DE1514810B2 - - Google Patents
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
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- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/72—Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
- H01L29/73—Bipolar junction transistors
Description
dene Isolierschicht, vorzugsweise eine Oxydschicht, 55 Die fertige Anordnung zeigt die F i g. 4. Mit 1 ist
aufgebracht werden. wieder der Halbleiterkörper und mit 2 die auf der
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im Halbleiteroberfläche befindliche Oxydschicht befolgenden
an Hand der Fig. 1 bis4 näher erläutert. zeichnet. Die Basiszone3 wird durch die gestrichel-
Die F i g. 1 bis 4 zeigen die Verfahrensschritte der ten Linien 8 und 9 begrenzt. In die Basiszone 3, die
Herstellung eines Planartransistors nach der Erfin- 60 durch die Basiselektrode 7 sperrfrei kontaktiert ist,
dung, bei dem sowohl die Basis- als auch die ist die Emitterzone 4 eingebracht. Das Isolierstoffpo-Emitterzone
Mäanderform aufweisen. Zur Herstel- dest5 für die Emitterleitbahn 13 hat als Begrenlung
einer mäanderförmigen Basiszone wird, vgl. zungslinie die Linie 10, während das Isolierstoffpo-Fig.
1, der Halbleiterkörper 1 des Planartransistors dest6 für die Basisleitbahn 12 durch die Linie 11 bemit
einer Oxydschicht 2 versehen, in die mit Hilfe 65 grenzt wird. Die kammförmig ineinandergreifenden
einer Photolackätzung eine mäanderförmige Ausspa- Emitter- und Basiselektroden sind voneinander
rung entsprechend der Mäanderform der Basiszone durch den schmalen Bereich 14 der Basiszone 3 geeingebracht
wird. Durch dieses Diffusionsfenster trennt.
Hierzu 2 Blatt Zeichnunsen
Claims (4)
1. Planartransistor, bei dem in den Halbleiter- oder auch langer sein. An Stelle einer mäanderförmikörper
die Basiszone und in die Basiszone die 5 gen Aussparung können jedoch auch viele einzelne
Emitterzone eingebracht ist, dadurch ge- Diffusionsfenster, die sich in einer Mäanderlinie ankennzeichnet,
daß die Basiszone (3) einanderreihen, verwendet werden,
mäanderförmig ausgebildet ist. Während oder nach dieser Basisdiffusion wird er-
mäanderförmig ausgebildet ist. Während oder nach dieser Basisdiffusion wird er-
2. Planartransistor nach Anspruch 1, dadurch neut oxydiert, so daß das Basis-Diffusionsfenster vergekennzeichnet,
daß die Emitterzone (4) mäander- io schwindet und ein Emitter-Diffusionsfenster hergeförmig
ausgebildet ist. stellt werden kann. In dieses Emitter-Diffusionsf en-
3. Planartransistor nach Anspruch 1 oder 2, ster wird nun, vgl. F i g. 2, die ebenfalls mäanderfördadurch
gekennzeichnet, daß die Emitter- und mige Emitterzone 4 eindiffundiert.
die Basiselektrode (7) kammförmig ausgebildet Die Emitter- und die Basiszone werden durch von
sind und mit ihren Kammzähnen ineinandergrei- 15 Leitbahnen gebildete Elektroden kontaktiert. Leitfen.
bahnen werden zur Kontaktierung stets dann ver-
4. Planartransistor nach Anspruch 3, dadurch wendet, wenn die Kontaktstellen sehr klein sind und
gekennzeichnet, daß die Emitterleitbahn (13) und nicht mehr durch Drähte kontaktiert werden können,
die Basisleitbahn (12) auf kammförmigen Isolier- Vor der Herstellung der Leitbahnen werden, vgl.
Stoffpodesten (5, 6) aufgebracht sind. 20 Fig. 3, auf die auf der Halbleiteroberfläche vorhandene
Oxydschicht 2 kammförmig ineinandergreifende
Isolierstoffpodeste 5,6 aufgebracht, die zur Verringerung
der Kapazitäten zwischen der Halbleiterober-
Die Erfindung betrifft einen Planartransistor, bei fläche und den Leitbahnen dienen. Das kammförmig
dem in den Halbleiterkörper die Basiszone und in die 25 ausgebildete Isolierstoffpodest 5 dient dabei zur Kon-Basiszone
die Emitterzone eingebracht ist. taktierung der Emitterzone 4, während das Isolier-
Bei den bekannten Planartransistoren weist die Stoffpodest 6 zur Kontaktierung der Basiszone 3 vorBasiszone
eine Rechteck- oder eine Kreisform auf. gesehen ist. Die Isolierstoffpodeste 5,6, die beispiels-Solche
Planartransistoren haben eine relativ hohe weise aus Siliziumoxyd bestehen, können durch Auf-Basis-Kollektorkapazität.
Der Erfindung liegt die 30 dampfen erzeugt werden. Im Ausführungsbeispiel ist
Aufgabe zugrunde, einen Planartransistor so auszu- die Basiszone 3 durch die sperrfreie Basiselektrode 7
bilden, daß die Basis-Kollektorkapazität bei gleichen kontaktiert.
Abmessungen des Halbleiterkörpers verringert wird. Nach den Isolierstoffpodesten 5,6 werden die
Zur Lösung dieser Aufgabe ist bei einem Planartran- Emitterleitbahn 13 und die Basisleitbahn 12 hergesistor
nach der Erfindung die Basiszone mäanderför- 35 stellt. Zu diesem Zweck wird auf die Halbleiterobermig
ausgebildet. fläche eine Photolackschicht aufgebracht, die an den-
Es ist bekannt, die Emitter- und die Basiszone jenigen Stellen belichtet wird, an denen die noch aufeines
Planartransistors durch kammförmige Elektro- zubringende Metallschicht später in Leitbahnen aufden
zu kontaktieren. Die Kammzähne der Emitter- getrennt werden soll. Dadurch entsteht beim Entwik-
und der Basiselektrode greifen dabei ineinander. 40 kein nach den bekannten Photolackverfahren in der
Bei einem Planartransistor nach der Erfindung ist Photolackschicht das für die Leitbahnen vorgesehene
es von Vorteil, neben der Basiszone auch die Emitter- Muster. Im Anschluß daran wird auf die Photolackzone
mäanderförmig auszubilden. Die Kontaktierung schicht eine zusammenhängende Metallschicht aufgeder
Basis- und der Emitterzone erfolgt vorzugsweise dampft, aus der die Emitter- und die Basisleitbahn
durch ineinandergreifende kammförmige Elektroden, 45 durch Entfernen des restlichen Teils des Photolacks
die dem Mäanderverlauf folgen. Diese kammförmige mit den auf diesen befindlichen Teilen der Metall-Kontaktierung
hat den Vorteil, daß Elektroden mit schicht hergestellt werden. Es kann aber auch in an
kleinen Widerständen und Kapazitäten hergestellt sich bekannter Weise zunächst (ohne Photolackwerden
können. schicht) eine zusammenhängende Metallschicht auf-
Die Kapazität zwischen der Emitter- und der Basis- 50 gedampft werden. Mit Hilfe einer — zum vorher Geelektrode
und den Halbleiterzonen kann bei einem sagten negativen — Photomaskierung und eines Ätz-Planartransistor
nach der Erfindung durch die Ver- prozesses läßt sich ebenfalls die zusammenhängende
wendung von Isolierstoffpodesten verringert werden, Metallschicht in die Emitter- und die Bäsisleitbahn
die zusätzlich auf die bei Planartransistoren vorhan- auftrennen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19511514810 DE1514810A1 (de) | 1951-01-28 | 1951-01-28 | Halbleiteranordnung |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19511514810 DE1514810A1 (de) | 1951-01-28 | 1951-01-28 | Halbleiteranordnung |
DET0028417 | 1965-04-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1514810A1 DE1514810A1 (de) | 1969-11-06 |
DE1514810B2 true DE1514810B2 (de) | 1974-04-18 |
Family
ID=25752598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19511514810 Pending DE1514810A1 (de) | 1951-01-28 | 1951-01-28 | Halbleiteranordnung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1514810A1 (de) |
-
1951
- 1951-01-28 DE DE19511514810 patent/DE1514810A1/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1514810A1 (de) | 1969-11-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
SH | Request for examination between 03.10.1968 and 22.04.1971 |