DE1275215B - Strahlungsnachweisvorrichtung - Google Patents
StrahlungsnachweisvorrichtungInfo
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 186
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 106
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 64
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 claims description 19
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 238000005215 recombination Methods 0.000 claims description 15
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 12
- 230000006798 recombination Effects 0.000 claims description 9
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 8
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- IHGSAQHSAGRWNI-UHFFFAOYSA-N 1-(4-bromophenyl)-2,2,2-trifluoroethanone Chemical compound FC(F)(F)C(=O)C1=CC=C(Br)C=C1 IHGSAQHSAGRWNI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 4
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 23
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 16
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003708 ampul Substances 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 206010073306 Exposure to radiation Diseases 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010512 thermal transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
HOl]
Deutsche Kl.: 21g-29/10
Nummer: 1275 215
Aktenzeichen: P 12 75 215.7-33 (N 26190)
Anmeldetag: 9. Februar 1965
Auslegetag: 14. August 1968
Strahlungsnachweisvorrichtung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Strahlungsnachweisvorrichtung mit einem photoempfindlichen
Halbleiterkörper, dem sowohl eine anregende Strahlung als auch eine nachzuweisende Strahlung zugeführt
wird, wobei Elektronen aus dem Valenzband in das Leitungsband gebracht werden.
Der photoempfindliche Halbleiterkörper kann mit zwei Elektroden versehen sein und als Photowiderstandselement
dienen, d. h. als Widerstandselement, dessen elektrischer Widerstand durch Bestrahlung
abnimmt.
Der photoempfindliche Halbleiterkörper kann auch als Photospannungszelle ausgebildet sein, wobei er
einen pn-übergang enthält, während beiderseits des pn-Überganges eine Elektrode angebracht ist. Die
nachzuweisende Strahlung fällt in der Umgebung des pn-Überganges auf den Halbleiterkörper, üblicherweise
in einer Entfernung vom pn-übergang, die gleich einigen Diffusionslängen der freien Ladungsträger
im Halbleiterkörper ist, und erzeugt eine elektrische Spannung an den Elektroden und/oder einen
elektrischen Strom in einem äußeren Kreis zwischen diesen Elektroden.
Der pn-übergang kann auch in der Rückwärtsrichtung vorgespannt sein, wobei der durch auffallende
Strahlung erzeugte Strom gemessen wird.
Zum Strahlungsnachweis sollen von der nachzuweisenden Strahlung freie Ladungsträger im photoempfindlichen
Halbleiterkörper erzeugt werden. Dies kann z. B. dadurch erfolgen, daß durch die auffallende
Strahlung Elektronen aus dem Valenzband in das Leitungsband gebracht werden. Hierbei ergeben
sich sowohl freie Elektronen im Leitungsband als auch freie Löcher im Valenzband, wodurch der
Halbleiterkörper als Photospannungszelle ausgebildet sein kann.
Es sei bemerkt, daß es zum Strahlungsnachweis mittels einer Photospannungszelle notwendig ist, daß
die nachzuweisende Strahlung sowohl freie Elektronen als auch Löcher erzeugt, während es für eine
Photowiderstandszelle genügt, wenn entweder freie Elektronen oder Löcher erzeugt werden.
Auf diese Weise läßt sich nur Strahlung mit Wellenlängen nachweisen, die Energien entsprechen,
die mindestens gleich der Breite des verbotenen Bandes zwischen dem Valenzband und dem Leitungsband
sind. Dies bedeutet in manchen Fällen eine unerwünschte Beschränkung der Spektralempfindlichkeit
des photoempfindlichen Halbleiterkörpers.
Bei einer Photospannungszelle, bei der der photoempfindliche Halbleiterkörper ein an ein p-leitendes
Gebiet angrenzendes η-leitendes Gebiet enthält, er-Anmelder:
N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken,
Eindhoven (Niederlande)
Vertreter:
Dipl.-Ing. E. E. Walther, Patentanwalt,
2000 Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Als Erfinder benannt:
Dr. Hermann George Grimmeiss, 5100 Aachen
Beanspruchte Priorität:
Niederlande vom 12. Februar 1964 (64 01187)
streckt sich die Spektralempfindlichkeit des photoempfindlichen Halbleiterkörpers manchmal auch
ao über einen kleinen Wellenlängenbereich, der Energien entspricht, die kleiner als die Breite des verbotenen
Bandes sind, und an den Wellenlängenbereich grenzt, der Energien entspricht, die größer
als die Breite des verbotenen Bandes sind. Im η-leitenden Gebiet sind nämlich nahe beim Leitungsband
liegende Donatorniveaus vorhanden, während praktisch je Donatorniveau infolge thermischer
Energie ein Elektron im Leitungsband vorhanden ist. Manchmal ist es möglich, ein Elektron optisch, d. h.
durch auffallende Strahlung, aus dem Valenzband in ein Donatorniveau zu bringen, während, weil das
Donatorniveau nahe beim Valenzband liegt, das Elektron leicht thermisch vom Donatorniveau in das
Leitungsband gebracht werden kann. Im p-leitenden Gebiet sind nahe beim Valenzband liegende Akzeptorniveaus
vorhanden, die infolge thermischer Energie praktisch alle mit einem Elektron besetzt
sind. Manchmal kann man optisch ein Elektron von einem Akzeptorniveau in das Leitungsband bringen,
während das Akzeptorniveau durch thermische Energie wieder mit einem Elektron aus dem Valenzband
besetzt wird. Bei einigen bekannten Vorrichtungen bedeutet diese Möglichkeit, Elektronen in zwei Übergangsstufen
über ein Donator- oder Akzeptorniveau aus dem Valenzband in das Leitungsband zu bringen,
wobei eine der Übergangsstufen optisch und die andere thermisch ist, eine kleine Erweiterung der
spektralen Empfindlichkeit zu größeren Wellenlängen hin, die Energien kleiner als der Breite des
verbotenen Bandes entsprechen.
Es ist nachgewiesen worden, daß es möglich ist, die Spektralempfindlichkeit des photoempfindlichen
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Halbleiterkörpers über einen größeren Bereich von Wellenlängen, die Energien entsprechen, die kleiner
als die Breite des verbotenen Bandes sind, dadurch auszudehnen, daß in den Halbleiterkörper eine Dotierungssubstanz
eingebaut wird, die ein tiefliegendes Energieniveau im verbotenen Band zur Folge hat,
wobei ein thermischer Übergang eines Elektrons aus dem Valenzband zu diesem Energieniveau oder aus
diesem Energieniveau in das Leitungsband schwer stattfinden kann. Hierbei können Elektronen optisch
in zwei Übergangsstufen über das im verbotenen Band vorhandene tiefliegende Energieniveau aus dem
Valenzband in das Leitungsband gebracht werden. Der photoempfindliche Halbleiterkörper ist dabei
auch für Strahlung empfindlich, deren Wellenlängen Energien entsprechen, die kleiner als die Breite des
verbotenen Bandes und mindestens gleich der zum Herbeiführen der größeren Übergangsstufe erforderlichen
Energie sind. Diese Strahlung vermag nämlich auch die kleinere Übergangsstufe herbeizuführen.
Auf diese Weise ist eine erhebliche Erweiterung des Spektralempfindlichkeit des photoempfindlichen
Halbleiterkörpers erreicht.
So ist ein Verfahren zur Beeinflussung des photoelektrischen Widerstandes von Halbleiter-Leuchtstoffen
bekannt (deutsche Patentschrift 863 535), bei dem Elektronenübergänge in wenigstens zwei Stufen
auftreten, wobei die anregende Strahlung der größten Stufe entspricht.
eine nachzuweisende Strahlung durch eine Hilf sstrahlung
wesentlich (z. B. auf das Dreifache) erhöht werden kann.
Unter »einer Übergangsstufe entsprechender Strahlung« ist folgendes zu verstehen: Strahlung, die der
größeren der zwei Übergangsstufen entspricht, hat eine Quantenenergie, die kleiner als die Breite des
verbotenen Bandes und mindestens gleich der zum Herbeiführen der größeren Übergangsstufe erforderlichen
Energie ist. Strahlung, die der kleineren Übergangsstufe entspricht, hat eine Quantenenergie, die
kleiner als die für die größere Übergangsstufe erforderliche Energie und mindestens gleich der zum
Herbeiführen der kleineren Übergangsstufe erforderlichen Energie ist, und kann somit nur die kleinere
Übergangsstufe herbeiführen.
Überraschenderweise wurde gefunden, daß die Empfindlichkeit des photoempfindlichen Halbleiterkörpers
für Strahlung mit Wellenlängen die Energien entsprechen, die kleiner als die Breite des verbotenen
Bandes, aber groß genug zum Herbeiführen der größeren Übergangsstufe sind, stark dadurch verbessert
werden kann, daß der Körper gleichzeitig mit Strahlung bestrahlt wird, die nur die kleinere Übergangsstufe
herbeiführen kann. Bei Versuchen wurde auf diese Weise bereits eine dreimal größere Empfindlichkeit
erreicht. Umgekehrt kann der photoempfindliche Halbleiterkörper, der an sich nicht
empfindlich für Strahlung ist, die nur die kleinere
Wird bei einer solchen Vorrichtung noch zusatz- 30 Übergangsstufe herbeiführen kann, für diese Strahlich
Strahlung zugeführt, die ebenfalls eine Quanten- lung dadurch empfindlich gemacht werden, daß er
auch mit Strahlung bestrahlt wird, die der größeren
35
energie hat, die wenigstens der größten Stufe entspricht, so wird die Leitfähigkeit verstärkt, da die
zusätzliche Strahlung dieselbe Wirkung hat wie die erste sichtbare Strahlung. Die Anwendung einer
solchen zusätzlichen, gleich wirkenden Strahlung ist jedoch nicht sinnvoll.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde,
1. die Empfindlichkeit des photoempfindlichen Halbleiterkörpers für Strahlung mit Wellenlängen,
die Energien entsprechen, die kleiner als die Breite des verbotenen Bandes sind, zu
steigern und
2. die Spektralempfindlichkeit des photoempfindlichen Halbleiterkörpers über einen größeren
Bereich von Wellenlängen" zu erstrecken, die Energien entsprechen, die kleiner sind als die
Breite des verbotenen Bandes.
Diese Aufgabe wird bei einer Strahlungsnachweisvorrichtung mit einem photoempfindlichen Halbleiterkörper,
dem sowohl eine anregende Strahlung als auch eine nachzuweisende Strahlung zugeführt
wird, wobei Elektronen aus dem Valenzband in das Leitungsband gebracht werden, dadurch gelöst, daß
die Elektronen aus dem Valenzband über eine erste Übergangsstufe auf ein zwischen dem Valenz- und
dem Leitungsband liegendes Energieniveau durch diejenige der beiden Strahlungen, welche im wesent-Übergangsstufe
entspricht.
Vorzugsweise enthält die Vorrichtung eine Strahlungsquelle, durch die dem photoempfindlichen
Halbleiterkörper eines der optischen Signale zugeführt wird, während das andere optische Signal nachgewiesen
wird. Die Strahlungsquelle kann eine Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle sein. Die
Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle und der photoempfindliche Halbleiterkörper können zweckmäßig
einen gemeinsamen Halbleiterkörper haben. Dies ermöglicht eine sehr gedrängte Bauart. Es sei
bemerkt, daß der gemeinsame Halbleiterkörper an der Stelle der Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle
aus einem anderen Halbleitermaterial bestehen kann als an der Stelle des photoempfindlichen
Halbleiterkörpers.
Eine wichtige Weiterbildung der Strahlungsnachweisvorrichtung nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlungsquelle den photoempfindlichen Halbleiterkörper praktisch stetig mit
Strahlung "bestrahlt, von der wenigstens ein wesentlicher
Teil der größeren der zwei Übergangsstufen 55
45
entspricht, während das nachzuweisende optische Signal wenigstens zu einem wesentlichen Teil aus
Strahlung besteht, die der kleineren der zwei Ubergangsstufen entspricht. Hierbei wird die Tatsache
ausgenutzt, daß der photoempfindliche Halbleiterlichen der Quantenenergie der ersten Übergangs- 60 körper durch Bestrahlung mit Strahlung, die die
stufe entspricht, gebracht werden und daß die Elek- größere Übergangstufe herbeiführen kann, geeignet
tronen über eine zweite Übergangsstufe von dem zum Nachweisen von Strahlung, die nur die kleinere
zwischenliegenden Energieniveau in das Leitungs- Übergangsstufe herbeiführen kann, gemacht wird,
band durch die andere der beiden Strahlungen, deren r--r- Die Strahlungsquelle wird hierbei im Prinzip als
Quantenenergie im wesentlichen der zweiten Ener- 65 Hilfsstrahlungsquelle benutzt, und es ergibt sich so
giestufe entspricht, gebracht werden. ein Strahlungsdetektor, der nicht nur eine Spektral-
Damit werden die Vorteile erzielt, daß die Emp-j empfindlichkeit für Strahlung mit Wellenlängen, die
findlichkeit der Strahlungsnachweisvorrichtung fürj Energien entsprechen, die größer als die Breite des
verbotenen Bandes sind, sondern auch eine Spektralempfindlichkeit für Strahlung mit Wellenlängen hat,
die Energien entsprechen, die kleiner als die Breite des verbotenen Bandes und mindestens gleich der für
die kleinere Übergangsstufe erforderlichen Energie sind. Der photoempfindliche Halbleiterkörper kann
auf diese Weise z. B. eine Spektralempfindlichkeit aufweisen, die vom sichtbaren Licht bis zur Ultrarotstrahlung
mit einer Wellenlänge von etwa 2 μ reicht.
Eine andere wichtige Ausgestaltung der Vorrichtung nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlungsquelle den photoempfindlichen Halbleiterkörper praktisch stetig mit einer Strahlung
bestrahlt, von der wenigstens ein wesentlicher Teil der kleineren der zwei Übergangsstufen entspricht,
während das nachzuweisende optische Signal wenigstens zu einem wesentlichen Teil aus einer Strahlung
besteht, die der größeren der zwei Übergangsstufen entspricht. Hierbei wird die Tatsache benutzt, daß
die Empfindlichkeit des photoempfindlichen Halbleiterkörpers für Strahlung, die die größere Ubergangsstufe
herbeiführen kann und Wellenlängen hat, die Energien entsprechen, die kleiner als die Breite
des verbotenen Bandes sind, durch Bestrahlung mit Strahlung, die nur die kleinere Übergangsstufe herbeiführen
kann, sich erheblich steigern läßt.
Bei einem Strahlungsdetektor gemäß der Erfindung können Elektronen optisch vom Valenzband
über das zwischenliegende Energieniveaus zum Leitungsband gebracht werden. Hierbei ergeben sich
freie Ladungsträger in Form von Elektronen im Leitungsband und in Form von Löchern im Valenzband.
Hierdurch kann der photoempfindliche Halbleiterkörper vorteilhaft als eine Photospannungsquelle
ausgebildet sein, und eine weitere wichtige Ausbildung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß
der photoempfindliche Halbleiterkörper einen pnübergang enthält. Hierbei tritt weiter der wichtige
Vorteil auf, daß die nachzuweisende Strahlung, die nur die größere Übergangsstufe oder nur die kleinere
Übergangsstufe herbeiführen kann, in einem einen pn-übergang enthaltenden photoempfindlichen Halbleiterkörper
nachgewiesen wird, bei dem die Breite des verbotenen Bandes größer als die Quantenenergien
ist, die den Wellenlängen der nachzuweisenden Strahlung entsprechen. Bei bekannten Vorrichtungen
könnte man im allgemeinen zum Nachweis der gleichen Strahlung mit Hilfe eines einen pn-übergang
enthaltenden photoempfindlichen Halbleiterkörpers einen Halbleiterkörper verwenden, bei dem
die Breite des verbotenen Bandes höchstens gleich den Quantenenergien ist, die den Wellenlängen der
nachzuweisenden Strahlung entsprechen, wodurch die nachzuweisende Strahlung fähig ist, Elektronen
unmittelbar aus dem Valenzband in das Leitungsband zu bringen. Da die zu erhaltende Photospannung
an den Elektroden eines einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterkörpers mit zunehmender
Breite des verbotenen Bandes zunimmt, ist bei einer Vorrichtung nach der Erfindung beim Nachweis
der erwähnten Strahlung eine größere Photospannung erzielbar. Soll der photoempfindliche Halbleiterkörper
mit einer Vorspannung betrieben werden, die den pn-übergang in der Rückwärtsrichtung
vorspannt, so können, da die maximale Vorspannung in der Rückwärtsrichtung gleichfalls mit
zunehmender Breite des verbotenen Bandes zunimmt, bei einem Detektor gemäß der Erfindung
eine größere Vorspannung angelegt und größere Leistungen entnommen werden.
Der Abstand vom Zwischenniveau bis zum Valenzband und der Abstand vom Zwischenniveau bis
zum Leitungsband sind vorzugsweise so groß, daß bei der Betriebstemperatur keine Elektronen thermisch
aus dem Valenzband zum Zwischenniveau oder vom Zwischenniveau in das Leitungsband gebracht
werden, und wenigstens so groß, daß bei der Betriebstemperatur die Zahl der Elektronen, die infolge
thermischer Energie zum oder aus dem Zwischenniveau gebracht werden, so gering ist, daß dies
keinen wesentlichen störenden Einfluß auf den Nachweis der erwünschten Strahlung hat.
Wird für die Betriebstemperatur Zimmertemperatur eingehalten, so beträgt der Abstand vom Zwischenniveau
bis zum Valenzband und der Abstand vom Zwischenniveau bis zum Leitungsband vorzugsweise
mindestens 0,1 eV.
Besonders günstige Ergebnisse wurden mit einem photoempfindlichen Halbleiterkörper aus Galliumphosphid
erreicht, das wenigstens an der Stelle, an der die Strahlung der optischen Signale im wesentlichen
absorbiert wird, mit Zink und Sauerstoff dotiert ist.
Wenn dabei eine Strahlung nachgewiesen werden soll, die nur die kleinere Übergangsstufe herbeizuführen
vermag, kann die Strahlungsquelle vorteilhaft aus einer Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle
mit einem Halbleiterkörper bestehen, der gleichfalls aus Galliumphosphid besteht, das wenigstens
in der Umgebung des pn-Uberganges mit Zink und Sauerstoff dotiert ist und z. B. mit dem photoempfindlichen
Halbleiterkörper eine Einheit bilden kann.
Unter dem Ausdruck »wenigstens in der Umgebung des pn-Uberganges« wird hier auch verstanden
»wenigstens auf einer Seite des pn-Überganges«.
Soll eine Strahlung nachgewiesen werden, von der ein wesentlicher Teil der größeren Übergangsstufe
entspricht, so kann die Strahlungsquelle vorteilhaft eine Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle mit
einem Halbleiterkörper aus einem der Halbleitermaterialien Galliumarsenid und Indiumphosphid
sein.
Weiter kann vorteilhaft ein photoempfindlicher Halbleiterkörper aus Aluminiumphosphid Verwendung
finden. In nicht absichtlich dotierten Aluminiumphosphidkristallen
mit einer Breite des verbotenen Bandes von etwa 2,42 eV ist ein günstig liegendes Zwischenniveau in einem Abstand von
etwa 0,37 eV vom Valenzband nachgewiesen.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand einiger Ausführungsbeispiele und der Zeichnung näher erläutert.
F i g. 1 zeigt schematisch und teilweise im Schnitt eine Strahlungsnachweisvorrichtung nach der Erfindung;
F i g. 2 zeigt ein Energiebändermodell eines photoempfindlichen Halbleiterkörpers, wie er in der Vorrichtung
nach F i g. 1 verwendet wird;
F i g. 3 ist eine graphische Darstellung der Spektralempfindlichkeit
eines Strahlungsdetektors nach der Erfindung;
Fig. 4 und 5 zeigen schematisch und im Querschnitt
weitere Ausführungsformen eines Strahlungsdetektors nach der Erfindung.
Die Strahlungsnachweisvorrichtung nach F i g. 1 enthält einen Strahlungsdetektor mit einem photoempfindlichen
Halbleiterkörper 1, dem die nachzuweisende Strahlung 13 zugeführt wird. Der photoempfindliche
Halbleiterkörper 1 enthält ein verbotenes Band, in dem ein zwischenliegendes Energieniveau
vorhanden ist, so daß Elektronen optisch in zwei Übergangsstufen über das zwischenliegende
Energieniveau aus dem Valenzband in das Leitungs-
den. Die p-leitenden Galliumphosphidkristalle können vorsichtig mechanisch aus dem Gallium entfernt
werden, wonach Galliumreste durch Sieden in Salzsäure (3O°/oig) von den Kristallen entfernt wer-5
den können.
Der Zinnkontakt 6 mit einem Durchmesser von etwa 0,5 mm ist dadurch herstellbar, daß Zinn bei
einer Temperatur von etwa 400 bis 700° C während einer Zeit, die vorzugsweise kürzer als 1 Sekunde ist,
band gebracht werden können. Zwei optische Signale io aufgeschmolzen wird. Der Anschlußkontakt 8, der
12 und 13 werden dem photoempfindlichen Halb- gleichfalls einen Durchmesser von etwa 0,5 mm hat,
ist dadurch herstellbar, daß unter den gleichen Umständen Gold, das etwa 4 Gewichtsprozent Zink enthält,
aufgeschmolzen wird. Die Kontakte 6 und 8
sentlicher Teil der größeren Übergangsstufe entspricht. Das optische Signal 13 bildet das nachzuweisende
Signal.
von einer beliebigen Strahlungsquelle 3, die gegebenenfalls weit vom photoempfindlichen Halbleiterkörper
1 entfernt sein kann.
Bei einer wichtigen Ausführungsform bestrahlt z. B. die Strahlungsquelle 2 den photoempfindlichen
Halbleiterkörper 1 praktisch stetig mit der Strahlung 12, die der größeren Übergangsstufe (1,8 eV) entspricht,
während die Strahlung 13, von der wenig-
leiterkörper zugeführt. Eins dieser optischen Signale
besteht aus einer Strahlung, von der wenigstens ein
wesentlicher Teil der kleineren Übergangsstufe entspricht, während das andere optische Signal aus 15 können auf eine in der Halbleitertechnik übliche einer Strahlung besteht, von der wenigstens ein we- Weise mit Zuleitungen 9 und 10 versehen werden.
besteht aus einer Strahlung, von der wenigstens ein
wesentlicher Teil der kleineren Übergangsstufe entspricht, während das andere optische Signal aus 15 können auf eine in der Halbleitertechnik übliche einer Strahlung besteht, von der wenigstens ein we- Weise mit Zuleitungen 9 und 10 versehen werden.
Die Vorrichtung nach F i g. 1 enthält eine Strahlungsquelle 2, mit der das optische Signal 12 dem
photoempfindliehen Halbleiterkörper zugeführt wer-Der photoempfindliche Halbleiterkörper 1 besteht 20 den kann.
z. B, aus Galliumphosphid, das mit Zink und Sauer- Das nachzuweisende optische Signal 13 stammt
stoff dotiert ist. Ein anderes geeignetes Halbleitermaterial ist z. B. Aluminiurnphosphid.
Es stellt sich heraus, daß mit Zink und Sauerstoff
dotiertes Galliumphosphid ein verbotenes Band III 25
mit einer Breite von etwa 2,25 eV hat, in dem in
einem Abstand von etwa 0,45 eV vom Valenzband II
ein zwischenliegendes Energieniveau 30 (Fig. 2) vorhanden ist. Die für die kleinere Übergangsstufe erforderliche Energie beträgt somit mindestens etwa 30 stens zeitweilig ein wesentlicher Teil aus einer Strah-0,45 eV, und die zum Herbeiführen der größeren lung besteht, die der kleineren Übergangsstufe Übergangsstufe erforderliche Energie beträgt somit (0,45 eV) entspricht und die von der Strahlungsmindestens 1,8 eV. Eine der kleineren Übergangs- quelle 3 herrührt, nachgewiesen wird. Die Strahlungsstufe entsprechende Strahlung hat in diesem Fall quelle 2 dient dabei als Hilfsstrahlungsquelle, die den mithin eine Quantenenergie, die im Bereich zwischen 35 photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 für die Strahetwa 0,45 und etwa 1,8 eV liegt, während eine der lung 13 empfindlich macht, die nur die kleinere Übergrößeren Übergangsstufe entsprechende Strahlung gangsstufe herbeiführen kann. Die Strahlungsquelle 2 eine Quantenenergie hat, die im Bereich zwischen und der photoempfindliche Halbleiterkörper 1 biletwa 1,8 und etwa 2,25 eV liegt. den zusammen einen Strahlungsdetektor für die
dotiertes Galliumphosphid ein verbotenes Band III 25
mit einer Breite von etwa 2,25 eV hat, in dem in
einem Abstand von etwa 0,45 eV vom Valenzband II
ein zwischenliegendes Energieniveau 30 (Fig. 2) vorhanden ist. Die für die kleinere Übergangsstufe erforderliche Energie beträgt somit mindestens etwa 30 stens zeitweilig ein wesentlicher Teil aus einer Strah-0,45 eV, und die zum Herbeiführen der größeren lung besteht, die der kleineren Übergangsstufe Übergangsstufe erforderliche Energie beträgt somit (0,45 eV) entspricht und die von der Strahlungsmindestens 1,8 eV. Eine der kleineren Übergangs- quelle 3 herrührt, nachgewiesen wird. Die Strahlungsstufe entsprechende Strahlung hat in diesem Fall quelle 2 dient dabei als Hilfsstrahlungsquelle, die den mithin eine Quantenenergie, die im Bereich zwischen 35 photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 für die Strahetwa 0,45 und etwa 1,8 eV liegt, während eine der lung 13 empfindlich macht, die nur die kleinere Übergrößeren Übergangsstufe entsprechende Strahlung gangsstufe herbeiführen kann. Die Strahlungsquelle 2 eine Quantenenergie hat, die im Bereich zwischen und der photoempfindliche Halbleiterkörper 1 biletwa 1,8 und etwa 2,25 eV liegt. den zusammen einen Strahlungsdetektor für die
Es sei bemerkt, daß das Zwischenniveau im ver- 40 Strahlung 13. Die Wellenlänge der Strahlung 12 bebotenen
Band III des zu verwendenden photoemp- trägt z. B. etwa 7000 A, was einer Quantenenergie
findlichen Halbleiterkörpers vorzugsweise in einem von etwa 1,8 eV entspricht, während die nachzu-Abstand
von mindestens 0,1 eV vom Valenzband II weisende Strahlung 13 z. B. im wesentlichen eine
und auch vom Leitungsband I liegt, weil es dann bei Wellenlänge von etwa 1,2 μ hat, die etwa 1 eV entZimmertemperatur
wenige oder keine störenden 45 spricht. Die nachzuweisende Strahlung 13 kann im thermisch herbeigeführten Übergänge von Elek- vorliegenden Ausführungsbeispiel, wie erwähnt, eine
tronen vom Valenzband zum Zwischenniveau oder Wellenlänge aufweisen, die Energien entspricht, die
vom Zwischenniveau zum Leitungsband gibt. Der im Bereich zwischen etwa 0,45 und etwa 1,8 eV
mit Zink und Sauerstoff dotierte p-leitende Gallium- liegen, aber im Zusammenhang mit der Empfindlichphosphidkörper
1 enthält einen pn-übergang 5, der 50 keit des photoempfindlichen Halbleiterkörpers ist die
durch Auflegieren eines Zinnkontaktes 6 erhalten Vorrichtung besonders geeignet zum Nachweisen
ist, wobei das η-leitende rekristallisierte Gebiet 7
entstanden ist. Der Galliumphosphidkörper ist weiter
mit einem praktisch ohmschen Anschlußkontakts
versehen. 55
entstanden ist. Der Galliumphosphidkörper ist weiter
mit einem praktisch ohmschen Anschlußkontakts
versehen. 55
Der mit den Kontakten 6 und 8 versehene Galliumphosphidkörper 1 ist auf die nachfolgende Weise herstellbar:
1 g Galliumphosphid wird zusammen mit 5 g Gallium, das etwa 0,1 Gewichtsprozent Zink und etwa 60 lenlänge der auffallenden Strahlung dargestellt. Die
0,2 Gewichtsprozent Sauerstoff enthält, in eine Kurve 30 zeigt die Spektralempfindlichkeit des GaI-Quarzampulle
eingeschmolzen, die dann etwa liumphosphidkörpers 1, wenn keine Hilfsstrahlungs-2
Stunden auf etwa 1200° C erhitzt wird. Dann wird quelle Verwendung findet. Der Galliumphosphiddas
Ganze in etwa 4 Stunden auf Zimmertemperatur körper 1 ist somit unter anderem für eine Strahlung
abgekühlt und der Inhalt aus der Ampulle entfernt. 65 empfindlich, deren Wellenlängen Energien entspre-Es
stellt sich heraus, daß dieser Inhalt aus Gallium chen, die kleiner als die Breite des verbotenen
besteht, in dem sich Galliumphosphidkristalle mit Bandes III (2,25 eV) sind, mit einem Höchstwert bei
den Abmessungen von etwa 3 X 3 X 0,2 mm befin- etwa 1,8 eV (7000 A). Diese Strahlung ist imstande,
von Strahlung mit einer Wellenlänge, die Energien entspricht, die im Bereich zwischen etwa 0,7 und
etwa 1,5 eV liegen.
In F i g. 3 ist der Kurzschlußstrom i im äußeren Kreis 14 zwischen den Elektroden 9 und 10 des
photoempfindlichen Halbleiterkörpers 1 logarithmisch (Basis 10) und in beliebigen Einheiten in Abhängigkeit
von der in Elektronenvolt umgerechneten WeI-
die größere Ubergangsstufe (1,8 eV; s. F i g. 2) und auch die kleinere Ubergangsstufe, bei der tief aus
dem Valenzband II Elektronen zum Zwischenniveau 30 (s. den Pfeil 31 in F i g. 2) gebracht werden,
herbeizuführen.
Findet eine Hilfsstrahlungsquelle 2 (s. Fi g. 1) Verwendung, die den Galliumphosphidkörper 1 praktisch
stetig mit einer Strahlung mit einer Wellenlänge von etwa 7000 A, die die größere Übergangsstufe herbeizuführen vermag, bestrahlt, so wird die
Spektralempfindlichkeit des Galliumphosphidkörpers 1 durch die Kurve 31 und den Teil AC der
Kurve30 in Fig. 3 dargestellt. Der Galliumphosphidkörper
1 ist dabei auch für Strahlung empfindlich, die nur die kleinere Ubergangsstufe herbeizuführen
vermag.
Es sei bemerkt, daß die von der Hilfsstrahlungsquelle 2 emittierte Strahlung von 7000 A bereits
einen Photostrom im äußeren Kurzschlußkreis 14 zwischen den Elektroden 9 und 10 (F i g. 1) liefert,
wie auch aus der Kurve 30 hervorgeht. Dieser Kurzschlußstrom kann mit Hilfe einer Gegenspannung,
die dadurch erzielt wird, daß in den äußeren Kurzschlußkreis 14 zwischen den Elektroden 9 und 10
eine Spannungsquelle 15 eingefügt wird, ausgeglichen as
werden, wodurch infolge der Hilfsstrahlungsquelle 2 kein Strom im äußeren Kreis 14 fließt. Man kann
dann die Spektralempfindlichkeit des Galliumphosphidkörpers 1 auf eine übliche Weise messen, wobei
sich die Kurve 31 zusammen mit dem Teil AC der Kurve 30 ergibt. Auch läßt sich auf diese Weise eine
Strahlung 13 mit einer beliebigen Wellenlänge, die im Bereich der Spektralempfindlichkeit des photoempfindlichen
Körpers 1 liegt, nachweisen.
Man hat somit einen Strahlungsdetektor mit einer Spektralempfindlichkeit erhalten, die sich vom kurzwelligen
sichtbaren Licht (Blau) bis zur Ultrarotstrahlung mit Wellenlängen von etwa 2 μ erstreckt.
Wird z. B. Ultrarotstrahlung 13 nachgewiesen, die nur die kleinere Ubergangsstufe (0,45 eV) herbeizuführen
vermag, so tritt der wichtige Vorteil auf, daß diese Strahlung in einem einen pn-übergang enthaltenden
photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 nachgewiesen wird, der eine Breite des verbotenen Bandes
(für Gallliumphosphid etwa 2,25 eV) hat, die viel größer als die Energie ist, die der Wellenlänge der
nachzuweisenden Strahlung entspricht. Hierdurch läßt sich zwischen den Elektroden 9 und 10 eine
größere Photospannung erzielen, als wenn ein Halbleiterkörper 1 Verwendung findet, der eine Breite des
verbotenen Bandes aufweist, die kleiner als die der Wellenlänge der nachzuweisenden Strahlung entsprechende
Energie ist, weil die erhaltbare Photospannung praktisch der Breite des verbotenen Bandes
proportional ist. Weiter können, wenn an die Elektroden 9 und 10 eine Vorspannung angelegt werden
soll, die den pn-ÜbergangS in der Rückwärtsrichtung vorspannt, größere Vorspannungen verwendet
und infolgedessen größere Leistungen entnommen werden, je größer die Breite des verbotenen Bandes
im photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 ist. Eine größere Breite des verbotenen Bandes hat weiter
eine geringere Temperaturempfindlichkeit zur Folge. Deshalb kann der beschriebene Strahlungsdetektor
auch beim Nachweis von Ultrarotstrahlung unbedenklich bei Zimmertemperatur betrieben werden.
Die Hilfsstrahlungsquelle 2 kann jede beliebige Strahlungsquelle sein, die eine Strahlung mit den erwünschten
Wellenlängen, die Energien entsprechen, die mindestens gleich der für die größere Übergangsstufe erforderlichen Energie (1,8 eV) und kleiner als
die Breite des verbotenen Bandes (2,25 eV) ist, emittieren kann, z. B. eine Strahlung mit einer Wellenlänge
von 7000 A. Die Strahlungsquelle 2 kann z. B. eine Wolframbogenlampe sein, die mit einem Monochromator,
z. B. einem Interferenzfilter, kombiniert ist.
Die Strahlungsquelle 2 ist vorzugsweise mit dem photoempfindlichen Halbleiterkörper zu einer baulichen
Einheit vereinigt, während Mittel vorgesehen sind, um die nachzuweisenden optischen Signale 13
dem photoempfindlichen Halbleiterkörper zuzuführen. Diese Mittel können z. B. aus einem Fenster
21 bestehen, das in einer gemeinsamen Hülle angebracht ist, die schematisch durch die Punktstrichlinie
20 in Fig. 1 dargestellt ist. Durch das Fenster21
hindurch können die nachzuweisenden optischen Signale 13 auf den photoempfindlichen Halbleiterkörper
fallen. Die bauliche Kombination der Strahlungsquelle 2 und des photoempfindlichen Halbleiterkörpers
1 bildet so den Strahlungsdetektor der Vorrichtung nach Fig. 1.
Mit großem Vorteil kann die Strahlungsquelle 2 eine pn-Rekombinationsstrahlungsquelle mit einem
einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterkörper aus Galliumphosphid sein, der wenigstens in der Umgebung
des pn-Überganges mit Zink und Sauerstoff dotiert ist und mit dem photoempfindlichen Halbleiterkörper
1 einheitlich sein kann. In F i g. 4 ist ein derartiges Gebilde dargestellt. Der Strahlungsdetektor
nach F i g. 4 entspricht größtenteils dem mit Elektroden versehenen photoempfindlichen Halbleiterkörper
1 nach Fig. 1, und entsprechende Teile sind in den F i g. 1 und 4 denn auch mit den gleichen
Bezugsziffern bezeichnet. Der pbotoempfindliche
Halbleiterkörper 1 nach F i g. 4 enthält einen zweiten pn-übergang 25, der durch Aufschmelzen eines
zweiten Zinnkontaktes 23 unter den gleichen Umständen, unter denen auch der Zinnkontakt 6 aufgeschmolzen
ist, erhalten ist, wobei das zweite rekristallisierte η-leitende Gebiet 24 entstanden ist. Der Zinnkontakt
23 ist mit einer Zuleitung 26 versehen und ist vorzugsweise kleiner als der Kontakt 6.
Durch Anlegung einer Spannung zwischen den Zuleitungen 26 und 10 kann man einen Strom in der
Vorwärtsrichtung durch den pn-Ubergang 25 schikken. Hierbei entsteht in der Umgebung dieses pn-Überganges
25 durch Rekombination von Löchern und Elektronen eine Strahlung 27 mit einer Wellenlänge
von etwa 7000A. Diese Strahlung kann die Umgebung des pn-Überganges 5 erreichen, um dort
absorbiert zu werden. Der Photostrom und/oder die Photospannung wird über die Leiter 9 und 10 abgenommen.
Der pn-übergang 5 kann z. B. in der Rückwärtsrichtung vorgespannt sein. Die Strahlung 12 in
F i g. 1 entspricht der Strahlung 27 der F i g. 4, die im Galliumphosphidkörper 1 selber erzeugt ist, wodurch
die Gefahr störender Reflexionen an der Oberfläche des Halbleiterkörpers 1 verringert wird. Die
nachzuweisende Ultrarotstrahlung ist auch hier mit der Bezugsziffer 13 bezeichnet.
Es sei bemerkt, daß es nicht notwendig ist, daß die nachzuweisende Strahlung 13 die Umgebung des
photoempfindlichen pn-Überganges 5 unmittelbar erreicht. In der Praxis hat es sich herausgestellt, daß
die Strahlung 13, wenn sie die Umgebung des photo-
809 590/355
die der Wellenlänge der nachzuweisenden Strahlung entspricht, wobei die vorstehend in dieser Beziehung
beschriebenen Vorteile wieder auftreten.
Es sei bemerkt, daß eine Bestrahlung des photo-5 empfindlichen Halbleiterkörpers 1 mit einer Strahlung
12, die an sich nur die kleinere Übergangsstufe herbeiführen kann, keinen Anlaß zu einem Photostrom
oder/und einer Photospannung gibt.
Im äußeren Kreis 14 kann ein Instrument 16
empfindlichen pn-Überganges 5 nicht unmittelbar erreichen kann, infolge innerer Reflexionen im
Körper 1 die Umgebung des pn-Überganges 5 größtenteils erreicht.
Bei den Ausführungsbeispielen, die in bezug auf
die F i g. 1 und 4 erläutert wurden, sind die pn-Übergänge 5 und 25 durch Aufschmelzen der Kontakte 6
bzw. 23 hergestellt. Es ist jedoch auch möglich,
einen oder beide pn-Übergänge mit Hilfe an sich in
der Halbleitertechnik üblicher Diffusions- und/oder io liegen, das ein elektrisches und/oder optisches Signal Epitaxialverfahren herzustellen. Fig. 5 zeigt im nur bei einem Photostrom im äußeren Kreis 14 Prinzip und schematisch eine Ausführungsform mit liefert, der beispielsweise das Zweifache des Photozwei durch Diffusion hergestellten pn-Übergängen 42 stromes beträgt, der durch Bestrahlung mit Strahlung und 43. 13, die z. B. eine Wellenlänge von 7000 A hat, er-
die F i g. 1 und 4 erläutert wurden, sind die pn-Übergänge 5 und 25 durch Aufschmelzen der Kontakte 6
bzw. 23 hergestellt. Es ist jedoch auch möglich,
einen oder beide pn-Übergänge mit Hilfe an sich in
der Halbleitertechnik üblicher Diffusions- und/oder io liegen, das ein elektrisches und/oder optisches Signal Epitaxialverfahren herzustellen. Fig. 5 zeigt im nur bei einem Photostrom im äußeren Kreis 14 Prinzip und schematisch eine Ausführungsform mit liefert, der beispielsweise das Zweifache des Photozwei durch Diffusion hergestellten pn-Übergängen 42 stromes beträgt, der durch Bestrahlung mit Strahlung und 43. 13, die z. B. eine Wellenlänge von 7000 A hat, er-
Der Halbleiterkörper 1 enthält zwei diffundierte 15 halten wird. In diesem Fall gibt das Instrument 16
Zonen 44 und 45, die mit den Anschlußkontakten nur ein Signal, wenn gleichzeitig eine Strahlung 12,
46 und 47 mit den Zuleitungen 48 bzw. 49 versehen die nur die kleinere Übergangsstufe herbeiführen
sind. Die zwischenliegende Zone 57 mit einem Lei- kann, auf den photoempfindlichen Körper 1 fällt. So
tungstyp, der demjenigen der Zonen 45 und 44 ent- ergibt sich eine Koinzidenzschaltung, bei der nur bei
gegengesetzt ist, ist mit einem Anschlußkontakt 50 20 gleichzeitiger Belichtung des photoempfindlichen
mit einer Zuleitung 51 versehen. Der pn-übergang Halbleiterkörpers 1 durch beide Strahlungsquellen 2
42 ist z. B. in der Vorwärtsrichtung vorgespannt, wo- und 3 ein Signal erzeugt wird,
durch die Rekombinationsstrahlung 53, die der Strah- Die Hilfsstrahlungsquelle 2 und der photoempfind-
Iung27 in Fig. 4 und der Strahlung 12 in Fig. 1 liehe Halbleiterkörper 1 bilden auch in diesem Fall
entspricht, erhalten wird. Die Strahlung 53 kann in 25 zusammen einen Strahlungsdetektor für die Strah-
der Umgebung des pn-Überganges 43 absorbiert lung 13 und sind vorzugsweise zu einer konstruktiven
werden, wo auch die nachzuweisende Strahlung 13
absorbiert werden kann.
absorbiert werden kann.
Wie vorstehend erläutert, stellt die Kurve 30 in
F i g. 3 die Spektralempfindlichkeit des Galliumphos- 30
phidkörpers 1 (Fig. 1) dar, wenn keine Hilfsstrahlungsquelle Verwendung findet. Wird jetzt eine Hilfsstrahlungsquelle 2 verwendet, die eine Strahlung 12
emittiert, die nur die kleinere Übergangsstufe herbeiführen kann, z. B. eine Ultrarotstrahlung mit einer 35 Rekombinations-Strahlungsquelle sein, z. B. mit Wellenlänge von etwa 1,2 μ, so nimmt über- einem einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterraschenderweise die Empfindlichkeit des Gallium- körper aus Galliumarsenid, das ein verbotenes Band phosphidkörpers für die nachzuweisende Strahlung mit einer Breite von etwa 1,36 eV hat und in dem 13, die die größere Übergangsstufe herbeiführen bei Zimmertemperatur eine Rekombinationsstrahkann, zu. Der Teil BD der Kurve 30 muß dabei 40 lung mit einer Wellenlänge von etwa 9100 A erzieldurch die Kurve 32 ersetzt werden. Die Empfind- bar ist. Bei einem η-leitenden Galliumarsenidkörper lichkeit für diese Strahlung 13, z. B. mit einer WeI- kann z. B. durch Aufschmelzen von Indium, das lenlänge von etwa 7000 A, kann auf diese Weise etwa 3 Gewichtsprozent Zink enthält, bei etwa leicht um einen Faktor 2 zunehmen (es tritt z. B. ein 500 bis 700° C ein pn-übergang hergestellt werden, zweimal größerer Kurzschlußstrom im äußeren Kreis 45 während ein praktisch ohmscher Anschlußkontakt 14 der Fig. 1 auf), während bei im Zusammenhang durch Aufschmelzen von Zinn bei der gleichen Temmit der Erfindung durchgeführten Versuchen oft eine peratur erhalten werden kann. Der pn-übergang dreimal größere Empfindlichkeit nachgewiesen läßt sich z. B. auch durch Diffusion von Zink bei wurde. Vielleicht rinden sich Halbleitermaterialien, etwa 900° C in den η-leitenden Galliumarsenidkörper mit denen noch günstigere Ergebnisse erzielbar sind. 50 herstellen. Der Halbleiterkörper der Strahlungs-B ei einer weiteren wichtigen Ausgestaltung der quelle 2 kann auch aus Indiumphosphid bestehen, Strahlungsnachweisvorrichtung nach der Erfindung das eine Breite des verbotenen Bandes von etwa 1,3 bestrahlt deshalb die Strahlungsquelle2 (Fig. 1) den bis 1,4 eV hat, wobei eine Rekombinationsstrahlung photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 praktisch mit ungefähr der gleichen Wellenlänge wie im Falle stetig mit Strahlung 12, von der wenigstens ein we- 55 eines Halbleiterkörpers aus Galliumarsenid erzeugsentlicher Teil der kleineren der zwei Übergangs- bar ist.
F i g. 3 die Spektralempfindlichkeit des Galliumphos- 30
phidkörpers 1 (Fig. 1) dar, wenn keine Hilfsstrahlungsquelle Verwendung findet. Wird jetzt eine Hilfsstrahlungsquelle 2 verwendet, die eine Strahlung 12
emittiert, die nur die kleinere Übergangsstufe herbeiführen kann, z. B. eine Ultrarotstrahlung mit einer 35 Rekombinations-Strahlungsquelle sein, z. B. mit Wellenlänge von etwa 1,2 μ, so nimmt über- einem einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterraschenderweise die Empfindlichkeit des Gallium- körper aus Galliumarsenid, das ein verbotenes Band phosphidkörpers für die nachzuweisende Strahlung mit einer Breite von etwa 1,36 eV hat und in dem 13, die die größere Übergangsstufe herbeiführen bei Zimmertemperatur eine Rekombinationsstrahkann, zu. Der Teil BD der Kurve 30 muß dabei 40 lung mit einer Wellenlänge von etwa 9100 A erzieldurch die Kurve 32 ersetzt werden. Die Empfind- bar ist. Bei einem η-leitenden Galliumarsenidkörper lichkeit für diese Strahlung 13, z. B. mit einer WeI- kann z. B. durch Aufschmelzen von Indium, das lenlänge von etwa 7000 A, kann auf diese Weise etwa 3 Gewichtsprozent Zink enthält, bei etwa leicht um einen Faktor 2 zunehmen (es tritt z. B. ein 500 bis 700° C ein pn-übergang hergestellt werden, zweimal größerer Kurzschlußstrom im äußeren Kreis 45 während ein praktisch ohmscher Anschlußkontakt 14 der Fig. 1 auf), während bei im Zusammenhang durch Aufschmelzen von Zinn bei der gleichen Temmit der Erfindung durchgeführten Versuchen oft eine peratur erhalten werden kann. Der pn-übergang dreimal größere Empfindlichkeit nachgewiesen läßt sich z. B. auch durch Diffusion von Zink bei wurde. Vielleicht rinden sich Halbleitermaterialien, etwa 900° C in den η-leitenden Galliumarsenidkörper mit denen noch günstigere Ergebnisse erzielbar sind. 50 herstellen. Der Halbleiterkörper der Strahlungs-B ei einer weiteren wichtigen Ausgestaltung der quelle 2 kann auch aus Indiumphosphid bestehen, Strahlungsnachweisvorrichtung nach der Erfindung das eine Breite des verbotenen Bandes von etwa 1,3 bestrahlt deshalb die Strahlungsquelle2 (Fig. 1) den bis 1,4 eV hat, wobei eine Rekombinationsstrahlung photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 praktisch mit ungefähr der gleichen Wellenlänge wie im Falle stetig mit Strahlung 12, von der wenigstens ein we- 55 eines Halbleiterkörpers aus Galliumarsenid erzeugsentlicher Teil der kleineren der zwei Übergangs- bar ist.
stufen entspricht, während das nachzuweisende Der Halbleiterkörper aus Galliumarsenid oder Inoptische
Signal 13 wenigstens zu einem wesentlichen diumphosphid kann mit dem photoempfindlichen
Teil aus Strahlung besteht, die der größeren der zwei Halbleiterkörper 1 aus Galliumphosphid eine Einheit
Ubergangsstufen entspricht. Der mit den Kontakten 6 60 bilden, er kann beispielsweise auf eine in der Haibund
8 versehene photoempfindliche Halbleiter- leitertechnik übliche Weise epitaxial auf dem photokörper
1 kann aus den Materialien bestehen, die empfindlichen Halbleiterkörper 1 angebracht sein,
beim vorstehend an Hand der F i g. 1 beschriebenen Es dürfte einleuchten, daß die Erfindung nicht
Ausführungsbeispiel erwähnt worden sind. auf die beschriebenen Ausführungsbeispiele be-Die
Strahlung 13 (mit einer Wellenlänge von z. B. 65 schränkt ist und daß für den Fachmann im Rahmen
Einheit zusammengebaut. Die Strahlungsquelle 3 ist eine beliebige Strahlungsquelle, deren emittierte
Strahlung 13 nachgewiesen werden soll.
Dei Strahlungsquelle 2 kann z. B. wieder aus einer Wolframbogenlampe bestehen, die mit einem
Monochromator, z. B. einem Interferenzfilter, kombiniert ist.
Die Strahlungsquelle 2 kann auch eine Injektions-
etwa 7000 A) wird in einem photoempfindlichen Halbleiterkörper 1 nachgewiesen, bei dem die Breite
des verbotenen Bandes größer als die Energie ist,
der Erfindung viele Änderungen möglich sind. Bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen enthält
der photoempfindliche Halbleiterkörper z. B. im ver-
botenen Band ein zwischenliegendes Energieniveau, das, wenn der Halbleiterkörper nicht bestrahlt wird,
nicht mit Elektronen besetzt ist, wobei Elektronen optisch aus dem Valenzband zum zwischenliegenden
Energieniveau und dann, ebenfalls optisch, von diesem zwischenliegenden Energieniveau in das Leitungsband
gebracht werden können. Alles zusammengenommen werden somit Elektronen aus dem Valenzband in das Leitungsband gebracht, wodurch
der photoempfindliche Halbleiterkörper als Photospannungszelle ausgebildet sein kann. Es ist jedoch
auch möglich, einen photoempfindlichen Halbleiterkörper zu verwenden, der ein zwischenliegendes
Energieniveau im verbotenen Band hat, das aber mit Elektronen besetzt ist. In diesem Fall können Elektronen
optisch vom zwischenliegenden Energieniveau in das Leitungsband und dann auch Elektronen aus
dem Valenzband zum zwischenliegenden Energieniveau gebracht werden. Alles zusammengenommen
ist auch in diesem Fall das Ergebnis, daß Elektronen in zwei Übergangsstufen über das zwischenliegende
Energieniveau aus dem Valenzband in das Leitungsband gebracht werden. Weiter ist es möglich, daß
der photoempfindliche Halbleiterkörper nur örtlich mit einer Dotierungssubstanz dotiert ist, die das zwischenliegende
Energieniveau induziert, so daß eine Strahlung, die eine der beiden Übergangsstufen herbeizuführen
vermag, aber eine Wellenlänge hat, die einer Energie entspricht, die kleiner als die Breite
des verbotenen Bandes ist, nur an bestimmten erwünschten Stellen absorbiert werden kann. Ferner
ist es nicht notwendig, daß der photoempfindliche Halbleiterkörper einen pn-übergang enthält, und der
photoempfindliche Halbleiterkörper kann beispielsweise auch als eine Photowiderstandszelle ausgebildet
sein. Eine Oberfläche eines zu bestrahlenden Halbleiterkörpers, ζ. B. des Halbleiterkörpers 1 der
Fig. 1, kann mit einer in der Optik üblichen Antireflexschicht
versehen sein.
40
Claims (12)
1. Strahlungsnachweisvorrichtung mit einem photoempfindlichen Halbleiterkörper, dem sowohl
eine anregende Strahlung als auch eine nachzuweisende Strahlung zugeführt wird, wobei
Elektronen aus dem Valenzband in das Leitungsband gebracht werden, dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektronen aus dem Valenzband über eine erste Ubergangsstufe auf ein zwisehen
dem Valenz- und dem Leitungsband liegendes Energieniveau durch diejenige der beiden Strahlungen,
welche im wesentlichen der Quantenenergie der ersten Übergangsstufe entspricht, gebracht
werden und daß die Elektronen über eine zweite Übergangsstufe von dem zwischenliegenden
Energieniveau in das Leitungsband durch die andere der beiden Strahlungen, deren Quantenenergie
im wesentlichen der zweiten Energiestufe entspricht, gebracht werden.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung eine Strahlungsquelle
enthält, durch die eines der optischen Signale dem photoempfindlichen Halbleiterkörper
zugeführt wird, während das andere optische Signal nachgewiesen wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle eine Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle
ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle
und der photoempfindliche Halbleiterkörper einen Teil eines gemeinsamen Halbleiterkörpers bilden.
5. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der photoempfindliche Halbleiterkörper einen pn-übergang enthält.
6. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle den photoempfindlichen Halbleiterkörper praktisch
stetig bestrahlt mit einer Strahlung, von der wenigstens ein wesentlicher Teil der größeren
der zwei Ubergangsstufen entspricht, während das nachzuweisende optische Signal wenigstens
zu einem wesentlichen Teil aus einer Strahlung besteht, die der kleineren der zwei Übergangsstufen entspricht.
7. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle den photoempfindlichen Halbleiterkörper praktisch
stetig mit einer Strahlung bestrahlt, von der wenigstens ein wesentlicher Teil der kleineren
der zwei Übergangsstufen entspricht, während das nachzuweisende optische Signal wenigstens
zu einem wesentlichen Teil aus einer Strahlung besteht, die der größeren der zwei Übergangsstufen entspricht.
8. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der Abstand des zwischenliegenden Energieniveaus vom Valenzband und vom Leitungsband
wenigstens 0,1 eV beträgt.
9. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der photoempfindliche Halbleiterkörper aus Galliumphosphid besteht, das wenigstens an
der Stelle, an der die Strahlung der optischen Signale im wesentlichen absorbiert wird, mit Zink
und Sauerstoff dotiert ist.
10. Vorrichtung nach den Ansprüchen 6 und 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle
eine Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle mit einem einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterkörper
aus Galliumphosphid ist, das wenigstens in der Umgebung des pn-Überganges mit Zink und Sauerstoff dotiert ist.
11. Vorrichtung nach den Ansprüchen 7 und 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle
eine Injektions-Rekombinations-Strahlungsquelle mit einem Halbleiterkörper aus einem
der Halbleitermaterialien Galliumarsenid und Indiumphosphid ist.
12. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
daß der photoempfindliche Halbleiterkörper aus Aluminiumphosphid besteht.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 863 535.
Deutsche Patentschrift Nr. 863 535.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
809 590/355 8.68 Q Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL646401187A NL144092B (nl) | 1964-02-12 | 1964-02-12 | Inrichting voor het detecteren van straling. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1275215B true DE1275215B (de) | 1968-08-14 |
Family
ID=19789260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEN26190A Pending DE1275215B (de) | 1964-02-12 | 1965-02-09 | Strahlungsnachweisvorrichtung |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS4748038B1 (de) |
AT (1) | AT256181B (de) |
BE (1) | BE659704A (de) |
DE (1) | DE1275215B (de) |
ES (1) | ES309185A1 (de) |
FR (1) | FR1428644A (de) |
GB (1) | GB1087274A (de) |
NL (1) | NL144092B (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201703196D0 (en) * | 2017-02-28 | 2017-04-12 | Univ Of Sussex | X-ray and gammay-ray photodiode |
Citations (1)
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---|---|---|---|---|
DE863535C (de) * | 1940-08-25 | 1953-01-19 | Patra Patent Treuhand | Verfahren zur Beeinflussung des photoelektrischen Widerstandes von Halbleiter-Leuchtstoffen |
-
1964
- 1964-02-12 NL NL646401187A patent/NL144092B/xx unknown
-
1965
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- 1965-02-09 AT AT113565A patent/AT256181B/de active
- 1965-02-09 GB GB5534/65A patent/GB1087274A/en not_active Expired
- 1965-02-09 DE DEN26190A patent/DE1275215B/de active Pending
- 1965-02-10 ES ES0309185A patent/ES309185A1/es not_active Expired
- 1965-02-12 BE BE659704A patent/BE659704A/xx unknown
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