DE1547230C - Zusatzgerat zur Auswertung von Spek tralplatten - Google Patents

Description

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Die Erfindung bezieht sich auf ein Zusatzgerät zur des Kurvenfolgers und dessen Jf-Eingang mit der Auswertung von Spektralplatten. X-Verstellung des Mikrodensitometers verbunden ist,

Die Schwärzung S einer photographischen Platte so daß der Schreiber eine Kurve liefert, aus der die ist eine nichtlineare Funktion der Intensität /, der die der Platte aufgeprägte Intensität / in Abhängigkeit Platte ausgesetzt wurde. Für eine gegebene Wellen- 5 von der Wellenlänge λ hervorgeht,
länge, eine bestimmte Belichtungszeit und gut definierte Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform dieses

Entwicklungsbedingungen usw. gilt im mittleren Gerätes wird die Eichkurve in logarithmischem Maß-Bereich der Schwärzungsskala: S ~ log/; außer- stab in den Kurvenfolger gegeben und man erhält auf halb dieses Bereiches wird S eine sehr komplizierte dem Schreiber eine Kurve für log / = /(/I).
Funktion von /. Der nichtlineare Verlauf der Schwär- io Durch Anfügen eines Integrators kann man den zungskurve macht die quantitative Auswertung von Wert für das Integral / J(X) άλ in Abhängigkeit von Spektralplatten zu einer sehr langwierigen Arbeit. der Verschiebung des Mikrodensitometers erhalten;

Es sind verschiedene Hilfs- oder Zusatzgeräte be- dieser Integrator wird mit dem vom Kurvenfolger kannt, die an ein Mikrodensitometer angeschlossen abgegebenen Intensitätssignal verbunden und liefert werden können und mit denen die Schwärzung auto- 15 den Wert dieses Integrals zum Γ-Eingang eines matisch in Intensitätswerte umgewandelt werden kann. zweiten Xy-Schreibers, dessen ΛΓ-Eingang das der So ist bereits eine Vorrichtung bekannt, bei der eine Verschiebung Δ λ des Mikrodensitometers längs der der Schwärzungskurve entsprechende Schablone als Spektralplatte entsprechende Signal empfängt.
Bezug oder Leitfunktion benutzt wird. - Die Figuren zeigen zwei Ausführungsbeispiele der

Nach einer anderen bekannten Arbeitsweise nimmt 20 Erfindung, und zwar

man auf der Platte gleichzeitig mit dem Haupt- F i g. 1 ein Schema für das Prinzip einer Ausspektrum ein Vergleichsspektrum auf. Die Intensität führungsform des Gerätes für den Fall, daß der Verder Linien dieses Vergleichsspektrums wird durch lauf der (Spektral)Linie in logarithmischem Maßstab Zwischenschaltung eines Schwächungselementes (wie registriert werden soll,

etwa eines Graukeils) bekannter Charakteristik ge- 35 F i g. 2 ein Schema für das Prinzip des Gerätes für schwächt. Durch Verwendung von zwei Mikrodensito- den Fall, daß der Verlauf in linearem Maßstab metern (eines für das Hauptspektrum und eines für das registriert werden soll, mit gleichzeitiger Darstellung Vergleichsspektrum) kann man die Schwärzung direkt des Integrals / J(X) άλ auf einem zweiten Schreiin Intensität umwandeln. . ber;

Bekannt ist auch eine Vorrichtung, bei der die ver- 30 Fig. 3 zeigt ein vom Mikrodensitometer gewendete Eichkurve durch eine große Anzahl von liefertes Densitogramm f ür die Linie Hot (λ — 6563 A); Potentiometern (beispielsweise 18 Stück) elektrisch Fig. 4 und 5 zeigen den Intensitätsverlauf der

erzeugt wird. Wenn man schließlich über einen Lime in logarithmischem Maßstab und in linearem Elektronenrechner verfügt, kann man die durch das Maßstab und

Mikrodensitometer gelieferten Schwärzungswerte auf 35 F1 g. 6 die Registrierkurve nach Integration über Lochkarten oder Bänder geben und die Auswertung die Linie gemäß F i g. 5: Während der Integration dem Rechner überlassen. - schreibt das Registriergerät die gezeigte Kurve; die

Unsold empfiehlt in der Abhandlung »Physik Endhöhe h gibt den Wert des Integrals / J(X) άλ über der Sternatmosphären«, 2. Auflage, 1955, S. 244, die die gesamte Linie.

Verwendung vorgezeichneter Schwärzungskurven in 40 Das Gerät wurde für den Anschluß an ein registrieeinem an das Mikrodensitometer angeschlossenen rendes Mikrodensitometer 1 entwickelt. Die vom Zusatzgerät, die mit einer photoelektrischen Zelle Mikrodensitometer in Abhängigkeit von der Wellenabgetastet werden. länge λ gelieferten Werte für die Schwärzung werden Diese Literaturstelle gibt jedoch keine Lehre dafür, für die Auswertung in Form eines elektrischen Signals wie ein solches Zusatzgerät mit dem Mikrodensito- 45 benötigt. Dazu baut; man in das Mikrodensitometer meter und einem Registriergerät zu koppeln ist, um zwei Präzisionspotentiometer ein, und zwar das eine intensitätslineare Kurven zu erhalten. für die Verschiebung des Tisches bzw. Schlittens Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein (x-Achse) und das andere für die Verschiebung des Zusatzgerät zur Auswertung von Spektralplatten zu Schwächungselementes Cv-Achse), wobei die Potentioschaffen, das eine direkte Registrierung des Inten- s° meter an eine Quelle konstanter elektrischer Spannung sitätsverlaufs / — f(X) mit einem an sich bekannten angeschlossen sind.

ΛΎ-Schreiber erlaubt. Das Schwächungselement in dem Mikrodensito-

Die Erfindung betrifft somit ein Zusatzgerät zur meter verschiebt sich je nach Schwärzung der Platte; Auswertung von Spektralplatten, das direkt an ein im allgemeinen ist diese Verschiebung direkt proregistrierendes Mikrodensitometer angeschlossen wer- 55 portional zur Schwärzung. Man erhält mithin die den kann, welches die Schwärzung S der Platte in Funktion S = /(X) vom Mikrodensitometer in Form Abhängigkeit von ihrer Lage auf der Platte bestimmt eines elektrischen Signals!

und mithin das S in Abhängigkeit von λ in Form Zur Aufzeichnung des Intensitätsverlaufs der Linie

eines elektrischen Signals liefert, das gekennzeichnet in logarithmischem Maßstab wird die Auswertung ist durch einen elektrischen Kurvenfolger, der eine 60 gemäß F i g. 1 vorgenommen. Das Schwärzungsmit Leitfähigkeitstinte vorgezeichnete Eichkurve ent- signal S wird auf den Jf-Eingang des Kurvenfolgers 2 hält, die der Gradationskurve des verwendeten gegeben. Wenn man in den Kurvenfolger die Eich-Materials entspricht und dessen A'-System mit dem kurve 3 in logarithmischem Maßstab eingibt, folgt Schwärzungssignal S des Mikrodensitometers aus- der (nicht gezeigte) Detektor dieser Kurve und gibt gesteuert wird, so daß sein y-System ein Signal 65 an das y-System ein der Funktion log / = /(S) entliefert, das gleich der Übertragung der Schwärzungs- sprechendes Signal.

wertet in Intensitätswerte ist; und durch einen Dieses Signal wird dann auf den y-Eingang eines

ΑΎ-Schreiber, dessen K-Eingang mit dem Ausgang ΛΎ-Schreibers 4 gegeben. Dieser Xy-Schreiber emp-

fängt gleichzeitig am JSf-Eingang das der Verschiebung des Tisches bzw. Schlittens entsprechende Signal.

Man erhält somit auf dem Schreiber eine Kurve für die Funktion log / = /(λ).

Um den Verlauf in linearem Maßstab zu erhalten, und die Integration über J(X) nach άλ vornehmen zu können, wird die Auswertung gemäß F i g. 2 vorgenommen. Zu diesem Zweck gibt man in den Kurvenfolger 2 eine Eichkurve 5 in linearem Maßstab. Der JSTF-Schreiber 4 gibt dann die Intensität in linearem Maßstab in Abhängigkeit von Δ λ bzw. der Verschiebung des Densitometertisches wieder.

Um den Wert des Integrals zu erhalten, gibt man die Werte von / in einen Integrator 6, der das Integral / J(X) at bildet.

Wenn die Verschiebungsgeschwindigkeit des Densitometertisches konstant ist, gilt: at ~ άλ.

Der Integrator 6 liefert also einen Wert proportional zu / J(X) άλ.

Dieser Wert wird an einen XF-Schreiber 7 weitergegeben. Der X-Eingang dieses Schreibers empfängt ein Signal entsprechend der Verschiebung des Mikrodensitometertisches. In dieser Weise erhält man die Funktion / J(X) άλ.

Die F i g. 3 bis 6 zeigen die Möglichkeiten der Registrierung mit dem Gerät.

F i g. 3 zeigt ein Densitogramm der Linie Ha (λ = 6563 A)₃ die vom Mikrodensitometer geliefert wird. Diese Linie wurde bei gepulster elektrischer Entladung in Wasserstoffgas erhalten. Vor der Zündung der Entladung wurde in axialer Richtung ein magnetisches Feld von einigen Kilo-Gauß überlagert. Man erhält damit Spektrallinien, die durch das im Plasma vorliegende intermolekulare elektrische Feld verbreitet sind (Starkeffekt) sowie durch das überlagerte magnetische Feld (Zeemaneffekt). Auf der Spektralplatte sieht man eine leichte Verbreitung der Linie durch den Zeemaneffekt, aber auf der vom Mikrodensitometer gelieferten Schwärzungskurve sieht man praktisch keinerlei Verformung der Linie.

Auf der gleichen Platte wurden Schwärzungsstufen aufgenommen, mit deren Hilfe die Schwärzungskurven in logarithmischem und linearem Maßstab aufgezeichnet werden konnten.

Diese Kurven wurden in den Kurvenfolger gegeben, und die in logarithmischem und linearem Maßstab erhaltenen Intensitätsprofile der Linie sind in F i g. 4 und 5 wiedergegeben. Die Kurve F i g. 4 ist praktisch regelmäßig, während die Kurve F i g. 5 mehr Einzelheiten in der Linienmitte zeigt, und zwar eine nicht verschobene zentrale Komponente und den Beginn der Auflösung bzw. Absonderung von zwei seitlichen Komponenten bedingt durch den Zeemaneffekt im Bereich des Überganges von anomal nach mormal.

Es muß besonders betont werden, daß eine Auflösung der in F i g. 5 gezeigten Einzelheiten bei einer Auswertung der Kurve S mit üblichen Mitteln niemals hätte erreicht werden können.

Die F i g. 6 zeigt die Registrierkurve nach Integration über die in F i g. 5 gezeigte Linie. Die Ordinate h der Kurve am Ende des Registriervorganges ist direkt gleich dem Wert des Integrals / J(X) άλ über diese Linie.

Das erfindungsgemäße Gerät erleichtert außerordentlich die Auswertungsarbeit speziell beim Vorliegen zahlreicher von einer Entladung herstammender Platten, die unter gleichen Belichtungs- und Entwicklungsbedingungen erhalten wurde. Darüber hinaus können sehr viel detailliertere und genauere Ergebnisse erzielt werden als mit bekannten Auswertungsgeräten.

Claims (3)

Patentansprüche:

1. Zusatzgerät für die Auswertung von Spektralplatten, das direkt an ein registrierendes Mikrodensitometer angeschlossen werden kann, welches die Schwärzung S der Platte in Abhängigkeit von ihrer Lage auf der Platte bestimmt und mithin das S in Abhängigkeit von λ in Form eines elektrischen Signals liefert, gekennzeichnet durch einen elektrischen Kurvenfolger (2), der eine mit Leitfähigkeitstinte vorgezeichnete Eichkurve (3) enthält, die der Gradationskurve des verwendeten Materials entspricht und dessen JJf-System mit dem Schwärzungssignal S des Mikrodensitometers (1) ausgesteuert wird, so daß sein F-System ein Signal liefert, das gleich der Übertragung der Schwärzungswerte S in Intensitätswerte ist; und durch einen XF-Schreiber (4), dessen F-Eingang mit dem Ausgang des Kurvenfolger (2) und dessen ^-Eingang mit der .Sf-Verstellung des Mikrodensitometers (1) verbunden ist, so daß der Schreiber (4) eine Kurve liefert, aus der die der Platte aufgeprägte Intensität/ in Abhängigkeit von der Wellenlänge λ hervorgeht.

2. Zusatzgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Eichkurve (3) in den Kurvenfolger (2) in logarithmischem Maßstab eingegeben wird und dieser mithin eine Kurve für log / = f(X) liefert.

3. Zusatzgerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Integrator (6), der an den Ausgang für das vom Kurvenfolger (2) gelieferte Intensitätssignal angeschlossen ist und den Wert des Integrals / J(X) άλ für den Y- Eingang eines zweiten ΛΎ-Schreibers (7) liefert, dessen X-Eingang mit der X-Verschiebung des Mikrodensitometers (1) längs der Spektralplatte verbunden ist.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen