DE1623087B2 - Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Reinheit eines Raumes mit geregeltem Luftzustand - Google Patents

Description

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sehen ist, die eine visuelle Auswertung der Partikel- lenkten Lichtstrahls zurückklappbar angeordneten

ablagerung ermöglicht. Reflektors 19 und einem vergrößernden, mit Meß-

Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren braucht skala versehenen Betrachtungsrohr 20 im oberen Teil

die Reinigung der Platten, bevor diese der Staub- des Gehäuses können die Art und die Größen-

partikelablagerung ausgesetzt werden, nicht mit be- 5 verteilung der Partikelablagerung geschätzt werden,

sonderer Sorgfalt durchgeführt zu werden, da man Die Lichtmeßeinrichtung 18 ist an eine elek-

die anfänglich vorhandene Ablagerung auf den tronische Schaltung 21 angeschlossen, die ebenfalls

Platten als sogenannten Grundpegel messen und sie aus dem Spannungsstabilisator 15 gespeist wird. Zu

später vom Meßergebnis der Staubablagerung auf dieser Schaltung 21 gehören eine Brücke 22 mit

den exponierten Platten wieder abziehen kann. io Oszillator, die den gemessenen Lichtstrahl 16 linear

Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind in oder nicht linear proportional in eine Spannung,

den Unteransprüchen gekennzeichnet. einen Strom oder eine Frequenz umwandelt, ein Ver-

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung stärker 23, der die lichtproportionalen Spannungen

werden im folgenden an Hand der Zeichnung be- oder Ströme verstärkt, und ein Zeigerinstrument 24,

schrieben. In den Zeichnungen zeigt 15 das an der Vorderseite des Gehäuses angeordnet ist

F i g. 1 eine perspektivische Ansicht eines solchen und aus dem Verstärker 23 gespeist wird. Das InMeßgerätes, strument24 läßt sich in Einheiten eichen, die einer

F i g. 2 eine schematische Darstellung mit Recht- bestimmten, auf der Platte 5 abgelagerten Partikeleckdiagramm zur Erläuterung des Zusammenwirkens anzahl entsprechen. Die so gemessene Ablagerung der einzelnen Bauteile des Gerätes und 20 gibt also ein Maß für die Durchschnittskonzentration

F i g. 3 eine schematische Draufsicht auf ein ab- der in der Luft des überprüften Raumes schwebengewandeltes Gerät in größerem Maßstab. den Partikeln. Ein an der Vorderseite des Gehäuses

Die in der Zeichnung dargestellte Vorrichtung ist vorgesehener Umschalter 25 zur Auswahl unterals leicht bewegliches, tragbares Gerät 1 ausgebildet, schiedlicher Meßbereiche ist mit dem Verstärker 23 welches mit einem Stecker 2 an ein elektrisches Netz 25 und dem Meßinstrument 24 so verbunden, daß angeschlossen werden kann. Zum Gerät gehört ein unterschiedlich große Staubablagerungen etwa mit lichtdichtes und im Inneren nicht reflektierendes Ge- gleicher Genauigkeit gemessen werden können. Ein häuse 3, welches sämtliche Teile des Gerätes um- Schalter 26 dient zum Ein- und Ausschalten des Geschließt. An der Vorderseite des Gehäuses befindet rätes.

sich eine öffnung 4 für einen licht- und staubdicht 30 Das Gerät kann entweder in den zur Reinheitsschließenden Schieber 6, mit dem eine dunkle bestimmung vorgesehenen Raum gebracht und dort Platte 5 aus beispielsweise Glas aus dem Gehäuse abgestellt werden, oder es wird in einer festen Zenherausgezogen und auch wieder in das Gehäuse hin- trale untergebracht, um dort die Partikelablagerung eingeschoben werden kann. Die Platte 5 hat eine be- auf Platten zu messen, die in verschiedenen Räumen sonders sorgfältig geglättete, nach oben zeigende 35 exponiert und in geschlossenen Behältern von dem Oberfläche und befindet sich bei herausgezogenem zu messenden Raum zum Gerät transportiert wurden. Schieber 6 außerhalb des Gehäuses 3, so daß dann Zu diesem Zweck kann der Schieber schleusenartig die Oberseite der Platte der Staubpartikelablagerung an den Transportbehälter anschließbar sein, so daß aus der das Gerät umgebenden Luft ausgesetzt ist. die Platte nicht der Staubpartikelablagerung im Auf-Der Schieber 6 ist mit einem Antrieb 7 verbunden, 40 Stellungsraum des Gerätes ausgesetzt wird,
der durch einen Zeitschalter ausgelöst werden kann Die abgewandelte Ausführungsform des Gerätes und die Aufgabe hat, den Schieber von der ausge- gemäß F i g. 3 unterscheidet sich von der Ausfahrenen, in gestrichelten Linien 8 angegebenen führungsform gemäß Fig. 1 und 2 im wesentlichen Stellung in das Gehäuse hineinzuziehen, wenn der dadurch, daß die Staubpartikelablagerung auf der Zeitschalter abgelaufen ist. Die Aussetzungszeit wird 45 Platte in einer Ebene aus zwei einander kreuzenden mit einem Einstellknopf 9 festgelegt, der an der Richtungen beleuchtet wird und daß ein Teil des Vorderseite des Gehäuses vorgesehen ist. Lichtes zur Partikelablagerung reflektiert wird, nach-

Um die Staubpartikelablagerung 10 auf der dem das Licht bereits die Platte passiert hat.
Platte 5 zu messen, wird die eingezogene, staub- Um einander kreuzende Lichtstrahlen zu erzeugen, beladene Platte mit einem Lichtstrahl 11 beleuchtet. 50 ist in den Lichtweg 11 zwischen dem Linsensystem Als Lichtquelle dient eine seitlich der Platte ange- 13 und der Platte 5 ein schräggestellter Reflektor 27 ordnete elektrische Projektionslampe 12, insbe- eingefügt, der einen Teil 11 b des Lichtstrahls seitlich sondere eine Niederspannungslampe. Das Licht der auf einen weiteren Reflektor 28 lenkt, der seitlich der Lampe tritt durch ein Linsensystem 13 hindurch und Platte 5 angeordnet ist, so daß dieser Teil 11 b des bildet dann hinter einer Blendenplatte 14 einen auf 55 Lichtstrahls nach innen zur Platte hinreflektiert wird die Staubpartikelablagerung 10 gerichteten konzen- und den anderen Teillichtstrahl 11 α in einer Zone trierten Lichtstrahl, der im wesentlichen parallel zur 29 der Platte kreuzt, die unmittelbar unter der Licht-Platte verläuft. Damit die Lichtquelle einen im meßvorrichtung gelegen ist. Mit Hilfe von Rewesentlichen konstanten Lichtstrahl aussendet, ist sie flektoren 30 und 31, die bezüglich der zwei Teillichtmit dem elektrischen Netz über einen Spannungs- 60 strahlen 11 α und 11 b hinter der Platte liegen, werstabilisator 15 verbunden. den die Teillichtstrahlen nach Passieren der Platte 5

Die Staubpartikelablagerung 10 lenkt einen Teil wieder zur Partikelablagerung hinreflektiert,

des Lichtstrahls 11 von der Platte 5 nach oben ab Durch eine Beleuchtung der Staubpartikeln von

und erzeugt einen diffusen Lichtstrahl 16, der ober- verschiedenen Seiten mit Hilfe sich kreuzender

halb der Platte mit einem Linsensystem 17 konzen- 65 Lichtstrahlen ergeben sich bessere Lichtverhältnisse

triert und auf eine sehr empfindliche fotoelektrische an den Staubpartikeln, so daß das Gerät exakter ar-

Lichtmeßvorrichtung 18 gerichtet wird. beitet, indem z. B. längliche Staubpartikeln un-

Mit Hilfe eines in dem Lichtschacht des abge- abhängig von ihrer Ausrichtung auf der Platte stets

auch an ihrer Längsseite beleuchtet werden. Wenn der Lichtstrahl die Platte nur aus einer Richtung erreicht, kann eine spezielle Ausrichtung der Partikeln zu unterschiedlichen Meßergebnissen führen.

Die Vorrichtung kann auch mit geeichten Lehren

oder Vergleichsnormalen versehen sein, mit denen man die Größe des gemessenen Staubes vergleichen kann. Solche Lehren werden zweckmäßigerweise in geschlossenen, schleusenartig anschließbaren Behaltern der vorgenannten Art gelagert.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

1 2 abgelagerten Staubpartikeln reflektierte Licht als Patentansprüche: Maß der auf der Platte in der Aussetzungszeit abgelagerten Partikelzahl und auch als Maß für die

1. Verfahren zur Bestimmung der Reinheit Durchschnittskonzentration der in dieser Zeit in der eines Raumes mit geregeltem Luftzustand durch 5 Raumluft schwebenden Partikeln gemessen wird.
Erfassung der Staubpartikelablagerung auf in Außerdem betrifft die Erfindung eine Vorrichtung dem Raum zu diesem Zweck abgelegten Sammel- zur Durchführung des Verfahrens mit einem lichtplatten, die für eine zuvor festgelegte Zeit der dichten und im Inneren nicht reflektierenden Ge-Staubpartikelablagerung des Raumes ausgesetzt häuse mit einer herausziehbaren Sammelplatte, einer werden, und durch anschließende Beleuchtung io Lichtquelle, einer Optik, die zur Plattenoberfläche der Staubpartikelablagerung, derart, daß von der gerichtetes Licht auf die Partikelablagerung der Staubpartikelablagerung ein Teil des Lichtes re- Platte lenkt, und einer oberhalb der Platte angeflektiert wird, wobei das von der Platte durch die ordneten hochempfindlichen Lichtmeßvorrichtung, abgelagerten Staubpartikeln reflektierte Licht als die das von der Partikelablagerung abgelenkte Licht Maß der auf der Platte in der Aussetzungszeit 15 der Lichtquelle empfängt.

abgelagerten Partikelzahl und auch als Maß für Um die Reinheit von Räumen mit geregeltem

die Durchschnittskonzentration der in dieser Zeit Luftzustand zu bestimmen, ist es bekannt, die sich

in der Raumluft schwebenden Partikeln ge- ablagernden Staubpartikeln auf Sammelplatten zu

messen wird, dadurch gekennzeichnet, sammeln, um dann anschließend die Partikelzahl auf

daß die Partikeln auf einer dunklen Platte abge- 20 einer bestimmten Fläche visuell mit einem Mikro-

lagert und mit im wesentlichen parallel zur skop zu bestimmen und den in der Luft schweben-

Plattenoberfläche gerichtetem Licht (11) be- den Staub durch Rechnung abzuschätzen. Dieses

leuchtet werden. Verfahren erfordert eine sehr große Sorgfalt beim

2. Vorrichtung zur Durchführung des Ver- Reinigen der Platten vor dem Ablegen im Raum und fahrens nach Anspruch 1 mit einem lichtdichten 25 beinhaltet unbestimmte subjektive Einflüsse, da die und im Inneren nicht reflektierenden Gehäuse eine bestimmte Mindestgröße überschreitenden Parmit einer herausziehbaren Sammelplatte, einer tikeln von Menschen in mühsamer, zeitraubender Lichtquelle, einer Optik, die zur Platten- Arbeit gezählt werden müssen.

oberfläche gerichtetes Licht auf die Partikel- Es ist ein Staubmeßverfahren bekanntgeworden,

ablagerung der Platte lenkt, und einer oberhalb 30 bei dem ein Lichtbündel von unten eine Platte

der Platte angeordneten hochempfindlichen durchdringt, auf der sich der zu messende Staub ab-

Lichtmeßvorrichtung, die das von der Partikel- gelagert hat. Eine Photozelle mißt den gesamten

ablagerung abgelenkte Licht der Lichtquelle Lichtanteil, der beim Durchtritt des Lichtes durch

empfängt, dadurch gekennzeichnet, daß die die Platte durch Brechung entsteht. Dieses Ver-

Sammelplatte (5) lichtundurchlässig ist, daß die 35 fahren hat den Nachteil, daß das Meßergebnis mit

Optik (13,14) so angeordnet ist, daß das Licht den Unsicherheiten behaftet ist, die sich durch die

im wesentlichen parallel zur Plattenoberfläche Brechung des Lichtes in der Platte ergeben und vom

gerichtet ist, und daß in Verbindung mit der Plattenmaterial und der Anordnung der Platte im

Platte (5) eine zusätzliche Optik (19, 20) vorge- Strahlengang abhängen.

sehen ist, die eine visuelle Auswertung der 40 Außerdem sind Staubmeßverfahren bekanntge-

Partikelablagerung ermöglicht. worden, bei denen ein Lichtbündel durch die staub-

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeich- haltige Luft einer bestimmten Kammer fällt und das net durch Reflektoren (27,28), die einen Teil von den Staubpartikeln unter einem bestimmten (11 b) des Lichtstrahls (11) so umlenken, daß die Winkel reflektierte Licht als Maß für die Staub-Staubpartikelablagerung (10) der Platte (5) von 45 konzentration angesehen wird. Dieses Verfahren erzwei Teillichtstrahlen (11 a, 11 b) beleuchtet laubt eine visuelle Auswertung des Meßergebnisses, wird, die in der gleichen Ebene verlaufen, aber hat aber den Nachteil, daß die Meßergebnisse einander kreuzen. Augenblickswerte darstellen. Quantitativ genaue

4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge- Messungen sind daher nicht zu erwarten, da Verkennzeichnet, daß Reflektoren (30, 31) vorge- 50 gleichswerte nur durch Integration einzelner Meßsehen sind, die die Teillichtstrahlen (11 a, 11 b) ergebnisse über einen bestimmten Zeitabschnitt zu nach Uberquerung der Platte (5) zur Partikel- erhalten sind.

ablagerung hinreflektieren. Die Erfindung bezweckt die Schaffung eines objektiven Verfahrens, mit dem die Reinheit von

55 Räumen mit geregeltem Luftzustand schnell und

zeitsparend bestimmt werden kann, und ferner auch

einer Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens. Das erfindungsgemäße Verfahren ist da-

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestim- durch gekennzeichnet, daß die Partikeln auf einer

mung der Reinheit eines Raumes mit geregeltem 60 dunklen Platte abgelagert und mit im wesentlichen

Luftzustand durch Erfassung der Staubpartikel- parallel zur Plattenoberfläche gerichtetem Licht be-

ablagerung auf in dem Raum zu diesem Zweck ab- leuchtet werden.

gelegten Sammelplatten, die für eine zuvor festge- Die Vorrichtung zur Durchführung dieses Verlegte Zeit der Staubpartikelablagerung des Raumes fahrens ist dadurch gekennzeichnet, daß die Sammelausgesetzt werden, und durch anschließende Be- 65 platte lichtundurchlässig ist, daß die Optik so angeleuchtung der Staubpartikelablagerung, derart, daß ordnet ist, daß das Licht im wesentlichen parallel von der Staubpartikclablagerung ein Teil des Lichtes zur Plattenoberfläche gerichtet ist, und daß in Verreflektiert wird, wobei das von der Platte durch die bindung mit der Platte eine zusätzliche Optik vorge-