DE102005013270A1 - Schaltungsplatine zum Verbinden einer integrierten Schaltung mit einem Träger und einem IC-BGA-Gehäuse, das dieselbe verwendet - Google Patents
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Abstract
Eine Vorrichtung zum Verbinden einer integrierten Schaltung mit einem Träger weist eine Schaltungsplatine mit einer ersten Oberfläche zum Befestigen der integrierten Schaltung und einer zweiten Oberfläche auf, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt. Ausnehmungen sind in der zweiten Oberfläche vorgesehen zum Aufnehmen von zumindest Teilen der Lötmittelkugeln zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Schaltungsplatine mit dem Träger. Lötmittelanschlussflächen sind in den Ausnehmungen gebildet. Ein IC-BGA-Gehäuse, das eine solche integrierte Schaltung verwendet, kann im Vergleich zu bestehenden Entwürfen mit reduzierter Höhe und verbesserten elektrischen Charakteristika implementiert werden.
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsplatine, ein Verfahren zum Erzeugen einer Schaltungsplatine und insbesondere auf eine Schaltungsplatine zum mechanischen und elektrischen Verbinden eines Integrierte-Schaltung-Chips mit einer Tragestruktur, wie z. B. einer Hauptplatine oder dergleichen. Darüber hinaus bezieht sich die vorliegende Erfindung auf ein IC-BGA-Gehäuse (IC BGA = Integrated Circuit Ball Grid Array), das eine solche Schaltungsplatine verwendet.
- Eine schematische Querschnittsansicht eines bestehenden Entwurfs eines IC-BGA-Gehäuses ist in
3 gezeigt. - Das IC-BGA-Gehäuse umfasst einen IC-Chip
10 und eine PCB (gedruckte Schaltungsplatine)12 zum mechanischen und elektrischen Verbinden des IC-Chips10 mit beispielsweise einem externen Träger, einer Hauptplatine oder einem Speichermodul. - Die PCB
12 umfasst eine erste dielektrische Schicht14 und eine zweite dielektrische Schicht16 . Eine leitfähige Ebene18 für GND/VDD kann eine leitfähige Ebene für GND- (GND = Masse) oder eine leitfähige Ebene für VDD (VDD = Leistungsversorgungspotential) sein. Leitfähige Strukturen20 und22 auf der unteren Oberfläche der zweiten dielektrischen Schicht10 sind durch Durchgangslöcher24 und26 elektrisch mit der leitfähigen Ebene18 für GND/VDD verbunden. Darüber hinaus ist die leitfähige Struktur20 durch einen Verbindungsdraht28 mit einer GND/VDD-Anschlussfläche (nicht gezeigt) auf dem IC-Chip10 verbunden. Die leitfähige Struktur22 ist mit einer Lötmittelkugel30 versehen. - Außerdem ist eine leitfähige Struktur
32 , die eine Signalleiterbahn bildet, auf der unteren Oberfläche der zweiten dielektrischen Schicht16 vorgesehen. Die Signalleiterbahn32 ist durch einen Verbindungsdraht34 mit einer Signalanschlussfläche (nicht gezeigt) auf dem IC-Chip10 verbunden. Darüber hinaus ist die leitfähige Struktur, die die Signalleiterbahn32 bildet, mit einer Lötmittelkugel36 versehen. - Die Lötmittelkugel
30 ist zum Verbinden des IC-BGA-Gehäuses mit einer GND/VDD-Ebene auf einem Träger vorgesehen, während die Lötmittelkugel36 zum Verbinden mit einer Signalebene auf einem Träger vorgesehen ist, z. B. zum Löten einer gehäusten IC an die Hauptplatine oder eine Speichermodul-PCB. Es sollte angemerkt werden, dass in der schematischen Querschnittsansicht von3 nur zwei beispielhafte Lötmittelkugeln30 und36 gezeigt sind, obwohl IC-BGA-Gehäuse normalerweise eine Vielzahl von Lötmittelkugeln umfassen. - Wie es in
3 gezeigt ist, ist in der PCB12 eine Ausnehmung38 gebildet, durch die die Verbindungsdrähte28 und34 mit den jeweiligen Anschlussflächen auf dem IC-Chip10 verbunden sind. Die Ausnehmung wird allgemein als Verbindungskanal bezeichnet. - Die Gesamthöhe des bestehenden Entwurfs des IC-BGA-Gehäuses ist aufgrund der Größe der Lötmittelkugeln
30 und36 groß. Außerdem umfasst der GND- oder VDD-Weg von dem Verbindungsdraht28 zu der Lötmittelkugel30 ein Minimum von zwei Durchgangslöchern24 ,26 . Somit ist die Gesamtleistungs/masseinduktivität aufgrund der Mehrzahl von Durchgangslöchern (24 und26 ) in dem Stromweg erhöht. - Bisher konnte die Gehäusehöhe nur reduziert werden durch Reduzieren der Anzahl von Gehäuse-PCB-Schichten und/oder Verringern der Abmessung der Lötmittelkugeln und der Dicke des Chips selbst. Eine geringere Gesamt- 1eistungs/masseinduktivität konnte durch eine größere Anzahl von Lötmittelkugeln zum Implementieren von Zufuhrverbindungen erreicht werden.
- Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zum Verbinden einer integrierten Schaltung mit einem Träger und ein IC-BGA-Gehäuse zu schaffen, das eine erhöhte Komponentendichte ermöglicht, während gute elektrische Eigenschaften beibehalten werden.
- Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung gemäß Anspruch 1 sowie ein Gehäuse gemäß Anspruch 11 gelöst.
- Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung wird diese Aufgabe gelöst durch eine Vorrichtung zum Verbinden einer integrierten Schaltung mit einem Träger, die folgende Merkmale umfasst:
eine Schaltungsplatine mit einer ersten Oberfläche zum Befestigen der integrierten Schaltung und einer zweiten Oberfläche, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt;
Ausnehmungen, die in der zweiten Oberfläche vorgesehen sind, zum Aufnehmen von zumindest Teilen der Lötmittelkugeln zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Schaltungsplatine mit dem Träger; und
Lötmittelanschlussflächen, die in den Ausnehmungen gebildet sind. - Gemäß einem zweiten Aspekt schafft die vorliegende Erfindung ein IC-BGA-Gehäuse, das folgende Merkmale umfasst:
eine integrierte Schaltung;
eine Schaltungsplatine mit einer ersten Oberfläche, an der die integrierte Schaltung befestigt ist, und einer zweiten Oberfläche, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt;
Ausnehmungen, die in der zweiten Oberfläche vorgesehen sind, zum Aufnehmen von zumindest Teilen der Lötmittelkugeln zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Schaltungsplatine mit einem Träger; und
Lötmittelanschlussflächen, die in den Ausnehmungen gebildet sind. - Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung umfasst die Schaltungsplatine eine Mehrzahl von isolierenden Schichten und internen leitfähigen Strukturen, die zwischen den isolierenden Schichten angeordnet sind. Die internen leitfähigen Strukturen können auch als interne leitfähige Schichten bezeichnet werden. Die Lötmittelanschlussflächen bei einigen der Ausnehmungen können Teile solcher internen leitfähigen Schichten sein, so dass Lötmittelkugeln über Ausnehmungen in einer oder mehreren der isolierenden Schichten direkt auf die internen leitfähigen Schichten der Schaltungsplatine aufgebracht werden können.
- Auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine kann eine leitfähige Struktur gebildet sein. Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen der Erfindung kann eine externe Masse- oder VDD-Ebene durch eine solche leitfähige Struktur implementiert werden, die auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine vorgesehen ist. Die Ausnehmungen können sich durch die leitfähige Struktur auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine erstrecken. Lötmittelkugeln, die in einigen der Ausnehmungen empfangen werden, können eine direkte Verbindung mit der leitfähigen Struktur auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine haben.
- Die vorliegende Erfindung schafft eine Schaltungsplatine und ein IC-BGA-Gehäuse mit Lötmittelkugeln, die in die Ausnehmungen, die in der Schaltungsplatine vorgesehen sind, „eingelassen" sind. Somit liefert die vorliegende Erfindung einen neuen Entwurf eines IC-BGA-Gehäuses mit reduzierten Abmessungen und verbesserten elektrischen Charakteristika.
- Das herkömmliche BGA-Gehäuse (
3 ) mit einer gedruckten Schaltungsplatine mit zwei leitfähigen Schichten weist normalerweise eine Schicht auf, die im Wesentlichen durch Signalleiterbahnen32 belegt ist, und eine weitere Schicht (VDD oder Masse), die ein wesentliches Array der Schaltungsplatine für eine bessere (reduzierte) Leistungsverbindungsinduktivität besetzt. Die vorliegende Erfindung ermöglicht ein verbessertes Gehäuse mit einer geänderten Reihenfolge von Schichten, mit der die Nachteile, die durch den bestehenden Entwurf bewirkt werden, überwunden werden können. Gemäß der Erfindung können Lötmittelkugeln auf internen leitfähigen Schichten befestigt werden, durch die Ausnehmungen oder Leerstellen in der Schaltungsplatine. Somit kann die Gesamtgehäusehöhe reduziert werden, beispielsweise um etwa die Hälfte des Lötmittelkugeldurchmessers, abhängig von der Tiefe der Ausnehmungen. Außerdem kann die leitfähige Ebene für GND oder VDD eine direkte Verbindung mit zugeordneten GND- oder VDD-Lötmittelkugeln haben, so dass für die Leistungsversorgungsverbindung keine Durchgangslöcher mehr erforderlich sind. Die Induktivität der Lötmittelkugeln wird aufgrund des kleineren Stromwegs ebenfalls reduziert. - Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist eine externe leitfähige Ebene, die auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine vorgesehen ist, wirksam als eine elektromagnetische Abschirmung zwischen Gehäuseleiterbahnen und der Umgebung. Darüber hinaus hat das gesamte Gehäuse eine bessere Wärmeverbindung mit dem Träger, an dem der Chip befestigt ist, unter Verwendung der Schaltungsplatine. Ein solcher Träger kann beispielsweise jede gedruckte Schaltungsplatine, eine Hauptplatine oder eine Speichermodulplatine sein.
- Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf beiliegende Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 eine schematische Querschnittsansicht eines IC-BGA-Gehäuses gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; -
2 eine vergrößerte schematische Querschnittsansicht des Abschnitts des IC-BGA-Gehäuses, das in1 angezeigt ist; und -
3 eine schematische Querschnittsansicht eines bestehenden Entwurfs eines IC-BGA. - Ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen IC-BGA-Gehäuses ist in
1 gezeigt. Das IC-BGA-Gehäuse umfasst einen IC-Chip50 und eine Schaltungsplatine52 zum mechanischen und elektrischen Verbinden des IC-Chips50 mit einem Träger. Der IC-Chip50 kann durch einen herkömmlichen Halbleiter-Integrierte-Schaltung-Chip gebildet werden, beispielsweise einen Speicherchip. Der Träger (in1 nicht gezeigt) kann durch eine Schaltungsplatine gebildet sein, an der der IC-Chip befestigt werden soll, beispielsweise eine Speichermodulplatine. - Kontaktanschlussflächen
54 und56 sind auf der unteren Oberfläche des IC-Chips50 gebildet. Die Kontaktanschlussfläche54 stellt eine Signalkontaktanschlussfläche dar, während die Kontaktanschlussfläche56 eine Leistungsversorgungskontaktanschlussfläche darstellt. In der Querschnittsansicht von1 sind nur zwei Kontaktanschlussflächen, z. B. Signal und Leistung, gezeigt. Für einen Durchschnittsfachmann auf diesem Gebiet ist jedoch klar, dass der IC-Chip mit einer Mehrzahl von Kontaktanschlussflächen versehen ist, wie z. B. Datensignalanschlussflächen, Taktsignalanschlussflächen, Steuersignalanschlussflächen, Masseanschlussflächen und Versorgungsspannungsanschlussflächen. - Die Schaltungsplatine
52 umfasst eine erste dielektrische Schicht60 und eine zweite dielektrische Schicht62 . Die obere Oberfläche der Schaltungsplatine52 ist auf dem IC-Chip50 befestigt, durch Befestigen der oberen Oberfläche der ersten dielektrischen Schicht60 an der unteren Oberfläche des IC-Chip50 . Die obere Oberfläche der zweiten dielektrischen Schicht62 ist auf der unteren Oberfläche der ersten dielektrischen Schicht60 befestigt. Eine leitfähige Struktur64 , die Signalleiterbahnen darstellt, ist zwischen der ersten dielektrischen Schicht60 und der zweiten dielektrischen Schicht62 vorgesehen. - Eine leitfähige Struktur
66 , die eine leitfähige Ebene für GND/VDD bildet (leitfähige Struktur für GND oder leitfähige Struktur für VDD) ist auf der unteren Oberfläche der zweiten dielektrischen Schicht62 gebildet. Außerdem ist eine Verbindungsanschlussfläche68 , die eine Signalverbindungsanschlussfläche darstellt, auf der unteren Oberfläche der zweiten dielektrischen Schicht62 gebildet. Die Signalverbindungsanschlussfläche68 ist über ein Durchgangsloch70 mit den Signalleiterbahnen64 verbunden. Außerdem ist die Verbindungsanschlussfläche68 durch einen Verbindungsdraht72 mit der Kontaktanschlussfläche54 auf dem IC-Chip50 verbunden. Die leitfähige Ebene66 für GND/VDD ist durch einen Verbindungsdraht74 mit der Kontaktanschlussfläche56 auf dem IC-Chip50 verbunden. Eine Ausnehmung76 , die allgemein als Verbindungskanal bezeichnet wird, ist in der Schaltungsplatine52 vorgesehen, um es den obigen Verbindungen zu ermöglichen, die Verbindungsdrähte72 und74 zu nutzen. Der Verbindungskanal76 kann auf eine herkömmliche Weise gebildet sein. - Wie es in
1 ersichtlich ist, sind eine erste Ausnehmung80 und eine zweite Ausnehmung82 in der Schaltungsplatine52 gebildet. Genauer gesagt sind die Ausnehmungen80 und82 gebildet, um die zweite dielektrische Schicht66 zu durchdringen und sich zu jeweiligen Lötmittelanschlussflächen84 und86 zu erstrecken. Somit sind die Lötmittelanschlussflächen84 und86 in den Ausnehmungen80 bzw.82 vorgesehen. Wie es in1 ersichtlich ist, ist die Lötmittelanschlussfläche84 Teil der leitfähigen Struktur64 , die die Signalleiterbahnen bildet. Zu diesem Zweck erstreckt sich die leitfähige Struktur64 in die Region, wo die Ausnehmung80 gebildet ist. Die Lötmittelanschlussfläche86 , die in der Ausnehmung82 gebildet ist, ist elektrisch von der leitfähigen Struktur64 isoliert, aber kann unter Verwendung der gleichen Prozessschritte gebildet werden, die verwendet werden, um die leitfähige Struktur64 zu bilden. - Wie es in
1 ersichtlich ist, erstreckt sich die leitfähige Struktur, die die leitfähige Ebene66 für GND/VDD bildet, um im Wesentlichen bündig mit den Kanten der zweiten Ausnehmung82 zu sein, während sich dieselbe nicht zu den Kanten der ersten Ausnehmung80 erstreckt. - Mit dem obigen Entwurf ermöglicht die Schaltungsplatine
52 eine Verbindung, z. B. durch Löten, des IC-Chip50 mit einem Träger, der Lötmittelkugeln88 und90 verwendet. Wie es in1 ersichtlich ist, sind die Lötmittelkugeln88 und90 in die Ausnehmungen80 und82 eingefügt und an den Lötmittelanschlussflächen84 und86 befestigt. Wie es in1 ersichtlich ist, sind bei diesem Ausführungsbeispiel etwa die Hälfte der Lötmittelkugeln in den Ausnehmungen angeordnet. Somit kann eine wesentliche Reduktion von etwa der Hälfte der Höhe der Lötmittelkugeln erreicht werden, während die Lötmittelkugeln nach wie vor eine sichere mechanische und elektrische Verbindung zu zugeordneten Kontaktanschlussflächen auf einem Träger ermöglichen. - Die Lötmittelkugel
88 ist zum elektrischen Verbinden der Signalleiterbahnen64 mit einer zugeordneten Signalanschlussfläche auf dem Träger vorgesehen. Somit wird die Lötmittelkugel88 an die Lötmittelanschlussfläche84 gelötet und von der leitfähige Ebene66 für GND/VDD isoliert. Diese Isolierung wird erreicht durch Bereitstellen eines Zwischenraums zwischen den Kanten der leitfähige Ebene66 für GND/VDD und den Kanten der Ausnehmung80 . - Die Lötmittelkugel
90 ist vorgesehen zum Liefern einer elektrischen Verbindung zwischen der leitfähigen Ebene66 für GND/VDD und einer zugeordneten Kontaktanschlussfläche100 auf einem Träger102 , der in2 gezeigt ist. In2 ist zu sehen, dass die Lötmittelkugel90 an die Lötmittelanschlussfläche86 gelötet ist. Darüber hinaus ist bei dem in2 gezeigten Ausführungsbeispiel eine zusätzliche Einrichtung vorgesehen, um eine sichere elektrische Verbindung zwischen der Lötmittelkugel90 und der leitfähigen Ebene66 für GND/VDD zu erreichen. Genauer gesagt ist die Lötmittelkugel90 unter Verwendung des Lötmittels104 elektrisch mit der leitfähigen Ebene für GND/VDD verbunden. Alternativ könnte elektrolytisches Plattieren verwendet werden, um eine elektrische Verbindung zwischen der Lötmittelkugel90 und der leitfähigen Ebene für GND/VDD sicherzustellen. - Von der obigen Beschreibung ist klar, dass die Höhe eines IC-BGA-Gehäuses durch Bereitstelle der Ausnehmung
80 und82 reduziert werden kann im Vergleich zu der Höhe eines herkömmlichen IC-BGA-Gehäuses, wie es beispielsweise in3 gezeigt ist. Somit liefert die vorliegende Erfindung eine kompakte Anordnung. Darüber hinaus ist die Lötmittelkugel90 direkt mit der leitfähigen Ebene für GND/VDD verbunden, ohne die Verwendung von Durchgangslöchern, wie es bei dem herkömmlichen IC-BGA-Gehäuse der Fall war. Somit kann die Induktivität der GND/VDD-Verbindung reduziert werden. Darüber hinaus macht es die geänderte Reihenfolge der leitfähigen Ebenen (Signalebene zwischen den dielektrischen Schichten60 und62 und der leitfähigen Ebene für GND/VDD auf der unteren Oberfläche der zweiten dielektrischen Schicht62 ) möglich, die leitfähige Ebene66 für GND/VDD als eine elektromagnetische Abschirmung zwischen den Gehäusesignalleiterbahnen und der Außenwelt zu nutzen. - Die erfindungsgemäße Schaltungsplatine und das erfindungsgemäße IC-BGA-Gehäuse können aus Materialien gebildet werden, die normalerweise auf dem Gebiet der gedruckten Schaltungsplatinen und IC-BGA-Gehäusen verwendet werden. Da solche Materialien für einen Durchschnittsfachmann auf diesem Gebiet bekannt sind, ist es nicht notwendig, solche Materialien näher darzustellen. Bei der obigen Beschreibung wurden nur zwei Lötmittelkugeln und zugeordnete Ausnehmungen beschrieben. Für einen Durchschnittsfachmann auf diesem Gebiet ist jedoch klar, dass ein IC-BGA-Gehäuse für die Praxis eine unterschiedliche Anzahl von Lötmittelkugeln aufweisen kann, wie es angemessen ist. Darüber hinaus kann die Schaltungsplatine eine unterschiedliche Anzahl von dielektrischen Schichten, leitfähigen Ebenen und Lötmittelkugeln aufweisen, abhängig von den Signalen, die übertragen werden sollen (wie z. B. Leistungsversorgungssignale, Datensignale, Taktsignale, Steuersignale und dergleichen).
-
- 10
- IC-Chip
- 12
- PCB
- 14
- erste dielektrische Schicht
- 16
- zweite dielektrische Schicht
- 18
- leitfähige Ebene für GND/VDD
- 20,22
- leitfähige Strukturen
- 24,26
- Durchgangslöcher
- 28
- Verbindungsdraht
- 30
- Lötmittelkugel
- 32
- Signalleiterbahn
- 34
- Verbindungsdraht
- 36
- Lötmittelkugel
- 38
- Ausnehmung
- 50
- IC-Chip
- 52
- Schaltungsplatine
- 54,56
- Kontaktanschlussflächen
- 60
- erste dielektrische Schicht
- 62
- zweite dielektrische Schicht
- 64
- Signalleiterbahnen
- 66
- leitfähige Ebene für GND/VDD
- 68
- Signalverbindungsanschlussfläche
- 70
- Durchgangsloch
- 72
- Verbindungsdraht
- 74
- Verbindungsdraht
- 76
- Verbindungskanal
- 80
- erste Ausnehmung
- 82
- zweite Ausnehmung
- 84,86
- Lötmittelanschlussfläche
- 88,90
- Lötmittelkugeln
- 100
- Kontaktanschlussflächen
- 102
- Träger
- 104
- Lötmittel
Claims (20)
- Vorrichtung zum Verbinden einer integrierten Schaltung (
31 ) mit einem Träger, die folgende Merkmale umfasst: eine Schaltungsplatine (20 ) mit einer ersten Oberfläche zum Befestigen der integrierten Schaltung und einer zweiten Oberfläche, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt; Ausnehmungen, die in der zweiten Oberfläche vorgesehen sind, zum Aufnehmen von zumindest Teilen der Lötmittelkugeln zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Schaltungsplatine mit dem Träger; und Lötmittelanschlussflächen (25 ), die in den Ausnehmungen gebildet sind. - Vorrichtung gemäß Anspruch 1, bei der eine Verbindungsanschlussfläche (
13 ) auf der Schaltungsplatine vorgesehen ist und bei der die Schaltungsplatine leitfähige Strukturen (24 ) umfasst, die die Verbindungsanschlussfläche (13 ) mit zumindest einer der Lötmittelanschlussflächen (25 ) verbinden. - Vorrichtung gemäß Anspruch 1 oder 2, bei der die Schaltungsplatine eine erste isolierende Schicht (
21 ,28 ,29 ), eine zweite isolierende Schicht (27 ) und eine leitfähige Struktur (24 ) zwischen der ersten und der zweiten isolierenden Schicht umfasst. - Vorrichtung gemäß Anspruch 3, bei der sich die Ausnehmungen durch die zweite dielektrische Schicht (
27 ) erstrecken und bei der ein Teil der leitfähigen Struktur die Lötmittelanschlussfläche von zumindest einer der Ausnehmungen bildet. - Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei der eine leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine gebildet ist. - Vorrichtung gemäß Anspruch 5, bei der sich zumindest eine der Ausnehmungen durch die leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der integrierten Schaltung erstreckt. - Vorrichtung gemäß Anspruch 6, bei der sich zumindest zwei der Ausnehmungen durch die leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der integrierten Schaltung erstrecken, wobei Lötmittelkugeln in den zumindest zwei der Ausnehmungen aufgenommen werden, wobei eine der Lötmittelkugeln elektrisch mit der leitfähigen Struktur auf der zweiten Oberfläche der integrierten Schaltung verbunden ist und eine der Lötmittelkugeln davon isoliert ist. - Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, bei der die Schaltungsplatine eine Mehrzahl von isolierenden Schichten umfasst, die unterschiedliche Ebenen der Schaltungsplatine definieren, und eine Mehrzahl von leitfähigen Strukturen, die in den unterschiedlichen Ebenen angeordnet sind, wobei die Schaltungsplatine ferner eine erste Ausnehmung und eine zweite Ausnehmung umfasst, wobei sich eine erste leitfähige Struktur, die auf einer ersten Ebene angeordnet ist, zu der ersten Ausnehmung erstreckt, und eine zweite leitfähige Struktur, die auf einer zweiten Ebene angeordnet ist, zu der zweiten Ausnehmung erstreckt, wobei eine erste Lötmittelkugel, die zumindest teilweise in der ersten Ausnehmung aufgenommen ist, elektrisch mit der ersten leitfähigen Struktur verbunden ist, und eine zweite Lötmittelkugel, die zumindest teilweise in der zweiten Ausnehmung aufgenommen ist, elektrisch mit der zweiten leitfähigen Struktur verbunden ist.
- Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 5 bis 8, bei der die leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine eine Massestruktur oder eine Leistungsversorgungsstruktur ist. - Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, bei der Lötmittelkugeln in den Ausnehmungen aufgenommen werden, wobei die Schaltungsplatine leitfähige Strukturen (
24 ) umfasst, zum Verbinden von zumindest einigen der Lötmittelkugeln mit einer Signalkontaktanschlussfläche auf der integrierten Schaltung und zum Verbinden von zumindest einer anderen der Lötmittelkugeln mit einer Masse- oder Leistungsversorgungskontaktanschlussfläche auf der integrierten Schaltung. - IC-BGA-Gehäuse, das folgende Merkmale umfasst: eine integrierte Schaltung; eine Schaltungsplatine mit einer ersten Oberfläche, an der die integrierte Schaltung befestigt ist, und einer zweiten Oberfläche, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt; Ausnehmungen, die in der zweiten Oberfläche vorgesehen sind, zum Ausnehmen von zumindest Teilen der Lötmittelkugeln zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Schaltungsplatine mit einem Träger; Lötmittelanschlussflächen (
25 ), die in den Ausnehmungen gebildet sind; und Lötmittelkugeln, die zumindest teilweise in den Ausnehmungen aufgenommen werden und an die Lötmittelkugeln angelegt werden. - IC-BGA-Gehäuse gemäß Anspruch 11, bei dem eine Verbindungsanschlussfläche (
13 ) auf der Schaltungsplatine vorgesehen ist und bei der die Schaltungsplatine leitfähige Strukturen (24 ) umfasst, die die Verbindungsanschlussfläche (13 ) mit zumindest einer der Lötmittelanschlussflächen (25 ) verbinden. - IC-BGA-Gehäuse gemäß Anspruch 11 oder 12, bei dem die Schaltungsplatine eine erste isolierende Schicht (
21 ,28 ,29 ), eine zweite isolierende Schicht (27 ) und eine leitfähige Struktur (24 ) zwischen der ersten und der zweiten isolierenden Schicht umfasst. - IC-BGA-Gehäuse gemäß Anspruch 13, bei dem sich die Ausnehmungen durch die zweite dielektrische Schicht (
27 ) erstrecken und bei der ein Teil der leitfähigen Struktur die Lötmittelanschlussfläche von zumindest einer der Ausnehmungen bildet. - IC-BGA-Gehäuse gemäß einem der Ansprüche 11 bis 14, bei dem eine leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine gebildet ist. - IC-BGA-Gehäuse gemäß Anspruch 15, bei dem sich zumindest eine der Ausnehmungen durch die leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der integrierten Schaltung erstreckt. - IC-BGA-Gehäuse gemäß Anspruch 16, bei dem sich zumindest zwei der Ausnehmungen durch die leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der integrierten Schaltung erstrecken, wobei Lötmittelkugeln in den zumindest zwei der Ausnehmungen aufgenommen werden, wobei eine der Lötmittelkugeln elektrisch mit der leitfähigen Struktur auf der zweiten Oberfläche der integrierten Schaltung verbunden ist und eine der Lötmittelkugeln davon isoliert ist. - IC-BGA-Gehäuse gemäß einem der Ansprüche 11 bis 17, bei dem die Schaltungsplatine eine Mehrzahl von iso lierenden Schichten umfasst, die unterschiedliche Ebenen der Schaltungsplatine definieren, und eine Mehrzahl von leitfähigen Strukturen, die in den unterschiedlichen Ebenen angeordnet sind, wobei die Schaltungsplatine ferner eine erste Ausnehmung und eine zweite Ausnehmung umfasst, wobei sich eine erste leitfähige Struktur, die auf einer ersten Ebene angeordnet ist, zu der ersten Ausnehmung erstreckt, und eine zweite leitfähige Struktur, die auf einer zweiten Ebene angeordnet ist, zu der zweiten Ausnehmung erstreckt, wobei eine erste Lötmittelkugel, die zumindest teilweise in der ersten Ausnehmung aufgenommen ist, elektrisch mit der ersten leitfähigen Struktur verbunden ist, und eine zweite Lötmittelkugel, die zumindest teilweise in der zweiten Ausnehmung aufgenommen ist, elektrisch mit der zweiten leitfähigen Struktur verbunden ist.
- IC-BGA-Gehäuse gemäß einem der Ansprüche 15 bis 18, bei dem die leitfähige Struktur (
24 ) auf der zweiten Oberfläche der Schaltungsplatine eine Massestruktur oder eine Leistungsversorgungsstruktur ist. - IC-BGA-Gehäuse gemäß einem der Ansprüche 11 bis 19, bei dem Lötmittelkugeln in den Ausnehmungen aufgenommen werden, wobei die Schaltungsplatine leitfähige Strukturen (
24 ) umfasst, zum Verbinden von zumindest einigen der Lötmittelkugeln mit einer Signalkontaktanschlussfläche auf der integrierten Schaltung und zum Verbinden von zumindest einer anderen der Lötmittelkugeln mit einer Masse- oder Leistungsversorgungskontaktanschlussfläche auf der integrierten Schaltung.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/815,224 US6953893B1 (en) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | Circuit board for connecting an integrated circuit to a support and IC BGA package using same |
US10/815,224 | 2004-03-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005013270A1 true DE102005013270A1 (de) | 2005-10-27 |
Family
ID=35053035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102005013270A Withdrawn DE102005013270A1 (de) | 2004-03-31 | 2005-03-22 | Schaltungsplatine zum Verbinden einer integrierten Schaltung mit einem Träger und einem IC-BGA-Gehäuse, das dieselbe verwendet |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6953893B1 (de) |
DE (1) | DE102005013270A1 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8189328B2 (en) | 2006-10-23 | 2012-05-29 | Virident Systems, Inc. | Methods and apparatus of dual inline memory modules for flash memory |
US20130048360A1 (en) * | 2009-09-24 | 2013-02-28 | Option | System in package, printed circuit board provided with such system in package |
TWI416694B (zh) * | 2010-09-17 | 2013-11-21 | Powertech Technology Inc | 全罩式屏蔽至接地銲球之晶片封裝構造 |
US9293426B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-03-22 | Intel Corporation | Land side and die side cavities to reduce package Z-height |
US9282649B2 (en) * | 2013-10-08 | 2016-03-08 | Cisco Technology, Inc. | Stand-off block |
KR20150100388A (ko) * | 2014-02-25 | 2015-09-02 | 삼성전자주식회사 | 메모리 모듈의 모듈 탭 영역에서의 선택적 리세스드 레퍼런스 플레인 구조 및 그에 따른 선택적 리세스드 레퍼런스 플레인 형성방법 |
US11289412B2 (en) | 2019-03-13 | 2022-03-29 | Texas Instruments Incorporated | Package substrate with partially recessed capacitor |
US11195786B1 (en) | 2020-06-04 | 2021-12-07 | Western Digital Technologies, Inc. | Ball grid array substrate |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5677566A (en) * | 1995-05-08 | 1997-10-14 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor chip package |
JPH10294418A (ja) * | 1997-04-21 | 1998-11-04 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
KR100211421B1 (ko) * | 1997-06-18 | 1999-08-02 | 윤종용 | 중앙부가 관통된 플렉서블 회로기판을 사용한 반도체 칩 패키지 |
JPH11297889A (ja) * | 1998-04-16 | 1999-10-29 | Sony Corp | 半導体パッケージおよび実装基板、ならびにこれらを用いた実装方法 |
JP3171176B2 (ja) * | 1998-12-15 | 2001-05-28 | 日本電気株式会社 | 半導体装置およびボール・グリッド・アレイ製造方法 |
US6310390B1 (en) * | 1999-04-08 | 2001-10-30 | Micron Technology, Inc. | BGA package and method of fabrication |
-
2004
- 2004-03-31 US US10/815,224 patent/US6953893B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-03-22 DE DE102005013270A patent/DE102005013270A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6953893B1 (en) | 2005-10-11 |
US20050217885A1 (en) | 2005-10-06 |
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