DE1077942B - Verfahren zum chemischen Polieren der Oberflaechen von Germanium fuer Halbleiterzwecke - Google Patents
Verfahren zum chemischen Polieren der Oberflaechen von Germanium fuer HalbleiterzweckeInfo
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum chemischen Polieren der Oberfläche von Germanium für
fialbleiterzwecke, beispielsweise Germaniumkristallen, mit einem neuartigen chemischen Poliermittel,
das weniger korrodierend wirkt als Fluorwasserstoffsäure und eine einfache Handhabung und Lagerung
ermöglicht.
E.S g\bt noch kein Poliermittel, mit dem die Oberflächen
von Germanium für Halbleiterzwecke spiegelnd und völlig eben gemacht werden können, mit
Ausnahme einer Lösung, die aus 50 Volumteilen 68-bis 70°/oiger Salpetersäure, 30 Volumteilen 46- bis
50%iger Fluorwasserstoffsäure, 30 Volumteilen Eisessig und 0,2 Volumteilen Brom besteht.
Diese Lösung hat jedoch auf Metall und Glas eine stark korrodierende Wirkung und bereitet infolge
ihrer Zusammensetzung aus stark angreifenden Chemikalien Schwierigkeiten bei der Handhabung und
Lagerung.
Das erfindungsgemäße Verfahren bedient sich eines Poliermittels, welches diese Nachteile nicht aufweist
und dessen wirksamer Bestandteil ein Hypochlorit ist.
Die Verwendung alkalischer Lösungen von Natrium- oder Kaliumhypochlorit zum Polieren ist an
sich bekannt. Man konnte jedoch mit ihnen keine spiegelnden, sondern nur etwas geriffelte Oberflächen
erzielen, da die Ätzgeschwindigkeit dieser Lösungen von der Kristallorientierung abhängt, d.h. am schnellsten
auf der (lOO)-Oberfläche und langsamer auf den (HO)- oder (111)-Oberflächen des Kristalls vor sich
geht.
Nach der Erfindung wird dieser Nachteil beseitigt, indem man die zu polierenden Oberflächen mit einer
wäßrigen Hypochloritlösung behandelt, deren Konzentration, berechnet als Natriumhypochlorit, 0,01 bis
5 Gewichtsprozent beträgt und die je 100 ecm 0,1 bis 0,8 g Germaniumdioxyd enthält und bzw. oder mit
Kohlendioxyd gesättigt ist.
Durch die erfindungsgemäße Sättigung der Lösung an Germaniumdioxyd oder Kohlendioxyd wird eine
inhibierende Wirkung erzielt und die Abhängigkeit der Ätzgeschwindigkeit von der Kristallorientierung
stark verringert.
Nach einer bevorzugten Ausfuhrungsform wird der
pH-Wert der Polierlösung durch Hindurchleiten von
gasförmigem Kohlendioxyd auf 6,5 bis 6,6 eingestellt. Gegebenenfalls kann dem Poliermittel ein neutrales
Salz, wie Natriumchlorid und Kaliumchlorid, zugesetzt werden.
Durch eine 5°/oige, in einem Becherglas befindliche wäßrige Natriumchloridlösung wird Kohlendioxydgas
(1 l/min oder mehr) hindurchgeleitet, wobei die
der Oberflächen von Germanium
für Halbleiterzwecke
Anmelder:
Sony Kabushiki Kaisha,
Shinagawa, Tokio (Japan)
Shinagawa, Tokio (Japan)
Vertreter: Dr.-Ing. E. Maier, Patentanwalt,
München 22, Widenmayerstr. 4
München 22, Widenmayerstr. 4
Beanspruchte Priorität:
Japan vom 31. August 1956
Japan vom 31. August 1956
Akio Amaya, Tokio,
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
Lösung durch eine Rührvorrichtung ständig in Bewe-
z5 gung gehalten und durch einen Gleichstrom von
5 Amp. mit Hilfe von zwei in die Lösung eintauchenden Graphitelektroden elektrolytisch zersetzt wird.
Hierdurch bildet sich in der Lösung Natriumhypochlorit. Während des Stromdurchganges werden in
die Lösung geläppte Germaniumbügelchen oder -stäbe eingebracht.
Wenn eine mit CO2 gesättigte Lösung, die 0,15 Gewichtsprozent NaOCl enthält, bei einer Temperatur
von 40° C verwendet wird, beträgt die Ätzgeschwindigkeit 0,6 μ/min.
Unter diesen Bedingungen läßt sich im Verlauf von 2 Stunden eine ebene, fertigbearbeitete Oberfläche erzielen,
die einer Spiegelfläche nahekommt, während nach einer Dauer von 4 Stunden eine ebene, spiegelnde
Fläche erhalten wird.
In manchen Fällen ist der Zusatz von Germaniumdioxyd nicht erforderlich, da dieses aus dem zu
polierenden Germanium während des Arbeitsvorganges entsteht.
Das erfindungsgemäße Verfahren hat den Vorteil, daß die Oberfläche des Germaniums wirksam poliert
werden kann, so daß bemerkenswert ebene Flächen erhalten werden, die bei Anwendung von Hypochlorit
ohne Zusatz von Inhibitoren nicht erzielt werden können.
Claims (3)
1. Verfahren zum chemischen Polieren der Oberflächen von Germanium für Halbleiterzwecke
909 T60/391
mit Hilfe von Hypochloritlösungen, dadurch, gekennzeichnet,
daß man die zu polierenden Oberflächen mit einer wäßrigen Hypochloritlösung behandelt,
deren Konzentration, berechnet als Natriumhypochlorit, 0,01 bis 5 Gewichtsprozent beträgt
und die je 100 ecm 0,1 bis 0,8 g Germaniumdioxyd enthält und bzw. oder mit Kohlendioxyd
gesättigt ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß man den pH-Wert der Lösung durch
Hindurchleiten von gasförmigem Kohlendioxyd auf 6,5 bis 6,6 einstellt.
3.. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß man dem Polierbad ein neutrales
Salz, wie Natriumchlorid, Kaliumchlorid oder ein Gemisch derselben, zusetzt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2257456 | 1956-08-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DET14061A Pending DE1077942B (de) | 1956-08-31 | 1957-08-28 | Verfahren zum chemischen Polieren der Oberflaechen von Germanium fuer Halbleiterzwecke |
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