DE112006001550T5 - Schlamm für das chemisch-mechanische Polieren von Aluminium - Google Patents

Schlamm für das chemisch-mechanische Polieren von Aluminium Download PDF

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Abstract

Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren, der aufweist:
ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser von weniger als oder gleich 100 nm; und
ein chelatbildendes Puffersystem, das Zitronensäure und Oxalsäure aufweist, um für einen pH-Wert des Schlammes in einem ungefähren Bereich von 1.5 bis 4.0 zu sorgen.

Description

  • HINTERGRUND
  • I. GEBIET
  • Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung betreffen das Gebiet der Herstellung mikroelektronischer Bauelemente. Insbesondere betrifft eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung Schlämme zum chemisch-mechanischen Polieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen.
  • 2. DISKUSSION DER VERWANDTEN TECHNIK
  • Techniken des chemisch-mechanischen Polierens (CMP) werden in der Halbleiterindustrie verwendet, um dünne Filme von der Oberfläche von Halbleitersubstraten zu entfernen. Ein üblicher Einsatz dieser Techniken ist es, metallische Verbindungslinien, Durchkontaktierungen oder Kontakte zu bilden, indem (a) Gräben oder Löcher in eine dielektrische Schicht gemustert und geätzt werden, (b) eine Decke aus Metall abgelegt wird und (c) das Metall, das über der dielektrischen Schicht liegt, chemisch-mechanisch wegpoliert wird. Die 1a bis 1c veranschaulichen das Bilden von Aluminium-Verbindungsleitungen, bei dem dieser Prozeß verwendet wird.
  • 1a zeigt die Querschnittsansicht zweier Gräben 110, die in eine dielektrischen Schicht 102 gemustert und geätzt sind. Die dielektrische Schicht 102 liegt über einem Siliziumsubstrat 100. 1b zeigt die Gräben 110 nach der Deckablagerung einer Barrierenschicht 104 und einer Schicht aus Aluminium 106. 1c zeigt die Querschnittansicht zweier Verbindungslinien 112, die gebildet worden sind, nachdem der Schritt des CMP beendet ist.
  • Die Vorrichtung eines typischen CMP-Prozesses ist in 2 veranschaulicht. Das Wafersubstrat 200 wird mit der Vorderseite nach unten auf ein Polierkissen 212 gelegt, das an einem Drehtisch 214 angebracht ist. Auf diese Weise wird der dünne Film, der poliert werden soll, in direkten Kontakt mit dem Kissen 212 gebracht. Ein Träger 216 wird verwendet, um einen nach unten gerichteten Druck F gegen die Rückseite des Wafersubstrats 200 auszuüben. Während des Polierprozesses werden der Träger ebenso wie der Tisch 214 und das Kissen 212 gedreht, während eine chemisch reaktive und abtragende Lösung, üblicherweise als ein „Schlamm" 222 bezeichnet, auf die Oberfläche des Kissens 212 gepumpt wird.
  • Der Schlamm 222 vereinfacht den Polierprozeß, indem er chemisch mit dem dünnen Film reagiert und indem er ein Schleifmaterial zuführt, um den dünnen Film zu entfernen, während sich der Tisch 214 dreht. Die Zusammensetzung des Schlammes ist ein wichtiger Faktor bei der Durchführbarkeit des Prozesses.
  • Schlammzusammensetzungen des Standes der Technik zum Polieren von Aluminium enthielten starke Oxidiermittel, so wie Wasserstoffperoxid (H2O2) oder Persulfationen (S2O8 2–) und starke Ätzmittel, so wie Mineralsäuren, oder stark oxidierende Ätzmittel, so wie Kaliumfluorid (KF). Diese Chemikalien wurden benötigt, um dicke Schichten aus Aluminiumoxid zu entfernen, die durch die starken Oxidiermittel erzeugt wurden. Diese Kombination der Chemikalien jedoch führt zu einem chemischen Angriff, der die gebildete Ausnehmung bei einer Metalleitung oder Durchkontaktierung aus Aluminium 103 unter die Oberfläche der dielektrischen Schicht bringt, wie es in 1c gezeigt ist. In dem Fall der KF-Chemikalie führt es auch zu einem chemischen Angriff auf die dielektrische Schicht 102. Das Bilden der Ausnehmungen erzeugt Unebenheiten, die sich auf nachfolgende Schichten fortpflanzen und die Möglichkeit verschlechtern, schmale Linien mit hoher Dichte auf diesen Schichten zu drucken. Das Bilden der Ausnehmungen kann auch die Unversehrtheit der metallischen Leitungen oder Durchkontaktierungen beeinflussen, die während des CMP-Schrittes gebildet worden sind, was Zuverlässigkeitsprobleme mit sich bringt. Bei den geringen Metalldicken, die in hochwertigen Anwendungen verwendet werden, kann die tiefe Ausnehmung zum vollständigen Beseitigen der Al-Schicht führen. Zusätzlich erzeugt das Bilden einer dicken Schicht aus Aluminiumoxid (Al2O3) durch das Oxidiermittel eine erhöhte Konzentration an Aluminiumoxid. Dieses Aluminiumoxid wirkt als ein aggressives Schleifmittel und ruft übermäßige Oberflächenrauhigkeit und Verkratzen des Aluminiums 103 hervor. Da die Breite der Verbindungsleitungen aus Aluminium 103 auf geringere und geringere Breiten verringert wird, werden die nachteiligen Einflüsse des Bildens von Ausnehmungen, der Oberflächenrauhigkeit und des Verkratzens zunehmend problematisch.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1A1C veranschaulichen die Querschnittsansichten eines Substrats, das Aluminium enthält, das mit einem Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren nach dem Stand der Technik poliert wird.
  • 2 ist eine Veranschaulichung einer dreidimensionalen Ansicht einer Vorrichtung zum chemisch-mechanischen Polieren des Standes der Technik, die verwendet wird, um ein Substrat zu polieren, das Aluminium enthält, wobei ein Schlamm gemäß dem Stand der Technik verwendet wird.
  • 3A3D veranschaulichen die Querschnittsansicht des Bildens eines Substrats, welches Aluminium enthält, wobei ein neuer Schlamm zum chemischen-mechanischen Polieren verwendet wird.
  • GENAUE BESCHREIBUNG
  • Schlämme für das chemisch-mechanische Polieren und Verfahren zum chemisch-mechanischen Polieren (CMP) von Substraten, die Aluminium enthalten, welche bei der Herstellung integrierter Schaltungen eingesetzt werden, werden beschrieben. In der folgenden Beschreibung werden zahlreiche bestimmte Einzelheiten ausgeführt, so wie bestimmte Geräte, Materialien und Dicken, um für ein gründliches Verständnis der vorliegenden Erfindung zu sorgen. Es wird dem Fachmann jedoch offensichtlich sein, daß die vorliegende Erfindung ohne diese bestimmten Einzelheiten in die Praxis umgesetzt werden kann. In anderen Fällen sind andere gut bekannte Prozesse und Geräte nicht in besonderen Einzelheiten beschrieben worden, um die vorliegende Erfindung nicht unnötigerweise zu verschleiern.
  • Die neuen Schlämme und CMP-Prozesse nach Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung können verwendet werden, um ein Substrat, das Aluminium oder eine Aluminiumlegierung enthält, in einem Prozeß entweder am vorderen Ende der Produktionslinie oder am hinteren Ende der Produktionslinie zu polieren. Bei einem Prozeß am vorderen Ende der Produktionslinie können Aluminiumkontakte zu Transistorgattern poliert werden. Bei einem Prozeß am hinteren Ende der Produktionslinie können Verbindungsleitungen und Durchkontaktierungen aus Aluminium, die in einem Dual Damascene-Prozeß gebildet worden sind, poliert werden. Die Lehren der Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung können jedoch auf andere Prozesse bei der Herstellung integrierter Schaltungen angewendet werden, einschließlich, jedoch nicht beschränkt auf das Planarisieren verschiedener Schichten. Tatsächlich können die Lehren der vorliegenden Erfindung bei CMP-Prozessen angewendet werden, die in anderen Bereichen als der Herstellung integrierter Schaltungen eingesetzt werden.
  • Die 3A bis 3D veranschaulichen das Bilden von Aluminiumkontakten in einem Prozeß am vorderen Ende der Produktionslinie mit einem CMP-Prozeß, bei dem die Schlämme der vorliegenden Erfindung eingesetzt werden. Die Aluminiumkontakte werden über einem Substrat 300 gebildet. Das Substrat ist bevorzugt ein Siliziumwafer, kann jedoch ein anderer Halbleiter sein, so wie Galliumarsenid oder Germanium, oder kann auch irgendein anderes Material sein, das kein Halbleiter ist, so wie Keramik. Eine dielektrische Schicht 302 liegt über dem Substrat. Verschiedene Schichten, die nicht gezeigt sind, können zwischen dem Substrat 300 und der dielektrischen Schicht 302 liegen. Diese Schichten könnten Gatterelektronen, Isolationsbereiche, Kondensatoren oder andere Merkmale umfassen. Die dielektrische Schicht ist im allgemeinen ein nicht dotiertes Siliziumdioxid, ein Phosphosilikatglas oder ein Borphosphosilikatglas, das durch chemische Gasphasenabscheidung (CVD – Chemical Vapor Deposition) gebildet ist. Andere dielektrische Schichten, so wie Siliziumnitrid, oder aus mehreren Schichten zusammengesetzte Dielektrika, die solche Substanzen wie Spin-on-Glas umfassen, können auch verwendet werden. Bei einer besonderen Ausführungsform kann die dielektrische Schicht ein low k-Dielektrikum sein, so wie mit Kohlenstoff dotiertes Oxid. Die Funktion der dielektrischen Schicht 302 besteht darin, die anschließend gebildeten Verbindungsleitungen von jedweder darunterliegenden leitenden Schicht elektrisch zu isolieren. Die dielektrische Schicht 302 kann mit Techniken gebildet werden, die auf dem Gebiet gut bekannt sind.
  • Als erstes werden Öffnungen 310 in der dielektrischen Schicht 302 gebildet. Eine Photoresistschicht wird über der dielektrischen Schicht 302 gebildet, die dann maskiert, belichtet und entwickelt wird, mit Techniken, die auf dem Gebiet wohlbekannt sind, um Orte für die Öffnungen 310 zu definieren. Die dielektrische Schicht 302 wird dann mit Techniken geätzt, die auf dem Gebiet gut bekannt sind, so wie reaktivem Ionenätzen, um die Öffnungen 310 zu bilden. Die Öffnungen 310 können eine Breite von ungefähr 1 μm oder weniger haben, um Aluminiumkontakte mit derselben Breite zu bilden.
  • Als nächstes wird eine Haftschicht 304 deckend über der dielektrischen Schicht 302 abgeschieden. Die Funktion der Haftschicht 304 besteht darin, das gleichförmige Überdecken der abgeschiedenen Aluminiumschicht 306 in den Öffnungen 310 sicherzustellen. Die Haftschicht 304 wird zu einer Dicke von ungefähr 40 Ångstrøm durch gut bekannte Verfahren, so wie Sputtern oder CVD, gebildet. Materialien, so wie Titan oder Titannitrid oder eine Kombination aus diesen, kann verwendet werden, um die Haftschicht 304 zu bilden.
  • Als nächstes wird eine Aluminiumschicht 306 deckend über der Haftschicht 304 abgeschieden, wobei gut bekannte Mittel verwendet werden, so wie Sputtern oder CVD. Das Abscheiden bildet eine Aluminiumschicht 306 mit einer Dicke zwischen 1000 Ångstrøm und 10000 Ångstrøm, jedoch typischerweise mit ungefähr 2000 Ångstrøm, um die Öffnungen 310 vollständig mit Aluminium zu füllen. Die Dicke der Aluminiumschicht 306 oberhalb der dielektrischen Schicht 302 kann ungefähr 1500 Ångstrøm bis 2000 Ångstrøm sein. Um ein gutes Füllen der Öffnungen 310 zu erreichen, wird das Aluminium auf wenigstens 350 Grad Celsius (C), jedoch bevorzugt auf weniger als 550 Grad Celsius erhitzt. Man bemerke, daß die Kom bination der beschriebenen Prozeßschritte konsistent mit einem Al-Damascene-Prozeß sind, der für die Back-End-Verbindungsbildung eingesetzt werden könnte. Das Abscheiden der Haftschicht, das Abscheiden der Aluminiumgräben und das anschließende Glühen jedoch können verwendet werden, um das metallische Füllen in dem Prozeß am vorderen Ende der Produktionslinie zu vervollständigen, so wie den Prozeß zum Ersetzen metallischer Gatter, wie es in der Literatur diskutiert worden ist. Die anschließenden Al-Polierprozesse bleiben für den Prozeß sowohl am vorderen Ende der Produktionslinie als auch am hinteren Ende der Produktionslinie dieselben.
  • Als nächstes werden die Aluminiumschicht 306 und die Haftschicht 304 chemisch-mechanisch poliert, um Aluminiumkontakte mit einer Breite weniger als oder gleich ungefähr 1 μm zu bilden. Bei einer Ausführungsform kann die Vorrichtung, die in 3C veranschaulicht ist, verwendet werden, um das Substrat, das Aluminium enthält, chemisch-mechanisch zu polieren. Ein weitere ähnliche Vorrichtung, so wie die, die in 2 gezeigt ist, kann auch benutzt werden.
  • Das Substrat 300 wird mit der Vorderseite nach unten auf ein Polierkissen 326 einer Kissenanordnung 327 gelegt, die fest an der oberen Fläche eines Tisches 324 angebracht ist. Auf diese Weise wird das Substrat, das Aluminium, welches poliert werden soll, enthält, in direkten Kontakt mit der Oberfläche des Kissens 326 gebracht. Der Polierprozeß wird vereinfacht, wenn Schlamm an der Grenzfläche Substrat/Kissen gleichförmig verteilt wird, während das Kissen 326 um einen festen Punkt 328 umläuft und das Substrat 300 sich im Gegenuhrzeigersinn um seine Mittelachse 338 dreht. Die Strömungsgeschwindigkeit des Schlammes kann in dem ungefähren Bereich von 100 ml/Minute bis 300 ml/Minute liegen oder genauer eine Strömungsgeschwindigkeit von ungefähr 120 ml/min sein. Eine niedrige Strömungsgeschwindigkeit für den Schlamm ist wertvoll, da sie Kosten spart. Das Polieren wird auf diese Weise weitergeführt, bis die gewünschte Menge an Aluminium entfernt ist.
  • Um das Polieren zu vereinfachen, kann ein Schaft 336, der an dem Träger 330 befestigt ist, verwendet werden, um einen nach unten gerichteten Druck FI auf die Rückseite des Substrats 300 auszuüben. Bei einer Ausführungsform ist der nach unten gerichtete Druck ein niedriger Druck in dem ungefähren Bereich von 0.1 bis 2.0 psi und genauer in dem ungefähren Bereich von 1.0 bis 1.5 psi. Ein nach unten gerichteter Druck wird eingesetzt, um die Menge an Aluminiumoxid zu verringern, die entfernt wird, und somit das Kratzen zu reduzieren. Der geringe Druck dient auch dazu, Rauhigkeit, Erosion und Kumpeln in Kombination mit der Ausführungsform der Schlämme der vorliegenden Erfindung zu verringern. Die Rückseite des Substrats 320 kann durch ein Vakuum oder einfach durch Naßoberflächenspannung in Kontakt mit dem Träger 330 gehalten werden. Bevorzugt polstert ein Einsetzkissen 331 das Substrat 300 gegenüber dem Träger 330 ab. Ein gewöhnlicher Haltering 334 kann verwendet werden, um zu verhindern, daß das Substrat 300 während der Bearbeitung seitlich unterhalb des Trägers 330 hervorrutscht.
  • Um die Gleichförmigkeit des Polierens zu vereinfachen, laufen die Mittelachse 340 des Tisches 324 und des Kissens 326 im Uhrzeigersinn um einen festen Punkt 328, mit einem Umlaufradius, der kleiner ist als der Radius des Substrats 300. Die Mittelachse 338 des Substrats 300 ist von der Mittelachse 340 des Kissens 326 und von der Umlaufachse 328 versetzt. Eine Drehgeschwindigkeit, die ausreichend ist, um einen nach unten gerichteten Druck innerhalb der oben beschriebenen Bereiche zu erzeugen, kann verwendet werden. Beispielsweise kann für ein Polierkissen mit 12 Zoll die Drehgeschwindigkeit ungefähr in dem Bereich von 20 bis 50 Upm und genauer ungefähr bei 30 Upm liegen.
  • Damit der Schlamm in adäquater Weise und gleichförmig über die Grenzfläche Substrat/Kissen zugeführt wird, wird der Schlamm durch eine Vielzahl gleich beabstandeter Löcher 342 eingespeist, die durch das Polierkissen 326 gebildet sind. Das Polierkissen 326 kann hart oder weich sein. Bei einer Ausführungsform wird ein auf Polyurethan basierendes hartes Kissen RodelTM IC 1000 verwendet. Bei einer anderen Ausführungsform kann ein weiches, auf Filz basierendes porometrisches Kissen, so wie ein PolitexTM-Kissen, verwendet werden.
  • Der Schlüssel, gute und fertigbare Ergebnisse beim CPM bei den Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung zu erhalten, sind die neuen Schlämme zum Polieren von Aluminium oder Aluminiumlegierungen. Der Schlamm, der zum Polieren der Aluminiumschicht 306 verwendet wird, ist ein Schlamm, der ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser von weniger als oder gleich 100 nm (Nanometer) und ein chelatbildendes Puffersystem, das Zitronensäure und Oxalsäure aufweist, um einen pH-Wert für den Schlamm in dem ungefähren Bereich von 1.5 bis 4.0 zu liefern, umfaßt.
  • Ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem geringen Durchmesser ist in dem Schlamm enthalten, weil es ein relativ weiches Schleifmittel ist und weil es eine gleichförmigere Größe und Form hat. Siliziumdioxid-Teilchen sind weniger dicht und weicher als Aluminiumoxid. Zusätzlich ist es wegen der wäßrigen Bearbeitung bei geringerer Temperatur für Siliziumdioxid weniger wahrscheinlich, daß es harte, dichte Zusammenballungen enthält, die Kratzen hervorrufen und die typischerweise in Quarzglas- oder Aluminiumoxidteilchen gefunden werden. Aufgrund ihrer gleichmäßigen Form werden ausgefällte Siliziumdioxid-Teilchen auch in Lösung stabiler sein, und es wird weniger wahrscheinlich, daß sie sich zu großen, harten Teilchen zusammenballen, die Kratzen verursachen. Diese Eigenschaften helfen bei der Vorbeugung gegenüber Verkratzen und Aufrauhent der Oberfläche, die poliert wird. Ein weiches Schleifmittel mit geringem Durchmesser ist wertvoll dahingehend, daß es das Verkratzen der Aluminiumoberfläche verringern kann und die sich ergebende Rauhigkeit vermindern kann, was somit eine glatte polierte Oberfläche liefert. Das ausgefällte Siliziumdioxid kann einen Durchmesser von weniger als 100 nm oder in dem Bereich von 3 nm bis 100 nm oder genauer in dem ungefähren Bereich von 10 nm bis 50 nm haben. Bei einer Ausführungsform kann der Durchmesser des ausgefällten Siliziumdioxids ungefähr 35 nm sein. Ausgefälltes Siliziumdioxid ist auch wertvoll, da seine Oberfläche reaktiv ist und Alumini umoxid von der Oberfläche des Substrats, das Aluminium enthält, aufnimmt, um das Aluminiumoxid entfernt von der Oberfläche zu halten, wo es Verkratzen und Kumpeln verursachen kann. Die Menge an ausgefälltem Siliziumdioxid in dem Schlamm kann in dem ungefähren Bereich von 1.0 und 10.0 Gewichtsprozent sein, ist bevorzugt jedoch in dem ungefähren Bereich von 2 bis 5 Gewichtsprozent.
  • Das chelatbildende Puffersystem ist eine Kombination aus sowohl Zitronensäure als auch Oxalsäure. Die Kombination hält den pH-Wert innerhalb eines engen Bereiches von ungefähr 1.5 bis 4.0 und genauer in dem ungefähren Bereich von 1.8 bis 2.1. Ein niedriger pH-Wert ist wertvoll, weil er dabei hilft, die oxidierte Aluminiumschicht auf der Oberfläche der Aluminiumschicht 306 relativ dünn (geringer als 100 Ångstrøm) zu halten, da weniger Aluminiumoxid (Dialuminiumtrioxid) gebildet wird. Je weniger Aluminiumoxid gebildet wird, desto glatter wird die Oberfläche sein, wegen einer Verringerung des Verkratzens der Oberfläche durch das entfernte Aluminiumoxid. Zusätzlich wird das Polieren der Aluminiumschicht 306 schneller, wenn die Schicht aus oxidiertem Aluminium dünn ist. Diese Kombination ist von besonderem Wert beim Polieren von Aluminiummerkmalen, so wie Kontakten oder Verbindungsleitungen, die eine Breite von weniger als 1 μm haben. Die Menge an Zitronensäure, die dem Schlamm hinzugefügt wird, liegt in dem ungefähren Bereich von 0.1 bis 1.0 Gewichtsprozent und genauer in dem ungefähren Bereich von 0.2 bis 0.5 Gewichtsprozent. Die Menge an Oxalsäure, die dem Schlamm hinzugefügt wird, kann in dem ungefähren Bereich von 0.1 bis 1.0 Gewichtsprozent liegen, ist jedoch genauer in dem ungefähren Bereich von 0.2 bis 0.5 Gewichtsprozent.
  • Das Bilden einer dünnen Aluminiumoxidschicht wird durch die Verwendung von Oxalsäure in dem Schlamm hervorgerufen. Oxalsäure ist ein mildes Oxidiermittel und bildet somit keine dicke Schicht aus Aluminiumoxid (Dialuminiumtrioxid). Oxalsäure ist auch wertvoll beim Einsatz in Ausführungsformen von Schlämmen, die in dieser Erfindung beschrieben worden sind, da es ein chelatbildendes Mittel ist, das Aluminiumoxid von der Oberfläche der Alumi niumschicht 306 entfernt, um so beim Vorbeugen von Verkratzen der Oberfläche durch das Aluminiumoxid zu helfen. Säuren ähnlich der Oxalsäure können anstelle von Oxalsäure verwendet werden, so wie andere schwache organische Säuren, z.B. Ascorbinsäure.
  • Zitronensäure ist in dem Schlamm enthalten, um als ein Teil des Puffersystems zu wirken, jedoch auch, weil es ein wirksames chelatbildendes Mittel für Aluminiumoxid ist. Zitronensäure ist ein sehr guter Komplexbildner für Aluminiumoxid in wäßrigen Lösungen und kann daher Aluminiumoxid von der Oberfläche der Aluminiumschicht 306 entfernen. Zitronensäure ist auch wertvoll, weil es eine negative Ladung auf den Aluminiumoxidteilchen stabilisiert, wenn sie einmal von der Oberfläche der Aluminiumschicht 306 abgehoben worden sind. Die Ladung der Aluminiumoxidteilchen bei pH < 8 wird von einer positiven Ladung in eine negative Ladung geändert. Die Ladung auf den Siliziumoxidteilchen ist negativ bei pH > 2, und bei pH < 2 ist die Ladung neutral bis nur sehr leicht positiv. In dem pH-Bereich > 2 kann die Zitronensäure das Bilden von Verballungen des ausgefällten Siliziumoxid-Schleifmittels mit den Aluminiumoxidteilchen verhindern. Dies beruht darauf, daß das Aluminiumoxid eine starke negative Ladung hat, die bewirken kann, daß es von den negativ geladenen Siliziumoxidteilchen abgestoßen wird. Hypothetisch wird angenommen, daß ein großer Anteil des Verkratzens durch das Bilden der Verballungen hervorgerufen wird. Daher können die verbesserten Oberflächen, die sich aus dem Zusatz von Zitronensäure zu den Schlämmen ergeben, um Aluminium zu polieren, wie es hierin beschrieben ist, zu einem großen Teil durch das Verhindern des Bildens von Verballungen aus Siliziumoxid und Aluminiumoxid hervorgerufen sein.
  • Der Schlamm kann auch ein Störmittel umfassen, so wie Tetraethylorthosilikat (TEOS). TEOS ist ein besonders reaktives Silanolmittel, jedoch wird verstanden werden, daß auch andere reaktive Silanonmittel in dem Schlamm verwendet werden können. Das Störmittel ist ein Zusatzstoff, der an jeglichen Verballungen aus Aluminiumoxidteilchen während ihrer Bildung anhaftet, um zu verhindern, daß die Verballungen aus Aluminiumoxidteilchen relativ groß werden. Für relativ kleinere Verballungen aus Aluminiumoxiteilchen ist es weniger wahrscheinlich, daß sie die Oberfläche, die Aluminium enthält, verkratzen. Das Störmittel kann auch das Wachstum des Aluminiumoxidfilms auf der Oberfläche, die Aluminium enthält, welche poliert werden soll, stören. Der Aluminiumoxidfilm kann daher relativ dünn bleiben (viel geringer als 100 Ångstrøm), was wiederum weniger Aluminiumoxid erzeugt, aus dem sich die Verballungen bilden können. In der Summe können TEOS oder andere Silanolmittel die Qualität der polierten Aluminiumoberfläche durch Verringern des Anteils des Verkratzens verbessern. Die Menge an TEOS in dem Schlamm kann in dem ungefähren Bereich von 0.1 bis 1.0 Gewichtsprozent liegen und genauer in dem ungefähren Bereich von 0.2 bis 0.5 Gewichtsprozent. Die Komponenten des Schlamms werden mit Wasser gemischt, um die Schlammlösung zu bilden.
  • Die Kombination des ausgefällten Siliziumdioxid-Schleifmittels mit einem Durchmesser von weniger als 100 nm mit dem chelatbildenden Puffersystem Zitronensäure/Oxalsäure und mit dem Störmittel TEOS erzeugt einen Schlamm für das Polieren von Aluminium, der polierte Aluminumflächen hoher Qualität ohne wesentliches Verkratzen oder Bilden von Ausnehmungen erzeugt. Die weitere Kombination des Schlammes mit der nach unten gerichteten Kraft eines weichen Polierkissens verbessert weiter die Qualität der polierten Oberflächen. Der beschriebene Aluminiumschlamm liefert eine Lösung für das zuvor ungelöste Problem des übermäßigen Verkratzens, der Rauhigkeit und des Bildens von Ausnehmungen bei Aluminiummerkmalen mit einer Breite von weniger als 1 μm.
  • Bei einer besonderen Ausführungsform kann der Schlamm ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser in dem ungefähren Bereich von 10 nm bis 50 nm haben, wobei das ausgefällte Siliziumdioxid-Schleifmittel in dem Schlamm in dem ungefähren Bereich von 2.0 bis 5.0 Gewichtsprozent vorliegt. Das chelatbildende Puffersystem ist aus Zitronensäure und Oxalsäure gebildet, um für einen pH-Wert des Schlammes in einem ungefähren Bereich von 1.8 bis 2.1 zu sorgen. Die Menge an Zitronensäure, die dem Schlamm hinzuge fügt wird, liegt in dem ungefähren Bereich von 0.2 bis 0.5 Gewichtsprozent. Die Menge an Oxalsäure, die dem Schlamm hinzugefügt wird, liegt in dem ungefähren Bereich von 0.2 bis 0.5 Gewichtsprozent. Der Schlamm umfaßt auch TEOS in einer Konzentration von ungefähr 0.01 bis 0.1 Gewichtsprozent.
  • Die bevorzugte Zusammensetzung des neuen Schlammes für Aluminium zeigt viele Qualitäten, die den CMP-Prozeß extrem herstellungsfreundlich machen. Die Geschwindigkeiten für das Entfernen von Aluminium in dem ungefähren Bereich von 1000 Ångstrøm/Sekunde und 1500 Ångstrøm/Sekunde sind ohne übermäßiges Verkratzen, Bilden von Ausnehmungen oder Kumpeln erreicht worden. Diese Beseitigungsgeschwindigkeit ist ausreichend, so daß Überpolieren nicht benötigt wird. Es soll angemerkt werden, daß die Wiederholbarkeit der Ergebnisse von anderen Faktoren zusätzlich zu der Zusammensetzung des Schlammes abhängen kann, so wie dem Typ des Kissens, dem Polierdruck und der Kissenumlaufgeschwindigkeit.
  • Das chemisch-mechanische Polierverfahren, das oben beschrieben worden ist, kann aufgrund der Dünnheit der Aluminiumschicht, die entfernt werden soll, durchgeführt werden, indem eine Einzelplatte verwendet wird. Bei einer alternativen Ausführungsform jedoch können zwei Platten verwendet werden. Bei dieser Ausführungsform kann eine erste Platte verwendet werden, um eine grobe Schicht der Aluminiumschicht 306 zu entfernen, und die zweite Platte kann verwendet werden, um die Aluminiumschicht 306 zu reinigen. Bei noch einer weiteren Ausführungsform kann eine zusätzliche Platte eingesetzt werden, um die Oberfläche des Substrats, das Aluminium enthält, zu schwabbeln.
  • Es soll verstanden werden, daß die neuen Schlämme und Verfahren der vorliegenden Erfindung verwendet werden können, um andere Merkmale zu bilden als Verbindungsleitungen. Zum Beispiel kann die vorliegende Erfindung verwendet werden, um Durchkontaktierungen, Verbindungsleitungen oder andere elektrische Verbindungen zu bilden.
  • In der vorangehenden Beschreibung sind bestimmte Einzelheiten, so wie die chemische Zusammensetzung des Schlammes, Filmzusammensetzungen und Geräteparameter aufgenommen worden, um die bevorzugte Ausführungsform am besten zu beschreiben. Die vorliegende Erfindung ist durch diese Einzelheiten nicht beschränkt, und verschiedene Änderungen an diesen Einzelheiten sind innerhalb des Umfangs der vorliegenden Erfindung möglich. Die Beschreibung und die Zeichnungen müssen in einem veranschaulichenden und nicht in einem einschränkenden Sinne betrachtet werden. Es ist beabsichtigt, daß der Umfang der vorliegenden Erfindung durch die Ansprüche definiert ist, die folgen. Mehrere Ausführungsformen der Erfindung sind somit beschrieben worden. Somit werden die Durchschnittsfachleute erkennen, daß die Erfindung nicht auf die beschriebenen Ausführungsformen beschränkt ist, sondern innerhalb des Umfangs und Gedankens der angehängten Ansprüche, die folgen, mit Modifikation und Änderung in die Praxis umgesetzt werden kann.
  • Zusammenfassung
  • Hierin beschrieben sind Ausführungsformen eines Schlammes, der für das chemisch-mechanische Polieren eines Substrates verwendet wird, das Aluminium- oder Aluminiumlegierungsmerkmale mit einer Breite von weniger als 1 μm umfaßt. Der Schlamm enthält ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser von weniger als oder gleich 100 nm und ein chelatbildendes-Puffersystem, das Zitronensäure und Oxalsäure aufweist, um einen pH des Schlammes in dem ungefähren Bereich von 1.5 bis 4.0 zu liefern.

Claims (16)

  1. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren, der aufweist: ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser von weniger als oder gleich 100 nm; und ein chelatbildendes Puffersystem, das Zitronensäure und Oxalsäure aufweist, um für einen pH-Wert des Schlammes in einem ungefähren Bereich von 1.5 bis 4.0 zu sorgen.
  2. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren nach Anspruch 1, wobei der Schlamm zum Polieren von Aluminium formuliert ist.
  3. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren nach Anspruch 1, bei dem das ausgefällte Siliziumdioxid-Schleifmittel in dem Schlamm in dem ungefähren Bereich von 1.0 Gewichtsprozent bis 10.0 Gewichtsprozent vorliegt.
  4. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren nach Anspruch 1, bei dem Zitronensäure dem Schlamm in einer Menge in einem ungefähren Bereich von 0.1 bis 1.0 Gewichtsprozent hinzugefügt ist.
  5. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren nach Anspruch 1, bei dem Oxalsäure dem Schlamm in einer Menge in einem ungefähren Bereich von 0.1 bis 1.0 Gewichtsprozent hinzugefügt ist.
  6. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren, um Aluminium zu polieren, der aufweist: ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser in dem ungefähren Bereich von 10 nm bis 50 nm; ein chelatbildendes Puffersystem, das Zitronensäure und Oxalsäuer aufweist, um einen pH-Wert im ungefähren Bereich von 1.8 bis 2.1 zu liefern; Wasser; und Reaktionsprodukte daraus.
  7. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren, um Aluminium zu polieren, nach Anspruch 6, der weiter ein Störmittel aufweist, das Tetraethylorthosilikat (TEOS) aufweist.
  8. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren, um Aluminium zu polieren, nach Anspruch 7, bei dem die Menge an TEOS in dem Schlamm in dem ungefähren Bereich von 0.1 bis 1.0 Gewichtsprozent liegt.
  9. Schlamm zum chemisch-mechanischen Polieren, um Aluminium zu polieren, nach Anspruch 6, bei dem das Schleifmittel, das ausgefälltes Siliziumdioxid aufweist, einen Durchmesser von ungefähr 35 nm hat.
  10. Verfahren zum Polieren eines Substrates, das aufweist: Ausgeben eines Schlammes, der ein ausgefälltes Siliziumdioxid-Schleifmittel mit einem Durchmesser von weniger als oder gleich 100 nm und ein chelatbildendes Puffersystem, das Zitronensäure und Oxalsäure enthält, um einen pH-Wert des Schlammes in dem ungefähren Bereich von 1.5 bis 4.0 zu liefern, aufweist, auf ein Substrat, das Aluminiummerkmale umfaßt; und Polieren des Substrats, das Aluminiummerkmale umfaßt, mit dem Schlamm durch chemisch-mechanisches Polieren.
  11. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem das Substrat, das Aluminiummerkmale umfaßt, Aluminiummerkmale mit einer Breite von weniger als oder gleich 1 μm hat.
  12. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem das Polieren des Substrates, das Aluminiummerkmale umfaßt, mit dem Schlamm durch chemisch-mechanisches Polieren das Beseitigen einer Aluminiumschicht von einer dielektrischen Schicht aufweist, wobei die Aluminiumschicht eine Dicke in dem ungefähren Bereich von 1500 Ångstrøm bis 2000 Ångstrøm hat.
  13. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem das Substrat, das Aluminiummerkmale umfaßt, Aluminium-Damascene-Kontakte aus einem Prozeß am hinteren Ende der Produktionslinie aufweist.
  14. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem das Substrat, das Aluminiummerkmale umfaßt, Aluminiumkontakte zu einem Transistorgatter aus einem Prozeß am vorderen Ende der Produktionslinie aufweist.
  15. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem das Polieren des Substrates, das Aluminium aufweist, das Aluminiummerkmale umfaßt, mit chemisch-mechanischem Polieren das Auflegen eines Polierkissens auf das Substrat mit einem Druck in dem ungefähren Bereich von 0.1 psi bis 2.0 psi aufweist.
  16. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem das Polieren des Substrates, das Aluminiummerkmale umfaßt, mit dem Schlamm durch chemisch-mechanisches Polieren das Polieren des Substrates mit einem weichen Polierkissen aufweist.
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