DE1665426A1 - Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents
Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner HerstellungInfo
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Description
US-Ser.No. 458,952
Filed: March 11, 1965
Filed: March 11, 1965
Radio Corporation of America., New- York, N.Y., USA
Ohmscher Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung.
Die Erfindung bezieht sich auf ohmsche Widerstände sowie
auf Verfahren zu ihrer Herstellung und insbesondere auf verbesserte
Dünnschichtwiderstände, wie sie in integrierten Schaltungen verwendet werden können.
Es besteht ein Bedürfnis, integrierte Schaltungen so klein
als möglich herzustellen und dabei doch für zeitlich und temperaturmäßig stabile Schaltelemente zu sorgen. Ohmsche Widerstände
stellen wichtige Teile solcher integrierten Schaltungen dar. Da kleine Flächen und große Genauigkeiten für die ganze
integrierte Schaltung erforderlich sind,,ist es wünschenswert,
ohmsche Widerstände mit einem hohen Widerstandswert auf möglichst
geringer Fläche herzustellen.
•Der Stand der Technik enthält zwei Verfahren zur Herstellung
von ohmschen Schaltelementen für integrierte Schaltungen.
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Man kann-nämlich ohmsche Widerstände durch Diffusion herstellen,
was allerdings nur bei monolithischen Halbleiterschaltungen möglich ist. Diese besitzen jedoch eine große Verbindungskapazität und erfordern daher eine Gegenspannung um die Kapazität
zu vermindern (amerikanische Patentschrift j5 1^8 1Jk^
vom 23. Juni 196-4·):. Man kann ferner dünne Widerstandsschichten
durch Verdampfen von Nickel-Chrom-Legierungen auf Glas oder Siliziumdioxyd herstellen, so daß' zwar wegen der Isolierschicht
eine geringe Kapazität gegenüber der Unterlage entsteht, jedoch erfordern solche Widerstandselemente eine große Fläche (amerikanische
Patentschrift j3 115. k23 vom 2k. Dezember
Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung wird ein ohmscher
Widerstand dadurch hergestellt, daß man eine Schicht aus Chrom-Vanadium auf eine Unterlage, auf der eine integrierte Schaltung
gebildet wird, aufdampft. Die Unterlage kann gewünsentenfalls
mit einer dünnen Schutzschicht aus beispielsweise Siliziumoxyd bedeckt werden.
Fig. 1 zeigt eine stark vergrößerte Aufsicht auf ein erfindungsgemäßes
ohmsches Schaltelement.
Fig. 2 zeigt einen Schnitt durch das Schaltelement nach
Fig. 1 längs der Schnittebene 2-2 gesehen.
Fig. 5 stellt eine Aufsicht auf einen Teil einer integrierten
Schaltung mit einem ohmschen Schaltelement nach Fig. 1 und
dar.
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Das im folgenden zu beschreibende ohmsehe Schaltelement
kann auf jeder Art von Unterlage angebracht werden, welche die nötige Verdampfungstemperatur der verwendeten Chrom-Vanadium-Legierungen
zu ertragen vermag. Die Zahl und Form der Anschlüsse
und die Form des ohmsehen Schaltelementes können dabei innerhalb
weiter Grenzen frei gewählt werden.
Fig. 1 und 2 zeigen eineUnterläge 1, welche mit einer
Isolierschicht 2 bedeckt ist. Die Oberfläche der Isolierschicht
braucht für die im folgenden zu beschreibenden Fabrikationsschritte nicht in irgendeiner Weise präpariert zu werden.
Die Isolierschicht 2 kann unter vielen Isolierstoffen gewählt werden, welche die bei den im folgenden zu beschreibenden Verdampfungsvorgängen
entwickelte Wärme ertragen können. Beispielsweise kann Siliziumdioxyd oder Glas als Isolierstoff dienen.
Die Isolierstoffschicht 2 wird mit Klemmen J versehen, vorzugsweise
mit Klemmen aus Aluminium, die mit Hilfe bekannter photograph!
scher Verfahren aufgebracht werden können. Es wird zu diesem Zweck eine Maske auf der Oberfläche der Schicht 2 aufgelegt,
welche diese ganze Oberfläche bedeckt mit Ausnahme derjenigen
Stellen, an denen die Klemmen -J>
angebracht werden sollen. Sodann wird auf die Scheibe Aluminium aufgedampft und es wird
dann die Maske entfernt, so daß die Klemmen j5 aus aufgedampftem Aluminium gebildet sind.
Der nächste Verfahrensschritt besteht darin, daß man eine
Maske auflegt, welche die Oberfläche 2 und die Klemmen "5 mit
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Ausnahme derjenigen Stellen bedeckt, auf denen der aktive Widerstand
4 gebildet werden soll. Die Maske ist so beschaffen, daß nach Aufdampfen·des Widerstandsmaterials die Widerstandsschicht
4 die.Klemmen j5 teilweise bedeckt, also an diese Klemmen leitend angeschlossen
is.t. Als Widerstandsmaterial kann ein durch Malen hergestelltes Pulver einer Vanadium-Chrom-Legierung oder"eine
Mischung von Vanadiumpulver und Chrompulver dienen. Dieses wird φ dann in einem Vakuum von etwa 10~ · mm Hg aufgedampft. Die Verdampfung
geschieht in einem Wolframschiffchen bei einer Temperatur zwischen 2000 und 2;5OO°C, die durch Widerstandsheizung
erzeugt werden kann. Die Pulvermischung kann aus 50 bis 90 Gew.-% Chrom und aus 50 bis 10 Gew.-% Vanadium bestehen. Ein
bevorzugtes Mischungsverhältnis besteht aus 75 Gew.-% Chrom und
25 Gew.-% Vanadium.
Während der Verdampfung wird die überzogene Oberfläche mit
den Klemmen und der aufgelegten Maske vorzugsweise in einem· tk = Abstand von ungefähr 2^ cm von dem Wolframschiffchen gehalten.
Um die Aufdampfung zu überwachen, wird ein quadratischer Monitorschieber
mit einem digitalen Ohmmeter verbunden. Das Widerstandsmaterial wird außer auf die Schicht 2 gleichzeitig und
in derselben Menge auf den Monitorschieber aufgedampft. Durch
kontinuierliche Messung des Widerstandes der Schicht, welche auf dem Monitorschieber niedergeschlagen ist,läßt sich auch der
Widerstandswert der gewünschten Widerstandsschicht ermitteln und
die Aufdampfung kann unterbrochen werden, wenn der gewünschte
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Widerstandswert erreicht ist.' Um einen Widerstand von 1000 Ohm
Je Flächeneinheit zu erreichen, muß der Aufdampfvorgang etwa
eine Minute dauern. Eine derartige Widerstandsschicht hat eine Dicke von unter 300 Angströmeinheiten, nach dem Aufdampfen kann
die Maske entfernt werden.
Die dünne metallische Widerständsschicht wird vorzugsweise
unmittelbar nach ihrer Aufdampfung mit einer Siliziumoxydschicht
abgedeckt. Diese Siliziumoxydschicht dient als ein die Oxydation
des aufgedampften Metalls verhindernder Überzug und erhöht daher die Stabilität der Widerstandsschicht.
Fig. 3 zeigt einen dünnen Schichtwiderstand 4, welcher in
eine integrierte Schaltung eingebaut ist.
Die Verunreinigungen zur Herstellung der Basis, des Emitters
und des Kollektors werden durch Eindiffundieren in eine halbleitende
Unterlage I1 eingebracht, welche ihrerseits mit einer
Isolierschicht 2' bedeckt ist. Die Anschlüsse an den Kollektor, die Basiselektrode und den Emitter, die in Fig. 3 nicht mit dargestellt
sind, werden durch die Isolierschicht 21 hindurch
mittels der Klemmen 5, β und 7 hergestellt. Es werden Verbindungs
sch! cht en 8, 9 und 10 von verhältnismäßig geringem Widerstand
auf die Oberseite der Schicht 21 aufgelegt, so daß die
Klemmen 5, 6 und 7 mit äußeren Anschlußklemmen 11 und 12 und mit
der .Widerstandsklemme 3a verbunden werden. Diese letztere Klemme
3a bildet das Ende der Verbindungsschicht 10. Die Klemmen 3a und
3b des Widerstandes 4'sind durch Verbindungsschichten 13 und 14
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mit den äußeren Anschlußstellen 1J5 und 16 verbunden.
Die erfindungsgemäßen-ohmschen Widerstände besitzen eine
Reihe von Vorteilen gegenüber den eingangs genannten bekannten Widerstandsarten. Die Chrom-Vanadium-Legierung hat einen hohen
spezifischen Widerstand, welcher es erlaubt, dünne Schichten von 1000 bis 5OOO Ohm je Flächeneinheit herzustellen, während
bei auf Glas aufgedampften Nickel-Chrom-Lagierungen nur etwa
200 Ohm je Flächeneinheit erzeugt werden konnten. Um aus diesen
letzteren Nickel-Chrom-Legierungen einen ohmschen Widerstand mit einem hohen Widerstandswert herzustellen, mußte der Film
aus der Nickel-Chrom-Legierung so dünn gemacht werden, daß er
unstabil wurde. Dies führt zu einer kleinen Fläche für den Chrom-Vanadium-Widerstand. Da ein Widerstand nach der Erfindung
nur etwa 1/6 der Fläche eines Nickel-Chrom-Widerstandes erfordert.
Wird eine erhebliche Platzersparnis erreicht.
Weiterhin hat ein Chrom-Vanadium-Widerstand einen niedrigen
negativen Temperaturkoeffizienten-von nur 50 ppm/°C und die Erfindung
schafft die Möglichkeit der Beeinflussung des negativen Temperaturkoeffizienten durch Veränderung der Aufdampfdauer
der Chrom-Vanadium-Anteile. Eine Aufdampfdauer von einer Minute
"führt zu einem Temperaturkoeffizienten von 50 ppm/°C. Eine
längere Aufdampfdauer führt zu einem höheren negativen Temperaturkoeffizienten,
da die beiden metallischen Bestandteile sich trennen können und während dieser Dauer verschieden stark
aufgedampft werden. Dies ist dann von Bedeutung, wenn die Große
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des Temperaturkoeffizienten keine Rolle spielt. Ein kleinerer
Chromanteil führt ferner zu einer Zunahme des negativen Temperaturkoeffizienten.
Eine Verminderung des Chromanteils von 75 auf 50 Gew.-$ erhöht den Koeffizienten um etwa 20 % und
eine weitere Verminderung von 50 auf 25 Gew.-fo erhöht den
Koeffizienten um etwa 400 %.
Da die Chrom-Vanadium-Widerstände während der Aufdampfung
gemessen werden können, kann ihre Größe besser überwacht werden, ^
als diejenige der eindiffundierten Widerstände, nämlich um etwa
+ 5 Ja im Gegensatz zu j- 20 %-, so daß eine höhere Fabrikationsgenauigkeit
erreichbar ist. Die Chrom-Vanadlum-Widerstände zeigen
eine hohe Betriebsstabilität j ein Widerstand von 1000 0hm je
Flächeneinheit ändert nämlich seinen Wert um weniger als 1 % bei einer Betriebsdauer von ,1000 Stunden bei 125°C und bei einer
Belastung von 200 Watt je 6,5 q.cm.
Das beschriebene Fabrikationsverfahren führt zu einer geringen
Kapazität gegenüber der Unterlage infolge der Silizium- - w
dioxydschicht, so daß also nicht mehr eine Gegenspannung wie
bei eindiffundierten Widerständen wegen einer hohen Kapazität gegenüber der Unterlage erforderlich ist. Dieser Vorteil führt
zu besseren Zeitkonstantenwerten* . .. " '
Es sei noch bemerkt, daß durch die Erfindung auch die
Fabrikationskosten nicht erhöht werden, da dieselben Aufdampf-"
gerate wie für Nickel-Chrom-Widerstände benutzt werden.
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Claims (8)
1.) Ohm'sche r Widerstand auf einer isolierenden Unterlage,
d a d αϊ r c h" - ge k e η η ζ e 1 c h η e t ,. daß er aus
Chrom und Vanadium besteht. =
2.) Widerstand :nach Anspruch 1, da du r c h gekennzeichnet >
daß er eine Dicke von weniger als J>QO
Angströmeinheiten besitzt und aus einer-Legierung von Chrom
und Vanadium besteht.
3·) Widerstand nach Anspruch 1, d a d u rc h gekennz
e i c h.n e t , daß er mit einem dünnen Überzug aus Siliziumoxyd
versehen ist, ."■;■-■ . " - - .-
4.) Verfahren zur Herstellung von Widerstanden nach Anspruch 1,
da d u ν c h g e k e η η ζ e i c h η e t >
daiS Klemmen (5) an vorgegebenen Stellen einer Unterlage hergestellt werden y
welche aus einem Isolierüberzug (2) einer Unterlage (1) besteht,
daß diese Klemmen durch Aufdampfen von Widerstandsmaterial (4) in bestimmter^Picke" und.^^in bestimmter Form miteinander
verbunden werden und daß das Widerstandsmaterial eine aus Chrom und'Vanadium bestehende Legierung, ist.
5.)_ Verfahren zur Herstellung'von Widerständen nach Anspruch 4,,
d a d u r e h .; g e k en η ζ ei c h η e t , daß der Widerstand
aus; 50. bis 70 Öew.-^ Chrom, Rest Vanadium besteht.
6.) Verfahren zur Herstellung von Widerständen nach Anspruch 4-,
dadurch gekennzeichnet , - daS die Widerstandsschicht
mit einem dünnen Überzug aus Siliziumoxyd versehen wird.
7.) Verfahren zur Herstellung von Widerständen nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß das Widerstandsmaterial
im Vakuum von etwa 10" mm Hg und bei einer Temperatur zwischen 2000° und 23000C in einer Dicke von weniger
als 300 Angströmeinheiten aufgedampft wird.
8.) Verfahren zur Herstellung von Widerständen nach Anspruch f,
dadurch gekennzeichnet, daß das Widerstandsmaterial im Vakuum für die Dauer von etwa einer Minute
aufgedampft wird.
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ι Λ ·.
Le erseite
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