DE102006016246A1 - Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung, integrierte Schaltungskarte und Betriebsverfahren - Google Patents

Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung, integrierte Schaltungskarte und Betriebsverfahren Download PDF

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Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung in einer integrierten Schaltungskarte, auf eine integrierte Schaltungskarte mit einer solchen Schaltung und auf ein zugehöriges Betriebsverfahren. DOLLAR A Erfindungsgemäß umfasst ein integriertes Schaltungskartensubstrat eine Mehrzahl von Detektoren (1111 bis 1116), um jeweils eine korrespondierende abnormale Bedingung in der IC-Karte zu detektieren, eine Mehrzahl von Monitorregistern (1201 bis 1206), um jeweils ein korrespondierendes Detektionssignal (VDET, FDET, TDET, LDET, DDET, GDET) zu empfangen und zu speichern, eine Mehrzahl von Steuerregistern (1301 bis 1306), eine Detektionssignalgeneratorschaltung (140), um in Reaktion auf Signale von den Monitorregistern und den Steuerregistern ein erstes Detektionssignal (DET) zu erzeugen, und eine Signalsteuerschaltung (150), um in Reaktion auf ein Interruptsteuersignal und das erste Detektionssignal (DET) ein Rücksetzfreigabesignal (REN) und ein Interruptfreigabesignal (IEN) auszugeben, wobei das Rücksetzfreigabesignal (REN) und das Interruptsteuersignal entgegengesetzte Phasen aufweisen und das Interruptfreigabesignal (IEN) mit dem Interruptsteuersignal in Phase ist. DOLLAR A Verwendung z. B. in der Smartcard-Technologie.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung in einer integrierten Schaltungskarte, auf eine zugehörige integrierte Schaltungskarte und auf ein zugehöriges Betriebsverfahren.
  • Smartcards, welche auch als integrierte Schaltungskarten (IC-Karten) bezeichnet werden, sind allgemein bekannte tragbare Datenverarbeitungsbauelemente mit einer eingebauten zentralen Prozessoreinheit (CPU). Eine IC-Karte umfasst allgemein ein IC-Kartensubstrat, in welchem IC-Kartenbauelemente integriert sind. Zudem kann eine IC-Karte eine Schaltung, welche eine abnormale Bedingung in der Smartcard detektiert, und einen Rücksetzsignalgenerator umfassen, der ein Rücksetzsignal zum Zurücksetzen des Gesamtbetriebs der Smartcard in Reaktion auf ein von der Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung abgegebenes Signal erzeugt, so dass Schäden für die Smartcard durch Änderung der äußeren Umgebungsbedingungen reduziert oder verhindert werden und/oder Sicherheitsverletzungen verhindert werden.
  • 1 zeigt im Blockdiagramm eine herkömmliche Smartcard 10. Unter Bezugnahme auf 1 umfasst die Smartcard 10, welche als IC-Karte oder Chip ausgeführt ist, ein IC-Kartensubstrat 28, welches aus Papiermaterial und/oder Kunststoff hergestellt ist. Im Substrat 28 sind eine CPU 12, ein Speicher mit direktem Zugriff (RAM) 14, ein Nur-Lesespeicher (ROM) 16, ein nichtflüchtiger Speicher 18, eine Peripherieschaltung 20 und eine Sicherheitsschaltung 22 enthalten. Der nichtflüchtige Speicher 18 kann als EEPROM (elektrisch lösch- und programmierbarer ROM) realisiert sein.
  • Die CPU 12 führt ein Betriebssystemprogramm (OS-Programm) aus. Der RAM 14 speichert Daten, welche erzeugt werden, wenn die CPU 12 das OS-Programm ausführt. Der ROM 16 speichert das OS-Programm und andere Programme. Der nichtflüchtige Speicher 18 speichert gesteuert von der CPU 12 verschiedene Applikationsprogramme und vorbestimmte Daten.
  • Die Sicherheitsschaltung 22 umfasst einen Detektor 24 einer abnormalen Bedingung und einen Rücksetzsignalgenerator 26. Wenn wenigstens eine Umgebungsbedingung, wie Spannung, Frequenz, Temperatur, Licht usw., der CPU 12 oder der Smartcard 10, in welche die CPU 12 implementiert ist, nicht in einen vorbestimmten Bereich fällt, z.B. in einen Spezifikationsbereich, detektiert der Detektor 24 diese wenigstens eine Umgebungsbedingung, erzeugt ein Detektionssignal DET als Detektionsergebnis und gibt das Detektionssignal DET an die CPU 12 und den Rücksetzsignalgenerator 26 aus. Dann erkennt die CPU 12 in Reaktion auf das Detektionssignal DET, dass die wenigstens eine abnormale Bedingung in der Smartcard 10 vorliegt.
  • Der Rücksetzsignalgenerator 26 erzeugt ein Rücksetzsignal RST zum Zurücksetzen der CPU 12, des nichtflüchtigen Speichers 18 und der Peripherieschaltung 20 in Reaktion auf das Detektionssignal DET.
  • Eine Smartcard, wie sie in 1 dargestellt ist, wird direkt zurückgesetzt, wenn eine durch eine Veränderung der internen und/oder externen Umgebung verursachte abnormale Bedingung detektiert wird. Da die Smartcard zurückgesetzt wird, erfährt ein Benutzer im Allgemeinen nichts über die abnormale Bedingung, welche bewirkt, dass die Smartcard 10 zurückgesetzt wird, noch können die im RAM 14 als einem nichtflüchtigen Speicher gespeicherten Daten zurückgewonnen werden, da die Daten nach dem Zurücksetzen initialisiert werden.
  • In den Offenlegungsschriften KR 10-0471147, KR 10-2004-0106075 und JP 2003-021797 A und der Patentschrift US 5.465.349 werden Schaltungen für IC-Karten beschrieben, die es ermöglichen, Detektionsinformation und/oder andere Informationen vor einem Zurücksetzen zu speichern.
  • Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung in einer integrierten Schaltungskarte, eine integrierte Schaltungskarte und ein Betriebsverfahren anzugeben, welche die oben genannten Unzulänglichkeiten des Standes der Technik wenigstens teilweise vermeiden und insbesondere erweiterte Funktionalitäten im Fall einer detektierten abnormalen Bedingung ermöglichen.
  • Die Erfindung löst diese Aufgabe durch eine Schaltung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1, durch eine integrierte Schaltungskarte mit den Merkmalen des Patentanspruchs 6 und durch ein Betriebsverfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 10.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
  • Die Erfindung stellt eine integrierte Schaltungskarte mit einer zentralen Prozessoreinheit (CPU), welche in der Lage ist, die CPU nicht nur zurückzusetzen, sondern auch einen Interrupt zu erzeugen, der es der CPU erlaubt, verschiedene erwünschte Vorgänge auszuführen, wenn eine abnormale Bedingung auf der IC-Karte detektiert wird, und ein Verfahren zum Betrieb der CPU zur Verfügung. Die Erfindung stellt auch eine Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung zur Verfügung, welche basierend auf einem Interruptsteuersignal in der Lage ist, eine Aktivierung/Deaktivierung eines Detektionssignals zu steuern, das eine abnormale Bedingung anzeigt, die auf der IC-Karte mit CPU detektiert wurde.
  • Die Erfindung beinhaltet zudem eine IC-Karte mit einer eingebauten CPU, wobei die IC-Karte in der Lage ist, die CPU nicht nur zurückzusetzen, sondern auch einen Interrupt zu erzeugen, wenn eine abnormale Bedingung auf der IC-Karte detektiert wird. Die IC-Karte umfasst ein IC-Kartensubstrat, welches die CPU, einen nichtflüchtigen Speicher, eine Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung und einen Rücksetzsignalgenerator trägt.
  • Vorteilhafte, nachfolgend beschriebene Ausführungsformen der Erfindung sowie das zu deren besserem Verständnis oben erläuterte, herkömmliche Ausführungsbeispiel sind in den Zeichnungen dargestellt. Es zeigen:
  • 1 ein Blockdiagramm einer herkömmlichen Smartcard,
  • 2 ein Blockdiagramm einer Smartcard gemäß der Erfindung,
  • 3 ein Schaltbild einer Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung aus 2 gemäß der Erfindung und
  • 4 ein Flussdiagramm von Betriebsvorgängen einer Smartcard gemäß der Erfindung.
  • Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die 2 bis 4 näher erläutert. Selbstverständlich können ein Block und/oder eine Kombination von Blöcken in den 2 bis 4 wenigstens teilweise als Computerprogrammanweisungen implementiert werden. Diese Computerprogrammanweisungen können einem oder mehreren Unternehmen, Applikationen, persönlichen, verbreiteten und/oder eingebetteten Computersystemen zur Verfügung gestellt werden, so dass die Anweisungen, welche von dem jeweiligen Computersystem ausgeführt werden, Mittel, Module, Bauelemente und/oder Verfahren zum Implementieren von Funktionen/Vorgängen kreieren, welche durch den entsprechenden Block z.B. eines Block- oder Flussdiagramms definiert werden. In anderen Ausführungsformen können Kombinationen von allgemeinen Computersystemen und/oder spezieller Hardware verwendet werden.
  • Diese Computerprogrammanweisungen können auch in Speichern von Computersystemen gespeichert werden, welche das Computersystem leiten, um in einer vorgegebenen Weise zu funktionieren, so dass die im Speicher gespeicherten Anweisungen ein Herstellungsprodukt produzieren, einschließlich eines computerlesbaren Programmcodes, welcher die in den Blöcken spezifizierten Funktionen/Vorgänge implementiert. Zudem können die Computerprogrammanweisungen in das Computersystem geladen werden, so dass eine Ausführung einer Reihe von Funktionsschritten durch das Computersystem bewirkt wird, um einen computerimplementierten Prozess zu erzeugen, so dass die vom Prozessor ausgeführten Anweisungen Schritte zur Implementierung der durch die Blöcke spezifizierten Funktionen/Vorgänge zur Verfügung stellen. Ent sprechend unterstützen ein oder mehrere vorgegebene Blöcke der Block- und/oder Flussdiagramme Verfahren, Computerprogrammprodukte und/oder Systeme.
  • Zudem können in einigen alternativen Ausführungsformen die Funktionen/Vorgänge, welche in den Flussdiagrammen auftreten, in einer anderen Reihenfolge ausgeführt werden. So können beispielsweise zwei hintereinander liegende Blöcke, in Abhängigkeit von ihrem Inhalt, in umgekehrter Reihenfolge ausgeführt werden. Außerdem kann die Funktionalität von einem oder mehreren Blöcken getrennt und/oder mit der Funktionalität von anderen Blöcken kombiniert werden.
  • Es versteht sich, dass ein Element direkt mit einem anderen Element oder über Zwischenelemente mit dem anderen Element gekoppelt sein kann, wenn in der Beschreibung angegeben wird, dass ein Element mit einem anderen Element „verbunden" oder „gekoppelt" ist. Im Gegensatz dazu beschreiben die Ausdrücke „direkt verbunden" bzw. „direkt gekoppelt" jeweils Zustände, bei welchen ein Element ohne Zwischenelemente mit einem anderen Element verbunden bzw. gekoppelt ist. In den Zeichnungen bezeichnen gleiche Bezugszeichen Elemente bzw. Komponenten, welche gleiche bzw. analoge Funktionen ausführen.
  • 2 zeigt eine Smartcard 30 gemäß der Erfindung. Die Smartcard 30 umfasst ein Smartcardsubstrat (IC-Kartensubstrat) 28, welches aus Papiermaterial und/oder Kunststoff hergestellt sein kann. Im Substrat 28 sind eine zentrale Prozessoreinheit (CPU) 12, ein Speicher mit direktem Zugriff (RAM) 14, ein Nur-Lesespeicher (ROM) 16, ein nichtflüchtiger Speicher 18, eine Peripherieschaltung 20 und eine Sicherheitsschaltung 100 enthalten.
  • Die Sicherheitsschaltung 100 umfasst eine Schaltung 110 zum Detektieren einer abnormalen Bedingung und einen Rücksetzsignalgenerator 26.
  • Wenn wenigstens eine interne/externe Bedingung, wie Spannung, Frequenz, Temperatur, Licht, Beseitigung einer Schutzschicht, Störimpulse usw., der Smartcard 30 nicht in einen vorbestimmten Bereich fällt, z.B. in einen Spezifikationsbereich, detektiert die Schaltung 110 diese wenigstens eine abnormale Bedingung, erzeugt ein Detektionssignal, erzeugt in Reaktion auf ein Steuersignal und das Detektionssignal ein Rücksetzfreigabesignal REN und ein Interruptfreigabesignal IEN, gibt das Rücksetzfreigabesignal REN an die CPU 12 und den Rücksetzsignalgenerator 26 aus und gibt das Interruptfreigabesignal IEN an die CPU 12 aus.
  • Obwohl die Schaltung 110 die wenigstens eine abnormale Bedingung detektiert, ist die CPU 12 in der Lage, in Reaktion auf das Interruptfreigabesignal IEN nicht nur einen Rücksetzvorgang, sondern auch andere Aufgaben auszuführen.
  • 3 zeigt eine mögliche Realisierung der Schaltung 110 zum Detektieren einer abnormalen Bedingung aus 2 gemäß der Erfindung. Unter Bezugnahme auf 3 umfasst die Schaltung 110 eine Mehrzahl von Detektoren 1111 bis 1116, z.B. einen Spannungsdetektor 1111, einen Frequenzdetektor 1112, einen Temperaturdetektor 1113, einen Lichtdetektor 1114, einen Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 und/oder einen Störimpulsdetektor 1116, und eine Freigabesignalgeneratorschaltung 120.
  • Der Spannungsdetektor 1111 detektiert einen Fall, in welchem eine externe Spannung nicht in einen vorgegebenen Spannungsbereich fällt, und erzeugt ein entsprechendes Detektionsergebnis in Form eines Detektionssignals VDET. Der Frequenzdetektor 1112 detektiert einen Fall, in welchem eine externe Eingabefrequenz nicht in einen vorgegebenen Frequenzbereich fällt, und erzeugt ein entsprechendes Detektionsergebnis in Form eines Detektionssignals FDET. Der Temperaturdetektor 1113 detektiert einen Fall, in welchem eine externe Eingabetemperatur nicht in einen vorgegebenen Temperaturbereich fällt, und erzeugt ein entsprechendes Detektionsergebnis in Form eines Detektionssignals TDET. Der Lichtdetektor 1114 detektiert einen Fall, in welchem ein externes Eingabelicht nicht in einen vorgegebenen Lichtbereich fällt, und erzeugt ein entsprechendes Detektionsergebnis in Form eines Detektionssignals LDET. Der Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 detektiert einen Fall, in welchem eine Schutzschicht, wie eine Siliziumoxidschicht usw., von der Oberfläche der Smartcard 30 oder eines Chips entfernt wird, und erzeugt ein entsprechendes Detektionsergebnis in Form eines Detektionssignals DDET. Der Störimpulsdetektor 1116 detektiert, ob Fehlfunktionen der Smartcard 30 oder eines Chips aufgrund von externem Eingaberauschen auftreten, und erzeugt ein entsprechendes Detektionsergebnis in Form eines Detektionssignals GDET.
  • Zur Vereinfachung der Beschreibung zeigt 3, dass die Smartcard 30 den Spannungsdetektor 1111, den Frequenzdetektor 1112, den Temperaturdetektor 1113, den Lichtdetektor 1114, den Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 und/oder den Störimpulsdetektor 1116 umfasst. Die Arten von Detektoren, welche in der Smartcard 30 enthalten sind, sind jedoch nicht hierauf begrenzt. Die Smartcard 30 kann verschiedene Detektorarten zum Detektieren von Angriffen durch Unbefugte und/oder von abnormalen Betriebsbedingungen umfassen, welche Kombinationen und Teilkombinationen der Detektoren 1111 bis 1116 und/oder anderer Detektoren umfassen. Zudem sei angenommen, dass, wenn interne/externe Bedingungen, wie Spannung, Frequenz, Temperatur, Licht, Entfernen einer Schutzschicht, Störimpulse usw., der Smartcard 10 nicht in vorbestimmte Bereiche fallen, der Spannungsdetektor 1111, der Frequenzdetektor 1112, der Temperaturdetektor 1113, der Lichtdetektor 1114, der Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 und der Störimpulsdetektor 1116 das betreffende Detektionssignal VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und GDET jeweils mit einem hohen Pegel oder einem logischen Wert „1" erzeugen.
  • Die Freigabesignalgeneratorschaltung 120 erzeugt das Rücksetzfreigabesignal REN und das Interruptfreigabesignal IEN in Reaktion auf ein in einer Speicherschaltung 1501 gespeichertes Interruptsteuersignal und dem jeweiligen Detektionssignal VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und/oder GDET, das vom Spannungsdetektor 1111, vom Frequenzdetektor 1112, vom Temperaturdetektor 1113, vom Lichtdetektor 1114, vom Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 bzw. vom Störimpulsdetektor 1116 ausgegeben wird. Die Freigabesignalgeneratorschaltung 120 umfasst eine Mehrzahl von Monitorregistern 1201 bis 11206, eine Mehrzahl von Steuerregistern 1301 bis 1306, eine Detektionssignalgeneratorschaltung 140 und eine Signalsteuerschaltung 150.
  • Die Monitorregister 1201 bis 1206 empfangen und speichern je eines der Detektionssignale VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und GDET, die vom Spannungsdetektor 1111, vom Frequenzdetektor 1112, vom Temperaturdetektor 1113, vom Lichtdetektor 1114, vom Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 bzw. vom Störimpulsdetektor 1116 ausgegeben werden. Das bedeutet, dass die Monitorregister 1201 bis 1206 das jeweilige Detektionssignal VDET, FDET, TDET, LDET, DDET bzw. GDET speichern, das erzeugt wird, wenn der korrespondierende Spannungsdetektor 1111, Frequenzdetektor 1112, Temperaturdetektor 1113, Lichtdetektor 1114, Schutzschichtentfernungsdetektor 1115 bzw. Störimpulsdetektor 1116 arbeitet.
  • Die Steuerregister 1301 bis 1306 speichern Daten zum Steuern der Aktivierung von Signalen, welche jeweils vom korrespondierenden Monitorregister 1201 bis 1206 ausgegeben werden. Jedes der Steuerregister 1301 bis 1306 kann auf einen hohen Pegel oder einen niedrigen Pegel bzw. einen logischen Wert „0" gesetzt werden. Wenn das Steuerregister 1301 beispielsweise auf einen niedrigen Pegel gesetzt ist, ist ein von einem UND-Gatter 1401 ausgegebenes Signal auf einem niedrigen Pegel, unabhängig von einem Pegel, welcher vom Spannungsdetektor 1111 ausgegeben wird. In anderen Worten ausgedrückt, wenn das Steuerregister 1301 auf den niedrigen Pegel gesetzt ist, ist es möglich, den gleichen Effekt zu erzielen, wie wenn der Spannungsdetektor 1111 deaktiviert ist.
  • Die Detektionssignalgeneratorschaltung 140 umfasst eine Mehrzahl von UND-Gattern 1401 bis 1406 und ein ODER-Gatter 1407. Die UND-Gatter 1401 bis 1406 empfangen Signale, welche von den korrespondierenden Monitorregistern 1201 bis 1206 und von den korrespondierenden Steuerregistern 1301 bis 1306 ausgegeben werden, führen jeweils eine UND-Verknüpfung aus und geben die Verknüpfungsergebnisse an das ODER-Gatter 1407 aus. Das ODER-Gatter 1407 empfängt die Verknüpfungsergebnisse der UND-Gatter 1401 bis 1406, führt eine ODER-Verknüpfung aus und gibt das Verknüpfungsergebnis als ein erstes Detektionssignal DET aus.
  • Die Signalsteuerschaltung 150 umfasst eine Speicherschaltung 1501, einen Inverter 1502, eine Rücksetzfreigabesignalgeneratorschaltung 1503 und eine Interruptfreigabesignalgeneratorschaltung 1504. Die Speicherschaltung 1501 kann als Register oder Zwischenspeicher ausgeführt sein und speichert das Interruptsteuersignal zum Steuern des Pegels des ersten Detektionssignals DET, welches vom ODER-Gatter 1407 zugeführt wird.
  • Der Inverter 1502 invertiert ein von der Speicherschaltung 1501 ausgegebenes Signal, wie das Interruptsteuersignal. Die Rücksetzfreigabesignalgeneratorschaltung 1503 kann als UND-Gatter ausgeführt sein und erzeugt in diesem Fall das Rücksetzfreigabesignal REN durch Ausführen einer UND-Verknüpfung mit dem ersten Detektionssignal DET, wel ches vom ODER-Gatter 1407 ausgegeben wird, und einem Signal, welches vom Inverter 1502 ausgegeben wird. Die CPU 12 erkennt basierend auf dem Rücksetzfreigabesignal REN, dass in der Smartcard 30 eine abnormale Bedingung aufgetreten ist.
  • Die Interruptfreigabesignalgeneratorschaltung 1504 erzeugt das Interruptfreigabesignal IEN durch Ausführen einer UND-Verknüpfung mit dem von der Speicherschaltung 1501 ausgegebenen Signal und dem ersten Detektionssignal DET, das vom ODER-Gatter 1407 ausgegeben wird.
  • 4 veranschaulicht im Flussdiagramm Betriebsvorgänge der Smartcard gemäß der Erfindung. Nun wird unter Bezugnahme auf die 2 bis 4 die Funktionsweise der Smartcard 30 näher erläutert.
  • Zuerst detektiert, wenn im Block 410 wenigstens eine abnormale Bedingung, wie Spannung, Frequenz, Temperatur, Licht, Entfernen einer Schutzschicht, Störimpuls usw., in der Smartcard 30 auftritt, die nicht in vorbestimmte Bereiche fällt, im Block 420 ein korrespondierender Detektor 1111, 1112, 1113, 1114, 1115 und/oder 1116, dass die wenigstens eine abnormale Bedingung aufgetreten ist, und gibt das zugehörige Detektionssignal mit hohem Pegel bzw. dem logischen Wert „1" aus. Die Monitorregister 1201 bis 1206 empfangen und speichern die Detektionssignale VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und/oder GDET, die von den korrespondierenden Detektoren 1111 bis 1116 ausgegeben werden.
  • Wenn die Steuerregister 1301 bis 1306 auf einen hohen Pegel gesetzt sind (logischer Wert „1"), was bedeutet, dass sie im Abfrageblock 430 freigegeben sind, geben die UND-Gatter 1401 bis 1406 die Detektionssignale VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und/oder GDET ohne Pegelveränderung aus, die jeweils in den korrespondierenden Monitorregistern 1201 bis 1206 gespeichert sind.
  • Wenn jedoch die Steuerregister 1301 bis 1306 auf einen niedrigen Pegel (logischer Wert „0") gesetzt sind, was bedeutet, dass sie im Abfrageblock 430 gesperrt sind, geben die UND-Gatter 1401 bis 1406 alle Detektionssignale VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und/oder GDET auf niedrigem Pegel aus. In diesem Fall ist das vom ODER-Gatter 1407 ausgegebene erste Detektionssignal DET auf niedrigem Pegel. Daher sind das Rücksetzfreigabesignal REN und das Interruptfreigabesignal IEN unabhängig davon, ob die Speicherschaltung 1501 im Abfrageblock 440 auf einem hohen Pegel oder einem niedrigen Pegel ist, beide auf niedrigem Pegel.
  • Entsprechend gibt der Rücksetzsignalgenerator 26 das Rücksetzsignal RST in Reaktion auf den niedrigen Pegel des Rücksetzfreigabesignals REN mit niedrigem Pegel aus. Daher werden die CPU 12, der nichtflüchtige Speicher 18 und die Peripherieschaltung 20 nicht zurückgesetzt,.
  • Das bedeutet, dass, wenn die Steuerregister 1301 bis 1306 gesperrt sind, der Betrieb der Smartcard 30 im Block 441 nicht beeinflusst wird, selbst wenn die korrespondierenden Detektoren 1111 bis 1116 eine abnormale Bedingung detektieren. Entsprechend arbeitet die Smartcard 30 normal.
  • Wenn die Steuerregister 1301 bis 1306 im Block 430 jedoch auf einen hohen Pegel gesetzt sind, d.h. freigegeben sind, geben die UND-Gatter 1401 bis 1406 die Detektionssignale VDET, FDET, TDET, LDET, DDET und/oder GDET so weiter, wie sie von den korrespondierenden Detektoren 1111 bis 1116 ausgegeben werden, und daher ist die Signalausgabe des ODER-Gatters 1407 auf einem hohen Pegel.
  • Deshalb gibt, wenn die Speicherschaltung 1501 oder das Interruptsteuerregister im Abfrageblock 450 auf niedrigen Pegel gesetzt ist, d.h. ge sperrt ist, die Rücksetzfreigabesignalgeneratorschaltung 1503 das Rücksetzfreigabesignal REN mit hohem Pegel an die CPU 12 und den Rücksetzsignalgenerator 26 aus, und die Interruptfreigabesignalgeneratorschaltung 1504 gibt das Interruptfreigabesignal IEN mit niedrigem Pegel an die CPU 12 aus. Der Rücksetzsignalgenerator 26 erzeugt im Block 451 in Reaktion auf das Rücksetzfreigabesignal REN das Rücksetzsignal RST mit hohem Pegel, und daher werden die CPU 12, der nichtflüchtige Speicher 18, wie ein EEPROM, und die Peripherieschaltung 20 in Reaktion auf das Rücksetzsignal RST im Block 453 zurückgesetzt.
  • Wenn jedoch die Speicherschaltung 1501 im Block 450 auf hohen Pegel gesetzt ist, d.h. wenn sie freigegeben ist, gibt die Rücksetzfreigabesignalgeneratorschaltung 1503 das Rücksetzfreigabesignal REN mit niedrigem Pegel an die CPU 12 und den Rücksetzsignalgenerator 26 aus, und die Interruptfreigabesignalgeneratorschaltung 1504 gibt das Interruptfreigabesignal IEN mit hohem Pegel an die CPU 12 aus.
  • Wenn die Speicherschaltung 1501 auf den hohen Pegel gesetzt und das erste Detektionssignal DET aktiviert ist, sind das Rücksetzfreigabesignal REN und das Interruptfreigabesignal IEN komplementäre Signale. Daher erzeugt der Rücksetzsignalgenerator 26 in Reaktion auf das Rücksetzfreigabesignal REN mit niedrigem Pegel das Rücksetzsignal RST mit niedrigem Pegel und die CPU 12, der nichtflüchtige Speicher 18, wie ein EEPROM, und die Peripherieschaltung 20 werden nicht zurückgesetzt. In diesem Fall wird die CPU 12, da sie im Block 452 vom Interruptfreigabesignal IEN mit hohem Pegel unterbrochen wird, nicht zurückgesetzt und ist in der Lage, im Block 454 eine gewünschte Aufgabe auszuführen. Daher können ein Benutzer und/oder die CPU 12 eine abnormale Bedingung überprüfen, die in der Smartcard 30 aufgetreten ist.
  • Wenn eine abnormale Bedingung detektiert wird, setzt der Rücksetzsignalgenerator 26 der herkömmlichen Smartcard 10 die CPU 12 direkt durch Ausgabe des von der CPU 12 aktivierten Rücksetzsignals RST zurück. Im Gegensatz dazu kann der Rücksetzsignalgenerator 26 der Smartcard 30 mit der Schaltung 110 zum Detektieren einer abnormalen Bedingung gemäß der Erfindung das Rücksetzsignal RST ausgeben, welches basierend auf einem in der Speicherschaltung 1501 gespeicherten Interruptsteuersignal, das z.B. den logischen Wert „1" oder „0" annimmt, aktiviert oder deaktiviert wird, auch wenn eine abnormale Bedingung detektiert wird. Entsprechend ist es möglich, dass die CPU 12 nicht zurückgesetzt oder unterbrochen wird, obwohl wenigstens einer der Detektoren 1111 bis 1116 eine abnormale Bedingung detektiert.
  • Wie oben ausgeführt, ist eine erfindungsgemäße Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung basierend auf dem Interruptsteuersignal in der Lage, die Aktivierung/Deaktivierung des Detektionssignals zu steuern, welches anzeigt, ob eine abnormale Bedingung in der IC-Karte mit einer CPU detektiert wurde. Wenn eine abnormale Bedingung in der IC-Karte mit der CPU detektiert wird, ist die IC-Karte in der Lage, nicht einfach nur die CPU zurückzusetzen, sondern auch einen Interrupt zu erzeugen, der es der CPU ermöglicht, verschiedene gewünschte Vorgänge auszuführen. Entsprechend können der Benutzer und/oder die CPU die in der IC-Karte aufgetretene abnormale Bedingung näher überprüfen. Zudem können der Benutzer und/oder die CPU eine Aufgabe ausführen und in einem nichtflüchtigen Speicher der IC-Karte gespeicherte Daten wiedergewinnen, auch wenn eine abnormale Bedingung in der IC-Karte aufgetreten ist.

Claims (9)

  1. Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung in einer integrierten Schaltungskarte, gekennzeichnet durch folgende, in einem integrierten Schaltungskartensubstrat (28) enthaltene Komponenten: – eine Mehrzahl von Detektoren (1111 bis 1116), um jeweils eine korrespondierende abnormale Bedingung in der IC-Karte (30) zu detektieren, – eine Mehrzahl von Monitorregistern (1201 bis 1206), um ein von einem korrespondierenden Detektor (1111 bis 1116) ausgegebenes Detektionssignal (VDET, FDET, TDET, LDET, DDET, GDET) zu empfangen und zu speichern, – eine Mehrzahl von Steuerregistern (1301 bis 1306), um Daten zur Steuerung einer Aktivierung von Signalen zu speichern, die von einem korrespondierenden Monitorregister (1201 bis 1206) ausgegeben werden, – eine Detektionssignalgeneratorschaltung (140), um in Reaktion auf Signale, die von den Monitorregistern (1201 bis 1206) und von den Steuerregistern (1301 bis 1306) ausgegeben werden, ein erstes Detektionssignal (DET) zu erzeugen, und – eine Signalsteuerschaltung (150), um in Reaktion auf ein Interruptsteuersignal und das erste Detektionssignal (DET) ein Rücksetzfreigabesignal (REN) und ein Interruptfreigabesignal (IEN) auszugeben, wobei das Rücksetzfreigabesignal (REN) und das Interruptsteuersignal entgegengesetzte Phasen aufweisen und das Interruptfreigabesignal (IEN) mit dem Interruptsteuersignal in Phase ist.
  2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektionssignalgeneratorschaltung (140) folgende Komponenten umfasst: – eine Mehrzahl von UND-Gattern (1401 bis 1406), die so konfiguriert sind, dass sie jeweils die Signale empfangen, die von einem korrespondierenden Monitorregister (1201 bis 1206) und einem korrespondierenden Steuerregister (1301 bis 1306) ausgegeben werden, und – ein ODER-Gatter (1407), um die von den UND-Gattern (1401 bis 1406) ausgegebenen Signale zu empfangen, eine ODER-Verknüpfung mit den empfangenen Signalen auszuführen und als Verknüpfungsergebnis das erste Detektionssignal (DET) auszugeben.
  3. Schaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalsteuerschaltung (150) folgende Komponenten umfasst: – eine Speicherschaltung (1501), um das Interruptsteuersignal zu speichern, – einen Inverter (1502) zum Invertieren des von der Speicherschaltung (1501) ausgegebenen Signals, – ein erstes UND-Gatter (1503), um eine UND-Verknüpfung mit einem vom Inverter (1502) ausgegebenen Signal und dem ersten Detektionssignal (DET) auszuführen und als Verknüpfungsergebnis das Rücksetzfreigabesignal (REN) auszugeben, und – ein zweites UND-Gatter (1504), um eine UND-Verknüpfung mit einem von der Speicherschaltung (1501) ausgegebenen Signal und dem ersten Detektionssignal (DET) auszuführen und als Verknüpfungsergebnis das Interruptfreigabesignal (IEN) auszugeben.
  4. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Rücksetzfreigabesignal (REN) und das Inter ruptfreigabesignal (IEN) komplementäre Signale sind, wenn das erste Detektionssignal (DET) aktiviert ist.
  5. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass sie in einer Kombination mit einer zentralen Prozessoreinheit (12) in der IC-Karte (30) verwendet ist, welche ausgeführt ist, um in Reaktion auf das Interruptfreigabesignal (IEN) unterbrochen und in Reaktion auf das Rücksetzfreigabesignal (REN) zurückgesetzt zu werden.
  6. Integrierte Schaltungskarte mit – einem integrierten Schaltungskartensubstrat (28), dadurch gekennzeichnet, dass das integrierte Schaltungskartensubstrat (28) folgende Komponenten enthält: – eine zentrale Prozessoreinheit (12), – eine Mehrzahl von Detektoren (1111 bis 1116), um jeweils eine korrespondierende abnormale Bedingung in der IC-Karte (30) zu detektieren und ein Detektionssignal (VDET, FDET, TDET, LDET, DDET, GDET) auszugeben, welches die abnormale Bedingung anzeigt, – eine Freigabesignalgeneratorschaltung (120), um in Reaktion auf ein Interruptsteuersignal und auf das von wenigstens einem der Detektoren ausgegebene Detektionssignal ein Rücksetzfreigabesignal (REN) und ein Interruptfreigabesignal (IEN) zu erzeugen, und – einen Rücksetzsignalgenerator (26), um in Reaktion auf das Rücksetzfreigabesignal (REN) ein Rücksetzsignal (RST) zu erzeugen, – wobei die zentrale Prozessoreinheit (12) in Reaktion auf das Rücksetzsignal (RST) zurücksetzbar und in Reaktion auf das Interruptfreigabesignal (IEN) unterbrechbar ausgeführt ist.
  7. Integrierte Schaltungskarte nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass sie eine Schaltung zum Detektieren einer abnormalen Bedingung nach einem der Ansprüche 1 bis 5 enthält, zu der die Detektoren und die Freigabesignalgeneratorschaltung gehören, welche die Monitorregister (1201 bis 1206), die Steuerregister (1301 bis 1306), die Detektionssignalgeneratorschaltung (140) und die Signalsteuerschaltung (150) umfasst.
  8. Betriebsverfahren für eine zentrale Prozessoreinheit einer integrierte Schaltungskarte, gekennzeichnet durch die Schritte: – Detektieren von mindestens einer abnormalen Bedingung in der IC-Karte (30) und Erzeugen von wenigstens einem Detektionssignal (VDET, FDET, TDET, LDET, DDET, GDET), das die wenigstens eine abnormale Bedingung anzeigt, – Erzeugen eines Rücksetzfreigabesignals (REN) und eines Interruptfreigabesignals (IEN) in Reaktion auf ein Interruptsteuersignal und auf das wenigstens eine Detektionssignal, – Erzeugen eines Rücksetzsignals (RST) in Reaktion auf das Rücksetzfreigabesignal (REN), – Zurücksetzen der zentralen Prozessoreinheit (12) in Reaktion auf das Rücksetzsignal (RST) und – Unterbrechen der zentralen Prozessoreinheit (12) in Reaktion auf das Interruptfreigabesignal (IEN).
  9. Betriebsverfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Erzeugung des Rücksetzfreigabesignals (REN) und des Interruptfreigabesignals (IEN) folgende Schritte umfasst: – Speichern von Detektionssignalen (VDET, FDET, TDET, LDET, DDET, GDET), die von einer Mehrzahl von Detektoren (1111 bis 1116) ausgegeben werden, in einer korrespondierenden Mehrzahl von Monitorregistern (1201 bis 1206), – Erzeugen eines ersten Detektionssignals (DET) in Reaktion auf ein in einem korrespondierenden einer Mehrzahl von Steuerregistern (1301 bis 1306) gespeichertes Steuersignal und ein von einem korrespondierenden der Mehrzahl von Monitorregistern (1201 bis 1206) ausgegebenes Signal, – Erzeugen des Rücksetzfreigabesignals (REN) durch Ausführen einer UND-Verknüpfung mit einem invertierten Signal des Interruptsteuersignals und dem ersten Detektionssignal (DET) und – Erzeugen des Interruptfreigabesignals (IEN) durch Ausführen einer UND-Verknüpfung mit dem Interruptsteuersignal und dem ersten Detektionssignal (DET).
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI301574B (en) * 2005-12-05 2008-10-01 Via Tech Inc Memory card detect circuit
KR100816750B1 (ko) * 2006-08-11 2008-03-27 삼성전자주식회사 공유 블록 및 고유 블록을 갖는 스마트 카드, 검출기 및반도체 집적 회로
US8352752B2 (en) * 2006-09-01 2013-01-08 Inside Secure Detecting radiation-based attacks
KR100837275B1 (ko) * 2006-12-06 2008-06-11 삼성전자주식회사 빛을 감지하는 스마트 카드
KR101436982B1 (ko) * 2007-10-12 2014-09-03 삼성전자주식회사 반도체 집적 회로 및 그것의 검사 방법
US20100013631A1 (en) * 2008-07-16 2010-01-21 Infineon Technologies Ag Alarm recognition
KR20100060212A (ko) * 2008-11-27 2010-06-07 삼성전자주식회사 노이즈 필터를 포함하는 집적회로 장치
EP2270758B1 (de) * 2009-06-30 2013-11-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Tragbare elektronische Vorrichtung, Verarbeitungsvorrichtung für die tragbare elektronische Vorrichtung und Datenverarbeitungsverfahren in einer tragbare elektronischen Vorrichtung
JP5435663B2 (ja) * 2011-09-06 2014-03-05 エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社 電子機器の保守装置、方法、及びプログラム
EP2698717A1 (de) * 2012-08-16 2014-02-19 Nxp B.V. Integrierte Schaltung
KR20160014464A (ko) * 2014-07-29 2016-02-11 삼성전자주식회사 메모리 시스템 및 이의 데이터 보호 방법
US9939482B2 (en) * 2014-10-27 2018-04-10 Honeywell International Inc. Method and apparatus for providing early warning of extraction of module under power
US11443156B2 (en) * 2020-07-10 2022-09-13 Mastercard International Incorporated Methods and systems for displaying health status of a payment card
US11809609B2 (en) * 2021-09-03 2023-11-07 Arm Limited Malicious attack detection techniques

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4575621A (en) * 1984-03-07 1986-03-11 Corpra Research, Inc. Portable electronic transaction device and system therefor
US5983328A (en) * 1987-03-13 1999-11-09 Texas Instruments Incorporated Data processing device with time-multiplexed memory bus
FR2668274B1 (fr) 1990-10-19 1992-12-31 Gemplus Card Int Circuit integre a securite d'acces amelioree.
GB9307623D0 (en) * 1993-04-13 1993-06-02 Jonhig Ltd Data writing to eeprom
JP3505018B2 (ja) * 1994-11-22 2004-03-08 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
JPH0954710A (ja) * 1995-08-10 1997-02-25 Dainippon Printing Co Ltd Icカード
JP3720878B2 (ja) * 1995-08-10 2005-11-30 大日本印刷株式会社 Icカード
KR19980083379A (ko) * 1997-05-15 1998-12-05 윤종용 자동 리셋 기능을 갖는 스마트 카드
JP4212068B2 (ja) 1997-05-19 2009-01-21 ローム株式会社 Icカードおよびicチップモジュール
JP3094971B2 (ja) * 1997-10-08 2000-10-03 日本電気株式会社 位相比較回路並びにこれを用いた位相同期ループ回路及びシリアル―パラレル変換回路
JP2000076139A (ja) 1998-08-28 2000-03-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 携帯型情報記憶媒体
KR20030033218A (ko) * 2001-10-19 2003-05-01 삼성전자주식회사 칩 상태에 따라 마이크로프로세서의 메모리 액세스를제어할 수 있는 칩 카드
KR100471147B1 (ko) 2002-02-05 2005-03-08 삼성전자주식회사 보안 기능을 갖는 반도체 집적 회로
KR20040106075A (ko) 2003-06-10 2004-12-17 삼성전자주식회사 보안 검출 정보 저장 기능을 가지는 스마트 카드 및 이에대한 보안 검출 정보 저장 방법

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Publication number Publication date
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