DE1465702A1 - Verfahren zur Haltbarmachung eines schwer schmelzbaren duennschichtigen Metallwiderstandes - Google Patents

Verfahren zur Haltbarmachung eines schwer schmelzbaren duennschichtigen Metallwiderstandes

Info

Publication number
DE1465702A1
DE1465702A1 DE19631465702 DE1465702A DE1465702A1 DE 1465702 A1 DE1465702 A1 DE 1465702A1 DE 19631465702 DE19631465702 DE 19631465702 DE 1465702 A DE1465702 A DE 1465702A DE 1465702 A1 DE1465702 A1 DE 1465702A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
metal
layer
thin
diffusion
resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19631465702
Other languages
English (en)
Inventor
Maissel Leon I
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of DE1465702A1 publication Critical patent/DE1465702A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/14Metallic material, boron or silicon
    • C23C14/18Metallic material, boron or silicon on other inorganic substrates
    • C23C14/185Metallic material, boron or silicon on other inorganic substrates by cathodic sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/58After-treatment
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/58After-treatment
    • C23C14/5806Thermal treatment
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/58After-treatment
    • C23C14/5893Mixing of deposited material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/06Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12771Transition metal-base component
    • Y10T428/12806Refractory [Group IVB, VB, or VIB] metal-base component
    • Y10T428/12819Group VB metal-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12771Transition metal-base component
    • Y10T428/12861Group VIII or IB metal-base component
    • Y10T428/12868Group IB metal-base component alternative to platinum group metal-base component [e.g., precious metal, etc.]

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Description

IBM Deutschland Internationale Bürv-Matchinen GflUchaft mbH
Böblingen, 3. JuM 1968/ki-sch
Anmelder in:
Amtl. Aktenzeichen:
Aktenz. der Anmelderin:
International Business Machines Corporation, Armonk, N. Y. 10 504
P 14 65 702.4 (J 23 544) Docket 14 005
Verfahren zur Haltbarmachung eines schwer schmelzbaren dünnschichtigen M etallwider Standes
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Haltbarmachen einer schwer schmelzbaren, dünnen Metallschicht bei Dünnschichtwiderständen.
In allen Zweigen der Industrie besteht z. Zt. das erhöhte Bestreben, die Grolle und das Gewicht der elektronischen Einrichtungen zu verringern. Eine dieser Bestrebungen liegt auf dem Gebiet der dünnen Schichten. Passive Elemente, wie Widerstände und Kondensatoren, von elektronischen mikrominiaturisierten Netzwerken können auf geeigneten Trägern gebildet werden. Schwer schmelzbare Metallschichten, wie beispielsweise Tantal, Wolfram, Rhenium und Titan sind für ihre hohen Glühtemperaturen bekannt. Diese Eigenheit hat maßgeblich angeregt, diese Metalle für Dünnschichtwiderstände zu benutzen.
8 0981 2/0952
.^-.ur/;;3:s.v. 4. C.
Neue Anmeldungsunterlagen
2- . 1Λ65702
. Der Widerstand der abgelagerten schwer schmelzbaren dünnen Metallschicht verringert sich jedoch bei der Zunahme der Erwärmung an der Luft mit ständig abnehmendem Ausmaß für eine beträchtliche Zeit. Dieses Problem ist teilweise den in die schwer schmelzbare Metallschicht bei dessen Ablagerung eingedrungenen Spuren von Sauerstoff und Wasserdampf und teilweise dem in die Korngrenzlinien der Metallschicht eingedrungenen atmosphärischen Sauerstoff zuzuschreiben, wok durch eine Oxydation hervorgerufen wird. Die Oxydation des schwer schmelzbaren Metalles in den Korngrenzlinienbereichen der dünnen Schicht erhöht den Widerstand des Filmes. Dies wird dem in der abgelagerten schwer schmelzbaren Metallschicht bei dessen Absetzung eingeschlossenen Sauerstoff und Wasserdampf zugeschrieben, trotz des Spülens der Vakuumkammer und der indifferenten Luft oder des während des Kathodenzerstäubungs- oder Vakuumverdampfungs-Verfahrens verwendeten evakuierten Raumes. Die Bildung und Haltbarmachung der schwer schmelzbaren dünnen Metallschicht kann nur durch eine lang anhaltende Periode der Erhitzung bewerkstelligt werden. Der endgültige Dünnschichtwider- etandewert ist jedoch nicht im voraus bestimmbar.
Ee ist daher die Hauptaufgabe der Erfindung, ein sicheres und einfaches Verfahren zur Herstellung eines einwandfreien, stabilen, aus einer dünnen Schicht eines schwer schmelzbaren Metalles bestehenden Widerstandes zu schaffen. Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß auf einen Träger in der nachstehenden oder umgekehrten Reihenfolge eine dünne Schicht eines schwer schmelzbaren Metalles mittels des an sich bekannten Kathodenzerstäubungsoder Vakuumverdampfungs-Verfahrens und eine dünne Diffusions schicht aus
809812/0952 BAD original
Heue
Edelmetall oder einer innigen Mischung desselben mit dem zuerst genannten, schwer schmelzbaren Metall abgelagert werden und in an sich bekannter Weise im Vakuum eine Diffusion der Diffusions schicht bis in die Korngrenzlinien des schwer schmelzbaren Metalles erfolgt. Nach der Erfindung hergestellte Widerstände sind auch nach ihrer Erhitzung für lange Zeitperioden beständig. Die Stabilisierung dieser Widerstände ist hierbei rasch und sauber ausführbar und ist besonders für die Großserienherstellung geeignet. \
Es ist zwar ein Verfahren zum überziehen eines Metalls mit einem anderen Metall nach dem Diffusionsverfahren bekannt, doch mit diesem Verfahren allein ist die erfindungsgemäße Aufgabe nicht lösbar.
Weitere Merkmale der Erfindung ergeben eich aus den Ansprüchen.
Einzelheiten der Erfindung sind nachstehend an Hand von in den Figuren ve ran- , echaulichten Ausführungsbeispielen erläutert. Es zeigen:
809812/0952
Neue Anmeldungsunterlagen
Fig. 1 einen erfindungsgemäßen Dünnschichtwiderstand in schaubildlichor Darstellung mit eingezeichneten Korngrenzlinien innerhalb eine« schwer echmalzbaren Metallee,
Fig. ι, 3, 4 ander« Ausführungebeispiele des erfindungsgemäßen Dann-Schichtwiderstandes in einer Er zeugungs-Zwischenstufe in schaubildlicher Darstellung, .
Fig. 5 eine graphische Darstellung zur Bestimmung der optimalen * Menge des im Stabilisierungeverfahren verwendeten Diffun-
dierungsmaterialee, .
Flg. 6 eine graphische Darstellung sum Vergleich der erforderlichen'
Zeit far die Stabilisierung eines unbeechickten Tantal-Dünnschi ent -wideretandes gegenüber einem mit Gold beschickten Tantal-Dünn-β chi cht widerstand gomäO dem in der Fig. 2 dargestellten Ausföhrungebeispiel und
Fig. ? eine graphische Darstellung zum Vergleich der erforderlichen Zeit far cito Stabilisierung eines unbeschikten Tantal »Dünnschichtwiderstandee gegenüber einem nach dem Ausführungsbeispiel gemäQ der Fig. 3 erzeugten mit QoId beschickten Tantel-Dünnschicht- ^ widerstand.
In der Fig. 1 ist eine dünne Schicht eines schwer schmelzbaren Metallwiderstandes dargestellt, dessen Korngrenzlinien 14 mit einem Dlffundierungexnetall, wie Gold, Silber« Paladium oder Platln,gefüllt sind. Die schwer schmelibare Metallschicht 12 wurd· durch eines der üblichen Niederschlagverfahren, z.B. durch Kathoden-Zerstäubung oder Vakuumverdampfung, / auf einem Träger 10 nieder go schlagen. Der Träger 10 muß hohe elektrische Isolierung und mechanische Festigkeit und ein gutes mechanisches Bindungevermögen mit der auf ihn abzulagernden Metallschicht aufweisen. Derartige Trager sind beispielsweise gegen Chemikalien beständige Glaser mit hoher Reinheit und bestimmte Keramikarten.
809812/0952. bad Original
AnmeldungsuiiterlGgen
Die schwer schmelzbare Metall -Wider Standeschicht wird auf dem Träger durch das für das bestimmte Metall am besten geeignete Verfahren, z.B. mittels Kathodenzerstäubung oder Vakuumverdampfung, kondensiert. Metalle mit niedrigen Dampfdrücken, wi* beispielsweise Tantal« werden zweckdienlich durch Kathodenzerstäubung abgelagert. Andere Metalle mit höheren Dampfdrücken« wie beispielsweise Titan, werden auf dem Träger durch Vakuumverdampfung zufriedenstellend kondensiert.
Xm Anschluß an die Ablagerung des schwer schmelzbaren Metalles durch Kathodenzerstäubung oder Vakuumverdampfung wird in das Metall ein Diffusionsmetall diffundiert zwecks Füllung der Korngrenzlinien. Die Menge des Diffusionsmaterialee muß so groß sein, daß das Material beim Diffundieren in das schwer schmelzbare Metall die Korngrenzlinien im wesentlichen ausfüllt. Wenn eine zu große Menge verwendet wird« diffundiert das Diffusionsmetall in Stellungen heraus und es ergibt sich eine Schicht des Diffuaionsmetalles auf der Oberfläche des Dünnschicht-Widerstandes. Wenn zu wenig Diffusionsmetall verwendet wird, würde das Ziel der Erfindung»nämlich die Stabilisierungszeit eines Dünnschicht-Widerstandes zu verringern, nicht erreicht werden.
Die Fig. 2 zeigt eine Aueführungsform, bei welcher eine Ablagerung des schwer schmelzbaren Metalles 16 auf dem Träger 10 in der Vakuumkammer einer Kathodenzerstäubungs- oder Vakuumverdampfungs-Einrichtung vorgenommen wurde. Die Ablagerung erfolgt in der zur Erzeugung des gewünschten Widerstandswertes erforderlichen Dicke. Hierauf wird eine Schicht eines Diffusionsmetalles 13 von optimaler Stärke über dem schwer schmelzbaren Metallfilm ohne Unterbrechung des Vakuums durch dasselbe Verfahren abgelagert, durch welches das schwer schmelzbar· Metall abgesetzt wurde. Dl« Schicht 18 ist dann die Diffusionsquelle. '
809812/0952
.Anmeldungsunterlagen
Die in der Fig. 3 dargestellte Ausführungsform wird durch die Ablagerung einer aus dem schwer schmelzbaren Metall bestehenden Schicht 20 auf dem Träger 10 vorbereitet. Eine Schicht des Diffusions metalles 21 mit
optimaler Dicke wird unter Aufrechterhaltung des Vakuums in der Absetzkammer Ober der schwer schmelzbaren Metallschicht 20 abgelagert. Die schwer schmelzbare Metallschicht 22 wird über der Schicht des Diffusionsmetalles mit einer Dicke abgelagert, die notwendig ist, um den kombinierten Schichten 20, 22 den gewünschten Widerstandswert zu geben.
Die Verwendung dieser geschichteten Diffusionsquelle hat einige wichtige Vorteile und ist daher eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung. Ee besteht hier ein kleinerer Abstand für die Bewegung des diffundierenden Metallee» so daß die Korngrenzlinien früher als bei der Ausführungsform der Fig. 2 gefüllt sind. Der in der schwer schmelzbaren Metallschicht eingeschlossene Sauerstoff und Wasserdampf hat daher weniger Zeit, um in die Korngrenzlinienbereiche zu wandern und dort eine Oxydation zu verursachen. Außerdem diffundiert das Diffusionsmetall teilweise in den schwer schmelzbaren Metallkörper» während der zweite Film 22 abgelagert wird.
' Die in der Fig. 4 dargestellte Ausführungsform verwendet eine unterlegte Diffusionsmetallquelle 26. Eine Schicht 24 ist erforderlich« wenn das Diffusionsmetall derart ist, daß es nicht gut am verwendeten Träger anhaftet. Wismut-Oxyd ; könnte als Schicht 24 verwendet werden, wenn beispielsweise der Träger 10 aus Glas besteht und die Diffusionsmetall-Schicht 26 Gold ist. Die Diffusionsmetallquelle 26 wird dann über dem Träger direkt oder wenn notwendig über der Schichtung abgesetzt und die schwer schmelzbare Metallschicht 28 darüber abgelagert.
Eine weitere Ausführungsform,welche in den Zeichnungen nicht dargestellt ist, ist die Ablagerung einer homogenen Schicht des schwer schmelzbaren
809812/0952
und doa diffundierenden Metalle«. Dioe wird durch die Verwendung einer Ablagerungequelle, as. B. der Kathode im Kathodenzorstaubungeverfahren, bewerkstelligt, die eine Mischung der erforderlichen Metalle In den optimalen Proportionen lot. Da das Diflusionemetall gleichmäßig fiber die ganze schwor schmelzbare Metallschicht verteilt ist« ist die Strecke der Bewegung dee diffundierenden Metalles zu den Korngrenzlinien wahrend des Diffusionaschrittes kurz. Der schwer schmelzbare Metallwiderstand kann dann raech gebildet werden.
Die nach Jedem der vorher beschriebenen Verfahren hergestellte Kombination des schwer schmelzbaren Metalles und der Diffueionsmetallquelle wird dann in ein Vakuum eingesetzt und mehrere Stunden erhitzt, wodurch die Diffusion gefördert wird. Das Erhitzen kann unterbrochen werden« wenn es keine sichtbaren Spuren des diffundierenden Metallee an der Oberfläche des schwer schmelzbaren Metalles gibt, wo die Quelle dee diffundierenden Metalles leicht gesehen werden kann. Das diffundierende Metall ist somit diffundiert und hat Im wesentlichen die Korngrenzlinien innerhalb der schwer schmelzbaren Metallschicht ausgefüllt· Der schwer schmelzbare Metallschichtwiderstand hat «einen ursprünglichen Blattwideretand und eine verlängerte Erhitzung in Luft erzeugt nun eine kleine oder keine Änderung des Wideretandes.
Die Menge des als Quelle verwendeten Diffusionsmetallee ist ziemlich kritisch und kann empirisch bestimmt werden. Eine Reihe von DttamecMchtwideretänden wurde nach dem Schichtverfahren gemfifi der Fig. S hergestellt. Als schwer schmelzbares Metall wurde Tantal verwendet und mit einer Gesamtstärke der zwei Schichten entsprechend einem Widerstand von SO Ohm je Flacheneinheit aufgesprüht. Gold wurde ale Ditto» «ionsmetall verwendet und seine Stärke enteprechend einem Wideretand von 4 bis 40 Ohm je Flacheneinheit verändert. Di· geschichteten
■' \ - BAD ORIGINAL
809812/0952
Tolle wurden fur ungefähr eine Stunde in einen Vakuumofen eingesetzt und auf annähernd SOQ C gehalten. Xn dieser Zeit war das gesamte Gold in die Koragrcnzlinien dos Tantalfilmes eingedrungen. Dieae Dünnschichtwiderßtände wurden dann während der Dauer von 20 Standen mit 250° C in Luft erhitzt. Der Wideretand jedes Dünnsehicbtwiderstandes wurde vor und nach der zwanzigstündigen Erhitzung gemessen. Die Widerstandsänderung Δ Π wurde in jedem Falle durch den ursprünglichen Widerstand Ro geteilt und über der Dicke der Goldachicht in Ohm bezogen auf die Flächeneinheit in der Fig. S aufgetragen* Dieser empixischo Test w zeigt, daß die beste Stabilität für eine Tantalschicht entsprechend einem
Widerstand von 50 Ohm je Flächneinheit unter Verwendung einer GoIdschicht als DiffusionametaU mit einem Widerstand von 19 hie 30 Ohm Je Flfichneinhoit erhalten wird. Wenn dickere oder dünnere Widerstandsschichten au* Tantal verwendet werden, sollte die Dick« der Goldschicht proportional vergrößert oder verringert werden.
Anschließend sind sswei Beispiele 4er vorliegenden Erfindung ausführlich beschrieben. '
Beispiel 1 ' Ein Trfiger 10 aus einem chemisch widerstandsfähigen Glas mit hoher
Reinheit wurde gereinigt, in destilliertem Wasser gespult und getrocknet. Der Trfiger wurde auf die Aufnahmeplatte eines normalen KathodenzerstäubungBgorfites gelegt. Dit Vakuumkaxnmer de· Kathodcnzeretfiubungsgerfites wurde evakuiert, hierauf mit Argon bespült und hierauf erneut auf ein höheres Vakuum evakuiert. Die in diesem Beispiel aus Tantal zusammengesetzte Kathode wurde mit Bezug auf den Übrigen Teil des Gerätes elektrisch negativ gemacht. Die Spannung wurde erhöht und die Kathodeneprühung wurde hergestellt zur Erzeugung einer Tantalschlcht entsprechend einem Widerstand von GO Ohm je Flächeneinheit. Eine Goldschicht mit einem Wideretand von & Ohm ja Flächeneinheit wurde dann
80 9812/0952 BAD original
mittels Kathodenßprühung Ober der Tantalschicht abgesetzt. Die Goldschicht wurde über dem Tantal mit geringster Verzögerung und ohne Unter* brechung des Vakuums im Gerät abgelagert. Die Kombination wurde aus dem Kathodensprühgerät herausgenommen und in einen Vakuumofen eingelegt, in welchem sie auf annähernd 500 C erhitzt und auf dieser Temperatur für mehrere Stunden gehalten wurde, bis die Goldschicht von der Oberfläche der Tantalschicht verschwunden war.
Sin Kontroll-Tantalschicht-Widerstand wurde unter den gleichen Bedingungen hergestellt mit der Ausnahme, der Aufbringung einer Goldschicht auf dem Tantal-Ulm in der gerade beschriebenen Weise. Der Kontroll-Tantalschicht-Widerstand und der mit Gold versetzte Tantalschicht-Wideretand wurden bezüglich ihrer Widerstände gemessen. Die beiden Widerstände wurden dann in einen Ofen eingelegt und auf 250° C gehalten und die relative Widerstandsänderung im Ofen wurde for eine Periode von neunzig Stunden aufgezeichnet. Die Widerstandsänderung AR geteilt durch den ursprünglichen Widerstand Ro wird im Vergleich zur Länge der für die Stabilisierung des reinen Tantalschicht-Widerstandes erforderlichen Zeit sehr rasch für den goldbelasteten Tantalschicht-Widorstand konstant. Di« Ergebnisse sind in der Fig. β gezeigt.
Beispiel 2
Die Arbeitsweise des Beispieles 1 wurde wiederholt mit der Ausnahme, daß statt der Goldschicht-Quelle 18 gemäß der Fig. 2 die in der Fig. 3 dargestellte geschichtete Geldquelle 21 verwendet wurde. Die Gesamtstärke der zwei Schichten 20, 22 entsprach einem Widerstand von 50 Ohm je Flächeneinheit* Die «wischengelegte Goldschicht entsprach einem Widerstand von 12,3 Ohm je Flächeneinheit. Die Kombination dleserSüchtungen wurde in einem Vaktramofen bei ungefähr 500 C für die Dauer efner Stunde erhitzt. Di· Goldschicht diffundiert« vollständig in das Tantal.
BAD ORIGINAL
/Q952.
Dor ureprünglichö Widerstand Eo dieser goldbeechickton Tantalwideretandsechicht wurde neben einer Kontroll-Tantalwiderstandsschicht gemessen. Die beiden Schichtwiderstände wurden dann in einem Ofen auf einer Temperatur von annähernd 2SO C gehalten und die durch den ursprünglichen Widerstand Ro geteilte Widerstandsänderung Δ R wurde für eine Pcriodo von neunzig Stunden für jeden Widerstand bestimmt, und die Ergebnisse sind in der Fig. 7 dargestellt. Der goldbeachickte Widerstand wurde rasch stabilisiert, während dor reine Tantalwiderstand wesentlich lfinaere Zeit zu seiner Stabilisierung braucht«
BAD ORIGINAL 809 8 12/0952

Claims (4)

  1. ( 1. verfahren zum Haltbarmachen einer schwer schmelzbaren, dünnen ""^ Matallschicht bei DUnnschichtwiderotUnden, dadurch Gekennzeichnet, daß auf einen Tr%er in der nachstehenden oder umgekehrten Reihenfoleo eine dünne Schicht eines schwer schmelzbaren Motallen mittels des an eich bekannten Kathodenzerstäubunefi». oder Vakuumverdaitjifunss»Verfahrens und eine dünne Diffueionsschicht aus ■ Edelmetall oder einer innigen Mischung desselben mit dem zuerst genannten, schwer schmelzbaren Mo tall abgelagert werden und in an sich bekannter weise la Vakuum eine Diffusion der Diffusionsechicht bis in die Korngrenζlinien des schwer schrcelzbaren Metalles erfolgt·
    ■■- . „ ■ ■-·--«.1 S-'.^ 3
    809812/0952
    .ctaes. v. 4.·.
    BAD ORIGINAL
    Anmeldungsunterlagen
  2. 2.WQVV: to 1 lunrsver fahren für DUnnnch i c htwlder ο t Unae , we 1 ehe π rtc^s Verfuhren xiaeh Anspruch 1 verwendet, dadurch ce^c*"inze lehnet, d:.£' vor dor Ablagerung dor Dlffusioncrnetallschicht auf einen aus niriri hergehenden Träger auf letzteren eine Schicht aus Wic^ut-0:i!d y.ii 1"^ebracht wird.
  3. 5. iieratollimgsverfuhren für DtlnnschichtwiderEtiüide, welchen das Verfahren nach Anspruch 1 verwendet, dadurcli o^^cnnselehnet, daß auf das Diffusionsn.etall eine v.*eltero dünne, aus den schwer aehn;elabaren Metall bestehende Schicht abgelagert wird.
  4. 4. Herstellungsverfahren nach Anspruch J>, dadurch gekennzeichnet, daß als schwer schmelzbare Schichten Tantal veriiandet wird, das mit einer Gesamt es tUrke der beiden Schichten entsprechend «inem 'Widerstand vc?n 5o Ohra je Flächeneinheit aufgesprüht ist und daß das als DiffusionGraetall verwendete Gold mit einer einem Widerstand von 4 bis 4o Ohra je !«'lächeneinheit entsprechenden Stärke abgelagert ist.
    $. Herstellungsverfahren nach Anspruch 2 odor ^, dadurch gekennzeichnet, daß die übereinanderceschichteten dünnen Ketall» schichten im Vakuum etwa eine Stunde lang auf einer Temperatur von 5oo° C und hernach etwa 2o Stunden lang in Luft auf einer Temperatur νοεί etwa 25o° C gehalten werden.
    BAD ORIGINAL 809812/0952.
DE19631465702 1962-04-19 1963-04-13 Verfahren zur Haltbarmachung eines schwer schmelzbaren duennschichtigen Metallwiderstandes Pending DE1465702A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US18867362A 1962-04-19 1962-04-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1465702A1 true DE1465702A1 (de) 1968-12-12

Family

ID=22694082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19631465702 Pending DE1465702A1 (de) 1962-04-19 1963-04-13 Verfahren zur Haltbarmachung eines schwer schmelzbaren duennschichtigen Metallwiderstandes

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3218194A (de)
DE (1) DE1465702A1 (de)
FR (1) FR1353882A (de)
GB (1) GB1037553A (de)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3518066A (en) * 1962-12-26 1970-06-30 Philips Corp Metallizing non-metals
US3339267A (en) * 1962-12-26 1967-09-05 Philips Corp Metallizing non-metals
US3420706A (en) * 1964-06-23 1969-01-07 Bell Telephone Labor Inc Technique for fabrication of printed circuit resistors
US3386906A (en) * 1965-11-26 1968-06-04 Philips Corp Transistor base and method of making the same
US3393446A (en) * 1966-05-23 1968-07-23 Philips Corp Method for joining aluminum to metals
US3477935A (en) * 1966-06-07 1969-11-11 Union Carbide Corp Method of forming thin film resistors by cathodic sputtering
US3437888A (en) * 1966-07-01 1969-04-08 Union Carbide Corp Method of providing electrical contacts by sputtering a film of gold on a layer of sputtered molybdenum
US3856647A (en) * 1973-05-15 1974-12-24 Ibm Multi-layer control or stress in thin films
US3857683A (en) * 1973-07-27 1974-12-31 Mica Corp Printed circuit board material incorporating binary alloys
US3926570A (en) * 1974-03-04 1975-12-16 Universal Oil Prod Co Electrically conductive compositions of matter
US4057661A (en) * 1974-05-30 1977-11-08 Contraves Ag Method of manufacturing a thin-film electrode
JPS59230773A (ja) * 1983-06-14 1984-12-25 Kyocera Corp サ−マルヘツド
JPH0647291B2 (ja) * 1984-08-17 1994-06-22 京セラ株式会社 サ−マルヘツド
US4822641A (en) * 1985-04-30 1989-04-18 Inovan Gmbh & Co. Kg Method of manufacturing a contact construction material structure
US5243320A (en) * 1988-02-26 1993-09-07 Gould Inc. Resistive metal layers and method for making same
US5258576A (en) * 1989-06-15 1993-11-02 Cray Research, Inc. Integrated circuit chip carrier lid
US4949453A (en) * 1989-06-15 1990-08-21 Cray Research, Inc. Method of making a chip carrier with terminating resistive elements
USRE34395E (en) * 1989-06-15 1993-10-05 Cray Research, Inc. Method of making a chip carrier with terminating resistive elements
US5122620A (en) * 1989-06-15 1992-06-16 Cray Research Inc. Chip carrier with terminating resistive elements

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE675731C (de) * 1935-10-06 1939-05-17 Bernhard Berghaus Verfahren zur Herstellung von homogenen Schichten oder Koerpern aus Metallen auf einem Grundkoerper durch Kathodenzerstaeubung, thermische Verdampfung oder thermische Zersetzung von Metallverbindungen
US3056937A (en) * 1952-07-19 1962-10-02 Pritikin Nathan Electrical resistor and method and apparatus for producing resistors
US2799600A (en) * 1954-08-17 1957-07-16 Noel W Scott Method of producing electrically conducting transparent coatings on optical surfaces

Also Published As

Publication number Publication date
GB1037553A (en) 1966-07-27
US3218194A (en) 1965-11-16
FR1353882A (fr) 1964-02-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1465702A1 (de) Verfahren zur Haltbarmachung eines schwer schmelzbaren duennschichtigen Metallwiderstandes
DE2440481C3 (de) Verfahren zum Herstellen von Dünnschicht-Leiterzügen auf einem elektrisch isolierenden Träger
DE2554691C2 (de) Verfahren zum Herstellen elektrischer Leiter auf einem isolierenden Substrat und danach hergestellte Dünnschichtschaltung
DE1490927A1 (de) Widerstand aus einer Tantalnitrid-Schicht
DE2021264A1 (de) Verfahren fuer die Herstellung von diskreten RC-Anordnungen
DE3523958A1 (de) Verfahren zur chemischen behandlung von keramikkoerpern mit nachfolgender metallisierung
EP0394875A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Leiterbahnmustern
DE2300813A1 (de) Verfahren zum niederschlagen von stickstoffdotiertem beta-tantal sowie eine beta-tantal-duennschicht aufweisender artikel
DE1950126A1 (de) Verfahren zur Aufringung isolierender Filme und elektronische Bauelemente
DE2541925A1 (de) Elektrischer kontakt und verfahren zur herstellung desselben
DE1204738B (de) Elektrischer Schichtwiderstand
DE2353942A1 (de) Verfahren zur herstellung einer loetfesten kupferschicht
DE2550275A1 (de) Verfahren zum herstellen von barrieren fuer loetzinn auf leiterzuegen
DE1665225A1 (de) Elektrisches Schaltelement und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2063580A1 (de) Transparenter Leiter und Verfahren zu seiner Herstellung
DE1490950A1 (de) Zinn-Oxyd-Widerstand
DE1953070B2 (de) Verfahren zum herstellen eines tantaloxinitridschichtwiderstandelements
DE1275221B (de) Verfahren zur Herstellung eines einen Tunneleffekt aufweisenden elektronischen Festkoerperbauelementes
DE2406891A1 (de) Spiegel
DE2323988C2 (de) Verfahren zum Metallisieren eines nichtleitenden Substrats
DE1590786B1 (de) Verfahren zur Herstellung von Mikro-Miniatur-Schaltungen bzw.Schaltungsbauelementen
DE1771450A1 (de) Metallisches fadenfoermiges Netzwerk und Verfahren zur Herstellung desselben
DE2234679C3 (de) Verfahren zur Herstellung der Elektroden einer Gasentladungs-Anzeigevorrichtung
DE3114467A1 (de) Verdampferschiffchen und verfahren zu seiner herstellung
DE2039514A1 (de) Methode fuer den Niederschlag von Gallium-phosphid-Widerstandsschichten durch kathodische Zerstaeubung