DE1774108A1 - Praezisions- oder Analysenwaage - Google Patents

Description

Patentanwälte Dipl.-Ing. A. WEDDE _{9o Apr}ü 1968 Dipl.-Ing. K. E M P L München27,Schumannatr.2 Akte: P 6504 MBPAG A*G», Greifensee (Schweiz)· PräziaionB- oder Analysenwaage·

Xn Neigungswaagen für grosoe Belastungen ist in der Regel eine vom Waagebalken verachwenkte lieseplatte vorgesehen» auf welcher alle duroh die jeweilige Neigung des Waagebalkene bestimmten Gewiohtsdezimalen aussohlieselioh in oodierter Form naoh Art eines Rasters angebraoht sind· Mittels einer ein Objektiv aufweisenden Projektionsvorrichtung wird sodann von dem sioh gerade Im eptioohen Strahlengang bofindliohen Teilstüok des Meseplatte ein Abbild am Ort einer liohwölektriaohen Abtastvorrichtung erzeugt« Diese Abtastvorrichtung liefert eine dem Y/ägeresultat entsprechende Anzahl elektrischer Impulse, die in üblicher v/eiee elektronische Verstärker beeinflussen· Die verstärkten und gegebenenfalls nooh umgeformten Impulse können dann zur Fernanzeige des Wägeresultates und/oder aum Betrieb eines elektromechanischen Drue**.vo

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dienen« ferner ist dann meistens auoh eine fferneteuerung der Waage angebraoht und dor vollautomatische Botrieb derartiger für grosee Belastungen geeigneter Neigungswaagen bereitet wegen der vergleichsweise geringen absoluten Empfindlichkeit derselben keine nennenswerten Schwierigkeiten.

Demgegenüber haben die vorwiegend in Laboratorien gebräuohliohen Präzisions- oder Analysenwaagen eine um Zehnerpotenzen höhere absolute Empfindlichkeit. Die Anwendung von derart hohen Empfindlichkeiten setzt indessen voraus» dass die Waage mit einer mechanisch- optischen Justiervorrichtung eur Nachstellung des Nullpunktes versehen ist, wobei oft diese Justiervorrichtung mit einer ebenfalls einstellbaren Tariervorrichtung kombiniert sein kann« Ausserdem ist bei Laboratoriumsunterauohungon das Wägegut in der Regel zu beobaohten und der Wägevorgang visuell fortlaufend zu kontrollieren! um die massgebenden Einstellungen an der Waage vornehmen zu können*

Um nun auoh bei Präzisions- oder Analysenwaagen eine fernanzeige oder den Betrieb eines das Wägeresultat festhaltenden Uruokwerkes sowie gegebenenfalls eine dem Aufwand entsprechende Automatisierung zu ermöglichen, ist die erfindtingsgestäeee Präaieione- oder Analysenwaage g«kenneglohnet duroh

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die Kombination der nachstehend angeführten Merkmale t

a) es ist ein eohwenkbar gelagerter Waagebalken vorgesehen»

an welohem die duroh Beine jeweilige neigung gegebenen Gewiohtsdeairaalen sowohl in der i'orm einer mit Ziffern besohrifteten Striohteilung als auoh in codierter Tora naoh Art eines Rasters angebraoht sind» fl

b) es ist eine erste Projektionsvorrichtung angebraoht, die von dem jeweils in ihrem optisohen Strahlengang befindlichen TeilstUok der Striohteilung auf einem von aussen ablesbaren Bildsohirm ein optisoh vergrössortes Abbild herstellt,

o) es ist eine eweite Projektionsvorrichtung angebraoht, die von dem jeweils in ihrem optisohen Strahlengang befindlichen TeilstUok des Rasters ein optisoh vergrössertes Abbild an einer liohtelektrisohen Abtastvorrichtung herstellt, welch letztere elektrische Mesagrössen erzeugt, die dem im optisehen Strahlengang befindlichen Teilstüok des Rasters entepreohen,

d) es ist eine meohanisoh-optisohe Justiervorriohtung zur Naohetellung des Nullpunktes der Waage angebracht, deren Justierglied gleichseitig sowohl ein im optisohen Strahlengang der ersten Projektionsvorrichtung befindliches strahlenablenkendes Juetierelement als auoh «in im optisohen Strahlen-

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gang der zweiten Projektionsvorrichtung befindliches strhalenablenkendes Justierelement verstellt·

Bei Prässieions- oder Analysenwaagen, die höheren Anforderungen an die Genauigkeit zu entsprechen haben, wird die vorerwähnte Kombination zweokmässig nooh mit den nachstehenden Merkmalen bereichert»

e) es ist ein optischer Mikrometer mit Einstellvorrichtung zur Ermittlung der letzten Gewiohtsdezimale des Wägereaultates angebracht, dessen Einstellvorrichtung gleichzeitig sowohl ein im otpsohen Strahlengang der ersten Projektionsvorrichtung befindliches strahlenablenkendes Einatellelemente als auoh ein im optieoneη Strahlengang der »weiten Projektionsvorrichtung befindliches strahlenablenkendes Einstellelement veretellt»

f) die Einstellvorrichtung des optisohen Mikrometers gemäee lit· e) verstellt ferner ein Ableseglied* an welchem von aussen her die der jeweiligen Einstellung der etrahlenablenkenden Einstellelemente entsprechende letzte Gewiohtsdesimale des Wägeresultates ablesbar ist,

g) die Einstellvorrichtung des optisohen Mikrometers gemäße lit· e) verstellt ausserdem nooh ein Messglied, auf welche» die der jeweiligen Einstellung der strahlenablekenden Ein-

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etellelemente entsprechenden letzten Gewicht«dezimalen in oodierter Torrn angebracht sind, JOH 831/0^0^

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h) es let eine Abtastvorrichtung vorgesehen» welche die am Messglied gemäss lit« g) jeweils auftretende lotste Cewiohtsdeaimale des Uägeresultatea in eine zugeordnete elektrisch Measgiöese umwandelt·

j&n vereinfachtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist in der Zeichnung in perspektivischer Darstel- ™ lung veranschaulicht, wobei alle für das Verständnis der Erfindung nioht unmittelbar erforderliohe Einzelheiten aus Gründen der Uebersichtliohkeit weggelassen sind·

Auf dem nur teilweise gezeigten Waagengestell 1 ist in üblioher Wiese der Waagebalken 2 sohwenkbar gelagert, wobei das seine Mitteleohneide unteratUtaende Gegenlager nicht veransohaulicht ist· Auf der am kürzeren Waagebalkenarm ang·- braohten Aueeensohneide ist das dit Waagoaohale 3 tragend· λ Gestänge 4 aufgehängt« An die Stelle des Gestänges 4 kann jedooh auoh ein Sohalenträger treten« der an seinem oberen undo nit der Waagesohale versehen ist und mittels eines zu-■ätaliohen Lenker· parallelgeführt ist· Am längeren Arm de· Waagebalken· 2 ist eine Ueesplatto 5 befestigt» auf welcher die der jeweiligen Neigung des Waagebalkens entsprechenden Oewiohtadezimolen in der Form einer mit Ziffern beschrifteter ßtriohttilung 6 anbebrooht sind· Vermittele einer die Lampe

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7t die Beleuohtungsoptik 8 und das Objektiv 9 aufweisenden ersten Injektionsvorrichtung wird das in ihrem optisohen Strahlengang 10 sieh jeweils befindliche Teiletüok der " Striohteilung 6 auf eine als Bildschirm 11 dienende Matteoheibe geworfen» Es erscheint dort als optisch stark ver-P grössertea Abbild 6', wobei in der Zeichnung der mit der Ziffer "21" beoohriftete Teilstrich sich am Ort der auf dem Bildaohirm 11 angebrachten Ablesemarke 12 befindet· Der Bildschirm 11 ist normalerweise in einem Fenster des Waagengehauses angebracht, ßοdass das erwähnte Abbild 6* von aueeen her gut abgelesen werden kann*

Am längeren Arm dea Waagebalkens 2 ist ferner eine weitere Messplatt· 13 befestigt, auf welcher di« 4er jeweiligen Neigung des Waagebalkens entspreohendan Gewiohtsd|- aimalen naoh Art eines Rasters 14 angebracht sind« Mit Hilfe einer die lampe 15» die Beleuchtungsoptik 16 und das Objektiv 17 aufweisenden'aweiten Injektionsvorrichtung wird das in ihrem optisohen strahlengang 13 sieh jeweils befindliche TellstUok des Hasters 14 auf die Bildeben· 19 einer lichtelektrischen Abtastvorrichtung geworfen· Auf der Bildebene 19 ersoheint sodann das optisoh vergrösserte Abbild 14* des betreffenden TeilstUokes des Rasters 14, welches wie dargestellt ein Striohraster ist· An di· Bildebene 19 angren-

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zend ist innerhalb des Waagengehäuses für jede der beiden abzutastenden Dezimalstellen des Abbildes 14· aine feststehend angebrachte Photozelle 2o bzw. 21 vorgesehen. Dio8e Protokollen können indessen auoh als lichtempfindliche Widerstände aus^ebildot sein ; sie sind wie üblich mit in der Zoiohnung nicht näher veranschaulichten elektronischen Verstärkern verbunden. Der Abtastvorgang selbst wird mit Hilfe eines Schwenkspiegel 22 bewirkt, dor sioh in optioohen Strahlengang 18 befindet, wobei die Verschwenkung dos Spiegels 22 um die Welle 23 vermittele eines elektromechanischen Antriebes 24 erfolgt· Die Anordnung ist derart, dass bei einer Verschwenkung dee Spiegele 22 um einen kleineren VJinkel das Abbild 14* in einer quer zur Langserstreokung des Striohrasters verlaufenden Richtung an den Photozellen 20 bzw· 21 vorbeigefUhrt wird· In den Photozellen entstehen dann elektrische Impulse, die der Anzahl Striohe des Striohrasters gleioh ist, sodass also die Pnotozelle 20 zwei Impulse, die Photozelle 21 jedooh nur einen Impuls zählt, beide Photozellen 20 und 21 somit ei» elektrische LIessgrÖQse liefern, die der Ziffer "21" (vergleiche hierzu das Abbild 6' auf dem Bildschirm 11) entspricht»

Die in Präzieions- oder Analysenwaagen erforderliohe Justiervorrichtung zur Kaohatellung dee Nullpunktes der Waage weist bei der in der Zeiohnung dargestellten Auoführungsform

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ein ale Spiegel ausgebildetes Justierelement 25 auf, das aioh im optisohen Strahlengang 10 der ersten Projektionsvorrichtung 7 bis 11 befindet und am kürzeren Arm eines Justierhebels 26 angebracht ist» Oer Letztere ist um eine im Waagengestell gelagerte Welle 27 versohwenkbar· In analoger Weise ist ein weiteres ebenfalls als Spiegel veransohauliohtes Justier» element 28 im optisohen Strahlengang 18 der zweiten Projektionsvorriehtung 13 bis 19 angeordnet· uer aur Halterung dee Spiegele 28 dienende Justierhebel 29 ist jedooh mit einem Arm von einstellbarer Länge versehen und er ist um die weitere im Waagengestell drehbar gelagerte Welle 30 versohwenkbar angebracht· Zur manuellen Bedienung dieser Justiervorrichtung ist ein von aus sen zugänglicher .Drehknopf 31 vorgesehen, der auf einer im Waagengestell drehbar gelagerten Welle 32 sitzt. Die Welle 32 ist dabei mit einer exzentrisch angebrachten Spindel 33 versehen, an welcher die beiden Juatierhebel 26 und 29 vermittels der Zugfeder 34 zum Anliegen gebraoht werden· Bei der Bedienung des als Justierglied dienenden Ürohknopfes 31 werden somit die beiden optisohen Strahlengänge 10 und 18 gleichzeitig und je in gloiohem Sinne verstellt· Duroh ent* sprechende Bemessung der Länge do3 Justierhebele 29 kann man ferner den unterschiedlichen optischen Vergröaeorunßon in den

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Strahlengängen 10 und 18 in der Weise Reohnuns tracen, dass beispielsweise eine vermittels des Abbildes 6* vorgenommene Nullpunktseinstellung auoh genau auf das an der lichtolektrischen Abtastvorrichtung 19 bis 24 herrschende Abbild 14' übertragen wird« Im Uebrigen können in der Justiervorrichtung 25 bis 34 an der Stelle der Spiegel 25 und 28 auoh andere ^ strahlenablenkende Justierelemente wie etwa Prismen oder planparallele Platten benutzt worden.

Xn Präzisions- oder Analysenwaagen mit höohsten Anforderungen an die Genauigkeit ist nooh ein optisoher Mikrometer mit Einstellvorrichtung zur Ermittlung der letzten oder auoh der beiden letzten Gewiohtsdezimalen des Wägeresultates vorhanden· Bei der in der Zeichnung dargestellten Aueführungform kann der optίοohβ Mikrometer vermittele eines von auaoen bedienbaren Erehknopfes 35 eingestellt werden, der auf einer im Waagengestell drehbar gelagerten Welle 36 sitzt* Auf der Welle 36 ist eine gleichzeitig auoh als Zahnrad dienend· Kurvenscheibe 37 befestigt! vermittele welohor ein als Spiegel ausgebildetes atrahlenablenkendes ßlnetellelement 33 um die im Waagengestell drohbar gelagerte Y/elle 39 um geringe Winkel veroohwenkbar ist· Dot Spiegel 38 befindet sioh dabei im optieohen Strahlengang 10 der ersten Projektionsvorrichtung 7 bi· 11· Gleichzeitig mit Spiegel 38 wird auoh ein

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Hebel 40 veroohwenkt» der seiner seit β Über eine angelenkte Ueber tragungsstange 41 den weiteren Hobel 42 verstellt· Der letztere ist auf einer im Waagengestell drehbar gelagerten Welle 43 befestigt und diese dient zur Verschwenkung eines weiteren und ebenfalls als Spiegel ausgebildeten Kinstellolementea 44, das sich im optieohen Strahlengang 18 der zweiten Brojektione· vorrichtung 15 bis 19 befindet· An dor Stelle der beiden Spiegel 33 und 44 können auch hier als strahlenablenkende Binstellelemente Priemen oder planparallele Blatten passendor Abmessungen benutzt sein. Kbenso können an der Stelle der beiden Hebel 40 und 42 sowie der Uebertragungsstange 41 andere meohanleohe Uebertragungsmittel angewendet werden, um die gleichzeitige Verschwenkung der Spiegel 38 und 44 zu bewerkstelligen» Wiohtig ist nur» dass das dabei benutzte meohanieohe Übersetzungsverhältnis dieser üebertragunc splitt el den in den beiden Strahlengangen 10 und 18 herrschenden optisohen Vergröeserungsfaktoren derart angepasst ist, dass bei einer Drehung des Knopfes 35 die beiden Abbilder 6* und 14' um zueinander äquivalente atreoken in Richtung der Längeer- : streokung der Teilungen verschoben werden· Bs sollen also mit anderen Worten die bruchteiligen Voroohiebungen der Abbilder 6^f und 14' - bezogen auf ihre Toilungaeinheit - gleioh geiaaoht

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Y/crdon, Um nun die duroh die Interpolation gewonnene letzte Dezimalotelle doa V/ägeresultates ziffei-nmäaaig kenntlioh zu machen, ist dao Zahnradgetriebe 45 vorgesehen, vermittele welchem eine um die Welle 46 drehbare Ableßetrommel 47 von der v/ello 36 aua bewegt wird. Die abzuleoende letzto ^Gsiiualstelle ersoheint dann in einera Fenster 43, das zweckmässig direkt neben der Able aemar Ice 12 angebraoht iat· Um diese letzte .Dezimalstelle zu ermitteln, wird dor Mikrometer zuerate in die Nullstellung gebraoht, bei welcher alao im Fenster 48 die Ziffer '¹O" erscheint· Dann wird der Drehknopf 35 solange gedreht, bis ein zunäohstliegender Teilstrioh des Abbildea 6· der Strichteilung genau in der Ableoemarke 12 zentriert iat· Die aodann im Fenster 48 erscheinende Ziffer gibt die letzte Dezimalstelle an· In der Zeichnung wäre man somit als vollständigea Wägereaultat "212" ablesen· 2s ν ersteht sich indessen, dao8 die Strichteilung 6 aehr oft dreiatellig und der Mikrometer in der Regel zweiatellig ausgebildet ist.

Die letzte Dezimalstelle des Y/ägere aultat ea muss jedoch nioht nur visuell, sondern auch elektrisch ablesbar gestaltet werden, sofern man beispielsweise eine Fernanzeige des vollständigen Wägeresultates erhalten möchte· Um dies zu erreiohen, ist auf der V/olle 36 ein scheibenförmiges üIcusglied 49 befestigt, auf welohem die der jeweiligen Einstellung

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der Spiegel 38 und 44 entsprechende letzte Gewiohtsdezimale in oodierter Form naeh Art eines Rasters 50 angebracht sind· Die Abtastung dos Rasters 50 erfolgt mittels einer weiteren Projektionsvorrichtung, wolohe die Lampe 51» dio Beleuohtungsoptik 52, das Objektiv 53 sowie einen feststehend angebrachten Spiegel 54 enthalten kann· Dor diesbezügliche optische Strahlengang ist mit 55 bezeichnet* er führt cbonfalle über den Spiegel 22, dor vom elektromechanischen! Antrieb 23,24 versohwenkt werden kann· Auf der'Welle 23 des Letzteren könnte jedooh neben dem Spiegel 22 ein besonderer, nur für den Strahlengang 55 vorgesehener Spiegel angebracht sein. Die genannte Projektionsvorrichtung ist nun derart ausgeführt, dass in der Bildebene 56 einer weiteren lichtelektrisch«! Abtastvorrichtung ein optisoh vergrössertcs Abbild 50* dee sich jeweils im optisohen^Strahlengang 55 befindlichen Teilstüokes des Rasters 50 hergestellt wird. An die Bildebene 56 angrenzend ist eine weitere feststehend angebrachte Photozelle 57 vorgesehen, an welcher somit bei einer Versohwenkung des als Spiegel 22 ausgebildeten Abtastgliodas das Abbild 50· vorbeigeführt wird. Bei diesem Abtastvorgang zählt dann die Photozelle 57 zwei Impulse, wae der im Fenster 48 sichtbaren Ziffer ^M2^M entspricht·

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Wie aus der Zeiohnung bereits ersiohtlioh ist, werden die beiden liohtelektrioohen Abtastvorrichtungen 19 bis 24 und 56 bio 57 vorzugsweise zu einer einzigen Abtastvorrichtung vereinigt» sodasο mit Hilfe ein- und desselben elektromoohanisohen Antriebes 23 bis 24 alle Dezimalstellen des ffägeresultates gleichzeitig in elektrische Messgrösoen umge- m wandelt werden· Die von den Photozellen 20,21 und 57 gelieferten elektrischen Impulse können naoh elektronischer Verstärkung zur Betätigung von nicht mit der Waage zusammengerbauten Zusatzgeräten benützt werden, die in Abhängigkeit vom ermittelten Wägeresultat betrieben werden.

Der besondere Vorzug der beschriebenen Eräzisiona- odor Analysenwaage besteht jedooh darin, dass der Wägevorgang auoh visuell dauernd überwaoht werden kann« Auftretende Unregelmässigkeiten werden sofort siohtbar und können noch vor " der Durchführung der elektrischen Abtastung berücksichtigt werden· Anderseits gestattet die elektrische Ermittlung des V/ägeresultates eine weitgehende Automatisierung vieler Untersuchungen und insbesondere die selbetatige Aufzeichnung von V7ägereaultaten vermittele eines gegebenenfalls ferngesteuerten Druckwerke··

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Claims (1)

1. Patentansprüche·

   1« Präzisiona- oder Analysenwaage) gekennzeichnet duroh die Kombination der nachstehend angeführten Merkmaleι

   a) es ist ein schwenkbar gelagerter Waagebalken (2) vorgesehen» an w el oh era die duroh seine jeweilige Neigung; gegebenen Gewichts· dezimalen sowohl in der Form einer mit Ziffern beschrifteten Striohteilung (6) als euch in codierter Fora naoh Art eines Hasters (14) angebracht sind»

   b) es ist eine erste Projektionsvorrichtung (7 bie 11) angebracht» die von dem jeweils in ihrem optischen Strahlengang (10) befindlichen leilstüok der Striohteilung (6) auf einem von aussen ablesbaren Bildschirm (11) ein optisch vergro'ssertes Abbild (6») herstellt,

   o) es ist eine zweite Projektionsvorrichtung (15 bis 19) angebracht» die von dem jeweils in ihrem optischen Strahlengang (18) befindlichen ieilstüok des !testers (14) ein optisoh vergrössertes Abbild (14') an einer liohtelektrieohen Abtastvorrichtung (20 bis 24) herstellt, woloh letztere elektrische tlesagrössen erzeugt» die dem im optioohen Strahlengang (18) befindlichen Eeilstüok dos Rasters (14) entsprechen, d) es let eine meohanisoh-optiache Justiervorrichtung (25 bis Bsur Naohetellung dee Nullpunktes der Waage angebracht»

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   deren Justierglied (31132) gleichzeitig sowohl ein im optisohen Strahlengang (10) der ersten Projektionsvorrichtung (7 bis 11) befindliches strahlenablenlcendes Justiersloaont (25) als auoh' ein im optischen Strahlengang (18) der zweiten Projektionsvorrichtung (15 bis 19) befindliches 3trohlenablenkendes Justierelement (23) verstellt.

   2· Präzisions- oder Analysenwaage nach Patentanspruch, daduroh gekennzeichnet, dass ausaordem die folgenden Merkmale vorhanden sind»

   e) es ist ein optischer Mikrometer (35 bis 50) mit Einstellvorrichtung (35 bis 37) zur ürmittlung der letzten Gewichtsdezimale des Wägeresultates angebracht, dessen Einetellvor- " richtung (35 bie 37) gleichzeitig sowohl ein im optisohen Strahlengang (10) der ereten Projektionsvorrichtung (7 bis 11) befindliches strahlenablenkendes Einstellelemont (38) als auoh ein im optischen Strahlengang (18) der zweiten Projektionsvorrichtung (15 bis 19) befindliches etrahlenablenkendes Einstellelement (44) verstellt,

   f) die Einstellvorrichtung (35 bis 37) des optischen Mikrometer» (35 bis 50) verstellt ferner ein Ableseglied (47), an

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   welohem von aussen her die der jeweiligen Einstellung der strahlenablenkenden Einstellelemente (58,44) entsprechende letzte Gewiohtsdezimale des Wägeresultates ablesbar ist» g) die Einstellvorrichtung (55 bis 57) des optieohen Mikrometers (55 bis 50) verstellt ausserdem ein Messglied (49), auf welchem die der jeweiligen Einstellung der strahlenablenkenden Einstellelemente (58,44) entsprechenden letzten Gewiohtsdezimalen in oodierter Form naoh Art eines Rasters (50) angebracht eind,

   h) es ist eine dritte Projektionsvorrichtung (51 bis 56) angebracht, die von dem jeweils in ihrem optisohen Strahlengang (55) befindlichen Teilstüok des Hasters (50) ein Abbild (50¹) an einer weiteren liohtelektrischen Abtastvorrichtung (22,25,24,57) herstellt, welch letztere elektrisohe Messgrössen erzeugt, die dem im optischen Strahlengang (55) befindlichen Teilstüok des Hasters (50) entsprechen.

   3. Eräzisions- oder Analysenwaage naoh Patentanspruch 2, daduroh gekennzeichnet, dass ausserdem die folgenden llerkmale vorhanden sind:

   i) in jeder der beiden liohtelektrisohen Abtastvorriaitungen gemäss lit. ο) und h) ist pro abzutastende Gewiohtsdezimale ein liohtelektrisohes Schaltelement (20, baw. 21, bzw· 57) vorgesehen,

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   k) es ist ein elektr(Mechanischer Antrieb (23,24) vorgesehen, der beiden Abtastvorrichtungen gemass lit.c) und h) gemeinsam ist und den Abtastvorgang in beiden der genannten Abtastvorrichtungen gleichzeitig ausführt·

   4· Präzisions- oder Analysenwaage nach Patentanspruch 3» dadurch gekennzeichnet, dass ausserdem die folgenden Merkmale vorhanden sind;

   m) die lichtelektrischen Schaltelemente (20,21,57) gemass

   . <der>
   lit· i) sind in jeder^v beiden Abtastvorrichtungen feststehend angebracht,

   n) der elektromechanische Antrieb (23,24) gemass lit.k) ist zur Verschwenkung sowohl eines strahlenablenkenden und sioh im optischen Strahlengang (18) der zweiten Projektionsvorrichtung (15 bis 18) befindlichen Abtastgliedes (22) als auoh eines strahlenablenkenden und sioh im optisohen Strahlengang (55) der dritten Projektionsvorrichtung (51 bis 56) befindlichen Abtastgliedes (22) eingerichtet*·

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