DE102008002403A1 - Verfahren zum Herstellen einer Mehrlagen-Beschichtung, optisches Element und optische Anordnung - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Mehrlagen-Beschichtung (17) zur Reflexion von Strahlung im weichen Röntgen- oder EUV-Wellenlängenbereich auf einem optischen Element (8, 9), das bei einer Betriebstemperatur (TOP) von 30° oder mehr, bevorzugt von 100°C oder mehr, besonders bevorzugt von 150°C oder mehr, insbesondere von 250°C oder mehr betrieben wird, umfassend die Schritte: Bestimmen eines optischen Designs für die Mehrlagen-Beschichtung (17), das eine optische Soll-Schichtdicke (nOP dOP) der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) bei der Betriebstemperatur (TOP) festlegt, und Aufbringen der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) mit einer optischen Ist-Schichtdicke (nB dB), die so gewählt wird, dass eine durch thermische Ausdehnung der Schichten (17.1, 17.2) zwischen der Beschichtungstemperatur (TB) und der Betriebstemperatur (TOP) hervorgerufene Schichtdickenänderung (nOP dOP - nB dB) kompensiert wird. Die Erfindung betrifft auch ein optisches Element (8, 9), das insbesondere nach dem oben beschriebenen Verfahren hergestellt ist, sowie eine Projektionsbelichtungsanlage mit mindestens einem solchen optischen Element (8, 9).

Description

  • Stand der Technik
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Mehrlagen-Beschichtung zur Reflexion von Strahlung im weichen Röntgen- oder EUV-Wellenlängenbereich auf einem optischen Element, sowie ein optisches Element, das bei einer Betriebstemperatur von 30° oder mehr, bevorzugt von 100°C oder mehr, besonders bevorzugt von 150°C oder mehr, insbesondere von 250°C oder mehr in einer optischen Anordnung betrieben wird. Die Erfindung betrifft auch eine optische Anordnung mit mindestens einem solchen optischen Element.
  • Optische Elemente für den weichen Röntgen- oder EUV-Wellenlängenbereich (d. h. für Wellenlängen, die typischer Weise zwischen 5 nm und 20 nm liegen) werden unter anderem in optischen Anordnungen wie Projektionsbelichtungsanlagen für die Mikrolithographie zur Herstellung von Halbleiterbauelementen eingesetzt. Da bei diesen Wellenlängen keine optischen Materialien bekannt sind, die eine ausreichende Transmission aufweisen, werden die optischen Elemente in Reflexion betrieben, wobei die maximale Reflektivität der optischen Elemente bei diesen Wellenlängen typischer Weise nicht mehr als ca. 70% beträgt, d. h. ca. ein Drittel der auf ein reflektives optisches Element auftreffenden Strahlung wird nicht reflektiert und trifft daher nicht auf die im optischen Strahlengang nachfolgenden optischen Elemente. Demzufolge sind optische Elemente, die weiter vorne im Strahlengang, d. h. näher bei der EUV-Lichtquelle, angeordnet sind, einer erheblich höheren Strahlenbelastung ausgesetzt und erwärmen sich weitaus stärker als dies für weiter hinten im Strahlengang befindliche optische Elemente der Fall ist. So kann beispielsweise die Temperatur eines Kollektorspiegels, der als erstes optisches Element auf die EUV-Lichtquelle folgt, im Betrieb der optischen Anordnung zwischen ca. 200°C und ca. 400°C oder darüber betragen. Die Temperatur der nachfolgenden optischen Elemente im Beleuchtungssystem kann bei 200°C oder mehr liegen und selbst im Projektionssystem der optischen Anordnung können noch Temperaturen von ca. 60°C und darüber auftreten.
  • Die Mehrlagen-Beschichtungen der zur Reflexion von Strahlung im EUV-Wellenlängenbereich verwendeten optischen Elemente weisen in der Regel alternierende Schichten aus Materialien mit hohem und niedrigem Brechungsindex auf, z. B. alternierende Schichten aus Molybdän und Silizium, deren Schichtdicken so aufeinander abgestimmt sind, dass die Beschichtung ihre optische Funktion erfüllen kann und insbesondere eine hohe Reflektivität gewährleistet ist. Bei der Erwärmung der Mehrlagen-Beschichtungen der optischen Elemente auf die oben genannten, hohen Temperaturen kann es jedoch zu thermischen Belastungen der Mehrlagen-Beschichtungen kommen, die sich negativ auf die optischen Eigenschaften der optischen Elemente auswirken, wie im Folgenden im Einzelnen dargestellt wird.
  • Aus der WO 2007/090364 ist bekannt, dass die üblicher Weise als Schichtmaterialien eingesetzten Substanzen Molybdän und Silizium bei hohen Temperaturen zu Bildung von Molybdänsilizid durch Interdiffusionsprozesse an ihren Grenzflächen neigen, was zu einer Verringerung der Reflektivität auf Grund einer irreversiblen Abnahme der Schichtdicke der Schichtpaare führt, die eine Verschiebung des Reflektivitätsmaximums der Mehrlagen-Beschichtung für die auftreffende Strahlung hin zu einer geringeren Wellenlänge bewirkt. In der WO 2007/090364 wird zur Behebung dieses Problems vorgeschlagen, an Stelle von Silizium ein Siliziumborid und an Stelle von Molybdän ein Molybdännitrid zu verwenden.
  • Die DE 100 11 547 C2 schlägt zur Lösung dieses Problems vor, an den Grenzflächen der Silizium- und Molybdän-Schichten eine Barriere-Schicht aus Mo2C anzubringen, um die Interdiffusion zwischen den Schichten zu verhindern und dadurch die thermische Stabilität der Mehrlagen-Beschichtung zu verbessern.
  • Aus der DE 10 2004 002 764 A1 der Anmelderin ist es bekannt, dass die Schichten einer Mehrlagen-Beschichtung bei deren Aufbringung mittels bestimmter Beschichtungsverfahren eine amorphe Struktur mit geringerer Dichte als die entsprechenden Materialien als Festkörper aufweisen. Die zunächst geringe Dichte der Schichten nimmt bei erhöhten Temperaturen irreversibel zu, so dass es zu einer Reduzierung der Schichtdicken der einzelnen Schichten und damit einhergehend einer Zunahme der Periodenlänge der Beschichtung kommt. Dies hat ebenfalls zur Folge, dass die Wellenlänge, bei der die Mehrlagen-Beschichtung ein Maximum der Reflektivität annimmt, sich verschiebt. Im Extremfall kann sich die Periodenlänge so weit ändern, dass die mit der Mehrlagen-Beschichtung belegten optischen Elemente unbrauchbar werden. In der DE 10 2004 002 764 A1 wird zur Lösung dieses Problems vorgeschlagen, beim Aufbringen der Schichten ein Übermaß vorzuhalten, sowie die irreversible Verkleinerung der Schichtdicken durch Tempern der Mehrlagen-Beschichtung vorweg zu nehmen, bevor diese in einer optischen Anordnung eingesetzt wird.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Herstellen einer Mehrlagen-Beschichtung, ein optisches Element sowie eine optische Anordnung bereitzustellen, deren optische Eigenschaften auch bei hohen Betriebstemperaturen nicht beeinträchtigt werden.
  • Gegenstand der Erfindung
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren der eingangs genannten Art, umfassend die Schritte: Bestimmen eines optischen Designs für die Mehrlagen- Beschichtung, das eine optische Soll-Schichtdicke der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung bei der Betriebstemperatur festlegt, und Aufbringen der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung mit einer optischen Ist-Schichtdicke, die so gewählt wird, dass eine durch thermische Ausdehnung der Schichten zwischen der Beschichtungstemperatur und der Betriebstemperatur hervorgerufene Schichtdickenänderung kompensiert wird.
  • Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, die optische Ist-Dicke der Schichten während der Beschichtung, die beispielsweise bei Raumtemperatur erfolgen kann, so zu wählen, dass die thermische Ausdehnung der Schichten bei der Erwärmung auf die Betriebstemperatur zur optischen Soll-Schichtdicke und damit zum gewünschten optischen Design bei Betriebstemperatur führt. Unter der optischen Dicke einer Schicht wird hierbei wie allgemein üblich das Produkt aus Brechungsindex n und physikalischer (geometrischer) Dicke d der Schicht verstanden. Neben der physikalischen Dicke der Schichten kann sich bei einer Veränderung der Temperatur ggf. auch der Brechungsindex der Schichten verändern. Es versteht sich, dass die optischen Ist-Dicken der einzelnen Schichten jeweils für sich so gewählt werden können, dass sich die optischen Soll-Dicken bei der Betriebstemperatur einstellen. Alternativ kann aber zur Vereinfachung lediglich die effektive optische Ist-Dicke der gesamten Mehrlagen-Beschichtung so gewählt werden, dass sich eine effektive optische Soll-Dicke der Mehrlagen-Beschichtung einstellt. Ferner kann häufig auch die Variation des Brechungsindex vernachlässigt werden, so dass lediglich die geometrische Ist-Schichtdicke so angepasst werden muss, dass sich bei der Betriebstemperatur die geometrische Soll-Schichtdicke einstellt.
  • Im Gegensatz zum Stand der Technik wird die reversible Schichtdickenänderung, die sich durch das Aufheizen der optischen Elemente bei deren Betrieb bei einer hohen Betriebstemperatur ergibt, bei der Herstellung der Mehrlagen-Beschichtung berücksichtigt. Da die Beschichtung in der Regel bei einer geringeren Temperatur als bei der Betriebstemperatur erfolgt, wird in der Regel die Ist-Schichtdicke geringer gewählt als die Soll-Schichtdicke. Es versteht sich, dass zusätzlich auch die oben beschriebenen, aus dem Stand der Technik bekannten Maßnahmen zur Kompensation der irreversiblen Veränderung der Schichtdicken angewendet werden können. Insbesondere empfiehlt es sich, bei optischen Elementen, die bei Temperaturen von mehr als 100°C betrieben werden, Zwischenschichten (engl. „barrier layers”) vorzusehen oder ggf. Silizium und Molybdän durch geeignetere hitzebeständige Schichtmaterialien zu ersetzen.
  • In einer vorteilhaften Variante wird zur Ermittlung der Schichtdickenänderung ein linearer Temperatur-Ausdehnungskoeffizient der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung bestimmt oder mindestens eine optische Eigenschaft des optischen Elements bei der Betriebstemperatur vermessen. Bei bekannter Temperatur-Differenz zwischen Beschichtungs- und Betriebstemperatur kann durch Bestimmung des Temperatur-Ausdehnungskoeffizienten auf einfache Weise aus der (physikalischen) Soll-Dicke der Schichten die Ist-Dicke der Schichten berechnet werden, wobei bei der Berechnung in der Regel von einem über das Temperaturintervall zwischen Beschichtungs- und Betriebstemperatur konstanten linearen Temperatur-Ausdehnungskoeffizienten ausgegangen wird. Es versteht sich, dass hierbei zur Vereinfachung ein einheitlicher Temperatur-Ausdehnungskoeffizient der gesamten Mehrlagen-Beschichtung, d. h. ein über die einzelnen Materialien gemittelte Temperatur-Ausdehnungskoeffizient bestimmt bzw. gemessen werden kann. Alternativ kann für jedes Beschichtungsmaterial einzeln der ggf. auch von der Art des Beschichtungsverfahrens abhängige Temperatur-Ausdehnungskoeffizient bestimmt werden. Alternativ oder zusätzlich kann auch eine Vermessung mindestens einer optischen Eigenschaft des optischen Elements bei der Betriebstemperatur erfolgen. Insbesondere kann hierbei die Reflektivität in Abhängigkeit von der Wellenlänge und/oder vom Einfallswinkel vermessen werden. In diesem Fall können nacheinander mehrere optische Elemente mit unterschiedlichen Ist-Schichtdicken erstellt und deren optische Eigenschaften bei der Betriebstemperatur vermessen werden, um festzustellen, bei welchen Ist-Schichtdicken das gewünschte optische Design erreicht wird. Bei Beschichtungsverfahren, bei denen der eingangs genannte Effekt der irreversiblen Dichtevergrößerung auftritt, kann die hierdurch ausgelöste Verkleinerung der Schichtdicken bei der Bestimmung der Ist-Schichtdicke(n) ebenfalls mit berücksichtigt werden.
  • Bei typischen Mehrlagen-Beschichtungen wird von einer relativen Dickenänderung von 1 Promille oder mehr bei einer Temperaturänderung von 150 K ausgegangen. Insbesondere kann sich bei einer Temperaturänderung von 150 K auch der relative Abstand zwischen zwei aufeinander folgenden Schichten der Mehrlagen-Beschichtung mit hohem Realteil des Brechungsindex um 1 Promille oder mehr verändern. Für ein klassisches Mo/Si-Mehrfachschichtsystem haben die Erfinder einen linearen Temperatur-Ausdehnungskoeffizienten von ca. 0,8 10–6 1/k ermittelt.
  • In einer vorteilhaften Variante wird die optische Ist-Schichtdicke gleich der optischen Soll-Schichtdicke gewählt und die Beschichtung des optischen Elements erfolgt bei der Betriebstemperatur, wobei bevorzugt die Temperatur des optischen Elements auf die Betriebstemperatur geregelt wird. In diesem Fall wird das optische Element während der Beschichtung bevorzugt homogen auf die Betriebstemperatur aufgeheizt, so dass die Beschichtung mit einer Ist-Schichtdicke erfolgen kann, die der Soll-Schichtdicke entspricht. Hierdurch kann auf die Messung des Temperatur-Ausdehnungskoeffizienten verzichtet werden, so dass keine ggf. durch die lineare Näherung entstehenden Ungenauigkeiten dazu führen können, dass die Soll-Schichtdicken des optischen Designs bei der Betriebstemperatur nicht exakt erreicht werden können. Die Temperatur des optischen Elements kann hierbei z. B. über ein regelbares Heizelement auf der Betriebstemperatur gehalten werden. Es versteht sich, dass das optische Element bei der Beschichtung auch inhomogen aufgeheizt werden kann, um die Temperaturverteilung nachzubilden, die während des Betriebs auf dem optischen Element entsteht.
  • In einer besonders bevorzugten Variante ist das optische Design der Mehrlagen-Beschichtung des optischen Elements bezüglich mindestens einer temperaturabhängigen optischen Eigenschaft, insbesondere der Reflektivität des optischen Elements für die Betriebswellenlänge, bei der Betriebstemperatur optimiert. Die Reflektivität der Mehrlagen-Beschichtung weist in Abhängigkeit von der Wellenlänge eine Verteilung mit einem stark ausgeprägten Maximum auf, dessen Wellenlänge idealer Weise mit der Betriebswellenlänge der optischen Anordnung, in der das optische Element betrieben werden soll, übereinstimmt. Die Halbwertsbreite der Verteilung beträgt ca. 0,6 nm. Das optische Design weist hierbei bei der Betriebstemperatur Soll-Schichtdicken auf, die so gewählt sind, dass das Reflektivitätsmaximum bei der Betriebswellenlänge liegt. Wie oben dargestellt, ändert sich die Wellenlänge des Reflektivitätsmaximums mit der Periodenlänge der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung, die mit zunehmender Temperatur zunimmt. Entsprechend verschiebt sich das Maximum der Reflektivität hin zu größeren Wellenlängen. Die Ist-Schichtdicken des optischen Designs bei der Beschichtungstemperatur sind daher bezüglich der Soll-Schichtdicken verstimmt und so gewählt, das sich bei der Betriebstemperatur das Reflektivitätsmaximum an der Betriebswellenlänge, insbesondere bei 13,5 nm, einstellt.
  • In einer Variante variiert die Betriebstemperatur des optischen Elements zumindest in einer Richtung entlang der optischen Oberfläche und beim Beschichten des optischen Elements werden die Schichten mit Ist-Schichtdicken aufgebracht, die entlang der zumindest einen Richtung variieren. Tritt durch die Erwärmung des optischen Elements eine konstante, aber inhomogene Temperaturerhöhung ein, kann diese durch eine ortsabhängige Verstimmung der Ist-Schichtdicken gegenüber den Soll-Schichtdicken kompensiert werden, was auch als sog. lateraler Gradient (engl. „lateral grading”) bezeichnet wird. Es versteht sich, dass nicht zwangsläufig bei der Betriebstemperatur eine Mehrlagen-Beschichtung mit konstanter Soll-Schichtdicke entstehen muss. Vielmehr können auch die Soll-Schichtdicken einen lateralen Gradienten aufweisen, insbesondere wenn sich der mittlere Einfallswinkel in Abhängigkeit vom Ort auf der optischen Oberfläche verändert, so dass eine ortsabhängige Optimierung der Schichtdicken zur Erzeugung einer ortsabhängigen, maximalen Reflektivität des optischen Elements erforderlich ist. Es versteht sich, dass die ortsabhängige Temperaturerhöhung insbesondere bei optischen Elementen, die im Beleuchtungssystem einer optischen Anordnung angeordnet sind, vom den jeweiligen Beleuchtungs-Einstellungen (engl. „settings”) abhängig sein können. In diesem Fall kann eine Optimierung vorgenommen werden, die einem „mittleren” Beleuchtungssetting entspricht, d. h. eine Optimierung, die so gewählt ist, dass bei allen verwendeten Beleuchtungssettings noch ein Betrieb mit zufrieden stellenden Eigenschaften der optischen Elemente sichergestellt ist.
  • Ein weiterer Aspekt der Erfindung ist verwirklicht in einem optischen Element der eingangs genannten Art, bei dem das optische Design der Mehrlagen-Beschichtung bezüglich mindestens einer temperaturabhängigen optischen Eigenschaft, insbesondere der Reflektivität des optischen Elements für die Betriebswellenlänge, bei der Betriebstemperatur optimiert ist. Das optische Element weist somit ein optisches Design auf, bei dem das Maximum der Reflektivität für die Betriebswellenlänge (z. B. 13,5 nm) nicht bei Raumtemperatur (22°C) erreicht wird, sondern erst bei der Betriebstemperatur, die bei 30°C oder darüber liegt. Es versteht sich, dass neben der Reflektivität auch andere optische Eigenschaften des optischen Elements optimiert werden können, z. B. wenn das optische Element in einem Beleuchtungssystem im Strahlengang nach einer Lichtmischeinrichtung angeordnet ist, die ein Beleuchtungsfeld formt, das bis zur Objektebene erhalten werden soll. In diesem Fall kann das optische Design eines optischen Elements bei der Betriebstemperatur von den Eigenschaften weiterer optischer Elemente abhängen, d. h. die optischen Designs mehrerer optischer Elemente werden so aneinander angepasst, dass eine globale Eigenschaft der optischen Anordnung, z. B. deren Uniformität oder Telezentrie, bei der Betriebstemperatur optimiert wird. Als „Optimierung” wird im Sinne dieser Anmeldung typischerweise eine Maximierung oder Minimierung einer optischen Eigenschaft verstanden, z. B. eine Maximierung der Reflektivität des optischen Elements.
  • Bei einer bevorzugten Ausführungsform stimmt die Wellenlänge des Maximums der Reflektivität des optischen Elements bei der Betriebstemperatur mit der Betriebswellenlänge überein, wobei insbesondere die Wellenlänge des Maximums der Reflektivität des optischen Elements bei der Betriebstemperatur gegenüber der Wellenlänge des Maximums der Reflektivität des optischen Elements bei Raumtemperatur um mehr als 2 Promille, ggf. um mehr als 4 Promille bezüglich der Betriebswellenlänge verschoben ist. Das optische Design bzw. die Dicken der Schichten sind in diesem Fall so gewählt, dass das Reflektivitätsmaximum bei der Betriebstemperatur und bei einem vorgegebenen Lichteinfallswinkel angenommen wird. Die Verschiebung des Intensitätsmaximums um mehr als 2 Promille wird z. B. bei den herkömmlichen Mo/Si-Schichtsystemen bei einer Temperaturdifferenz von ca. 250 K gegenüber Raumtemperatur, eine Verschiebung um 4 Promille bei einer Temperaturdifferenz von ca. 500 K erreicht. Derart hohe Temperaturen werden insbesondere an optischen Elementen erreicht, die im Beleuchtungssystem von EUV-Lithographieanlagen im Strahlengang in der Nähe der Lichtquelle angeordnet sind.
  • Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist die Reflektivität des optischen Elements bei der Betriebstemperatur für einen mittleren Lichteinfallswinkel maximiert, der zwischen 0° und 30°, bevorzugt zwischen 5° und 20°, besonders bevorzugt zwischen 10° und 15° liegt. Der mittlere Lichteinfallswinkel kann hierbei ortsabhängig variieren und die Mehrlagen-Beschichtung einen lateralen Gradienten aufweisen, um die Reflektivität des optischen Elements in Abhängigkeit vom Ort auf der optischen Oberfläche zu maximieren.
  • Wenn die Betriebstemperatur zumindest in einer Richtung entlang der optischen Oberfläche des optischen Elements variiert, weist die Mehrlagen-Beschichtung zur Optimierung der mindestens einen Eigenschaft bevorzugt einen Gradienten der Schichtdicken der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung in der zumindest einen Richtung auf. Durch das Vorsehen eines lateralen Schichtdicken-Gradienten kann das optische Design an die lokale Betriebstemperatur des optischen Elements angepasst werden. Dies ist insbesondere an optischen Elementen von Vorteil, bei denen ein nicht an die ortsabhängige Variation der Temperatur angepasstes optisches Design unmittelbare Auswirkungen auf die optische Eigenschaften des Gesamtsystems hat, was z. B. bei feldnahen Spiegeln im Beleuchtungssystem in Bezug auf die Uniformität (engl. „uniformity”) der Fall sein kann.
  • Bei einer vorteilhaften Variante ist das optische Element als Facettenspiegel mit einer Mehrzahl von Einzelspiegeln ausgebildet, wobei jeweils mindestens eine optische Eigenschaft der Einzelspiegel bei der Betriebstemperatur optimiert ist. Bei Facettenspiegeln, die eine Mehrzahl von Einzelspiegeln in einer in der Regel matrixförmigen Anordnung aufweisen, kann eine ortsabhängige Berücksichtigung der Temperaturunterschiede auf besonders einfache Weise dadurch erfolgen, dass die Beschichtung der jeweiligen Einzelspiegel für die lokale Betriebstemperatur optimiert wird. Hierbei kann für die Schichtdicken der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung auf den Einzelspiegeln eine jeweils konstante Dicke gewählt werden und dennoch bezogen auf den gesamten Facettenspiegel ein ortsabhängig optimiertes optisches Design erreicht werden.
  • Ein weiterer Aspekt der Erfindung ist verwirklicht in einer optischen Anordnung, insbesondere einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Lithographie, umfassend: ein Beleuchtungssystem zur Ausleuchtung eines Objektfeldes, ein Projektionssystem zur Abbildung des Objektfeldes auf ein Bildfeld, und mindestens ein in einem Strahlengang der optischen Anordnung angeordnetes optisches Element wie oben beschrieben. Das mindestens eine optische Element wird hierbei typischer Weise durch die Lichtquelle auf die Betriebstemperatur aufgeheizt und hat im nachfolgenden Betrieb der optischen Anordnung eine im Wesentlichen konstante, ggf. ortsabhängig variable Betriebstemperatur, bei der die mindestens eine optische Eigenschaft optimiert ist.
  • In einer besonders bevorzugten Ausführungsform ist das optische Design des mindestens einen optischen Elements so gewählt, dass mindestens ein Abbildungsfehler der optischen Anordnung bei der Betriebstemperatur des optischen Elements optimiert ist. Es versteht sich, dass zur Optimierung, d. h. in der Regel zur Minimierung der Abbildungsfehler der optischen Anordnung die optischen Designs mehrerer optischer Elemente, die unterschiedliche Betriebstemperaturen aufweisen, auch gemeinsam optimiert bzw. aufeinander abgestimmt werden können.
  • In einer bevorzugten Weiterbildung ist der Abbildungsfehler ausgewählt aus der Gruppe umfassend: Telezentrie, Uniformität, Pupillen-Elliptizität und Pupillen-Apodisierung. Es versteht sich, dass ggf. nicht alle Abbildungsfehler gemeinsam optimiert werden können, zumal diese in der Regel auch vom gewählten Beleuchtungssetting abhängig sind. Die Optimierung der Abbildungsfehler wird in der Regel nur an optischen Elementen vorgenommen, bei denen bereits ein abzubildendes Feld vorliegt, was z. B. im Beleuchtungssystem nach der Lichtmischeinrichtung der Fall ist, die z. B. als Wabenkondensor ausgebildet sein kann.
  • In einer vorteilhaften Ausführungsform ist ein Gradient der Schichtdicken der Schichten der Mehrlagen-Beschichtung mindestens eines im Beleuchtungssystem angeordneten optischen Elements in zumindest einer Richtung so gewählt, dass bei der Betriebstemperatur des optischen Elements die Uniformität in einer Objektebene der optischen Anordnung in der zumindest einen Richtung kleiner als 5%, bevorzugt kleiner als 2%, insbesondere kleiner als 1% ist. Dies kann insbesondere dann erreicht werden, wenn das optische Element in der zumindest einen Richtung ein feldnahes optisches Element ist, d. h. ein optisches Element, bei dem Ortskoordinaten auf der optischen Oberfläche Ortskoordinaten des Objektfelds entsprechen. Es versteht sich, dass ein und dasselbe optische Element in einer ersten Richtung feldnah und in einer zweiten, typischer Weise zur ersten senkrechten Richtung pupillennah sein kann, d. h. in der zweiten Richtung entsprechen die Orte auf der optischen Oberfläche Winkeln im Objektfeld der optischen Anordnung.
  • Besonders bevorzugt weist die optische Anordnung beim Betrieb der optischen Elemente mit ihrer jeweiligen Betriebstemperatur für die Betriebswellenlänge eine maximale Gesamttransmission auf, die bevorzugt gegenüber dem Betrieb der optischen Elemente bei Raumtemperatur um 2% oder mehr, insbesondere um 3% oder mehr vergrößert ist. Durch eine geeignete – wie oben beschriebene – Festlegung der Schichtdicken bei der Beschichtung kann erreicht werden, dass die optische Anordnung bei Betriebstemperatur ihre maximale Gesamttransmission aufweist. Insbesondere kann hierdurch die optische Anordnungbeim Betrieb der optischen Elemente mit ihrer jeweiligen Betriebstemperatur für die Betriebswellenlänge eine maximale Gesamttransmission aufweisen, die um 2% oder mehr, insbesondere um 3% oder mehr vergrößert ist gegenüber einer (ansonsten identischen) optischen Anordnung, die beim Betrieb der optischen Elemente bei Raumtemperatur für die Betriebswellenlänge eine maximale Gesamttransmission aufweist, d. h. die für den Betrieb bei Raumtemperatur optimiert wurde.
  • Die Gesamttransmission der optischen Anordnung ergibt sich als Produkt aus der Transmission des Beleuchtungssystems und der Transmission des Projektionssystems, die jeweils für sich optimiert werden können, indem die Reflektivität jedes einzelnen der in den beiden Systemen angeordneten optischen Elemente maximiert wird. Auf diese Weise ergeben sich im Idealfall deckungsgleiche Reflektivitätskurven für alle optischen Elemente der optischen Anordnung, die ihr gemeinsames Maximum bei der Betriebswellenlänge haben.
  • Die Gesamttransmission wird hierbei in einem Wellenlängenbereich von z. B. +/–1% um die Betriebswellenlänge bestimmt (sog. „in-band” Bereich). Es versteht sich, dass auch eine möglichst homogene Transmission der optischen Anordnung erreicht werden sollte, d. h. die Gesamttransmission in einem jeweiligen ersten Bildfeldpunkt sollte von der Gesamttransmission an einem jeweiligen zweiten Bildfeldpunkt um nicht mehr als 2% bezogen auf den größeren Wert der Gesamttransmission abweichen.
  • In einer Ausführungsform weisen mindestens zwei im Strahlengang aufeinander folgende optische Elemente während des Betriebs der optischen Anordnung eine unterschiedliche Betriebstemperatur auf. Wie oben dargestellt entstehen unterschiedliche Betriebstemperaturen der optischen Elemente im Strahlengang dadurch, dass die optischen Elemente nur jeweils ca. 70% der auftreffenden Strahlung reflektieren, so dass die Intensität der auf die optischen Oberflächen auftreffenden Strahlung um so mehr abnimmt, je weiter diese von der Lichtquelle entfernt sind. Es versteht sich insbesondere, dass die optischen Designs der beiden optischen Elemente für die jeweilige Betriebstemperatur optimiert sind und daher die Ist-Schichtdicken der Schichten der beiden optischen Elemente bei Raumtemperatur in der Regel voneinander unterscheiden.
  • In einer besonders vorteilhaften Ausführungsform ist zum bevorzugt homogenen Aufheizen der optischen Oberfläche mindestens eines reflektiven optischen Elements auf die Betriebstemperatur mindestens ein bevorzugt regelbares Heizelement vorgesehen. Da die Betriebstemperatur, für die das optische Design der optischen Elemente ausgelegt ist, in der Regel erst nach einer Betriebszeit der optischen Anordnung von z. B. ca. 30 Minuten erreicht wird, kann das optische Element mittels des Heizelements, z. B. eines Heizdrahts, Peltier-Elements etc. aufgeheizt werden, um das optische Element schneller auf die Betriebstemperatur zu bringen. Hierbei bietet es sich an, eine Regelung für das Heizelement vorzusehen, um das Heizelement bei Erreichen der Betriebs temperatur zu deaktivieren bzw. ggf. auch bei einer Änderung der Bedingungen bei der Belichtung, insbesondere bei einem Wechsel des Beleuchtungssettings, die gewählte Betriebstemperatur zu halten.
  • Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung, anhand der Figuren der Zeichnung, die erfindungswesentliche Einzelheiten zeigen, und aus den Ansprüchen. Die einzelnen Merkmale können je einzeln für sich oder zu mehreren in beliebiger Kombination bei einer Variante der Erfindung verwirklicht sein.
  • Zeichnung
  • Ausführungsbeispiele sind in der schematischen Zeichnung dargestellt und werden in der nachfolgenden Beschreibung erläutert. Es zeigt:
  • 1 eine schematische Darstellung eines EUV-Lithographiesystems gemäß der Erfindung,
  • 2a, b schematische Darstellungen eines optischen Elements mit einer Mehrlagen-Beschichtung bei Beschichtungs- sowie bei Betriebstemperatur in einer ersten Richtung,
  • 3a, b entsprechende Darstellungen des optischen Elements in einer zweiten Richtung,
  • 4a–c die Reflektivität der optischen Elemente des Beleuchtungssystems von 1 ohne thermische Kompensation (a), der daraus resultierenden Transmission des Beleuchtungssystems (b), sowie der Gesamttransmission des EUV-Lithographiesystems mit bzw. ohne thermische Kompensation (c), jeweils in Abhängigkeit von der Wellenlänge,
  • 5 eine schematische Darstellung der Winkelbelastung eines der optischen Elemente des Beleuchtungssystems von 1 entlang einer zweiten Richtung, und
  • 6a, b die Uniformität in einer Objektebene des Beleuchtungssystems von 1 ohne thermische Kompensation (a) bei Betriebstemperatur und mit Vorhalten der thermischen Kompensation (b) bei Raumtemperatur.
  • In 1 ist eine schematische Darstellung einer Projektionsbelichtungsanlage 1 für die EUV-Lithographie gezeigt, welche ein Gehäuse 1a aufweist, dem eine Vakuumerzeugungseinheit 1b (Vakuumpumpe) zugeordnet ist. Das Gehäuse 1a ist entsprechend der optischen Funktion der darin angeordneten Komponenten in drei in 1 nicht bildlich dargestellte Gehäuseteile unterteilt, und zwar zunächst in einen ersten Gehäuseteil mit einer Lichterzeugungseinheit 2, welche z. B. eine (nicht gezeigte) Plasmalichtquelle und einen EUV-Kollektorspiegel 2a zur Fokussierung der Beleuchtungsstrahlung umfasst.
  • In einem sich daran anschließenden, zweiten Gehäuseteil ist das Beleuchtungssystem 3 angeordnet, welches dem Strahlverlauf folgend einen Spiegel mit Feldrasterelementen 5 und einen Spiegel mit Pupillenrasterelementen 6 als Lichtmischeinrichtung aufweist. Eine nachfolgende, als Teleskopobjektiv 7 wirkende Gruppe von drei Spiegeln weist einen ersten und zweiten Spiegel 8, 9 auf, die unter normalem Einfall betrieben werden, sowie einen dritten Spiegel 10 mit negativer Brechkraft, auf den das Licht unter streifendem Einfall trifft. Das Beleuchtungssystem 3 erzeugt ein möglichst homogenes Bildfeld in einer Objektebene 11, in der ein Retikel 12 mit einer verkleinert abzubildenden Struktur (nicht gezeigt) angeordnet ist.
  • Die auf dem Retikel 12 in der Objektebene 11 angeordnete Struktur wird von einem nachfolgenden Projektionssystem 4, welches in einem dritten Gehäuseteil angeordnet ist, auf eine Bildebene 13 abgebildet, in der sich Wafer mit einer photosensitiven Schicht (nicht gezeigt) befindet. Das Projektionssystem 4 weist für die verkleinernde Abbildung sechs weitere Spiegel 14.1 bis 14.6 als reflektive optische Elemente auf.
  • Beim Betrieb der Projektionsbelichtungsanlage 1 heizen sich die im Strahlengang 15 der Lichterzeugungseinheit 2 befindlichen optischen Elemente 2a, 5, 6, 8 bis 10 des Beleuchtungssystems 3 sowie die optischen Elemente 14.1 bis 14.6 des Projektionssystems 4 durch die Beleuchtungsstrahlung unterschiedlich stark auf, wobei sie nach einer Aufwärmehase, die ca. 30 Minuten betragen kann, ein statischer Zustand einstellt, bei dem die optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 ihre jeweilige Betriebstemperatur erreichen. Die Betriebstemperatur eines jeweiligen optischen Elements hängt davon ab, wie viele weitere optische Elemente zwischen diesem und der Lichterzeugungseinheit 2 angeordnet sind, da an jedem der optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 im günstigsten Fall lediglich ca. 70% der einfallenden Strahlung reflektiert werden können.
  • Wie oben beschrieben, unterscheidet sich die Temperatur der optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 im Betrieb der Projektionsbelichtungsanlage 1 von der Temperatur im Ruhezustand, typischer Weise Raumtemperatur (ca. 22°C) teilweise erheblich. Durch die Temperaturerhöhung verändert sich die Schichtdicke der auf die optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 aufgebrachten, reflektiven Mehrlagen-Beschichtung, die in 2a, b beispielhaft für den ersten/zweiten Spiegel 8, 9 des Spiegelteleskops 7 entlang einer ersten Richtung Y dargestellt ist.
  • In 2a ist das optische Element 8, 9 bei Raumtemperatur TR gezeigt, welche der Temperatur TB bei der Beschichtung des optischen Elements 8 entspricht. Auf ein Substrat 16 des optischen Elements 8, 9 wird hierbei durch ein Dünnschicht-Beschichtungsverfahen die Mehrlagen-Beschichtung 17 aufgebracht, die aus alternierenden Schichten 17.1 aus Molybdän bzw. Silizium 17.2 besteht. Wie in 2a zu erkennen ist, weist das optische Element 8, 9 eine auf die Mehrlagen-Beschichtung 17 aufgebrachte Deckschicht 19 auf, um die Schichten 17.1, 17.2 u. a. vor Oxidation zu schützen. An der Oberseite der Deckschicht 19 ist die optische Oberfläche 19a des optischen Elements 8 gebildet.
  • Die ca. fünfzig aufeinander folgenden Paare von Schichten 17.1, 17.2 weisen bei der Beschichtungstemperatur TB/Raumtemperatur TR (vgl. 2a) insgesamt eine optische Ist-Schichtdicke nB dB auf, die kleiner als eine optische Soll-Schichtdicke nOP dOP bei der Betriebstemperatur TOP ist, die in 2b dargestellt ist, und zwar deshalb, weil die Dicken der Schichten 17.1, 17.2 in Abhängigkeit von der Temperatur zunehmen, wobei für eine Mehrlagen-Beschichtung 17 aus fünfzig alternierenden Schichten 17.1, 17.2 aus Silizium und Molybdän ein linearer thermischer Ausdehnungskoeffizient α(ΔL/L × 1/ΔT) von 0,8 × 10–6 1/K ermittelt wurde. Die Dicke der Deckschicht 19 nimmt hierbei ebenfalls zu, diese trägt aber in der Regel nicht zur Reflexion bei, so dass deren Dickenvariation keine Veränderung der Eigenschaften des optischen Elements bewirkt. Auch wird im Folgenden davon ausgegangen, dass die Brechungsindizes nR bei Raumtemperatur TR und nOP bei Betriebstemperatur TOP übereinstimmen, so dass lediglich eine Variation der physikalischen Schichtdicken auftritt.
  • Durch die thermische Ausdehnung der Schichten 17.1, 17.2 beim Aufheizen auf die Betriebstemperatur TOP wird bewirkt, dass die Periodenlänge der Mehrlagen-Beschichtung 17 zunimmt. Hierdurch verschiebt sich das wellenlängenabhängige Maximum der Reflektivität der Mehrlagen-Beschichtung 17 hin zu größeren Werten. Für die sechs optischen Elemente 2a, 5, 6, 8 bis 10 des Beleuchtungssystems 3 sind die Abweichungen ΔT = TOP – TR der Betriebstemperatur TOP von der Raumtemperatur TR, die zugehörigen Wellenlängen-Verschiebungen Δλ, sowie die relative Wellenlängen-Verschiebung Δλ/λ0 bezogen auf eine Betriebswellenlänge λ0 der Projektionsbelichtungsanlage 1 von 13,5 nm in nachstehender Tabelle aufgeführt:
    Spiegel-Nr. ΔT Δλ Δλ/λ0
    2a 620 K 67,0 pm 5,0 Promille
    5 500 K 54,0 pm 4,0 Promille
    6 380 K 41,0 pm 3,0 Promille
    8 250 K 27,0 pm 2,0 Promille
    9 120 K 13,0 pm 1,0 Promille
    10 25 K 2,7 pm 0,2 Promille
    Tabelle
  • 4a zeigt den Einfluss dieser Temperaturerhöhung auf die optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9 der Tabelle auf deren Reflektivität R in Abhängigkeit von der Wellenlänge λ. Das Maximum der Reflektivität sollte hierbei jeweils bei einer Betriebswellenlänge von λ0 = 13,6 nm liegen, es ist aber deutlich zu erkennen, dass für optische Elemente mit höherer Betriebstemperatur dieses Maximum zu größeren Wellenlängen verschoben ist. Die vertikalen Linien in 4a zeigen die Grenzen der Bandbreite von ±1% an, innerhalb derer die Transmission üblicherweise berechnet wird. Die Transmission des Beleuchtungssystems 1 ergibt sich als Produkt der Reflektivitätskurven der optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9 von 4a sowie der nicht gezeigten Reflektivitätskurve des optischen Elements 10 mit der geringsten Betriebstemperatur im Beleuchtungssystem 3.
  • 4b zeigt die resultierende Verteilung I der Transmission T des Beleuchtungssystems 3 in Abhängigkeit von der Wellenlänge λ. Unter der Annahme, dass die optischen Elemente 14.1 bis 14.6 des Projektionssystems 4 jeweils perfekt aufeinander abgestimmt sind, d. h. eine Verstimmung von 0 Promille aufweisen, ergibt sich die in 4b gezeigte Verteilung P der Transmission T des Projektionssystems 4 aus der sechsten Potenz der unverstimmten Reflektivitätskurve, d. h. das Maximum der Transmission T des Projektionssystems 4 liegt genau bei der Betriebswellenlänge λ0 von 13,5 nm. Das Maximum der Transmissionsverteilung I des Beleuchtungssystems 3 ist hingegen um ca. 30 pm (ca. 2 Promille) zu höheren Wellenlängen verschoben.
  • Wie bereits im Zusammenhang mit 2a, b erläutert, kann die thermische Ausdehnung der Schichten 17.1, 17.2 bei den optischen Elementen des Beleuchtungssystems 3 bereits bei der Beschichtung vorgehalten werden, d. h. das optische Design bzw. die Dicke dB der Schichten 17.1, 17.2 beim Herstellen der Mehrlagen-Beschichtung 17 wird unter Berücksichtigung des (linearen) thermischen Ausdehnungskoeffizienten so ausgelegt, dass sich bei bekanntem Temperaturunterschied zwischen der Beschichtungstemperatur TB und der Betriebstemperatur TOP durch die thermische Ausdehnung die gewünschte Gesamtdicke dOP bei der Betriebstemperatur TOP einstellt. Es versteht sich, dass alternativ das optische Element 8, 9 auch während der Beschichtung auf die Betriebstemperatur TOP aufgeheizt werden kann, so dass die Schichten 17.1, 17.2 mit einer Ist-Schichtdicke dB aufgebracht werden kann, die gleich der Soll-Schichtdicke dOP ist. Zu diesem Zweck kann ein Heizelement 20 in der Beschichtungsanlage vorgesehen sein, welches insbesondere regelbar ist, um die Temperatur des optischen Elements 8, 9 auf der Betriebstemperatur zu halten. Die Beschichtung kann mit Hilfe eines üblichen Verfahrens zum Aufbringen von dünnen Schichten, z. B. durch chemische oder physikalische Gasphasenabscheidung erfolgen. Es versteht sich, dass an Stelle der oben beschriebenen Verwendung eines einheitlichen Wärmeausdehnungskoeffizienten für beide Schichtmaterialien (Si/Mo) die Wärmeausdehnungskoeffizienten der einzelnen Schichten 17.1, 17.2 auch getrennt ermittelt werden können, so dass für beide Materialien die Verringerung der Schichtdicke individuell festgelegt werden kann. Auch wenn Zwischenschichten zur Erhöhung der Temperaturstabilität des Mehrlagen-Schichtsystems 17 verwen det werden, kann deren Wärmeausdehnungskoeffizient getrennt bestimmt und die erforderliche Reduzierung der Schichtdicke für diesen Schichttyp getrennt bestimmt werden. Auch kann das optische Element bei Betriebstemperatur vermessen werden, um zu überprüfen, ob das optische Design die gewünschten Eigenschaften besitzt, wozu z. B. die Reflektivität in Abhängigkeit von der Wellenlänge und/oder vom Einfallswinkel vermessen werden kann. Durch die Vermessung von mehreren optischen (Test-)Elementen mit unterschiedlichen Ist-Schichtdicken bei der Betriebstemperatur kann festgestellt werden, welche Ist-Schichtdicken gewählt werden müssen, damit sich bei der Betriebstemperatur das gewünschte optische Design einstellt, ohne dass hierzu die die Bestimmung des Wärmeausdehnungskoeffizienten erforderlich ist.
  • Wird die oben im Zusammenhang mit 2a, b beschriebene Optimierung der Mehrlagen-Beschichtung 17 für alle optischen Elemente 2a, 5, 6, 8 bis 10 des Beleuchtungssystems 3 vorgenommen, so verschiebt sich die in 4b dargestellte Transmissionskurve I hin zu kleineren Wellenlängen und stimmt im Wesentlichen mit der Transmissionskurve P des Projektionssystems 4 überein, wie in 4c dargestellt ist, welche die Gesamttransmissionskurve E1 der Projektionsbelichtungsanlage 1 zeigt, die sich als Produkt der Transmissionskurve P von 4b mit sich selbst ergibt. Wird die thermische Ausdehnung der Schichten im Beleuchtungssystem 3 jedoch nicht vorgehalten, ergibt sich die Gesamttransmission E2 ohne Kompensation als Produkt der Transmissionskurve P des Projektionssystems 4 mit der Transmissionskurve I des Beleuchtungssystems 3 von 4b. Bei der resultierenden Transmissionskurve E1 mit Kompensation ergibt sich ein Maximum der Transmission T bei der Betriebswellenlänge λ0 von 13,5 nm, bei der Transmissionskurve E2 ohne Kompensation ist das Maximum um ca. 1 Promille zu höheren Wellenlängen verschoben.
  • Der aus der thermischen Verstimmung resultierende Transmissionsverlust kann anhand von 4c auf zwei verschiedene Arten berechnet werden: Entweder werden die Integrale über die volle spektrale Breite (full range), oder aber die Integrale über eine Bandbreite von ±1% („in-band”) der beiden Transmissionskurven E1, E2 zueinander ins Verhältnis gesetzt. Durch die Verstimmung ergibt sich ein Transmissionsverlust von 3,5% (full range) beziehungsweise von 3,2% (in-band).
  • Das Aufheizen der optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 im Strahlengang 15 von der üblicher Weise während des Ruhephasen in der Projektionsbelichtungsanlage 1 herrschenden Raumtemperatur TR auf die jeweilige Betriebstemperatur TOP durch die Beleuchtungs-Strahlung kann ggf. 30 Minuten oder länger dauern. Um die für die Betriebstemperatur TOP optimierten optischen Elemente 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 früher nutzen zu können, können Heizelemente 20 (vgl. 2a, b), z. B. in Form von Heizdrähten oder Peltier-Elementen an den optischen Elementen 2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6 der Projektionsbelichtungsanlage 1 angebracht sein. Ferner bietet es sich an, Regelungseinheit(en) sowie Temperatursensoren zur Temperaturregelung in der Projektionsbelichtungsanlage 1 vorzusehen, um beim Erreichen der Betriebstemperatur TOP das Heizelement abzuschalten bzw. dieses so zu steuern, dass die Temperatur des optischen Element auch bei einem Wechsel der Beleuchtungsbedingungen möglichst nahe bei der Betriebstemperatur TOP betrieben wird.
  • Es versteht sich, dass die Optimierung der optischen Eigenschaften von optischen Elementen für die Betriebstemperatur nicht nur im Bezug auf die Reflektivität erfolgen kann, sondern dass die Optimierung alternativ oder zusätzlich auch im Hinblick auf andere Kriterien möglich ist, insbesondere im Hinblick auf Abbildungsfehler der Projektionsbelichtungsanlage 1. Dies trifft insbesondere für optische Elemente des Beleuchtungssystems 3 zu, die im Strahlengang 15 hinter der als Lichtmischeinrichtung dienenden Kombination aus dem Spiegel 5 mit Feldrasterelementen und dem Spiegel 6 mit Pupillenrasterelementen angeordnet sind.
  • 5 zeigt den mittleren Einfallswinkel αAV, sowie die 3σ-Abweichung α+ bzw. α des Einfallswinkels nach oben bzw. unten um den mittleren Einfallswinkel αAV über eine Feldkoordinate x des unter normalem Einfall betriebenen optischen Elements 8, 9 des Beleuchtungssystems 3. Wie aus 5 zu ersehen, weist dieses eine starke Variation des mittleren Einfallswinkels αAV entlang der x-Richtung sowie eine große lokale Einfallswinkelbandbreite α+ bzw. α in dieser Richtung auf, woraus eine in der Mitte des optischen Elements 8, 9 konzentrierte Verteilung 21 der Strahlintensität der auftreffenden Strahlung resultiert. Das optische Element 8, 9 ist entlang der x-Richtung ein feldnahes Element, d. h. die x-Koordinaten der optischen Oberfläche des optischen Elements 8, 9 entsprechen im Wesentlichen x-Koordinaten in der Objektebene 11 der Projektionsbelichtungsanlage 1.
  • Geht man von einer thermisch bedingten Verstimmung der Wellenlänge des Maximums der Reflektivität durch eine Veränderung der Periodenlänge des Mehrlagen-Systems 17 von +2 Promille aus, so verschlechtert sich die Uniformität U1 in der Objektebene 11 feldabhängig um ±2%, wie in 6a dargestellt ist. Bei einer negativen Verstimmung von –2 Promille (d. h. die thermische Ausdehnung wird vorgehalten, das Beleuchtungssystem 3 wird jedoch in kaltem Zustand (bei Raumtemperatur TR) betrieben) verschlechtert sich die Uniformität U2 hauptsächlich am Rand des Feldes um ca. –4%, vgl. 6b. Diese Änderungen der Uniformität sind im Wesentlichen unabhängig von den benutzten Beleuchtungssettings, für die in 6a, b jeweils ein Mittelwert dargestellt ist. Auch weitere Abbildungseigenschaften, z. B. die Elliptizität und Telezentrie können von der Verstimmung des optischen Elements 8, 9 betroffen sein, wenn auch in der Regel in geringerem Maße als dies für die Uniformität der Fall ist.
  • Wie 5 sowie 6a, b zu entnehmen ist, genügt eine homogene Verringerung der Dicke der Schichten 17.1, 17.2 in x-Richtung nicht, um eine hohe Uniformität des Beleuchtungsfeldes zu erreichen, da die Intensitätsverteilung 21 und damit die Temperaturverteilung auf dem optischen Element in x-Richtung inhomogen ist. Wie in 3a, b dargestellt ist, können zur Kompensation die Schichten 17.1, 17.2 mit einem lateralen Schichtdickengradienten in dieser Richtung (x-Richtung) aufgebracht werden, d. h. die Dicke dB,x der Schichten 17.1, 17.2 bei der Beschichtung ist vom Ort in x-Richtung abhängig, wobei die lokale Ist-Schichtdicke dB,x so gewählt wird, dass eine durch thermische Ausdehnung der Schichten 17.1, 17.2 zwischen der Beschichtungstemperatur TB und der Betriebstemperatur TOP hervorgerufene lokale Schichtdickenänderung dOP,x–dB,x gerade kompensiert wird, wobei hier wieder zur Vereinfachung davon ausgegangen wird, dass die Brechungsindizes nB,x bei Raumtemperatur und nOP,x bei Betriebstemperatur identisch sind. Bei der Bestimmung der Ist-Schichtdicken dB,x für die Beschichtungstemperatur TB wird somit sowohl ein globaler Anteil der Temperaturausdehnung als auch ein lokaler Anteil berücksichtigt. Auf diese Weise kann eine Uniformität in x-Richtung in der Objektebene erreicht werden, deren Betrag bei weniger als ca. 1 bis 2% liegt.
  • Bei der resultierenden Mehrlagen-Beschichtung 17 bei Betriebstemperatur TOP weisen die Schichten 17.1, 17.2 eine gewünschte Soll-Schichtdicke dOP,x in Abhängigkeit vom Ort in x-Richtung auf, die so gewählt ist, dass die Reflektivität des optischen Elements 8, 9 für die in 5 gezeigten, in x-Richtung stark variierenden mittleren Einfallswinkel αAV optimiert ist. Der über alle Orte der optische Oberfläche 19a in x-Richtung gemittelte Einfallswinkel liegt bei dem optischen Element 8, 9 typischer Weise zwischen ca. 10° und 15°.
  • Es versteht sich, dass die oben beschriebene Optimierung nicht auf das optische Element 8, 9 beschränkt ist, sondern z. B. auch an den optischen Elementen 14.1 bis 14.6 des Projektionssystems 4 erforderlich sein kann, da auch eine Temperaturerhöhung von nur 25 K bereits eine Verschiebung der Wellenlänge um 2,7 pm (0,2 Promille) zur Folge hat. Auch eine Optimierung der Facettenspiegel 5, 6 des Beleuchtungssystems 3 ist möglich, wobei in diesem Fall für jeden (in 1 nicht gezeigten) Einzelspiegel eine unabhängige Optimierung mit über den Einzelspiegel konstanten Schichtdicken erfolgen kann, woraus bei unterschiedlicher Wahl der Schichtdicken unterschiedlicher Einzelspiegel bezüglich der gesamten optischen Oberfläche der Facettenspiegel 5, 6 eine lokale Optimierung resultieren kann. Es versteht sich ferner, dass ggf. auch Verformungen des Substrats 16, die bei der Erwärmung der optischen Elemente auf die jeweilige Betriebstemperatur TOP auftreten können, durch geeignete ortsabhängig variable Wahl der Schichtdicken bei der Beschichtung ausgeglichen werden können. Insbesondere müssen die Substrate der optischen Elemente nicht zwingend plan sein, sondern können eine elliptische oder parabolische Grundform aufweisen.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • - WO 2007/090364 [0004, 0004]
    • - DE 10011547 C2 [0005]
    • - DE 102004002764 A1 [0006, 0006]

Claims (18)

  1. Verfahren zum Herstellen einer Mehrlagen-Beschichtung (17) zur Reflexion von Strahlung im weichen Röntgen- oder EUV-Wellenlängenbereich auf einem optischen Element (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6), das bei einer Betriebstemperatur (TOP) von 30° oder mehr, bevorzugt von 100°C oder mehr, besonders bevorzugt von 150°C oder mehr, insbesondere von 250°C oder mehr betrieben wird, umfassend die Schritte: Bestimmen eines optischen Designs für die Mehrlagen-Beschichtung (17), das eine optische Soll-Schichtdicke (nOP dOP) der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) bei der Betriebstemperatur (TOP) festlegt, und Aufbringen der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) mit einer optischen Ist-Schichtdicke (nB dB), die so gewählt wird, dass eine durch thermische Ausdehnung der Schichten (17.1, 17.2) zwischen der Beschichtungstemperatur (TB) und der Betriebstemperatur (TOP) hervorgerufene Schichtdickenänderung (nOP dOP–nB dB) kompensiert wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem zur Ermittlung der Schichtdickenänderung (nOP dOP–nB dB) ein linearer Temperatur-Ausdehnungskoeffizient der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) bestimmt oder mindestens eine optische Eigenschaft des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei der Betriebstemperatur (TOP) vermessen wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die optische Ist-Schichtdicke (nB dB) gleich der optischen Soll-Schichtdicke (nOP dOP) gewählt wird und die Beschichtung des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei der Betriebstemperatur (TOP) erfolgt, wobei bevorzugt die Temperatur des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) überwacht und auf die Betriebstemperatur (TOP) geregelt wird.
  4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das optische Design der Mehrlagen-Beschichtung (17) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bezüglich mindestens einer temperaturabhängigen optischen Eigenschaft, insbesondere der Reflektivität des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) für die Betriebswellenlänge (λ0), bei der Betriebstemperatur (TOP) optimiert ist.
  5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Betriebstemperatur (TOP) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) zumindest in einer Richtung entlang der optischen Oberfläche (19a) variiert und beim Beschichten des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) die Schichten (17.1, 17.2) mit Ist-Schichtdicken (dB,x) aufgebracht werden, die entlang der zumindest einen Richtung variieren.
  6. Optisches Element (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) mit einer Mehrlagen-Beschichtung (17) zur Reflexion von Strahlung im weichen Röntgen- oder EUV-Wellenlängenbereich, das zum Betrieb im Strahlengang (15) einer optischen Anordnung (1) bei einer Betriebstemperatur (TOP) von 30° oder mehr, bevorzugt von 100°C oder mehr, besonders bevorzugt von 150°C oder mehr, insbesondere von 250°C oder mehr vorgesehen ist, insbesondere hergestellt gemäß dem Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das optische Design der Mehrlagen-Beschichtung (17) bezüglich mindestens einer temperaturabhängigen optischen Eigenschaft, insbesondere der Reflektivität des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14,1 bis 14.6) für die Betriebswellenlänge (λ0), bei der Betriebstemperatur (TOP) optimiert ist.
  7. Optisches Element nach Anspruch 6, bei dem die Wellenlänge (λ) des Maximums der Reflektivität (R) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei der Betriebstemperatur (TOP) mit der Betriebswellenlänge (λ0) übereinstimmt, wobei bevorzugt die Wellenlänge (λ) des Maximums der Reflektivität (R) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei der Betriebstemperatur (TOP) gegenüber der Wellenlänge (λ) des Maximums der Reflektivität (R) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei Raumtemperatur (TR) um mehr als 2 Promille, insbesondere um mehr als 4 Promille bezüglich der Betriebswellenlänge (λ0) verschoben ist.
  8. Optisches Element nach Anspruch 6 oder 7, bei dem die Reflektivität (R) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei der Betriebstemperatur (TOP) für einen mittleren Lichteinfallswinkel maximiert ist, der zwischen 0° und 30°, bevorzugt zwischen 5° und 20°, besonders bevorzugt zwischen 10° und 15° liegt.
  9. Optisches Element nach einem der Ansprüche 6 bis 8, bei dem die Betriebstemperatur (TOP) zumindest in einer Richtung entlang der optischen Oberfläche (19a) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) variiert, und die Mehrlagen-Beschichtung (17) zur Optimierung der mindestens einen Eigenschaft einen Gradienten der Schichtdicken (dB,x) der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) in der zumindest einen Richtung aufweist.
  10. Optisches Element nach einem der Ansprüche 6 bis 9, welches als Facettenspiegel (5, 6) mit einer Mehrzahl von Einzelspiegeln ausgebildet ist, wobei jeweils mindestens eine optische Eigenschaft der Einzelspiegel bei der Betriebstemperatur (TOP) optimiert ist.
  11. Optische Anordnung, insbesondere Projektionsbelichtungsanlage (1) für die EUV-Lithographie, umfassend: ein Beleuchtungssystem (3) zur Ausleuchtung eines Objektebene (11), ein Projektionssystem (4) zur Abbildung einer Struktur in der Objektebene (11) in eine Bildebene (13), und mindestens ein in einem Strahlengang (15) der optischen Anordnung angeordnetes optisches Element (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) nach einem der Ansprüche 6 bis 10.
  12. Optische Anordnung nach Anspruch 11, bei der das optische Design des mindestens einen optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) so gewählt ist, dass mindestens ein Abbildungsfehler der optischen Anordnung bei der Betriebstemperatur (TOP) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) optimiert ist.
  13. Optische Anordnung nach Anspruch 12, bei welcher der Abbildungsfehler ausgewählt ist aus der Gruppe umfassend: Telezentrie, Uniformität, Pupillen-Elliptizität und Pupillen-Apodisierung.
  14. Optische Anordnung nach Anspruch 13, bei der ein Gradient der Schichtdicken (dOP,x) der Schichten (17.1, 17.2) der Mehrlagen-Beschichtung (17) eines im Beleuchtungssystem (3) angeordneten optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) in zumindest einer Richtung so gewählt ist, dass bei der Betriebstemperatur (TOP) des optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) der Absolutwert der Uniformität (U) in einer Objektebene (11) der optischen Anordnung (1) in der zumindest einen Richtung kleiner als 5%, bevorzugt kleiner als 2%, insbesondere kleiner als 1% ist.
  15. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 14, die beim Betrieb der optischen Elemente (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) mit ihrer jeweiligen Betriebstemperatur (TOP) für die Betriebswellenlänge (λ0) eine maximale Gesamttransmission aufweist, die bevorzugt gegenüber dem Betrieb der optischen Elemente (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei Raumtemperatur (TR) um 2% oder mehr, insbesondere um 3% oder mehr vergrößert ist.
  16. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 15, die beim Betrieb der optischen Elemente (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) mit ihrer jeweiligen Betriebstemperatur (TOP) für die Betriebswellenlänge (λ0) eine maximale Gesamttransmission aufweist, die um 2% oder mehr, insbesondere um 3% oder mehr vergrößert ist gegenüber einer optischen Anordnung, die beim Betrieb der optischen Elemente (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) bei Raumtemperatur (TR) für die Betriebswellenlänge (λ0) eine maximale Gesamttransmission aufweist.
  17. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 11 bis 16, bei der mindestens zwei im Strahlengang (15) aufeinander folgende optische Elemente (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) während des Betriebs der optischen Anordnung (1) eine unterschiedliche Betriebstemperatur (TOP) aufweisen.
  18. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 11 bis 17, bei der zum bevorzugt homogenen Aufheizen der optischen Oberfläche (19a) mindestens eines reflektiven optischen Elements (2a, 5, 6, 8, 9, 10, 14.1 bis 14.6) auf die Betriebstemperatur (TOP) mindestens ein bevorzugt regelbares Heizelement (20) vorgesehen ist.
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