample)
AU (1) AU408547B2 (enExample)
BE (1) BE719998A (enExample)
DE (1) DE1798125A1 (enExample)
GB (1) GB1239797A (enExample)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3525863A (en) * 1967-12-28 1970-08-25 Minnesota Mining & Mfg Differential emission x-ray gauging apparatus and method using two monochromatic x-ray beams of balanced intensity
JPS5847659B2 (ja) * 1975-08-12 1983-10-24 日新製鋼株式会社 ゴウキンカアエンテツバンノ ゴウキンカドノ ソクテイホウホウ
US4085329A (en) * 1976-05-03 1978-04-18 Hughes Aircraft Company Hard X-ray and fluorescent X-ray detection of alignment marks for precision mask alignment
FI59489C (fi) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
DE10034747A1 (de) * 2000-07-18 2002-02-07 Manfred Liphardt Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung der Dicke eines Beschichtungswerkstoffs auf einem Trägerwerkstoff
US7963695B2 (en) 2002-07-23 2011-06-21 Rapiscan Systems, Inc. Rotatable boom cargo scanning system
CN100593116C (zh) * 2006-04-10 2010-03-03 上海爱斯特电子有限公司 X荧光多元素分析仪
US8724774B2 (en) 2009-08-04 2014-05-13 Rapiscan Systems, Inc. Method and system for extracting spectroscopic information from images and waveforms
US9218933B2 (en) 2011-06-09 2015-12-22 Rapidscan Systems, Inc. Low-dose radiographic imaging system
WO2012170914A1 (en) 2011-06-09 2012-12-13 Rapiscan Systems, Inc. System and method for x-ray source weight reduction
CN108508052B (zh) * 2018-06-11 2023-10-20 西北核技术研究所 基于参考元素的x射线荧光薄层质量厚度测量系统及方法
US11079222B2 (en) * 2019-01-30 2021-08-03 Ndc Technologies Inc. Radiation-based thickness gauge
WO2021246998A1 (en) * 2020-06-01 2021-12-09 American Science And Engineering, Inc. Systems and methods for controlling image contrast in an x-ray system
US11193898B1 (en) 2020-06-01 2021-12-07 American Science And Engineering, Inc. Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system
GB2635043A (en) 2022-07-26 2025-04-30 Rapiscan Holdings Inc Methods and systems for performing on-the-fly automatic calibration adjustments of X-ray inspection systems

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2926257A (en) * 1955-05-16 1960-02-23 Friedman Herbert Method of measuring the thickness of thin coatings

Also Published As

Publication number Publication date
GB1239797A (en) 1971-07-21
AU4237568A (en) 1970-02-26
US3417243A (en) 1968-12-17
BE719998A (enExample) 1969-02-27
AU408547B2 (en) 1970-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1798125A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Roentgenfluoreszenzmessung eines gewaehlten Elementes hoeherer Atomzahl in einem UEberzug auf einer Unterlage
DE60003695T2 (de) Röntgenfluoreszenzanalyse von mehrschichtigen proben
EP1186909B1 (de) Verfahren zur Ermittlung der Materialart
DE2365221C2 (de) Gerät zur automatischen Überwachung eines Gegenstandes auf die Anwesenheit von geladenen Handfeuerwaffen oder Munition
DE2358237C2 (de) Verfahren zur Bestimmung des Gehalts an mindestens einem chemischen Element in einer Substanz, insbesondere zur Bestimmung des Schwefelgehalts in Kohlenwasserstoff-Brennstoffen
DE102006023309A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Material mittels Schnellneutronen und eines kontinuierlichen spektralen Röntgenstrahles
DE68928315T2 (de) Methode zur messung der dicke eines überzugs auf einem substrat
DE112013006100T5 (de) Verfahren zur Röntgen-Lumineszenz-Mineralien-Separation und Röntgen-Lumineszenz-Sortierer zur Durchführung des Verfahrens
DE1005743B (de) Verfahren zur Messung der Dicke von Auflagen aus Metall oder anderen Werkstoffen mittels einer Betastrahlenquelle
DE1296829B (de) Verfahren und Vorrichtungen zur Bestimmung des Gehaltes einer Probe an schweren Elementen durch Messung ihrer optisch angeregten K alfa- oder K beta-Roentgenfluoreszenzlinien
EP0465797A2 (de) Vorrichtung zum Messen des Eisengehaltes in Zinkschichten
DE60208495T2 (de) Kontrastphantom
DE2244160A1 (de) Vorrichtung fuer die roentgenanalyse
DE3035929C2 (de) Vorrichtung zur Ermittlung der Volumenanteile eines Mehrkomponentengemisches durch Transmission mehrerer Gammalinien
EP0217464A2 (de) Verfahren zur Bestimmung der Fotoschwächung in einem Bereich eines Untersuchungskörpers und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE1798241A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der mittleren Groesse von Feststoffteilchen in einem Fluidum
DE2140342A1 (de) Neutronenmeßvorrichtung zur Erforschung von Erdformationen
DE2243993A1 (de) Vorrichtung fuer die roentgenanalyse
DE10048559A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung der Dichte und/oder des Füllstands eines Mediums in einem Behälter
DE2621216A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur untersuchung von puelpe auf das vorhandensein von verdickungen
AT300420B (de) Verfahren zur Bestimmung der Masse eines Überzuges
DE1928325A1 (de) Anordnung und Verfahren zur Dichtemessung mittels beta-Strahlungsabsorption
EP3922986B1 (de) Verfahren zum messen von zählraten oder von den zählraten abhängigen messgrössen und vorrichtung zum messen von zählraten oder von den zählraten abhängigen messgrössen
DE1623050A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Fluessigkeitsscintillationsmessung
WO2006125696A1 (de) Verfahren und anordnung zur bestimmung eines flächengewichtes und/oder einer chemischen zusammensetzung einer geförderten materialprobe