DE1223804B - Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium - Google Patents
Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie SiliciumInfo
- Publication number
- DE1223804B DE1223804B DES72220A DES0072220A DE1223804B DE 1223804 B DE1223804 B DE 1223804B DE S72220 A DES72220 A DE S72220A DE S0072220 A DES0072220 A DE S0072220A DE 1223804 B DE1223804 B DE 1223804B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- base plate
- precipitation
- temperature
- protective plate
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/02—Silicon
- C01B33/021—Preparation
- C01B33/027—Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material
- C01B33/035—Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds in the presence of heated filaments of silicon, carbon or a refractory metal, e.g. tantalum or tungsten, or in the presence of heated silicon rods on which the formed silicon is deposited, a silicon rod being obtained, e.g. Siemens process
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22B—PRODUCTION AND REFINING OF METALS; PRETREATMENT OF RAW MATERIALS
- C22B41/00—Obtaining germanium
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
BOId
Deutsche Kl.: 12 c-2
Nummer: 1 223 804
Aktenzeichen: S 72220IV c/12 c
Anmeldetag: 26. Januar 1961
Auslegetag: 1. September 1966
Eine Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium, durch thermische Dissoziation
aus einer gas- bzw. dampfförmigen chemischen Verbindung, die den auszuscheidenden reinen Stoff als
Komponente enthält, auf mittels Stromdurchgang als elektrische Widerstandsleiter auf die Zersetzungstemperatur
der Verbindung beheizten Niederschlagskörpern, bestehend aus einer vorzugsweise metallenen
Grundplatte, welche Zu- und Ableitungen für die Gase und für den elektrischen Strom zu den Trägern
der Niederschlagskörper enthält, und aus einem darüber gestülpten, am Rand mit der Grundplatte gasdicht
verbundenen Gefäß sowie einer oberhalb der Grundplatte angeordneten Schutzplatte aus dem gleichen
Material wie das Gefäß, ist bekannt.
Für den bei einer solchen Anlage erreichten Wirkungsgrad der Erzeugung reinen niedergeschlagenen
Halbleiterwerkstoffes spielt nun auch eine beachtliche Rolle, daß sich der wesentlichste Anteil dieses aus der
Gasphase niedergeschlagenen Materials tatsächlich an dem Niederschlagskörper bzw. Niederschlagskörpern
ansetzt und nicht an den Wänden bzw. der inneren Mantelfläche des Behälters, in welchem die thermische
Dissoziation durchgeführt wird. Es ist daher wichtig, daß die Innenwände dieses Raumes sich in
thermischer Hinsicht möglichst alle gleichartig verhalten, indem an allen Oberflächenteilen möglichst die
gleiche Temperatur herrscht und diese Temperatur in einem gewissen Verhältnis zu derjenigen der Niederschlagskörper
steht. Eine weitere Rolle, damit das Material in möglichst reinem Zustand gewonnen wird,
spielt auch, daß in dem Behälter möglichst wenig Fremdstoffe vorhanden sind, die gegebenenfalls bei
dem Niederschlagen des zu gewinnenden Materials sich mit in dieses einlagern könnten. Zur Erreichung
dieses Zieles ist aber eine notwendige Voraussetzung, daß die Innenflächen des Behälters sich in möglichst
einfacher Weise reinigen lassen. Damit die gegebenenfalls
nicht nutzbare, weil an artfremden Stoffen niedergeschlagene Menge des Halbleiterstoffes, also die an
den inneren Mantelflächen des Behälters niedergeschlagene, anteilig möglichst gering ausfällt, scheint
ferner die Entfernung dieser inneren Mantelflächen des Behälters von den beheizten Niederschlagskörpern
eine beachtliche Rolle zu spielen. Hieraus kann sich somit die Aufgabestellung ergeben, diese Entfernung
der Oberflächen der inneren Mantelfläche des Niederschlagsraumes von den Niederschlagskörpern
je nach Bedarf bzw. Betriebsart der Niederschlagseinrichtung entsprechend wählen oder anpassen zu
können.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist erfindungsgemäß Vorrichtung zur Gewinnung reinen
Halbleitermaterials, wie Silicium
Halbleitermaterials, wie Silicium
Anmelder:
Siemens-Schuckertwerke Aktiengesellschaft,
Berlin und Erlangen,
Erlangen, Werner-von-Siemens-Str. 50
Als Erfinder benannt:
Dipl.-Chem. Dr. rer. nat. Herbert Sandmann,
Ulrich Rucha, München
die dem Niederschlagsraum zugewandte Fläche der Grundplatte plan geschliffen, und auf ihr liegt die
Schutzplatte auf.
Der plangeschliffene, vorzugsweise geläppte Zustand der genannten Fläche der Grundplatte gewährleistet
eine relativ einfache Reinigung der Fläche der Grundplatte, welche dem Innenraum der Niederschlagseinrichtung
zugewandt ist. Es können also von dieser bei jedem Niederschlagsprozeß leicht alle diejenigen
Stoffe auf einfache Weise entfernt werden, welche zu Nachteilen in der Gewinnung reinen Halbleiterstoffes
bei dessen Niederschlag auf den Niederschlagskörper führen könnten. Diese ebene geschliffene
Fläche der Grundplatte gewährleistet gleichzeitig, daß an ihr je nach Bedarf Rezipienten verschiedener
lichter Weite bzw. Grundfläche aufgesetzt und dann unmittelbar an dieser Fläche unter gegenseitiger Abdichtung
der Berührungsflächen mittels einer Folie, z. B. aus Polytetrafluoräthylen, dicht festgespannt
werden können. Die Schutzplatte ist dabei in bezug auf die Abmessungen der von der Grundplatte herausragenden
Teile, als auch gegenüber den Abmessungen der inneren Mantelfläche des jeweiligen benutzten
glockenförmigen Rezipienten derart bemessen, daß nur sehr kleine Spalte zwischen der Schutzplatte und
den Teilen entstehen, durch welche hindurch eine unmittelbare thermische Beeinflussung der Oberfläche
der Grundplatte eintreten könnte.
Die Schutzplatte hat die Wirkung, daß sie eine Einrichtung eines vorbestimmten Wärmewiderstandes für
den Wärmefluß bildet, der auf Grund der in dem Innenraum der Vorrichtung herrschenden Temperatur
und durch diese Platte hindurch bis an deren Außenfläche seinen Weg nimmt. Dieser Wärmewiderstandskörper
sorgt dann dafür, daß in ihm ein solches
609 658/262
Wärmegefälle stattfindet, daß an der gegenseitigen Berührungsfläche zwischen der Schutzplatte und der
Grundplatte des Rezipienten nur noch ein relativ niedriger Temperaturwert herrscht. Dieser soll derart
niedrig sein, daß an den Durchführungen, welche in der Grundplatte für die elektrischen Zuleitungen zu
den Trägerkörpern der Niederschlagsstäbe benutzt sind, ein hochwertiges Isoliermaterial zur Anwendung
gelangen kann, bei dem die Grenze seiner Temperaturfestigkeit relativ niedrig liegen kann.
Die Schutzplatte liegt auf der Grundplatte lose auf und kann so leicht ausgetauscht werden. Das kann
von Bedeutung sein, um im Innenraum mit verschiedenen Betriebstemperaturen arbeiten zu können und
auf diese Weise z. B. gegebenenfalls den Niederschlagsprozeß durch Wahl einer höheren Niederschlagstemperatur
zu beschleunigen oder die im Niederschlag entstehende kristalline Struktur insbesondere
im Sinne ihrer Verbesserung bis zum Grundwert der einkristallinen Struktur zu beeinflussen, wenn Niederschlagskörper
aus einkristallinem Material benutzt werden. Soll in diesem Sinne mit. einer höheren Temperatur
gearbeitet werden, so ergibt sich sinngemäß, um eine gleiche günstige Wirkung in thermischer Hinsicht
für die Teile der Grundplatte zu erreichen, daß die Schutzplatte, die z. B. aus Quarz besteht, einen
Wärmewiderstandweg größeren Widerstandswertes bildet, also dicker bemessen werden muß, damit zwischen
den Endflächen dieses Weges ein größeres Wärmegefälle übernommen werden kann.
Die leichte Auswechselbarkeit der Schutzplatte erlaubt auch, daß jeweils Rezipienten mit solcher Grundfläche
aufgesetzt und gasdicht befestigt werden können, wie sie sich bei einer Anpassung des Volumeris
des Rezipienten mit Rücksicht auf die jeweils zu benutzende in der Zeiteinheit eingespeiste Gas- bzw,
Dampfmenge ergibt.
Es hat sich ferner.eine solche Wahl der Schutzplatte
als zweckmäßig erwiesen, daß sich an der Oberfläche der Grundplatte eine Mindesttemperatur ergibt,
die nicht zum Niederschlag von Polysilanen ölartigen Charakters aus dem Reaktionsprodukt führen kanm
So hat es sich als zweckmäßig ergeben, die Temperar tür an der Innenmantelfläche der Grundplatte etwa
auf einem Mindesttemperatarwert von etwa 70 bis 100° C als unterem Grenzwert zu halten.
Zur näheren Erläuterung der Erfindung an Hand einer beispielsweisen Ausführung wird nunmehr auf
die Zeichnung Bezug genommen. In dieser bezeich?·
net 1 die Grundplatte des Rezipienten aus Silber. In dieser Platte X sind Kanäle 2 vorgesehen zur Bildung
einer Kühlschlange, durch welche ein strömendes Kühlmittel, wie enthärtetes Wasser, hindurchgeschickt
werden kann. Diese Grundplatte 1 ist mit einem Durchgangskanal 3 versehen, in welchem über die
elektrische Zwischenisolation 4 der elektrische Durch·*
führungsleiter 5 getragen ist. Dieser elektrische Durchführungsleiter
5 ist in den mit einem Absatz versehenen Kanal 3 von oben eingesetzt, und er ist an seinem
unteren Ende mit einem Gewinde 5 α versehen. Auf dieses Gewinde Za ist zunächst eine Befestigungsmut·*
ter 6 aufgeschraubt, welche über die isolierende Zwischenlagescheibe 7 den Durchführungsleiter 5 in seinem
Sitz in dem Kanal 3 mechanisch festspannt. Auf den Gewindeteil 5 a von 5 ist ferner mit einer Boh*
rung eine winkelförmige Leitungsschiene 8 mit dem einen Schenkel aufgeschoben und dann mittels einer
zweiten Mutter 9 festgespannt. Der Durchführungsleiter 5 ist von seinem unteren Ende aus mit einem
Hohlraum 5 δ versehen, um auf diese Weise in dem
Durchführungsleiter 5 eine Kühlanordnung zu schaffen. Zu diesem Zweck erstreckt sich in dem Hohlraum
5 b eine Rohrleitung XO, Wird durch diese Leitung ejn Kühlmittel hindurchgeschickt, so bespült dieses
nach Verlassen des oberen Endes von XO die innere Mantelfläche des Hohlraumes Sb und bewirkt
auf diese Weise eine Kühlung des Durchführungsleiters 5.
Der Durchführungsleiter 5 ist ferner an seiner oberen
Fläche mit einer konischen Aussparung XX versehen. Diese bildet einen Paßsitz, in welchen ein Körper
X2 aus Kohle bzw. Graphit, der an seinem unteren Ende für eine gegenseitige Passung mit der inneren
Mantelfläche von XX gestaltet ist, eingesetzt werden kann. Dieser Kohle- bzw. Graphitkörper X2 ist
an seinem oberen Ende ebenfalls mit einer konischen Aussparung X3 versehen.
Die Grundplatte X ist mit einer konischen Aus^
sparung X4 versehen, in welche ein zweiter Kohlebzw. Graphitkörper X5 gleichartig dem Körper X2 eingesetzt
ist. Auf der oberen Fläche der Silberplatte X liegt als Wärmeschutzschirm eine Platte X6, die mit
Aussparungen X6 α bzw. 16 b versehen ist, damit sie
über die beiden Körper XS bzw. X2 hinweggeführt werden kann, bis sie auf der oberen Fläche von X aufliegt.
Diese .Platte 16 besteht z.B. aus Quarz. Zur Bildung eines geschlossenen Behälters ist weiterhin
der glockenförmige Teil X7 vorgesehen, der ebenfalls aus Quarz besteht. Dieser ist an seinem unteren Rand
mit einem flanschartigen Teil X7 α versehen, so daß er mit einem Flansch über'eine dazwischengelegte Dich-*
tungsscheibe X8 auf der oberen Fläche von X festgespannt werden kann. Diese Dichtungsscheibe XS kann
beispielsweise aus Polytetrafluoräthylen bestehen. Auch für den Isolierkörper 4 und die isolierscheibe 7
kann beispielsweise als Werkstoff Polytetrafluoräthylen benutzt werden. Die Einrichtung zum Festspannen
von X7ß über XS an X ist nicht besonders anget
deutet. In den oberen Enden der Körper X5 bzw. X2 ist jeweils einer der beiden Niederschlagskörper X9
bzw. 20 mit seinem konisch gestalteten Ende eingesetzt. Diese beiden Niederschlagskörper bilden die
Kernkörper bzw. Seelen, auf welchen durch thermische Dissoziation aus der Gas- bzw. Dampfströmung,
welche durch das Zuleitungsrohr 2X und Bohrung 16 c in X6 in den Niederschlagsraum 22 eintritt
und diesen, nachdem es der thermischen Dissoziation ausgesetzt gewesen ist, durch Bohrungen 16 d und 16 e
von X6 sowie die Ableitungsrohre 23 verläßt, der erwünschte Stoff niedergeschlagen wird. So können die
beiden Niederschlagskörper z. B. aus Silicium bestehen und die durch das Zuleitungsrohr in 22 eingespeiste
Dampfströmung aus durch Wasserstoff als Trägergas verdünntem Silicochloroform. Für diese
thermische Dissoziation sind die beiden Niederschlagskörper X9 und 20 als elektrische Widerstandsleiter,
die über das leitende, z. B. ebenfalls aus Graphit bestehende und mit konischen Aussparungen für das
Einführen der oberen Enden von X9 und 20 versehene Brückenstück 24 an ihren oberen Enden elektrisch
miteinander verbunden sind, einerseits über den Träger 15, die Platte 1 und die an dieser mittels der
Schraube 25 befestigte Stromanschlußschiene 26 bzw', über den Träger X2, den Durchführungsleiter 5 sowie
die Stromanschlußschiene 8 mit einer nicht angedeuteten Spannungsquelle verbunden.
Die Temperatur der Platte 1 wird mittels eines nur schematisch angedeuteten Thermofühlers 27 überwacht,
und zwar derart, daß sie einerseits nach oben einen solchen Temperaturwert nicht überschreiten
kann, welcher für die elektrischen Isolationen 4 und 7 s und den Dichtungsring 18 zu Nachteilen führen kann.
Dieser Thermofühler könnte an sich auch gleichzeitig, wenn das Wärmegefälle zwischen der dem Innenraum
22 zugewandten Fläche von 1 und der Anschlußstelle des Thermofühlers 27 als gering angenommen werden
kann, unmittelbar dazu benutzt werden, die genannte Fläche an dem Grundplattenkörper 1 in dem Innenraum
22 zu überwachen, so daß deren Temperaturwert nicht unter einen solchen Wert absinken kann,
bei welchem sich aus den im Raum 22 zur Entstehung gelangenden Reaktionsprodukten unerwünscht ölartige
Polysilane niederschlagen könnten. Diese Polysilane sind nämlich einerseits für den Bedienenden gefährlich,
weshalb ihre Beseitigung eine besondere Aufmerksamkeit erfordert, damit keine explosionsartigen ao
Erscheinungen zur Entstehung gelangen können, und andererseits kann die Benutzung von Reinigungswerkzeugen
eine unerwünschte Verunreinigung der Oberfläche der Grundplatte durch während des Niederschlagsprozesses
die Abscheidungsstoffe in ihrer Zusammensetzung nachteilig beeinflussende Fremdstoffe
stattfinden. Wenn jedoch das genannte Temperaturgefälle in der Platte 1 zwischen der oberen Fläche von
1 und dem Sitz des Thermofühlers 27 zu groß sein sollte, so kann es sich als zweckmäßig erweisen, vorsorglich
an der oberen Fläche von 1 einen besonderen Thermofühler vorzusehen, der dann im Zusammenwirken
mit dem Thermofühler 27 für eine entsprechende Beeinflussung des Durchlaufs der Kühlflüssigkeit
durch die Kühlkanäle 2 sorgt, damit die Temperatur an der oberen Fläche von 1 auch nicht aus den
angegebenen Gründen unter einen unteren Grenzwert absinkt.
Aus der Darstellung ist zu entnehmen, daß die obere Fläche der Grundplatte 1 vollständig eben gestaltet
ist, wenn von dem Vorhandensein der Körper 12 und 15 abgesehen wird. Diese beiden Körper sind
aber in ihrem Sitz 1 bzw. 18 lediglich durch eine Einsteckverbindung gehalten, so daß sie also leicht entfernt
werden können, wenn es erwünscht ist, die obere Fläche von 1 zu säubern.
Die Grundplatte 1 ist an ihrer oberen Fläche geschliffen.
Claims (5)
1. Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium, durch thermische
Dissoziation aus einer gas- bzw. dampfförmigen chemischen Verbindung, die den auszuscheidenden
reinen Stoff als Komponente enthält, auf mittels Stromdurchgang als elektrische Widerstandsleiter
auf die Zersetzungstemperatur der Verbindung beheizten Niederschlagskörpern, bestehend
aus einer vorzugsweise metallenen Grundplatte, welche Zu- und Ableitungen für die Gase
und für den elektrischen Strom zu den Trägern der Niederschlagskörper enthält, und aus einem
darüber gestülpten, am Rand mit der Grundplatte gasdicht verbundenen Gefäß sowie einer oberhalb
der Grundplatte angeordneten Schutzplatte aus dem gleichen Material wie das Gefäß, dadurch
gekennzeichnet, daß die dem Niederschlagsraum zugewandte Fläche der Grundplatte (1) plan geschliffen ist und daß auf ihr die
Schutzplatte (16) aufliegt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schutzplatte (16) leicht
auswechselbar eingerichtet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die plangeschliffene
Fläche der Grundplatte (1) derart bemessen ist, daß auf sie nach Wahl Gefäße verschiedener
Grundfläche aufgesetzt werden können und daß in dem jeweiligen Gefäß dann gleichzeitig eine
solche Schutzplatte (16) angeordnet ist, die der Innenmantelfläche des Gefäßes angepaßt ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Thermofühler angeordnet sind,
welche die forcierte Kühlung der vorzugsweise metallenen Grundplatte derart überwachen, daß
die Grundplatte auf einer Temperatur innerhalb
eines bestimmten Intervalls gehalten wird, dessen untere Temperaturgrenze unter Berücksichtigung
des in der auf der mit forcierter Kühlung ausgestatteten Grundplatte (1) aufliegenden
Schutzplatte (16) entstehenden Temperaturgefälles bestimmt ist durch einen solchen Wert, daß
an der dem Niederschlagsraum zugewandten Fläche der Schutzplatte (16) ein solcher Mindest-
temperaturwert bestehenbleibt, daß an dieser Fläche sich aus den in dem Niederschlagsraum
gebildeten Reaktionsprodukten wegen ihrer Erhaltung im Dampfzustand noch kein wesentlicher
Niederschlag aus ölartigen Polysilanen bildet, und dessen oberer Temperaturwert durch die
Temperaturbeständigkeit der von der Grundplatte getragenen Teile bestimmt ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der Schutzplatte
(16) um so größer bemessen ist, je höher die gewählte Zersetzungstemperatur ist, so daß bei
jeder jeweils benutzten Zersetzungstemperatur trotzdem an der dem Niederschlagsraum zugewandten
Fläche der Grundplatte praktisch etwa der gleiche Temperaturwert erhalten bleibt.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Belgische Patentschrift Nr. 585 492.
Belgische Patentschrift Nr. 585 492.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
609 658/262 8.66 © Bundesdruckerei Berlin
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES72220A DE1223804B (de) | 1961-01-26 | 1961-01-26 | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium |
CH1468961A CH442247A (de) | 1961-01-26 | 1961-12-19 | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials und Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung |
BE612393A BE612393A (fr) | 1961-01-26 | 1962-01-08 | Dispositif pour obtenir un corps semiconducteur pur, de préférence du silicium. |
US168756A US3286685A (en) | 1961-01-26 | 1962-01-25 | Process and apparatus for pyrolytic production of pure semiconductor material, preferably silicon |
GB3140/62A GB991184A (en) | 1961-01-26 | 1962-01-26 | Apparatus for the production of pure silicon or germanium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES72220A DE1223804B (de) | 1961-01-26 | 1961-01-26 | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1223804B true DE1223804B (de) | 1966-09-01 |
Family
ID=7503045
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES72220A Pending DE1223804B (de) | 1961-01-26 | 1961-01-26 | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3286685A (de) |
BE (1) | BE612393A (de) |
CH (1) | CH442247A (de) |
DE (1) | DE1223804B (de) |
GB (1) | GB991184A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3644976C2 (de) * | 1985-12-04 | 1992-08-27 | Passavant-Werke Ag, 6209 Aarbergen, De | |
EP3178964A1 (de) * | 2015-12-09 | 2017-06-14 | OCI Company Ltd. | Vorrichtung für cvd-beschichtungen |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1229986B (de) * | 1964-07-21 | 1966-12-08 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleiter-materials |
US3456616A (en) * | 1968-05-08 | 1969-07-22 | Texas Instruments Inc | Vapor deposition apparatus including orbital substrate support |
DE2050076C3 (de) * | 1970-10-12 | 1980-06-26 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Vorrichtung zum Herstellen von Rohren aus Halbleitermaterial |
US4826668A (en) * | 1987-06-11 | 1989-05-02 | Union Carbide Corporation | Process for the production of ultra high purity polycrystalline silicon |
KR950013069B1 (ko) * | 1989-12-26 | 1995-10-24 | 어드밴스드 실리콘 머티어리얼즈 인코포레이티드 | 수소 침투 방지용 외부 코팅층을 갖는 흑연 척 및 탄소가 거의 없는 다결정 실리콘 제조 방법 |
IT1246735B (it) * | 1990-06-27 | 1994-11-26 | Union Carbide Coatings Service | Mandrino di grafie per un filamento iniziatore nella fabbricazione di silicio policristallino e metodo di protezione. |
US5382419A (en) * | 1992-09-28 | 1995-01-17 | Advanced Silicon Materials, Inc. | Production of high-purity polycrystalline silicon rod for semiconductor applications |
US5478396A (en) * | 1992-09-28 | 1995-12-26 | Advanced Silicon Materials, Inc. | Production of high-purity polycrystalline silicon rod for semiconductor applications |
AU2009236679B2 (en) * | 2008-04-14 | 2014-02-27 | Hemlock Semiconductor Corporation | Manufacturing apparatus for depositing a material and an electrode for use therein |
US20110229638A1 (en) * | 2010-03-19 | 2011-09-22 | Gt Solar Incorporated | System and method for polycrystalline silicon deposition |
KR20130044326A (ko) | 2010-07-19 | 2013-05-02 | 알이씨 실리콘 인코포레이티드 | 다결정 실리콘 제조 |
US10494714B2 (en) * | 2011-01-03 | 2019-12-03 | Oci Company Ltd. | Chuck for chemical vapor deposition systems and related methods therefor |
RU2561081C2 (ru) | 2011-03-30 | 2015-08-20 | Виктор Григорьевич КОЛЕСНИК | СПОСОБ ВОССТАНОВЛЕНИЯ ЖЕЛЕЗА, ВОССТАНОВЛЕНИЯ КРЕМНИЯ И ВОССТАНОВЛЕНИЯ ДИОКСИДА ТИТАНА ДО МЕТАЛЛИЧЕСКОГО ТИТАНА ПУТЁМ ГЕНЕРАЦИИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ВЗАИМОДЕЙСТВИЙ ЧАСТИЦ SiO2, КРЕМНИЙСОДЕРЖАЩЕГО ГАЗА, ЧАСТИЦ FeTiО3 И МАГНИТНЫХ ВОЛН |
DE102011077967A1 (de) | 2011-06-22 | 2012-12-27 | Wacker Chemie Ag | Elektrode und Verfahren zur Stromversorgung eines Reaktors |
MY162042A (en) * | 2011-07-20 | 2017-05-31 | Hemlock Semiconductor Operations Llc | Manufacturing apparatus for depositing a material on a carrier body |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE585492A (fr) * | 1958-12-09 | 1960-04-01 | Siemens Ag | Procédé de fabrication de corps semi-conducteur en forme dE barres et produit obtenu. |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA602898A (en) * | 1960-08-02 | Siemens-Schuckertwerke Aktiengesellschaft | Method and apparatus for producing highest-purity silicon for electric semiconductor devices | |
US3021198A (en) * | 1958-07-24 | 1962-02-13 | Siemens And Halske Ag Berling | Method for producing semiconductor single crystals |
US2967115A (en) * | 1958-07-25 | 1961-01-03 | Gen Electric | Method of depositing silicon on a silica coated substrate |
NL295321A (de) * | 1958-12-09 | |||
DE1155759B (de) * | 1959-06-11 | 1963-10-17 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Gewinnung reinsten kristallinen Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke |
NL256255A (de) * | 1959-11-02 |
-
1961
- 1961-01-26 DE DES72220A patent/DE1223804B/de active Pending
- 1961-12-19 CH CH1468961A patent/CH442247A/de unknown
-
1962
- 1962-01-08 BE BE612393A patent/BE612393A/fr unknown
- 1962-01-25 US US168756A patent/US3286685A/en not_active Expired - Lifetime
- 1962-01-26 GB GB3140/62A patent/GB991184A/en not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE585492A (fr) * | 1958-12-09 | 1960-04-01 | Siemens Ag | Procédé de fabrication de corps semi-conducteur en forme dE barres et produit obtenu. |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3644976C2 (de) * | 1985-12-04 | 1992-08-27 | Passavant-Werke Ag, 6209 Aarbergen, De | |
EP3178964A1 (de) * | 2015-12-09 | 2017-06-14 | OCI Company Ltd. | Vorrichtung für cvd-beschichtungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3286685A (en) | 1966-11-22 |
BE612393A (fr) | 1962-05-02 |
GB991184A (en) | 1965-05-05 |
CH442247A (de) | 1967-08-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1223804B (de) | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials, wie Silicium | |
DE3441470A1 (de) | Anordnung zum aetzen von halbleiterscheiben | |
DE1155759B (de) | Vorrichtung zur Gewinnung reinsten kristallinen Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke | |
DE1265033B (de) | Verfahren zum Graphitschweissen | |
DE7330301U (de) | Isolierter elektrischer Leiter | |
DE2217407A1 (de) | Induktionsheizspule zum tiegelfreien zonenschmelzen | |
EP0008634A1 (de) | Verfahren zum Auflagern einer Metall- oder Legierungsschicht auf ein elektrisch leitendes Werkstück und Vorrichtung zur Durchführung desselben | |
DE1440263A1 (de) | Vorrichtung zum Herstellen von Bohrungen geringen Durchmessers mittels Elektroerosion | |
DE3035217C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von schädlichen Gasen und/oder Stoffen bei einer gasisolierten elektrischen Anlage | |
DE1264400B (de) | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleitermaterials aus der Gasphase | |
DE1229648B (de) | Als Halbleiter-Festkoerperschaltkreis ausgebildete integrierte Graetz-Gleichrichteranordnung | |
DE69101352T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Funkenerasionsbehandlung von Hartmetallgegenständen. | |
DE1229986B (de) | Vorrichtung zur Gewinnung reinen Halbleiter-materials | |
DE2818077A1 (de) | Vorrichtung zum verhindern von kesselsteinbildung und zum losloesen von kesselstein | |
DE1232433B (de) | Verfahren zum Betrieb einer elektrischen Glimmentladung und Entladungsgefaess hierfuer | |
DE1186950C2 (de) | Verfahren zum entfernen von unerwuenschten metallen aus einem einen pn-uebergang aufweisenden silicium-halbleiterkoerper | |
DE3305532C2 (de) | ||
DE3026164A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur entladungschemischen behandlung empfindlicher werkstuecke durch einsatz der glimmentladung | |
DE1002292B (de) | Einrichtung zur Reinigung und/oder Behandlung von Gasen | |
DE815986C (de) | Vakuumdichter Stuetzisolator fuer elektrische Geraete | |
DE2647590A1 (de) | Stromdurchfuehrung | |
DE2435053A1 (de) | Feuerdetektor | |
DE726018C (de) | Sammelschienenanordnung in elektrischen Verteileranlagen | |
DE1943916C (de) | Verfahren zur Verhinderung von schädlichem Staubansatz an den Isolato ren eines Elektroabscheider | |
DE1054583B (de) | Verfahren zur Herstellung von pn-UEbergaengen auf Halbleiterkoerpern |