DE1665426A1 - Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents

Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung

Info

Publication number
DE1665426A1
DE1665426A1 DE19661665426 DE1665426A DE1665426A1 DE 1665426 A1 DE1665426 A1 DE 1665426A1 DE 19661665426 DE19661665426 DE 19661665426 DE 1665426 A DE1665426 A DE 1665426A DE 1665426 A1 DE1665426 A1 DE 1665426A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
resistance
vanadium
chromium
resistor
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19661665426
Other languages
English (en)
Inventor
Triggs William Michael
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of DE1665426A1 publication Critical patent/DE1665426A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/06Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base
    • H01C17/075Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base by thin film techniques
    • H01C17/08Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base by thin film techniques by vapour deposition
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/006Thin film resistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/06Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material including means to minimise changes in resistance with changes in temperature
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49082Resistor making
    • Y10T29/49099Coating resistive material on a base

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

US-Ser.No. 458,952
Filed: March 11, 1965
Radio Corporation of America., New- York, N.Y., USA
Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung.
Die Erfindung bezieht sich auf ohmsche Widerstände sowie auf Verfahren zu ihrer Herstellung und insbesondere auf verbesserte Dünnschichtwiderstände, wie sie in integrierten Schaltungen verwendet werden können.
Es besteht ein Bedürfnis, integrierte Schaltungen so klein als möglich herzustellen und dabei doch für zeitlich und temperaturmäßig stabile Schaltelemente zu sorgen. Ohmsche Widerstände stellen wichtige Teile solcher integrierten Schaltungen dar. Da kleine Flächen und große Genauigkeiten für die ganze integrierte Schaltung erforderlich sind,,ist es wünschenswert, ohmsche Widerstände mit einem hohen Widerstandswert auf möglichst geringer Fläche herzustellen.
•Der Stand der Technik enthält zwei Verfahren zur Herstellung von ohmschen Schaltelementen für integrierte Schaltungen.
209815/0252
Man kann-nämlich ohmsche Widerstände durch Diffusion herstellen, was allerdings nur bei monolithischen Halbleiterschaltungen möglich ist. Diese besitzen jedoch eine große Verbindungskapazität und erfordern daher eine Gegenspannung um die Kapazität zu vermindern (amerikanische Patentschrift j5 1^8 1Jk^ vom 23. Juni 196-4·):. Man kann ferner dünne Widerstandsschichten durch Verdampfen von Nickel-Chrom-Legierungen auf Glas oder Siliziumdioxyd herstellen, so daß' zwar wegen der Isolierschicht eine geringe Kapazität gegenüber der Unterlage entsteht, jedoch erfordern solche Widerstandselemente eine große Fläche (amerikanische Patentschrift j3 115. k23 vom 2k. Dezember
Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung wird ein ohmscher Widerstand dadurch hergestellt, daß man eine Schicht aus Chrom-Vanadium auf eine Unterlage, auf der eine integrierte Schaltung gebildet wird, aufdampft. Die Unterlage kann gewünsentenfalls mit einer dünnen Schutzschicht aus beispielsweise Siliziumoxyd bedeckt werden.
Fig. 1 zeigt eine stark vergrößerte Aufsicht auf ein erfindungsgemäßes ohmsches Schaltelement.
Fig. 2 zeigt einen Schnitt durch das Schaltelement nach Fig. 1 längs der Schnittebene 2-2 gesehen.
Fig. 5 stellt eine Aufsicht auf einen Teil einer integrierten Schaltung mit einem ohmschen Schaltelement nach Fig. 1 und dar.
2098 15/025
Das im folgenden zu beschreibende ohmsehe Schaltelement kann auf jeder Art von Unterlage angebracht werden, welche die nötige Verdampfungstemperatur der verwendeten Chrom-Vanadium-Legierungen zu ertragen vermag. Die Zahl und Form der Anschlüsse und die Form des ohmsehen Schaltelementes können dabei innerhalb weiter Grenzen frei gewählt werden.
Fig. 1 und 2 zeigen eineUnterläge 1, welche mit einer Isolierschicht 2 bedeckt ist. Die Oberfläche der Isolierschicht braucht für die im folgenden zu beschreibenden Fabrikationsschritte nicht in irgendeiner Weise präpariert zu werden. Die Isolierschicht 2 kann unter vielen Isolierstoffen gewählt werden, welche die bei den im folgenden zu beschreibenden Verdampfungsvorgängen entwickelte Wärme ertragen können. Beispielsweise kann Siliziumdioxyd oder Glas als Isolierstoff dienen. Die Isolierstoffschicht 2 wird mit Klemmen J versehen, vorzugsweise mit Klemmen aus Aluminium, die mit Hilfe bekannter photograph! scher Verfahren aufgebracht werden können. Es wird zu diesem Zweck eine Maske auf der Oberfläche der Schicht 2 aufgelegt, welche diese ganze Oberfläche bedeckt mit Ausnahme derjenigen Stellen, an denen die Klemmen -J> angebracht werden sollen. Sodann wird auf die Scheibe Aluminium aufgedampft und es wird dann die Maske entfernt, so daß die Klemmen j5 aus aufgedampftem Aluminium gebildet sind.
Der nächste Verfahrensschritt besteht darin, daß man eine Maske auflegt, welche die Oberfläche 2 und die Klemmen "5 mit
209815/0252 .
Ausnahme derjenigen Stellen bedeckt, auf denen der aktive Widerstand 4 gebildet werden soll. Die Maske ist so beschaffen, daß nach Aufdampfen·des Widerstandsmaterials die Widerstandsschicht 4 die.Klemmen j5 teilweise bedeckt, also an diese Klemmen leitend angeschlossen is.t. Als Widerstandsmaterial kann ein durch Malen hergestelltes Pulver einer Vanadium-Chrom-Legierung oder"eine Mischung von Vanadiumpulver und Chrompulver dienen. Dieses wird φ dann in einem Vakuum von etwa 10~ · mm Hg aufgedampft. Die Verdampfung geschieht in einem Wolframschiffchen bei einer Temperatur zwischen 2000 und 2;5OO°C, die durch Widerstandsheizung erzeugt werden kann. Die Pulvermischung kann aus 50 bis 90 Gew.-% Chrom und aus 50 bis 10 Gew.-% Vanadium bestehen. Ein bevorzugtes Mischungsverhältnis besteht aus 75 Gew.-% Chrom und 25 Gew.-% Vanadium.
Während der Verdampfung wird die überzogene Oberfläche mit den Klemmen und der aufgelegten Maske vorzugsweise in einem· tk = Abstand von ungefähr 2^ cm von dem Wolframschiffchen gehalten.
Um die Aufdampfung zu überwachen, wird ein quadratischer Monitorschieber mit einem digitalen Ohmmeter verbunden. Das Widerstandsmaterial wird außer auf die Schicht 2 gleichzeitig und in derselben Menge auf den Monitorschieber aufgedampft. Durch kontinuierliche Messung des Widerstandes der Schicht, welche auf dem Monitorschieber niedergeschlagen ist,läßt sich auch der Widerstandswert der gewünschten Widerstandsschicht ermitteln und die Aufdampfung kann unterbrochen werden, wenn der gewünschte
2 0 98 15/025 2
Widerstandswert erreicht ist.' Um einen Widerstand von 1000 Ohm Je Flächeneinheit zu erreichen, muß der Aufdampfvorgang etwa eine Minute dauern. Eine derartige Widerstandsschicht hat eine Dicke von unter 300 Angströmeinheiten, nach dem Aufdampfen kann die Maske entfernt werden.
Die dünne metallische Widerständsschicht wird vorzugsweise unmittelbar nach ihrer Aufdampfung mit einer Siliziumoxydschicht abgedeckt. Diese Siliziumoxydschicht dient als ein die Oxydation des aufgedampften Metalls verhindernder Überzug und erhöht daher die Stabilität der Widerstandsschicht.
Fig. 3 zeigt einen dünnen Schichtwiderstand 4, welcher in eine integrierte Schaltung eingebaut ist.
Die Verunreinigungen zur Herstellung der Basis, des Emitters und des Kollektors werden durch Eindiffundieren in eine halbleitende Unterlage I1 eingebracht, welche ihrerseits mit einer Isolierschicht 2' bedeckt ist. Die Anschlüsse an den Kollektor, die Basiselektrode und den Emitter, die in Fig. 3 nicht mit dargestellt sind, werden durch die Isolierschicht 21 hindurch mittels der Klemmen 5, β und 7 hergestellt. Es werden Verbindungs sch! cht en 8, 9 und 10 von verhältnismäßig geringem Widerstand auf die Oberseite der Schicht 21 aufgelegt, so daß die Klemmen 5, 6 und 7 mit äußeren Anschlußklemmen 11 und 12 und mit der .Widerstandsklemme 3a verbunden werden. Diese letztere Klemme 3a bildet das Ende der Verbindungsschicht 10. Die Klemmen 3a und 3b des Widerstandes 4'sind durch Verbindungsschichten 13 und 14
209815/0252
mit den äußeren Anschlußstellen 1J5 und 16 verbunden.
Die erfindungsgemäßen-ohmschen Widerstände besitzen eine Reihe von Vorteilen gegenüber den eingangs genannten bekannten Widerstandsarten. Die Chrom-Vanadium-Legierung hat einen hohen spezifischen Widerstand, welcher es erlaubt, dünne Schichten von 1000 bis 5OOO Ohm je Flächeneinheit herzustellen, während bei auf Glas aufgedampften Nickel-Chrom-Lagierungen nur etwa 200 Ohm je Flächeneinheit erzeugt werden konnten. Um aus diesen letzteren Nickel-Chrom-Legierungen einen ohmschen Widerstand mit einem hohen Widerstandswert herzustellen, mußte der Film aus der Nickel-Chrom-Legierung so dünn gemacht werden, daß er unstabil wurde. Dies führt zu einer kleinen Fläche für den Chrom-Vanadium-Widerstand. Da ein Widerstand nach der Erfindung nur etwa 1/6 der Fläche eines Nickel-Chrom-Widerstandes erfordert. Wird eine erhebliche Platzersparnis erreicht.
Weiterhin hat ein Chrom-Vanadium-Widerstand einen niedrigen negativen Temperaturkoeffizienten-von nur 50 ppm/°C und die Erfindung schafft die Möglichkeit der Beeinflussung des negativen Temperaturkoeffizienten durch Veränderung der Aufdampfdauer der Chrom-Vanadium-Anteile. Eine Aufdampfdauer von einer Minute "führt zu einem Temperaturkoeffizienten von 50 ppm/°C. Eine längere Aufdampfdauer führt zu einem höheren negativen Temperaturkoeffizienten, da die beiden metallischen Bestandteile sich trennen können und während dieser Dauer verschieden stark aufgedampft werden. Dies ist dann von Bedeutung, wenn die Große
209815/0252
des Temperaturkoeffizienten keine Rolle spielt. Ein kleinerer Chromanteil führt ferner zu einer Zunahme des negativen Temperaturkoeffizienten. Eine Verminderung des Chromanteils von 75 auf 50 Gew.-$ erhöht den Koeffizienten um etwa 20 % und eine weitere Verminderung von 50 auf 25 Gew.-fo erhöht den Koeffizienten um etwa 400 %.
Da die Chrom-Vanadium-Widerstände während der Aufdampfung gemessen werden können, kann ihre Größe besser überwacht werden, ^ als diejenige der eindiffundierten Widerstände, nämlich um etwa + 5 Ja im Gegensatz zu j- 20 %-, so daß eine höhere Fabrikationsgenauigkeit erreichbar ist. Die Chrom-Vanadlum-Widerstände zeigen eine hohe Betriebsstabilität j ein Widerstand von 1000 0hm je Flächeneinheit ändert nämlich seinen Wert um weniger als 1 % bei einer Betriebsdauer von ,1000 Stunden bei 125°C und bei einer Belastung von 200 Watt je 6,5 q.cm.
Das beschriebene Fabrikationsverfahren führt zu einer geringen Kapazität gegenüber der Unterlage infolge der Silizium- - w dioxydschicht, so daß also nicht mehr eine Gegenspannung wie bei eindiffundierten Widerständen wegen einer hohen Kapazität gegenüber der Unterlage erforderlich ist. Dieser Vorteil führt zu besseren Zeitkonstantenwerten* . .. " '
Es sei noch bemerkt, daß durch die Erfindung auch die Fabrikationskosten nicht erhöht werden, da dieselben Aufdampf-" gerate wie für Nickel-Chrom-Widerstände benutzt werden.
209815/0252

Claims (8)

,1 -\.':Pvä.fc"S χι -t a η s ρ r u eJi β . .. - - ■"'-..
1.) Ohm'sche r Widerstand auf einer isolierenden Unterlage, d a d αϊ r c h" - ge k e η η ζ e 1 c h η e t ,. daß er aus Chrom und Vanadium besteht. =
2.) Widerstand :nach Anspruch 1, da du r c h gekennzeichnet > daß er eine Dicke von weniger als J>QO Angströmeinheiten besitzt und aus einer-Legierung von Chrom und Vanadium besteht.
3·) Widerstand nach Anspruch 1, d a d u rc h gekennz e i c h.n e t , daß er mit einem dünnen Überzug aus Siliziumoxyd versehen ist, ."■;■-■ . " - - .-
4.) Verfahren zur Herstellung von Widerstanden nach Anspruch 1, da d u ν c h g e k e η η ζ e i c h η e t > daiS Klemmen (5) an vorgegebenen Stellen einer Unterlage hergestellt werden y welche aus einem Isolierüberzug (2) einer Unterlage (1) besteht, daß diese Klemmen durch Aufdampfen von Widerstandsmaterial (4) in bestimmter^Picke" und.^^in bestimmter Form miteinander verbunden werden und daß das Widerstandsmaterial eine aus Chrom und'Vanadium bestehende Legierung, ist.
5.)_ Verfahren zur Herstellung'von Widerständen nach Anspruch 4,, d a d u r e h .; g e k en η ζ ei c h η e t , daß der Widerstand aus; 50. bis 70 Öew.-^ Chrom, Rest Vanadium besteht.
6.) Verfahren zur Herstellung von Widerständen nach Anspruch 4-, dadurch gekennzeichnet , - daS die Widerstandsschicht mit einem dünnen Überzug aus Siliziumoxyd versehen wird.
7.) Verfahren zur Herstellung von Widerständen nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Widerstandsmaterial im Vakuum von etwa 10" mm Hg und bei einer Temperatur zwischen 2000° und 23000C in einer Dicke von weniger als 300 Angströmeinheiten aufgedampft wird.
8.) Verfahren zur Herstellung von Widerständen nach Anspruch f, dadurch gekennzeichnet, daß das Widerstandsmaterial im Vakuum für die Dauer von etwa einer Minute aufgedampft wird.
209815/0252
ι Λ ·.
Le erseite
DE19661665426 1965-03-11 1966-03-10 Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung Pending DE1665426A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US438952A US3360688A (en) 1965-03-11 1965-03-11 Thin film resistor composed of chromium and vanadium

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1665426A1 true DE1665426A1 (de) 1972-04-06

Family

ID=23742697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19661665426 Pending DE1665426A1 (de) 1965-03-11 1966-03-10 Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung

Country Status (6)

Country Link
US (1) US3360688A (de)
DE (1) DE1665426A1 (de)
FR (1) FR1473391A (de)
GB (1) GB1130156A (de)
NL (1) NL6603104A (de)
SE (1) SE326229B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017113212B3 (de) 2017-06-15 2018-10-11 Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover Verfahren und Anlage zur Herstellung eines elektrischen Bauteils sowie Computerprogramm

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3462658A (en) * 1965-10-12 1969-08-19 Bendix Corp Multi-emitter semiconductor device
US3462723A (en) * 1966-03-23 1969-08-19 Mallory & Co Inc P R Metal-alloy film resistor and method of making same
US3783500A (en) * 1967-04-26 1974-01-08 Hitachi Ltd Method of producing semiconductor devices
JPS4926768B1 (de) * 1970-02-14 1974-07-11
US3761860A (en) * 1970-05-20 1973-09-25 Alps Electric Co Ltd Printed circuit resistor
US4168343A (en) * 1976-03-11 1979-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thermal printing head
GB2168540A (en) * 1984-12-12 1986-06-18 George France Resistors capable of withstanding power surges

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA607968A (en) * 1960-11-01 G. Schrewelius Nils Electric resistance elements
US2030229A (en) * 1931-11-28 1936-02-11 Schwarzkopf Paul Process of making compound structural material and shaped articles thereof
US2160659A (en) * 1937-10-05 1939-05-30 Mallory & Co Inc P R High resistance electrode
US2885310A (en) * 1954-09-13 1959-05-05 Ohmite Mfg Company Method and apparatus for making film resistors
US3131059A (en) * 1961-09-13 1964-04-28 Gen Dynamics Corp Chromium-titanium base alloys resistant to high temperatures
US3266005A (en) * 1964-04-15 1966-08-09 Western Electric Co Apertured thin-film circuit components
US3252831A (en) * 1964-05-06 1966-05-24 Electra Mfg Company Electrical resistor and method of producing the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017113212B3 (de) 2017-06-15 2018-10-11 Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover Verfahren und Anlage zur Herstellung eines elektrischen Bauteils sowie Computerprogramm

Also Published As

Publication number Publication date
US3360688A (en) 1967-12-26
SE326229B (de) 1970-07-20
GB1130156A (en) 1968-10-09
NL6603104A (de) 1966-09-12
FR1473391A (fr) 1967-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0043001B1 (de) Feuchtigkeitsfühler und Verfahren zu seiner Herstellung
DE1490927C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Schicht Widerstandselementes unter Verwendung von Tantalmtnd
DE3705279A1 (de) Widerstand in chip-form sowie verfahren zu dessen herstellung
DE2118430A1 (de) Dickschicht Induktor mit feitomag netischem Kern
DE3785946T2 (de) Halbleiterbauelement aus positiver keramik.
DE2429434B2 (de) Verfahren zur Herstellung von Widerständen und Kondensatoren in Dunnschichtschaltungen
DE3634412A1 (de) Kondensatoranordnung und verfahren zu ihrer herstellung
EP0351004A2 (de) Nichtlinearer spannungsabhängiger Widerstand
DE2436911B2 (de) Verfahren zur herstellung von duennschicht-heissleiterelementen auf der basis von vanadiumoxidmaterial
DE4026061C1 (de)
DE1665426A1 (de) Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung
DE4317719C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines laminatartigen elektronischen Bauelements
EP0234487A2 (de) Dünnschichtschaltung und ein Verfahren zu ihrer Herstellung
DE2000099A1 (de) Neue Struktur von Duennschichthermistoren und Verwendung derselben
DE68925117T2 (de) Insbesondere für temperaturmessung gedachter thermistor und verfahren zur herstellung
DE2553763B2 (de) Verfahren zur Herstellung einer elektronischen Schaltung
DE1590786B1 (de) Verfahren zur Herstellung von Mikro-Miniatur-Schaltungen bzw.Schaltungsbauelementen
DE1615030B2 (de) Aus einer isolierunterlage mit hierauf aufgebrachten duennen tantal film aufgebaute duennfilmschaltung
DE10011009A1 (de) Thermistor mit negativem Temperaturkoeffizient
DE3619620C2 (de)
DE2534414A1 (de) Magneto-widerstand und verfahren zu dessen herstellung
DE2018116B2 (de) Verfahren zur Herstellung einer magnetischen Speicherstreifenanordnung
DE1590786C (de) Verfahren zur Herstellung von Mikro Miniatur Schaltungen bzw Schaltungsbauele menten
AT225236B (de) Verfahren zur Herstellung von abgeschlossenen Schaltungseinheiten sehr geringer Abmessungen
DE69007778T2 (de) Zusammensetzungen für niederohmige Dickschichtwiderstände und Herstellungsverfahren solcher Widerstände.