DE102007041803A1 - Verfahren zur Herstellung von polykristallinen Siliziumstäben und polykristalliner Siliziumstab - Google Patents

Verfahren zur Herstellung von polykristallinen Siliziumstäben und polykristalliner Siliziumstab Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium, insbesondere für Solaranwendungen und mit diesem Verfahren hergestellte Siliziumstäbe. Bisher wurden vorwiegend Reste der Reinstsiliziumherstellung für die Gewinnung von Solarsilizium verwendet. Die üblichen Verfahren zur Herstellung von Reinstsilizium sind kostenaufwändig und verwenden Trichlorsilan als Ausgangsstoff, das sehr leicht entflammbar ist. Die beim Siemens-Verfahren verwendeten Si-Dünnstäbe zum Starten des Prozesses sind üblicherweise aus Reinstsilizium und müssen extern vorgeheizt werden, damit ein Stromfluss ermöglicht wird. Erfindungsgemäß wird als Ausgangsmaterial Siliziumtetrachlorid eingesetzt, das im ersten Verfahrensschritt zu Trichlorsilan umgewandelt wird. Dann wird nach dem Siemens-Verfahren Silizium an den Si-Dünnstäben abgeschieden. Diese Si-Dünnstäbe sind erfindungsgemäß derart mit Bor und gegebenenfalls mit anderen dotierenden Stoffen dotiert, dass sie eine solche elektrische Leitfähigkeit aufweisen, die bei Anlegen einer Spannung von < 1400 V einen Stromfluss durch diese Si-Dünnstäbe ermöglicht, der diese auf die notwendige Abscheidetemperatur aufheizt. Vorteilhafterweise werden die Si-Dünnstäbe derart dotiert, dass die abgeschiedenen Si-Stäbe direkt als Ausgangsstoff in einem anschließenden Verfahren zur Herstellung von multikristallinen oder einkristallinen Siliziumkristallen verwendet werden können.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium, insbesondere für Solaranwendungen und mit diesem Verfahren hergestellte Siliziumstäbe, die direkt als Ausgangsstoff in einem anschließenden Verfahren zur Herstellung von multikristallinen oder einkristallinen Siliziumkristallen eingesetzt werden können.
  • Beschreibung des Standes der Technik
  • Polykristallines Silizium wird als Ausgangsmaterial von Silizium für Halbleiter und als Ausgangsmaterial von Solarzellen verwendet. Mit der zunehmend starken Verbreitung von Solarzellen ist auch der Bedarf für polykristallines Silizium, bei dem es sich um ein Ausgangsmaterial dafür handelt, angestiegen.
  • Die ursprünglichen Ausgangsmaterialien für die Solar- und für die Halbleiterindustrie sind die gleichen. Allerdings muss das Silizium für die Mikrochips noch hundertmal reiner sein als für eine Solarzelle. Die Solarindustrie bezieht bisher ihr Silizium direkt oder indirekt über Abfälle, die auf dem Verarbeitungsweg zum Wafer entstehen, aus der Halbleiterindustrie.
  • Bis vor wenigen Jahren war der Stand derart, dass für die Versorgung der Solarindustrie mit Silizium die Abfälle aus der Halbleiterindustrie ausreichten. Durch das starke Wachstum der Solarindustrie flossen erhebliche Produktionsmengen an polykristallinem Silizium aus dem Siemensprozess direkt in die Solarindustrie. Trotzdem konnte der Bedarf nicht gedeckt werden, so dass das Wachstum durch mangelnde Silizium-Verfügbarkeit gedrosselt wurde und wird.
  • Der grundsätzliche Fertigungsprozess für das polykristalline Silizium war bislang sowohl für die Elektronik wie für die Solarindustrie fast identisch; er basiert auf dem so genannten Siemens-Verfahren, das vor 50 Jahren erfunden wurde. In diesem Siemens-Verfahren wird polykristallines Silizium mit hoher Reinheit durch Wasserstoffreduktion von Trichlorsilan erhalten. Der grundsätzliche Aufbau eines Siemens-CVD-Reaktors ist bereits in der DE 1 061 593 beschrieben.
  • Ein weiteres etabliertes Verfahren zur Herstellung von Reinstsilizium ist das Wirbelschichtverfahren (fluidized bed deposition) von Wacker. Dabei werden das Trichlorsilan und der Wasserstoff in einen Reaktor geleitet, in dem sich kleine Silizium-Körnchen befinden. Auch hier lagert sich das Silizium an den Körnchen an, doch das Ergebnis sind keine Blöcke von Polysilizium, sondern ein Polysilizium-Granulat.
  • Die Herstellung von Reinstsilizium nach diesen beiden typischen Verfahren ist von W. Zulehner et al. im Fachartikel „Silicon" (VCH Publishers. Inc. Vol. 23 Seite 721 bis 748) beschrieben worden. Eine weitere konzentrierte Darstellung der Prozesse zur Siliziumherstellung hat K. Hesse in „Silizium für die Photovoltaik" (Erneuerbare Energien 7/2206 S. 67–69) zusammengestellt.
  • Beide Verfahren weisen den Nachteil auf, dass als Ausgangsstoff der Siliziumherstellung Trichlorsilan dient, welches ein sehr leicht entflammbarer Stoff ist. Dadurch sind der Transport und das Handling mit Trichlorsilan außerhalb eines geschlossenen Prozesses gefährlich und aufwändig.
  • Beim herkömmlichen Siemens-Verfahren werden Impfstäbe aus reinstem Silizium in einen Reaktor des wassergekühlten Gasglockentyps eingebracht. In der Glocke befinden sich diese Si-Dünnstäbe, die durch direkten Stromdurchgang aufgeheizt werden sollen. Da es sich um hochreines Silizium handelt, müssen entweder sehr hohe elektrische Spannungen im Bereich von 5.000 bis 10.000 Volt angelegt werden, was sehr aufwändig und bisher nicht üblich ist, oder die Si-Dünnstäbe müssen mit externen Wärmequellen auf eine Temperatur von ca. 450°C vorgeheizt werden. Die weitere Aufheizung auf ca. 1.100°C kann dann durch direkten Stromdurchgang mit Spannungen unter 1.500 Volt erfolgen.
  • Trichlorsilan und Wasserstoff als Reduktionsmittel werden in den Reaktor von unten her eingespeist, um das Chlorsilan zu reduzieren, wobei das resultierende Silizium selektiv an den Oberflächen der Si-Dünnstäbe ablagert, wodurch ein stabartiges polykristallines Silizium entsteht. Die so entstandenen Siliziumstäbe können in weiteren Verfahren entsprechend dotiert, zu Kristallen umgearbeitet und anschließend zu Wafern geschnitten werden.
  • In der EP 1392601 wird ein Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium nach dem Siemens-Verfahren beschrieben, bei dem zuerst Trichlorsilan mit Wasserstoff zu Silizium und einer Austrittsmischung, die Tetrachlorsilan und Disilan enthält, umgesetzt wird. Anschließend wird die Austrittsmischung und Wasserstoff in einem Reaktor zugeführt und bei einer Temperatur innerhalb eines Bereichs von etwa 600°C bis etwa 1.200°C erfolgt die Hydrierung des Tetrachlorsilans zu Trichlorsilan und die Umwandlung des Disilans zu Monosilanen. In einem weiteren Verfahrensschritt wird das polykristalline Silizium auf einem erhitzten Siliziumstab durch Reaktion von Trichlorsilan mit Wasserstoff unter Bildung eines Austrittsgases abgeschieden.
  • Ein Nachteil des üblichen Siemens-Verfahrens besteht darin, dass die Dünnstäbe, die aus reinstem Silizium bestehen, durch externe Wärmequellen auf mind. 450°C vorgeheizt werden müssen, damit ihre elektrische Leitfähigkeit so hoch ist, um sie durch direkten Stromdurchgang auf die erforderliche Abscheidetemperatur von ca. 1100°C erwärmen zu können. Deshalb ist ein eigenes aufwendiges Verfahren zur Erwärmung der Dünnstäbe notwendig.
  • In der DE2005100024041 wird ein Verfahren zur Herstellung von Silizium aus Halogensilanen beschrieben. In einem ersten Schritt wird das Halogensilan unter Erzeugung einer Plasmaentladung zu einem halogenierten Polysilan umgesetzt, das nachfolgend in einem zweiten Schritt unter Erhitzen zu Silizium zersetzt wird. Das letztgenannte Verfahren ist ein Ergebnis der Laborforschung und noch nicht großtechnisch eingesetzt und erprobt worden.
  • Aufgabe
  • Ausgehend vom hohen und wachsenden Bedarf an Solarzellen besteht die Aufgabe darin, ein Verfahren anzugeben mit dem polykristallines Silizium zur Herstellung von Solarzellen kostengünstig hergestellt werden kann und die mit diesem Verfahren hergestellten Siliziumstäbe eine derartige Dotierung aufweisen, dass sie direkt in nachfolgenden Prozessen zu einem multikristallinen oder einkristallinen Siliziumkristall weiterverarbeitet werden können.
  • Lösung
  • Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Dabei wird als Ausgangsmaterial Siliziumtetrachlorid eingesetzt, das mit einer handelsüblichen Spezifikation bezogen wird, die für die Herstellung von synthetischem, hochreinem Quarz entwickelt wurde. Es erfolgt keine weitere Reinigung oder Aufbereitung des Siliziumtetrachlorid.
  • In einem ersten Verfahrensschritt wird Siliziumtetrachlorid (STC) zu Trichlorsilan (TCS) umgewandelt.
  • Im nächsten Schritt reagiert das gewonnene Trichlorsilan in einem CVD-Reaktor nach dem Siemensverfahren mit Wasserstoff und Silizium wird an den Si-Dünnstäben abgeschieden. Die erfindungsgemäß verwendeten Si-Dünnstäbe sind, im Gegensatz zu den üblicherweise beim Siemens-Verfahren undotierten Stäben, derart mit Bor und gegebenenfalls mit anderen dotierenden Stoffen dotiert, dass diese eine derartige elektrische Leitfähigkeit aufweisen, dass ein Stromfluss durch die dotierten Si-Dünnstäbe, der durch das Anlegen einer Spannung erfolgt, diese auf die notwendige Abscheidetemperatur aufheizt. Somit ist in der Startphase der Abscheidung keine externe Heizung der Si-Dünnstäbe erforderlich. Bei den herkömmlichen Verfahren bestehen die Dünnstäbe aus reinstem Silizium, die aus reinsten Siliziumstäben für die Halbleiterindustrie hergestellt werden. Diese herkömmlichen Si-Dünnstäbe haben bei Raumtemperatur einen so hohen elektrischen Widerstand, dass kein Stromfluss zustande kommt. Deshalb ist bei den Verfahren nach dem Stand der Technik eine zusätzliche Heizung der Si-Dünnstäbe in der Startphase des CVD-Abscheideprozesses erforderlich.
  • Da die Anforderungen an die Reinheit eines polykristallinen Siliziums für Solaranwendungen um Größenordnungen geringer ist und insbesondere Beimischungen von Bor und anderen Dotierstoffen sowie weiteren nichtmetallischen Elementen unschädlich bzw. sogar gewünscht sind, werden erfindungsgemäß die Si-Dünnstäbe derart dotiert, dass sie eine solche elektrische Leitfähigkeit aufweisen, dass diese sich ausschließlich durch den Stromfluss auf die notwendige Abscheidetemperatur aufheizen.
  • Vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens können den Unteransprüchen entnommen werden.
  • Die verwendeten Si-Dünnstäbe sind derart mit Bor dotiert, dass sie eine elektrische Leitfähigkeit von vorzugsweise 0,05 bis 1 Ohm·cm aufweisen, wodurch ein Stromfluss bei Raumtemperatur ermöglicht wird. Die verwendete Spannung, die zum Zünden des CVD Prozesses an die Si-Dünnstäbe angelegt wird, beträgt vorzugsweise ca. 1000 bis 1400 V.
  • Die Abscheidetemperatur an den Si-Dünnstäben beträgt ca. 1100°C.
  • Vorteilhafterweise können die erfindungsgemäß verwendeten Si-Dünnstäbe mit Bor und gegebenenfalls mit weiteren n-dotierenden Stoffen derart dotiert werden, dass der zum Abschluss des CVD-Prozesses vorliegende fertige Siliziumstab, der zur Herstellung eines Kristallstabes in nachfolgenden Verfahren aufgeschmolzen wird, eine solche „Gesamtdotierung" aufweist, die für die in nachfolgenden Verfahren hergestellten Siliziumkristalle und geschnittenen Wafer gewünscht ist.
  • Aus dem Abgas des CVD-Prozesses, das aus Chlorwasserstoff, Siliziumtetrachlorid sowie nicht umgesetztem Trichlorsilan besteht, wird Trichlorsilan und Siliziumtetrachlorid abgetrennt. Beide Komponenten werden nicht bzw. ausschließlich durch übliche Destillationsprozesse gereinigt und dem Prozess wieder zugeführt. Zusätzliche Prozesse zur Entfernung von Verunreinigungen sind nicht erforderlich.
  • Der nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellte Siliziumstab wird charakterisiert durch die Merkmale des Anspruchs 7. Der nach Abschluss des CVD-Prozesses vorliegende („geerntete") Siliziumstab weist im Querschnitt eine charakteristische Verteilung der elektrischen Leitfähigkeit auf, wobei der Kern des Siliziumstabes, der dem zu Beginn des CVD Prozesses eingesetzten Si-Dünnstabes entspricht, weist eine deutlich höhere elektrische Leitfähigkeit auf während der darum abgeschiedene Siliziumkörper, der aus reinstem Silizium besteht, eine wesentlich geringere elektrische Leitfähigkeit aufweist. Die elektrische Leitfähigkeit des Kernes wird bestimmt durch die Dotierung des Si-Dünnstabes
  • Der fertige Siliziumstab weist
    • • eine Grunddotierung mit Bor auf, die eine elektrischen Leitfähigkeit von 0,5 bis 10 Ohm·cm auf,
    • • eine Dotierung mit anderen n-dotierenden Stoffen auf, die eine elektrische Leitfähigkeit > 1,0 Ohm·cm bewirken,
    • • einen erhöhten Kohlenstoffgehalt auf,
    • • sonstige metallische Verunreinigungen auf, die um den Faktor 100 grösser sind als in herkömmlichen Siliziumstäben.
  • Der zum Abschluss des CVD-Prozesses vorliegende Siliziumstab steht nun als Fertigprodukt zur weiteren Verarbeitung für einen Kristallziehprozess zu einem vorzugsweise multikristallinen oder einkristallinen Siliziumkristall zur Verfügung. Dazu wird dieser gebrochen und aufgeschmolzen. Vorteilhafterweise wird durch eine entsprechende Dotierung des Si-Dünnstabes erreicht, dass diese aus dem erfindungsgemäßen Siliziumstab hergestellte Schmelze nun eine derartige „Gesamtdotierung" aufweist, die für die Herstellung von Wafern für eine Solarzelle erforderlich ist.
  • Die Vorteile des erfindungsgemäßen Verfahrens bestehen insbesondere darin, dass bei dem erfindungsgemäßen Verfahren als Ausgangsprodukt Siliziumtetrachlorid (STC) verwendet wird, das unbrennbar und vergleichsweise mit wenig Aufwand zu transportieren und zu lagern ist. Trichlorsilan, das in Verfahren gemäß dem Stand der Technik verwendet wird, ist dagegen selbstentzündlich und muss demgemäß mit äußerster Vorsicht transportiert und gelagert werden.
  • Hochreines Siliziumtetrachlorid wird in großem Maßstab für die Herstellung von hochreinem synthetischen Quarz (z. B. für Lichtwellenleiter) hergestellt ist deshalb preiswerter und leichter verfügbar.
  • Da das für Solaranwendungen benötigte Silizium bezüglich einiger Stoffe, insbesondere von Dotierstoffen, die im Allgemeinen schwer abzutrennen sind, toleranter ist, können sonst übliche Verfahrensschritte zur Reinigung der Ausgangsstoffe weggelassen werden. Zusätzliche Prozesse zur Entfernung einzelner Verunreinigungen, wie z. B. Komplexierungsverfahren sind nicht notwendig. Dies betrifft insbesondere die aufwändige Entfernung von Bor, das zur Erreichung sehr niedriger Konzentrationen, die bei der Verwendung für die Halbleiterindustrie notwendig ist, kann dagegen bei der Herstellung von Silizium für die Verwendung in Solarzellen entfallen. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird das bezogene Siliziumtetrachlorid direkt, ohne weitere Vorbehandlungen verwendet.
  • Weiterhin kann durch die Dotierung der Si-Dünnstäbe mit Bor erreicht werden, dass die Si-Dünnstäbe eine derartige elektrische Leitfähigkeit aufweisen, dass diese ausschließlich durch die angelegte Spannung die erforderliche Abscheidetemperatur erreichen. Somit können zusätzliche apparative Vorrichtungen zur Aufheizung der Si-Dünnstäbe während der Startphase entfallen.
  • Mit einer entsprechenden Dotierung der Si-Dünnstäbe kann außerdem erreicht werden, dass nachfolgende Dotiervorgänge entfallen können, da der fertige Siliziumstab eine derartige „Gesamtdotierung" aufweist, die für die Herstellung eines polykristallinen oder einkristallinen Siliziumkristalls und zur Weiterverarbeitung zu Wafern für eine Solarzelle erforderlich ist.
  • Ausführungsbeispiel
  • Das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung polykristallinem Silizium für Solaranwendungen wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert.
  • Das angelieferte Siliziumtetrachlorid wird in üblicher Weise in einem Konvertierungsreaktor/Hydrierungsreaktor zu Trichlorsilan umgesetzt. Das gebildete Trichlorsilan und nicht umgesetztes Siliziumtetrachlorid werden nach der Abtrennung aus dem Produktgas ausschließlich durch übliche Destillationsprozesse gereinigt. Das Produktgas hat eine sehr ähnliche Zusammensetzung wie das den Siemens-Reaktor verlassende Abgas, wodurch das Produktgas aus dem Konvertierungsreaktor und das Abgas aus dem Siemens-Reaktor gemeinsam aufbereitet werden können. Der anfallende Wasserstoff wird ebenfalls intern dem Prozess wieder zugeführt.
  • Das gereinigte Trichlorsilan wird nun in einem Siemens-Reaktor durch einen an sich bekannten CVD Prozess umgesetzt, wobei sich reines Silizium an geheizten Si-Dünnstäben abscheidet und das aus Chlorwasserstoff, Siliziumtetrachlorid sowie nicht umgesetztem Trichlorsilan bestehende Abgas den Reaktor verlässt. Dieses Abgas wird anschließend gemeinsam mit dem Produktgas aus dem Konvertierungsreaktor wieder aufbereitet.
  • Erfindungsgemäß werden die Si-Dünnstäbe, die einen Durchmesser von vorzugsweise 5 bis 10 mm haben, derart mit Bor dotiert, dass sie eine elektrische Leitfähigkeit im Bereich von 0,05 bis 1 Ohm/cm aufweisen. Mit dieser elektrischen Leitfähigkeit fließt bei Anlegen einer Spannung von max. 1400 V, vorzugsweise von 1200 V, ein elektrischer Strom, der die Si-Dünnstäbe auf die notwendige Temperatur von ca. 1100°C erwärmt, die erforderlich ist, damit sich reines Silizium an ihnen abscheidet. Während des ca. 4–6 Tage dauernden CVD-Prozesses im Siemens-Reaktor scheidet sich reines polykristallines Silizium an den Si-Dünnstäben ab, bis die Siliziumstäbe einen Durchmesser von ca. 12–20 cm erreicht haben. Die Verwendung von dotierten Si-Dünnstäben ist bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Herstellung von solartauglichem Silizium völlig unkritisch, da das für die Herstellung von Solarzellen benötigte Silizium u. a. mit diesem Element dotiert wird.
  • Das Abgas, das nach der Abscheidung von Silizium in dem CVD-Prozess anfällt, besteht aus Wasserstoff, Chlorwasserstoff, Siliziumtetrachlorid sowie nicht umgesetztem Trichlorsilan. Aus diesem Abgas werden das Siliziumtetrachlorid und das nicht umgesetzte Trichlorsilan abgetrennt und durch übliche Destillationsprozesse gereinigt und dem Prozess wieder zugeführt. Der anfallende Wasserstoff wird ebenfalls intern dem Prozess wieder zugeführt.
  • Ein mit dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellter Siliziumstab weist im Querschnitt eine charakteristische Verteilung der elektrischen Leitfähigkeit auf. Der Kern des Siliziumstabes, entspricht dem zu Beginn des CVD Prozesses eingesetzten dotierten Si-Dünnstab, auf dessen Oberfläche sich reines Silizium abgeschieden hat. Da das abgeschiedene Silizium sehr rein ist und eine sehr geringe elektrische Leitfähigkeit besitzt, weist der dotierte Kern eine deutlich höhere elektrische Leitfähigkeit auf, die vorzugsweise 0,05 bis 1 Ohm·cm beträgt. Die elektrische Leitfähigkeit des Kernes wird bestimmt durch die Dotierung des Si-Dünnstabes. Der fertige Siliziumstab weist
    • • eine Grunddotierung mit Bor auf, die eine elektrischen Leitfähigkeit von 0,5 bis 10 Ohm·cm auf,
    • • eine Dotierung mit anderen n-dotierenden Stoffen auf, die eine elektrische Leitfähigkeit > 1,0 Ohm·cm bewirken,
    • • einen erhöhten Kohlenstoffgehalt zwischen 0,5 und 1,0 ppmw auf,
    • • sonstige metallische Verunreinigungen auf, die um den Faktor 100 größer sind als in herkömmlichen Siliziumstäben.
  • Der zum Abschluss des CVD-Prozesses vorliegende Siliziumstab steht nun als Fertigprodukt zur weiteren Verarbeitung für einen Kristallziehprozess zu einem polykristallinen oder einkristallinen Siliziumkristall zur Verfügung. Vorteilhafterweise kann durch eine entsprechende Dotierung des Si-Dünnstabes erreicht werden, dass der Siliziumstab eine derartige „Gesamtdotierung" aufweist, die für die Herstellung von Wafern für eine Solarzelle erforderlich ist. Da nur der Si-Dünnstab dotiert wurde, sind die Dotierstoffe ungleichmäßig im Siliziumstab verteilt. Da der Siliziumstab zur weiteren Verarbeitung gebrochen und aufgeschmolzen wird, wird erreicht, dass die Dotierstoffe nun in der aus dem erfindungsgemäßen Siliziumstab hergestellte Schmelze nahezu homogen verteilt sind. Durch den sich anschließenden Kristallzüchtungsprozess ist eine homogene Verteilung der Dotierstoffe in dem Kristall, aus dem später die Wafer geschnitten werden, gewährleistet.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 1061593 [0005]
    • - EP 1392601 [0011]
    • - DE 2005100024041 [0013]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • - W. Zulehner et al. im Fachartikel „Silicon" (VCH Publishers. Inc. Vol. 23 Seite 721 bis 748) [0007]
    • - K. Hesse in „Silizium für die Photovoltaik" (Erneuerbare Energien 7/2206 S. 67–69) [0007]

Claims (11)

  1. Verfahren zur Herstellung von polykristalline Siliziumstäben bei dem Trichlorsilan in einem Siemens-Reaktor umgesetzt und Silizium an Dünnstäben abgeschieden wird, dadurch gekennzeichnet, dass als primärer Rohstoff Siliziumtetrachlorid eingesetzt wird, das in einem ersten Verfahrensschritt in Trichlorsilan umgesetzt wird, anschließend das Trichlorsilan zusammen mit Wasserstoff in einen Siemens-Reaktor eingeblasen wird und an dotierten Si-Dünnstäben polykristallines Silizium abgeschieden wird, wobei die Si-Dünnstäbe ausschließlich durch direkten Stromdurchgang beheizt werden.
  2. Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Si-Dünnstäbe derart mit Bor dotiert werden, dass sie einen elektrischen Widerstand von vorzugsweise 0,05 bis 1 Ohm·cm aufweisen
  3. Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zum Zünden des CVD Prozesses eine Spannung von max. 1500 V an die Si-Dünnstäbe angelegt wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Si-Dünnstäbe derart mit Bor dotiert werden, dass der fertige Si-Stab eine derartige Dotierung aufweist, die für die in einem weiteren Verfahrensschritt hergestellten Si-Kristalle gewünscht ist.
  5. Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem Abgas des Siemens-Prozesses, das aus Wasserstoff, Chlorwasserstoff, Siliziumtetrachlorid sowie nicht umgesetztem Trichlorsilan besteht, das Siliziumtetrachlorid und das Trichlorsilan abgetrennt werden, beide Komponenten ungereinigt oder ausschließlich durch übliche Destillationsprozesse gereinigt und dem Prozess wieder zugeführt werden.
  6. Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem Produktgas, das bei der Umsetzung von Siliziumtetrachlorid in Trichlorsilan aus dem Konvertierungsreaktor/Hydrierungsreaktor austritt, das Siliziumtetrachlorid und das Trichlorsilan abgetrennt werden, beide Komponenten ungereinigt oder ausschließlich durch übliche Destillationsprozesse gereinigt und dem Prozess wieder zugeführt werden.
  7. Siliziumstab der mit dem Verfahren nach Anspruch 1 hergestellt wurde, dadurch gekennzeichnet, dass der Si-Stab im Querschnitt eine charakteristische Verteilung der elektrischen Leitfähigkeit aufweist, wobei der Kern des Si-Stabes, der dem Si-Dünnstab zu Beginn des CVD Prozesses entspricht, eine deutlich höhere elektrische Leitfähigkeit aufweist und die elektrische Leitfähigkeit des Kernes durch die Dotierung des Si-Dünnstabes bestimmt wird.
  8. Siliziumstab nach Anspruch 7 dadurch gekennzeichnet, dass der Si-Stab eine derartige Grunddotierung mit Bor aufweist, die eine elektrische Leitfähigkeit 0,5 von bis 10 Ohm·cm bewirkt.
  9. Siliziumstab nach Anspruch 7 dadurch gekennzeichnet, dass der Si-Stab eine derartige Dotierung mit anderen n-dotierenden Stoffen aufweist, die eine elektrische Leitfähigkeit > 1,0 Ohm·cm bewirkt.
  10. Siliziumstab nach Anspruch 7 dadurch gekennzeichnet, dass die sonstigen metallischen Verunreinigungen im Si-Stab um den Faktor 100 größer sind als in herkömmlichen Si-Stäben, die mit Verfahren nach dem Stand der Technik hergestellt worden sind.
  11. Siliziumstab nach Anspruch 7 dadurch gekennzeichnet, dass die Dotierung des Si-Stabes der gewünschten Dotierung eines herzustellenden Siliziumkristalls entspricht.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010032103A1 (de) * 2010-07-23 2012-01-26 Centrotherm Sitec Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Zünden von Siliziumstäben außerhalb eines CVD-Reaktors
AT13092U1 (de) * 2012-03-08 2013-06-15 Silcontec Gmbh Laborreaktor
US10392725B2 (en) 2017-09-19 2019-08-27 Frank Asbeck Method for depositing silicon feedstock material, silicon wafer, solar cell and PV module

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1061593B (de) 1956-06-25 1959-07-16 Siemens Ag Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke
DE1283814B (de) * 1965-01-20 1968-11-28 Siemens Ag Verfahren zur Stabilisierung der elektrischen Leitfaehigkeit von Silicium
DE2116746A1 (de) * 1971-04-06 1972-10-19 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb einer elektrischen Niederschlagsanlage zum Herstellen von insbesondere aus Silicium bestehenden Halbleiterstäben
EP0133209A2 (de) * 1983-07-18 1985-02-20 Motorola, Inc. Verfahren zur Herstellung von Trichlorosilan und Vorrichtung
DE3519632A1 (de) * 1984-06-07 1986-01-02 Wedtech Corp., Bronx, N.Y. Verfahren und vorrichtung fuer das ziehen von monokristallinen siliziumstaeben
US4836997A (en) * 1982-07-26 1989-06-06 Rhone-Poulenc Specialites Chimiques Plasma production of trichorosilane, SiHCl3
DE19534922C1 (de) * 1995-09-21 1997-02-20 Wacker Chemie Gmbh Verfahren zur Herstellung von Trichlorsilan und Silicium
DE19654154A1 (de) * 1995-12-25 1997-06-26 Tokuyama Corp Verfahren zur Herstellung von Trichlorsilan
EP1392601A1 (de) 2001-06-08 2004-03-03 Hemlock Semiconductor Corporation Verfahren zur herstellung von polykristallinem silizium
DE19502550B4 (de) * 1994-01-28 2005-06-30 Hemlock Semiconductor Corp., Hemlock Verbessertes Verfahren zur Hydrierung von Tetrachlorsilan
DE102005024041A1 (de) 2005-05-25 2006-11-30 City Solar Ag Verfahren zur Herstellung von Silicium aus Halogensilanen
DE60219497T2 (de) * 2001-10-19 2008-01-03 Tokuyama Corp., Shunan Verfahren zur herstellung von silicium

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2253411C3 (de) * 1972-10-31 1978-06-08 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Verfahren zum Herstellen von aus Halbleitermaterial bestehenden, direkt beheizbaren Hohlkörpern für Diffusionszwecke
DE2447691C2 (de) * 1974-10-07 1982-08-26 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum Herstellen von reinem Silicium
DE2554399C3 (de) * 1975-12-03 1979-09-06 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Verfahren zum Herstellen von aus Silicium oder Siliciumcarbid bestehenden, direkt-beheizbaren Rohren
DE102004038718A1 (de) * 2004-08-10 2006-02-23 Joint Solar Silicon Gmbh & Co. Kg Reaktor sowie Verfahren zur Herstellung von Silizium

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1061593B (de) 1956-06-25 1959-07-16 Siemens Ag Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke
DE1283814B (de) * 1965-01-20 1968-11-28 Siemens Ag Verfahren zur Stabilisierung der elektrischen Leitfaehigkeit von Silicium
DE2116746A1 (de) * 1971-04-06 1972-10-19 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb einer elektrischen Niederschlagsanlage zum Herstellen von insbesondere aus Silicium bestehenden Halbleiterstäben
US4836997A (en) * 1982-07-26 1989-06-06 Rhone-Poulenc Specialites Chimiques Plasma production of trichorosilane, SiHCl3
EP0133209A2 (de) * 1983-07-18 1985-02-20 Motorola, Inc. Verfahren zur Herstellung von Trichlorosilan und Vorrichtung
DE3519632A1 (de) * 1984-06-07 1986-01-02 Wedtech Corp., Bronx, N.Y. Verfahren und vorrichtung fuer das ziehen von monokristallinen siliziumstaeben
DE19502550B4 (de) * 1994-01-28 2005-06-30 Hemlock Semiconductor Corp., Hemlock Verbessertes Verfahren zur Hydrierung von Tetrachlorsilan
DE19534922C1 (de) * 1995-09-21 1997-02-20 Wacker Chemie Gmbh Verfahren zur Herstellung von Trichlorsilan und Silicium
DE19654154A1 (de) * 1995-12-25 1997-06-26 Tokuyama Corp Verfahren zur Herstellung von Trichlorsilan
EP1392601A1 (de) 2001-06-08 2004-03-03 Hemlock Semiconductor Corporation Verfahren zur herstellung von polykristallinem silizium
DE60219497T2 (de) * 2001-10-19 2008-01-03 Tokuyama Corp., Shunan Verfahren zur herstellung von silicium
DE102005024041A1 (de) 2005-05-25 2006-11-30 City Solar Ag Verfahren zur Herstellung von Silicium aus Halogensilanen

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
K. Hesse in "Silizium für die Photovoltaik" (Erneuerbare Energien 7/2206 S. 67-69)
W. Zulehner et al. im Fachartikel "Silicon" (VCH Publishers. Inc. Vol. 23 Seite 721 bis 748)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010032103A1 (de) * 2010-07-23 2012-01-26 Centrotherm Sitec Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Zünden von Siliziumstäben außerhalb eines CVD-Reaktors
DE102010032103B4 (de) * 2010-07-23 2012-07-26 Centrotherm Sitec Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Zünden von Siliziumstäben außerhalb eines CVD-Reaktors
US9255325B2 (en) 2010-07-23 2016-02-09 Centrotherm Sitec Gmbh Method and apparatus for igniting silicon rods outside a CVD-reactor
AT13092U1 (de) * 2012-03-08 2013-06-15 Silcontec Gmbh Laborreaktor
US10392725B2 (en) 2017-09-19 2019-08-27 Frank Asbeck Method for depositing silicon feedstock material, silicon wafer, solar cell and PV module

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