DE1240187B - Verfahren zur Herstellung eines sperrfreien Kontaktes durch Auflegieren von Aluminium - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines sperrfreien Kontaktes durch Auflegieren von AluminiumInfo
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Description
AUSLEGESCHRIFT
DeutscheKI.: 21g-11/02
Nummer: 1240 187
Aktenzeichen: S 79498 VIII c/21 g
J 240 187 Anmeldetag: 18.Mail962
Auslegetag: 11. Mai 1967
Es ist bekannt, zur Kontaktierung von Halbleiterkörpern, insbesondere solchen aus Silizium, Aluminium
zu verwenden. Abgesehen von anderen vorteilhaften Eigenschaften kann Aluminium unmittelbar
als Lot zur Verbindung des Halbleiterkörpers mit Anschlußelektroden verwendet werden.
Wegen der p-dotierenden Wirkung des Aluminiums kann man je nach Wahl des Leitfähigkeitstyps des
Ausgangsmaterials einmal einen pn-übergang, zum anderen einen ohmschen Kontakt herstellen. Man
kann jedoch nicht ohne weiteres beide Seiten eines mit einem pn-übergang versehenen Halbleiterkörpers
mit Aluminium kontaktieren. Um dies dennoch ohne Bildung eines zusätzlichen pn-Überganges zu ermöglichen,
hat man bereits die Störstellenkonzentration in der mit dem Aluminium zu legierenden Oberflächenschicht
vom η-Typ sehr hoch gemacht, so daß die p-dotierende Wirkung des Aluminiums überkompensiert
wird.
Nun hat sich aber gezeigt, daß Dioden mit einer durch Diffusion erzeugten p+—nn+- oder p+—pn+-
Struktur und einem auf die stark η-dotierte Schicht auflegierten Aluminiumkontakt einen auffällig starken
Anstieg des Spannungsabfalles in Durchlaßrichtung bei sehr hoher Stromdichte haben. Das soll
durch das Verfahren nach der Erfindung vermieden werden.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung eines sperrfreien Kontaktes durch Auflegieren
von Aluminium oder einer Aluminiumgrundlegierung auf der stark η-dotierten Seite eines Halbleiterkörpers
mit durch Diffusoin erzeugter pnn+- Struktur.
Die Erfindung besteht darin, daß hierbei dem Aluminium bzw. der Aluminiumgrundlegierung ein Donatoren
liefernder Stoff zugegeben wird, obwohl die Oberflächenschicht des Halbleiterkörpers bereits
stark mit Donatoren dotiert ist.
Zur näheren Erläuterung der Erfindung an Hand von Ausführungsbeispielen wird nunmehr auf die
Figuren der Zeichnung Bezug genommen, die in einem zur Veranschaulichung gewählten Maßstab
wiedergegeben sind.
Nach der F i g. 1 wird von einem Halbleiterkörper 1, z. B. aus schwach p-leitendem Silizium, ausgegangen.
Nach der F i g. 2 sind in diesem Halbleiterkörper 1, nachdem auf seine obere Oberfläche z. B. eine pastenartige
Störstellensubstanz 6 zur Lieferung von Donatostörstellen und auf seine untere Oberfläche eine
z. B. pastenartige Störstellensubstanz 7 zur Lieferung von Akzeptorstörstellen aufgebracht worden war,
Verfahren zur Herstellung eines sperrfreien
Kontaktes durch Auflegieren von Aluminium
Kontaktes durch Auflegieren von Aluminium
Anmelder:
Siemens Aktiengesellschaft, Berlin und München, Erlangen, Werner-von-Siemens-Str. 50
Als Erfinder benannt:
Dipl.-Ing. Udo Lob, München
Dipl.-Ing. Udo Lob, München
durch Eindiffusion bei etwa 1200 bis 1250° C die beiden stärker dotierten Zonenla bzw. Ib erzeugt
worden, wobei die Zone la η-leitend und die Zonelfe p-leitend ist. Auf diesen durch Eindiffusion in seinen
entsprechenden Bereichen dotierten Halbleiterkörper wurde nunmehr, nachdem gegebenenfalls vorher
seine Oberflächen noch von den an ihnen noch vorhandenen Resten der für die Diffusionsbehandlung
des Halbleiterkörpers benutzten Substanzen chemisch durch Ätzen, z.B. in Flußsäure, mechanisch z.B.
durch Schleifen oder Läppen sowie anschließend durch einen Waschprozeß, z.B. in mit einem Netzmittel
versehenem Wasser, gesäubert und schließlich getrocknet worden waren, auf seine obere Oberfläche
ein Elektrodenmaterialkörper 2 aus Aluminium mit einem Zusatz einer Donatorstörstellensubstanz, z. B.
Phosphor, und auf die untere Oberfläche ein Elektrodenmaterialkörper 3 aus reinem Aluminium oder einer
Aluminiumgrundlegierung aufgebracht. Diese beiden Elektrodenmaterialkörper wurden in den Halbleiterkörper
bei etwa 750 bis 850° C einlegiert, so daß sich gemäß F i g. 3 benachbart der oberen Oberfläche
im Halbleiterkörper eine hochdotierte η-leitende Legierungszone Ic und benachbart der unteren Oberfläche
des Halbleiterkörpers eine einlegierte hochdotierte p-leitende ZoneliZ ergeben hat.
In sinngemäßer Weise kann auch von einem Halbleiterkörper 1 aus schwach η-leitendem Halbleitermaterial
ausgegangen werden, wobei dann der pn-übergang sinngemäß nach der Seite der durch
das Einlegieren von reinem Aluminium oder einer Aluminiumgrundlegierung erzeugten Anschlußelektrode
zu liegt.
In der F i g. 3 ist ferner gezeigt, wie der Einlegierungsprozeß der Aluminiumkörper gleichzeitig dazu
benutzt werden kann, den Halbleiterkörper mit zusätzlichen Hilfsträgerplatten 8 bzw. 9, z.B. aus
709 579/344
Claims (1)
- Molybdän, Wolfram oder Tantal, zu verbinden, wobei das Aluminium unmittelbar die Rolle des Lotes übernimmt.Patentanspruch:Verfahren zur Herstellung eines sperrfreien Kontaktes durch Auflegieren von Aluminium oder einer Aluminiumgrundlegierung auf der stark η-dotierten Seite eines Halbleiterkörpers mit durch Diffusion erzeugter p+—nn+- oder p+—pn+-Struktur, dadurchgekennzeichnet, daß dem Aluminium- bzw. der Aluminium-grundlegierung ein Donatoren liefernder Stoff zugegeben wird.In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1018 557, 1050450;deutsche Auslegeschrift W 14766 VIIIc/21g (bekanntgemacht am 9.2.1956); britische Patentschrift Nr. 836 851; französische Patentschrift Nr. 1225 409; USA.-Patentschrift Nr. 2 984 775; »NTF«, H. 1, 1955, S. 33 bis 36.Hierzu 1 Blatt Zeichnungen709 579/344 5.67 © Bundesdruckerei Berlin
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Also Published As
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