DE1253491B

DE1253491B - Pruefvorrichtung fuer informationsverarbeitende Maschinen, z. B. Kartenlocher

Info

Publication number: DE1253491B
Application number: DE1959O0006999
Authority: DE
Original assignee: Olivetti SpA
Current assignee: Olivetti SpA
Priority date: 1958-10-04
Filing date: 1959-10-05
Publication date: 1967-11-02

Description

Prüfvorrichtung für informationsverarbeitende Maschinen, z. B. Kartenlocher Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung für Kartenlocher, bei der die in die Lochkarte einzustanzenden Informationen zunächst in einem Matrixzwischenspeicher, der eine der Anzahl der Zeilen des zu lochenden Aufzeichnungsträgers entsprechende Anzahl von Ebenen enthält und bei dem jede Ebene für jede Spalte je einen Magnetkern besitzt, gegeben werden, der anschließend die für die Einstellung der Lochstempel notwendigen Werte liefert, wobei die Lochstempel zeilenweise und innerhalb jeder Zeile spaltenweise nacheinander synchron mit einer der Lochstation nachgeordneten Abtasteinrichtung gesteuert werden, und bei der der vom Zwischenspeicher gesteuerten Einstellung der Lochstempel Prüfbits gebildet werden, die für jeden vorbestimmten Abschnitt der Lochkarte, z. B. jede Lochspalte, erkennen lassen, ob die Anzahl der zu lochenden Informationen in diesem Abschnitt aus einer geraden oder ungeraden Anzahl von Lochungen besteht.
Bei einem bekannten Kartenlocher wird zu diesem Zweck das Prüfbit mit einem zweiten, beim Ablesen der in den Abschnitt eingestanzten Löcher erzeugten Prüfbit verglichen. Beispielsweise kann ein Prüfbit für eine Gruppe von Kartenspalten oder für eine Kartenzeile verwendet werden.
Es ist darauf ersichtlich, daß bei diesem bekannten Kartenlocher zwei getrennte Prüfbitgeneratoren, nämlich einer für die eingegebene und einer für die abgelesene Information, sowie eine Vergleichseinrichtung notwendig sind.
Außerdem wird als Prüfbitgenerator jeweils ein Flip-Flop verwendet, der als Binärzähler arbeitet und von den die Stanzstempel des Kartenlochers steuernden Impulsen gespeist wird, so daß eine große Anzahl von Flip-Flops, und zwar so viele wie vorhandene Lochkartenabschnitte, notwendig sind.
Bei diesem Kartenlocher wird die in die Lochkarte einzustanzende Information in einem Zwischenspeicher aufgenommen, der eine Speicherstelle für jeweils eine Spalte enthält, wobei die jeweils in den Speicherstellen gespeicherten Zeichen zur Steuerung der zeilenweisen Einstanzung hintereinander im Eintakt mit der Abfühlung einer vorher gestanzten Lochkarte so oft, wie Zeilen in einer Lochkarte enthalten sind, und je Zeile spaltenweise abgelesen werden.
Andererseits ist es bekannt, einen solchen Zwichenspeicher als Matrixspeicher auszubilden, dessen zu einem Satz zusammengefaßte Matrixebenen einen Magnetkern für jeweils eine Spalte enthalten, so daß in den insgesamt für eine Spalte vorgesehenen Magnetkernen jeweils ein Zeichen gespeichert wird.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß durch Verwendung eines Matrixspeichers die Prüfvorrichtung einfacher und billiger als die bekannten Vorrichtungen ausgestattet werden kann.
Erfindungsgemäß besitzt die vorliegende Prüfvorrichtung eine erste Matrixebene, in der die Prüfbits gespeichert werden, und die für jeden vorbestimmten Abschnitt der Lochkarte, z. B. für jede Lochspalte, einen Magnetkern enthält. Weiterhin ist sie mit einer zweiten, gleichartigen Matrixebene versehen, in die die in der ersten Matrixebene gespeicherten Prüfbits nach erfolgter Lochung übernommen werden. Schließlich ist eine an sich bekannte, der Lochstation nachgeordnete Abtasteinrichtung vorgesehen, mit welcher die in jedem vorbestimmten Abschnitt der Lochkarte, z. B. jeder Lochspalte, enthaltene Anzahl von Löchern festgestellt wird und mittels der die in der zweiten Matrixebene enthaltenen Prüfbits bei Übereinstimmung gelöscht werden. Bei Nichtübereinstimmung dagegen spricht eine an sich bekannte Fehlermeldevorrichtung an.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist nach einem weiteren Merkmal der Erfindung mit einem gemeinsamen Auswählkreis ausgestattet, der die Magnetkerne der ersten und zweiten Matrixebene gleichzeitig mit den Magnetkernen der entsprechenden Spalten des Matrixzwischenspeichers ansteuert.
Ferner wird zur Bildung und Eintragung der Prüfbits in die erste Matrixebene ein vom Matrixzwischenspeicher gesteuerter erster Halbaddierer sowie zur Feststellung der übereinstimmung der aus dem gelochten Aufzeichnungsträger abgetasteten Lochanzahl mit den in der zweiten Matrixebene eingespeicherten Prüfbits ein von der Abtasteinrichtung gesteuerter zweiter Halbaddierer vorgeschlagen. Die Prüfvorrichtung nach der Erfindung arbeitet derart, daß zur Kontrolle der auf einem Informationsträger, z. B. einer Lochkarte aufgezeichneten Informationen, für eine vorbestimmte Gruppe von Informationen, z. B. für die in eine Spalte einer Lochkarte eingestanzten Löcher, jeweils ein Prüfbit zum Anzeigen der geraden bzw. ungeraden Anzahl der Löcher in der Spalte einer Lochkarte, gespeichert wird. Dieses Prüfbit wird mit dem aus der aufgezeichneten Informationsgruppe in entsprechender Weise gebildeten Prüfbit verglichen, wobei bei Nichtübereinstimmung eine Fehlermeldevorrichtung betätigt wird. Gleichzeitig mit dem Lochen der Lochkarte wird für jede Spalte in einer aus Magnetspeicherkernen bestehenden Matrixebene ein Prüfbit gespeichert und im Eintakt mit dem Lochen der Lochkarte bzw. dem Auswählen der für die Lochung bestimmten Stempel die in einem vorhergehenden Arbeitsgang hergestellte Lochkarte abgetastet. Hierbei werden die Prüfbits dieser Lochkarte, die vor Beginn der Lochung der nachfolgenden Lochkarte aus der ersten Matrixebene in eine zweite Matrixebene übernommen werden, mittels der bei der Abtastung der Lochkartenspalten entstehenden Impulse immer dann gelöscht, wenn kein Fehler vorliegt.
In der Zeichnung wird die Erfindung an Hand eines besonderen Ausführungsbeispiels näher erläutert. Es zeigt F i g. 1 ein Blockschema der Prüfvorrichtung nach der Erfindung an einem lochbandgesteuerten Kartenlocher, F i g. 2 die Anordnung der Matrixebenen im Kartenlocher und F i g. 3 Arbeitszeitdiagramm der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Es wird Bezug genommen auf eine informationsverarbeitende Maschine, z. B. einen lochbandgesteuerten Kartenlocher, bei dem also das Lochband als Informationsträger dient.
Die im Lochband gespeicherte Information wird einem Zwischenspeicher zugeführt, in dem sie vorübergehend gespeichert wird und von dem aus sie zur Steuerung des Stanzvorgangs in der Lochkarten-Stanzvorrichtung der Maschine in einer vorbestimmten Folge hineingegeben wird.
Es sei angenommen, daß die Lochkarte wie üblich neunhundertsechzig auf achtzig Spalten und zwölf Zeilen verteilte Lochstellen enthält, die jeweils ein Bit darstellen. Die Gruppe von zwölf Bits einer Spalte wird »Zeichen« genannt. Die gesamte Information einer Lochkarte besteht daher aus achtzig Zeichen, die auf dem Lochband durch einen Block von achtzig Zeichen dargestellt wird. Die Zeichen des Blocks können auf dem Lochband nach einem beliebigen Schlüssel gespeichert werden.
Die vom Lochband 1 durch einen bekannten Bandleser 2 abgelesenen Zeichen werden durch einen Zeichenentschlüßler 3 in den Lochkartenschlüssel umgewandelt und dann in den Schreibkreis 4 eines Zwischenspeichers 5 übertragen.
Der Zwischenspeicher 5 ist ein Matrixspeicher, der aus einem Satz von zwölf je achtzig Magnetkerne enthaltenden Matrixebenen 6 (F i g. 2) besteht, wobei die Gruppen 7 von zwölf jeweils einer Spalte zugeordneten Magnetkernen jeweils ein Zeichen speichern können.
Der Matrixspeicher 5 ist mit den üblichen Auswahl-, Lese- und Schreibkreisen 8, 10 bzw. 4 versehen. Insbesondere können die achtzig Magnetkerngruppen 7 jeweils gleichzeitig für die zwölf Magnetkerne der Gruppe durch den Auswählkreis 8 ausgewählt werden. Bei Anordnung der achtzig Magnetkerne jeweils einer Matrixebene 6 in acht Zeilen und zehn Spalten enthält der Ausgang 9 des Auswählkreises 8 acht Zeilen- und zehn Spaltenleitungen. Jede Auswählleitung ist durch alle Magnetkerne der zugeordneten Zeile bzw. Spalte aller Matrixebenen hindurchgefädelt. Deshalb werden zum Auswählen einer vorbestimmten Gruppe 7 das mit den Kernen dieser Gruppe gekoppelte Paar von Zeilen- und Spaltenauswählleitungen ausgewählt. Die Bezugsziffer 10 bedeutet die Gesamtheit der für die zwölf Matrixebenen 5 vorgesehenen zwölf Ablesekreise. Die Bezugsziffer 4 bedeutet die Gesamtheit der für die zwölf Matrixebenen 5 vorgesehenen zwölf Schreibkreise. Beim Erregen des Eingangs jeweils eines Schreibkreises während des Schreibvorgangs wird ein Bit »L« in dem ausgewählten Magnetkern der zugehörigen Matrixebene eingeschrieben.
Die Bezugsziffer 11 bedeutet eine übliche Lochkartenstanzvorrichtung mit neunhundertsechzig in achtzig Zeilen und zwölf Spalten angeordneten Stanzstempeln.
Die Bezugsziffer 13 bedeutet allgemein einen Prüfbitgenerator, der sich dazu eignet, für jede Lochkarte ein Prüfsymbol zu erzeugen, das für jede Kartenspalte ein Prüfbit enthält. Der Prüfbitgenerator 13 enthält eine erste Matrixebene 14, die mit achtzig Magnetkernen versehen und mit einem üblichen Schreibkreis 15 bzw. Ablesekreis 16 ausgestattet ist.
Die achtzig Magnetkerne der Matrixebene 14 sind ebenfalls in acht Spalten und zehn Zeilen verteilt und werden durch den Auswählkreis 8 gleichzeitig mit den zwölf Magnetkernen jeweils einer Gruppe 7 ausgewählt.
Die Bezugsziffer 17 bedeutet eine übliche Kartenabfühlvorrichtung, der die gestanzten Lochkarten von der Stanzvorrichtung 11 aus zugeführt werden.
An der Abfühlvorrichtung 17 werden die Karten 12 jeweils zeilenweise durch eine Gruppe von achtzig jeweils einer Lochkartenspalte zugeordneten Kontaktbürsten 18 abgefühlt. Beim Abfühlen einer Lochkartenzeile werden die achtzig Kontaktbürsten 18 nacheinander in an sich bekannter Weise jeweils nachdem, ob ein Loch abgefühlt wird oder nicht, elektrisch mit der Ausgangsleitung 19 verbunden oder nicht, so daß für jede Lochstelle einer Lochkartenzeile ein Impuls erzeugt wird oder nicht.
Zwischen dem Prüfbitgenerator 13 und der Abfühlvorrichtung 17 ist eine Vergleichseinrichtung 20 angeordnet.
Die Vergleichseinrichtung 20 enthält eine zweite, mit der ersten Matrixebene 14 identische Matrixebene 21, die ebenfalls mit einem üblichen Schreibkreis 22 bzw. Ablesekreis 23 ausgestattet ist. Die in acht Spalten und zehn Zeilen verteilten Magnetkerne der Matrixebene 21 können durch den Auswählkreis 8 gleichzeitig mit den zwölf Magnetkernen jeweils einer Gruppe 7 und dem zugeordneten Magnetkern der Matrixebene 14 ausgewählt werden, so daß insgesamt jeweils eine Gesamtgruppe von vierzehn Magnetkernen gleichzeitig ausgewählt wird.
Eine besonderer Flip-Flop 27, 25 und 26 ist mit den Ausgängen der Ablesekreise 10, 16 bzw. 23 der Matrixebenen 5, 14 bzw. 21 verbunden und so eingerichtet, daß er das von einem Magnetkern abgelesene Bit speichert, bis der nachfolgende Schreibvorgang ausgeführt worden ist, worauf die Flip-Flops durch einen von einem Impulsgenerator 24 erzeugten Impuls in ihren Ruhezustand zurückgebracht werden.
Im Ruhezustand liegen die Ausgänge 28 und 29 der Flip-Flops 25 und 26 auf höherem Potential als die Ausgänge 30 und 31. Die Ausgänge 29 und 31 des Flip-Flops 26 sind mit UND-Schaltungen 32 bzw. 33 verbunden.
Der Ausgang 19 der Abfühlvorrichtung 17 ist mit der Schaltung 33 unmittelbar und über eine Umkehrschaltung 34 mit der Schaltung 32 verbunden. Die Ausgänge der Schaltungen 32 und 33 sind über eine ODER-Schaltung 35 mit dem Schreibkreis 22 der Matrixebene 21 verbunden.
In gleicher Weise sind die Ausgänge 28 und 30 des Flip-Flops 25 mit UND-Schaltungen 36 bzw. 37 verbunden. Der Ausgang des nachstehend beschriebenen Vergleichers 38 ist mit der Schaltung 37 unmittelbar und mit der Schaltung 36 über eine Umkehrschaltung 39 verbunden. Die Ausgänge der Schaltungen 36 und 37 sind über eine ODER-Schaltung 40 mit dem Schreibkreis 15 der Matrixebene 14 verbunden.
Zur Steuerung der übertragung des Prüfsymbols aus dem Prüfbitgenerator 13 in die Vergleichseinrichtung 20 wird eine UND-Schaltung 41 verwendet. Zum Anzeigen von durch die Vergleichseinrichtung 20 während des Prüfvorganges festgestellten Fehlern wird eine UND-Schaltung 42 verwendet.
Wie an Hand des Arbeitszeitdiagrammes in F i g. 3 erläutert wird, arbeitet der lochbandgesteuerte Kartenlocher in aufeinanderfolgenden Maschinengängen MGn, wobei jeder Maschinengang einen Abfühlschritt AS und einen Stanzschritt SS enthält. Während des Abfühlschrittes wird ein vollständiger Block von achtzig in eine Lochkarte 12 zu stanzenden Zeichen von dem Lochband 1 abgefühlt und in den Zwischenspeicher 5 eingeführt. Während des Stanzschrittes wird dieser Block von Zeichen vom Zwischenspeicher 5 abgelesen und sowohl in die Kartenstanzvorrichtung 11 zwecks Steuerung des Stanzvorganges als auch in den Prüfbitgenerator 13 zwecks Erzeugung des Prüfsymbols hineingegeben.
Während des Stanzschrittes SS des unmittelbar folgenden Maschinenganges MG (n+1) wird die soeben gestanzte Lochkarte 12 an der Abfühlvorrichtung 17 abgefühlt, und die sich ergebende Information wird durch die Vergleichseinrichtung 20 mit dem vorher durch den Prüfbitgenerator 13 erzeugten Prüfsymbol verglichen, während die Stanzvorrichtung 11 die nächste Lochkarte stanzt und der Prüfbitgenerator 13 gleichzeitig das betreffende Prüfsymbol dafür erzeugt.
Während des Stanzschrittes jedes Maschinenganges werden die neunhundertsechzig Stanzstempel der Stanzvorrichtung 11 zeilenweise und in jeder Zeile spaltenweise ausgewählt. Am Ende des Stanzschrittes werden alle ausgewählten Lochstempel gleichzeitig betätigt.
Die Stanzvorrichtung 11 erzeugt dabei achtzehn Zeitsignale Z1 bis Z18, um jeden Maschinengang in achtzehn Indexzeiten zu unterteilen, von denen zwölf Indexzeiten entsprechend den zwölf Lochstellen einer Kartenspalte dem Stanzschritt und die übrigen sechs Indexzeiten dem Abfühlschritt zugeordnet sind.
Hierbei erzeugt die Stanzvorrichtung 11 weiterhin am Anfang jeder Indexzeit ein Startsignal ST, das einen Impulsgenerator 24 anlaufen läßt, der einen Binärimpulszähler 43 speist, der so eingerichtet ist, daß er bis achtzig zählt und dann den Generator 24 anhält. Der Ausgang des Zählers 43 speist beim Zählen von eins bis achtzig den Auswählkreis 8, um diesem laufend die Adressen der achtzig Gesamtgruppen von jeweils vierzehn Magnetkernen der Matrixebenen 5, 14 und 21 zuzuführen, wodurch diese Matrixebenen bei jeder Indexzeit des Stanzschrittes einmal vollständig abgelesen werden. Ferner sendet der Generator 24, sobald eine Gesamtgruppe 7 von Magnetkernen ausgewählt worden ist, die eigentlichen Ablese- und Schreibimpulse in das zugeordnete Paar Auswählleitungen. Hieraus ergibt sich, daß das Startsignal jeder Indexzeit des Stanzschrittes durch das Anlaufenlassen des Generators 24 eine Reihe von achtzig Bitspeicherzyklen B 1 bis B80 erzeugt, wobei während jedes dieser Bitspeicherzyklen die Auswähl-, Ablese- und Schreibvorgänge für die entsprechende Gesamtgruppe von Magnetkernen laufend ausgeführt werden.
Ferner erregt der Zähler 43 bei seinem Zählen bis achtzig über einen Impulsverteiler 44 hintereinander die achtzig mit den Abfühlbürsten 18 verbundenen Leitungen 45, so daß er die achtzig Bits der abgefühlten Kartenzeile abliest. Zur gleichen Zeit sendet der Zähler 43 über die Leitungen 45 hintereinander ein Signal in achtzig UND-Schaltungen 46, die im Eintakt mit dem Ablesen der entsprechenden Gesamtgruppen von Magnetkernen der Matrixebenen 5, 14 und 21 den Betrieb der Stanzstempel der Stanzvorrichtung 11 entsprechend den achtzig Kartenspalten steuern.
Der Ausgang jeder UND-Schaltung 46 ermöglicht durch Zusammenwirken der Impulse vom Impulsverteiler und der Impulse aus dem Zwischenspeicher 5 das Auswählen der Stanzstempel für die entsprechende Kartenspalte, während die zu stanzenden Kartenzeilen in bekannter Weise durch die von der Stanzvorrichtung 11 selbst erzeugten Zeitsignale hintereinander ausgewählt werden. Außerdem zeigt ein von der Stanzvorrichtung 11 gesteuerter Anzeiger 47 während jeder Indexzeit dem Vergleicher 38 an, welche Kartenzeile während dieser Indexzeit verarbeitet werden soll. Der Anzeiger 47 ist entsprechend den zwölf Kartenzeilen mit zwölf Ausgängen 48 versehen, wobei jeder Ausgang während der gesamten, durch die Stanzvorrichtung 11 zum Auswählen der Stanzstempel für die entsprechende Kartenzeile erforderliche Indexzeit erregt ist.
In der Abfühlvorrichtung wird die gestanzte Karte zeilenweise im Eintakt mit dem hintereinanderfolgenden Erregen der Ausgänge 48 des Anzeigers 47 und mit dem hintereinanderfolgenden Auswählen der Kartenzeilen in der Stanzvorrichtung an den Abfühlbürsten 18 vorbeigeführt.
Während jeder der zwölf Indexzeiten des Stanzschrittes erzeugt die Stanzvorrichtung 11 über die Eingänge 49, 50, 51 und 52 ein Signal, mit dem sie die Schaltungen 36, 37, 32 bzw. 33 öffnet, sowie über die Eingänge 53 und 54 ein Signal, mit dem sie die Schaltungen 41 bzw. 42 sperrt.
Am Anfang der ersten Indexzeit Z 1 des Stanzschrittes SS, bei der die Stanzstempel für die erste Zeile der Karte ausgewählt werden, gibt die Stanzvorrichtung 11 dem Impulsgenerator 24 ein Startimpuls, so daß der Zähler 43 zu zählen beginnt, und erregt während dieser Indexzeit den ersten Ausgang des Anzeigers 47. Dadurch erregt der Zähler 43 über den Entschlüßler 44 die erste Abfühlbürste 18. Ferner bewirkt er das Auswählen der ersten Gesamtgruppe von Magnetkernen der Matrixebenen 5, 14 und 21. Schließlich erzeugt er ein Signal am Eingang 45 der ersten UND-Schaltung 46, das das Auswählen der Stanzstempel der Stanzvorrichtung 11 für die erste Spalte der Karte ermöglicht.
Daraufhin werden die ausgewählten Magnetkerne abgefragt, wodurch das in der ersten Gruppe 7 von Magnetkernen des Zwischenspeichers 5 entsprechend der ersten Kartenspalte gespeicherte Zeichen durch die Flip-Flops 27 über die Ausgangsleitungen 55 parallel abgelesen wird.
Wenn man annimmt, daß dieses Zeichen das Stanzen eines Loches in der ersten Zeile der Karte erfordert, so erzeugt der Vergleicher 38 am Ausgang 56 ein Signal, da die ersten linken Eingänge 55 und 48 gleichzeitig erregt werden. Dieses Signal wird der Stanzvorrichtung zum Auswählen des Stanzstempels der ersten Zeile der ersten Spalte zugeführt, wodurch die erste UND-Schaltung 46 über den Impulsverteiler 44 durch den Zähler 43 geöffnet wird. Daraufhin wird das soeben abgelesene Zeichen, da die Schreibimpulse den ausgewählten Magnetkernen durch den Generator 24 zugeführt werden, über einen bekannten, in der Zeichnung nicht dargestellten Regenerationskreis in den Schreibkreis 4 hineingegeben, wodurch dieses Zeichen erneut in den ausgewählten Magnetkernen gespeichert wird.
Auch in der Matrixebene 14 wird der erste Magnetkern abgefragt. Da in der Stanzvorrichtung 11 noch kein Stanzstempel für die erste Spalte ausgewählt wurde, befindet sich dieser Magnetkern, wie nachstehend beschrieben, in dem Zustand »0«. Deshalb tritt am Ausgang 57 des Ablesekreises 16 kein Signal auf, wodurch der Flip-Flop 25 in seinem früheren Zustand verbleibt und der mit der Schaltung 37 verbundene Ausgang 30 erregt bleibt.
Die UND-Schaltung 37 gestattet die Übertragung des am Ausgang 56 des Vergleichers 38 auftretenden Signals über die ODER-Schaltung 40 in den Eingang 58 des Schreibkreises 15, indem sie so bewirkt, daß der ausgewählte Magnetkern der Matrixebene 14 in den Zustand »L« gebracht wird, der dem Zustand des Magnetkernes vor seinem Abfragen entgegengesetzt ist.
Schließlich wird auch in der Matrixebene 21 der erste Magnetkern abgefragt. Sofern sich dieser Magnetkern im Zustand »L« befand, bringen die Ableseimpulse ihn in den Zustand »0« und erzeugen am Ausgang 59 des Ablesekreises 23 ein Signal, das das Umschalten des Flip-Flops 26 derart bewirkt, daß der Ausgang 29 auf höherem Potential liegt als der Ausgang 31.
Gleichzeitig wird die Lochstelle der ersten Spalte in der ersten Zeile der im vorhergehenden Maschinengang gestanzten Karte an der Abfühlvorrichtung 17 abgefühlt. Sofern ein Loch festgestellt wird, wird an der Ausgangsleitung 19 ein Signal erzeugt. Die Schaltung 33, deren Eingang 31 nicht erregt ist, sperrt dieses Signal, das, nachdem es durch die Umkehrschaltung 34 umgekehrt worden ist, auch die Schaltung 32 nicht passieren kann. Es wird also an den Ausgängen der Schaltungen 32 und 33 und somit der Schaltung 35 kein Signal erzeugt. Da der Eingang 60 des Schreibkreises 22 nicht erregt ist, verbleibt der erste Magnetkern der Matrixebene 21 nach dem Aufnehmen der Schreibimpulse im Zustand »0«. Es ist somit klar, daß dieser Magnetkern in dem Zustand verbleibt, in den er durch die Ableseimpulse gebracht worden war, welcher Zustand dem Zustand entgegengesetzt ist, in dem er sich vor dem Abfragen befand.
Während des nächsten Bitspeicherzyklus B 2 sendet der Generator 24 das zweite Zählsignal in den Zähler 43, wodurch der Zähler um einen Schritt weitergeht und so das Auswählen der zweiten Gesamtgruppe von Magnetkernen der Matrixebenen 5, 14 und 21 sowie das Erregen sowohl der zweiten Abfühlbürste 18 als auch eines Eingangs der zweiten UND-Schaltung 46 bewirkt. Dieses zweite Zählsignal bringt außerdem alle Flip-Flops 27, 25 und 26 in ihren Ruhezustand zurück.
Daraufhin werden die ausgewählten Magnetkerne abgefragt, wodurch das in der zweiten Gruppe 7 von Magnetkernen des Zwischenspeichers 5 gespeicherte zweite Zeichen über die Flip-Flops 27 abgelesen wird.
Es sei angenommen, daß dieses Zeichen kein Stanzen eines Loches in der ersten Zeile der Karte verlangt. Dann tritt am Ausgang 56 des Vergleichers 38 kein Signal auf, so daß der erste rechte Eingang 55 nicht erregt ist, während nur der erste linke Eingang 48 erregt bleibt. Deshalb wird, da der Ausgang der zweiten UND-Schaltung 46 nicht erregt ist, der Stanzstempel der zweiten Spalte der ersten Zeile in der Stanzvorrichtung 11 nicht ausgewählt. Nach der Aufnahme der Schreibimpulse wird das zweite Zeichen, wie vorstehend festgestellt, über den Regenerationskreis erneut in den ausgewählten Magnetkernen gespeichert.
In der Matrixebene 14 wird ebenfalls der zweite Magnetkern abgefragt. Da er sich im Zustand »0« befindet, tritt am Ausgang 57 kein Signal auf, wodurch der Flip-Flop 25 in seinem früheren Zustand verbleibt und den Ausgang 30 erregt hält.
Da der Ausgang 56 des Vergleichers 38 nicht erregt ist, wird weder der Ausgang der Schaltung 36 noch der Ausgang der Schaltung 37 erregt, so daß am Ausgang der ODER-Schaltung 40 kein Signal auftritt. Da der Eingang 58 des Schreibkreises 15 nicht erregt ist, verbleibt der zweite Kern der Matrixebene 14 nach der Aufnahme der Schreibimpulse in seinem Zustand »0«.
In der Matrixebene 21 wird ebenfalls der zweite Magnetkern abgefragt. Wenn dieser Magnetkern sich im Zustand »L« befindet, wird am Ausgang 59 ein Signal erzielt, das den Flip-Flop 26 zum Erregen des Ausgangs 29 umschaltet.
Gleichzeitig wird an der Abfühlvorrichtung 17 die zweite Spalte der ersten Zeile der beim vorhergehenden Maschinengang gestanzten :arte abgefühlt. Wenn kein Loch festgestellt wird, tritt am Ausgang 19 kein Signal auf, so daß die Umkehrschaltung 34 das Erregen des zugehörigen Eingangs der Schaltung 32 bewirkt und so am Ausgang dieser Schaltung ein Signal erzeugt. Dieses Signal wird über die ODER-Schaltung 35 dem Eingang 60 des Schreibkreises 22 zugeführt, so daß es den zweiten Magnetkern der Matrixebene 21 nach der Aufnahme der Schreibimpulse in den Zustand »L« zurückschaltet, in dem er sich vor dem Abfragen befand.
Beim nächsten Bitspeicherzyklus B 3 schaltet der Generator 24 den Zähler 43 um einen Schritt weiter, so daß der Magnetkern der dritten Spalte in der ersten Zeile abgefragt wird usw. für die nachfolgenden Kartenspalten dieser Zeile. Nach dem Verarbeiten der achtzig Spalten der ersten Zeile hält der Zähler 43 den Generator 24 an. Bei Beginn der zweiten Indexzeit Z 2 wird der Generator 24, wie vorstehend beschrieben, durch die Stanzvorrichtung 11 erneut eingeschaltet, so daß die zweite Zeile verarbeitet wird usw. für die nachfolgenden Zeilen.
Während der zwölf Indexzeiten Z1 bis Z12 des Stanzschrittes SS wird jeder Magnetkern der ersten Matrixebene 14 im Eintakt mit dem Stanzen der zwölf Lochstellen der entsprechenden Kartenspalte durch die Stanzvorrichtung 11 hintereinander zwölfmal abgelesen. Außerdem wird während jeder Indexzeit das Ableseergebnis, je nachdem, ob an der Lochstelle ein Loch zu stanzen ist oder nicht, erneut im Magnetkern eingespeichert, so daß der Schreibkreis 15 durch die in diese Lochstelle hineingegebene Information gesteuert wird.
In gleicher Weise wird in der zweiten Matrixebene 21 jeder Magnetkern während der zwölf Indexzeiten des Stanzschrittes im Eintakt mit dem Abfühlen der zwölf Lochstellen der entsprechenden Kartenspalte durch die Abfühlvorrichtung 17 hintereinander zwölfmal abgelesen. Ferner wird, je nachdem, ob ein Loch abgefühlt worden ist oder nicht, das Abfühlergebnis erneut im Magnetkern eingespeichert, so daß der Schreibkreis 22 durch das gleichzeitig am Ausgang 19 der Abfühlvorrichtung 17 erzeugte Signal gesteuert wird.
Zur Klarstellung der Arbeitsweise des Prüfbitgenerators 13 und der Vergleichseinrichtung 20 für alle möglichen Fälle sei angenommen, daß das Bit am Ausgang 56, je nachdem, ob ein Stanzstempel ausgewählt werden soll oder nicht, »L« oder »0« ist, daß das Bit am Ausgang 19, je nachdem, ob ein Loch abgefühlt wird oder nicht, »L« oder »0« ist, daß das Bit an den Ausgängen 57 und 59 der Ablesekreise 16 bzw. 23, je nachdem, ob es durch Abfragen eines sich im Zustand »L« oder »0« befindenden Magnetkernes erzielt wird, »L« oder »0« ist, daß ein Bit »L« an den Eingängen 58 und 60 der Schreibkreise 15 bzw. 22 bewirkt, daß der ausgewählte Magnetkern der Matrixebenen 14 bzw. 21 in den Zustand »L« gebracht wird und daß ein Bit »0« an diesen Ausgängen diese Magnetkerne in den Zustand »0« bringt. Die Arbeitsweise der Vergleichseinrichtung 20 und des Prüfbitgenerators 13 kann dann durch die nachfolgende Tabelle zusammengefaßt werden:

Ausgänge 56 bzw.19 Ausgänge 57 bzw. 59 Eingänge 58

bzw.60

L 0 L

0 0 0

L L 0

0 L L

Daraus geht hervor, daß jedes Bit »L« aus dem Vergleicher 38 bei Beendigung des Bitspeicherzyklus den gleichzeitig ausgewählten Magnetkern der Matrixebene 14 in den seinem früheren Zustand entgegengesetzten Zustand bringt und daß jedes Bit »0« aus dem Vergleicher 38 den Magnetkern in seinem vorhergehenden Zustand beläßt. In gleicher Weise bringt jedes Bit »L« aus der Kartenabfühlvorrichtung 17 nach Beendigung des Bitspeicherzyklus den gleichzeitig ausgewählten Magnetkern der Matrixebene 21 in den seinem vorhergehenden Zustand entgegengesetzten Zustand und beläßt jedes Bit »0« aus der Abfühlvorrichtung 17 den Magnetkern in seinem vorhergehenden Zustand.
Infolgedessen wirkt jeder Magnetkern der Matrixebenen 14 und 21 gegenüber den an den Leitungen 56 bzw. 19 auftretenden Signalen als Binärimpulszähler.
Aus obiger Tabelle ist weiterhin ersichtlich, daß der Schaltkreis, der aus dem Flip-Flop 25, der Umkehrschaltung 39, den UND-Schaltungen 36 und 37 und der ODER-Schaltung besteht, als ein Halbaddierer mit zwei Eingängen 56 und 57 und einem Ausgang 58 wirkt, wie aus dem Buch »Arithmetical operations in digital computers« von R. K. Richards, S. 86, Fig. 4-3 (a), an sich bekannt ist.
Ebenfalls wirkt der Schaltkreis, bestehend aus dem Flip-Flop 26, der Umkehrschaltung 34, den UND-Schaltungen 32 und 33 und der ODER-Schaltung 35, als ein zweiter Halbaddierer mit zwei Eingängen 19 und 59 und einem Ausgang 60.
Es sei bemerkt, daß jedem Magnetkern der Matrixebene 14 hintereinander alle und nur die durch den Vergleicher 38 erzeugten und zum Auswählen der Stanzstempel für die entsprechende Spalte hineingegebenen Signale zugeführt werden. Wie nachstehend erläutert, wird ferner vor dem Verarbeiten einer Karte die Matrixebene 14 gelöscht, indem alle ihre Magnetkerne in den Zustand »0« zurückgebracht werden.
Deshalb befindet sich am Ende des Stanzschrittes SS des Maschinenganges MG n, d. h. nach dem Auswählen der Stanzstempel für alle Zeilen der Karte, jeder Magnetkern der Matrixebene 14 entweder im Zustand »L« oder dem Zustand »0«, je nachdem, ob die Anzahl von gemäß den vom Vergleicher 38 zugeführten Signale in der entsprechenden Spalte zu stanzenden Löchern ungerade oder gerade ist. Die Matrixebene 14 speichert daher am Ende des Stanzschrittes des Maschinenganges das aus achtzig Prüfbits bestehende Prüfsymbol der soeben gestanzten Karte, wobei jedes Prüfbit, je nachdem, ob die Anzahl der in der entsprechenden Spalte zu stanzenden Löcher ungerade oder gerade ist, »L« oder »0« ist.
Am Ende des letzten Stanzschrittes wird dieses Prüfsymbol, wie nachstehend gezeigt, von der Matrixebene 14 auf die Matrixebene 21 übertragen, wobei jedes Prüfbit in dem der entsprechenden Spalte der Karte zugeordneten Magnetkern dadurch gespeichert wird, daß dieser Magnetkern aus einem vorbestimmten Ausgangszustand, beispielsweise dem Zustand »0«, in einen das Prüfbit darstellenden Zustand gebracht wird.
Während des Stanzschrittes SS des nachfolgenden Maschinenganges MG (n+1) der nächsten Lochkarte wird die soeben gelochte Karte an der Abfühlvorrichtung 17 abgefühlt, wobei jedem Magnetkern der Matrixebene 21 sämtliche am Ausgang 19 von der die entsprechende Spalte der Karte abtastenden Kontaktbürste 18 erzeugten Signale hintereinander zugeführt werden. Dadurch wird jetzt jeder dem bei der Aufnahme einer ungeraden Anzahl von Signalen aus dem Ausgang 56 vorher aus dem Zustand »0« in den Zustand »L« gebrachten Magnetkern der Matrixebene 14 entsprechende Magnetkern der Matrixebene 21 ebenfalls nach Aufnahme einer ungeraden Anzahl von Signalen aus dem Ausgang 19 in seinen Ausgangszustand »0" zurückgebracht. In gleicher Weise wird jeder einem vorher nach Aufnahme einer geraden Anzahl von Signalen aus dem Zustand »0« wieder in den Zustand »0« gebrachten Magnetkern der Matrixebene 14 entsprechende Magnetkern der Matrixebene 21 ebenfalls nach Aufnahme einer geraden Anzahl von Signalen jetzt in seinen Ausgangszustand »0« zurückgebracht. Schließlich müssen, sofern die Karte richtig gelocht worden ist, am Ende des Kartenabfühlvorganges alle Magnetkerne der Matrixebene 21 in den Ausgangszustand »0« gebracht werden.
Wenn dagegen am Ende des jetzt behandelten Stanzschrittes nach dem Abfühlen aller Lochstellen der entsprechenden Kartenspalte an der Abfühlvorrichtung 17 ein Magnetkern der Matrixebene 21 nicht in den Ausgangszustand »0« zurückgebracht worden ist, so bedeutet dies, daß für die betreffende Spalte das Prüfbit und die Anzahl von durch die Abfühlvorrichtung erzeugten Signalen nicht beide ungerade oder beide gerade sind und daß deshalb ein Fehler in dieser Kartenspalte vorgekommen ist, weil dort eine ungerade Anzahl von Löchern willkürlich gestanzt oder ausgelassen worden ist.
Demzufolge wird nach dem Abfühlen aller Lochstellen dieser Spalte der Inhalt dieses Magnetkerns zwecks Betätigung der Fehlermeldevorrichtung 62 abgelesen.
Mehr im einzelnen bewirkt die Abfühlvorrichtung 17 zwecks Meldung dieser Stanzfehler für die soeben abgefühlte Karte und zwecks gleichzeitiger übertragung des Prüfsymbols der soeben an der Stanzvorrichtung 11 verarbeiteten Karte von der Matrixebene 14 auf die Matrixebene 21, während der dreizehnten Indexzeit Z13, und zwar nach Beendigung des letzten Stanzschrittes SS, das Umkehren der Polarität der Signale an den Eingängen 49, 50, 51, 52, 53 und 54, um dadurch die Schaltungen 36, 37, 32 und 33 zu sperren und die Schaltungen 41 und 42 zu öffnen. Dann läßt das Startsignal der dreizehnten Indexzeit den Impulsgenerator 24 erneut anlaufen und bewirkt so, daß der Zähler 43 seit dem Beginn des Maschinenganges zum dreizehnten Male von 1 bis 80 zählt, der Auswählkreis 8 betätigt wird und die Ablese- und Schreibimpulse den ausgewählten Magnetkernen zugeführt werden. Dadurch werden die Magnetkerne jeder der Matrixebenen 5, 14, 21 erneut hintereinander abgelesen, während die Stanz-und Abfühlvorrichtungen unbetätigt bleiben.
Während des ersten Bitspeicherzyklus B 1 bewirkt der Zähler 43 nach Aufnahme des ersten Signals aus dem Generator 24 das Auswählen der der ersten Kartenspalte entsprechenden Gesamtgruppe von Magnetkernen in den Matrixebenen. Dann wird in der Matrixebene 21 der erste Magnetkern abgefragt. Wenn er sich in seinem Ausgangszustand »0« befand, tritt am Ausgang 59 kein Signal auf, wodurch der Flip-Flop 26 in seinem vorhergehenden Zustand verbleibt und am Ausgang der Schaltung 42 kein Signal erzeugt wird. Wenn dieser Magnetkern sich dagegen im Zustand »L« befand, wird beim Abfragen am Ausgang 59 ein Signal erhalten, das bewirkt, daß der Flip-Flop 26 den Ausgang 29 erregt, so daß ein Signal aus der Schaltung 42 die Fehlermeldevorrichtung 62 betätigt.
In der Matrixebene 14 wird der erste Magnetkern ebenfalls abgefragt. Wenn er sich im Zustand »0« befand, tritt am Ausgang 57 kein Signal auf, wodurch der Flip-Flop 25 in seinem früheren Zustand verbleibt. Infolgedessen tritt am Ausgang der Schaltung 41 kein den Eingang 60 erregendes Signal auf, und es bleibt der erste Magnetkern der Matrixebene 21 nach der Aufnahme der Schreibimpulse im Zustand »0«, in den er beim Abfragen gebracht worden war, und zwar in dem gleichen Zustand wie der entsprechende Magnetkern der Matrixebene 14 vor dem Abfragen. Wenn der erste Magnetkern der Matrixebene 14 sich dagegen im Zustand »L« befand, schaltet beim Abfragen ein am Ausgang 57 erzeugtes Signal den Flip-Flop 25 um, so daß er den Schreibkreis 22 speist und bewirkt, daß der erste Magnetkern der Matrixebene 21 bei Aufnahme der Schreibimpulse in den Zustand »L«, und zwar in diesem Falle in den gleichen Zustand wie der entsprechende Magnetkern der Matrixebene 14 vor dem Abfragen, gebracht wird.
Auf diese Weise wird das Prüfbit der ersten Kartenspalte vom ersten Magnetkern der Matrixebene 14 abgelesen und im ersten Magnetkern der Matrixebene 21 gespeichert.
Während des darauffolgenden Bitspeicherzyklus B 1 sendet der Generator 24 das zweite Signal in den Zähler 43, so daß der Zähler 43 um einen Schritt weitergeht und so das Auswählen der der zweiten Kartenspalte entsprechenden Magnetkerne bewirkt.
In der Matrixebene 21 wird der ausgewählte Magnetkern abgefragt. Wenn er sich im Ausgangszustand »0« befand, wird am Ausgang 59 kein Signal erzielt, so daß der Flip-Flop 26 in seinem früheren Zustand verbleibt und am Ausgang der Schaltung 42 kein Signal auftritt. Wenn sich dieser Magnetkern dagegen im Zustand »L« befand, wird am Ausgang 59 ein Signal erzielt, das den Flip-Flip 26 umschaltet, so daß die Fehlermeldevorrichtung 62 betätigt wird.
In der Matrixebene 14 wird der zweite Magnetkern ebenfalls abgefragt. Wenn er sich im Zustand »0« befand, tritt am Ausgang 57 kein Signal auf, so daß der Flip-Flop 25 in seinem früheren Zustand verbleibt. Deshalb tritt am Ausgang der Schaltung 41 kein den Eingang 60 erregendes Signal auf, und es verbleibt der zweite Magnetkern der Matrixebene 21 nach Aufnahme der Schreibimpulse in seinem Zustand »0«, in den er beim Abfragen gebracht worden war, d. h. im gleichen Zustand wie der entsprechende Magnetkern der Matrixebene 14 vor dem Abfragen. Wenn sich der zweite Magnetkern der Matrixebene 14 dagegen im Zustand »L« befand, so schaltet ein beim Abfragen am Ausgang 57 erzeugtes Signal den Flip-Flop 25 um, so daß er den Schreibkreis 22 erregt und bewirkt, daß der zweite Magnetkern der Matrixebene 21 bei Aufnahme der Schreibimpulse in den Zustand »L« gebracht wird, d. h. auch in diesem Falle in den gleichen Zustand wie der entsprechende Magnetkern der Matrixebene 14 vor dem Abfragen.
Auf diese Weise wird das Prüfbit der zweiten Spalte am zweiten Magnetkern der Matrixebene 14 abgelesen und im zweiten Magnetkern der Matrixebene 21 gespeichert usw. für die nachfolgenden Prüfbits, so daß nach vollständigem Ablesen sämtlicher Magnetkerne die Matrixebene 14 gelöscht ist. Sie ist daher zum Bilden des Prüfsymbols für die nächste Karte während des nächsten Maschinenganges MG (n +1) bereit, und die Matrixebene 21 speichert das Prüfsymbol der soeben in der Stanzvorrichtung 11 gestanzten Karte. Beim nächstfolgenden Ableseschritt AS des jetzt beschriebenen Maschinenganges MG (n+ 1) wird ein neuer Block von Zeichen vom Lochband 1 gelesen und in den Zwischenspeicher 5 eingegeben. Um zu verhindern, daß die Matrixebene 21 während dieses Schrittes gelöscht wird, so daß sie den Verlust des Prüfsymbols verursachen würde, ist für die Matrixebene 21 ein bekannter, nicht dargestellter Regenerationskreis vorgesehen, so daß das Prüfsymbol bis zum Stanzschritt des nachfolgenden Maschinenganges gespeichert wird.
Obwohl in der vorstehenden Beschreibung auf eine übliche Lochkarte Bezug genommen wurde, können auch andere Informationsträger, wie beispielsweise Magnetkarten oder aufeinanderfolgende Abschnitte eines schrittweise an der Stanzvorrichtung und der Abfühlvorrichtung vorbeibewegten Bandes verwendet werden-Schließlich kann, sofern bei der Stanzvorrichtung 11 die während eines Auswählschrittes ausgewählten Stanzstempel beim darauffolgenden Schritt betätigt werden, während die Karte wiederum in dem darauffolgenden Schritt abgefühlt wird, eine den Matrixebenen 14 und 21 gleichartige weitere Matrixebene vorgesehen werden, die das während des Auswählschrittes erzeugte und während des Abfühlschrittes zu verwendende Prüfsymbol während des Stanzschrittes speichert.

Claims

Patentansprüche: 1. Prüfvorrichtung für Kartenlocher, bei der die in die Lochkarte einzustanzenden Informationen zunächst in einem Matrixzwischenspeicher, der eine der Anzahl der Zeilen des zu lochenden Aufzeichnungsträgers entsprechende Anzahl von Ebenen enthält und bei dem jede Ebene für jede Spalte je einen Magnetkern besitzt, gegeben werden, der anschließend die für die Einstellung der Lochstempel notwendigen Werte liefert, wobei die Lochstempel zeilenweise und innerhalb jeder Zeile spaltenweise nacheinander synchron mit einer der Lochstation nachgeordneten Abtasteinrichtung gesteuert werden, und bei der der vom Zwischenspeicher gesteuerten Einstellung der Lochstempel Prüfbits gebildet werden, die für jeden vorbestimmten Abschnitt der Lochkarte. z. B. jede Lochspalte, erkennen lassen, ob die Anzahl der zu lochenden Informationen in diesem Abschnitt aus einer geraden oder ungeraden Anzahl von Lochungen besteht, g e k e n n -z e i c h n e t d u r c h eine erste Matrixebene (14). in der die Prüfbits gespeichert werden, und die für jeden vorbestimmten Abschnitt der Lochkärte, z. B. für jede Lochspalte, einen Magnetkern enthält, durch eine zweite, gleichartige Matrixebene (21), in die die in der ersten Matrixebene gespeicherten Prüfbits nach erfolgter Lochung übernommen werden, durch eine an sich bekannte, der Lochstation nachgeordnete Abtasteinrichtung zur Feststellung der, in jedem vorbestimmten Abschnitt der Lochkarte, z. B. jeder Lochspalte, enthaltenen Anzahl von Löchern, mittels der die in der zweiten Matrixebene (21) enthaltenen Prüfbits bei der übereinstimmung gelöscht werden und einer an sich bekannten Fehlermeldevorrichtung (62), die bei Nichtübereinstimmung anspricht.
2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen gemeinsamen Auswählkreis (8), der die Magnetkerne der Matrixebenen (14, 21) gleichzeitig mit den Magnetkernen der entsprechenden Spalten des Matrixzwischenspeichers (5) ansteuert.
3. Prüfvorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, gekennzeichnet durch einen vom Matrixzwischenspeicher (5) gesteuerten ersten Halbaddierer (25, 36, 37, 39, 40) zur Bildung und Eintragung der Prüfbits in die erste Matrixebene (14) und einen von der Abtasteinrichtung (17) gesteuerten zweiten Halbaddierer (26, 32, 33, 34, 35) zur Feststellung der übereinstimmung der aus dem gelochten Aufzeichnungsträger abgetasteten Lochanzahl mit den in der zweiten Matrixebene (21) eingespeicherten Prüfbits.