DE161761C - - Google Patents
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE161761T | 1904-07-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE161761C true DE161761C (ja) | 1905-07-18 |
Family
ID=33557900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1904161761D Expired DE161761C (ja) | 1904-07-26 | 1904-07-26 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE161761C (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4860259A (en) * | 1986-01-21 | 1989-08-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dram with reduced-test-time mode |
-
1904
- 1904-07-26 DE DE1904161761D patent/DE161761C/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4860259A (en) * | 1986-01-21 | 1989-08-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dram with reduced-test-time mode |
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