DE112018003696B4 - Optisches Element für eine strahlungsbildgebende Einrichtung, strahlungsbildgebende Einrichtung und röntgenbildgebende Einrichtung - Google Patents
Optisches Element für eine strahlungsbildgebende Einrichtung, strahlungsbildgebende Einrichtung und röntgenbildgebende EinrichtungInfo
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Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017-141073 | 2017-07-20 | ||
| JP2017141073A JP7011283B2 (ja) | 2017-07-20 | 2017-07-20 | 放射線イメージング装置用光学素子、光学素子の製造方法、放射線イメージング装置及びx線イメージング装置 |
| PCT/JP2018/027073 WO2019017425A1 (ja) | 2017-07-20 | 2018-07-19 | 放射線イメージング装置用光学素子、放射線イメージング装置及びx線イメージング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE112018003696T5 DE112018003696T5 (de) | 2020-04-02 |
| DE112018003696B4 true DE112018003696B4 (de) | 2025-12-04 |
Family
ID=65016059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE112018003696.0T Active DE112018003696B4 (de) | 2017-07-20 | 2018-07-19 | Optisches Element für eine strahlungsbildgebende Einrichtung, strahlungsbildgebende Einrichtung und röntgenbildgebende Einrichtung |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11137503B2 (enExample) |
| JP (1) | JP7011283B2 (enExample) |
| DE (1) | DE112018003696B4 (enExample) |
| WO (1) | WO2019017425A1 (enExample) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111948699B (zh) * | 2020-08-26 | 2024-08-30 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种紧凑型质子能谱测量装置 |
| JP7735867B2 (ja) * | 2020-12-25 | 2025-09-09 | 東レ株式会社 | シンチレータパネル、放射線検出器、放射線検査装置およびシンチレータパネルの製造方法 |
| EP4357817A4 (en) * | 2021-06-18 | 2025-05-07 | Riken | Radiation imaging device and radiation imaging method |
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Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2001074847A (ja) | 1999-07-08 | 2001-03-23 | Canon Inc | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| JP2011137665A (ja) * | 2009-12-26 | 2011-07-14 | Canon Inc | シンチレータパネル及び放射線撮像装置とその製造方法、ならびに放射線撮像システム |
| BR112012018130A2 (pt) * | 2010-01-22 | 2019-09-24 | DenCT Ltd | "método e aparelho para detector de raio x de painel plano multicâmera" |
| JP5830867B2 (ja) * | 2011-02-03 | 2015-12-09 | ソニー株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像表示システム |
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| US9110292B1 (en) * | 2012-05-10 | 2015-08-18 | Lockheed Martin Corporation | Multiple filter photon conversion assembly |
| US9129715B2 (en) * | 2012-09-05 | 2015-09-08 | SVXR, Inc. | High speed x-ray inspection microscope |
| TWI500926B (zh) * | 2012-11-23 | 2015-09-21 | Innocom Tech Shenzhen Co Ltd | X光平板偵測裝置 |
| US9606244B2 (en) * | 2013-03-14 | 2017-03-28 | Varex Imaging Corporation | X-ray imager with lens array and transparent non-structured scintillator |
| FR3003652A1 (fr) * | 2013-03-25 | 2014-09-26 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur de traces de particules ionisantes |
| US20170234992A1 (en) * | 2014-10-23 | 2017-08-17 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Imaging apparatus and manufacturing method thereof |
| JP2016223997A (ja) * | 2015-06-03 | 2016-12-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 放射線カメラ |
-
2017
- 2017-07-20 JP JP2017141073A patent/JP7011283B2/ja active Active
-
2018
- 2018-07-19 DE DE112018003696.0T patent/DE112018003696B4/de active Active
- 2018-07-19 US US16/630,555 patent/US11137503B2/en active Active
- 2018-07-19 WO PCT/JP2018/027073 patent/WO2019017425A1/ja not_active Ceased
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| JP2016045183A (ja) * | 2014-08-27 | 2016-04-04 | 国立研究開発法人理化学研究所 | 放射線検出素子、放射線検出装置および放射線検出素子の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20210088677A1 (en) | 2021-03-25 |
| JP7011283B2 (ja) | 2022-01-26 |
| DE112018003696T5 (de) | 2020-04-02 |
| JP2019020336A (ja) | 2019-02-07 |
| US11137503B2 (en) | 2021-10-05 |
| WO2019017425A1 (ja) | 2019-01-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R012 | Request for examination validly filed | ||
| R016 | Response to examination communication | ||
| R018 | Grant decision by examination section/examining division |