DE1192700B - Pruefanordnung fuer eine Matrix aus bistabilen Elementen - Google Patents
Pruefanordnung fuer eine Matrix aus bistabilen ElementenInfo
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Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. α.:
H03k
Deutsche Kl.: 21 al - 37/60
Nummer: 1192700
Aktenzeichen: J 21169IX c/21 al
Anmeldetag: 15. Januar 1962
Auslegetag: 13. Mai 1965
Matrizen aus bistabilen Elementen werden in der Rechenmaschinentechnik häufig verwendet. Bekannt
sind Marizen zur Speicherung von binär verschlüsselten Werten und Rechenmatrizen, bei welchen
jedem bistabilen Element ein bestimmter Ausgangswert zugeordnet ist.
Es sind Matrizen aus bistabilen Elementen bekannt, bei welchen zur Auswahl einer von m-n paraHelen
Wählleitungen auf der Eingangsseite m Generatoren und auf der Ausgangsseite η Schalter derart
angeordnet sind, daß eine Ansteuerleitung durch Erregung je eines Generators und Schließen je eines
Schalters ausgewählt wird.
Zweck der vorliegenden Erfindung ist es, mit Hilfe einfacher zuverlässiger Mittel zu prüfen, ob eine
Matrix der vorerwähnten Art fehlerfrei arbeitet.
Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß auf den Verbindungsleitungen der Generatoren und/oder
Schalter mit jeweils mehreren Wählleitungen je ein Magnetkern (Prüfkern) vorgesehen ist, der durch den
auf der Verbindungsleitung fließenden Strom gekippt wird, daß durch die Prüf kerne wenigstens eine weitere
Leitung (Prüfleitung) geführt ist und daß der auf der Prüfleitung durch Kippen der Prüfkerne induzierte
Strom zur Prüfung der Matrix ausgenutzt wird.
Nachstehend soll an Hand der Zeichnung ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Prüfanordnung
für eine Rechenmatrix beschrieben werden. Die bei diesem Ausführungsbeispiel verwendete Rechenmatrix
soll nach einem bereits vorgeschlagenen Verfahren betrieben werden. Bei diesem vorgeschlagenen
Verfahren wird nach Einstellung aller bistabiler Elemente in einen Ausgangszustand die dem einen Eingangswert
zugeordnete Reihe der bistabilen Elemente in einen ersten und danach die dem zweiten Eingangswert
zugeordnete Spalte in einen zweiten stabilen Zustand gekippt. Nur das im Kreuzungspunkt der ausgewählten Reihe und Spalte liegende
bistabile Element wird dabei vom ersten stabilen Zustand in den zweiten stabilen Zustand gekippt. Dieses
Kippen induziert in einer Ausgangswicklung einen Impuls, der für den Ausgangswert charakteristisch ist.
Selbstverständlich ist die Anwendung der erfindungsgemäßen Prüfanordnung nicht auf eine Rechenmatrix
beschränkt, die nach dem obenerwähnten vorgeschlagenen Verfahren betrieben wird, sondern kann
allgemein bei allen Speicher- und Rechenmatrizen, bei welcher zur Auswahl eine von m-n parallelen
Wählleitungen auf der Eingangsseite m Generatoren und auf der Ausgangsseiten Schalter vorgesehen
sind, Verwendung finden. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel ist angenommen, daß die bistabilen
Prüfanordnung für eine Matrix aus bistabilen
Elementen
Elementen
Anmelder:
International Business Machines Corporation,
Armonk,N.Y. (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. H.-E. Böhmer, Patentanwalt,
Böblingen (Württ), Sindelfinger Str. 49
Als Erfinder benannt:
Arthur Potocki, Nizza, Alpes-Maritimes
(Frankreich)
Beanspruchte Priorität:
Frankreich vom 18. Januar 1961 (849 992)
Elemente der Matrix Magnetkerne mit rechteckförmiger Hystereseschleife sein sollen. Natürlich können
auch Matrizen mit anderen bistabilen Elementen mit der erfindungsgemäßen Anordnung geprüft werden.
Die Matrix 1 dient zur Durchführung der Rechenoperationen. Um die Zeichnung übersichtlich zu
machen, sind die Magnetkerne dieser Matrix sowie die Leitungen durch sie nicht dargestellt. Im Gegensatz
hierzu sind die Eingangs- und Ausgangsschaltungen der Matrix vollständig dargestellt. Die Auswahl
der Reihen und Spalten der Matrix geschieht mit Hilfe von Generatoren 2, 3, 4 und 5 für die
Spalten und 6, 7, 8 für die Reihen und durch Schalter 10, 11,12, 13, 14 und 15.
In einem ersten Takt wird durch Erregung einer der Generatoren 6, 7 oder 8 und einer der Schalter
10, 11, 12, 13, 14 oder 15 zuerst eine Reihe in den ersten stabilen Zustand gekippt. Im zweiten Takt
werden die Generatoren 2 oder 3 (oder der Generator 4 oder 5, abhängig davon, ob die Operation
eine Addition oder eine Subtraktion ist) und die entsprechenden Schalter 10, 11, 12, 13, 14 oder 15 erregt
und die Kerne der ausgewählten Spalte in den zweiten stabilen Zustand gebracht. Nur der Kern im
Kreuzungspunkt der ausgewählten Reihe und Spalte, der die Summe und, falls ein solcher vorhanden ist,
den Übertrag anzeigt, wird zweimal umgeschaltet.
Gemäß der Erfindung sind in der Eingangsschaltung Magnetkerne, sogenannte Prüfkerne, z. B. 19
und 21, vorgesehen, durch welche Leitungen 20 und
509 569/119
22 hindurchlaufen. Auf der Ausgangsseite laufen z. B. durch die Prüfkerne 23 und 25 Leitungen 24
und 26. Durch alle diese Prüfkerne läuft ein Draht 16, dem ein Rückstellimpuls durch einen Generator 9
zugeführt wird, nachdem die Operation beendet wurde. Diese Leitung läuft auch durch alle Kerne der
Matrix und stellt somit auch diese zurück. Ein anderer Draht 18 läuft ebenfalls durch alle Prüfkerne,
aber auf der Eingangs- und der Ausgangsseite der Matrix in entgegengesetzten Richtungen. Die Enden
dieses Drahtes sind mit den Anschlüssen eines Verstärkers 28 verbunden.
Wenn eine Reihe oder eine Spalte der Matrix gekippt wird, werden zwei Prüfkerne, z. B. 21 auf der
Eingangsseite und 25 auf der Ausgangsseite, gleichzeitig umgeschaltet. Zwei gleiche und entgegengerichtete
Spannungen werden deshalb in der Prüfleitung 18 induziert und keine Spannung wird dem Verstärker
28 zugeführt.
Wenn z. B. außer dem Generator 7 und dem Schal- ao ter 14 der Generator 6 zur gleichen Zeit erregt wurde,
werden die zwei Prüfkerne 21 und 29 auf der Eingangsseite umgeschaltet und nur der Prüfkern 25 auf
der Ausgangsseite. In diesem Fall wird eine Fehlerspannung erzeugt. Ein ähnliches Beispiel könnte für
das Kippen einer Reihe gegeben werden.
Eine zweite Prüfleitung 17 läuft in gleicher Richtung durch alle Kerne auf der Ausgangsseite, z. B.
auch durch 25. Die Enden dieser Prüfleitung 17 sind mit einem Verstärker 27 verbunden. Wenn der Rück-Stellimpuls
der Leitung 16 zugeführt wird, muß vom Verstärker 27 eine Spannung empfangen werden, die
durch das Umschalten eines Prüfkernes induziert wird. Wenn ein Fehler aufgetreten ist und ein Schalter
oder ein Generator nicht erregt wird, dann wird auch kein Prüf kern auf der Eingangsseite und auf der
Ausgangsseite umgeschaltet und ein Fehler angezeigt. Wenn z. B. der Generator 7 oder der Schalter 14 nicht
erregt werden, werden die zwei Prüfkerne 21 und 25 nicht umgeschaltet, und das Fehlen einer Spannung
zeigt einen Fehler an.
Wie bereits erwähnt, durchläuft die Rückstellleitung 16 die Prüf kerne sowie alle Kerne der Rechenmatrix
1 und bewirkt deren Rückstellung.
Die Prüfleitung 17 gestattet deshalb auch die Prüfung,
ob diese Rückstellung tatsächlich stattgefunden hat. Wenn nämlich kein Rückstellimpuls aufgetreten
ist, dann wird auch keine Spannung im Verstärker 27 erzeugt.
Claims (4)
1. Prüfanordnung für eine Matrix aus bistabilen Elementen, bei welcher zur Auswahl einer von
m-n parallelen Wählleitungen auf der Eingangsseite Ui Generatoren und auf der Ausgangsseite η
Schalter derart angeordnet sind, daß eine Wählleitung durch Erregen je eines Generators und
Schließen je eines Schalters ausgewählt wird, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Verbändungsleitungen
der Generatoren und/oder Schalter mit jeweils mehreren Wählleitungen je ein Magnetkern (Prüfkern) vorgesehen ist, der
durch den auf der Verbindungsleitung fließenden Strom gekippt wird, daß durch die Prüfkerne
wenigstens eine weitere Leitung (Prüfleitung) geführt ist und daß der auf der Prüfleitung durch
Kippen der Prüfkerne induzierte Strom zur Prüfung der Matrix ausgenutzt wird.
2. Prüfanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfleitung durch die
Prüfkerne auf der Eingangsseite und auf der Ausgangsseite in verschiedener Richtung gelegt ist, so
daß bei fehlerfreiem Arbeiten durch einen Wählimpuls auf der Prüfleitung durch je einen Prüfkern
auf der Eingangs- und auf der Ausgangsseite Impulse verschiedener Polarität induziert werden,
die sich gegenseitig kompensieren.
3. Prüfanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfleitung durch
die Prüfkerne auf der Eingangs- oder Ausgangsseite gelegt ist, so daß nur beim ordnungsgemäßen
Auftreten eines Wählimpulses ein Impuls auf der Prüfleitung induziert wird.
4. Prüfanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3 für eine Matrix mit Magnetkernen, dadurch
gekennzeichnet, daß die Rückstelleitung für die Magnetkerne der Matrix auch durch die Prüfkerne
geführt ist, so daß durch einen Rückstellimpuls sowohl die Kerne der Matrix als auch die
Prüfkerne in den Ausgangszustand zurückgestellt werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
509 569/119 5.65 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR778475A FR1271017A (fr) | 1958-11-06 | 1958-11-06 | Dispositif et procédé pour effectuer des opérations arithmétiques |
FR849992A FR80453E (fr) | 1958-11-06 | 1961-01-18 | Dispositif et procédé pour effectuer des opérations arithmétiques |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1192700B true DE1192700B (de) | 1965-05-13 |
Family
ID=26183630
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEI17185A Pending DE1206180B (de) | 1958-11-06 | 1959-11-04 | Verfahren zum Betrieb einer Rechenmatrix |
DEJ21169A Pending DE1192700B (de) | 1958-11-06 | 1962-01-15 | Pruefanordnung fuer eine Matrix aus bistabilen Elementen |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEI17185A Pending DE1206180B (de) | 1958-11-06 | 1959-11-04 | Verfahren zum Betrieb einer Rechenmatrix |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3069086A (de) |
DE (2) | DE1206180B (de) |
FR (2) | FR1271017A (de) |
GB (2) | GB904841A (de) |
NL (2) | NL244992A (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3110015A (en) * | 1957-10-28 | 1963-11-05 | Honeywell Regulator Co | Memory circuitry for digital data |
NL260164A (de) * | 1960-03-30 | |||
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-
0
- NL NL273524D patent/NL273524A/xx unknown
- NL NL244992D patent/NL244992A/xx unknown
-
1958
- 1958-11-06 FR FR778475A patent/FR1271017A/fr not_active Expired
-
1959
- 1959-11-04 DE DEI17185A patent/DE1206180B/de active Pending
- 1959-11-05 US US851169A patent/US3069086A/en not_active Expired - Lifetime
- 1959-11-06 GB GB37733/59A patent/GB904841A/en not_active Expired
-
1961
- 1961-01-18 FR FR849992A patent/FR80453E/fr not_active Expired
-
1962
- 1962-01-15 DE DEJ21169A patent/DE1192700B/de active Pending
- 1962-01-16 GB GB1625/62A patent/GB974362A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR80453E (fr) | 1963-05-03 |
NL273524A (de) | |
US3069086A (en) | 1962-12-18 |
NL244992A (de) | |
DE1206180B (de) | 1965-12-02 |
GB904841A (en) | 1962-08-29 |
GB974362A (en) | 1964-11-04 |
FR1271017A (fr) | 1961-09-08 |
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