DE102009049848B4 - Elektrische Verbindungsvorrichtung - Google Patents

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Abstract

Elektrische Verbindungsvorrichtung zum elektrischen Verbinden eines auf einer Fläche einer Platine (14) gebildeten leitfähigen Abschnitts (22a–c) mit einem Elektrodenabschnitt (18) einer zu testenden Einrichtung (12), mit: einer elektrisch isolierenden Platte (32); einer aus elektrisch isolierendem Material hergestellten elastischen Platte (34), die auf der elektrisch isolierenden Platte angeordnet ist; einer schichtartigen leitfähigen Platte (36), die auf der elastischen Platte angeordnet ist; und wenigstens einem ersten und einem zweiten Kontakt (42a, 42b, 42c), mit jeweils einem hinteren Sondenabschnitt (58a), der sich in einer Ebene (48) mit der elektrisch isolierenden Platte erstreckt, einem Verformungsabschnitt (58b), der sich in eine Spitzenendseite des hinteren Sondenabschnitts fortsetzt und eine äußere Fläche aufweist, und einem Sondenspitzenabschnitt (58c), der sich in eine Spitzenendseite des Verformungsabschnitts fortsetzt und die elastische Platte durch ein Loch (50) und die leitfähige Platte (36) durch ein Loch (52) durchdringt und nach außen vorsteht, wobei wenigstens ein von einem ersten Kontakt (42a) durchdrungenes Loch (52) in der leitfähigen Platte (36) einen ersten Randabschnitt (52a) aufweist, der so angeordnet ist, dass der Sondenspitzenabschnitt (58c) dieses ersten Kontakts (42a) an diesen Randabschnitt (52a) der leitfähigen Platte (36) anstößt, wenn der erste Kontakt (42a) durch die zu testende Einrichtung (12) ausgelenkt wird, und wobei wenigstens ein von einem zweiten Kontakt (42b, 42c) durchdrungenes Loch (52) in der leitfähigen Platte (36) wenigstens einen zweiten Randabschnitt (52b) aufweist, der so angeordnet ist, dass der Sondenspitzenabschnitt dieses zweiten Kontakts (42b, 42c) nicht an diesen Randabschnitt (52b) der leitfähigen Platte (36) anstößt, wenn der zweite Kontakt (42b, 42c) durch die zu testende Einrichtung (12) ausgelenkt wird.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum elektrischen Verbinden eines leitfähigen Abschnitts einer Platine, zum Beispiel eine Schaltungsplatine, mit einem Elektrodenabschnitt einer zu testenden Einrichtung, zum Beispiel eine integrierte Schaltung.
  • Hintergrund
  • Einer elektrischer Test (das heißt eine elektrische Prüfung) einer integrierten Schaltung wird im Allgemeinen unter Verwendung einer Vorrichtung zum elektrischen Verbinden eines leitfähigen Abschnitts, zum Beispiel ein auf einer Fläche einer Schaltungsplatine gebildetes Schaltungsmuster, mit einem Elektrodenabschnitt, zum Beispiel eine Anschlusselektrode, eine Kontaktelektrode, eine Höckerelektrode oder eine Vorsprungelektrode der integrierten Schaltung.
  • Als eine der elektrischen Verbindungsvorrichtungen dieser Art gibt es eine, die eine Mehrzahl an J-förmigen oder L-förmigen Kontakten verwendet, die jeweils aufweisen, einen hinteren Sondenabschnitt, der sich in einer Rechts-links-Richtung erstreckt, einen Verformungsabschnitt, der sich in eine Spitzenendseite des hinteren Sondenabschnitts fortsetzt und eine äußere Fläche aufweist, die sich aufwärts verformt, und einen Sondenspitzenabschnitt, der sich in die Spitzenendseite des Verformungsabschnitts fortsetzt und sich aufwärts erstreckt ( JP 2002-280 317 A ).
  • Diese elektrische Verbindungsvorrichtung umfasst eine Führung mit einer sich aufwärts und abwärts öffnenden Öffnung, um eine zu testende Vorrichtung aufzunehmen, eine schichtartige elektrisch isolierende Platte, die in der Öffnung angeordnet ist, eine aus einem elektrisch isolierenden Material hergestellte elastische Platte, die auf der elektrisch isolierenden Platte in der Öffnung angeordnet ist, und eine schichtartige leitfähige Platte, die auf der elastischen Platte angeordnet ist.
  • Jeder Kontakt ist in der elektrisch isolierenden Platte und der elastischen Platte gestützt, so dass sein hinterer Sondenabschnitt in einem Schlitz liegen kann, der in der elektrisch isolierenden Platte bereit gestellt ist, und so dass sein Sondenspitzenabschnitt die elastische Platte durchdringen kann, um aufwärts vorzustehen. Die elektrische Verbindungsvorrichtung ist in eine Schaltungsplatine in einem Zustand aufgenommen, in dem der Verformungsabschnitt jedes Kontakts gegen einen leitfähigen Abschnitt der Schaltungsplatine gedrückt ist.
  • Eine integrierte Schaltung wird von oben in die Öffnung der Führung eingeführt und an jedem Kontakt aufgenommen, und ein Elektrodenabschnitt wird relativ an das Spitzenende des Sondenspitzenabschnitts des Kontakts gedrückt. Entsprechend verformt der Kontakt die elastische Platte elastisch und wird an den leitfähigen Abschnitt der Schaltungsplatine gedrückt, was dazu führt, dass der leitfähige Abschnitt der Schaltungsplatine und der Elektrodenabschnitt der integrierten Schaltung elektrisch verbunden sind.
  • Während eines Tests wird wenigstens ein leitfähiger Abschnitt und ein an den leitfähigen Abschnitt gedrückter Kontakt für ein sogenanntes Erden an die negative Seite (oder die positive Seite) der Energiequelle verwendet, einige andere leitfähige Abschnitte und gegen die leitfähigen Abschnitte gedrückte Kontakte werden zum sogenannten Versorgen an der positiven Seite (oder der negativen Seite) der Energiequelle verwendet und die übrigen leitfähigen Abschnitte und gegen die leitfähigen Abschnitte gedrückte Kontakte werden zum sogenannten Signalisieren für Zuführ- und Herausführsignale verwendet.
  • Im obigen Zustand werden der integrierten Schaltung Signale über einige Kontakte zum Signalisieren zugeführt, während Signale von der integrierten Schaltung über andere Kontakte zur Signalisierung herausgeführt werden, und folglich wird ein elektrischer Test der integrierten Schaltung durchgeführt.
  • Bei herkömmlichen elektrischen Verbindungsvorrichtungen ist, da der Kontakt in einem elektrischen Pfad zwischen jedem Elektrodenabschnitt der integrierten Schaltung und dem entsprechenden leitfähigen Abschnitt der Schaltungsplatine liegt, die elektrisch effektive Länge zwischen dem Elektrodenabschnitt und dem leitfähigen Abschnitt lang, und der Widerstandswert zwischen dem Elektrodenabschnitt und dem leitfähigen Abschnitt ist hoch. Wenn der Widerstandswert auf diese Weise hoch ist, kann ein Test unter Verwendung von Hochfrequenzsignalen nicht genau durchgeführt werden.
  • Es wird eine Technik vorgeschlagen, bei der der Impedanzwert des Kontakts zum Erden oder Versorgen verringert wird, um eine Impedanzanpassung für Hochfrequenzsignale herzustellen ( JP 2007-178 165 A ).
  • Bei der Technik von JP 2007-178 165 A werden eine Mehrzahl an Durchgangsltöchern und eine leitfähige Schicht in einem plattenartigen elektrisch isolierenden Block gebildet, Kontakte eines Pogo-Pin-Typ werden in den jeweiligen Durchgangslöchern angeordnet und wenigstens ein Kontakt ist ausgelegt, die leitfähige Schicht zu kontaktieren. Bei dieser Technik wird der die leitfähige Schicht kontaktierende Kontakt zum Erden (oder Versorgen) verwendet und die anderen Kontakte werden zum Versorgen (oder Erden) und Signalisieren verwendet.
  • Bei der obigen herkömmlichen Technik wird jedoch die Struktur des Kontakts selbst kompliziert, da jeder Kontakt ein Pogo-Pin-Typ ist. Außerdem ist eine Technik zum Strukturieren der leitfähigen Schichten, um die Kontakte damit in Kontakt zu bringen, kompliziert und es ist schwierig, die Kontakte zuverlässig mit der leitfähigen Schicht in Kontakt zu bringen.
  • Aus EP 980 594 B1 ist ein schwenkbarer Kontakt bekannt, der einen leitfähigen Kontakt einer ersten Schaltung mit Kontakten einer zweiten Schaltung elektrisch miteinander verbindet. Der Verschwenkbereich des schwenkbaren Kontaktes wird durch elastische Elemente begrenzt.
  • In die gleiche Richtung weist US 6,854,981 B2 mit einem S-förmigen, beweglichen Kontaktstift, der einen elektrischen Kontakt zwischen einem Chip und einer Testeinrichtung herstellt. Dieser Kontaktstift wird in seiner Beweglichkeit durch zwei elastische Vorrichtungen begrenzt.
  • Aus DE 2 248 489 A ist eine auf Dauer angelegte Steckverbindung bekannt, bei der die Kontaktflächen an beiden Seiten der integrierten Schaltung und des Sockels liegen. Durch den Anpressdruck der beiden Kontakte wird die integrierte Schaltung in ihrer Lage fixiert.
  • Kurzfassung der Erfindung
  • [Technisches Problem]
  • Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, den Impedanzwert eines Kontakts zum Erden oder Versorgen trotz seiner einfachen Struktur zu reduzieren.
  • [Lösung des Problems]
  • Eine elektrische Verbindungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung umfasst eine elektrisch isolierende Platte, eine aus einem elektrisch isolierenden Material hergestellte elastische Platte, die auf der elektrisch isolierenden Platte angeordnet ist, eine schichtartige leitfähige Platte, die auf der elastischen Platte angeordnet ist und eine Mehrzahl an Kontakten, von denen jeder aufweist, einen hinteren Sondenabschnitt, der sich in einer Rechts-links-Richtung in der elektrisch isolierenden Platte erstreckt, einen Verformungsabschnitt, der sich in die Spitzenendseite des hinteren Sondenabschnitts fortsetzt und eine äußere Fläche aufweist, die aufwärts vorsteht, und einen Sondenspitzenabschnitt, der sich in die Spitzenendseite des Verformungsabschnitts fortsetzt und die elastische Platte und die leitfähige Schicht durchdringt, um aufwärts vorzustehen.
  • Die Mehrzahl an Kontakten umfasst erste und zweite Kontakte. Die leitfähige Platte umfasst einen Lochbereich mit wenigstens einem ersten Lochabschnitt, der dem Sondenspitzenabschnitt des ersten Kontakts ermöglicht, an die leitfähige Platte anzustoßen, und eine Mehrzahl an zweiten Lochabschnitten, die den Sondenspitzenabschnitten der zweiten Kontakte nicht ermöglichen, daran anzustoßen, unabhängig davon, ob eine Übersteuerung auf die Kontakte wirkt oder nicht.
  • Die leitfähige Platte kann Zungenstücke aufweisen, die zum ersten Lochabschnitt vorstehen, so dass der Sondenspitzenabschnitt des ersten Kontakts daran anstoßen kann, wenn eine Übersteuerungskraft auf die Kontakte wirkt.
  • Die Länge des ersten Lochabschnitts in der Rechts-links-Richtung kann kürzer sein als die Länge des zweiten Lochabschnitts in der Rechts-links-Richtung.
  • Der erste und zweite Lochabschnitt können miteinander in Verbindung stehen, um gemeinsam ein Langloch zu bilden, das sich in einer Vorne-hinten-Richtung erstreckt. Stattdessen können die ersten und zweiten Lochabschnitte einen unabhängigen Schlitz umfassen, der sich in der Rechts-links-Richtung erstreckt.
  • Die elektrisch isolierende Platte kann eine Mehrzahl an sich in der Rechts-links-Richtung erstreckende Schlitze aufweisen, der hintere Sondenabschnitt kann in dem Schlitz aufgenommen sein und sein hinteres Ende kann an eine den Schlitz definierende Fläche anstoßen.
  • Die elektrische Verbindungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung kann umfassen, eine elektrisch isolierende Schicht, die auf der leitfähigen Platte angeordnet ist, und eine leitfähige Schicht, die auf der elektrisch isolierenden Schicht angeordnet ist. In diesem Fall können die Sondenspitzenabschnitte der Mehrzahl an Kontakten auch die elektrisch isolierende Schicht und die leitfähige Schicht durchdringen und aufwärts vorstehen, und die Kontakte können wenigstens einen ersten Kontakt und eine Mehrzahl an zweiten Kontakten umfassen. Weiter kann die leitfähige Schicht einen zweiten Lochbereich mit einem dritten Lochabschnitt, der dem Sondenspitzenabschnitt wenigstens eines Kontakts von den zweiten Kontakten ermöglicht, an die leitfähige Schicht anzustoßen und einen vierten Lochabschnitt aufweisen, der den Sondenspitzenabschnitten der restlichen Kontakte von den zweiten Kontakten nicht ermöglichen kann, daran anzustoßen, unabhängig davon, ob eine Übersteuerung auf die Kontakte wirkt oder nicht.
  • Die elektrische Verbindungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung kann ferner umfassen, ein Gehäuse mit einer Öffnung, die zu zwei Seiten in ihrer Dickerichtung geöffnet ist, wobei die elektrisch isolierende Platte und die elastische Platte in der Öffnung angeordnet sind. Außerdem kann das Gehäuse eine Mehrzahl an Ausschnitten aufweisen, die gebildet sind, um die auf der Platine bereitgestellten leitfähigen Abschnitte zu übersteigen und sich in der Rechts-links-Richtung erstrecken, und die leitfähige Platte kann auf der elastischen Platte des Gehäuses angeordnet sein.
  • Das Gehäuse kann ein erstes Gehäuse mit der Öffnung und ein zweites Gehäuse umfassen, das koaxial um das erste Gehäuse angeordnet ist.
  • Das erste und zweite Gehäuse kann leitfähig sein, die leitfähige Platte kann mit dem ersten Gehäuse elektrisch verbunden sein und die leitfähige Schicht kann mit dem zweiten Gehäuse elektrisch verbunden sein.
  • Die erfindungsgemäße elektrische Verbindungsvorrichtung kann ferner einen im ersten oder zweiten Gehäuse angeordneten Kondensator umfassen, wobei ein und der andere Anschluss des Kondensators mit dem ersten beziehungsweise zweiten Gehäuse elektrisch verbunden sein können.
  • Die elektrische Verbindungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung kann ferner umfassen, eine zweite elektrisch isolierende Schicht, die auf der leitfähigen Platte oder der leitfähigen Schicht angeordnet ist, und eine Führung, die auf der zweiten elektrisch isolierenden Schicht angeordnet ist und eine Öffnung zum Aufnehmen der zu testenden Einrichtung aufweist, und der Sondenspitzenabschnitt kann ferner die zweite elektrisch isolierende Schicht durchdringen, damit sein Spitzenende aufwärts vorstehen.
  • [Vorteilhafte Effekte der Erfindung]
  • Beispielsweise kann der erste mit der leitfähigen Platte verbundene Kontakt als der eine zum Erden und zum Versorgen verwendet werden, während die zweiten Kontakte als der andere zum Erden und zum Versorgen und als einer zum Signalisieren verwendet werden. Da der Sondenspitzenabschnitt des ersten Kontakts mit der leitfähigen Platte verbunden ist, wird die scheinbare elektrisch effektive Länge des ersten Kontakts (die Länge zwischen dem Elektrodenabschnitt der zu testenden Einrichtung und der leitfähigen Platte) kürzer.
  • Aus dem Obigen folgt gemäß der vorliegenden Erfindung, dass bei Verwendung J-förmiger oder L-förmiger Kontakte in Kombination mit der mit einer Mehrzahl an Lochabschnitten ausgestatteten leitfähigen Platte, bei denen der erste Lochabschnitt dem Sondenspitzenabschnitt wenigstens eines Kontakts ermöglicht, daran anzustoßen, wenn eine Übersteuerung auf die Kontakte wirkt, und bei denen die zweiten Lochabschnitte den Sondenspitzenabschnitten der anderen Kontakte nicht ermöglichen, daran anzustoßen, unabhängig davon, ob eine Steuerung auf die Kontakte wirkt oder nicht, der Impedanzwert des elektrischen Pfads zum Erden oder Versorgen trotz einer einfachen Struktur der leitfähigen Platte selbst sowie einer einfachen Struktur der Kontakte selbst reduziert wird. Was dazu führt, dass ein Test unter Verwendung von Hochfrequenzsignalen genau durchgeführt werden kann.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist eine Draufsicht, die ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen elektrischen Verbindungsvorrichtung zeigt.
  • 2 ist eine Vorderansicht der in 1 gezeigten elektrischen Verbindungsvorrichtung.
  • 3 ist eine Querschnittsansicht, die entlang der Linie 3-3 in 1 erhalten wird.
  • 4 ist eine Querschnittsansicht, die entlang der Linie 4-4 in 1 erhalten wird.
  • 5 ist eine vergrößerte Querschnittsansicht eines Hauptabschnitts der in 1 gezeigten elektrischen Verbindungsvorrichtung.
  • 6 ist eine Draufsicht, die eine Ausführungsform der Umgebung von Langlöchern einer elektrisch isolierenden Schicht zeigt.
  • 7 ist eine Draufsicht, die ein Ausführungsbeispiel der Umgebung von Langlöchern einer leitfähigen Platte zeigt.
  • 8 ist eine Draufsicht, die ein Ausführungsbeispiel der Umgebung von Löchern einer elastischen Platte zeigt.
  • 9 ist eine Draufsicht, die ein Ausführungsbeispiel der Umgebung von Schlitzen einer elektrisch isolierenden Platte zeigt.
  • 10 ist eine Draufsicht, die ein zweites Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen elektrischen Verbindungsvorrichtung zeigt.
  • 11 ist eine Querschnittsansicht, die entlang der Linie 11-11 in 10 erhalten wird.
  • 12 ist eine vergrößerte Querschnittsansicht eines Hauptabschnitts der in 10 gezeigten elektrischen Verbindungsvorrichtung.
  • 13 ist eine Draufsicht, die ein drittes Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen elektrischen Verbindungsvorrichtung zeigt.
  • 14 ist eine vergrößerte Querschnittsansicht, die entlang der Linie 14-14 in 13 erhalten wird.
  • Beschreibung von Ausführungsbeispielen
  • [Erklärung der Fachbegriffe]
  • In der vorliegenden Erfindung wird in 1 eine Rechts-links-Richtung als eine Rechts-links-Richtung (X-Richtung) bezeichnet, eine Oben-unten-Richtung wird als eine Vorne-hinten-Richtung (Y-Richtung) bezeichnet und eine Richtung senkrecht zum Zeichnungsblatt wird als eine Oben-unten-Richtung (Z-Richtung) bezeichnet. Diese Richtungen unterscheiden sich jedoch mit der Stellung, in der die zu testende Einrichtung in einer Testvorrichtung angeordnet ist.
  • Entsprechend umfasst, wie für die obigen Richtungen, eine Ebene (XY-Ebene), die Rechts-links-Richtung (X-Richtung) und die Vorne-hinten-Richtung (Y-Richtung), wird innerhalb einer Ebene einer horizontalen Ebene, einer zur horizontalen Ebene geneigte Neigungsebene und einer vertikalen Ebene, die zur horizontalen Ebene gemäß der Stellung der zu testenden Einrichtung während eines Tests durch die Testvorrichtung vertikal ist, liegend bestimmt.
  • [Erstes Ausführungsbeispiel]
  • Bezug nehmend auf 1 bis 5 wird eine elektrische Verbindungsvorrichtung 10 mit einer Platine 14 als Sockel verwendet, die für einen elektrischen Test oder eine elektrische Prüfung einer flachplattenartigen zu testenden Vorrichtung 12, wie zum Beispiel eine integrierte Schaltung, verwendet wird.
  • Die zu testende Einrichtung 12 umfasst einen plattenartigen Hauptkörper 16 und eine Mehrzahl an flachen Elektrodenabschnitten 18, die auf einer Fläche des Hauptkörpers 16 angeordnet sind. Die Elektrodenabschnitte 18 sind in den in den Figuren gezeigten Beispiel in zwei in der Rechts-links-Richtung beabstandeten Reihen angeordnet und sind in der Vorne-hinten-Richtung je Elektrodenabschnittsreihe beabstandet.
  • Die Platine 14 ist eine Schaltungsplatine, die durch Bilden eines Schaltungsmusters auf einem Plattenelement 20 gebildet ist, das aus einem elektrisch isolierenden Material durch eine Technik gedruckter Schaltungen hergestellt wird, und legt einen Teil des Leitungsmusters als eine Mehrzahl leitfähiger Abschnitte 22 frei, die individuell den Elektrodenabschnitten 18 der zu testenden Einrichtung 12 entsprechen.
  • Die leitfähigen Abschnitte 22 entsprechen den Elektrodenabschnitten 18 in einem eins-zu-eins Verhältnis. Folglich sind die leitfähigen Abschnitte 22 auch in zwei in der Rechts-links-Richtung beabstandeten Reihen angeordnet und sind in der Vorne-hinten-Richtung je Reihe leitfähiger Abschnitte beabstandet. Von der Mehrzahl leitfähiger Abschnitte 22 werden einige leitfähige Abschnitte 22 zum Erden verwendet, während andere leitfähige Abschnitte 22 zum Signalisieren und Versorgen verwendet werden.
  • In den Figuren wird ein leitfähiger Abschnitt 22 zum Erden durch Hinzufügen eines a des Alphabets zu seinem Bezugszeichen 22 gezeigt und leitfähige Abschnitte 22 zum Signalisieren beziehungsweise Versorgen werden durch Hinzufügen eines b und eines c des Alphabets zu deren Bezugszeichen 22 gezeigt.
  • Der leitfähige Abschnitt 22a zum Erden wird als Anschluss an die negative Seite (oder die positive Seite) der Gleichstromenergiequelle verwendet, der leitfähige Abschnitt 22b zum Signalisieren wird als Anschluss zum Zuführen oder zum Herausführen von Signalen verwendet und der leitfähige Abschnitt 22c zum Versorgen wird als Anschluss an die positive Seite (oder die negative Seite) der Gleichstromenergiequelle verwendet.
  • Der leitfähige Abschnitt 22a kann jedoch als Anschluss an die positive Seite (oder die negative Seite) der Gleichstromenergiequelle verwendet werden, und der leitfähige Abschnitt 22c kann als Anschluss an die negative Seite (oder die positive Seite) der Gleichstromenergiequelle (das heißt ein Anschluss zum Erden) verwendet werden.
  • Ein Sockel oder die elektrische Verbindungsvorrichtung 10 umfassen ein rahmenartiges Gehäuse 30, eine schichtartige elektrisch isolierende Platte 32, die im Gehäuse 30 angeordnet ist, eine aus einem elektrisch isolierenden Material hergestellte elastische Platte 34, die gestapelt auf der elektrisch isolierenden Platte 32 angeordnet ist, eine schichtartige leitfähige Platte 36, die gestapelt auf dem Gehäuse 30 und der elastischen Platte 34 angeordnet ist, eine elektrisch isolierende Schicht 38, die gestapelt auf der leitfähigen Platte 36 angeordnet ist, eine Führung 40, die gestapelt auf der elektrisch isolierenden Schicht 38 angeordnet ist, und eine Mehrzahl an Kontakten 42, die den Elektrodenabschnitten 18 der zu testenden Einrichtung 12 und den leitfähigen Abschnitten 22 der Platine 14 in einem eins-zu-eins Verhältnis entsprechen.
  • Das in einer rechteckigen Plattenform durch ein leitfähiges plattenartiges Element gebildete Gehäuse 30 ist in einer rechteckigen Rahmenstruktur gebildet, indem es im zentralen Bereich eine rechteckige Öffnung 44 aufweist, die sich zu beiden Seiten (obere und untere Seite) in der Dickerichtung öffnet, und hat eine Mehrzahl an Ausschnitten 46, die sich an einem Ende und am anderen Ende des unteren Endabschnitts in der Rechts-links-Richtung nach unten öffnen.
  • Jeder Ausschnitt 46 ist eine Kerbe, die sich so in der Rechts-links-Richtung erstreckt, dass die Öffnung 44 mit dem Raum außerhalb des Gehäuses 30 in Verbindung stehen kann, und ist ausgebildet, die leitfähigen Abschnitte 22b und 22c zum Signalisieren und Versorgen zu übersteigen, um das Gehäuse 30 daran zu hindern, die leitfähigen Abschnitte 22b und 22c zu kontaktieren. Entsprechend wird verhindert, dass leitfähige Abschnitte 22a, 22b und 22c einander kurzschließen.
  • Die elektrisch isolierende Platte 32 ist aus einem elektrisch isolierenden Material, wie zum Beispiel Polyimidharz hergestellt, um in einer rechteckigen Plattform mit einer vorbestimmten Dicke und etwa der gleichen Größe wie die Öffnung 44 gebildet zu werden, und ist auf der Schaltungsplatine 14 angeordnet, um in der Öffnung 44 des Gehäuses 30 positioniert zu sein.
  • Die elektrisch isolierende Platte 32 hat in einem zentralen Bereich eine Mehrzahl an Schlitzen 48, die den leitfähigen Abschnitten 22 in einem eins-zu-eins Verhältnis entsprechen, wie in 9 gezeigt. Die Mehrzahl an Schlitzen 48, die sich in der Rechts-links-Richtung über die entsprechenden leitfähigen Abschnitte 22 erstrecken, sind in zwei in der Rechts-links-Richtung beabstandeten Reihen angeordnet und sind in der Vorne-hinten-Richtung je Schlitzreihe beabstandet.
  • Die elastische Platte 34 ist aus dem Gummimaterial mit elektrisch isolierenden und federnden Eigenschaften hergestellt, das in dreidimensionaler Art und Weise wie Silikongummi verformt werden kann, ist einer rechteckigen Form mit etwa der gleichen Größe wie die elektrisch isolierende Platte 32 gebildet und ist auf der elektrisch isolierenden Platte 32 angeordnet, um in der Öffnung 44 des Gehäuses 30 positioniert zu sein.
  • Die elastische Platte 34 weist im zentralen Bereich eine Mehrzahl an Löchern 50 auf, die den Schlitzen 48 in einem eins-zu-eins Verhältnis entsprechen, wie in 8 gezeigt. Jedes Loch 50 befindet sich an einer Stelle, die einem Endabschnitt des entsprechenden Schlitzes 48 entspricht und ist ein Durchgangsloch, das durch die elastische Platte 34 in der Dickerichtung hindurchführt. Diese Löcher 50 sind in zwei in der Rechts-links-Richtung beabstandeten Reihen angeordnet und sind in der Vorne-hinten-Richtung je Lochreihe beabstandet.
  • Die leitfähige Platte 36 ist aus einem schichtartigen Plattenelement mit leitfähigen und federnden Eigenschaften, zum Beispiel Beryllium hergestellt, ist in einer rechteckigen Form mit etwa der gleichen Größe wie das Gehäuse 30 gebildet und ist auf dem Gehäuse 30 und der elastischen Platte 34 angeordnet.
  • Die leitfähige Platte 36 weist ein Paar von Langlöchern 52 auf, die in der Rechts-links-Richtung beabstandet sind, wie in 7 gezeigt. Jedes Langloch 52 entspricht allen Löchern 50 in einer (oder der anderen) Lochreihe und erstreckt sich in der Vorne-hinten-Richtung über die entsprechenden Löcher 50, so dass die entsprechenden Löcher 50 aufwärts frei liegen.
  • An den gegenseitig nahen Seiten beider Langlöcher 52 befindliche Abschnitte sind in ungleichen Formen gebildet, so dass sich die Abstände von den anderen Seiten (Längen in der Rechts-links-Richtung) an einer Mehrzahl von Abschnitten unterscheiden. Entsprechend werden eine Mehrzahl an ersten und zweiten Lochabschnitten 52a und 52b mit unterschiedlichen Längen in der Rechts-links-Richtung und in der Vorne-hinten-Richtung in Verbindung stehend gebildet.
  • Jeder erste Lochabschnitt 52a entspricht dem leitfähigen Abschnitt 22a und liegt über dem entsprechenden leitfähigen Abschnitt 22a und dem Loch 50. Der zweite Lochabschnitt 52b entspricht der Mehrzahl leitfähiger Abschnitte 22b oder 22c und liegt über den entsprechenden leitfähigen Abschnitten 22b oder 22c und deren Löchern 50.
  • Die Länge des ersten Lochabschnitts 52a in der Rechts-links-Richtung (Abstand von einem Eckabschnitt zum anderen Eckabschnitt des Langlochs 52) ist kürzer als die Länge des zweiten Lochabschnitts 52b in der Rechts-links-Richtung. In dem in den Figuren gezeigten Beispiel ist die Länge des ersten Lochabschnitts 52a in der Rechts-links-Richtung um ein zum Langloch 52 vorstehendes Zungenstück 51 kürzer hergestellt als die des zweiten Lochabschnitts 52b.
  • Die elektrisch isolierende Schicht 38 ist aus einem elektrisch isolierenden Material, wie zum Beispiel Polyimidharz hergestellt, ist in einer rechteckigen Dünnplattenform mit etwa der gleichen Größe wie die leitfähige Platte 36 hergestellt und ist auf der leitfähigen Platte 36 angeordnet.
  • Die elektrisch isolierende Schicht 38 weist ein Paar rechteckiger Langlöcher 54 auf, die in der Rechts-links-Richtung beabstandet sind, wie in 6 gezeigt. Jedes Langloch 54 entspricht dem Langloch 52 und erstreckt sich in der Vorne-hinten-Richtung so über das entsprechende Langloch 52, dass es das entsprechende Langloch 52 überlappt.
  • Die Position jedes Langlochs 54 an einer Endseite (Basisendseite) in der Rechts-links-Richtung entspricht der des Langlochs 52. Die Position jedes Langlochs 54 an der anderen Endseite in der Rechts-links-Richtung liegt jedoch weiter auf einer Endseite als die des Langlochs 52, so dass die Länge jedes Langlochs 54 in der Rechts-links-Richtung länger sein kann als die des ersten Lochabschnitts 52a und kürzer sein kann als die des zweiten Lochabschnitts 52b.
  • Die Führung 40 ist aus einem elektrisch isolierenden Material, zum Beispiel synthetisches Harz hergestellt, ist in einer rechteckigen Plattenform mit in etwa der gleichen Größe wie die elektrisch isolierende Schicht 38 hergestellt und ist auf der elektrisch isolierenden Schicht 38 angeordnet. Die Führung 40 weist eine Öffnung 56 zum Aufnehmen der zu testenden Einrichtung 12 auf.
  • Die Öffnung 56 hat einen Regulierungsabschnitt, der von einer viereckzylindrischen Fläche gebildet wird, um die Position der zu testenden Einrichtung 12 gegenüber der Verbindungsvorrichtung 10 zu regulieren, und einen an der oberen Seite des Regulierungsabschnitts liegenden geneigten Abschnitt, der von einer viereckigen Pyramidenstumpffläche gebildet wird, um die zu testenden Einrichtung zu den Kontakten 44 zu führen.
  • Die Mehrzahl an Kontakten 42 entspricht den Schlitzen 48 in einem eins-zu-eins Verhältnis und gehört zu einem von einem Paar an Kontaktreihen auf der linken oder rechten entsprechend den Reihen der leitfähigen Abschnitte 22 und der Schlitze 48.
  • Jeder Kontakt 42 hat einen hinteren Sondenabschnitt 58a mit einer gekrümmten und leicht schräg aufwärts verformten und sich in der Rechts-links-Richtung in der elektrisch isolierten Platte 32 erstreckenden äußeren Fläche, einen Verformungsabschnitt 58b, der sich in die Spitzenendseite des hinteren Sondenabschnitts 58a fortsetzt und eine gekrümmte und leicht schräg aufwärts verformte äußere Fläche aufweist, und einen Sondenspitzenabschnitt 58c, der sich in die Spitzenendseite des Verformungsabschnitts 58b fortsetzt und die elastische Platte 34, die leitfähige Platte 36 und die elektrisch isolierende Schicht 38 durchdringt, um sich aufwärts zu erstrecken und in die Öffnung 56 vorzustehen, wie in 5 gezeigt.
  • Die Kontakte 42 sind in zwei Kontaktreihen klassifiziert, die in der Rechts-links-Richtung beabstandet sind, und entsprechend den leitfähigen Abschnitten 22a, 22b oder 22c in einem eins-zu-eins Verhältnis. Folglich werden die Kontakte 42 in drei Gruppen klassifiziert, bestehend aus einer Kontaktgruppe von Kontakten 42a zum Erden, einer Kontaktgruppe an Kontakten 42b zum Signalisieren und einer Kontaktgruppe der Kontakte 42c zum Versorgen, und sind in der Vorne-hinten-Richtung je Kontaktgruppe beabstandet.
  • Der Kontakt 42a ist so angeordnet, dass sein Sondenspitzenabschnitt 58c dem ersten Lochabschnitt 52a (Zungenstück 51) gegenüberliegen kann und die Kontakte 42b und 42c sind so angeordnet, dass deren Sondenspitzenabschnitte 58c den Abschnitten gegenüberliegen können, die die zweiten Lochabschnitte 52 definieren.
  • Der hintere Sondenabschnitt 58a jedes Kontakts 42 ist in dem entsprechenden Schlitz 48 in einem Zustand aufgenommen, in dem er sich zu der Seite der gegenüberliegenden Kontaktgruppe erstreckt und das hintere Ende stößt an die Innenfläche an, die sich an der hinteren Endseite von den Flächen befindet, die die entsprechenden Schlitze 48 definieren.
  • Jeder Kontakt 42 ist im Gehäuse 30 durch die elektrisch isolierende Platte 32, die elastische Platte 34 oder dergleichen usw. in einem Zustand angeordnet, in dem der Sondenspitzenabschnitt 58c zur Öffnung 56 über die Löcher 50, 52 und 54 vorsteht, und in dem die äußere Fläche des Sondenspitzenabschnitts 58a gekrümmt und schräg aufwärts verformt an den leitfähigen Abschnitt 22 anstößt. Das obere Ende des Sondenspitzenabschnitts 58c jedes Kontakts 42 wirkt als eine mit dem Elektrodenabschnitt 18 der zu testenden Einrichtung 12 kontaktierte Sondenspitze.
  • Jeder Kontakt 42 ist im Gehäuse 30 in einer stabilen Weise in dem Gehäuse 30 gehalten, da der hintere Sondenabschnitt 58a in den entsprechenden Schlitzen 48 in einem Zustand von Presspassung aufgenommen ist (das heißt in einem Zustand, in dem der hintere Sondenabschnitt 58a durch die den Schlitz 48 definierenden Abschnitte geklemmt ist, und der Sondenspitzenabschnitt 58c weitet das Loch 50 auf und durchdringt die Löcher 50 und 54. Aber selbst in einem solchen Zustand kontaktiert der Sondenspitzenabschnitt 58c jedes Kontakts 52 nicht die leitfähige Platte 36.
  • Das Gehäuse 30, die elektrisch isolierende Platte 32, die elastische Platte 34, die leitfähige Platte 36, die elektrisch isolierende Schicht 38 und die Führung 40 sind gegenseitig und gegen die Platine 14 durch eine Mehrzahl an Positionsstiften 60 (siehe 1) positioniert, die diese durchdringen und die Platine 14 erreichen, und sind in der Platine 14 durch eine Mehrzahl an Schraubenelementen 62 (siehe 1) aufgenommen, die diese durchdringen, und sind in die Platine 14 in einem Zustand geschraubt, in dem sie wie oben gestapelt sind und in dem die Kontakte 42 so gehalten werden wie oben.
  • Die leitfähige Platte 36 ist mit dem Gehäuse 30 und den leitfähigen Abschnitten 22a zum Erden elektrisch verbunden und auf Massepotential gehalten. Die Führung 40 wird auch auf Massepotential gehalten. Die sich auf der obersten Schicht befindende elektrisch isolierende Schicht 38 verhindert nicht nur, dass die Führung 40 die leitfähige Platte 36 kontaktiert und mit der leitfähigen Platte 36 elektrisch verbunden ist, sondern auch, dass die in der Öffnung 56 aufgenommene zu testende Einrichtung 12 die leitfähige Platte 36 kontaktiert und mit der leitfähigen Platte 36 elektrisch verbunden ist. Während eines Tests wird die zu testende Einrichtung 12 in der Öffnung 56 der Führung 40 von oben in einem Zustand angeordnet, in dem ihre Elektrodenabschnitte 18 abwärts weisen. Entsprechend werden die Elektrodenabschnitte 18 der zu testenden Einrichtung 12 an den Sondenspitzen der Kontakte 42 aufgenommen. Während dessen können, da die zu testende Einrichtung 12 von dem geneigten Abschnitt der Öffnung 56 der Führung geführt wird und den Regulierungsabschnitt der Öffnung 56 erreicht, die Elektrodenabschnitte 18 der zu testenden Einrichtung 12 mit den Sondenspitzen der Kontakte 42 leicht und zuverlässig in Kontakt gebracht werden.
  • Im obigen Zustand nähern sich die elektrische Verbindungsvorrichtung 10 und die zu testende Einrichtung 12 relativ und die Sondenspitzen der Kontakte 42 und die Elektrodenabschnitte 18 der zu testenden Einrichtung 12 werden gegeneinander gedrückt. Infolge dessen wird jeder Kontakt 42 drehend bewegt oder drehend verschoben, während er durch die Elektrodenabschnitte 18 der zur testenden Einrichtung 12 und der leitfähigen Abschnitte 22 der Platine 14 gedrückt ist.
  • Bei der vorgenannten drehenden Verschiebung des Kontakts 42 wird, in einem Zustand, in dem sein Zurückgehen verhindert wird, da das hintere Ende des hinteren Sondenabschnitts 58a an die den Schlitz der elektrisch isolierenden Platte 32 definierenden innere Fläche anstößt, jeder Kontakt 42 durch eine auf ihn wirkende Übersteuerung vom Zustand, der mit der gestrichelten Linie gezeigt ist, zum Zustand, der mit der durchgehenden Linie in 5 gezeigt ist, winklig drehend verschoben. Entsprechend kontaktiert jeder Kontakt 42 zuverlässig den leitfähigen Abschnitt 22 der Platine 14 und den Elektrodenabschnitt 18 der zu testenden Einrichtung 12.
  • Auch wird, wenn die Sondenspitze des Kontakts 42 und der Elektrodenabschnitt 18 der zu testenden Einrichtung 12 gegeneinander gedrückt sind, der Kontakt 42 verschoben, während er die elastische Platte 34 elastisch verformt. Folglich wird der Kontaktdruck des leitfähigen Abschnitts 22 auf die Platine 14 und den Elektrodenabschnitt 18 der zu testenden Einrichtung 12 mit dem Kontakt 42 erhöht, und der Kontakt 42 kontaktiert den leitfähigen Abschnitt 22 der Platine 14 und den Elektrodenabschnitt 18 der zu testenden Einrichtung 12 zuverlässige.
  • Während die Sondenspitzen der Kontakte 42 gegen die Elektrodenabschnitt 18 der zu testenden Einrichtung 12 gedrückt sind, werden die auf die Kontakte 42 wirkenden Kräfte dadurch ausgeglichen, dass die auf die Kontakte 42 wirkenden Kräfte auf beide Kontaktreihen in entgegen gesetzten Richtungen zueinander wirken, da die Erstreckungsrichtungen der Kontakte 42 bei beiden Kontaktreihen entgegen gesetzt sind.
  • Wenn der Sondenspitzenabschnitt 58c jedes Kontakts 42 in der elektrischen Verbindungsvorrichtung 10 wie oben beschrieben aufgenommen ist, durchdringt er die Löcher 50, 52 und 54, kontaktiert jedoch nicht die leitfähige Platte 36.
  • In Bezug auf die Kontakte 42a wird jedoch, wenn eine Übersteuerung auf die Kontakte 42 wirkt, der Abstand von dem Sondenspitzenabschnitt 58c zu einem Endabschnitt des ersten Lochabschnitts 52a in der drehenden Verschiebungsrichtung (Rechts-links-Richtung) um das Zungenstück 51 kürzer als der Abstand des Sondenspitzenabschnitts 58c des Kontakts 42b zu dem des zweiten Lochabschnitts 52b in der gleichen Richtung.
  • Folglich stößt der Kontakt 42a an das den ersten Lochabschnitt 52a bildenden Zungenstück 51 an und verformt elastisch das Zungenstück 51 abwärts, wie mit der durchgehenden Linie in 5 gezeigt. Dadurch wird der Kontakt 42a mit der leitfähigen Platte 36 elektrisch verbunden.
  • In Bezug auf die Kontakte 42b oder 42c wird andererseits der Abstand von dem Sondenspitzenabschnitt 58c der Kontakte 42b oder 42c zu einem Endabschnitt des zweiten Lochabschnitts 52b in der gleichen Richtung länger als der Abstand vom Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42a zu dem es ersten Lochabschnitts 42a in der gleichen Richtung. Das heißt, ein dem Zungenstück 51 entsprechendes Zungenstück ist nicht an der leitfähigen Platte 36 vorgesehen.
  • Folglich kann der Kontakt 42b oder 42c nicht an den Eckabschnitt anstoßen, der den zweiten Lochabschnitt 52b definiert, wie mit der durchgehenden Linie in 5 gezeigt, selbst wenn eine Übersteuerung auf ihn wirkt. Infolge dessen ist der Kontakt 42b oder 42c mit der leitfähigen Platte 36 nicht elektrisch verbunden.
  • Wenn eine Übersteuerung auf die Kontakte 42 wie oben wirkt, werden der zu testenden Einrichtung Energieversorgungsspannungen und elektrische Signale für einen Test über vorbestimmte Kontakte 42 zugeführt, und elektrische Signale von der zu testenden Einrichtung 12 werden zu einem Tester über andere vorbestimmte Kontakte 42 herausgeführt. Der Tester testet unter Verwendung der herausgeführten Signale, ob die zu testende Einrichtung 12 gut ist oder nicht.
  • Bei der elektrischen Verbindungsvorrichtung 10 wird ein Anlegen des Massepotentials an die zu testende Einrichtung 12 über den Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42a von der leitfähigen Platte 36 durch den leitfähigen Abschnitt 22a der Platine 14 und das leitfähige Gehäuse 30 durchgeführt.
  • Demgegenüber wird eine Übertragung anderer elektrischer Signale, zum Beispiel Signale für einen Test, ein anderes Energieversorgungspotential oder dergleichen zu und von der zu testenden Einrichtung 12 über den leitfähigen Abschnitt 22b oder 22c der Platine 14 und den Verformungsabschnitt 58b und den Sondenspitzenabschnitt 58c der Kontakte 42b oder 42c durchgeführt. Entsprechend wird die effektive Länge des elektrischen Pfades zum Erden kürzer als die für in dem Kontakt 42b oder 42c fließenden Signale.
  • Wie oben beschrieben, gemäß der elektrischen Verbindungsvorrichtung 10, stoßen die Sondenspitzenabschnitte 58c der Kontakte 42a an die leitfähige Platte 36 an, wenn eine Übersteuerung auf die Kontakte 42 wirkt, während die Sondenspitzenabschnitte 58c der anderen Kontakte 42b und 42c nicht an die leitfähige Platte 36 anstoßen. Dies reduziert den Impedanzwert des elektrischen Pfads zum Erden trotz einer einfachen Struktur der leitfähigen Platte 36 selbst, in Kombination mit der Verwendung von J-förmigen oder L-förmigen Kontakten, was dazu führt, dass ein Test unter Verwendung von Hochfrequenzsignalen genau durchgeführt werden kann.
  • [Zweites Ausführungsbeispiel]
  • In Bezug auf 10 bis 12 umfasst eine elektrische Verbindungsvorrichtung 70 das Gehäuse 30, das aus einem ersten Gehäuse 30a mit einer Öffnung 44 und einem rechteckigen zweiten Gehäuse 30b besteht, das koaxial angeordnet ist, um von dem ersten Gehäuse 30a umlaufend beabstandet zu sein, und umfasst auch eine leitfähige Schicht 72, die gestapelt auf der elektrisch isolierenden Schicht 38 angeordnet ist, und eine elektrisch isolierende Schicht 34, die gestapelt auf der leitfähigen Schicht 72 angeordnet ist.
  • Das erste und zweite Gehäuse 30a und 30b ist durch einen Raum zwischen beiden Gehäusen 30a und 30b elektrisch isolierend. Es kann jedoch ein elektrisch isolierendes Material in dem vorgenannten Raum angeordnet sein, um das erste und zweite Gehäuse 30a und 30b zu isolieren.
  • Das erste und zweite Gehäuse 30a und 30b ist aus einem leitfähigen Material gebildet, um eine rechteckige Form mit etwa der gleichen Größe wie die der leitfähigen Platte 36 beziehungsweise der leitfähigen Schicht 72 zu bilden. Die Höhe des ersten Gehäuses 30a ist um die Dicke der leitfähigen Platte 36 und der elektrisch isolierenden Schicht 38 geringer als die Höhe des zweiten Gehäuses 30b.
  • Das erste und zweite Gehäuse 30a und 30b sind mit der leitfähigen Platte 36 beziehungsweise der leitfähigen Schicht 72 elektrisch verbunden. Deswegen verbindet das erste Gehäuse 30a die leitfähige Platte 36 mit den leitfähigen Abschnitten 22a zum Erden, und das zweite Gehäuse 30b verbindet die leitfähige Schicht 72 mit den leitfähigen Abschnitten 22c zum Versorgen. Das zweite Gehäuse 30b kontaktiert jedoch nicht die leitfähige Platte 36.
  • Die leitfähige Schicht 72 und die elektrisch isolierende Schicht 74 weisen ein Paar an Löchern 76 und ein Paar an Langlöchern 78 auf, die den Löchern 52 der leitfähigen Platte 36 beziehungsweise den Langlöchern 54 der elektrisch isolierenden Schicht 38 gegenüberliegt, und sind gestapelt auf der elektrisch isolierenden Schicht 38 und der leitfähigen Schicht 72 angeordnet.
  • Die Langlöcher 76 und die leitfähige Schicht 72 sind in der Rechts-links-Richtung beabstandet und erstrecken sich über die Langlöcher 54 in der Vorne-hinten-Richtung, um über den Langlöchern 54 der elektrisch isolierenden Schicht 38 in der gleichen Weise wie die Langlöcher 52 der leitfähigen Platte 36 zu liegen. Demgegenüber sind die Langlöcher 78 der elektrisch isolierenden Schicht 34 in der Rechts-links-Richtung beabstandet und erstrecken sich über die Langlöcher 52 in der Vorne-hinten-Richtung, um über den Langlöchern 76 der leitfähigen Schicht 72 in der gleichen Weise wie die Langlöcher 54 der elektrisch isolierenden Schicht 38 zu liegen.
  • Abschnitte, die an den gegenseitigen nahen Seiten beider der Langlöcher 76 der leitfähigen Schicht 72 liegen, sind durch ein Zungenstück 80 ungleich geformt, das in die Langlöcher 76 so vorsteht, dass sich die Abstände von den anderen Seiten (Längen in der Rechts-links-Richtung) an einer Mehrzahl an Lochabschnitten unterscheiden. Entsprechend sind eine Mehrzahl an dritten und vierten Lochabschnitten 76a und 76b (siehe 10) mit unterschiedlichen Längen in der Rechts-links-Richtung und in der Vorne-hinten-Richtung in Verbindung stehend gebildet.
  • Jeder dritte Lochabschnitt 76a ist an einer Stelle gebildet, die dem Kontakt 42c zum Versorgen entspricht. Folglich liegt der Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42c zum Versorgen dem Zungenstück 80 gegenüber. Die Länge des dritten Lochabschnitts 76a ist in der Recht-links-Richtung um das Zungenstück 80 kürzer gemacht als die Länge des vierten Lochabschnitts 76b in der Rechts-links-Richtung.
  • Der vierte Lochabschnitt 76b ist an einer Stelle gebildet, die dem Kontakt 42a zum Erden oder dem Kontakt 42b zum Signalisieren entspricht.
  • Jedes Langloch 78 der elektrisch isolierenden Schicht 74 ist in einer rechteckigen Form gebildet, die sich in der Vorne-hinten-Richtung längs erstreckt. Die Position jedes Langlochs 78 an einer Endseite (Basisendseite) in der Links-rechts-Richtung entspricht denen der Langlöcher 52, 54 und 76.
  • Die Position jedes Langlochs 78 an der anderen Endseite in der Rechts-links-Richtung liegt jedoch weiter auf einer Endseite als die Position des Langlochs 76 an der anderen Endseite in der Rechts-links-Richtung, so dass die Länge jedes Langlochs 76 in der Rechts-links-Richtung länger sein kann als die Länge des dritten Lochabschnitts 76a in der Rechts-links-Richtung und kürzer sein kann als die Länge des vierten Lochabschnitts 76b in der Rechts-links-Richtung.
  • In dem in den Figuren gezeigten Beispiel hat die elektrisch isolierende Schicht 38 Zungenstücke 82, die den Zungenstücken 80 der leitfähigen Schicht 72 gleichen. Jedes Zungenstück 82 ist an der gleichen Stelle wie das Zungenstück 80 in einer Draufsicht gesehen positioniert.
  • Das erste und zweite Gehäuse 30a und 30b, die elektrisch isolierende Schicht 74, die leitfähige Schicht 72, die elektrisch isolierende Schicht 38 und die leitfähige Platte 36 sind gegeneinander durch eine Mehrzahl an Positionierungsstiften 84 (siehe 10) positioniert, die die elektrisch isolierende Schicht 74, die leitfähige Schicht 72, die elektrisch isolierende Schicht 38 und die leitfähige Platte 36 durchdringen und das erste Gehäuse 30a erreichen, und durch eine Mehrzahl an Positionierungsstiften 86 (siehe 10), die die elektrisch isolierende Schicht 74 und die leitfähige Schicht 72 durchdringen und das zweite Gehäuse 30b erreichen.
  • Die auf der obersten Schicht liegende elektrisch isolierende Schicht 74 verhindert nicht nur, dass die Führung 40 die leitfähige Schicht 72 kontaktiert und elektrisch mit der leitfähigen Schicht 72 verbunden ist, sondern verhindert auch, dass die in der Öffnung 56 aufgenommene zu testende Einrichtung 12 die leitfähige Schicht 72 kontaktiert und elektrisch mit der leitfähigen Schicht 72 verbunden ist.
  • Bei der elektrischen Verbindungsvorrichtung 70 wirken, wenn eine Übersteuerung auf die Kontakte 42 wirkt, die Kontakte 42a und 42b in gleicher Weise wie im Fall der elektrischen Verbindungsvorrichtung 10. Demgegenüber ist der Abstand von dem Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42c zum einen Endabschnitt des dritten Lochabschnitts 76a in der drehenden Verschiebungsrichtung um das Zungenstück 80 kürzer als der Abstand vom Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42b zu dem des vierten Lochabschnitts 76b in der gleichen Richtung.
  • Folglich stößt der Kontakt 42c an das Zungenstück 80 an, das den dritten Lochabschnitt 76a definiert, und verformt elastisch das Zungenstück 80, wie mit der durchgehenden Linie in 12 gezeigt. Dadurch wird der Kontakt 42c mit der leitfähigen Schicht 72 elektrisch verbunden. Während dessen verformt sich das Zungenstück 82 der elektrisch isolierenden Schicht 38 zusammen mit dem Zungenstück 80 elastisch abwärts und verhindert, dass der Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42c die leitfähige Platte 36 kontaktiert.
  • Demgegenüber kontaktiert wie der Sondenspitzenabschnitt 58c des Kontakts 42a zum Erden oder der Kontakt 42b zum Signalisieren die leitfähige Schicht 72 nicht, da er am vierten Lochabschnitt 76b liegt.
  • Bei der elektrischen Verbindungsvorrichtung 70 liegt das Massepotential über die leitfähigen Abschnitte 22a an den Kontakten 42a zum Erden, dem ersten Gehäuse 30a und der leitfähigen Platte 36 an. Auch wird das Zuführen und Herausführen von Signalen zu und von der zu testenden Einrichtung 12 über die Kontakte 42b, die leitfähigen Abschnitte 22b oder dergleichen durchgeführt.
  • Demgegenüber wird ein Anlegen des positiven (oder negativen) Energieversorgungspotentials an die zu testende Einrichtung 12 von den leitfähigen Abschnitten 22c zum Versorgen, dem zweiten Gehäuse 30b und der leitfähigen Schicht 72 über die Sondenspitzenabschnitte 58c des Kontakts 42c durchgeführt.
  • Aus dem Obigen folgt gemäß der elektrischen Verbindungsvorrichtung 70, dass die effektive Länge des elektrischen Pfads für das Energieversorgungspotential noch kürzer ist als der für in den Kontakten 42b fließende Signale im Vergleich zum Fall der elektrischen Verbindungsvorrichtung 10. Demzufolge kann ein Test unter Verwendung von Hochfrequenzsignalen genauer durchgeführt werden.
  • Wie oben beschrieben, gemäß der elektrischen Verbindungsvorrichtung 70, stoßen die Sondenspitzenabschnitte 58c der Kontakte 42a und 42c zum Erden und Versorgen an die leitfähige Platte 36 beziehungsweise die leitfähige Schicht 72 an, wenn eine Übersteuerung auf die Kontakte 42 wirkt. Dies reduziert den Impedanzwert des elektrischen Pfads zum Erden und Versorgen. Die Sondenspitzenabschnitte 58c der Kontakte 42b zum Signalisieren stoßen nicht an die leitfähige Platte 36 oder die leitfähige Schicht 72.
  • [Drittes Ausführungsbeispiel]
  • In Bezug auf 13 und 14 umfasst eine elektrische Verbindungsvorrichtung 90 einen Kondensator 92, der in einer im ersten und zweiten Gehäuse 30a und 30b bereitgestellten Ausnehmung 94 angeordnet ist. Der Kondensator 92 legt das Energieversorgungspotential mit seinem einen und dem anderen Anschluss an, der mit dem ersten beziehungsweise zweiten Gehäuse 30a und 30b elektrisch verbunden ist.
  • Entsprechend der elektrischen Verbindungsvorrichtung 90 kann ein Test unter Verwendung von Hochfrequenzsignalen genauer durchgeführt werden, da das positive (oder negative) Energieversorgungspotential näher an die zu testende Einrichtung 12 gelangt und die elektrisch effektive Länge kürzer wird.
  • Gewerbliche Anwendbarkeit
  • Die vorliegende Erfindung kann auf eine elektrische Verbindungsvorrichtung zur Verwendung bei einem elektrischen Test einer zu testenden Einrichtung mit einer Mehrzahl an Elektrodenabschnitten, zum Beispiel Anschlusselektroden, die parallel vom Hauptkörper vorstehen, sowie für eine zu testende Einrichtung mit der Mehrzahl an Elektrodenabschnitten 18 auf einer Fläche des Hauptkörpers 16 angewendet werden.
  • Die vorliegende Erfindung kann auf eine elektrische Verbindungsvorrichtung angewendet werden, die Kontakte verwendet, die jeweils in einer Form gebildet sind, die sich von der in dem obigen Ausführungsbeispielen unterscheidet, auf eine elektrische Verbindungsvorrichtung für einen elektrischen Test einer anderen flachplattenartigen zu testenden Einrichtung, zum Beispiel ein Flüssigkristalldisplaypanel, und auf eine elektrische Verbindungsvorrichtung, die in einem Zustand verwendet wird, bei dem die Ober- und Unterseite zu denen in dem obigen Ausführungsbeispielen umgekehrt ist.
  • Jedes Langloch 52 oder 76 kann durch die ersten und zweiten Lochabschnitte 52a und 52b oder die dritten und vierten Lochabschnitte 76a und 76b gebildet sein, die jeweils ein unabhängiger unkontinuierlicher Schlitzbereich sind, der sich in der Rechts-links-Richtung erstreckt.
  • Bezugszeichenliste
  • 10, 70, 90
    elektrische Verbindungsvorrichtungen
    12
    zu testende Einrichtung
    14
    Platine
    16
    Plattenartiger Hauptkörper der zu testenden Einrichtung
    18
    Elektrodenabschnitt der zu testenden Einrichtung
    20
    Plattenelement
    22, 22a, 22b, 22c
    leitfähige Abschnitte der Platine
    30
    Gehäuse
    30a, 30b
    erstes und zweites Gehäuse
    32
    elektrisch isolierende Platte
    34
    elastische Platte
    36
    leitfähige Platte
    38
    elektrisch isolierende Schicht
    40
    Führung
    42, 42a, 42b, 42c
    Kontakte
    44
    Öffnung des Gehäuses
    46
    Ausschnitt des Gehäuses
    48
    Schlitz der elektrisch isolierenden Platte
    50
    Loch der elastischen Platte
    51, 80, 82
    Zungenstücke
    52
    Langloch der leitfähigen Platte
    52a, 52b
    erste und zweite Lochabschnitte
    54
    Langloch der elektrisch isolierenden Schicht
    56
    Öffnung der Führung
    58a
    hinterer Sondenabschnitt des Kontakts
    58b
    Verformungsabschnitt des Kontakts
    58c
    Sondenspitzenabschnitt des Kontakts
    60
    Positionsstift
    62
    Schraubelemente
    72
    leitfähige Schicht
    74
    elektrisch isolierende Schicht
    76
    Langloch der leitfähigen Schicht
    76a, 76b
    Lochabschnitt
    78
    Langloch der elektrisch isolierenden Schicht
    84, 86
    Positionierungsstift
    92
    Kondensator
    94
    Ausnehmung für den Kondensator

Claims (11)

  1. Elektrische Verbindungsvorrichtung zum elektrischen Verbinden eines auf einer Fläche einer Platine (14) gebildeten leitfähigen Abschnitts (22a–c) mit einem Elektrodenabschnitt (18) einer zu testenden Einrichtung (12), mit: einer elektrisch isolierenden Platte (32); einer aus elektrisch isolierendem Material hergestellten elastischen Platte (34), die auf der elektrisch isolierenden Platte angeordnet ist; einer schichtartigen leitfähigen Platte (36), die auf der elastischen Platte angeordnet ist; und wenigstens einem ersten und einem zweiten Kontakt (42a, 42b, 42c), mit jeweils einem hinteren Sondenabschnitt (58a), der sich in einer Ebene (48) mit der elektrisch isolierenden Platte erstreckt, einem Verformungsabschnitt (58b), der sich in eine Spitzenendseite des hinteren Sondenabschnitts fortsetzt und eine äußere Fläche aufweist, und einem Sondenspitzenabschnitt (58c), der sich in eine Spitzenendseite des Verformungsabschnitts fortsetzt und die elastische Platte durch ein Loch (50) und die leitfähige Platte (36) durch ein Loch (52) durchdringt und nach außen vorsteht, wobei wenigstens ein von einem ersten Kontakt (42a) durchdrungenes Loch (52) in der leitfähigen Platte (36) einen ersten Randabschnitt (52a) aufweist, der so angeordnet ist, dass der Sondenspitzenabschnitt (58c) dieses ersten Kontakts (42a) an diesen Randabschnitt (52a) der leitfähigen Platte (36) anstößt, wenn der erste Kontakt (42a) durch die zu testende Einrichtung (12) ausgelenkt wird, und wobei wenigstens ein von einem zweiten Kontakt (42b, 42c) durchdrungenes Loch (52) in der leitfähigen Platte (36) wenigstens einen zweiten Randabschnitt (52b) aufweist, der so angeordnet ist, dass der Sondenspitzenabschnitt dieses zweiten Kontakts (42b, 42c) nicht an diesen Randabschnitt (52b) der leitfähigen Platte (36) anstößt, wenn der zweite Kontakt (42b, 42c) durch die zu testende Einrichtung (12) ausgelenkt wird.
  2. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Abstand des ersten Lochabschnitts (52a) von dessen gegenüberliegendem Lochabschnitt kürzer ist als der Abstand des zweiten Lochabschnitts (52b) von dessen gegenüberliegendem Lochabschnitt.
  3. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei das Loch (52) in der leitfähigen Platte (36) ein Langloch ist, das in Längsrichtung gemeinsam den ersten und den zweiten Randabschnitt (52a, 52b) umfasst.
  4. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei der erste und der zweite Randabschnitt (52a, 52b) jeweils in einem unabhängigen als Schlitz geformten Loch (52) der leitfähigen Platte (36) ausgebildet ist.
  5. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die elektrisch isolierende Platte (32) eine Mehrzahl an Schlitzen aufweist, wobei in jedem Schlitz der hintere Sondenabschnitt (58a) des ersten und des zweiten Kontakts (42a–c) aufgenommen ist, dessen hinteres Ende an einen den Schlitz definierenden Rand anstößt.
  6. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 1, ferner umfassend eine elektrisch isolierende Schicht (38), die auf der leitfähigen Platte (36) angeordnet ist; eine leitfähige Schicht (72), die auf der elektrisch isolierenden Schicht (38) angeordnet ist, und wenigstens einen dritten und einen vierten Kontakt (42a–c), die wie die ersten und zweiten Kontakte ausgebildet sind und deren Sondenspitzenabschnitte die elektrisch isolierende Schicht (38) durch jeweilige Löcher und die leitfähige Schicht (72) durch jeweilige Löcher durchdringen und nach außen vorstehen, wobei wenigstens ein von einem dritten Kontakt (42a–c) durchdrungenes Loch in der leitfähigen Schicht (72) einen dritten Randabschnitt aufweist, der so angeordnet ist, dass der Sondenspitzenabschnitt (58c) dieses dritten Kontakts (42a–c) an diesen Randabschnitt der leitfähigen Schicht (72) anstößt, wenn der dritte Kontakt (42a–c) durch die zu testende Einrichtung (12) ausgelenkt wird, und wobei wenigstens ein von einem vierten Kontakt (42b–c) durchdrungenes Loch in der leitfähigen Schicht (72) wenigstens einen vierten Randabschnitt aufweist, der so angeordnet ist, dass der Sondenspitzenabschnitt (58c) dieses vierten Kontakts (42b–c) nicht an diesen Randabschnitt der leitfähigen Schicht (72) anstößt, wenn der vierte Kontakt (42b–c) durch die zu testende Einrichtung (12) ausgelenkt wird.
  7. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 6, ferner mit einem Gehäuse (30a, b), das eine Öffnung (44) aufweist, wobei die elektrisch isolierende Platte (32) und die elastische Platte (34) in der Öffnung angeordnet sind, wobei das Gehäuse (30a, b) eine Mehrzahl an Ausschnitten (46) aufweist, die über leitfähigen Abschnitten ausgebildet sind, und die leitfähige Platte (36) an der elastischen Platte (34) und dem Gehäuse (30a, b) angeordnet ist.
  8. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 7, wobei das Gehäuse (30a, b) ein erstes Gehäuses (30a) mit der Öffnung (44) und ein zweites Gehäuse (30b) umfasst, das koaxial um das erste Gehäuse (30a) angeordnet ist.
  9. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 8, wobei das erste und zweite Gehäuse (30a, b) leitfähig sind, die leitfähige Platte (36) mit dem ersten Gehäuse (30a) elektrisch verbunden und die leitfähige Schicht (72) mit dem zweiten Gehäuse (30b) elektrisch verbunden ist.
  10. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 9, ferner einen Kondensator (92) umfassend, der im ersten oder zweiten Gehäuse (30a, b) angeordnet ist, und wobei der eine Anschluss des Kondensators (92) mit dem ersten Gehäuse (30a) und der andere Anschluss des Kondensators (92) mit dem zweiten Gehäuse (30b) elektrisch verbunden ist.
  11. Elektrische Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 6, ferner umfassend eine zweite elektrisch isolierende Schicht (74), die auf der leitfähigen Platte (36) oder der leitfähigen Schicht (72) angeordnet ist; und eine Führung (40), die auf der zweiten elektrisch isolierenden Schicht (74) angeordnet ist und eine Öffnung (56) aufweist, um die zu testende Einrichtung (12) aufzunehmen, wobei der Sondenspitzenabschnitt (58c) weiter die zweite elektrisch isolierende Schicht (74) durch ein Loch (78) durchdringt und sein Spitzenende nach außen vorsteht.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9182425B2 (en) 2012-05-21 2015-11-10 Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. Probe supporting and aligning apparatus
US9988155B2 (en) 2013-02-07 2018-06-05 United Technologies Corporation System and method for aft mount of gas turbine engine
US9341671B2 (en) * 2013-03-14 2016-05-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Testing holders for chip unit and die package
US11350525B2 (en) 2020-05-18 2022-05-31 Nuvoton Technology Corporation Method and apparatus for mounting a DUT on a test board without use of socket or solder
JP7477393B2 (ja) * 2020-08-03 2024-05-01 株式会社日本マイクロニクス 検査用接続装置
JP2024011119A (ja) * 2022-07-14 2024-01-25 株式会社日本マイクロニクス プローブ装置
JP2024015744A (ja) * 2022-07-25 2024-02-06 株式会社日本マイクロニクス プローブ装置
KR102654545B1 (ko) * 2023-12-12 2024-04-04 주식회사 프로이천 플로팅블록

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2248489A1 (de) * 1971-10-06 1973-04-12 Amp Inc Stecker zum verbinden elektrischer leitungen
US4515424A (en) * 1982-09-29 1985-05-07 Yamaichi Electric Mfg. Co., Ltd. Support structure for IC package and having removable closure
US4630875A (en) * 1984-07-02 1986-12-23 Amp Incorporated Chip carrier socket which requires low insertion force for the chip carrier
US4887969A (en) * 1987-05-22 1989-12-19 Yamaichi Electric Mfg. Co., Ltd. IC socket
DE69107336T2 (de) * 1990-05-14 1995-06-14 Texas Instruments Inc Aufnahmesockel.
EP0980594B1 (de) * 1997-05-06 2002-08-28 Gryphics, Inc. Verbinder mit multi-mode-anpassung und dessen verwendung bei einem auswechselbaren chip-modul
JP2002280317A (ja) * 2001-03-19 2002-09-27 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
DE10235802A1 (de) * 2001-08-09 2003-03-13 Yamaichi Electric Co Steckverbindung für einen integrierten Schaltkreis
US6609923B2 (en) * 2001-06-27 2003-08-26 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Semiconductor device-socket
US6854981B2 (en) * 2002-06-03 2005-02-15 Johnstech International Corporation Small pin connecters
JP2007178165A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Yokowo Co Ltd 検査ユニット

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5733136A (en) * 1993-10-27 1998-03-31 Enplas Corporation Socket assembly
JPH07159486A (ja) * 1993-12-09 1995-06-23 Kawasaki Steel Corp 集積回路試験装置
JP3577416B2 (ja) * 1997-11-25 2004-10-13 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
JP2003217777A (ja) * 2002-01-25 2003-07-31 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
US6793505B2 (en) * 2002-03-26 2004-09-21 Intel Corporation Ganged land grid array socket contacts for improved power delivery
US6811410B2 (en) * 2002-05-28 2004-11-02 Intel Corporation Integrated circuit socket with capacitors and shunts

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2248489A1 (de) * 1971-10-06 1973-04-12 Amp Inc Stecker zum verbinden elektrischer leitungen
US4515424A (en) * 1982-09-29 1985-05-07 Yamaichi Electric Mfg. Co., Ltd. Support structure for IC package and having removable closure
US4630875A (en) * 1984-07-02 1986-12-23 Amp Incorporated Chip carrier socket which requires low insertion force for the chip carrier
US4887969A (en) * 1987-05-22 1989-12-19 Yamaichi Electric Mfg. Co., Ltd. IC socket
DE69107336T2 (de) * 1990-05-14 1995-06-14 Texas Instruments Inc Aufnahmesockel.
EP0980594B1 (de) * 1997-05-06 2002-08-28 Gryphics, Inc. Verbinder mit multi-mode-anpassung und dessen verwendung bei einem auswechselbaren chip-modul
JP2002280317A (ja) * 2001-03-19 2002-09-27 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
US6609923B2 (en) * 2001-06-27 2003-08-26 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Semiconductor device-socket
DE10235802A1 (de) * 2001-08-09 2003-03-13 Yamaichi Electric Co Steckverbindung für einen integrierten Schaltkreis
US6854981B2 (en) * 2002-06-03 2005-02-15 Johnstech International Corporation Small pin connecters
JP2007178165A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Yokowo Co Ltd 検査ユニット

Also Published As

Publication number Publication date
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KR101151804B1 (ko) 2012-06-01
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TW201018006A (en) 2010-05-01
DE102009049848A1 (de) 2010-04-22
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