DE1192700B - Pruefanordnung fuer eine Matrix aus bistabilen Elementen - Google Patents

Pruefanordnung fuer eine Matrix aus bistabilen Elementen

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DE1192700B
DE1192700B DEJ21169A DEJ0021169A DE1192700B DE 1192700 B DE1192700 B DE 1192700B DE J21169 A DEJ21169 A DE J21169A DE J0021169 A DEJ0021169 A DE J0021169A DE 1192700 B DE1192700 B DE 1192700B
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DEJ21169A
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Arthur Potocki
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International Business Machines Corp
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International Business Machines Corp
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Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. α.:
H03k
Deutsche Kl.: 21 al - 37/60
Nummer: 1192700
Aktenzeichen: J 21169IX c/21 al
Anmeldetag: 15. Januar 1962
Auslegetag: 13. Mai 1965
Matrizen aus bistabilen Elementen werden in der Rechenmaschinentechnik häufig verwendet. Bekannt sind Marizen zur Speicherung von binär verschlüsselten Werten und Rechenmatrizen, bei welchen jedem bistabilen Element ein bestimmter Ausgangswert zugeordnet ist.
Es sind Matrizen aus bistabilen Elementen bekannt, bei welchen zur Auswahl einer von m-n paraHelen Wählleitungen auf der Eingangsseite m Generatoren und auf der Ausgangsseite η Schalter derart angeordnet sind, daß eine Ansteuerleitung durch Erregung je eines Generators und Schließen je eines Schalters ausgewählt wird.
Zweck der vorliegenden Erfindung ist es, mit Hilfe einfacher zuverlässiger Mittel zu prüfen, ob eine Matrix der vorerwähnten Art fehlerfrei arbeitet.
Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß auf den Verbindungsleitungen der Generatoren und/oder Schalter mit jeweils mehreren Wählleitungen je ein Magnetkern (Prüfkern) vorgesehen ist, der durch den auf der Verbindungsleitung fließenden Strom gekippt wird, daß durch die Prüf kerne wenigstens eine weitere Leitung (Prüfleitung) geführt ist und daß der auf der Prüfleitung durch Kippen der Prüfkerne induzierte Strom zur Prüfung der Matrix ausgenutzt wird.
Nachstehend soll an Hand der Zeichnung ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Prüfanordnung für eine Rechenmatrix beschrieben werden. Die bei diesem Ausführungsbeispiel verwendete Rechenmatrix soll nach einem bereits vorgeschlagenen Verfahren betrieben werden. Bei diesem vorgeschlagenen Verfahren wird nach Einstellung aller bistabiler Elemente in einen Ausgangszustand die dem einen Eingangswert zugeordnete Reihe der bistabilen Elemente in einen ersten und danach die dem zweiten Eingangswert zugeordnete Spalte in einen zweiten stabilen Zustand gekippt. Nur das im Kreuzungspunkt der ausgewählten Reihe und Spalte liegende bistabile Element wird dabei vom ersten stabilen Zustand in den zweiten stabilen Zustand gekippt. Dieses Kippen induziert in einer Ausgangswicklung einen Impuls, der für den Ausgangswert charakteristisch ist. Selbstverständlich ist die Anwendung der erfindungsgemäßen Prüfanordnung nicht auf eine Rechenmatrix beschränkt, die nach dem obenerwähnten vorgeschlagenen Verfahren betrieben wird, sondern kann allgemein bei allen Speicher- und Rechenmatrizen, bei welcher zur Auswahl eine von m-n parallelen Wählleitungen auf der Eingangsseite m Generatoren und auf der Ausgangsseiten Schalter vorgesehen sind, Verwendung finden. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel ist angenommen, daß die bistabilen Prüfanordnung für eine Matrix aus bistabilen
Elementen
Anmelder:
International Business Machines Corporation,
Armonk,N.Y. (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. H.-E. Böhmer, Patentanwalt,
Böblingen (Württ), Sindelfinger Str. 49
Als Erfinder benannt:
Arthur Potocki, Nizza, Alpes-Maritimes
(Frankreich)
Beanspruchte Priorität:
Frankreich vom 18. Januar 1961 (849 992)
Elemente der Matrix Magnetkerne mit rechteckförmiger Hystereseschleife sein sollen. Natürlich können auch Matrizen mit anderen bistabilen Elementen mit der erfindungsgemäßen Anordnung geprüft werden.
Die Matrix 1 dient zur Durchführung der Rechenoperationen. Um die Zeichnung übersichtlich zu machen, sind die Magnetkerne dieser Matrix sowie die Leitungen durch sie nicht dargestellt. Im Gegensatz hierzu sind die Eingangs- und Ausgangsschaltungen der Matrix vollständig dargestellt. Die Auswahl der Reihen und Spalten der Matrix geschieht mit Hilfe von Generatoren 2, 3, 4 und 5 für die Spalten und 6, 7, 8 für die Reihen und durch Schalter 10, 11,12, 13, 14 und 15.
In einem ersten Takt wird durch Erregung einer der Generatoren 6, 7 oder 8 und einer der Schalter 10, 11, 12, 13, 14 oder 15 zuerst eine Reihe in den ersten stabilen Zustand gekippt. Im zweiten Takt werden die Generatoren 2 oder 3 (oder der Generator 4 oder 5, abhängig davon, ob die Operation eine Addition oder eine Subtraktion ist) und die entsprechenden Schalter 10, 11, 12, 13, 14 oder 15 erregt und die Kerne der ausgewählten Spalte in den zweiten stabilen Zustand gebracht. Nur der Kern im Kreuzungspunkt der ausgewählten Reihe und Spalte, der die Summe und, falls ein solcher vorhanden ist, den Übertrag anzeigt, wird zweimal umgeschaltet.
Gemäß der Erfindung sind in der Eingangsschaltung Magnetkerne, sogenannte Prüfkerne, z. B. 19 und 21, vorgesehen, durch welche Leitungen 20 und
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22 hindurchlaufen. Auf der Ausgangsseite laufen z. B. durch die Prüfkerne 23 und 25 Leitungen 24 und 26. Durch alle diese Prüfkerne läuft ein Draht 16, dem ein Rückstellimpuls durch einen Generator 9 zugeführt wird, nachdem die Operation beendet wurde. Diese Leitung läuft auch durch alle Kerne der Matrix und stellt somit auch diese zurück. Ein anderer Draht 18 läuft ebenfalls durch alle Prüfkerne, aber auf der Eingangs- und der Ausgangsseite der Matrix in entgegengesetzten Richtungen. Die Enden dieses Drahtes sind mit den Anschlüssen eines Verstärkers 28 verbunden.
Wenn eine Reihe oder eine Spalte der Matrix gekippt wird, werden zwei Prüfkerne, z. B. 21 auf der Eingangsseite und 25 auf der Ausgangsseite, gleichzeitig umgeschaltet. Zwei gleiche und entgegengerichtete Spannungen werden deshalb in der Prüfleitung 18 induziert und keine Spannung wird dem Verstärker 28 zugeführt.
Wenn z. B. außer dem Generator 7 und dem Schal- ao ter 14 der Generator 6 zur gleichen Zeit erregt wurde, werden die zwei Prüfkerne 21 und 29 auf der Eingangsseite umgeschaltet und nur der Prüfkern 25 auf der Ausgangsseite. In diesem Fall wird eine Fehlerspannung erzeugt. Ein ähnliches Beispiel könnte für das Kippen einer Reihe gegeben werden.
Eine zweite Prüfleitung 17 läuft in gleicher Richtung durch alle Kerne auf der Ausgangsseite, z. B. auch durch 25. Die Enden dieser Prüfleitung 17 sind mit einem Verstärker 27 verbunden. Wenn der Rück-Stellimpuls der Leitung 16 zugeführt wird, muß vom Verstärker 27 eine Spannung empfangen werden, die durch das Umschalten eines Prüfkernes induziert wird. Wenn ein Fehler aufgetreten ist und ein Schalter oder ein Generator nicht erregt wird, dann wird auch kein Prüf kern auf der Eingangsseite und auf der Ausgangsseite umgeschaltet und ein Fehler angezeigt. Wenn z. B. der Generator 7 oder der Schalter 14 nicht erregt werden, werden die zwei Prüfkerne 21 und 25 nicht umgeschaltet, und das Fehlen einer Spannung zeigt einen Fehler an.
Wie bereits erwähnt, durchläuft die Rückstellleitung 16 die Prüf kerne sowie alle Kerne der Rechenmatrix 1 und bewirkt deren Rückstellung.
Die Prüfleitung 17 gestattet deshalb auch die Prüfung, ob diese Rückstellung tatsächlich stattgefunden hat. Wenn nämlich kein Rückstellimpuls aufgetreten ist, dann wird auch keine Spannung im Verstärker 27 erzeugt.

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Prüfanordnung für eine Matrix aus bistabilen Elementen, bei welcher zur Auswahl einer von m-n parallelen Wählleitungen auf der Eingangsseite Ui Generatoren und auf der Ausgangsseite η Schalter derart angeordnet sind, daß eine Wählleitung durch Erregen je eines Generators und Schließen je eines Schalters ausgewählt wird, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Verbändungsleitungen der Generatoren und/oder Schalter mit jeweils mehreren Wählleitungen je ein Magnetkern (Prüfkern) vorgesehen ist, der durch den auf der Verbindungsleitung fließenden Strom gekippt wird, daß durch die Prüfkerne wenigstens eine weitere Leitung (Prüfleitung) geführt ist und daß der auf der Prüfleitung durch Kippen der Prüfkerne induzierte Strom zur Prüfung der Matrix ausgenutzt wird.
2. Prüfanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfleitung durch die Prüfkerne auf der Eingangsseite und auf der Ausgangsseite in verschiedener Richtung gelegt ist, so daß bei fehlerfreiem Arbeiten durch einen Wählimpuls auf der Prüfleitung durch je einen Prüfkern auf der Eingangs- und auf der Ausgangsseite Impulse verschiedener Polarität induziert werden, die sich gegenseitig kompensieren.
3. Prüfanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfleitung durch die Prüfkerne auf der Eingangs- oder Ausgangsseite gelegt ist, so daß nur beim ordnungsgemäßen Auftreten eines Wählimpulses ein Impuls auf der Prüfleitung induziert wird.
4. Prüfanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3 für eine Matrix mit Magnetkernen, dadurch gekennzeichnet, daß die Rückstelleitung für die Magnetkerne der Matrix auch durch die Prüfkerne geführt ist, so daß durch einen Rückstellimpuls sowohl die Kerne der Matrix als auch die Prüfkerne in den Ausgangszustand zurückgestellt werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
509 569/119 5.65 © Bundesdruckerei Berlin
DEJ21169A 1958-11-06 1962-01-15 Pruefanordnung fuer eine Matrix aus bistabilen Elementen Pending DE1192700B (de)

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3110015A (en) * 1957-10-28 1963-11-05 Honeywell Regulator Co Memory circuitry for digital data
NL260164A (de) * 1960-03-30
US3166669A (en) * 1960-06-28 1965-01-19 Ibm Core matrix coded decimal parallel adder utilizing propagated carries
US3212064A (en) * 1961-11-27 1965-10-12 Sperry Rand Corp Matrix having thin magnetic film logical gates for transferring signals from plural input means to plural output means
US3238377A (en) * 1961-12-04 1966-03-01 Ibm Cryogenic m out of n logic circuits
US3460093A (en) * 1965-03-31 1969-08-05 Bell Telephone Labor Inc Selector matrix check circuit
DE1574592B1 (de) * 1966-09-23 1972-02-03 Siemens Ag Vorrcihtun zur arithmethischen verknuepfung binaerer operanden unter verwendung einer matrix
US3510638A (en) * 1967-02-09 1970-05-05 Richard F Pond Decimal matrix adder utilizing gas discharge tubes
US3875392A (en) * 1973-06-18 1975-04-01 Ii Miner S Keeler Electrical computing system for simultaneously performing a plurality of operations on two or more operands
DE102012220849A1 (de) * 2012-11-15 2014-05-15 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Schaltung zur arithmetischen Verknüpfung mehrerer Eingangssignale

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE900281C (de) * 1939-04-06 1953-12-21 Adelheid Huendorf Elektrische Rechenzelle
NL218496A (de) * 1956-06-30
US2955303A (en) * 1958-05-07 1960-10-11 Racine Ind Plant Inc Tray for electric brush

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FR80453E (fr) 1963-05-03
NL273524A (de)
US3069086A (en) 1962-12-18
NL244992A (de)
DE1206180B (de) 1965-12-02
GB904841A (en) 1962-08-29
GB974362A (en) 1964-11-04
FR1271017A (fr) 1961-09-08

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