DE10343278B4 - Halbbrückenschaltung mit einer Einrichtung zur Vermeidung von Querströmen - Google Patents

Halbbrückenschaltung mit einer Einrichtung zur Vermeidung von Querströmen Download PDF

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Abstract

Halbbrückenschaltung, die folgende Merkmale aufweist:
– ein erstes und zweites Halbleiterschaltelement (M1, M2), die jeweils eine Laststrecke (D – S) und einen Ansteueranschluss (G) aufweisen und deren Laststrecken (D – S) in Reihe zwischen Klemmen für ein erstes und zweites Versorgungspotential (V1, GND) geschaltet sind,
– eine Eingangsklemme (IN) zum Anlegen eines Eingangssignals (Sin),
– eine an den Ansteueranschluss (G) des ersten Halbleiterschaltelements (M1) angeschlossene erste Ansteuerschaltung (11) und eine an den Ansteueranschluss (G) des zweiten Halbleiterschaltelements (M2) angeschlossene zweite Ansteuerschaltung (21), denen jeweils das Ansteuersignal (Sin) zugeführt ist,
– wenigstens eine Schaltzustandsdetektionsschaltung (12, 22), die ein von einem Schaltzustand des ersten Halbleiterschaltelements (M1, M2) abhängiges Schaltzustandssignal (ST1, ST2) erzeugt,
gekennzeichnet durch
wenigstens eine erste Ausblendeschaltung (13), der das Schaltzustandssignal (ST1) des ersten Halbleiterschaltelements (M1) zugeführt ist und die ein von dem Schaltzustandssignal (ST1) abhängiges erstes Freigabesignal (FS1) erzeugt, das der Ansteuerschaltung (21) des...

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Halbbrückenschaltung gemäß den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1.
  • Eine derartige Halbbrückenschaltung ist beispielsweise in der US 5,365,118 oder der DE 40 32 014 A1 beschrieben.
  • Zur Vermeidung von Querströmen in einer Halbbrücke, die dann entstehen, wenn die beiden in Reihe zwischen die Versorgungspotentialklemmen geschalteten Halbleiterschaltelemente gleichzeitig leiten, ist es bekannt, den Schaltzustand der Halbleiterschalter zu erfassen und die leitende Ansteuerung eines der Halbleiterschalter erst dann zuzulassen, wenn der jeweils andere Halbleiterschalter sicher sperrt. Die Erfassung des Schaltzustandes eines als MOS-Transistor ausgebildeten Halbleiterschaltelements erfolgt bezugnehmend auf die oben genannte US 5,365,118 beispielsweise durch die Auswertung der Gate-Source-Spannung des Transistors.
  • Eine weitere Möglichkeit zur Bereitstellung eines Schaltzustandssignals eines MOSFET in einer Halbbrücke unter Einbeziehung des Gate-Ladestroms ist in der DE 101 47 882 A1 beschrieben.
  • Problematisch ist, dass ein Einschaltvorgang eines der beiden Halbleiterschalter, das zur Ermittlung des Schaltzustandes des anderen Halbleiterschalters herangezogene Signal aufgrund parasitärer Effekte so beeinflussen kann, dass vermeintlich ein Einschalten dieses Halbleiterschalters erkannt wird. Dies führt zu einer Zurücknahme der nach dem Sperren dieses Halbleiterschalters erteilten Freigabe für den einschaltenden Halbleiterschalter. Im Extremfall kann dies zu einem Oszilla tionsvorgang führen, bei dem das Freigabesignal permanent seinen Schaltzustand wechselt.
  • Die US 5,408,150 A und JP 2002-165462 A beschreiben jeweils Halbbrückenschaltungen mit zwei Halbleiterschaltern, deren Laststrecken in Reihe geschaltet sind. Zur Ansteuerung der Halbleiterschalter sind jeweils Ansteuerschaltungen vorgesehen, denen ein Ansteuersignal für einen Halbleiterschalter und ein vom Schaltzustand des jeweils anderen Halbleiterschalters abhängiges Schaltzustandsignal zugeführt ist. Die Ansteuerschaltungen sind dabei jeweils so ausgebildet, dass sie eine leitende Ansteuerung des ihr zugeordneten Halbleiterschalters erst dann zulassen, wenn das zugeführte Ansteuersignal einen Einschaltpegel aufweist und wenn das zugeführte Schaltzustandsignal auf ein Sperren des jeweils anderen Halbleiterschalters hinweist. Sobald der zuvor gesperrte Halbleiterschalter einmal eingeschaltet ist, werden weitere Pegeländerungen des Schaltzustandsignals des anderen Halbleiterschalters ignoriert und zwar so lange, bis das Ansteuersignal dieses Halbleiterschalters einen Abschaltpegel annimmt.
  • Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine Halbbrückenschaltung zur Verfügung zu stellen, bei der Querströme vermieden werden und die robust ist gegen die aus Einschaltvorgängen der Halbleiterschalter resultierenden Störsignale.
  • Dieses Ziel wird durch eine Halbbrückenschaltung gemäß den Merkmalen des Anspruchs 1 erreicht. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
  • Die Halbbrückenschaltung umfasst ein erstes und zweites Halbleiterschaltelement, die jeweils eine Laststrecke und einen Ansteueranschluss aufweisen und deren Laststrecken in Reihe zwischen Klemmen für ein erstes und zweites Versorgungspotential geschaltet sind, sowie eine Eingangsklemme zum Anlegen eines Eingangssignals. Weiterhin ist an den Ansteueranschluss des ersten Halbleiterschaltelements eine erste Ansteuerschaltung und an den Ansteueranschluss des zweiten Halbleiterschaltelements eine zweite Ansteuerschaltung angeschlossen, denen jeweils das Ansteuersignal zugeführt ist. Außerdem umfasst die Halbbrückenschaltung wenigstens eine erste Schaltzustandsdetektionsschaltung, die ein von einem Schaltzustand des ersten Halbleiterschaltelements abhängiges erstes Schaltzustandssignal erzeugt.
  • Dieses erste Schaltzustandssignal des ersten Halbleiterschaltelements ist einer ersten Ausblendeschaltung zugeführt, die ein von dem ersten Schaltzustandssignal abhängiges erstes Freigabesignal erzeugt, das der Ansteuerschaltung des zweiten Halbleiterschaltelements zur Freigabe oder zum Sperren dieses zweiten Halbleiterschaltelements zugeführt ist. Die Ausblendeschaltung ist dazu ausgebildet, Impulse einer vorgegebenen ersten Zeitdauer des ersten Schaltzustandssignals, die auf einen leitenden Zustand dieses ersten Halbleiterschaltelements hinweisen, auszublenden, so dass solche Impulse nicht zur Rücknahme einer bereits erteilten Freigabe des zweiten Halbleiterschaltelements führen.
  • Vorzugsweise ist jedem der Halbleiterschaltelemente eine Schaltzustandsdetektionsschaltung mit nachgeschalteter Ausblendeschaltung zugeordnet, so dass neben der ersten Schaltzustandsdetektionsschaltung eine zweite Schaltzustandsdetektionsschaltung vorhanden ist, die ein von einem Schaltzustand des zweiten Halbleiterschaltelements abhängiges zweites Schaltzustandssignal erzeugt, das einer zweiten Ausblendeschaltung zur Bereitstellung eines zweiten Freigabesignal zugeführt ist. Diese zweite Ausblendeschaltung ist ebenfalls dazu ausgebildet, Impulse des zweiten Schaltzustandssignals, die auf einen leitenden Schaltzustand des zweiten Halbleiterschaltelements hinweisen und kürzer andauern als eine dritte Zeitdauer, auszublenden. Vorzugsweise ist diese dritte Zeitdauer gleich der ersten Zeitdauer der ersten Ausblendeschaltung. Dieses zweite Freigabesignal ist der Ansteuerschaltung des ersten Halbleiterschaltelements zugeführt.
  • Die Erfindung macht sich zu Nutze, dass Störsignale, die beim Einschalten eines der beiden Halbleiterschalter entstehen, und die das Schaltzustandssignal des jeweils anderen Halbleiterschalters beeinflussen können, üblicherweise kurz im Vergleich zu den Einschaltdauern der Halbleiterschalter sind, wobei die Ausblenddauer der Ausblendeschaltung an die Dauer üblicher Störsignale angepasst ist.
  • Eine nach dem Sperren eines der Halbleiterschalter über das Freigabesignal erteilte Freigabe des anderen Halbleiterschalters wird nur dann zurückgenommen, wenn das Schaltzustandssignal des einen Halbleiterschalters länger als die vorgegebene erste Zeitdauer ein Leiten dieses Halbleiterschalters anzeigt.
  • Zur Unterdrückung von Störsignalen ist es lediglich erforderlich, Impulse der Schaltzustandssignale, die kleiner oder gleich der ersten Zeitdauer sind und die ein Leiten des zugehörigen Halbleiterschaltelements anzeigen, auszublenden bzw. einen auf ein Leiten des zugehörigen Halbleiterschaltelements hinweisenden Pegel um die erste Zeitdauer zu verzögern. Aus Sicherheitsgründen kann die Ausblendeschaltung jedoch auch dazu ausgebildet sein, Pegel des Schaltzustandssignal, die auf ein Sperren des zugeordneten Halbleiterschaltelements hinweisen, verzögert um eine zweite Zeitdauer als Freigabesignal weiterzugeben. Hierdurch wird eine zusätzliche Zeitreserve zwischen dem Sperren dieses Halbleiterschaltelements und der Freigabe des anderen Halbleiterschaltelements geschaffen.
  • Das erste und zweite Halbleiterschaltelement sind vorzugsweise als MOS-Transistoren, wie MOSFET oder IGBT, ausgebildet, wobei die Schaltzustandsdetektionsschaltungen beispielsweise die Gate-Source-Spannungen der Transistoren zur Bereitstellung der Schaltzustandssignale auswerten. Hierzu werden die Beträge der Gate-Source-Spannungen beispielsweise mit einem Referenzwert verglichen, wobei bei Gate-Source-Spannungen größer als der Referenzwert durch das Schaltzustandssignal ein Leiten und bei Gate-Source-Spannungen kleiner als der Referenzwert durch das Schaltzustandssignal ein Sperren des zugehörigen Transistors angezeigt wird.
  • Dieser Vergleich erfolgt vorzugsweise durch einen Komparator, der ein Hystereseverhalten besitzt, wodurch die Störsicherheit der Halbbrückenschaltung weiter erhöht ist.
  • Die wenigstens eine Ausblendeschaltung umfasst vorzugsweise eine Eingangsklemme zum Zuführen des Schaltzustandssignals, eine Ausgangsklemme zum Bereitstellen des Freigabesignals, sowie wenigstens ein kapazitives Speicherelement, dessen Ladezustand das Freigabesignal bestimmt und das bei einem vorgegebenen ersten Pegel des Schaltzustandssignals geladen und bei einem vorgegebenen zweiten Pegel des Schaltzustandssignals entladen wird.
  • Vorzugsweise unterscheiden sich ein Ladestrom und ein Entladestrom des kapazitiven Speicherelements, so dass fallende Flanken des Schaltzustandssignals mit einer anderen Verzögerung wie steigende Flanken an den Ausgang weitergegeben werden, um dadurch Schaltzustandssignale, die ein Sperren des zugehörigen Halbleiterschaltelements anzeigen, mit einer anderen Verzögerung weiterzugeben wie Schaltzustandssignale, die ein Leiten des zugehörigen Halbleiterschaltelements anzeigen.
  • Die Ansteuerschaltungen umfassen jeweils eine Verknüpfungsschaltung zur Verknüpfung des Eingangssignals mit dem jeweiligen Freigabesignal und eine der Verknüpfungsschaltung nachgeschaltete Treiberschaltung, die zur Ansteuerung des jeweiligen Halbleiterschaltelements geeignete Ansteuerpegel nach Maßgabe eines Ausgangssignals der Verknüpfungsschaltung zur Verfügung stellt.
  • Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend in Ausführungsbeispielen anhand von Figuren näher erläutert.
  • 1 zeigt schematisch ein Ausführungsbeispiel einer Halbbrückenschaltung mit zwei Halbleiterschaltelementen, die jeweils durch eine Ansteuerschaltung angesteuert sind, und mit Ausblendeschaltungen zur Erzeugung von Freigabesignalen aus Schaltzustandssignalen der Halbleiterschalter.
  • 2 veranschaulicht die Funktionsweise der Ausblendeschaltungen.
  • 3 zeigt ein schaltungstechnisches Realisierungsbeispiel der Halbbrückenschaltung gemäß 1, die als Halbleiterschaltelemente zwei MOSFET desselben Leitungstyps aufweist.
  • 4 zeigt ein schaltungstechnisches Realisierungsbeispiel einer Halbbrückenschaltung mit komplementären MOSFET als Halbleiterschaltelemente.
  • 5 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel einer Ausblendeschaltung.
  • 6 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel einer Ausblendeschaltung.
  • In den Figuren bezeichnen, sofern nicht anders angegeben, gleiche Bezugszeichen gleiche Teile mit gleicher Bedeutung.
  • Die in 1 dargestellte Halbbrückenschaltung umfasst zwei als n-Kanal-MOSFET ausgebildete Halbleiterschaltelemente M1, M2, wobei die Drain-Source-Strecken DS dieser MOSFET, die deren Laststrecken bilden, in Reihe zwischen eine Anschlussklemme für ein erstes Versorgungspotential V1 und eine Anschlussklemme für ein zweites Versorgungspotential bzw. Bezugspotential GND geschaltet sind. Eine Ausgangsklemme OUT zum Anschließen einer Last ist an einen den Laststrecken der MOSFET M1, M2 gemeinsamen Knoten angeschlossen.
  • Zur Ansteuerung der Halbleiterschaltelemente M1, M2 ist jeweils eine Ansteuerschaltung 11, 21 vorgesehen, die an den Gate-Anschluss G, der den Ansteueranschluss bildet, des jeweiligen Halbleiterschaltelements M1, M2 angeschlossen sind. Diesen Ansteuerschaltungen 11, 21 ist ein an einer Eingangsklemme IN anliegendes Eingangssignal Sin zugeführt, nach dessen Maßgabe die Halbleiterschalter M1, M2 jeweils komplementär zueinander leitend oder sperrend angesteuert werden.
  • Um Querströme zu vermeiden, ist beim Umschalten, also beim Übergang eines der Halbleiterschaltelemente in einen sperrenden und des anderen der Halbleiterschaltelemente in einen leitenden Zustand, sicherzustellen, dass die beiden Halbleiterschaltelemente M1, M2 nicht gleichzeitig leiten. Hierzu sind Schaltzustandsdetektionsschaltungen 12, 22 vorgesehen, die die Schaltzustände der Halbleiterschaltelemente M1, M2 erfassen und ein vom jeweiligen Schaltzustand abhängiges Schaltzustandssignal ST1, ST2 zur Verfügung stellen.
  • Diese Schaltzustandssignale ST1, ST2 sind je einer Ausblendeschaltung 13, 23 zugeführt, die aus den Schaltzustandssignalen ST1, ST2 Freigabesignale FS1, FS2 erzeugt, die der Ansteuerschaltung des jeweils anderen Halbleiterschalters zugeführt sind. In dem dargestellten Ausführungsbeispiel ist dem ersten Halbleiterschaltelement M1 eine erste Schaltzustandsdetektionsschaltung 12 zugeordnet, die ein erstes Schaltzustandssignal ST1 zur Verfügung stellt, das einer ersten Ausblendeschaltung 13 zugeführt ist, die daraus ein erstes Freigabesignal FS1 bereitstellt. Dieses erste Freigabesignal FS1 ist der zweiten Ansteuerschaltung 21 des zweiten Halbleiterschaltelements M2 zugeführt. Entsprechend ist dem zweiten Halbleiterschaltelement M2 eine zweite Schaltzustandsdetektionsschaltung 22 zugeordnet, die ein zweites Schaltzustandssignal ST2 zur Verfügung stellt, das einer zweiten Ausblendeschaltung 23 zugeführt ist, die ein zweites Freigabesignal FS2 bereitstellt. Dieses zweite Freigabesignal FS2 ist der ersten Ansteuerschaltung 11 des ersten Halbleiterschaltelements M1 zugeführt.
  • Die Ausblendeschaltungen 13, 23 sind dazu ausgebildet, Impulse der Schaltzustandssignale ST1, ST2, die kleiner als eine vorgegebene erste Zeitdauer sind und die einen leitenden Zustand des zugeordneten Halbleiterschaltelements M1, M2 anzeigen, für die Erzeugung des jeweiligen Freigabesignals FS1, FS2 auszublenden, bzw. Signalpegel, die auf einen leitenden Zustand des zugeordneten Halbleiterschaltelements hinweisen, um die erste Zeitdauer verzögert weiterzugeben. Die erste Zeitdauer ist dabei vorzugsweise kurz im Vergleich zu üblichen Einschaltdauern des ersten und zweiten Halbleiterschaltelements M1, M2.
  • Die Ansteuerschaltungen 11, 21 sind dazu ausgebildet, das ihnen zugeordnete Halbleiterschaltelement M1, M2 abhängig von dem Eingangssignal IN und dem zugeführten Freigabesignal FS1 bzw. FS2 anzusteuern, wobei das erste Freigabesignal FS1 dazu dient, dass zweite Halbleiterschaltelement M2 unabhängig vom Signalpegel des Eingangssignals Sin über die zweite Ansteuerschaltung 21 zu sperren, wenn das erste Halbleiterschaltelement M1 leitet. Entsprechend dient das zweite Freigabesignal FS2 dazu, das erste Halbleiterschaltelement M1 unabhängig vom Signalpegel des Eingangssignals Sin zu sperren, wenn das zweite Halbleiterschaltelement M2 leitet.
  • Die Ausblendung kurzer ein leitendes Halbleiterschaltelement anzeigender Impulse durch die Ausblendeschaltungen 13, 23 bei der Erzeugung der Freigabesignale FS1, FS2 trägt zur Störsicherheit der Halbbrückenschaltung bei, wie nachfolgend erläutert wird.
  • Zu Zwecken der Erläuterung sei zunächst angenommen, dass das zweite Halbleiterschaltelement M2 leitet und das erste Halbleiterschaltelement M1 sperrt. Wird nach einem Wechsel des Ansteuersignals Sin das zweite Halbleiterschaltelement M2 sperrend angesteuert, so zeigt das zweite Schaltzustandssignal ST2 noch so lange ein leitendes zweites Halbleiterschaltelement M2 an, bis die zweite Schaltzustandsdetektionsschaltung 22 einen sperrenden Zustand des zweiten Halbleiterschaltelements M2 detektiert. Wird ein Sperren des zweiten MOSFET M2 detektiert, so wird der daraus resultierende, sich ändernde Pegel des zweiten Schaltzustandssignals ST2 unverzögert oder mit einer noch zu erläuternden zweiten Verzögerungsdauer als Freigabesignal FS2 ausgegeben, um das erste Halbleiterschaltelement M1 freizugeben. Schaltet das erste Halbleiterschaltelement M1 daraufhin ein, so beginnt das Potential an der Ausgangsklemme OUT, das sich bei dem zuvor leitenden zweiten Halbleiterschaltelement M2 annähernd auf Bezugspotential GND befand, anzusteigen. Dieser Potentialanstieg am Ausgang OUT beeinflusst die durch die Spannungsde tektionsschaltung 22 ausgewertete Messgröße des zweiten MOS-FET M2, da zwischen der Ausgangsklemme OUT und dem Source-Anschluss des MOSFET M2 über eine parasitäre Gate-Drain-Kapazität C3 und die Gate-Source-Kapazität C4 ein kapazitiver Spannungsteiler vorhanden ist. Aufgrund der kapazitiven Kopplung über die parasitäre Kapazität C3 ist die Amplitude dieser Spannungsänderung zwischen dem Gate-Anschluss und dem Source-Anschluss des zweiten MOSFET M2 umso größer, je steiler der Potentialanstieg an der Ausgangsklemme OUT erfolgt, je schneller der erste MOSFET M1 also einschaltet. Weist dieses kapazitiv eingekoppelte Störsignal eine so große Amplitude auf, dass die Schaltzustandsdetektionsschaltung 22 ein eingeschaltetes zweites Halbleiterschaltelement M2 erkennt, so nimmt das zweite Schaltzustandssignal ST2 einen entsprechenden Signalpegel an. Die Dauer solcher Störsignale ist im Vergleich zur Gesamteinschaltdauer der Halbleiterschaltelemente üblicherweise kurz. Darüberhinaus genügt die über die parasitäre Kapazität C3 eingekoppelte Ladung nicht, um das zweite Halbleiterschaltelement M2 tatsächlich leitend anzusteuern, wenn dessen Gate-Source-Spannung durch entsprechende Maßnahmen z.B. in der Ansteuerschaltung 21 auf einem niedrigen Wert gehalten wird. Die zweite Ausblendeschaltung 23 die dazu ausgebildet ist, Impulse des Schaltzustandssignals ST2, die kürzer als die erste Zeitdauer sind, auszublenden, verhindert bei der dargestellten Halbbrückenschaltung, dass bei kurzen Störsignalen ein Pegelwechsel des zweiten Freigabesignals FS2 stattfindet, durch den das erste Halbleiterschaltelement M1 gesperrt würde.
  • Störsignale am Gate-Anschluss des zweiten Halbleiterschaltelements M2, deren Dauer kürzer als die erste Zeitdauer ist, bleiben somit ohne Wirkung auf die Ansteuerung des ersten Halbleiterschaltelements M1.
  • Eine entsprechende Funktionsweise erfüllt die erste Ausblendeschaltung 13, die nach dem Sperren des ersten Halbleiterschaltelements M1 und während des Einschaltvorganges des zweiten Halbleiterschaltelements M2 Impulse des ersten Schaltzustandssignals ST1, die aus kapazitiv eingekoppelten Störsignalen resultieren und die ein vermeintliches Leiten des ersten Halbleiterschaltelements M1 anzeigen, ausblendet. Eine Gate-Drain-Kapazität des ersten Halbleiterschaltelements M1 ist in 1 mit dem Bezugszeichen C1, die Gate-Source-Kapazität dieses Halbleiterschaltelements ist mit dem Bezugszeichen C2 bezeichnet.
  • Die Funktionsweise der Ausblendeschaltungen 13, 23 ist in 2 anhand beispielhafter Zeitverläufe des Schaltzustandssignals ST1 bzw. ST2 und des daraus resultierenden Freigabesignals FS1 bzw. FS2 dargestellt. Für die Darstellung wird davon ausgegangen, dass ein High-Pegel des Schaltzustandssignals ST1/ST2 auf ein Sperren des zugeordneten Halbleiterschaltelements und ein Low-Pegel dieses Schaltzustandssignals ST1/ST2 auf ein Leiten des zugeordneten Halbleiterschaltelements hinweist.
  • In der Darstellung gemäß 2 wird zu einem Zeitpunkt t1 ein Sperren des zugeordneten Halbleiterschaltelements erkannt, wodurch das Schaltzustandssignal ST1/ST2 einen High-Pegel annimmt. Zu einem späteren Zeitpunkt t2 sinkt das Schaltzustandssignals ST1/ST2, beispielsweise wegen eines kurzfristigen Störimpulses, auf einen Low-Pegel ab. Die Zeitdauer dieses Low-Impulses ist jedoch kleiner als die vorgegebene erste Zeitdauer T1, so dass dieser Low-Impuls ohne Auswirkung auf das Freigabesignal FS1/FS2 bleibt. Erst, wenn das Schaltzustandssignal ST1/ST2 für eine Zeitdauer, die länger als die erste Zeitdauer T1 ist, auf einem Low-Pegel bleibt, folgt das Freigabesignal FS1/FS2 zeitverzögert mit dieser ersten Zeitdauer T1, wie dies in 2 nach dem Zeitpunkt t3 dargestellt ist, zu dem das Schaltzustandssignal ST1/ST2 auf den Low-Pegel absinkt.
  • Vorzugsweise ist den Ausblendeschaltungen 13, 23 neben dem Schaltzustandssignal ST1, ST2 auch das Eingangssignal Sin zu geführt, um bei einem gegebenen Signalpegel, bei dem einer der beiden Halbleiterschalter M1 oder M2 leitend angesteuert werden soll, über das jeweilige Freigabesignal die Freigabe des jeweils anderen Halbleiterschalters M2 oder M1 zurückzunehmen. Abhängig von der konkreten Ausgestaltung der Ansteuerschaltung 11, 21 dient dieses Vorgehen nur zur Erhöhung der Sicherheit, da bei einem Eingangssignalpegel Sin, bei dem der eine Halbleiterschalter M1 oder M2 leiten soll, der jeweils andere Halbleiterschalter M2 oder M1 bereits durch das Eingangssignal gesperrt wird.
  • 5 zeigt ein schaltungstechnisches Realisierungsbeispiel einer die zuvor erläuterte Funktion erfüllenden Ausblendeschaltung 13 bzw. 23. Der Aufbau und die Funktionsweise dieser Ausblendeschaltung werden nachfolgend erläutert, wobei zunächst nur die in der Figur nicht gestrichelt dargestellten Schaltungskomponenten betrachtet werden.
  • Die Ausblendeschaltung umfasst eine Eingangsklemme IN1 zum Zuführen des jeweiligen Schaltzustandssignals ST1/ST2 und eine Ausgangsklemme OUT1 zum Bereitstellen des jeweiligen Freigabesignals FS1/FS2. Die Ausblendeschaltung umfasst in dem Ausführungsbeispiel einen ersten CMOS-Inverter mit einem PMOS-Transistor P5 und einem NMOS-Transistor N5, deren Laststrecken in Reihe zu einer Stromquelle I3 zwischen ein positives Versorgungspotential V+ und Bezugspotential GND geschaltet sind. Die Eingangsklemme IN1 ist an den Eingang dieses Inverters angeschlossen, der gemeinsam durch die Gate-Anschlüsse der Transistoren P5, N5 gebildet ist. Die Ausblendeschaltung umfasst einen weiteren CMOS-Inverter mit einem PMOS-Transistor P3 und einem NMOS-Transistor N3, deren Laststrecken zwischen das Versorgungspotential V+ und Bezugspotential GND geschaltet ist. Ein Ausgang des ersten Inverters P5, N5 ist dabei an den Eingang dieses zweiten Inverters P3, N3 angeschlossen. Außerdem ist als kapazitives Speicherelement ein Kondensator C11 vorhanden, der zwischen den dem Ausgang des ersten Inverters und dem Eingang des zweiten Inver ters gemeinsamen Knoten N und Versorgungspotential V+ geschaltet ist.
  • Diese Ausblendeschaltung 13, 23 funktioniert wie nachfolgend erläutert ist:
    Bei Anlegen eines High-Pegels an den Eingangsanschluss IN1, der auf ein Sperren des zugeordneten Halbleiterschaltelements (M1 oder M2 in den 1, 3 und 4) hinweist, leitet der NMOS-Transistor N5 des ersten CMOS-Inverters und der Transistor P5 sperrt. Unter der Annahme, dass der Kondensator C11 zunächst entladen ist, liegen der Ausgang des ersten Inverters P5, N5 und der Eingang des zweiten Inverters P3, N3 zunächst auf Versorgungspotential V+, wodurch das Ausgangssignal OUT1 einen Low-Pegel annimmt. Über den leitenden Transistor N5 wird der Kondensator C11 jedoch rasch aufgeladen, wodurch das Potential an dem Eingang des zweiten Inverters absinkt, und der Ausgangs OUT1 des zweiten Inverters P3, N3 auf einen High-Pegel ansteigt. Die Verzögerungszeit, zwischen dem Anlegen eines High-Pegels an den Eingang IN1 und dem Vorliegen eines High-Pegels an dem Ausgang OUT1 ist bestimmt durch die Ladedauer des ersten Kondensators C11, die in dem dargestellten Falle nahezu vernachlässigbar ist. High-Pegel der Schaltzustandssignale ST1/ST2, die auf ein Sperren des zugehörigen Halbleiterschaltelements hinweisen, werden durch diese Ausblendeschaltung somit nahezu unverzögert auf das am Ausgangs OUT1 zur Verfügung stehenden Freigabesignals FS1/FS2 weitergegeben.
  • Nimmt das Signal am Eingang IN1 anschließend einen Low-Pegel an, so sperrt der NMOS-Transistor N5 des ersten Inverters und der PMOS-Transistor P5 leitet. Das Potential am Ausgang des ersten Inverters P5, N5 und damit am Eingang des zweiten Inverters P3, N3 bleibt jedoch solange annähernd auf Bezugspotential GND, bis der Kondensator C11 über die in Reihe zu dem PMOS-Transistor P5 geschaltete Stromquelle I3 entladen ist. Erst nach Entladen dieses Kondensators C11 wird das Potential am Ausgang des ersten Inverters P5, N5, und damit am Eingang des zweiten Inverters P3, N3, annähernd auf Versorgungspotential V+ hochgezogen, um am Ausgang des zweiten Inverters OUT1 einen Low-Pegel zur Verfügung zu stellen. Die Verzögerungszeit zwischen dem Anlegen eines Low-Pegels am Eingang und dem Bereitstellen eines Low-Pegels am Ausgang OUT1, die der ersten Zeitdauer T1 gemäß 2 entspricht, ist maßgeblich bestimmt durch die Kapazität des Kondensators C11, das Versorgungspotential V+ und den durch die Stromquelle I3 bereitgestellten Entladestrom.
  • Optional weist die Ausblendeschaltung einen zweiten Eingang IN2 auf, dem das Eingangssignal Sin zugeführt ist. Über diesen zweiten Eingang IN2 ist ein weiterer PMOS-Transistor P4 angesteuert, dessen Laststrecke parallel zu dem Kondensator C11 liegt. Nimmt das Eingangssignal Sin einen Pegel an, bei dem das der Ausblendeschaltung zugeordnete Halbleiterschaltelement leiten soll, so wird dieser Transistor P4 leitend angesteuert, um den Kondensator C11 zu entladen und den Eingang des zweiten CMOS-Inverters P3, N3 auf einen High-Pegel zu legen, um am Ausgang einen Low-Pegel zur Verfügung zu stellen und dadurch den jeweils anderen Halbleiterschalter zu sperren. Unter der Annahme, dass das Eingangssignal Sin einen Low-Pegel annimmt, um das zugeordnete Halbleiterschaltelement, beispielsweise das zweite Halbleiterschaltelement M2, leitend anzusteuern, kann das Eingangssignal Sin bei der zweiten Ausblendeschaltung 23 unmittelbar dem Ansteueranschluss des Transistors P4 zugeführt werden, der dann den Eingang des CMOS-Inverters P3, N3 auf einen High-Pegel zieht, um ein erstes Freigabesignal FS1 mit einem Low-Pegel zur Verfügung zu stellen das den ersten MOSFET M1 sperrt. Ein UND-Gatter GT3, das dem Eingang des ersten Inverters P5, N5 vorgeschaltet ist, verknüpft in diesem Fall das Eingangssignal mit dem dem Transistor P4 zugeführten Signal, um bei leitendem Transistor P4 den NMOS-Transistors N5 sicher zu sperren und dadurch einen Kurzschluss zwischen Versorgungspotential V+ und Bezugspotential GND zu verhindern.
  • Ein Inverter INV2, der zwischen den Eingang IN2 und den Transistor P4 bzw. das UND-Gatter GT3 geschaltet ist, ist erforderlich, wenn die dargestellte Ausblendeschaltung dem Halbleiterschaltelement zugeordnet ist, das bei einem High-Pegel des Eingangssignals Sin leitet, wenn die Ausblendeschaltung also beispielsweise dem High-Side-Schalter M1 zugeordnet ist. Nimmt in diesem Fall das Eingangssignal Sin einen High-Pegel an, so wird der Transistor P4 leitend, um den Ausgang der Ausblendeschaltung OUT1 und damit das erste Freigabesignal FS1 auf einen Low-Pegel zu ziehen.
  • 6 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Ausblendeschaltung, die eine anhand von 2 erläuterte Funktion erfüllt. Diese Auswerteschaltung umfasst einen Kondensator C12 als kapazitives Speicherelement, der über einen ersten Schalter S1 an Versorgungspotential V+ und über einen zweiten Schalter S2 und eine Stromquelle I4 an Bezugspotential GND angeschlossen ist. Die beiden Schalter S1, S2 sind über einen Inverter INV3 über das am Eingang IN1 anliegende Ansteuersignal, also das erste oder zweite Schaltzustandssignal ST1, ST2 angesteuert. Zur Auswertung einer über dem Kondensator C12 gegen Bezugspotential GND anliegenden Spannung Uc2 ist ein Komparator K3 vorhanden, der die Kondensatorspannung Uc2 mit einer Referenzspannung Vref3 vergleicht und abhängig von dem Vergleich ein Ausgangssignal bereitstellt, das dem ersten oder zweiten Freigabesignal FS1, FS2 entspricht.
  • Nimmt das Eingangssignal ST1/ST2 einen High-Pegel an, so wird der als PMOS-Transistor ausgebildete erste Schalter S1 geschlossen, um den Kondensator C12 auf Versorgungspotential V+ aufzuladen. Übersteigt die Kondensatorspannung Uc2 dabei den Wert der Referenzspannung Vref3, so nimmt das am Ausgangs OUT1 anliegenden Signal einen High-Pegel an. Die Verzögerungszeit, mit der ein High-Pegel am Eingang IN1 auf einen High-Pegel am Ausgang OUT1 weitergegeben wird, ist im Wesentlichen abhängig von der Kapazität des Kondensators C12 und der Referenzspannung Vref3, wobei diese Referenzspannung Vref3 vorzugsweise nur wenig über Bezugspotential GND liegt.
  • Wird an den Eingang IN1 anschließend ein Low-Pegel angelegt, so sperrt der erste Schalter S1 und der in dem Beispiel als n-leitender Transistor ausgebildete zweite Schalter S2 leitet, um den Kondensator C12 über die Stromquelle I4 zu entladen. Das am Ausgang OUT1 anliegende Signal nimmt dabei dann einen Low-Pegel an, wenn der Kondensator C12 über die Stromquelle I4 bis auf den Wert der Referenzspannung Vref3 entladen wurde. Die Verzögerungsdauer zwischen einem Low-Pegel am Eingang IN1 und einem Low-Pegel am Ausgang OUT1 ist abhängig von der Kapazität des Kondensators Uc2, dem Wert des Versorgungspotentials V+ auf den der Kondensator aufgeladen wurde, und dem Entladestrom I4, sowie dem Wert der Referenzspannung Vref3.
  • Optional besteht auch hier die Möglichkeit, den Kondensator C12 abhängig vom Eingangssignal Sin der Halbbrückenschaltung zu entladen, um das Freigabesignal auf einen Low-Pegel zu setzen, wenn das Freigabesignal Sin einen Pegel aufweist, bei dem der der Ausblendeschaltung zugeordnete Halbleiterschalter leiten soll. In dem Ausführungsbeispiel gemäß 1 ist der erste Halbleiterschalter M1 der ersten Ausblendeschaltung 13 und der zweite Halbleiterschalter M2 der zweiten Ausblendeschaltung 23 zugeordnet.
  • Die Ausblendeschaltungen gemäß der 5 und 6 sind so ausgebildet, dass High-Pegel am Eingang IN1 nahezu unverzögert an den Ausgang OUT1 weitergegeben werden. Eine bestimmte Verzögerungszeit zur Weitergabe eines solchen High-Pegels kann bei der Ausblendeschaltung gemäß 5 auf einfache Weise dadurch erreicht werden, dass in Reihe zu dem NMOS-Transistor N5 zwischen den Ausgang des Inverters P5, N5 und Bezugspotential GND eine Stromquelle geschaltet wird, die die Ladezeit des Kondensators C11 bestimmt.
  • Entsprechend kann bei einer Ausblendeschaltung gemäß 6 eine Stromquelle in Reihe zu dem ersten Schalter S1 zwischen das Versorgungspotential V+ und den Ausgang des Inverters S1, S2 geschaltet werden, um dadurch die Ladezeit des Kondensators C12 festzulegen.
  • 3 zeigt die Halbrückenschaltung gemäß 1 mit schaltungstechnischen Realisierungsbeispielen für die Ansteuerschaltungen 11, 21 und die Schaltzustandsdetektorschaltungen 12, 22.
  • Die erste Ansteuerschaltung 11 umfasst eine zwischen ein erstes Ansteuerpotential V2 und den Ansteueranschluss G des MOS-FET M1 geschaltete Reihenschaltung einer Stromquelle I11 und eines p-leitenden Transistors P1. Zwischen den Ansteueranschluss G und den Source-Anschluss S ist eine Reihenschaltung eines n-leitenden Transistors N1 und einer zweiten Stromquelle I12 geschaltet. Die komplementären Transistoren P1, N2 sind gemeinsam angesteuert, wobei der MOSFET M1 bei leitendem Transistor P1 über die Stromquelle I11 auf das Ansteuerpotential V2 aufgeladen wird, um zu leiten. Zum Sperren des MOSFET M1 wird dessen Gate-Source-Kapazität C2 über den Transistor N1 und die Stromquelle I12 entladen. Das gemeinsame Ansteuersignal der komplementären Transistoren P1, N1 wird durch eine als NAND-Gatter GT1 ausgebildete Verknüpfungsschaltung aus dem Eingangssignal Sin und dem zweiten Freigabesignal FS2 zur Verfügung gestellt. Das erste Halbleiterschaltelement M1 wird in dem dargestellten Ausführungsbeispiel über den Transistor P1 leitend angesteuert, wenn sich sowohl das Eingangssignal Sin als auch das Freigabesignal FS1 auf einem High-Pegel befinden. Nimmt nur eines dieser beiden Signale, also entweder das Eingangssignal Sin oder das Freigabesignal FS1 einen Low-Pegel an, sperrt der Transistor P1 und der Transistor N1 leitet, um den MOSFET M1 zu sperren.
  • Zur Erzeugung des zweiten Schaltzustandsignals ST2, aus dem die zweite Ausblendeschaltung 23 das zweite Freigabesignal FS2 für das erste Halbleiterschaltelement M1 bereitstellt, ist ein Komparator K2 vorgesehen, der die Gate-Spource-Spannung des zweiten Halbleiterschaltelements M2 mit einer Referenzspannung Vref2 vergleicht. Der Komparator K2 und die Referenzspannungsquelle sind so verschaltet, dass das Schaltzustandssignal ST2 einen High-Pegel annimmt, wenn die Gate-Source-Spannung unter den Wert der Referenzspannung Vref2 absinkt, wobei diese Referenzspannung Vref2 so gewählt ist, dass das zweite Halbleiterschaltelement M2 sicher sperrt, wenn dessen Gate-Source-Spannung auf diesen Wert abgesunken ist. Steigt beim Einschalten des ersten Halbleiterschaltelements M1 die Gate-Source-Spannung des zweiten Halbleiterschaltelements M2 kurzfristig an, so kann dies zu einem Low-Pegel des Schaltzustandsignals ST2 führen, kurze Low-Pegel werden wie oben bereits erläutert jedoch ausgefiltert, so dass hieraus keine Beeinflussung des ersten Halbleiterschaltelements M1 resultiert. Vorzugsweise besitzt der Komparator K2 der Schaltzustandsdetektionsschaltung 22 ein Hystereseverhalten, was dazu führt, dass kleine Anstiege der Gate-Source-Spannung über den Wert der Referenzspannung Vref2 hinaus, nicht zu einer Änderung des Schaltzustandsignals ST2 führen.
  • Die zweite Ansteuerschaltung 21 zur Ansteuerung des zweiten Halbleiterschaltelements M2 ist entsprechend der ersten Ansteuerschaltung 11 aufgebaut, und besitzt eine zwischen ein zweites Ansteuerpotential V3 und den Gate-Anschluss G des zweiten MOSFET M2 geschaltete Reihenschaltung einer Stromquelle I21 und eines p-leitenden Transistors P2. Zwischen den Gate-Anschluss G und den Source-Anschluss S ist eine Reihenschaltung eines n-leitenden Transistors N2 und einer Stromquelle I22 geschaltet. Die komplementären Transistoren P2, N2 sind gemeinsam über das Ausgangssignal einer als NAND-Gatter ausgebildeten Verknüpfungsschaltung GT2 angesteuert, wobei dieses Gatter das durch die erste Ausblendeschaltung 13 zur Verfügung gestellte erste Freigabesignal FS1 mit dem mittels eines Inverters INV invertierten Eingangssignals Sin ver knüpft. Das Eingangssignal Sin ist invertiert, um im vorliegenden Fall bei einem Low-Pegel des Eingangssignals Sin und einem High-Pegel des ersten Freigabesignals FS1 den MOSFET M2 über die Stromquelle I21 und den Transistor P2 leitend anzusteuern.
  • Die ersten und zweiten Ansteuerpotentiale V2, V3 sind vorzugsweise verschieden, wobei das erste Ansteuerpotential V2 größer als das Versorgungspotential V1 ist und beispielsweise durch eine nicht näher dargestellte Ladungspumpenschaltung zur Verfügung gestellt wird.
  • Das erste Freigabesignal FS1 wird durch die erste Ausblendeschaltung 13 aus dem ersten Schaltzustandssignal ST1 zur Verfügung gestellt. Die erste Schaltzustandsdetektionsschaltung 12, die den Schaltzustand des ersten Halbleiterschaltelements M1 detektiert, ist entsprechend der zweiten Schaltzustandsdetektionsschaltung 22 aufgebaut und besitzt einen Komparator K1, der die Gate-Source-Spannung des Halbleiterschaltelements M1 mit einer Referenzspannung Vref1 vergleicht, die identisch mit der Referenzspannung Vref2 sein kann. Das Schaltzustandssignal ST1 nimmt einen High-Pegel an, wenn die Gate-Source-Spannung des MOSFET M1 unter den Wert der Referenzspannung Vref1 abgesunken ist.
  • 4 zeigt eine Abwandlung der Halbbrückenschaltung gemäß 3, bei der das erste Halbleiterschaltelement M1 als pleitender MOSFET ausgebildet ist. Änderungen ergeben sich in diesem Zusammenhang bezüglich der ersten Ansteuerschaltung 11 und der ersten Schaltzustandsdetektionsschaltung 12. Die Stromquelle I11 und der p-leitende Transistor P1 sind in diesem Ausführungsbeispiel zwischen den an das erste Versorgungspotential V1 angeschlossenen Source-Anschluss S des MOS-FET M1 und dessen Gate-Anschluss G geschaltet. Der n-leitende Transistor N1 und die Stromquelle I12 sind zwischen den Gate-Anschluss G und ein drittes Ansteuerpotential V4 geschaltet, das beispielsweise dem Bezugspotential GND entspricht. Die Verknüpfungsschaltung GT1 ist in diesem Ausführungsbeispiel als UND-Gatter GT1 ausgebildet. Bei einem High-Pegel des Eingangssignals Sin und des zweiten Freigabesignals FS2 liegt am Ausgang dieses Gatters GT1 ein High-Pegel an, durch welchen der n-leitende Transistor N1 leitet, um den Gate-Anschluss auf das unterhalb des Versorgungspotentials V1 liegende Ansteuerpotential V4 zu ziehen, und dadurch den p-leitenden MOSFET M1 leitend anzusteuern.
  • Die Schaltzustandsdetektionsschaltung 12 wertet die Gate-Source-Spannung dieses MOSFET M1 aus, wobei das Schaltzustandssignal einen High-Pegel annimmt, wenn der Betrag dieser Gate-Source-Spannung unter den Wert der Referenzspannung Vref2 abgesunken ist.
  • 11, 21
    Ansteuerschaltungen
    12, 22
    Schaltzustandsdetektionsschaltungen
    13, 23
    Ausblendeschaltungen
    C1, C3
    Gate-Drain-Kapazitäten, parasitäre Kapazi
    täten
    C11, C12
    Kondensatoren
    C2, C4
    Gate-Source-Kapazitäten
    D
    Drain-Anschluss
    FS1, FS2
    Freigabesignale
    G
    Gate-Anschluss
    GND
    zweites Versorgungspotential, Bezugspoten
    tial
    GT1
    UND-Gatter
    GT1, GT2
    NAND-Gatter
    GT3
    UND-Gatter
    I11, I12
    Stromquellen
    I21, I22
    Stromquellen
    I3
    Stromquelle
    I4
    Stromquelle
    IN
    Eingangsklemme
    IN1, IN2
    Eingangsklemmen
    INV
    Inverter
    INV2
    Inverter
    Inv3
    Inverter
    K1, K2
    Komparatoren
    K3
    Komparator
    M1, M2
    Halbleiterschaltelemente, MOSFET
    N1, N2
    n-leitende Transistoren
    N3, N5
    n-leitende Transistoren
    OUT
    Ausgangsklemme
    OUT1
    Ausgangsklemme
    P1, P2
    p-leitende Transistoren
    P3, P4, P5
    p-leitende Transistoren
    S
    Source-Anschluss
    S1, S2
    Schalter
    Sin
    Eingangssignal
    ST1, ST2
    Schaltzustandssignale
    Uc2
    Kondensatorspannung
    V+
    Versorgungspotential
    V1
    erstes Versorgungspotential
    V2, V3, V4
    Versorgungspotentiale
    Vref1, Vref2
    Referenzspannungsquellen
    Vref3
    Referenzspannungsquelle

Claims (7)

  1. Halbbrückenschaltung, die folgende Merkmale aufweist: – ein erstes und zweites Halbleiterschaltelement (M1, M2), die jeweils eine Laststrecke (D – S) und einen Ansteueranschluss (G) aufweisen und deren Laststrecken (D – S) in Reihe zwischen Klemmen für ein erstes und zweites Versorgungspotential (V1, GND) geschaltet sind, – eine Eingangsklemme (IN) zum Anlegen eines Eingangssignals (Sin), – eine an den Ansteueranschluss (G) des ersten Halbleiterschaltelements (M1) angeschlossene erste Ansteuerschaltung (11) und eine an den Ansteueranschluss (G) des zweiten Halbleiterschaltelements (M2) angeschlossene zweite Ansteuerschaltung (21), denen jeweils das Ansteuersignal (Sin) zugeführt ist, – wenigstens eine Schaltzustandsdetektionsschaltung (12, 22), die ein von einem Schaltzustand des ersten Halbleiterschaltelements (M1, M2) abhängiges Schaltzustandssignal (ST1, ST2) erzeugt, gekennzeichnet durch wenigstens eine erste Ausblendeschaltung (13), der das Schaltzustandssignal (ST1) des ersten Halbleiterschaltelements (M1) zugeführt ist und die ein von dem Schaltzustandssignal (ST1) abhängiges erstes Freigabesignal (FS1) erzeugt, das der Ansteuerschaltung (21) des zweiten Halbleiterschaltelements (M2) zugeführt ist, wobei die zweite Ansteuerschaltung (21) dazu ausgebildet ist, das zweite Halbleiterschaltelement (M2) unabhängig von dem Eingangssignal (Sin) zu sperren, wenn ein Pegel des ersten Freigabesignals (FS1) auf einen leitenden Zustand des ersten Halbleiterschaltelements (M1) hinweist, und wobei die erste Ausblendeschaltung (13) dazu ausgebildet ist, nur solchse des ersten Schaltzustandssignals (ST1), die kürzer sind als eine vorgegebene erste Zeitdauer und die auf einen leitenden Zustand des ersten Halbleiterschaltelements (M1) hinweisen, bei der Erzeugung des ersten Freigabesignals (FS1) auszublenden.
  2. Halbbrückenschaltung nach Anspruch 1, die eine zweite Schaltzustandsdetektionsschaltung (22), die ein von einem Schaltzustand des zweiten Halbleiterschaltelements (T2) abhängiges zweites Schaltzustandssignal (ST2) erzeugt, aufweist, wobei dieses zweite Schaltzustandssignal (ST2) einer zweiten Ausblendeschaltung (23) zur Bereitstellung eines zweiten Freigabesignals (FS2) für das erste Halbleiterschaltelement (T1) zugeführt ist.
  3. Halbbrückenschaltung nach Anspruch 1 oder 2, bei dem die wenigstens eine Ausblendeschaltung (13, 23) dazu ausgebildet ist, Impulse einer vorgegebenen zweiten Zeitdauer, die auf einen sperrenden Zustand des zugeordneten Halbleiterschaltelements (T1, T2) hinweisen, auszublenden.
  4. Halbbrückenschaltung nach Anspruch 3, bei dem die erste Zeitdauer größer als die zweite Zeitdauer ist.
  5. Halbbrückenschaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei der die wenigstens eine Ausblendeschaltung folgende Merkmale aufweist: – eine Eingangsklemme (IN1) zum Zuführen des Schaltzustandssignals (ST1, ST2), – eine Ausgangsklemme (OUT1) zum Bereitstellen des Freigabesignals (FS1, FS2), – wenigstens ein kapazitives Speicherelement, dessen Ladezustand das Freigabesignal (FS1, FS2) bestimmt und der bei einem vorgegebenen ersten Pegel des Schaltzustandssignals (ST1, SZ2) geladen und bei einem vorgegebenen zweiten Pegel des Schaltzustandssignals entladen wird.
  6. Halbbrückenschaltung nach Anspruch 5, bei der sich ein Ladestrom und ein Entladestrom des kapazitiven Speicherelements (C11, C12) unterscheiden.
  7. Halbbrückenschaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei der die Ansteuerschaltungen (11, 21) eine Verknüpfungsschaltung (GT1, GT2) zur Verknüpfung des Eingangssignals (Sin) mit dem jeweiligen Freigabesignal (FS1, FS2) und eine der Verknüpfungsschaltung (GT1, GT2) nachgeschaltete Treiberschaltung aufweisen.
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