DE1079355B - Pruefeinrichtung fuer ferromagnetische und ferroelektrische Speicheranordnungen - Google Patents

Description

DEUTSCHES

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Prüfeinrichtung für ferromagnetische und ferroelektrische Speicheranordnungen oder Speichermatrizen, d. h. auf Speicheranordnungen, bei denen durch den Lesevorgang der Speicherinhalt zerstört wird.

Für die Prüfung derartiger Speichersysteme sind Verfahren bekanntgeworden, in denen eine Kathodenstrahlröhre zur Anzeige des Speicherinhalts Verwendung findet. Die Anordnung zur Durchführung des Prüfverfahrens mit Kathodenstrahlröhren ist verhältnismäßig aufwendig und teuer. Die Erfindung stellt sich die Aufgabe, eine Prüfeinrichtung zu schaffen, die raumsparend ausgeführt ist, die bekanntgewordene Nachteile anderer Anordnungen vermeidet und die Sicherheit des Lesevorganges erhöht, wobei nach Durchführung des Prüfverfahrens der Speicherinhalt unverändert zur Verfügung steht.

Dies wird gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß in der Prüfeinrichtung Hilfsspeicher und Steuermittel vorgesehen und so mit der Speicheranordnung verbunden sind, daß selbsttätig die Arbeitsspiele der Aufrufimpulssteuerung zweimal wiederholt werden und dabei der Richtungssinn der Aufrufimpulse derart gewählt ist, daß das erste Arbeitsspiel auf den Speicherinhalt selbst und das zweite Arbeitsspiel auf den komplementären Speicherinhalt gerichtet ist, und daß im dritten Arbeitsspiel die in den Hilfsspeichern gespeicherten Leseergebnisse einer Vergleicherschaltung zugeführt werden und im Falle der Übereinstimmung beider Leseergebnisse über eine Koinzidenzschaltung eine Fehleranzeige betätigt wird.

Weitere Merkmale der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung sind den Unteransprüchen zu entnehmen. Ausführungsbeispiele für Speichereinrichtungen, die zur Anwendung der Prüfeinrichtung geeignet sind, enthalten insbesondere ferromagnetische oder ferroelektrische Speichermatrizen. Darüber hinaus ist die Erfindung aber auch für andere Speichersysteme, bei denen durch den Lesevorgang der Speicherinhalt zerstört wird, anwendbar.

Ein Ausführungsbeispiel für eine Prüfeinrichtung nach der Erfindung und weitere Einzelheiten werden im Zusammenhang mit den Fig. 1 und 2 im folgenden beschrieben. Es zeigt

Fig. 1 Impulsverteilereinrichtungen zur Steuerung der Prüfvorgänge und zur Auswahl der Speicherelemente,

Fig. 2 eine Speichermatrix und weitere Schaltmittel der Prüfeinrichtung.

Als Speicherelemente sind einzelne ferromagnetische Elemente vorgesehen.

Ein ferromagnetisches Element kann beispielsweise als kleiner Magnetkern ausgeführt sein. Ebenso können die bekannten Ferritkerne oder das Bohrun-

Prüfeinrichtung für ferromagnetische
und ferroelektrische Speicheranordnungen

Anmelder:

International Standard

Electric Corporation,

New York, N. Y. (V. St. A.)

Vertreter: Dipl.-Ing. H. Ciaessen, Patentanwalt,
Stuttgart-Zuffenhausen, Hellmuth-Hirth-Str. 42

Beanspruchte Priorität:
Großbritannien vom 30. Dezember 1955

Donald A. Weir, London,
ist als Erfinder genannt worden

gen umgebende Material von Ferritplatten oder -blöcken Verwendung finden.

Eine Speichermatrix, bei der die vorgeschlagene Prüfeinrichtung Anwendung finden kann, enthält eine Anzahl getrennter ferromagnetischer Speicherelemente, von denen jedes einen von zwei verschiedenen stabilen Zuständen annehmen kann. Der Kürze halber wird im folgenden von positiver bzw. negativer Magnetisierung gesprochen. Für jede zu speichernde Informationseinheit ist ein Speicherelement vorgesehen. In dem betrachteten Ausführungsbeispiel sind die einzelnen Elemente des Speichers in einem Koordinatenfeld in Reihen mit m Elementen und Spalten mit η Elementen, insgesamt also mit mn Elementen vorgesehen. Es ist selbstverständlich, daß die Erfindung nicht auf zweidimensionale Koordinatenfelder beschränkt ist.

Jedes Element trägt drei Wicklungen, zwei Steuerwicklungen und eine Lesewicklung. Praktisch bestehen diese Wicklungen im allgemeinen aus nur einem den Kern durchsetzenden Draht oder, falls das Element aus dem die Bohrungen umgebenden Material besteht, aus in die Platten eingelassenen Drähten. Die Lesewicklungen aller Elemente sind untereinander verbunden, so daß sich eine gemeinsame Ausgangsleitung ergibt. In Fig. 2 ist die als oberste ein-

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gezeichnete Wicklung die Lesewicklung. Wie Fig. 2 Wird die Speichermatrix als Serienspeicher oder

weiterhin zeigt, sind die Steuerwicklungen koordi- als Teil eines Parallelspeichers verwendet, so ist die

natenmäßig miteinander verbunden und bilden so Prüfung der Funktion einzelner Speicherelemente

zwei Sätze von Steuerleitungen, von denen sich der sowie die Prüfung der mit diesen Elementen verbun-

eine auf die Vertikalen, der andere auf die Horizon- S denen Lese- und Schreibkreise erwünscht. Zweck-

talen bezieht. mäßig wird die Prüfung der einzelnen Elemente in

Bekanntlich wird ein spezielles Speicherelement wiederholbaren Zyklen so durchgeführt, daß dabei durch Erregung der entsprechenden horizontalen und alle Elemente geprüft werden. Selbstverständlich soll vertikalen Leitungen ausgewählt. Zum Beispiel wird die Prüfung so durchgeführt werden, daß dadurch für die Auswahl des Kernes (m+2) durch die verti- io normales Lesen und Schreiben nicht verhindert werden. kale Leitung V und die horizontale Leitung H ausge- Das wird erreicht durch einzelnes in einer geordneten wählt und jeder dieser Leitungen ein Strom einge- Reihenfolge durchgeführtes Abtasten der Elemente, prägt, der so bemessen ist, daß er die Hälfte der zur Die Abtastung erfolgt dabei in der Weise, daß die Umstellung des Elementes aus dem einen stabilen Abtastkreise auf jedem Element für die Dauer dreier Zustand in den anderen notwendigen Stromstärke 15 Impulse des Taktgebers verweilen, beispielsweise für aufweist. Die Richtung des verwendeten Stromes ist drei Impulsgruppen, deren jede die Impulse if I, ti so gewählt, daß, wenn es sich um den Lesevorgang und i3 enthält. Die Impulse einer solchen Gruppe handelt, das Element in den Zustand positiver Sätti- werden kurz als i-Impulse bezeichnet. Während des gung gebracht wird. Es wird vorausgesetzt, daß »1« ersten Satzes von i-Impulsen wird der normale Leseoder eine »Markierung« durch Überführung des EIe- 20 Vorgang aus der Speichermatrix oder der normale mentes in den negativen Zustand gespeichert wird, Schreibvorgang in die Speichermatrix ausgeführt, während »0« oder »keine Markierung« als positiver Bei einem Parallelspeicher kann während dieser Zeit Magnetisierungszustand gespeichert wird. Ist eine»l« irgendein Element eingeschrieben oder gelesen wergespeichert, so befindet sich das Element im negativen den, während bei einem Serienspeicher nur das gerade Magnetisierungszustand. Werden nun Leseimpulse 25 an der Reihe befindliche Element beschrieben oder ge-(Stromimpulse) auf die horizontalen und vertikalen lesen werden kann.

Leseleistungen gleichzeitig gegeben, so wird das EIe- Während des zweiten Satzes von i-Impulsen wird ment in den positiven Magnetisierungszustand über- der Zustand des abgetasteten Elementes für Prüfgeführt, so daß eine große Flußänderung in der Lese- zwecke gelesen. War das Element im Zustand »1«, wicklung auftritt. Auf dieser wird ein verhältnis- 30 als gelesen wurde, so wurde es in den Zustand »0« mäßig großer Ausgangsimpuls induziert. Wird ein übergeführt, während es, wenn eine »0« gelesen wurde, positiv magnetisiertes Element gelesen, war also durch die Schaltmittel automatisch in den Zustand »1« z. B. »0« gespeichert, so tritt kein Ausgangsimpuls übergeführt wird. Während des dritten Satzes von oder lediglich ein vergleichsweise sehr kleiner Aus- i-Impulsen werden die Operationen wiederholt, die gangsimpuls während des Lesevorganges auf. 35 während des zweiten Satzes von i-Impulsen ausge-

Zur Speicherung werden den einem Speicher- führt wurden. Danach ist der η Zustand eines EIeelement zugeordneten horizontalen und vertikalen mentes der gleiche wie unmittelbar nach dem ersten Drähten Ströme in einer solchen Richtung einge- Satz von i-Impulsen. Dabei ist die Anordnung so geprägt, daß das Element zur Speicherung einer »1« troffen, daß registriert wird, ob während des zweiten negativ und zur Speicherung einer »0« positiv ma- 40 Satzes von i-Impulsen ein Ausgangssignal von dem gnetisiert wird. Speicher erhalten wurde oder nicht, und diese Re-

Offenbar wird der Zustand eines Elementes nicht gistrierung wird mit dem im dritten Satz von i-Im-

geändert werden, wenn es sich bereits in dem ge- pulsen gewonnenen Ergebnis verglichen. Wenn die

wünschten Zustand befindet. Es sei an dieser Stelle Ergebnisse, die während des zweiten und dritten

bemerkt, daß der Lesevorgang die gespeicherte In- 45 Satzes von i-Impülsen erhalten werden, sich unter-

formation zerstört und deswegen diese Information scheiden, so kann angenommen werden, daß das

nach dem Lesen neu eingeschrieben werden muß, Speicherelement und die mit ihm verbundenen

wenn der Speicherinhalt später für andere Zwecke Schreib- und Lesekreise fehlerfrei arbeiten. Sind

benötigt wird. jedoch diese Ergebnisse gleich, so wird ein Alarm

Impulse zur Steuerung des Lese-, Schreib- und 50 gegeben, und die Abtastkreise können in der Einstel-

Prüfvorganges werden aus einem Taktgeber CPG lung auf das Element, für das ein Fehler angezeigt

(Fig. 1) abgeleitet. Die Ausgangsimpulse des als Im- wurde, angehalten werden.

pulsgenerator ausgebildeten Taktgebers CPG werden Die Wirkungsweise einer Prüfeinrichtung nach der

einem Impulsformer PF und zwei Verzögerungs- Erfindung wird im folgenden im einzelnen beschrie-

kreisen D1 und D 2 zugeführt und erzeugen einen 55 ben.

Satz von drei scharf begrenzten Impulsenil, ti und Das dreifache Verweilen bei jedem Speicherelement

i3 aus je einem Impuls des Taktgebers. Der Ein- wird durch einen dreistufigen Ringzähler CCA er-

gangskreis IC für die Speichermatrix wird durch die reicht, der durch i3-Impulse angetrieben wird. Der

Impulse ti gesteuert, wenn eine »1« gespeichert wer- Ausgang der Zählstufe CC A3, das ist die letzte Stufe

den soll. 60 von CCA, wird zum Antrieb zweier Verteiler EC und

Die oben beschriebene Matrix kann als Serien- MC (Fig. 1) verwendet, die zur Steuerung der Ab-

speicher Verwendung finden, wenn die Elemente ein- tastung dienen.

zein in geordneter Reihenfolge unter der Steuerung EC ist der »Reihen-Verteiler« und hat so viele

von Prüfkreisen abgetastet werden. Sie kann auch als Stufen, wie die Anzahl der Elemente einer Reihe der

Parallelspeicher Verwendung finden. Im letzteren 65 Speichermatrix angibt. Dieser Verteiler, wie auch

Fall nimmt eine Matrix je eine Ziffer jedes zu spei- die Verteiler CCA und MC, hat zu jedem Zeitpunkt

chernden Wortes auf. So ergibt sich z. B. für die nur eine entsperrte Stufe und ein Impuls, der im

Speicherung von 100 Worten mit je 32 Binärziffern allgemeinen allen Stufen zugeführt wird, entsperrt

ein Bedarf von 32 Matrizen mit je 100 Speicher- die nächste Stufe und sperrt die vorher entsperrte

elementen, beispielsweise mit W=W=IO. 70 Stufe. Der Verteiler EC wird von Stufe zu Stufe

unter der Steuerung durch das Tor Gl durch jeden Ausgangsimpuls von CC A3 weitergeschaltet. Dieses Tor hat drei Steuerleitungen t3, CC A3 und MA und gibt einen Ausgangsimpuls zur Weiterschaltung von EC, wenn eine bestimmte Anzahl Steuerleitungen gleichzeitig erregt werden. Tore sind in der Zeichnung als Kreise mit einer Anzahl Steuerleitungen als Eingang und nur einem Ausgang dargestellt. Ein Tor öffnet und gibt einen Ausgangsimpuls, wenn eine Anzahl von Eingängen gleichzeitig erregt wird, wie sie die in dem Kreis angegebene Zahl angibt. Wie später noch beschrieben wird, ist die Steuerleitung MA normalerweise erregt und wird nur entregt, um die Abtastung zu unterbrechen, wenn der Ausgang MB einer bistabilen Schaltung MA-MB entsperrt ist und MA zur Anzeige eines Fehlers gesperrt wird.

Der Spaltenverteiler MC hat eine Anzahl von Stufen n, die der Anzahl der Elemente je Spalte der Matrix entspricht. Er wird weitergeschaltet über ein Tor G2 bei jeder Koinzidenz, bei der die Stufe ECM des Verteilers EC entsperrt ist, und während weiterhin MA erregt ist, CCA3 entsperrt ist und ein Impuls i3 zugeführt wird. Die Verwendung von Impulsen i3 zur Steuerung der Verteiler EC und MC stellt es sicher, daß diese Verteiler jeweils am Ende des entsprechenden i-Impulszyklus weiterschalten.

Die Ausgänge der Verteiler EC und MC werden zur Steuerung zweier Schieberegister X und Y verwendet, die über Torschaltungen den Strom in der Steuerwicklung der Matrix kontrollieren. Diese Register sind insofern ähnlich aufgebaut wie die Verteiler, als sie zu jedem Zeitpunkt nur eine entsperrte Stufe haben und bei Übergang einer anderen Stufe in den entsperrten Zustand die vorher entsperrte Stufe gesperrt wird. Dadurch ermöglichen diese Register die Auswahl eines beliebigen Speicherelementes, während des ersten i-Impulszyklus jeder Gruppe von drei Zyklen.

Im folgenden sei für ein ausgewähltes Element der Lesevorgang und/oder die Änderung des Magnetisierungszustandes dieses Elementes betrachtet. Wie schon oben erwähnt, sind die beiden Schieberegister X und Y vorgesehen, von denen sich das Register Y auf die Reihe mit w-Elementen als Reihenregister und das Register X auf die Spalten mit «-Elementen als Spaltenregister bezieht. Mit jeder Registerstufe sind zwei Tore verbunden, von denen das eine für wahlweise Betätigung —■ während des ersten i-Impulszyklus —■ und das andere zur Steuerung aus den Verteilern über die Register verwendet wird. Die wahlweise steuerbaren Tore haben alle eine Steuerleitung, die erregt wird, wenn im Zähler CCA die Stufe CCViI entsperrt ist. Jedes dieser Tore ist mit einer weiteren Steuerleitung verbunden, die durch hier nicht gezeigte Schaltmittel erregt wird, die die Identität des ausgewählten Elements gewährleisten. Zum Beispiel sind für das F-Register zwei Tore C-3 und G 4 gezeigt, die mit den Stufen Yl und Ym verbunden sind. Entsprechende Tore sind für das Register X vorgesehen, von denen das Tor G 5 für die Stufe Xl und das Tor G 6 für die Stufe Xn eingezeichnet sind (Fig. 1).

Zum Lesen eines ausgewählten Elementes werden die Auswahlsteuerleitungen der wahlweise steuerbaren Tore für die entsprechenden Stufen der Register X und Y erregt. So wird z. B. zur Auswahl des Elementes Nr. 1 die Steuerleitung SYl des Tores G 3 und die Steuerleitung SXl des Tores G 5 erregt. Es werden dann CCAl, Yl und Xl unabhängig von dem Zustand der Verteiler EC und MC erregt, so daß die Steuerleitungen der Tore G 7 und GlO der Steuerleitungstore der Matrix erregt sind. Durch einen Impuls ti wird die zweite Steuerleitung von G7 und G9 erregt, so daß positive Stromstöße über die Tore GIl und G12 abgegeben werden, die beide als vertikale und horizontale Leitungen die beiden S teuer wicklungen des Elementes Nr. 1 enthalten. GIl und G12 sind Mischtore, die die entsprechenden Eingänge voneinander entkoppeln.

Obgleich die Tore zur Steuerung der horizontalen

ίο und vertikalen Verbindungen stromführende Tore sind, werden sie hier zur Vereinfachung als normale potentialgesteuerte Tore gezeichnet.

Die dem Element Nr. 1 zugeführten Stromimpulse sind zusammen groß genug, um das Element in den positiven Magnetisierungszustand zu überführen. Keiner dieser Impulse kann allein den Zustand eines Elementes ändern, so daß nur das Element Nr. 1 ausgewählt wird. War dieses Element bereits positiv magnetisiert, so ergibt sich nur ein kleiner oder gar kein Ausgangsimpuls, während bei vorheriger negativer Magnetisierung ein verhältnismäßig großer Ausgangsimpuls erzeugt wird. Dieser Ausgangsimpuls wird über die Ausgangsleitung 01 einem Verstärker AMP und von diesem einer Ausgangsleitung Mo zugeführt.

Die während eines Lesevorganges erzeugten Ausgangsimpulse werden auch dem Verzögerungskreis D 3 zugeführt, der diesen Impuls bis zu der Zeitlage der i2-Impulse verzögert. Der so verzögerte Impuls wird einer Steuerschaltung mit dem Tor RCG zugeführt. Unter den Steuerleitungen dieses Tores befindet sich die Leitung SC₁ die durch hier nicht näher erläuterte Schaltmittel erregt wird, wenn ein Element gelesen werden soll oder dessen Magnetisierungszustand geändert werden soll. Die anderen Steuerleitungen sind i2 und CCA1, so daß dieses Tor nur wirksam ist während des ersten i-Impulszyklus. Das Tor RCG und die Steuerung über die Leitung SC sind so eingerichtet, daß wenn beim Lesevorgang ein großer Ausgangsimpuls erzeugt wird, ein Impuls dem Eingangskreis IC zugeführt wird, so daß dieser einen Impuls i2 erzeugt.

Die Register Yl und Xl werden beide so betätigt, daß bei Erzeugung eines Impulses i2 der Stromfluß durch die Steuerwicklungen des Elementes Nr. 1 über die Tore G 8 und GIl und die Tore GlO und G12 freigegeben wird. Daher werden beide Steuerwicklungen des Elementes Nr. 1 negativ beaufschlagt, und das Element — und nur dieses Element —· wird in den negativen Magnetisierungszustand übergeführt. Wenn der Lesevorgang keinen Ausgangsimpuls geliefert hat, war das Element vorher positiv magnetisiert, und es sind dann nur drei wirksame Eingänge des Tores RCG erregt, so daß dieses keinen Ausgangsimpuls liefert. Danach erzeugt auch der Eingangskreis IC keinen Impuls i2, und das Element verbleibt unverändert. Daraus geht hervor, daß das Ergebnis des Lesevorganges automatisch in das gelesene Element zurückgeschrieben wird, wenn eine Lesung ohne Änderung des Magnetisierungszustandes erfolgte.

Wenn der gespeicherte Zustand des Elementes geändert werden soll, werden die zusätzlichen Steuerleitungen des Tores RCG betätigt, daß wenn »1« gespeichert werden soll, ein i2-Impuls erzeugt wird und daß wenn »0« gespeichert werden soll, kein i2-Impuls erzeugt wird, unabhängig davon, was gelesen wurde. So wird, z. B. wenn »1« gespeichert werden soll, bei Erregung der Leitungen 12, CCAl und SC auch die Leitung W1 durch hier nicht gezeigteSchalt-

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mittel erregt, so daß das Tor RCG einen Ausgangs- der nächste 11-Impuls auftritt. Dadurch ist der ge-

impuls an den Eingangskreis IC abgibt, unabhängig nannte Impuls offenbar für die Zeit bis zum nächsten

von der Zuführung aus dem Verzögerungskreis D 3. 11-Impuls gespeichert. Der Ausgangsimpuls des Ver-

Die andere Steuerleitung WO der Torschaltung RCG stärkere AMP hat auf das Tor RCG keinen Einfluß,

ist durch einen kleinen Ring an ihrem Eingang mar- 5 da weder CCAl₁ SC₁ Wl noch WO unter diesen Be-

kiert. Es soll dadurch angedeutet werden, daß die dingungen erregt werden können. Eine weitere Vor-

Torschaltung RCG so ausgelegt ist, daß bei Erregung sorge gegen Interferenzen über das Tor RCG kann

der Leitung WO das Tor RCG keinen Ausgangsimpuls durch Zuführung von Sperrimpulsen an das Tor RCG

abgeben kann, wie auch die Zuleitungsbedingungen getroffen werden, die es bei Entsperrung der Stufen

über die anderen Leitungen sein mögen. Es ist dann io CCAI und CC A3 sperren. Entsprechend kann das

bei Erregung der Zuleitung WO kein Eingangsimpuls Tor RMG so ausgeführt werden, daß es bei Entsper-

an dem Eingangskreis IC₁ so daß »0« gespeichert rung der Stufe CCA1 gesperrt wird,

wird. Beispielsweise würde die Leitung WO erregt, Durch den nächsten i3-Impuls wird der Verteiler

wenn ohne Neueinspeicherung gelesen oder wenn das CCA auf die Stufe CCA 3 weitergeschaltet. Dabei

Speicherelement gelöscht werden soll. 15 bleibt die gemeinsame Steuerung CCA 2/3 wirksam,

Nach den Schreib- und Lesevorgängen sollen nun so daß die Register X und Y nicht verändert werden,

die Prüfoperationen, insbesondere die Auslösung der Deswegen bleibt das Element Nr. 1 weiter ausge-

Fehleranzeige, betrachtet werden. Es sei daran er- wählt, und die Leseströme, welche es in den positiven

innert, daß die Verteiler EC und MC kontinuierlich Magnetisierungszustand überführen möchten, wer-

weitergeschaltet werden, und zwar bei Kombination 20 den erneut zugeführt. Nachdem aber das Element

der Signale 13 und CC^i 3,, so daß die Speicher- positiv magnetisiert ist, ergibt sich nur ein kleiner

elemente einzeln und nacheinander ausgewählt oder gar kein Ausgangsimpuls über die Leitung 01.

werden. Der Ausgang des Verstärkers AMP ist wieder für

Neben den wahlweise wirksamen Steuertoren, die das Tor .RCG unwirksam. Er wird jedoch dem Tor oben beschrieben wurden, ist jede Stufe der vielfach- 25 G18 zugeführt, welches zur gleichen Zeit erreicht stabilen Register mit einem Tor verbunden, das durch wird, zu der das während der Entsperrung der Stufe die entsprechende Stufe der Verteiler BC oder MC CCA2 von dem Verstärker AMP abgegebene Aus- und durch eine Steuerleitung CCA 2/3 gesteuert wird. gangssignal eintrifft, da dieses über den Verzöge-Die letztgenannte Steuerleitung wird erregt, wenn rungskreis D 4 zugeführt wird. Die dritte Steuerentweder die Stufe CCA2 oder die Stufe CCA 3 ent- 30 leitung des Tores G18 ist mit der Stufe CCA3 versperrt wird. bunden, um sicherzustellen, daß es nur während der

Als zweckmäßiger Ausgangspunkt der folgenden Entsperrungszeiten dieserStufe betätigt werden kann. Beschreibung sei vorausgesetzt, daß ECm₁ MCn, Ym Sind von der Speicheranordnung alle Operationen Xn und CC A3 entsperrt sind und ein i3-Impuls ab- richtig ausgeführt worden, so unterscheiden sich die gegeben wird. Dieser i3-Impuls schaltet CCA auf 35 beiden durch das Element Nr. 1 abgegebenen Lese- CCAl₁ EC auf EC1 über Gl und MC auf MCl über impulse, so daß das Tor G18 kein Ausgangssignal G 2, während CCAl entsperrt ist, kann wahlweise abgibt. Dadurch bleibt die Kippschaltung MB unSpeichern und/oder Lesen in der oben beschriebenen erregt. Das Tor G18 ist so aufgebaut, daß es die Weise ausgeführt werden. Kippschaltung MB erregt, wenn die beiden Ausgangs-

Der nächste i3-Impuls schaltet CCA auf CCÄ2, so 40 signale des Verstärkers AMP in beiden Impulszyklen daß die Tore G15 und G16, die mit Yl und Xl ver- die gleichen sind, also entweder in beiden Fällen bunden sind, durch Erregung beider Steuerleitungen einen Impuls oder keinen Impuls liefert. Die Errebeide entsperrt sind. Mit dem nächsten 11-Impuls — gung der Kippschaltung MB betätigt durch Sperrung d. h. mit dem 11-Impuls des zweiten i-Impulszyklus von MA den Abfall eines Relais AL und löst damit — werden die Matrix-Steuertore G7, GIl und G9, 45 über dessen Ruhekontakte all und a 12 einen opti-G12 geöffnet, so daß der Zustand des Elementes Nr. 1 sehen oder akustischen Alarm aus. Durch die Tatgelesen wird. Es wird angenommen, daß dieses EIe- sache, daß MA gesperrt ist, wenn ein Fehler angement negativ magnetisiert, d.h. eine »1« gespeichert zeigt wurde, ist Vorsorge dafür getroffen, daß die sei. Der positive +il-Stromstoß überführt das aus- Tore Gl und G 2 gesperrt bleiben und so die Verteigewählte Element in seinen positiven Magnetisie- 50 ler EC und MC in der Stellung angehalten werden, rungszustand, so daß ein großer Ausgangsimpuls an die anzeigt, welches Speicherelement der Matrix der Ausgangswicklung auftritt und über die Leitung fehlerhaft ist.
01 dem Verstärker AMP zugeführt wird. Wie schon erwähnt, ist der Ausgang des Verstär-

Der Ausgangsimpuls des Verstärkers AMP wird kers AMP über den Verzögerungskreis D 3 mit dem über den Verzögerungskreis D 3 an den Umkehrer 55 Umkehrer INVl verbunden. Letztere ist so ausgelegt, INV1 geführt, dessen Ausgang über ein Tor G17 mit daß er einen wirksamen Ausgangsimpuls bei Fehlen der weiteren Steuerleitung 12 mit dem Tor RMG ver- eines großen Eingangsimpulses abgibt. Ein großer bunden ist. Nachdem das Ausgangssignal des Verzö- Eingangsimpuls wird dem Umkehrer zugeführt, gerungskreises D 3 durch den Umkehrer INVl inver- wenn »1« gelesen wird. Wird dem Umkehrer kein tiert wurde, kann weder das Tor G17 noch das Tor 60 Eingangsimpuls zugeführt, und ist die Stufe CCA3 RMG ein Ausgangssignal abgeben, so daß der Ein- entsperrt, so wird eine Steuerieitung des Tores G17 gangskreis IC gesperrt bleibt. Das bedeutet, daß das erregt, daß bei Eintreffen eines Impulses i2 einen ausgewählte Element (Nr. 1) positiv magnetisiert Ausgangsimpuls an RMG abgibt. Nachdem die Stufe bleibt. Auf diese Weise ist es gelesen und sein Zu- CC A3 entsperrt ist, gibt dieses einen Ausgangsstand in den entgegengesetzten überführt worden. 65 impuls an den Eingangskreis IC, der einen Impuls t2

Der Aüsgangsimpuls des Verstärkers AMP wird erzeugt, um das Element Nr. 1 negativ zu magneti-

ebenfalls dem Verzögerungskreis D 4 zugeführt, des- sieren. Durch diese zweite Umsteuerung des gerade

sen Verzögerung gleich der Dauer eines vollen i-Im- geprüften Speicherelementes wird dieses in den Zu-

pulszyklus ist, so daß dieser Ausgangsimpuls des Ver- stand zurückgeführt, in dem es sich vor der Prüfung

stärkers AMP dem Tor G18 zugeführt wird, wenn 70 befand. Dieses Wiedereinschreiben kann durch Steue-

rung über die Kippschaltung MB verhindert werden, falls das erwünscht ist.

Der nächste Impuls 13 schaltet CCA nach CCAl, EC nach EC 2 und MC nach MC 2, wenn kein Fehler angezeigt wurde. Bei Entsperrung der Stufe CC-^ 2 werden die Stufen F2 und Xl über ihre Steuertore erregt, so daß bei entsperrter Stufe CCA2 das Element Nr. 2 gelesen wird, wenn der nächste il-Impuls auftritt. Es sei vorausgesetzt, daß dieses positiv magnetisiert sei, also eine »0« eingeschrieben ist. Nachdem nur ein kleiner oder gar kein Ausgangsimpuls auftritt und der Ausgang des Verstärkers AMP über den Umkehrer INVl einen positiven Impuls erzeugt, wird der Eingangskreis IC angesteuert und erzeugt seinerseits einen Impuls i2. Nun wird das Speicherelement negativ magnetisiert, also eine »1« geschrieben. Der Ausgang des Verzögerungskreises D 4 mit einer Verzögerung bis zum nächsten Impuls 11 wird über einen zweiten Umkehrer INV 2 dem Tor G19 zugeführt, so daß, wenn eine »0« bei entsperrter Stufe CCA2 durch einen Impuls f 1 gelesen wird, ein Steuerimpuls das Tor G19 erreicht, wenn CC A3 entsperrt ist und Impuls ti abgegeben wird. Dadurch wird das Ergebnis des ersten Lesevorganges wieder gespeichert.

Wenn die Stufe CC A3 entsperrt wird, wird das Element Nr. 2 erneut gelesen. Dabei wird diesmal ein großer Ausgangsimpuls erzeugt, der über den Verzögerungskreis D 3 und den Umkehrer INV1 die Erzeugung eines negativen Impulses —i2 verhindert, so daß das Speicherelement positiv magnetisiert bleibt. Das entspricht wieder zwei Umkehrungen des gelesenen Speicherelementes. Der große Ausgangsimpuls des Verstärkers AMP erreicht auch das Tor G19 über einen weiteren Umkehr er INV 3, der also keinen Impuls abgibt, und wieder gibt Tor G19 kein Ausgangssignal, wenn der genannte Impuls und der vom Verstärker AMP abgegebene über den Verzögerungskreis D 4 verzögerte Impuls verschieden sind. Sind jedoch diese beiden Impulse gleich, so wird wieder die Kippschaltung MB erregt und Alarm gegeben. Es ist also auch in diesem Falle das ausgewählte Element zweimal in den entgegengesetzten Zustand übergeführt worden, und dabei wurden die zwei aufeinanderfolgenden Ergebnisse der Lesevorgänge miteinander verglichen. Das Tor G19 kann ebenso wie das Tor G18 nur betätigt werden, wenn die Stufe CC A3 entsperrt ist.

Der nächste Impuls t3 schaltet den Verteiler CCA auf CCA1 und erreicht die Verteiler EC und MC, so daß die Operationen mit dem nächsten Speicherelement in gleicher Weise ablaufen.

Es wurde bereits erwähnt, daß durch Entsperrung der Kippschaltung MB, die zusammen mit MA eine bistabile Schaltung bildet, durch Sperrung von MA nicht nur einen Alarm auslöst, sondern auch die Tore Gl und G 2 sperrt. Dadurch werden die Verteiler in ihrer Stellung angehalten und das fehlerhafte Speicherelement angezeigt. Die Lage des fehlerhaften Speicherelementes kann an der Stellung der Verteiler abgelesen werden. Die Steuertore der Matrix wurden der Einfachheit halber als Spannungstore dargestellt. Die Elemente der Matrix werden jedoch durch Ströme gesteuert, die zweckmäßig, z. B. durch von den gezeichneten Toren gesteuerte Vakuumröhren, erzeugt werden. Ebenso sind der Vergleicher Tor G18 und die Steuertore RMG und RCG im Interesse der Vereinfachung als Spannungstore gezeichnet.

Die dargestellte Prüftechnik ist auch auf andere Speichereinrichtungen verwendbar, wie z. B. auf ferroelektrische Speichermatrizen. Abgesehen von der Dimensionierung der Steuerströme sind die Steuerkreise die gleichen.

Claims (9)

Patentansprüche:

1. Prüfeinrichtung für Ferritspeicheranordnungen mit einer Aufrufimpulssteuerung zum Wiedereinspeichern der beim Lesevorgang zerstörten Informationen, dadurch gekennzeichnet, daß in der Prüfeinrichtung HilfsSpeicher und Steuermittel vorgesehen und so mit der Speicheranordnung verbunden sind, daß selbsttätig die Arbeitsspiele der Auf ruf impulssteuerung zweimal wiederholt werden und dabei der Richtungssinn der Aufrufimpulse derart gewählt ist, daß das erste Arbeitsspiel auf den Speicherinhalt selbst und das zweite Arbeitsspiel auf den komplementären Speicherinhalt gerichtet ist, und daß im dritten Arbeitsspiel die in den Hilfsspeichern gespeicherten Leseergebnisse einer Vergleicherschaltung zugeführt werden und im Falle der Übereinstimmung beider Leseergebnisse über eine Koinzidenzschaltung eine Fehleranzeige betätigt wird.

2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Speicherung des im ersten Arbeitsspiel gewonnenen Ergebnisses dieses einem Verzögerungskreis zugeführt wird, dessen Verzögerung gleich der Dauer des zweiten Arbeitsspiels ist, so daß die Ergebnisse der ersten und zweiten Anzeige gleichzeitig einer Prüfschaltung zuführbar sind.

3. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Arbeitsspiele durch Folgen von Prüfimpulsen bestimmt sind, die nacheinander einer Anzahl von Speicherelementen zugeführt werden und daß dabei eine erste Gruppe von Prüfimpulsen den Lesevorgang für ein Speicherelement steuert und eine weitere Gruppe von Impulsen einen Schreibvorgang für dieses Speicherelement auslöst.

4. Prüfeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfung der Speicherelemente durch Verteilerschaltungen gesteuert wird, die abwechselnd Impulszyklen für normales Lesen und/oder Speichern und Prüfen abgeben.

5. Prüfeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Verteiler ein erstes Register enthalten, welches die Speicherelemente einzeln und nacheinander steuert und durch eine Fehleranzeige angehalten wird, so daß das fehlerhafte Speicherelement bezeichnet wird, und daß ein zweites Register vorgesehen ist, welches die abwechselnden Impulszyklen während jeder Einstellung des ersten Registers so weitergibt, daß die Speicherelemente kontinuierlich geprüft werden.

6. Prüfeinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß getrennte Fortschaltsteuerkreise vorgesehen und so angeordnet sind, daß jedes beliebige Speicherelement während eines der Impulszyklen für normales Lesen und/oder Schreiben auswählbar sind.

7. Prüfeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherelemente in einem Koordinatenfeld angeordnet sind, das über Fortschal tregister nach Spalten und Reihen zugänglich ist, und daß ein erster Verteiler Stufen ent-

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hält, die individuell jeder Spalte oder Reihe des Koordinatenfeldes zugeordnet sind und die um eine Stufe nach jedem abgeschlossenen Zyklus des zweiten Impulsverteilers weitergeschaltet werden und daß ein zweiter Verteiler mit jeder Reihe/ Spalte oder zugeordneten Stufen durch jeden Zyklus des ersten Verteilers weitergeschaltet wird, daß dabei jede Kombination der Stellungen des

ersten und zweiten Verteilers ein Speicherelement auswählt.

8. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß als Speicherelemente ferromagnetische Speicherelemente verwendet sind.

9. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß als Speicherelemente ferroelektrische Speicherelemente verwendet sind.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen