DE10231419B4 - Vorrichtung und Verfahren zur Kalibrierung von Signalen - Google Patents
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Abstract
Description
- Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Kalibrierung von Signalen nach dem Oberbegriff von Anspruch 1 und ein entsprechendes Verfahren nach dem Oberbegriff von Anspruch 10.
- Dynamische Speicher (DRAMs: Dynamic Random Access Memories) werden mit speziellen Produktionstestmaschinen getestet. Eine derartige Maschine erzeugt hochgenaue Signale, die an einen zu testenden Speicherbaustein (DUT: Device under Test) geführt und angelegt werden. Unter einem hochgenauen Signal wird ein Signal verstanden, dessen Spannungspegel sehr präzise eingestellt und das zu genau definierten Zeitpunkten erzeugt werden kann. Ebenso ermöglichen die erwähnten Produktionstestmaschinen eine präzise Detektion der von einem DUT erzeugten Signale. D. h. konkret, dass diese Signale zu genau definierten Zeitpunkten abgetastet, in eine Produktionstestmaschine eingelesen und mit Vergleichssignalen, den sogenannten erwarteten Signalen verglichen werden können.
- Bei den mittlerweile verfügbaren Technologien im DRAM-Bereich werden Taktfrequenzen bis zu 400 MHz erreicht. Als Beispiel seien hier die bekannten RAMBUS- oder DDR(Double Data Rate)-Speicher genannt. Derartige Speicher erfordern hochgenaue Signale zum Testen, deren Spezifikationen in einem Zeitbereich von derzeit etwa 500 ps festgelegt sein müssen. Kleinere Zeitbereiche bis in einen Bereich von wenigen ps sind in Zukunft zu erwarten. Diese Anforderungen müssen durch Produktionstestmaschinen erfüllt werden. Hierzu ist eine besonders genaue Signalelektronik erforderlich, die jedoch sehr hohe Kosten verursacht.
- Zudem stellen derartige Produktionstestmaschinen in der Regel eine Vielzahl von unabhängigen Ein- und Ausgangskanälen zur Verfügung, die zumindest teilweise programmierbar sind.
- Diese Ein- und Ausgangskanäle werden mit einer maschineninternen Zeitreferenz und mit in der Maschine erzeugten Datenmustern verglichen. Daher werden die Ein- und Ausgangskanäle über aufwendige Pinkarten mit einer Vielzahl von ASICs (Application Specific Integrated Circuits) und elektronischen Bauelementen angesteuert. Insbesondere die ASICs verursachen jedoch sehr hohe Kosten, da in der Regel für jeden Ein- und Ausgangskanal ein ASIC vorgesehen ist; dieser ASIC wird auch als Pinelektronik bezeichnet.
- Aus der
DE 100 82 751 T5 ist eine Kalibrierungsvorrichtung zum Erzeugen von hochgenauen Sondensignalen für einen Testbetrieb von Speicherbausteinen bekannt. Zum Kalibrieren werden die Sondensignale mit einem Referenzsignal verglichen und durch Signalverzögerung zeitlich abgestimmt. Das Kalibrieren erfolgt dabei so, dass die einzelnen Signaltreiber nacheinander mit Hilfe eines Kalibrierungsimpulses abgestimmt werden. Weiterer Stand der Technik ist derUS 6 260 154 B1 , derDE 100 34 852 A1 und der nachveröffentlichtenDE 101 45 745 A1 zu entnehmen. - Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Kalibrierung von Signalen vorzuschlagen, die es ermöglichen, hochgenaue Signale kostengünstig zu erzeugen.
- Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung zur Kalibrierung von Signalen mit den Merkmalen nach Anspruch 1 und durch ein entsprechendes Verfahren mit den Merkmalen nach Anspruch 10 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausführungsformen, Ausgestaltungen und Aspekte der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen, der Beschreibung und der beiliegenden Zeichnung.
- Ein wesentlicher Punkt der Erfindung besteht darin, präzise, d. h. zeitlich hochgenaue Signale zu erzeugen, indem die Signale insbesondere durch einen Vergleich untereinander kalibriert, d. h. zeitlich aufeinander abgestimmt werden. Dieses Verfahren erweist sich außerdem als besonders vorteilhaft bei einer Implementierung in einer integrierten Schaltung, da auch räumlich relativ weit entfernte Signale ohne großen schaltungstechnischen Aufwand miteinander kalibriert werden können. Temperaturschwankungen werden durch die Erfindung ebenso ausgeglichen wie Ungenauigkeiten aufgrund unterschiedlicher Laufzeiten der Signale. Eine teuere Pinelektronik kann hierdurch sehr viel einfacher und vor allem kostengünstiger aufgebaut werden. Insbesondere bei einem Einsatz in einem BOST(Built Outside Self Test)-Konzept zum Testen von komplexen integrierten Schaltungen kann die Erfindung vorteilhaft eingesetzt werden, da nur ein geringer schaltungstechnischer Aufwand erforderlich ist. Dies ermöglicht die Implementierung in verhältnismäßig kleinen ASICs, die nahe bei einem DUT angeordnet werden können, wodurch Leitungslaufzeiten bzw. Laufzeitunterschiede von Signalen reduziert und die Genauigkeit und Frequenz erhöht werden können. Zudem können diese ASICs bei großen Stückzahlen sehr kostengünstig produziert werden. Schließlich müssen keine aufwendigen Busse beispielsweise auf einem Halbleiterchip zur Realisierung der Erfindung geführt werden.
- Konkret betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Kalibrierung von Signalen, bei der mindestens zwei Signal-Schaltungen zum Erzeugen von Signalen vorgesehen sind. Zum Kalibrieren sind ferner Mittel vorgesehen, welche die von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale auswerten und davon abhängig wenigstens eine der mindestens zwei Signal-Schaltungen derart ansteuern, dass der zeitliche Bezug der von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale untereinander entsprechend mindestens einem vorgegebenen wert eingestellt wird. Der vorgegebene Wert kann beispielsweise 0 sein; in diesem Fall sollen die Signale derart kalibriert werden, dass sie nur einen sehr kleinen oder möglichst gar keinen Zeitversatz aufweisen. Es kann aber auch jeder andere beliebige Wert vorgegeben werden, der den zeitlichen Bezug der Signale untereinander, genauer gesagt den zeitlichen Versatz der Signale bestimmt.
- Die Mittel können mindestens einen Komparator aufweisen, der mindestens zwei Signal-Schaltungen zugeordnet ist und die von den mindestens zwei Signal-Schaltungen erzeugten Signale miteinander vergleicht. Komparatoren sind schaltungstechnisch verhältnismäßig einfach aufgebaute Schaltungen, die vor allem auf einer integrierten Schaltung, also auf einem Halbleiterchip nur einen geringen Flächenbedarf haben.
- Vorzugsweise weisen die Mittel eine Logikschaltung auf, die das Ausgangssignal des mindestens einen Komparators auswertet. Eine derartige Logikschaltung kann beispielsweise in Form eines kleinen Prozessors oder eines Zustandsautomaten realisiert sein. Der vorgegebene wert sollte programmierbar und hierzu in einem flüchtigen oder nichtflüchtigen, programmierbaren Speicher abgelegt sein.
- Ferner können die Mittel mindestens eine programmierbare Verzögerungsstrecke aufweisen. Hierbei ist mindestens einer Signal-Schaltung eine programmierbare Verzögerungsstrecke zugeordnet, um die Verzögerung der Signal-Schaltung einzustellen. Als programmierbare Verzögerungsstrecke kann beispielsweise eine Serienschaltung digitaler Verzögerungsglieder eingesetzt werden, in der die Anzahl der aktiven, also in den Verzögerungspfad geschalteten Verzögerungsglieder programmierbar ist. Selbstverständlich sind auch andere, aus dem Stand der Technik bekannte Verzögerungsstrecken einsetzbar.
- Die Mittel weisen vorzugsweise mindestens ein Register auf. Wenigstens einer programmierbaren Verzögerungsstrecke ist ein Register zugeordnet, in dem ein Verzögerungswert gespeichert werden kann. Mit anderen Worten wird ein von der Logikschaltung ermittelter Verzögerungswert für eine Signal-Schaltung in dem Register gespeichert. Dieser Verzögerungswert kann dann von der dem Register zugeordneten Verzögerungsstrecke ausgelesen werden. Entsprechend dem ausgelesenen Verzögerungswert wird die Verzögerung der Signalschaltung eingestellt.
- Das mindestens eine Register ist vorzugsweise über einen Registerbus mit der Logikschaltung verbunden. Mehrere Register sind somit über diesen Registerbus verbunden, so dass der Aufwand zu Verdrahtung der Register gering gehalten wird.
- Um den Schaltungsaufwand möglichst gering zu halten, können die Mittel mindestens einen Multiplexer aufweisen, dem Ausgangssignale von Komparatoren zugeführt werden. Hierdurch wird im Prinzip ein sequentielles Bearbeiten der Vergleichsergebnisse der Komparatoren durch die Logikschaltung ermöglicht. Dazu wird der Multiplexer vorzugsweise von der Logikschaltung gesteuert, so dass die Logikschaltung den Ablauf der Kalibrierung bestimmt.
- Es kann auch ein Signalgeber vorgesehen sein, der ein Bezugssignal erzeugt, mit dem die von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale kalibriert werden können. Hierdurch kann eine Kalibrierung mit Bezug auf eine möglichst genaue Zeitreferenz, die von dem Signalgeber geliefert wird, durchgeführt werden. Mit anderen Worten werden die zu kalibrierenden Signale auf das Bezugssignal eingestellt.
- Vorzugsweise wird hierzu das Bezugssignal, das von dem Signalgeber erzeugt wird, wenigstens einem Komparator zugeführt.
- Besonders vorteilhaft kann die erfindungsgemäße Vorrichtung zumindest teilweise auf einem Halbleiterchip implementiert sein.
- Insbesondere um den technischen Aufwand der eingangs erwähnten Produktionstestmaschinen zu verringern, kann die erfindungsgemäße Vorrichtung auf einem ASIC implementiert sein, der zum Testen von dynamischen Speicherbausteinen, insbesondere für einen Selbsttest von dynamischen Speicherbausteinen ausgebildet ist. Ein derartiger ASIC kann vorteilhaft auf einer Pinkarte einer Produktionstestmaschine, beispielsweise als Ersatz für die bisher für jeden Ein- und Ausgangskanal der Produktionstestmaschine vorgesehenen Bauteile eingesetzt werden.
- In einer derzeit bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung sind die Signal-Schaltungen Treiber, insbesondere invertierende steuerbare Treiber.
- Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Kalibrierung von Signalen, bei dem mindestens zwei Signal-Schaltungen zum Erzeugen von Signalen vorgesehen sind. Verfahrengemäß werden die von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale ausgewertet; davon abhängig wird dann wenigstens eine der mindestens zwei Signal-Schaltungen derart angesteuert, dass der zeitliche Bezug der von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale untereinander entsprechend mindestens einem vorgegebenen wert eingestellt wird.
- Vorzugsweise werden die von den mindestens zwei Signal-Schaltungen erzeugten Signale zum Auswerten miteinander verglichen.
- Abhängig vom Vergleichsergebnis kann mindestens eine der Signal-Schaltungen derart programmiert werden, dass das von ihr erzeugte Signal entsprechend dem vorgegebenen Wert verzögert wird.
- In einer bevorzugten Ausführungsform erfolgt das Auswerten und Programmieren durch eine Logikschaltung, die hierzu einen Algorithmus ausführt, der den vorgegebenen Wert aufweist. Der Algorithmus kann beispielsweise als Programm in einem kleinen Speicher abgelegt sein; die Logikschaltung kann aber beispielsweise auch als Zustandsautomat ausgebildet sein, der den Algorithmus realisiert. Vorzugsweise ist der vorgegeben Wert programmierbar, indem er beispielsweise in der Logikschaltung in einem dafür vorgesehenen Register gespeichert ist. Das Register kann beispielsweise als statischer, dynamischer flüchtiger oder programmierbarer nichtflüchtiger Speicher ausgebildet sein.
- Um den schaltungstechnischen und verfahrensmäßigen Aufwand möglichst klein zu halten, werden vorzugsweise mehrere Vergleichsergebnisse von der Logikschaltung sequentiell ausgewertet. Hierdurch wird zwar der Kalibriervorgang insgesamt zeitlich verlängert; allerdings wird nicht zum Auswerten jedes Vergleichsergebnisses eine eigene Logikschaltung benötigt. Selbstverständlich können auch mehrere, insbesondere parallel arbeitende Logikschaltungen vorgesehen werden, um den Kalibriervorgang zeitlich zu verkürzen, beispielsweise wenn sehr häufig eine Kalibrierung durchgeführt wird und der insgesamt zum Kalibrieren aufzuwendende Zeitaufwand möglichst klein sein soll.
- Im Falle einer Logikschaltung zum sequentiellen Auswerten mehrerer Vergleichsergebnisse, steuert diese einen Multiplexer entsprechend an; an den Eingängen des Multiplexers liegen die Vergleichsergebnisse an. Unter entsprechender Ansteuerung wird hier insbesondere eine durch den Algorithmus gesteuerte Auswahl der einzelnen Vergleichsergebnisse verstanden.
- Vorzugsweise steuert die Logikschaltung zum Programmieren über einen Registerbus mindestens eines von mindestens zwei Registern an, die jeweils den Signal-Schaltungen zugeordnet sind, und speichert darin einen Verzögerungswert.
- Ein in einem Register gespeicherter Verzögerungswert kann dann von einer programmierbaren Verzögerungsstrecke gelesen werden, die wiederum eine Signal-Schaltung entsprechend dem gelesenen Verzögerungswert programmiert, genauer gesagt die Verzögerung der Signal-Schaltung bei der Ausgabe eines Signals einstellt.
- Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der einzigen Zeichnung näher dargestellt. Es zeigt:
-
1 ein Ausführungsbeispiel der Vorrichtung zur Kalibrierung von Signalen. -
1 zeigt ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Kalibrierung von Signalen. Die Vorrichtung ist vorzugsweise auf einem Halbleiterchip10 implementiert. Als Signal-Schaltungen sind invertierende steuerbare Treiber12 ,14 ,16 ,18 und20 vorgesehen, die Signale generieren, die beispielsweise außerhalb des Halbleiterchips10 für Testzwecke weitergeleitet werden können. Diese Signale sollen zeitlich hochgenau erzeugt, genauer gesagt kalibriert werden. Hierbei sollen alle Signale möglichst exakt zur etwa gleichen Zeit generiert werden. Genauer gesagt sollen Signalwechsel zu möglichst gleichen Zeitpunkten erzeugt werden. Deshalb werden die Treiber12 ,14 ,16 ,18 und20 von dem gleichen Steuertakt22 kontrolliert. Dieser wird jeweils über eine programmierbare Verzögerungsstrecke24 ,26 ,28 ,30 bzw.32 an die Treiber12 ,14 ,16 ,18 bzw.20 geführt. Über Register34 ,36 ,38 ,40 ,42 kann jeweils ein Verzögerungswert der Verzögerungsstrecken24 ,26 ,28 ,30 bzw.32 programmiert werden. Hierzu sind die Register34 ,36 ,38 ,40 ,42 über einen gemeinsamen Registerbus60 mit einer Logikschaltung56 verbunden. Die Funktion der Logikschaltung56 wird unten genauer erläutert. - Ist überall der gleiche Verzögerungswert über die Register
34 ,36 ,38 ,40 ,42 programmiert, so sollten alle Treiber12 ,14 ,16 ,18 und20 etwa zur gleichen Zeit ihre Ausgangssignalwerte treiben. In der Praxis ergeben sich in der Regel allerdings erhebliche zeitliche Abweichungen. - Dies liegt u. a. an Laufzeitunterschieden des Steuertakts
22 , lokal unterschiedlichen Erwärmungen durch den Schaltungsbetrieb und insbesondere damit verbundenen unterschiedlichen Leitungswiderständen, ungenauer Realisierung der Verzögerungsstrecken24 ,26 ,28 ,30 ,32 und lokal abweichenden Layoutschwankungen von Gatelängen der eingesetzten Transistoren. Insbesondere sind größere Abweichungen nicht zu vermeiden, wenn die einzelnen Signal-Schaltungen, insbesondere Treiber räumlich weit getrennt sind, beispielsweise auf einer komplexen integrierten Schaltung, einem größeren ASIC oder einem dynamischen Speicherbaustein. In1 sei beispielsweise angenommen, dass die Treiber16 und18 räumlich auf dem Halbleiterchip10 weit getrennt sind. - Um solche Schwankungen zu reduzieren wird die erfindungsgemäße Kalibriermethodik wie in
1 dargestellt verwendet. Hierbei werden die Ausgangssignale der Treiber12 ,14 ,16 ,18 und20 auf dem Halbleiterchip10 zurückgekoppelt und jeweils einem Komparator44 ,46 ,48 ,50 ,52 zugeführt. In1 sollen – wie bereits erwähnt – insbesondere die Treiber16 und18 räumlich relativ weit voneinander getrennt angeordnet sein. Zweckmäßig ist es zunächst, räumlich weit getrennte Signale direkt miteinander zu vergleichen. Daher werden die Signale der Treiber16 und18 mittels des Komparators50 verglichen. Es sollte darauf geachtet werden, die Zuführungsleitungen zu den Komparatoren jeweils etwa gleich lang zu halten, um Laufzeitunterschiede aufgrund unterschiedlich langer Zuführungsleitungen möglichst zu vermeiden, zumindest jedoch sehr gering zu halten. - Das Vergleichsergebnis von Komparator
50 wird über einen Multiplexer54 der bereits erwähnten Logikschaltung56 zugeführt. Aus dem Vergleichs- bzw. Komparatorergebnis folgt, welches der miteinander verglichenen Signale zeitlich langsamer ist. Zur weiteren Erklärung sei angenommen, dass das durch den Treiber16 erzeugte Signal langsamer ist. Die Logikschaltung56 reduziert deshalb den Inhalt des Treibers16 zugeordneten Registers38 , um die entsprechende Verzögerungsstrecke28 zu reduzieren. Hierdurch wird das durch Treiber16 erzeugte Signal etwas früher generiert. Dieser Vorgang wird so oft wiederholt bis die durch Treiber16 und18 erzeugten Signale nahezu gleichzeitig generiert werden. - Danach sind die durch Treiber
16 und18 erzeugten Signale zeitlich miteinander synchronisiert. Da die Komparatoren44 ,46 ,48 ,50 und52 jeweils durch gleichlange Leitungen mit den zugehörigen Treibern12 ,14 ,16 ,18 und20 verbunden sind, entstehen hierdurch so gut wie keine Ungenauigkeiten. Von den Komparatoren44 ,46 ,48 ,50 und52 zur Logikschaltung56 bzw. von der Logikschaltung56 zu den Registern34 ,36 ,38 ,40 und42 werden lediglich logische Daten übertragen, d. h. auch bei großen Leitungslängen entsteht hierdurch keine Ungenauigkeit in der Kalibrierung. Laufzeitunterschiede auf der Leitung für den Steuertakt22 zu den verschiedenen Verzögerungsstrecken24 ,26 ,28 ,30 und32 werden auskalibriert, da die Ausgangssignale der Treiber12 ,14 ,16 ,18 und20 jeweils direkt miteinander verglichen werden. - Ausgehend von den Treibern
16 und18 können nun alle weiteren Treiber12 ,14 und20 mit diesen verglichen werden, um alle Signale miteinander zu kalibrieren. Dabei sollte möglichst immer mit der gleichen Referenz verglichen werden, um zusätzliche Ungenauigkeiten zu vermeiden. Im Ausführungsbeispiel werden sowohl der Treiber12 als auch der Treiber14 mit dem Treiber16 verglichen. Dies erfordert zwar eine Verdrahtung über längere Distanzen, ist aber dennoch vertretbar, da die Treiber12 ,14 und16 örtlich nahe auf dem Halbleiterchip10 angeordnet sind. Selbstverständlich sollte darauf geachtet werden, dass der Registerinhalt des ”Referenz”-Treibers16 nicht mehr verändert wird. - Über den Multiplexer
54 können somit effektiv alle Treiber12 ,14 ,16 ,18 und20 nacheinander miteinander kalibriert, wodurch eine Logikschaltung56 ausreicht. - Mit der Erfindung kann eine Gruppe von Signalen in möglichst genaue zeitliche Übereinstimmung gebracht werden. Ist es erwünscht, die Übereinstimmung auch in Bezug auf eine vorgegebene exakte Zeitreferenz herzustellen, so kann dies ebenfalls durch die Erfindung erfolgen. In
1 ist dies durch den Komparator48 und einen Signalgeber58 dargestellt. Der Signalgeber ist hier eine Referenz-Signalquelle, die ein zeitlich hochgenaues Referenz-Signal erzeugt, beispielsweise einen sehr präzisen Takt. Der erste Vergleich sollte hierbei zwischen dem Signalgeber58 und beispielsweise dem Treiber16 stattfinden. Damit ist der Treiber16 mit Signalquelle58 synchronisiert. Alle weiteren Vergleiche können nun in Bezug auf den Treiber16 stattfinden – wie vorher dargestellt. - Die Erfindung kann auch eingesetzt werden, um Signalgruppen mit unterschiedlicher zeitlicher Beziehung herzustellen; beispielsweise könnten die Treiber
12 ,14 und16 auf den Signalgeber58 kalibriert werden. Werden eine weitere Referenz-Signalgeber und ein zusätzlicher Komparator vorgesehen, können die Treiber18 und20 z. B. unabhängig von den Treibern12 ,14 und16 auf diese zweite Referenz-Signalgeber kalibriert werden. - Bezugszeichenliste
-
- 10
- Halbleiterchip
- 12
- Treiber
- 14
- Treiber
- 16
- Treiber
- 18
- Treiber
- 20
- Treiber
- 22
- Steuertakt
- 24
- programmierbare Verzögerungsstrecke
- 26
- programmierbare Verzögerungsstrecke
- 28
- programmierbare Verzögerungsstrecke
- 30
- programmierbare Verzögerungsstrecke
- 32
- programmierbare Verzögerungsstrecke
- 34
- Register
- 36
- Register
- 38
- Register
- 40
- Register
- 42
- Register
- 44
- Komparator
- 46
- Komparator
- 48
- Komparator
- 50
- Komparator
- 52
- Komparator
- 54
- Multiplexer
- 56
- Logikschaltung
- 58
- Signalgeber
- 60
- Registerbus
Claims (17)
- Vorrichtung zur Kalibrierung von Signalen, die wenigstens teilweise auf einem Halbleiterchip implementiert ist und mindestens drei Signal-Schaltungen (
12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) zum Erzeugen von Signalen und Mittel (24 ,26 ,28 ,30 ,32 ,34 ,36 ,38 ,40 ,42 ,44 ,46 ,48 ,50 ,52 ,54 ,56 ) aufweist, welche die von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale auswerten und davon abhängig die drei Signal-Schaltungen (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) derart ansteuern, dass der zeitliche Bezug der von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale untereinander entsprechend mindestens einem vorgegebenen Wert eingestellt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel (24 ,26 ,28 ,30 ,32 ,34 ,36 ,38 ,40 ,42 ,44 ,46 ,48 ,50 ,52 ,54 ,56 ) ausgelegt sind, die Signale der beiden Signal-Schaltungen (16 ,18 ), die auf dem Halbleiterchip räumlich weit entfernt sind, auszuwerten und die beiden Signal-Schaltungen (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) derart anzusteuern, dass der zeitliche Bezug der von den beiden Signal-Schaltungen erzeugten Signale untereinander entsprechend dem vorgegebenen Wert eingestellt wird, wobei eine der beiden Signal-Schaltungen als Referenz-Signal-Schaltung (16 ) dient, um die weitere Signal-Schaltung (12 ,14 ,20 ) in Bezug auf die Referenz-Signal-Schaltung (16 ) auszuwerten und die weitere Signal-Schaltung (12 ,14 ,20 ) derart anzusteuern, dass der zeitliche Bezug des von der weiteren Signal-Schaltung erzeugten Signals zu dem Signal der Referenz-Signal-Schaltung (16 ) entsprechend dem vorgegebenen Wert eingestellt wird, wobei die Mittel mindestens zwei programmierbare Verzögerungsstrecken (24 ,26 ,28 ,30 ,32 ) aufweisen, die einer der beiden Signal-Schaltungen (16 ,18 ), die auf dem Halbleiterchip räumlich weit entfernt sind, und der weiteren Signal-Schaltung (12 ,14 ,20 ) zugeordnet sind, um die Verzögerung der Signal-Schaltungen (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) einzustellen, und dass die Mittel weiter eine Logikschaltung (56 ) aufweisen, um die zwei programmierbaren Verzögerungsstrecken (24 ,26 ,28 ,30 ,32 ) zu programmieren, wobei das Programmieren durch die Logikschaltung erfolgt, die hierzu einen Algorithmus ausführt, der den vorgegebenen Wert aufweist. - Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel Komparatoren (
44 ,46 ,48 ,50 ,52 ) aufweisen, die den Signal-Schaltungen zugeordnet sind und die die von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale miteinander vergleichen. - Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Logikschaltung (
56 ) ausgelegt ist, die Ausgangssignale der Komparatoren (44 ,46 ,48 ,50 ,52 ) auszuwerten. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel mindestens zwei Register (
34 ,36 ,38 ,40 ,42 ) aufweisen, wobei den programmierbaren Verzögerungsstrecken (24 ,26 ,28 ,30 ,32 ) jeweils ein Register zugeordnet ist, in dem ein Verzögerungswert gespeichert werden kann. - Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Register (
34 ,36 ,38 ,40 ,42 ) über einen Registerbus (60 ) mit der Logikschaltung (56 ) verbunden sind. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel mindestens einen Multiplexer (
54 ) aufweisen, dem die Ausgangssignale der Komparatoren (44 ,46 ,48 ,50 ,52 ) zugeführt werden. - Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Multiplexer (
54 ) von der Logikschaltung (56 ) gesteuert wird. - Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel auf einem ASIC implementiert sind, der zum Testen von dynamischen Speicherbausteinen ausgebildet ist, oder dass die Mittel auf dem zu testenden Baustein selbst implementiert sind, um einen Selbsttest zu realisieren.
- Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Signal-Schaltungen Treiber (
12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) sind. - Verfahren zur Kalibrierung von Signalen mittels einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei mindestens drei Signal-Schaltungen (
12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) zum Erzeugen von Signalen vorgesehen sind, wobei die von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale ausgewertet und davon abhängig die drei Signal-Schaltungen (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) derart ansteuert werden, dass der zeitliche Bezug der von den drei Signal-Schaltungen erzeugten Signale untereinander entsprechend mindestens einem vorgegebenen Wert eingestellt wird, dadurch gekennzeichnet, dass zunächst die Signale der beiden Signal-Schaltungen (16 ,18 ), die auf dem Halbleiterchip räumlich weit entfernt sind, ausgewertet und die beiden Signal-Schaltungen (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) derart ansteuert werden, dass der zeitliche Bezug der von den Signal-Schaltungen erzeugten Signale untereinander entsprechend dem vorgegebenen Wert eingestellt wird, wobei eine der beiden Signal-Schaltungen als Referenz-Signal-Schaltung (16 ) dient, und dann die weitere Signal-Schaltung (12 ,14 ,20 ) in Bezug auf die Referenz-Signal-Schaltung (16 ) ausgewertet und derart angesteuert wird, dass der zeitliche Bezug des von der weiteren Signal-Schaltung erzeugten Signals zu dem Signal der Referenz-Signal-Schaltung (16 ) entsprechend dem vorgegebenen Wert eingestellt wird. - Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass zum Auswerten die von den drei Signal-Schaltungen erzeugten Signale miteinander verglichen werden.
- Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens abhängig von Vergleichsergebnissen zwei Signal-Schaltungen (
12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) derart programmiert werden, dass das die von ihnen erzeugten Signale entsprechend dem vorgegebenen Wert verzögert werden. - Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Auswerten und Programmieren durch eine Logikschaltung (
56 ) erfolgt, die hierzu einen Algorithmus ausführt, der den vorgegebenen Wert aufweist. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die mehreren Vergleichsergebnisse von der Logikschaltung (
56 ) sequentiell ausgewertet werden. - Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Logikschaltung (
56 ) zum sequentiellen Auswerten der mehreren Vergleichsergebnisse einen Multiplexer (54 ) entsprechend ansteuert, an dessen Eingängen die Vergleichsergebnisse anliegen. - Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Logikschaltung (
56 ) zum Programmieren über einen Registerbus (60 ) mindestens zwei Register (34 ,36 ,38 ,40 ,42 ), die jeweils den Signal-Schaltungen (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) zugeordnet sind, ansteuert und einen Verzögerungswert darin speichert. - Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der in dem Register (
34 ,36 ,38 ,40 ,42 ) gespeicherte Verzögerungswert von einer programmierbaren Verzögerungsstrecke (24 ,26 ,28 ,30 ,32 ) gelesen wird, die wiederum die zugeordnete Signal-Schaltung (12 ,14 ,16 ,18 ,20 ) entsprechend dem gelesenen Verzögerungswert programmiert.
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DE102004036145A1 (de) * | 2004-07-26 | 2006-03-23 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterschaltungseinrichtung und System zum Testen einer Halbleitervorrichtung |
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JP4849996B2 (ja) * | 2006-08-23 | 2012-01-11 | 株式会社アドバンテスト | 遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 |
JP5429727B2 (ja) * | 2007-08-24 | 2014-02-26 | ワイアイケー株式会社 | 半導体試験装置 |
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CN113064060B (zh) * | 2021-03-17 | 2024-03-01 | 胜达克半导体科技(上海)股份有限公司 | 一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0566823A2 (de) * | 1992-04-21 | 1993-10-27 | Hewlett-Packard Company | Verfahren zur Prüfgerätkalibrierung mit Einbeziehung der Haltevorrichtung |
US6260154B1 (en) * | 1998-10-30 | 2001-07-10 | Micron Technology, Inc. | Apparatus for aligning clock and data signals received from a RAM |
DE10082751T1 (de) * | 1999-08-16 | 2001-11-22 | Advantest Corp | Zeitkalibrierverfahren für IC-Tester und das Kalibrierverfahren verwendender IC-Tester mit Kalibrierfunktion |
DE10034852A1 (de) * | 2000-07-18 | 2002-02-07 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Einlesen und zur Überprüfung der zeitlichen Lage von aus einem zu testenden Speicherbaustein ausgelesenen Datenantwortsignalen |
DE10145745A1 (de) * | 2001-09-17 | 2003-04-24 | Infineon Technologies Ag | Integrierte Schaltung und Verfahren zu ihrem Betrieb |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4554636A (en) * | 1982-09-30 | 1985-11-19 | Allied Corporation | Apparatus for testing circuits within a system |
US6094075A (en) * | 1997-08-29 | 2000-07-25 | Rambus Incorporated | Current control technique |
US6448799B1 (en) * | 1999-09-30 | 2002-09-10 | Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. | Timing adjustment method and apparatus for semiconductor IC tester |
US6609077B1 (en) * | 2000-05-31 | 2003-08-19 | Teradyne, Inc. | ATE timing measurement unit and method |
US6880137B1 (en) * | 2001-08-03 | 2005-04-12 | Inovys | Dynamically reconfigurable precision signal delay test system for automatic test equipment |
US6631340B2 (en) * | 2001-10-15 | 2003-10-07 | Advantest Corp. | Application specific event based semiconductor memory test system |
US7084662B1 (en) * | 2003-02-12 | 2006-08-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Variable impedance output driver |
US7592824B2 (en) * | 2003-02-26 | 2009-09-22 | Rambus Inc. | Method and apparatus for test and characterization of semiconductor components |
-
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-
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- 2003-07-11 US US10/618,056 patent/US7162382B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0566823A2 (de) * | 1992-04-21 | 1993-10-27 | Hewlett-Packard Company | Verfahren zur Prüfgerätkalibrierung mit Einbeziehung der Haltevorrichtung |
US6260154B1 (en) * | 1998-10-30 | 2001-07-10 | Micron Technology, Inc. | Apparatus for aligning clock and data signals received from a RAM |
DE10082751T1 (de) * | 1999-08-16 | 2001-11-22 | Advantest Corp | Zeitkalibrierverfahren für IC-Tester und das Kalibrierverfahren verwendender IC-Tester mit Kalibrierfunktion |
DE10034852A1 (de) * | 2000-07-18 | 2002-02-07 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Einlesen und zur Überprüfung der zeitlichen Lage von aus einem zu testenden Speicherbaustein ausgelesenen Datenantwortsignalen |
DE10145745A1 (de) * | 2001-09-17 | 2003-04-24 | Infineon Technologies Ag | Integrierte Schaltung und Verfahren zu ihrem Betrieb |
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