DE102011013411B4

DE102011013411B4 - Prüfstift und IC-Träger mit Prüfstift

Info

Publication number: DE102011013411B4
Application number: DE102011013411.5A
Authority: DE
Inventors: Yuji Kato; Takeyuki Suzuki
Original assignee: Yamaichi Electronics Co Ltd
Current assignee: Yamaichi Electronics Co Ltd
Priority date: 2010-04-09
Filing date: 2011-03-09
Publication date: 2015-03-19
Anticipated expiration: 2031-03-10
Also published as: CN102213727B; TW201203723A; JP4998838B2; KR20110113559A; US8669774B2; KR101194520B1; DE102011013411A1; US20110248736A1; CN102213727A; JP2011222308A; TWI440259B

Abstract

Prüfstift (40), umfassend einen aus einem Metallblech geformten Kolben (41) und eine aus einem Metalldraht geformte und zum Halten des Kolbens (41) ausgelegte Schraubenfedereinheit (51), wobei: in einem entfalteten Zustand, der Kolben (41) einen ersten Bereich (41a) und einen zweiten Bereich (41b) umfasst, von denen jeder einen oberen Kontaktstreifen (43), einen breiten Bereich (44) und einen unteren Kontaktstreifen (45) aufweist, und die miteinander über die breiten Bereiche (44), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, miteinander verbunden sind; dadurch gekennzeichnet, dass der Kolben (41) in einer Verbundweise ausgebildet ist, indem der erste und zweite Bereich (41a, 41b) entlang einer Begrenzung der breiten Bereiche (44), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, zusammengefaltet werden, um somit zumindest die breiten Bereiche (44), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, in engen Kontakt zueinander zu bringen; ein elastischer Verformungsbereich (46) an einem unteren Bereich jedes der unteren Kontaktstreifen (45), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, ausgebildet ist; und wenn der erste und zweite Bereich (41a, 41b) zusammengefaltet werden, um den Kolben (41) zu bilden, die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildeten unteren Kontaktstreifen (45), mit Ausnahme der elastischen Verformungsbereiche (46), in engen Kontakt zueinander gebracht werden und einen Verbundkörper bilden, während die elastischen Verformungsbereiche (46) gepaarte elastische Verformungsbereiche (46) bilden, die in Bezug aufeinander elastisch verformbar sind.

Description

Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Prüfstift und einen IC-Träger mit diesem, wobei der Prüfstift für den IC-Träger verwendet wird, der eine Halbleitervorrichtung als ein erstes Kontaktobjekt, wie z. B. einen Halbleiterwafer, und ein Verkabelungssubstrat als ein zweites Kontaktobjekt elektrisch verbindet, und für eine elektrische Prüfung der Halbleitervorrichtung verwendet wird.
Beschreibung des Standes der Technik
In einem Herstellungsvorgang für Halbleitervorrichtungen, wie Halbleiterwafer und integrierte Schaltungs-Baugruppen (auch als „IC-Baugruppen” bezeichnet), werden verschiedene Tests durchgeführt, um die Anwesenheit oder Abwesenheit von Fehlstellen in den Halbleitervorrichtungen zu überprüfen. Als einer dieser Tests ist eine Überprüfung bekannt, bei der ein Testsignal zu einer Halbleitervorrichtung als Prüfobjekt gesandt wird, um die elektrischen Eigenschaften der Halbleitervorrichtung zu überprüfen. Im Allgemeinen wird ein solcher Test über eine elektrische Verbindungsvorrichtung (nachfolgend einfach als „IC-Träger” bezeichnet) für die Halbleitervorrichtung durchgeführt, die ausgelegt ist, das Prüfobjekt und ein Verkabelungssubstrat, wie eine Prüfplatte, elektrisch zu verbinden. Als ein solcher IC-Träger ist zum Beispiel ein im US-Patent Nr. 7,677,901 offenbarter IC-Träger bekannt. Ein weiterer IC-Träger mit einem Prüfstift gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 ist aus der WO 2009 084 906 A2 bekannt.
Bei dem in der US-Patentveröffentlichung Nr. 7,677,901 offenbarten IC-Träger werden Prüfstifte als Kontakte verwendet, die jeweils einen Kolben, der durch Stanzen eines Metallblechs in eine vorbestimmte Form durch ein Presswerkzeug ausgebildet ist, und eine Schraubenfedereinheit umfassen. Jeder der Kolben, der die Prüfstifte bildet, umfasst einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich und ist in einer rechteckigen U-Form mit einem Verbindungsbereich zwischen dem ersten Bereich und dem zweiten Bereich gebogen. Die Kolben sind vertikal beweglich in ihren entsprechenden Durchgangslöchern, die jeweils einen Bereich mit kleinem Durchmesser und einen Bereich mit großem Durchmesser aufweisen und in einer isolierenden Grundplatte ausgebildet sind, die eine Trägerbasis des IC-Trägers bildet, untergebracht. Zusätzlich umfasst jeder Kolben obere Kontaktstreifen mit drei Kontaktpunkten, die in einer Ebene verteilt sind und mit denen ein externer Kontaktpunkt einer Halbleitervorrichtung in Kontakt kommt. Weiterhin ist der Kolben in dem Durchgangsloch derart untergebracht, dass die vorderen Enden der drei Kontaktpunkte des Kolbens vom Durchgangsloch nach oben vorstehen. Weiterhin umfassen die Kolben untere Kontaktstreifen mit zwei Kontaktpunkten, die mit einem dünn gewickelten Bereich eines eng gewickelten Bereichs der Schraubenfedereinheit in einen federnden Kontakt kommen können, die den Prüfstift bildet und einen Federbereich umfasst, der ausgelegt ist, den Kolben federnd nach oben zu drängen.
In den letzten Jahren wurde, einhergehend mit der Erhöhung der Dichte der externen Kontaktpunkte, die auf der Halbleitervorrichtung als das Prüfobjekt angeordnet sind, eine feinere Abstandsanordnung (auch als „engere Abstandsanordnung” bezeichnet) für die Prüfstifte (auch als „Kontakte” bezeichnet) des IC-Trägers gefordert. Die Prüfstifte des IC-Trägers, die in der Beschreibung des oben genannten US-Patents Nr. 7,677,901 offenbart sind, weisen eine exzellente Zuverlässigkeit, Haltbarkeit und Stabilität im Kontakt mit den externen Kontaktpunkten einer Halbleitervorrichtung auf. Jedoch ist jeder Kolben in einer rechteckigen U-Form mit dem Verbindungsbereich zwischen dem ersten und zweiten Bereich gebogen, und somit sind der erste und der zweite Bereich mit einem Spalt dazwischen angeordnet. Dementsprechend ist es schwierig, einen feineren Abstand in der Anordnung der Prüfstifte zu erreichen.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Prüfstift und einen IC-Träger mit diesem bereitzustellen, wobei der Prüfstift für den IC-Träger verwendet wird und für eine feinere Abstandsanordnung geeignet ist, während seine Zuverlässigkeit, Haltbarkeit und Kontaktverlässlichkeit gegenüber den herkömmlichen Prüfstiften sowenig wie möglich beeinträchtigt sind.
Zusammenfassung der Erfindung
Um das oben beschriebene Ziel zu erreichen, umfasst ein Prüfstift gemäß der vorliegenden Erfindung einen Kolben, der aus einem Metallblech geformt ist, und eine Schraubenfedereinheit, die aus einem Metalldraht geformt ist und den Kolben darauf halten kann. In einem entfalteten Zustand umfasst der Kolben einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich, von denen jeder einen oberen Kontaktstreifen, einen breiten Bereich und einen unteren Kontaktstreifen aufweist, und die miteinander über die breiten Bereiche, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, verbunden sind. Der Kolben wird in einer Verbundweise durch Zusammenfalten des ersten und des zweiten Bereichs entlang einer Begrenzung der breiten Bereiche, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, ausgebildet, um somit zumindest die breiten Bereiche, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, in engen Kontakt zueinander zu bringen.
Weiterhin ist es bei dem Prüfstift gemäß der vorliegenden Erfindung bevorzugt, dass ein elastischer Verformungsbereich an einem unteren Bereich jedes unteren Kontaktstreifens, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, ausgebildet wird; und dass, wenn der erste und der zweite Bereich zusammengefaltet werden, um den Kolben zu bilden, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildeten unteren Kontaktstreifen, mit Ausnahme der elastischen Verformungsbereiche, in engen Kontakt miteinander gebracht werden und einen Verbundkörper bilden, während die elastischen Verformungsbereiche gepaarte elastische Verformungsbereiche bilden, die in Bezug aufeinander elastisch verformbar sind.
Weiterhin kann ein Kontaktpunktbereich mit einem Kontaktpunkt an einem oberen Bereich jedes oberen Kontaktstreifens, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, ausgebildet sein. Wenn der erste und zweite Bereich zusammengefaltet werden, um den Kolben zu bilden, können die oberen Kontaktstreifen, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, hierbei in engen Kontakt miteinander gebracht werden, mit Ausnahme der Kontaktpunktbereiche, und einen Verbundkörper bilden, während die Kontaktpunktbereiche Kontaktpunktbereiche bilden, auf denen eine Vielzahl von Kontaktpunkten in einer Ebene verteilt sind. Stattdessen können die oberen Kontaktstreifen, die in dem ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, in engen Kontakt miteinander gebracht werden und einen Verbundkörper bilden, und die Kontaktpunktbereiche bilden einen einzelnen Kontaktpunkt.
Zusätzlich ist es bei dem Prüfstift gemäß der vorliegenden Erfindung bevorzugt, dass ein Vorsprung am ersten oder zweiten Bereich ausgebildet ist, und eine Öffnung oder eine Vertiefung am jeweils anderen, ersten oder zweiten, Bereich ausgebildet ist, wobei der Vorsprung mittels Presspassung in die Öffnung oder Vertiefung eingepasst ist, wenn der erste und der zweite Bereich zusammengefaltet werden, um den Kolben zu bilden.
Gemäß dem Prüfstift der vorliegenden Erfindung werden der erste und zweite Bereich des Kolbens miteinander verbunden, wenn sie zusammengefaltet und in engen Kontakt miteinander gebracht werden. Der Kolben, der so ausgebildet ist, dass er zwei Schichten aufweist, hat eine höhere Festigkeit, und auch die Dicke des Kolbens kann verringert werden. Dementsprechend können Breite und Dicke des Kolbens verringert werden, ohne dessen Haltbarkeit zu verschlechtern, was eine Eignung für die engere Abstandsanordnung ermöglicht. Weiterhin ist es möglich, Zwischenräume für die elastische Verformung der gepaarten elastischen Verformungsbereiche sicherzustellen, auch wenn der Prüfstift so ausgebildet ist, dass er für die engere Abstandsanordnung, wie oben beschrieben, geeignet ist. Dementsprechend können die gepaarten elastischen Verformungsbereiche sicher mit einer Innenumfangsfläche eines eng gewickelten Bereichs in Kontakt kommen, so dass ein Kurzschluss erzeugt wird und eine Hochgeschwindigkeitsübertragung, wie in herkömmlichen Fällen, erzielt wird. Weiterhin können die Kontaktpunktbereiche der oberen Kontaktstreifen die gleiche Kontaktverlässlichkeit wie in herkömmlichen Fällen aufrechterhalten, auch wenn der Prüfstift so geformt ist, dass er für die engere Abstandsanordnung geeignet ist.
Weitere Merkmale der vorliegenden Erfindung werden aus der nachfolgenden Beschreibung beispielhafter Ausführungsbeispiele (unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen) ersichtlich.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
1A ist eine Vorderansicht eines Prüfstifts gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
1B ist eine Seitenansicht des in 1A gezeigten Prüfstifts;
2A ist eine Draufsicht auf einen Kolben, der den in 1A und 1B gezeigten Prüfstift darstellt;
2B ist eine Vorderansicht des in 2A gezeigten Kolbens;
2C ist eine Unteransicht des in 2A gezeigten Kolbens;
2D ist eine Seitenansicht des in 2A gezeigten Kolbens;
2E ist eine entfaltete Ansicht des in 2A gezeigten Kolbens;
3A ist eine Seitenansicht, die eine Modifikation des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens zeigt;
3B ist eine entfaltete Ansicht des in 3A gezeigten Kolbens;
4A ist eine Seitenansicht, die eine weitere Modifikation des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens zeigt;
4B ist eine entfaltete Ansicht des in 4A gezeigten Kolbens;
5 ist eine schematische Querschnittsansicht eines IC-Trägers, in dem die in 1A und 1B gezeigten Prüfstifte installiert sind;
6A ist eine teilweise vergrößerte Querschnittsansicht des IC-Trägers zum Beschreiben der Bewegung des in 1A und 1B gezeigten Prüfstifts, und zeigt den gleichen Zustand wie in 5, in dem die Prüfstifte am IC-Träger befestigt sind;
6B ist eine schematische Querschnittsansicht des gleichen IC-Trägers wie in 6A und zeigt einen Zustand, in dem der IC-Träger an einem Verkabelungssubstrat befestigt ist;
6C ist eine schematische Querschnittsansicht des gleichen IC-Trägers wie in 6A und zeigt einen Zustand, in dem eine Halbleitervorrichtung an dem IC-Träger im Zustand der 6B befestigt ist;
7A ist eine teilweise vergrößerte Querschnittsansicht eines Teils entlang der Linie VII-VII der 6C, dient zur Beschreibung des Kontakts der unteren Kontaktstreifen des Kolbens des Prüfstifts gemäß der vorliegenden Erfindung mit einem eng gewickelten Bereich einer Schraubenfedereinheit, und zeigt eine Weise, wie die unteren Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens mit dem eng gewickelten Bereich in Kontakt gelangen;
7B ist eine teilweise vergrößerte Querschnittsansicht ähnlich der 7A und zeigt eine Weise, wie eine erste Modifikation der unteren Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens mit dem eng gewickelten Bereich in Kontakt gelangt;
7C ist eine teilweise vergrößerte Querschnittsansicht ähnlich der 7A und zeigt eine Weise, wie eine zweite Modifikation der unteren Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens mit dem eng gewickelten Bereich in Kontakt gelangt;
7D ist eine teilweise vergrößerte Querschnittsansicht ähnlich der 7A und zeigt eine Weise, wie eine dritte Modifikation der unteren Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens mit dem eng gewickelten Bereich in Kontakt gelangt;
8A ist eine Draufsicht, die eine Modifikation der oberen Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens zeigt;
8B ist eine Vorderansicht der oberen Kontaktstreifen des in 8A gezeigten Kolbens;
8C ist eine Seitenansicht der oberen Kontaktstreifen des in 8A gezeigten Kolbens;
9A ist eine Draufsicht, die eine weitere Modifikation der oberen Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens zeigt;
9B ist eine Vorderansicht der oberen Kontaktstreifen des in 9A gezeigten Kolbens;
9C ist eine Seitenansicht der oberen Kontaktstreifen des in 9A gezeigten Kolbens;
10A zeigt eine Draufsicht und eine Vorderansicht noch einer weiteren Modifikation der oberen Kontaktstreifen des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens;
10B zeigt eine Draufsicht und eine Vorderansicht einer Modifikation des in 10A gezeigten Kolbens;
10C zeigt eine Draufsicht und eine Vorderansicht noch einer weiteren Modifikation des in 8A bis 8C gezeigten Kolbens;
11A ist eine teilweise vergrößerte Ansicht, die eine Modifikation der Schraubenfedereinheit des in 1A und 1B gezeigten Prüfstifts zeigt, und zeigt ein Beispiel, bei dem der eng gewickelte Bereich im Wesentlichen nur von einem dünn gewickelten Bereich gebildet wird;
11B ist eine teilweise vergrößerte Ansicht, die eine weitere Modifikation der Schraubenfedereinheit zeigt, und zeigt ein Beispiel, bei dem der eng gewickelte Bereich den gleichen Außen- und Innendurchmesser wie ein Federbereich aufweist;
12A zeigt eine erste Verbindungseinrichtung zum Befestigen eines ersten Bereichs und eines zweiten Bereichs des in 2A bis 2E gezeigten Kolbens aneinander; und
12B zeigt eine zweite Verbindungseinrichtung zum Befestigen des ersten Bereichs und des zweiten Bereichs des in 2A bis 2E gezeigte Kolbens aneinander.
Beschreibung der Ausführungsbeispiele
Nachfolgend werden bevorzugte Ausführungsbeispiele eines Prüfstifts gemäß der vorliegenden Erfindung unter Verwendung der Zeichnungen beschrieben.
Zuerst wird ein IC-Träger, an dem der Prüfstift gemäß der vorliegenden Erfindung angewandt wird, kurz unter Verwendung der 5 beschrieben. Der IC-Träger, an dem der Prüfstift gemäß der vorliegenden Erfindung angewandt wird, weist einen Aufbau auf, der im Grunde der gleiche wie bei den herkömmlichen ist. Somit wird für Einzelheiten des IC-Trägers z. B. auf die US 7,677,901 B1 verwiesen.
Wie in 5 gezeigt, umfasst der IC-Träger 10 hauptsächlich ein erstes Basiselement 20, ein zweites Basiselement 30 und viele Prüfstifte 40 als Kontakte. In 5 bezeichnet Bezugszeichen 80 ein zweites Kontaktobjekt, mit dem die Prüfstifte 40 des IC-Trägers 10 in Kontakt kommen. Das zweite Kontaktobjekt ist ein Verkabelungssubstrat, wie eine Prüfplatte, an der der IC-Träger 10 befestigt werden soll. Bezugszeichen 90 bezeichnet ein erstes Kontaktobjekt, das mit den Prüfstiften 40 des IC-Trägers 10 in Kontakt kommt. Das erste Kontaktobjekt ist eine IC-Baugruppe, die auf dem IC-Träger 10 befestigt werden soll. Die IC-Baugruppe 90 als das erste Kontaktobjekt ist über den IC-Träger 10 elektrisch mit dem Verkabelungssubstrat 80 als das zweite Kontaktobjekt verbunden.
Das erste Basiselement 20 wird durch Formen eines elektrisch isolierenden Kunstharzmaterials ausgebildet, hat eine im Wesentlichen parallelelliptische Form und ist in einer Gehäusevertiefung 31, die in dem zweiten Basiselement 30 ausgebildet ist, untergebracht.
Eine Anordnungsvertiefung 21 zum Unterbringen der IC-Baugruppe 90 ist in einem Mittelbereich des ersten Basiselements 20 ausgebildet. Viele erste Durchgangslöcher 25 sind ausgebildet, um von einer unteren Oberfläche 23 des ersten Basiselements 20 zu einer unteren Oberfläche 22 der Anordnungsvertiefung 21 in einer solchen Anordnung hindurch zu verlaufen, um jeweils zu vielen externen Kontaktpunkten 92, wie z. B. Lotperlen, die für die auf dem IC-Träger 10 zu montierende IC-Baugruppe 90 bereitgestellt sind, zu korrespondieren. Die vielen ersten Durchgangslöcher 25 sind in einem Matrixmuster in der gleichen Weise wie die Anordnung der vielen externen Kontaktpunkte 92 der IC-Baugruppe 90 angeordnet. Jedes der ersten Durchgangslöcher 25 definiert (später beschriebene) Prüfstift-Aufnahmegehäuse zum Aufnehmen der Prüfstifte 40 in Zusammenarbeit mit entsprechenden (später beschriebenen) zweiten Durchgangslöchern 35, die am zweiten Basiselement 30 vorgesehen sind. Einstweilen ist die zu befestigende IC-Baugruppe 90 in diesem Ausführungsbeispiel als eine IC-Baugruppe vom Typ einer Kugelgitteranordnung (BGA – ball grid array) dargestellt, die externe Kontaktpunkte 92, wie Lotperlen, umfasst. Jedoch ist die zu befestigende IC-Baugruppe nicht darauf beschränkt, und kann auch vom Typ einer Kontaktflächen-Schachbrettanordnung (LGA – land grid array) oder vom Typ einer flachen Vierseitanordnung (QFP – quad flat package), die zu einer Knickflügelform ausgebildet ist, sein.
Wie in 6A bis 6C genau gezeigt ist, umfassen die ersten Durchgangslöcher 25 jeweils, von oben nach unten, einen zylindrischen Bereich 25a mit kleinem Durchmesser, einen Absatzbereich 25b und einen zylindrischen Bereich 25c mit großem Durchmesser. Der Bereich 25a mit kleinem Durchmesser nimmt einen oberen Kontaktstreifen 43 eines Kolbens 41 des Prüfstifts 40 auf. Hierbei ist die Länge des Bereichs 25a mit kleinem Durchmesser so festgelegt, dass ein Kontaktpunktbereich 42 des oberen Kontaktstreifens 43 von der unteren Oberfläche 22 der Anordnungsvertiefung 21 um ein ausreichendes Maß nach oben vorsteht. Der Bereich 25c mit großem Durchmesser nimmt einen breiten Bereich 44 des Kolbens 41 und einen Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 auf, wobei der Kolben 41 und die Schraubenfedereinheit 51 den Prüfstift 40 darstellen. Der Absatzbereich 25b ist zwischen dem Bereich 25a mit kleinem Durchmesser und dem Bereich 25c mit großem Durchmesser angeordnet. Wie in 5 und 6A gezeigt, stößt der Absatzbereich 25b gegen den breiten Bereich 44 des Kolbens 41 und hält den Prüfstift 40 innerhalb des Prüfstift-Aufnahmegehäuses in einem Zustand einer leichten Komprimierung des Prüfstifts 40, wenn diese als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert sind.
Wie das erste Basiselement 20 wird das zweite Basiselement 30 durch Formen eines elektrisch isolierenden Kunstharzmaterials ausgebildet und weist eine im Wesentlichen parallelelliptische Form auf. Eine Gehäusevertiefung 31 mit einer im Wesentlichen parallelelliptischen Form, die nach oben öffnet, ist in einem Mittelbereich des zweiten Basiselements 30 ausgebildet. Das erste Basiselement 20 ist in der Gehäusevertiefung 31 untergebracht und an diesem mittels eines Befestigungselements, wie einem Bolzen, befestigt.
Die vielen zweiten Durchgangslöcher 35 sind ausgebildet, um von der unteren Oberfläche 33 des zweiten Basiselements 30 zu einer unteren Oberfläche 32 der Gehäusevertiefung 31 in einer solchen Anordnung hindurch zu verlaufen, die jeweils zu den vielen ersten Durchgangslöchern 25, die in dem ersten Basiselement 20 vorgesehen sind, korrespondiert. Jedes der zweiten Durchgangslöcher 35 definiert die Prüfstift-Aufnahmegehäuse zum Aufnehmen des Prüfstifte 40 in Zusammenarbeit mit den entsprechenden ersten Durchgangslöchern 25, die in dem ersten Basiselement 20 vorgesehen sind. Wenn diese als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert sind, haben die vielen zweiten Durchgangslöcher 35 dementsprechend eine gemeinsame Mittellinie mit ihren entsprechenden ersten Durchgangslöchern 25 und sind in der Matrix angeordnet.
Wie in 6A gezeigt, umfassen die zweiten Durchgangslöcher 35 jeweils, von oben nach unten, einen zylindrischen Bereich 35a mit großem Durchmesser, einen Absatzbereich 35b und einen zylindrischen Bereich 35c mit kleinem Durchmesser. Der Bereich 35a mit großem Durchmesser nimmt einen unteren Bereich des Federbereichs 53 der Schraubenfedereinheit 51 und einen Führungsbereich 55a des eng gewickelten Bereichs 55 der Schraubenfedereinheit 51 auf. Der Bereich 35c mit kleinem Durchmesser nimmt einen dünn gewickelten Bereich 55b der Schraubenfedereinheit 51 des Prüfstifts 40 auf. Hierbei ist die Länge des Bereichs 35c mit kleinem Durchmesser so festgelegt, dass ein Kontaktpunkt 55c des dünn gewickelten Bereichs 55b von der unteren Oberfläche 33 um ein ausreichendes Maß nach unten vorsteht. Wie bei den ersten Durchgangslöchern 25 ist der Absatzbereich 35b zwischen dem Bereich 35a mit großem Durchmesser und dem Bereich 35c mit kleinem Durchmesser angeordnet. Wie in 5C und 6A gezeigt, stößt der Absatzbereich 35b gegen den Führungsbereich 55a des eng gewickelten Bereichs 55 der Schraubenfedereinheit 51 und hält den Prüfstift 40 innerhalb des Kontaktgehäusebereichs, wenn diese als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert sind.
Als Nächstes werden Ausführungsbeispiele des Prüfstifts 40 gemäß der vorliegenden Erfindung unter Verwendung von 1A bis 12B beschrieben. 1A und 1B zeigen ein Ausführungsbeispiel des Prüfstifts 40 gemäß der vorliegenden Erfindung. Wie in 1A und 1B gezeigt, umfasst der Prüfstift 40 den Kolben 41 und die Schraubenfedereinheit 51. Weiterhin weist der Prüfstift 40 in der Vorderansicht eine Mittellinie O-O auf, wie in 1A gezeigt. In der Seitenansicht weist der Prüfstift 40 eine Mittellinie O1-O1 auf, wie in 1B gezeigt. Der Prüfstift 40 ist symmetrisch in Bezug auf die Mittellinien O-O und O1-O1 ausgebildet. Wenn er als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert ist, ist der Prüfstift 40 in dem Prüfstift-Aufnahmegehäuse untergebracht, wie in 5 und 6A gezeigt.
2A bis 2E zeigen Einzelheiten des Kolbens 41 des in 1A und 1B gezeigten Prüfstifts 40 gemäß der vorliegenden Erfindung. Wie in 2B gezeigt, umfasst der Kolben 41 den oberen Kontaktstreifen 43, den breiten Bereich 44 und den unteren Kontaktstreifen 45. Der Kolben 41 wird durch Stanzen und Biegen eines leitfähigen Metallblechs ausgebildet.
Genauer gesagt wird der Kolben 41 zuerst durch Stanzen eines Metallblechs ausgebildet, um eine Form zu erhalten, bei der ein erster Bereich 41a und ein zweiter Bereich 41b miteinander verbunden sind, wobei der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b eine Form aufweisen, die im Wesentlichen gleich ist, und ausgebildet ist, um symmetrisch in Bezug auf eine Faltlinie O'-O' zu sein, wie in der entfalteten Darstellung in 2E gezeigt. Der erste Bereich 41a umfasst einen oberen Kontaktstreifen 43a, einen breiten Bereich 44a und einen unteren Kontaktstreifen 45a, während der zweite Bereich 41b einen oberen Kontaktstreifen 43b, einen breiten Bereich 44b und einen unteren Kontaktstreifen 45b umfasst. Der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b sind über ihre breiten Bereiche 44a und 44b miteinander verbunden. Danach werden der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b entlang der Faltlinie O'-O', welche die Begrenzung der breiten Bereiche 44a und 44b ist, zusammengefaltet, um somit einen Kolben 41 zu bilden. Mit anderen Worten: Durch Zusammenfalten des ersten Bereichs 41a und des zweiten Bereichs 41b entlang der Faltlinie O'-O' überlappen der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b einander in einer Weise, um einen engen Kontakt zwischen sich herzustellen, so dass ein verbundener Kolben 41 gebildet wird. Es sei angemerkt, dass in diesem Ausführungsbeispiel kein Kontakt zwischen den Kontaktpunktbereichen 42a und 42b, die am oberen Endbereich des oberen Kontaktstreifens 43 ausbildet sind, sowie zwischen elastischen Verformungsbereichen 46a und 46b, die am unteren Endbereich des unteren Kontaktstreifens 45 ausgebildet sind, hergestellt wird, wie später beschrieben wird. In der Tat sind der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b in diesem Positionen mit einem Zwischenraum zwischen diesen angeordnet, wie in 2D gezeigt. Somit kann der Prüfstift 40 gemäß der vorliegenden Erfindung als ein solcher verstanden werden, bei dem der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b miteinander verbunden werden können, wenn zumindest die breiten Bereiche 44 in engen Kontakt miteinander gebracht werden, nachdem der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet wurden.
Um einen hochdichten Kontakt zwischen dem ersten Bereich 41a und dem zweiten Bereich 41b herzustellen, können Verbindungseinrichtungen, wie in 12A oder 12B gezeigt, verwendet werden. Die in 12A gezeigte Verbindungseinrichtung wird nun beschrieben. In dem breiten Bereich 44a des ersten Bereichs 41a wird eine Öffnung 44a1, die den breiten Bereich 44a durchdringt, im voraus ausgebildet. Auf dem breiten Bereich 44b des zweiten Bereichs 41b wird ein Vorsprung 44b1, der ausgelegt ist, um in die Öffnung 44a1 (mittels Presspassung) eingepasst zu werden, im voraus ausgebildet. Zum gleichen Zeitpunkt, wenn der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet werden, wird der Vorsprung 44b1 (mittels Presspassung) in die Öffnung 44a1 eingepasst, wodurch die breiten Bereiche 44a und 44b miteinander verbunden werden. Dadurch kommen der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b in engen Kontakt miteinander und werden miteinander verbunden. Es sei angemerkt, dass, anders als bei 12A, die Öffnung 44a1 und der Vorsprung 44b1 am zweiten Bereich 41b bzw. ersten Bereich 41a vorgesehen sein können. Weiterhin kann, wie in 12B gezeigt, der breite Bereich 44a des ersten Bereichs 41a, anstelle der Öffnung 44a1, mit einer Vertiefung 44a2 versehen sein, in die der Vorsprung 44b1 (mittels Presspassung) eingepasst ist, um die Verbindung zu erzielen. Im Falle der 12B wird der Vorsprung 44b1 des zweiten Bereichs 41b (mittels Presspassung) in die Vertiefung 44a2 des ersten Bereichs 41a eingepasst und verbindet somit den ersten Bereich 41a mit dem zweiten Bereich 41b, wenn der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet werden. In diesem Ausführungsbeispiel werden die Verbindungseinrichtungen des ersten Bereichs 41a und des zweiten Bereichs 41b an deren entsprechenden breiten Bereichen vorgesehen, wie in 12A und 12B gezeigt, aber dies ist nicht hierauf beschränkt. Die Verbindungseinrichtungen können an den oberen Kontaktstreifen oder an den unteren Kontaktstreifen vorgesehen sein. Indem ein hochdichter Kontakt zwischen dem ersten Bereich 41a und dem zweiten Bereich 41b, wie oben beschrieben, hergestellt wird, können der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b den engen Kontakt zwischen sich aufrechterhalten, auch wenn die IC-Baugruppe 90 mit dem Prüfstift 40 in Kontakt kommt. Dementsprechend ist es möglich, einen stabilen Kontakt zwischen der IC-Baugruppe 90 und dem Prüfstift 40 zu erzielen.
Zurückkommend auf 2A bis 2E umfassen die oberen Kontaktstreifen 43 des Kolbens 41 den Kontaktpunktbereich 42, mit dem der externe Kontaktpunkt 92 der IC-Baugruppe 90 an seinem oberen Endbereich in Kontakt kommt. Wie in 2D gezeigt, ist der obere Kontaktstreifen 43 gemäß diesem Ausführungsbeispiel so ausgelegt, dass die oberen Kontaktstreifen 43a und 43b des ersten Bereichs 41a und des zweiten Bereichs 41b in engen Kontakt miteinander sind, mit Ausnahme ihres Kontaktpunktbereichs 42. In diesem Ausführungsbeispiel sind die Kontaktpunktbereiche 42a und 42b, die jeweils am ersten Bereich 41a bzw. am zweiten Bereich 41b vorgesehen sind, in der Stufe der Entfaltung in 2E, im voraus dünner hergestellt, indem sie mittels eines Presswerkzeugs oder dergleichen gequetscht (flachgedrückt) werden. Somit haben die Kontaktpunktbereiche 42a und 42b keinen Kontakt miteinander, wie in 2D gezeigt, wenn der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet sind. Zusätzlich sind in diesem Ausführungsbeispiel ein Paar von Kontaktpunkten 42a1 und 42a2 und ein Paar von Kontaktpunkten 42b1 und 42b2 jeweils auf den Kontaktpunktbereichen 42a und 42b, die am ersten Bereich 41a und am zweiten Bereich 41b vorgesehen sind, ausgebildet (siehe 2E). Aus diesem Grunde ist der Kontaktpunktbereich 42 in diesem Ausführungsbeispiel so ausgebildet, dass die vielen Kontaktpunkte 42a1, 42a2, 42b1 und 42b2 verteilt in einer Ebene angeordnet sind. In diesem Ausführungsbeispiel sind die Kontaktpunkte, die am ersten Bereich 41a und am zweiten Bereich 41b vorgesehen sind, angeordnet, um sich in der Vorderansicht der 2B zu überschneiden, sind aber nicht hierauf beschränkt. Wenn die Konstruktion dies ermöglicht, können die Kontaktpunkte versetzt voneinander in der Vorderansicht angeordnet sein. Weiterhin kann die Anzahl der Kontaktpunkte, die am ersten Bereich 41a und am zweiten Bereich 41b vorgesehen sind, gleich oder unterschiedlich sein. In diesem Ausführungsbeispiel umfasst der obere Kontaktstreifen 43 Rippen 43a1 bzw. 43b1 zur Verstärkung. Die Haltbarkeit des oberen Kontaktstreifens 43, der den Kontaktpunktbereich 42 trägt, mit dem der externe Kontaktpunkt 92 der IC-Baugruppe 90 in Kontakt kommt, kann sich verringern, wenn Dicke und Breite der Prüfstifts 40 aufgrund der engeren Abstandsanordnung kleiner festgelegt werden. Jedoch kann das Vorsehen der Rippen 43a1 und 43b1 eine solche Verringerung verhindern.
Es sei angemerkt, dass der Aufbau der Kontaktpunktbereiche 42 nicht auf den oben beschriebenen Aufbau beschränkt ist. Die Kontaktpunktbereiche können so ausgebildet sein, dass sie vollständig in engem Kontakt miteinander sind, wie bei den Modifikationen, die in 3A und 3B, 4A und 4B, und 8A bis 8C gezeigt sind. Außerdem kann der Kontaktpunktbereich, wie in 9A bis 9C und 10A und 10B gezeigt, nur auf dem ersten oder zweiten Bereich ausgebildet sein. Der obere Kontaktstreifen 43 mit dem Kontaktpunktbereich 42 kann so ausgelegt sein, dass die oberen Kontaktstreifen 43a und 43b, die im ersten Bereich 41a und zweiten Bereich 41b ausgebildet sind, im voraus dünner hergestellt werden, indem sie mittels eines Presswerkzeugs oder dergleichen gequetscht (flachgedrückt) werden, um wie die in 10C gezeigte Modifikation geformt zu sein. Somit sind die oberen Kontaktstreifen 43a und 43b des ersten Bereichs 41a und des zweiten Bereichs 41b im Falle der in 10C gezeigten oberen Kontaktstreifen 43 größtenteils nicht miteinander in Kontakt. Weiterhin sind die oberen Kontaktstreifen 43a und 43b im Falle der in 10C gezeigten oberen Kontaktstreifen 43 verstärkt, indem sie in der Richtung der Breite gekrümmt sind, anstatt die Rippen 43a1 und 43b1 zur Verstärkung vorzusehen, wie im Falle dieses Ausführungsbeispiels. In jedem Fall kann die Form des Kontaktpunktbereichs 42 oder des oberen Kontaktstreifens 43 mit dem Kontaktpunktbereich 42 auf eine Form festgelegt werden, die für die Form des externen Kontaktpunktes 92 der IC-Baugruppe 90, die mit diesen in Kontakt kommt, geeignet ist.
Der breite Bereich 44 des Kolbens 41 in diesem Ausführungsbeispiel umfasst obere Absatzbereiche 44c und 44d auf seiner linken und rechten Seite. Der breite Bereich 44 verläuft deshalb in einer gestuften Weise über die oberen Absatzbereiche 44c und 44d zum oberen Kontaktstreifen 43. Wenn als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert, stoßen die linken und rechten oberen Absatzbereiche 44c und 44d des breiten Bereichs 44 gegen die Absatzbereiche 25a des ersten Durchgangslochs 25, um den Prüfstift 40 innerhalb des Kontaktaufnahmegehäuses oder des Prüfstift-Aufnahmegehäuses zu halten.
Der breite Bereich 44 des Kolbens 41 in diesem Ausführungsbeispiel umfasst außerdem untere Absatzbereiche 44e und 44f auf seiner linken und rechten Seite. Der breite Bereich 44 verläuft somit in einer gestuften Form über die unteren Absatzbereiche 44e und 44f zum unteren Kontaktstreifen 45. Wenn als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert, stoßen die unteren Absatzbereiche 44e und 44f des breiten Bereichs 44 gegen einen Lagerbereich 52 des Federbereichs 53 der Schraubenfedereinheit 51. Wenn die unteren Absatzbereiche 44e und 44f einen Kontakt mit dem Lagerbereich 52 herstellen, wird der Kolben 41 von der Schraubenfedereinheit 51 vertikal beweglich in dem Prüfstift-Aufnahmegehäuse gelagert. Wenn man dies berücksichtigt, sollte die Breite des breiten Bereichs 44 wünschenwerterweise auf eine Größe festgelegt werden, die größer als die Innendurchmesser des Bereichs 25a mit kleinem Durchmesser des ersten Durchgangslochs 25 und des Federbereichs 53, aber im Wesentlichen gleich dem Außendurchmesser des Federbereichs 53 ist.
Als Nächstes, wenn er als ein Teil des Prüfstifts 40 montiert ist, ist der untere Kontaktstreifen 45 des Kolbens 41 in diesem Ausführungsbeispiel einwärts vom Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 angeordnet, wie in 1A und 1B gezeigt. Der untere Kontaktstreifen 45 in diesem Ausführungsbeispiel umfasst gepaarte elastische Verformungsbereiche 46a und 46b (nachfolgend auch gemeinsam als „elastische Verformungsbereiche 46” bezeichnet), die am unteren Bereich davon ausgebildet sind. Die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b gelangen mit einer Innenumfangsfläche des dünn gewickelten Bereichs 55b der Schraubenfedereinheit 51 in Kontakt, wenn der Kolben 41 nach unten geschoben wird, wie in 6C gezeigt ist. Indessen ist es wünschenswert, Vorsprünge 45c und 45d auf dem unteren Kontaktstreifen 45 auszubilden, so dass die Schraubenfedereinheit 51 auf dem Kolben 41 gehalten werden kann. Solch ein Aufbau erleichtert die Handhabung des Prüfstifts 40 und erleichtert somit die Montage des IC-Trägers 10.
In diesem Ausführungsbeispiel sind die unteren Kontaktstreifen 45 so ausgelegt, dass, wenn der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet sind, um den Kolben 41 zu bilden, die unteren Kontaktstreifen 45a und 45b, die im ersten Bereich 41a und im zweiten Bereich 41b ausgebildet sind, in engen Kontakt miteinander kommen, mit Ausnahme der gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46. Mit anderen Worten: Die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b stehen nicht miteinander in Kontakt, sondern sind mit einem Spalt zwischen sich angeordnet, wie in 2C und 2D gezeigt. Somit sind die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b verformbar in Bezug aufeinander ausgebildet.
Genauer gesagt werden in diesem Ausführungsbeispiel, in der Stufe der Entfaltung in 2E, die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b, die am ersten Bereich 41a und am zweiten Bereich 41b vorgesehen sind, im voraus dünner hergestellt, indem sie mit einer Presse oder dergleichen gequetscht werden, wie im Falle der Kontaktpunktbereiche 42. Somit kommen die elastischen Kontaktbereiche 46a und 46b nicht miteinander in Kontakt, wie in 2D gezeigt, wenn der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet werden, wodurch die elastischen Kontaktbereiche 46a und 46b in Richtung aufeinander zu elastisch verformbar sind. Weiterhin liegt in diesem Ausführungsbeispiel, wie in 2E gezeigt, jeder der elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b über der entsprechenden Mittellinie O-O, ist aber unproportional auf der linken Seite der Mittellinie O-O angeordnet. Somit ist jeder der elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b nicht symmetrisch in Bezug auf die Mittellinie O-O ausgebildet. Zusätzlich sind die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b auch nicht ausgebildet, um symmetrisch zueinander in Bezug auf die Faltlinie O'-O' angeordnet zu sein. Insbesondere sind die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b gemäß diesem Ausführungsbeispiel so angeordnet, dass sie in der Vorderansicht voneinander nach links oder rechts versetzt sind, während sie in Bezug auf die Mittellinie O1-O1 in der Seitenansicht symmetrisch zueinander sind, wie in 2B bis 2D gezeigt ist. Anders ausgedrückt sind die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b in diesem Ausführungsbeispiel diagonal mit einem Spalt dazwischen angeordnet, wie in 2C gezeigt. Wenn der Kolben 41 des Prüfstifts 40 nach unten geschoben wird, wie in 6C gezeigt, dringen die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b in den dünn gewickelten Bereich 55 ein. Dadurch kommt jeder der elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b dieses Ausführungsbeispiels mit der Innenumfangsfläche des dünn gewickelten Bereichs 55b in Kontakt und verformt sich elastisch in Richtung zueinander von einem Bereich, der als gestrichelte Linie dargestellt ist, zu einem Bereich, der als durchgehende Linie dargestellt ist, wie in 7A gezeigt ist. Die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b, die durch die gestrichelten Linien in 7A dargestellt sind, sind in einem freien Zustand, in dem die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b nach innen vom Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 liegen, und keine Kraft wirkt auf diese.
In diesem Ausführungsbeispiel verformen sich die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b elastisch diagonal zueinander, wie oben beschrieben wurde. Somit ist es wünschenswert, die elastischen Verformungsbereiche 46a und 4b an ihren Bereichen, die mit der Innenumfangsfläche des dünn gewickelten Bereichs 55 in Kontakt kommen, abzuschrägen. Dies erlaubt eine problemlose diagonale Bewegung der elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b, und ermöglicht außerdem einen besseren Kontakt zwischen den elastischen Verformungsbereichen 46a und 46b und der Innenumfangsfläche des dünn gewickelten Bereichs 55b.
Es sei angemerkt, dass der Aufbau der gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b nicht auf den oben beschriebenen Aufbau beschränkt ist. Die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b können wie in 7B bis 7D gezeigt ausgebildet sein. Die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b, die in 7B gezeigt sind, sind angeordnet, um einander in der Vorwärts-Rückwärts-Richtung (d. h. in der Richtung senkrecht zur Oberfläche des Dokuments) in der Vorderansicht des Kolbens 41, wie in 2B gezeigt, zu überschneiden. Mit anderen Worten: In diesem Ausführungsbeispiel sind die elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b, die jeweils für den ersten Bereich 41a und den zweiten Bereich 41b ausgebildet sind, jeweils symmetrisch in Bezug auf die entsprechende Mittellinie O-O in der entfalteten Ansicht der 2E ausgebildet. Ein Paar von elastischen Verformungsbereichen 146a und 146b und ein Paar von elastischen Verformungsbereichen 246a und 256b, die jeweils in 7C bzw. 7D gezeigt sind, sind diejenigen, die in einer Modifikation eines Kolbens 141 in 3A und 3B bzw. in einer Modifikation des Kolbens 241 in 4A und 4B verwendet werden. Bezüglich der Paare von elastischen Verformungsbereichen 146a und 146b und 246a und 246b, siehe Abschnitt mit den Erläuterungen der 3A und 3B und 4A und 4B, die später beschrieben werden.
Auch im Hinblick auf den Aufbau der unteren Kontaktstreifen 45 mit dem elastischen Verformungsbereichen 46a und 46b können die unteren Kontaktstreifen 45a und 45b des ersten Bereichs 41a und des zweiten Bereichs 41b, welche die unteren Kontaktstreifen 45 bilden, im voraus dünner hergestellt werden, indem sie mittels einer Presse oder dergleichen gequetscht werden. In jedem Falle können die Formen des gepaarten elastischen Verformungsbereichs 46 und des unteren Kontaktstreifens 45 mit dem gepaarten elastischen Verformungsbereich 46 auf Formen festgelegt werden, die für die Form des eng gewickelten Bereichs 55, mit dem die elastischen Verformungsbereiche 46 in Kontakt kommen, geeignet sind.
Die Schraubenfedereinheit 51 gemäß diesem Ausführungsbeispiel weist einen Aufbau auf, der im Wesentlichen der gleiche wie der einer herkömmlichen Schraubenfedereinheit ist, wie z. B. die im oben genannten US-Patent 7,677,901 Gezeigte. Die Schraubenfedereinheit 51 in diesem Ausführungsbeispiel ist ein Element, das den Prüfstift 40 bildet und ausgelegt ist, den Kolben 41 darauf in einer Weise zu halten, dass der Kolben 41 vertikal beweglich ist. Die Schraubenfedereinheit 51 ist aus einem Metalldraht, wie z. B. Edelstahl oder Stahldraht, ausgebildet und besteht hauptsächlich aus dem Federbereich 53 und dem eng gewickelten Bereich 55.
Der Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 hält den Kolben 41 durch den Lagerbereich 52, der am oberen Ende davon ausgebildet ist, so dass der Kolben 41 vertikal beweglich ist. Um den Kolben 41 stabil zu halten, ist der Lagerbereich 52 des Federbereichs 53 vorzugsweise durch Wickeln des Spule mit engstem Abstand um ca. zwei Umdrehungen ausgebildet, wie in 1A und 1B gezeigt. Der Federbereich 53 kann sich wie eine komprimierte Schraubenfeder ausdehnen und zusammenziehen. Wenn er als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert ist, wie in 5 gezeigt ist, wird der Federbereich 53 in dem Prüfstift-Aufnahmegehäuse komprimiert, drängt den Kolben 41 nach oben und drängt den eng gewickelten Bereich 55 nach unten. In diesem Ausführungsbeispiel ist die Länge des Federbereichs 53 (die Länge in einem freien Zustand, wenn keine Last aufgebracht wird) so festgelegt, dass sie geringfügig länger als die Länge jedes unteren Kontaktstreifens 45 des Kolbens 41 ist.
Der eng gewickelte Bereich 55 der Schraubenfedereinheit 51 ist ein Bereich, der fortlaufend vom Federbereich 53 ausgebildet ist, der durch spiralförmiges Wickeln der Spule im engsten Abstand gebildet wird und der somit nicht als eine Feder wirkt. Der eng gewickelte Bereich 55 gemäß diesem Ausführungsbeispiel umfasst den Führungsbereich 55a, der in einer im Wesentlichen konischen Form ausgebildet ist, und den dünn gewickelten Bereich 55b, der in einer zylindrischen Form ausgebildet ist, mit einem Außendurchmesser, der kleiner als der des Federbereichs 53 ist.
Der Führungsbereich 55a umfasst einen Bereich, dessen Durchmesser sich in der konischen Form vom Durchmesser des Federbereichs 53 zum Durchmesser des dünn gewickelten Bereichs 55b verringert (nachfolgend als „konischer Durchmesserverringerungsbereich” bezeichnet). Wie oben beschrieben, stößt der konische Durchmesserverringerungsbereich des Führungsbereichs 55a gegen den Absatzbereich 35b des zweiten Durchgangslochs 35 des zweiten Basiselements 30, um die Schraubenfedereinheit 51 innerhalb des Prüfstift-Aufnahmegehäuses zu halten, und um außerdem zu verhindern, dass die Schraubenfedereinheit 51 aus dem Gehäuse herausfällt. Zusätzlich ist der dünn gewickelte Bereich 55b in dem Bereich 35c mit kleinem Durchmesser des zweiten Durchgangslochs 35 untergebracht, und ein unterer Endbereich davon ist elektrisch mit einem externen Kontaktpunkt des Verkabelungssubstrats 80 als der Kontaktpunkt 55c verbunden.
In diesem Ausführungsbeispiel umfasst der eng gewickelte Bereich 55 den Führungsbereich 55a und den dünn gewickelten Bereich 55b. Jedoch ist der Aufbau des eng gewickelten Bereichs 55 nicht hierauf beschränkt. Wie in 11A gezeigt ist, kann ein Führungsbereich 55'a, der einen eng gewickelten Bereich 55' bildet, nur aus dem konischen Durchmesserverringerungsbereich ausgebildet sein. Alternativ, wie in 11B gezeigt, kann ein eng gewickelter Bereich 55'' ausgebildet sein, der eine zylindrische Form mit dem gleichen Außendurchmesser wie derjenige des Federbereichs 53 aufweist. Mit anderen Worten: Der konische Durchmesserverringerungsbereich des Führungsbereichs 55a und der dünn gewickelte Bereich 55b können weggelassen werden. In einem solchen Fall können auf den gepaarten elastischen Verformungsbereichen 46a und 46b des Kolbens 41 Bereiche ausgebildet sein, die in Richtung zur Innenumfangsfläche des eng gewickelten Bereichs 55'' vorstehen, so dass die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b mit der Innenumfangsfläche in Kontakt kommen. Weiterhin entfällt im obigen Fall der Absatzbereich 35b des zweiten Durchgangslochs 35 des zweiten Basiselements 30. Somit wird das zweite Durchgangsloch 35 nur aus dem Bereich 35a mit großem Durchmesser gebildet.
Der Prüfstift 40 gemäß diesem Ausführungsbeispiel weist den oben beschriebenen Aufbau auf. Insbesondere werden der erste Bereich 41a und der zweite Bereich 41b zusammengefaltet und in engen Kontakt zueinander gebracht. Der Kolben 41, der somit so ausgebildet ist, dass er zwei dicht überlappende Schichten aufweist, weist eine größere Festigkeit auf, und auch die Dicke des Kolbens 41 (die Länge in der horizontalen Richtung in 2D) kann verringert werden. Dementsprechend können Breite (die Länge in der horizontalen Richtung in 2B) und Dicke des Kolbens 41 verringert werden, ohne dessen Festigkeit zu vermindern. Somit ist der Prüfstift 40 geeignet für die engere Abstandsanordnung. Da die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b des unteren Kontaktstreifens 45 des Kolbens 41 im voraus flachgedrückt wurden, ist es außerdem möglich, Zwischenräume für die elastische Verformung der gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b sicherzustellen, auch wenn der Prüfstift 40 so ausgebildet ist, dass er für die engere Abstandsanordnung geeignet ist, wie oben beschrieben. Dementsprechend können die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b sicher mit der Innenumfangsfläche des eng gewickelten Bereichs 55 (in diesem Ausführungsbeispiel die Innenumfangsfläche des dünn gewickelten Bereichs 55b des eng gewickelten Bereichs 55) in Kontakt kommen, so dass ein Kurzschluss erzeugt wird und eine Hochgeschwindigkeitsübertragung erzielt wird.
Die Montage des IC-Trägers 10 gemäß diesem Ausführungsbeispiel und ein Vorgang zum elektrischen Verbinden der IC-Baugruppe 90 mit dem Verkabelungssubstrat 80 werden nachfolgend kurz beschrieben.
In einem Zustand, in dem der Prüfstift 40 als ein Teil des IC-Trägers 10 montiert ist, ist der Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 in den Durchgangslöchern 25 und 35 angeordnet, wobei er leicht komprimiert ist, wie genau in 6A und 6B gezeigt ist.
Bei der Montage des IC-Trägers 10 wird zuerst der Prüfstift 40 eingebaut, wie in 1B und 1B gezeigt, indem der untere Kontaktstreifen 45 des Kolbens 41 in den Federbereich 53 vom Lagerbereich 52 der Schraubenfedereinheit 51 eingesetzt wird.
Nachfolgend wird der Prüfstift 40 in das Prüfstift-Aufnahmegehäuse, das von dem ersten Durchgangsloch 25 und dem zweiten Durchgangsloch 35, die in den entsprechenden ersten und zweiten Basiselementen 20 und 30 vorgesehen sind, definiert ist, eingebaut. Somit wird der IC-Träger 10, wie in 5 und 6A gezeigt, zusammengebaut.
Wie in 6A gezeigt, wird der Prüfstift 40 in dem Kontaktaufnahmegehäuse oder dem Prüfstift-Aufnahmegehäuse mit Ausnahme eines Teils davon untergebracht, in einem Zustand, in dem der Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 leicht komprimiert ist. In diesem Zustand sind die oberen Absatzbereiche 44c und 44d des breiten Bereichs 44 des Kolbens 41 mit dem Absatzbereich 25b des ersten Durchgangslochs 25 in Kontakt, und der Führungsbereich 55a der Schraubenfedereinheit 51 ist mit dem Absatzbereich 35b des Durchgangslochs 35 in Kontakt. Dementsprechend wird der Prüfstift 40 innerhalb des Prüfstift-Aufnahmegehäuses gehalten, das durch das erste Durchgangsloch 25 des ersten Basiselements 20 und das zweite Durchgangsloch 35 des zweiten Basiselements 30 definiert wird.
6B zeigt einen Zustand, in dem der IC-Träger 10 auf dem Verkabelungssubstrat 80, wie z. B. einer Prüfplatte, befestigt ist. In diesem Zustand kommt der Kontaktpunkt 55c des dünn gewickelten Bereichs 55b der Schraubenfedereinheit 51 des Prüfstifts 40 mit dem (nicht gezeigten) externen Kontaktpunkt des Verkabelungssubstrats 80 in Kontakt und wird vom Verkabelungssubstrat 80 nach oben geschoben, so dass der Federbereich 53 geringfügig weiter komprimiert wird.
Als Nächstes zeigt 6C einen Zustand, in dem die IC-Baugruppe 90 auf der Anordnungsvertiefung 21 des IC-Trägers 10, der auf dem Verkabelungssubstrat 80 befestigt ist, montiert wird. In diesem Zustand wird die auf dem Prüfstift 40 geführte IC-Baugruppe 90 von einem nicht gezeigten Drückelement von oben um ein vorbestimmtes Ausmaß nach unten in Richtung zum Prüfstift 40 geschoben. Die Kontaktpunkte 42a1, 42a2, 42b1 und 42b2 des oberen Kontaktstreifens 43 des Kolbens 41 des Prüfstifts 40 kommen mit einem unteren Bereich der Lotperle 92 als der externe Kontaktpunkt der IC-Baugruppe 90 an vier Punkten in Kontakt, um so den unteren Bereich der Lotperle 92 zu umgeben. Der Kolben 41 des Prüfstifts 40 wird um einen Abstand nach unten verschoben, der dem Ausmaß des Abwärtsschiebens der IC-Baugruppe 90 entspricht, und komprimiert den Federbereich 53 der Schraubenfedereinheit 51 des Prüfstifts 40. Die Rückstellkraft des Federbereichs 53 als ein Ergebnis der Kompression des Federbereichs 53 der Schraubenfedereinheit 51 bestimmt den Kontaktdruck zwischen den vier Kontaktpunkten 42a1, 42a2, 42b1 und 42b2 und der Lotperle 92 sowie den Kontaktdruck zwischen dem Kontaktpunkt 55c und dem externen Kontaktpunkt des Verkabelungssubstrats 80. Wie in 7A gezeigt, kommen die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 46a und 46b des unteren Kontaktstreifens 45 des Kolbens 41 in elastischen Kontakt mit der Innenumfangsfläche des dünn gewickelten Bereichs 55b der Schraubenfedereinheit 51, so dass ein kurzer elektrischer Pfad (Signalschaltung) gebildet wird. Dementsprechend wird eine Hochgeschwindigkeits-Signalübertragung zwischen dem Verkabelungssubstrat 80 und der IC-Baugruppe 90 erzielt.
Als Nächstes werden Modifikationen des Prüfstifts gemäß diesem Ausführungsbeispiel kurz unter Verwendung der 3A bis 4B und 8A bis 11B beschrieben.
Die in 3A und 3B gezeigte Modifikation ist eine Modifikation des Kolbens des Prüfstifts. Der obere Kontaktstreifen 143 des Kolbens 141 dieser Modifikation, der den Kontaktpunktbereich 142 umfasst, wird ausgebildet, indem die oberen Kontaktstreifen 143a und 143b des entsprechenden ersten und zweiten Bereichs 141a und 141b in der entfalteten Darstellung in 3B in engen Kontakt zueinander gebracht werden, um einander vollständig zu überlappen. Genauer gesagt, wenn der erste Bereich 141a und der zweite Bereich 141b entlang der Faltlinie O'-O' zusammengefaltet werden, kommen die oberen Kontaktstreifen 143a und 143b mit den Kontaktpunktbereichen 142a und 142b, die im ersten Bereich 141a und im zweiten Bereich 141b ausgebildet sind, in engen Kontakt zueinander, wodurch ein verbundener oberer Kontaktstreifen 143 gebildet wird. Es sei angemerkt, dass auf den Kontaktpunktbereichen 142a und 142b, die im ersten Bereich 141a und im zweiten Bereich 141b in dieser Modifikation ausgebildet sind, viele Kontaktpunkte ausgebildet sind, die einander überlappen, wenn der erste Bereich 141a und der zweite Bereich 141b zusammengefaltet werden. Somit werden viele Kontaktpunkte auf dem Kontaktpunktbereich 142 in dieser Modifikation ausgebildet. Zusätzlich werden in dieser Modifikation der breite Bereich 144 sowie Bereiche des unteren Kontaktstreifens 145 mit Ausnahme der gepaarten elastischen Verformungsbereiche 146a und 146b in gleicher Weise in engen Kontakt zueinander gebracht und miteinander verbunden. Es sei angemerkt, dass die anderen Bauteile des Kolbens 141 gemäß dieser Modifikation die gleichen wie die des Kolbens 41 im obigen Ausführungsbeispiel sind, und deren Beschreibung wird hier weggelassen. Diese anderen Bauteile des Kolbens 141 gemäß dieser Modifikation sind aus der Beschreibung des Kolbens 41 gemäß dem obigen Ausführungsbeispiel verständlich, indem man „100” aus den Bezugszeichen in 3A und 3B entfernt.
In dieser Modifikation werden die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 146a und 146b des unteren Kontaktstreifens 145 jeweils entweder auf der linken oder der rechten Seite der Mittellinie O-O des entsprechenden ersten Bereichs 141a oder zweiten Bereichs 141b ausgebildet. In dieser Modifikation werden die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 146a und 146b jeweils auf der linken Seite der Mittellinie O-O, wie in der entfalteten Darstellung in 3B gezeigt, ausgebildet. Wenn der erste Bereich 141a und der zweite Bereich 141b zusammengefaltet und in engen Kontakt zueinander gebracht werden, werden die elastischen Verformungsbereiche 146a und 146b, die in obiger Weise ausgebildet sind, diagonal mit einem Zwischenraum in der horizontalen Richtung in 7C angeordnet, wie durch die gestrichelten Linien in 7C gezeigt. In der Seitenansicht der 3A scheinen die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 146a und 146b in Kontakt zu sein, sind aber tatsächlich mit einem Zwischenraum in der Richtung senkrecht zur Dokumentenoberfläche in 3A angeordnet. Somit sind die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 146a und 146b in dieser Modifikation in der horizontalen und vertikalen Richtung verformbar, wie durch die durchgehenden Linien in 7C gezeigt.
Die in 4A und 4B gezeigte Modifikation ist eine weitere Modifikation des Kolbens des Prüfstifts. Der Kolben 241 in dieser Modifikation unterscheidet sich im Hinblick auf den Aufbau der gepaarten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b des unteren Kontaktstreifens 245 geringfügig von der oben beschriebenen Modifikation, die in 3A und 3B gezeigt ist. Die anderen Bauteile sind vollständig die gleichen wie die des Kolbens 141 in 3A und 3B. Somit wird nur der Aufbau der gepaarten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b beschrieben und eine Beschreibung der anderen Bauteile wird hier weggelassen. Es sei angemerkt, dass diese Bauteile, außer den gepaarten elastischen Verformungsbereichen 246a und 246b, in der in 4A und 4B gezeigten Modifikation aus der Beschreibung des Kolbens 141 in 3A und 3B oder der des Kolbens 41 gemäß dem vorgenannten Ausführungsbeispiel verständlich sind, wenn man „200” in den Bezugszeichen in 4A und 4B durch „100” ersetzt oder indem man „200” aus den Bezugszeichen entfernt.
In dieser Modifikation sind die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b des unteren Kontaktstreifens 245 jeweils auf der linken Seite der Mittellinie O-O des entsprechenden ersten Bereichs 241a oder des zweiten Bereichs 241b angeordnet, wie in der entfalteten Darstellung der 4B gezeigt. Bis zu diesem Punkt ist diese Modifikation die gleiche wie die obige Modifikation, die in 3A und 3B gezeigt ist. Jedoch sind in dieser Modifikation die in dem entsprechenden ersten Bereich 241a oder zweiten Bereich 241b ausgebildeten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b an ihren Fußbereichen in der Phase der Entfaltung in 4B in einer gestuften Weise gebogen. Dadurch sind die elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b an einer Vorderseite in der entfalteten Darstellung in 4B (an einer näheren Seite in der Richtung senkrecht zur Dokumentenoberfläche) (siehe 4A) angeordnet. Wenn der erste Bereich 241a und der zweite Bereich 241b zusammengefaltet und in engen Kontakt zueinander gebracht werden, scheinen die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b, die auf diese Weise ausgebildet sind, einander in der Seitenansicht der 4A zu überlappen. Die auf diese Weise ausgebildeten, gepaarten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b sind jedoch mit einem Spalt in der horizontalen Richtung angeordnet, wie durch die gestrichelten Linien in 7D gezeigt. Somit sind die gepaarten elastischen Verformungsbereiche 246a und 246b in dieser Modifikation in der horizontalen Richtung verformbar, wie durch die durchgehenden Linien in 7D gezeigt ist.
Als Nächstes werden die in 8A bis 10C gezeigten Modifikationen beschrieben. Jede dieser Modifikationen ist eine Modifikation des oberen Kontaktstreifens 43 mit dem Kontaktpunktbereich 42 des Kolbens 41 des Prüfstifts 40 in dem vorgenannten Ausführungsbeispiel.
Die Modifikation der oberen Kontaktstreifen, die in 8A bis 8C gezeigt ist, ist in folgender Hinsicht ähnlich zu den obigen Modifikationen, die in 3A, 3B, 4A und 4B gezeigt sind. Zum Beispiel ist ein oberer Kontaktstreifen 43' mit einem Kontaktpunktbereich 42' ausgebildet, indem die oberen Kontaktstreifen, die jeweils für den ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, wie in der entfalteten Darstellung der 3B gezeigt, in engen Kontakt zueinander gebracht werden, um die oberen Kontaktstreifen zu verbinden. In dieser Modifikation werden ein einzelner Kontaktpunktbereich 42'a1 und ein einzelner Kontaktpunktbereich 42'b1 im ersten bzw. zweiten Bereich ausgebildet. Aus diesem Grunde überlappen die Kontaktpunktbereiche 42'a1 und 42'b1 einander und bilden einen einzelnen Kontaktpunktbereich 42', wenn der erste Bereich und der zweite Bereich zusammengefaltet und in engen Kontakt zueinander gebracht werden.
Die in 9A bis 9C gezeigte Modifikation des oberen Kontaktstreifens unterscheidet sich von der in 8A bis 8C gezeigten Modifikation nur dadurch, dass in der entfalteten Darstellung ein Kontaktpunktbereich 42''a1 im ersten und zweiten Bereich des Kolbens ausgebildet ist. Somit wird in dieser Modifikation ein einzelner Kontaktpunktbereich 42'' aus dem einzelnen Kontaktpunktbereich 42''a1 gebildet. In dieser Modifikation ist der Kontaktpunktbereich 42''a1 in Bezug auf die oberen Kontaktstreifen 43'' geneigt, ist aber nicht hierauf beschränkt. Zum Beispiel kann der Kontaktpunktbereich 42'' (insbesondere 42''a2 oder 42''a3), wie in den in 10A und 10B gezeigten Modifikationen, so ausgebildet sein, dass er sich entlang der oberen Kontaktstreifen 43'' gerade nach oben erstreckt. Es sei angemerkt, dass sich die oberen Kontaktstreifen der in 10A und 10B gezeigten Modifikation voneinander nur in der Form ihrer Kontaktpunktbereiche unterscheiden.
Zuletzt ist die Modifikation des oberen Kontaktstreifens, die in 10C gezeigt ist, ein Fall, bei dem die oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b, die in der entfalteten Darstellung jeweils für den ersten und zweiten Bereich des Kolbens ausgebildet sind, obere Kontaktstreifen 43''' ohne engen Kontakt zwischen den oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b bilden, wenn der erste Bereich und der zweite Bereich zusammengefaltet werden. In dieser Modifikation wird der obere Kontaktstreifen 43''' des Kolbens ausgebildet, indem die oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b, die im ersten bzw. zweiten Bereich ausgebildet sind, im voraus dünner hergestellt werden, indem sie mittels eines Presswerkzeugs oder dergleichen bei der Phase der Entfaltung gequetscht (flachgedrückt) werden. Nachfolgend werden die zwei oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b im voraus zu einer Bogenform geformt, so dass ein horizontaler Querschnitt der oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b als im Wesentlichen kreisförmige Form erscheint, wie in der Draufsicht der 10C gezeigt, wenn die oberen Kontakt streifen 43'''a und 43'''b zusammengefaltet werden, um den oberen Kontaktstreifen 43''' des Kolbens zu bilden. Danach werden der erste Bereich und der zweite Bereich entlang der Faltlinie O'-O' zusammengefaltet, wie im Falle des vorgenannten Ausführungsbeispiels, wodurch der Kolben gebildet wird. In dieser Modifikation sind keine besonderen Kontaktpunktbereiche vorgesehen. Die oberen Enden der oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b dienen als Kontaktpunkte 42'''a4 und 42'''b4. Währenddessen ist es als eine Abwandlung dieser Modifikation möglich, das Presswerkzeug zum Formen der oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b zu einer Bogenform wegzulassen, oder Kontaktpunkte auf den oberen Enden der oberen Kontaktstreifen 43'''a und 43'''b vorzusehen. Alternativ kann einer der oberen Kontaktstreifen 43'''a oder 43'''b weggelassen werden. Dann kann der eine der oberen Kontaktstreifen 43'''a oder 43'''b, der übrig bleibt, im voraus dünner hergestellt werden, indem er flachgedrückt wird, und so, dass der obere Kontaktstreifen 43''' in einer im Wesentlichen zylindrischen Form, die die Mittellinie O-O umgibt, ausgebildet sein kann.

Claims

Prüfstift (40), umfassend einen aus einem Metallblech geformten Kolben (41) und eine aus einem Metalldraht geformte und zum Halten des Kolbens (41) ausgelegte Schraubenfedereinheit (51), wobei: in einem entfalteten Zustand, der Kolben (41) einen ersten Bereich (41a) und einen zweiten Bereich (41b) umfasst, von denen jeder einen oberen Kontaktstreifen (43), einen breiten Bereich (44) und einen unteren Kontaktstreifen (45) aufweist, und die miteinander über die breiten Bereiche (44), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, miteinander verbunden sind; dadurch gekennzeichnet, dass der Kolben (41) in einer Verbundweise ausgebildet ist, indem der erste und zweite Bereich (41a, 41b) entlang einer Begrenzung der breiten Bereiche (44), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, zusammengefaltet werden, um somit zumindest die breiten Bereiche (44), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, in engen Kontakt zueinander zu bringen; ein elastischer Verformungsbereich (46) an einem unteren Bereich jedes der unteren Kontaktstreifen (45), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, ausgebildet ist; und wenn der erste und zweite Bereich (41a, 41b) zusammengefaltet werden, um den Kolben (41) zu bilden, die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildeten unteren Kontaktstreifen (45), mit Ausnahme der elastischen Verformungsbereiche (46), in engen Kontakt zueinander gebracht werden und einen Verbundkörper bilden, während die elastischen Verformungsbereiche (46) gepaarte elastische Verformungsbereiche (46) bilden, die in Bezug aufeinander elastisch verformbar sind.
Prüfstift (40) nach Anspruch 1, wobei: ein Kontaktpunktbereich (42) mit einem Kontaktpunkt (42a1, 42a2, 42b1, 42b2) an einem oberen Bereich jedes der oberen Kontaktstreifen (43), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, ausgebildet ist; und wenn der erste und zweite Bereich (41a, 41b) zusammengefaltet werden, um den Kolben (41) zu bilden, die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildeten oberen Kontaktstreifen (43), mit Ausnahme der Kontaktpunktbereiche (42), in engen Kontakt zueinander gebracht werden und einen Verbundkörper bilden, während die Kontaktpunktbereiche (42) Kontaktpunktbereiche bilden, auf denen die Kontaktpunkte (42a1, 42a2, 42b1, 42b2) in einer Ebene verteilt sind.
Prüfstift (40) nach Anspruch 1, wobei: ein Kontaktpunktbereich (42) mit einem Kontaktpunkt (42a1, 42a2, 42b1, 42b2) an einem oberen Bereich jedes der oberen Kontaktstreifen (43), die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet sind, ausgebildet ist; und wenn der erste und zweite Bereich (41a, 41b) zusammengefaltet werden, um den Kolben (41) zu bilden, die im ersten und zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildeten oberen Kontaktstreifen (43) in engen Kontakt zueinander gebracht werden und einen Verbundkörper bilden, und die Kontaktpunktbereiche (42) einen einzelnen Kontaktpunkt (42a1, 42a2, 42b1, 42b2) bilden.
Prüfstift (40) nach Anspruch 1, wobei: ein Vorsprung (44b1) auf dem ersten oder zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet ist, und eine Öffnung (44a1) oder Vertiefung in dem anderen ersten oder zweiten Bereich (41a, 41b) ausgebildet ist, wobei die Vorsprünge (44b1) in die Öffnung (44a1) oder Vertiefung eingepasst werden, wenn der erste und zweite Bereich (41a, 41b) zusammengefaltet werden, um den Kolben (41) zu bilden.
IC-Träger (10) zum elektrischen Verbinden einer Halbleitervorrichtung als ein erstes Kontaktobjekt (90) mit einem zweiten Kontaktobjekt (80), umfassend zumindest: ein Basiselement (30) mit einer Anordnungsvertiefung (20), um die Halbleitervorrichtung aufzunehmen, und eine Vielzahl von Durchgangslöchern (25); und eine Vielzahl von Prüfstiften (40) nach Anspruch 1, die in Prüfstift-Aufnahmegehäusen gehalten werden, die jeweils durch die Vielzahl von Durchgangslöchern (25) definiert sind, wobei: die oberen Kontaktstreifen (43) der Kolben (41) der Vielzahl von Prüfstiften (40) jeweils mit externen Kontaktpunkten (92) des ersten Kontaktobjekts (90) in Kontakt kommen; und Kontaktpunkte, die auf den Schraubenfedereinheiten (51), welche die Prüfstifte darstellen, vorgesehen sind, jeweils mit externen Kontaktpunkten des zweiten Kontaktobjekts (80) in Kontakt kommen.