-
Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Zündkerze für einen Verbrennungsmotor mit
einem an eine Elektrode angefügten
Edelmetallchip, welche dazu ausgebildet ist, Funkenentladung durchzuführen.
-
Herkömmlicherweise
werden Zündkerzen
zur Bereitstellung von Zündung
in Verbrennungsmotoren verwendet. Solch eine Zündkerze umfasst im Allgemeinen
eine metallische Hülse,
die einen Isolator hält,
in welchem eine Mittenelektrode in einem eingefügten Zustand bereitgestellt
ist, sowie eine Masseelektrode, deren einer Endbereich an einen
Vorderendbereich der metallischen Hülse angefügt ist, und deren anderer Endbereich
gegenüber
einem Vorderendbereich der Mittenelektrode angeordnet ist. Die Zündkerze
umfasst weiterhin einen Edelmetallchip zum Vergrößern eines Widerstandes gegenüber Bogen-induzierter
Erosion. Der Edelmetallchip ist entweder in einem Bereich der Mittenelektrode
oder einem Bereich der Masseelektrode bereitgestellt, wobei die
Bereiche einander gegenüber
angeordnet sind.
-
Iridium
ist als ein Material für
solch einen Edelmetallchip vorgeschlagen (siehe beispielsweise Patentdokumente
1 und 2). Aufgrund einer zunehmenden Nachfrage nach Vergrößerung des
Erosionswiderstandes von Zündkerzen
in den letzten Jahren, wird Iridium, dessen Schmelzpunkt höher ist
als der von herkömmlicherweise
verwendetem Platin, als ein Material für Edelmetallchips verwendet,
um so den Erosionswiderstand zu vergrößern. Im Allgemeinen wird solch
ein Edelmetallchip in eine zylindrische Form gebildet und seine
eine Endfläche
(im folgenden auch als "proximale
Fläche" bezeichnet) ist
an die Mittenelektrode oder die Masseelektrode angefügt, wobei
seine andere Endfläche
(im folgenden als "Front-Ende-Fläche" bezeichnet) gegenüber der
Mittenelektrode oder der Masseelektrode angeordnet ist (in dem Fall,
wo an jede der Mittenelektrode und der Masseelektrode je ein Edelmetall-Chip angefügt ist,
sind die Edelmetallchips einander gegenüber angeordnet), wodurch hierzwischen
ein Funkenentladungsspalt gebildet ist.
Patentdokument 1: Japanische
Patentanmeldungs-Offenlegung (kokai) Nr. H09-7733
Patentdokument
2: Japanische Patentanmeldungs-Offenlegung (kokai) Nr. H10-22053
-
Iridium-enthaltende
Edelmetallchips werden gewöhnlich
gebildet durch die Schritte eines Mischens von Materialpulvern;
eines Schmelzens des sich ergebenden gemischten Pulvers; eines Formens
eines Rohlings von dem geschmolzenen Metall; eines Aussetzens des
Rohlings einem Walzprozeß und
einem Formprozeß,
um so den Rohling in einen Stab zu formen; und eines Schneidens
des Stabs in Stücke
mit einer angemessenen Länge.
Der Walzprozeß bewirkt,
dass sich Kristallkörner
solch eines Edelmetallchips in die axiale Richtung des Edelmetallchips
erstrecken. Entsprechend nehmen die Kristallkörner die Form von Fasern mit einer
größeren Länge entlang
einer axialen Richtung des Edelmetallchips als entlang einer zu
der axialen Richtung senkrechten Richtung an, wodurch ein ausgezeichneter
Widerstand gegen Oxidationsverbrauch aufgewiesen wird.
-
Jedoch
neigt ein Edelmetallchip, weil die Kristallkörner des Edelmetallchips die
Form von sich in der axialen Richtung erstreckenden Fasern aufweisen,
dazu, in der axialen Richtung zu brechen oder abzuplatzen. Durch
die Erfinder durchgeführte
Studien haben gezeigt, dass ein Edelmetallchip, der Iridium in einer
Menge von 70 Gew.-% oder mehr enthält, wenn dieser einer externen
Kraft ausgesetzt wird, die externe Kraft nicht leicht durch Deformation
absorbiert und zu einem Brechen oder Abplatzen neigt. Wenn solch
ein Brechen oder Abplatzen eine Verringerung der Fläche der
distalen Fläche
(oder Front-Ende-Fläche)
bewirkt, welche distale Fläche
teilweise einen Funkenentladungsspalt des Edelmetallchips bildet,
ist die Funkenentladung auf den verbleibenden Bereich der distalen
Fläche
konzentriert. Als ein Ergebnis wird die Bogen-induzierte Erosion
des Edelmetallchips beschleunigt, und auf diese Weise neigt der
Funkenentladungsspalt dazu, größer zu werden.
-
Die
vorliegende Erfindung wurde angesichts der obigen Probleme des Standes
der Technik geleistet, und eine Aufgabe der Erfindung ist, eine
Zündkerze
bereitzustellen, welche ein reduziertes Auftreten von Brechen oder
Abplatzen eines zylindrischen Iridium-enthaltenden Edelmetallchips
aufweist, um auf so seine Haltbarkeit zu vergrößern.
-
Die
obigen Aufgaben wurden, gemäß einem
ersten Aspekt (1) der Erfindung durch Bereitstellen einer Zündkerze
gelöst,
welche eine Mittenelektrode; einen Isolator mit einer axialen Ausnehmung,
und welcher die Mittenelektrode hält, wobei ein Vorderendbereich
der Mittenelektrode von der axialen Ausnehmung herausragt; eine
metallische Hülse,
die den Isolator hierin hält;
eine Masseelektrode mit einem an die metallische Hülse angefügten ersten
Endbereich und einem gegenüber
einem Vorderendbereich der Mittenelektrode angeordneten zweiten
Endbereich; sowie einen zylindrischen Edelmetallchip mit einer an
wenigstens entweder dem Vorderendbereich der Mittenelektrode oder
dem zweiten Endbereich der Masseelektrode angefügten proximalen Fläche und
einer gegenüber
der proximalen Fläche
angeordneten Front-Ende-Fläche umfasst.
In der Zündkerze
ist der Edelmetallchip aus Iridium oder einer Legierung, die Iridium
in einer Menge von 70 Gew.-% oder mehr enthält, gefertigt; den Edelmetallchip
bildende Kristallkörner,
weisen entlang der axialen Richtung des Edelmetallchips eine größere Länge auf
als entlang einer zu der axialen Richtung senkrechten Richtung; der
Edelmetallchip weist einen Bereich mit einer abgetragenen Kante
entlang eines Umfangsrandes der Front-Ende-Fläche des Edelmetallchips auf;
eine Kantenabtragungs-Länge
des Bereiches mit einer abgetragenen Kante von 0,01 mm oder mehr;
und ein Verhältnis
der Kantenabtragungs-Länge
zu dem Radius des Edelmetallchips von kleiner als 0,3.
-
In
der erfindungsgemäßen Zündkerze
ist der zylindrische Edelmetallchip entweder in einem Bereich der
Mittenelektrode oder einem Bereich der Masseelektrode bereitgestellt,
wobei die proximale Fläche
an den Bereich angefügt
ist, wobei die Mittenelektrode und die Masseelektrode einen Funkenentladungsspalt
bilden und die Bereiche der Mittenelektrode und der Masseelektrode
einander gegenüber
angeordnet sind. Auch ist eine Umfangskante der Front-Ende-Fläche, gegenüber der
proximalen Fläche,
des Edelmetallchips abge tragen, um auf diese Weise einen Bereich
mit einer abgetragenen Kante zu bilden. Da der Edelmetallchip aus lediglich
Iridium oder einer Legierung, die Iridium in einer Menge von 70
Gew.-% oder mehr enthält,
gebildet ist, absorbiert der Edelmetallchip nicht leicht, wenn er
einer externen Kraft ausgesetzt ist, solch eine ausgeübte Kraft
durch Deformation. Weiterhin neigt der Edelmetallchip, weil Kristallkörner, die
den Edelmetallchip bilden, eine größere Länge entlang einer axialen Richtung
des Edelmetallchips als entlang einer zu der axialen Richtung senkrechten
Richtung aufweisen, zu Brechen oder Abplatzen in der axialen Richtung.
Jedoch ist entsprechend der vorliegenden Erfindung die Umfangskante
der Front-Ende-Fläche
des zylindrischen Iridium-enthaltenden Edelmetallchips abgetragen,
so dass ein Bereich mit einer abgetragenen Kante gebildet ist, um
auf diese Weise eine auf einem Umfangsrandbereich der Front-Ende-Fläche ausgeübte externe
Kraft zu verteilen und ein Konzentrieren der externen Kraft auf
einen einzelnen Punkt zu vermeiden. Auf diese Weise kann das Auftreten
von Brechen oder Abplatzen des Edelmetallchips unterdrückt werden.
Daher kann Bogen-induzierte Erosion und Oxidationsinduzierte Erosion
des Edelmetallchips reduziert werden, wodurch die Haltbarkeit vergrößert wird.
Angemerkt sei, dass die axiale Richtung des Edelmetallchips die
Richtung einer durch die distale Fläche und die proximale Fläche des
Edelmetallchips gehenden, und zu diesen Flächen allgemein senkrechten,
geraden Linie ist.
-
Wenn
der Bereich mit einer abgetragenen Kante des Edelmetallchips so
ist, dass die Kantenabtragungs-Länge
geringer ist als 0,01 mm, wird die oben erwähnte Wirkung nicht erreicht,
was anzeigt, dass die Kantenabtragungs-Länge unzureichend ist. Das Verwenden
einer Kantenabtragungs-Länge von
0,01 mm oder mehr gestattet es dem Edelmetallchip, eine externe
Kraft, falls vorhanden, zu verteilen, welche auf seinen Umfangsrandbereich
ausgeübt
wird, wodurch ein Auftreten von Brechen oder Abplatzen des Edelmetallchips
unterdrückt
werden kann. Das Verhältnis
der Kantenabtragungs-Länge
zu dem Radius des Edelmetallchips ist auf geringer als 0,3 gesetzt.
Wenn das Verhältnis
0,3 oder größer ist,
wird die Fläche
der Front-Ende-Fläche zu
klein. Als ein Ergebnis neigt eine Funkenentladung dazu, sich auf
einem bestimmten Bereich der Front-Ende-Fläche zu konzentrieren, wodurch
eine Erosion des Bereiches vergrößert wird,
was zu einer verschlechterten Haltbarkeit führt. Jedoch gestattet ein Verhältnis von
kleiner als 0,3, dass die Front-Ende-Fläche eine ausreichende Fläche aufweist,
wodurch die Haltbarkeit des Edelmetallchips vergrößert wird.
-
Vorzugsweise
weist der Edelmetallchip einen Durchmesser von 0,3 mm bis 0,8 mm
auf. Ein Edelmetallchip-Durchmesser innerhalb dieses Bereiches gestattet
eine reduzierte Entladungsspannung, so dass eine Zündleistung
wirksam vergrößert werden
kann. Ein Edelmetallchip-Durchmesser von weniger als 0,3 mm kann darin
versagen, den Erosionswiderstand des Edelmetallchips der Zündkerze
zu vergrößern. Inzwischen
ist ein Edelmetallchip mit einem Durchmesser, der 0,8 mm überschreitet,
zu groß,
um die oben erwähnte
Wirkung zu erzielen.
-
Der
Edelmetallchip weist vorzugsweise eine Vickers-Härte von 500 HV oder höher auf.
Daher absorbiert solch ein Edelmetallchip nicht leicht, wenn er
einer externen Kraft aus gesetzt wird, die externe Kraft durch Deformation
und neigt teilweise dazu, von seinem Umfangskantenbereich zu brechen
oder abzuplatzen. Die Anwendung der vorliegenden Erfindung auf einen
Edelmetallchip mit einer Vickers-Härte von 500 HV oder höher, wie
in dem Fall einer bevorzugten Ausführungsform (2), kann Brechen
oder Abplatzen wirksam reduzieren. Auf diese Weise kann Bogen-induzierte
Erosion und Oxidations induzierte Erosion des Edelmetallchips unterdrückt werden,
wodurch die Haltbarkeit vergrößert wird.
-
Der
Bereich mit einer abgetragenen Kante der Zündkerze ist, in einer anderen
bevorzugten Ausführungsform
(3), vorzugsweise durch Abrunden der Umfangskante gebildet. Der
Bereich mit einer abgetragenen Kante kann durch Abrunden oder Schneiden
der Kante gebildet werden. Unter diesen kann ein abgerundeter Bereich
mit einer abgetragenen Kante wirksam ein Brechen oder Abplatzen
des Randes verhindern und eine Lebensdauer gegenüber Funken oder Oxidation verbessern.
-
Die
erfindungsgemäße Zündkerze
entsprechend einer noch anderen bevorzugten Ausführungsform (4) erbringt, zusätzlich zu
der von (1) oder (2), die folgende Wirkung, wenn der Edelmetallchip
Platin, Ruthenium oder Rhodium als eine zweite Komponente enthält. Wie
wohlbekannt ist, weist Iridium einen hohen Schmelzpunkt auf, neigt
aber bei einer hohen Temperatur zu Oxidations-induzierter Erosion.
Die Verwendung eines Gemisches von Iridium mit Platin, Ruthenium
oder Rhodium als einem Material für einen Edelmetallchip einer
Zündkerze
kann eine Zündkerze
mit einem exzellenten Erosionswiderstand bereitstellen.
-
Unter
einem zweiten Aspekt stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren
zum Herstellen einer Zündkerze
bereit, welches die Schritte umfasst: Ziehen eines aus lediglich
Iridium oder einer Legierung, die Iridium in einer Menge von 70
Gew.-% oder mehr enthält,
gefertigten Edelmetallmaterials, um ein Drahtmaterial zu erhalten;
Schneiden des Drahtmaterials in einer zu seiner axialen Richtung
senkrechten Richtung, um einen säulenförmigen Edelmetallchip
zu bilden; und Anfügen
von einer der Endflächen
des Edelmetallchips zu wenigstens entweder dem Vorderendbereich
der Mittenelektrode oder dem zweiten Endbereich der Masseelektrode. Der
aus Iridium oder der Legierung, die Iridium in einer Menge von 70
Gew.-% oder mehr enthält,
gebildete Edelmetallchip absorbiert nicht leicht eine extern ausgeübte Kraft
durch Deformation. Weiterhin wird das aus lediglich Iridium oder
einer Iridium-Legierung gefertigte Edelmetallmaterial gezogen, um
den Edelmetallchip herzustellen, welcher dann an eine oder beide
der Mittenelektrode und der Masseelektrode auf solch eine Weise
angefügt
wird, dass die Richtung des Ziehens mit der axialen Richtung der
Zündkerze
ausgerichtet ist. Aus diesem Grunde neigt der Edelmetallchip zu
Brechen oder Abplatzen. Daher ist ein Bereich mit einer abgetragenen
Kante durch ein Trommelpolieren (barrel process; barrel finishing)
auf der Umfangskante der Front-Ende-Fläche des
säulenförmigen Edelmetallchips
in solcher Weise gebildet, dass die Kantenabtragungs-Länge 0,01
mm oder mehr beträgt,
und dass ein Verhältnis
der Kantenabtragungs-Länge
zu dem Radius des oben erwähnten
geformten Körpers
kleiner ist als 0,3. Als ein Ergebnis kann die Konzentration der
auf einen einzelnen Punkt des Umfangsrandes ausgeübten externen
Kraft vermieden werden, und das Auftre ten von Brechen oder Abplatzen
des Edelmetallchips kann reduziert werden.
-
Wenn
die Kantenabtragungs-Länge
des Bereiches mit einer abgetragenen Kante des säulenförmigen Edelmetallchips geringer
ist als 0,01 mm, wird die oben erwähnten Wirkung nicht angemessen
erhalten, was anzeigt, dass die Kantenabtragungs-Länge ungenügend ist.
Eine Kantenabtragungs-Länge
von 0,01 mm oder mehr gestattet es dem Edelmetallchip, eine externe
Kraft, falls vorhanden, welche auf seinen Umfangsrandbereich ausgeübt wurde,
zu verteilen, wodurch das Auftreten von Brechen oder Abplatzen des
Edelmetallchips unterdrückt
werden kann. Das Verhältnis
der Kantenabtragungs-Länge
zu dem Radius des Edelmetallchips ist auf kleiner als 0,3 gesetzt.
Wenn das Verhältnis
0,3 oder größer ist,
wird die flache Fläche
der Front-Ende-Fläche
des Edelmetallchips, welche nach der Bildung verbleibt, zu klein.
Als ein Ergebnis neigt eine Funkenentladung dazu, sich auf einen
bestimmten Bereich der Front-Ende-Fläche zu konzentrieren, wodurch
eine vergrößerte Erosion
des Bereiches bewirkt wird und was zu verschlechterter Haltbarkeit
führt.
Im Gegensatz gestattet ein Verhältnis
von kleiner als 0,3, dass die Front-Ende-Fläche eine ausreichende flache
Fläche
aufweist, wodurch die Haltbarkeit des Edelmetallchips vergrößert wird.
-
Es
zeigt
-
1 eine
teilweise Querschnittsansicht einer Zündkerze 100;
-
2 eine
Querschnittsansicht eines Vorderendbereiches eines Edelmetallchips 30, 90;
-
3 eine
schematische Ansicht, die ein beispielhaftes Verfahren zur Herstellung
des Edelmetallchips 30, 90 zeigt;
-
4 eine
schematische Ansicht, die eine Beispielmikrostruktur des Edelmetallchips 30, 90 zeigt.
-
Referenzzeichen
zum Identifizieren von strukturellen Elementen der Zeichnungen beinhalten:
-
- 1
- Isolator
- 2
- Mittenelektrode
- 5
- Metallische
Hülse
- 12
- Axiale
Ausnehmung
- 22
- Vorderendbereich
- 60
- Masseelektrode
- 61
- Zweiter
Endbereich
- 62
- Erster
Endbereich
- 30,
90
- Edelmetallchip
- 31,
91
- Front-Ende-Fläche
- 32,
92
- Bereich
mit einer abgetragenen Kante
- 100
- Zündkerze
-
Eine
Zündkerze
entsprechend einer erfindungsgemäßen Ausführungsform
wird als nächstes
mit Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben. Jedoch
sollte die vorliegende Erfindung nicht als hierauf eingeschränkt angesehen
werden.
-
Als
erstes wird der Aufbau einer Zündkerze 100,
welche die Zündkerze
entsprechend dieser Ausführungsform
ist, mit Bezugnahme auf 1 und 2 beschrieben. 1 ist
eine teilweise Querschnittsansicht der Zündkerze 100. 2 ist
eine Querschnittsansicht eines Vorderendbereiches eines Edelmetallchips 30, 90.
Bezüglich
der Richtung einer in 1 gezeigten Achse O (dargestellt
durch die Punkt- und
Strichlinie O in 1) ist hier eine Seite in Richtung
einer Mittenelektrode 2 als eine Vorderes-Ende-Seite der
Zündkerze 100 genommen,
und ist eine Seite in Richtung eines metallischen Anschlusses 4 als
eine Rückendseite
genommen.
-
Wie
in 1 gezeigt, umfasst die Zündkerze 100 einen
Isolator 1; eine metallische Hülse 5, welche den
Isolator 1 hält;
die Mittenelektrode 2, welche in dem Isolator 1 gehalten
ist, so dass sie sich in der Richtung der Achse O erstreckt; eine
Masseelektrode 60, deren erster Endbereich an eine Vorderes-Ende-Fläche 57 der
metallischen Hülse 5 geschweißt ist und
deren zweiter Endbereich gegenüber
einem Vorderendbereich 22 der Mittenelektrode 2 angeordnet
ist; und den metallischen Anschluss 4, welcher an einem
oberen Endbereich des Isolators 1 bereitgestellt ist.
-
Als
erstes wird der Isolator 1 der Zündkerze 100 beschrieben.
Der Isolator 1 nimmt eine röhrenförmige Form an und ist, wie
wohlbekannt, durch Feuerführung
aus Aluminium oder ähnlichem
gebildet. Ein Beinbereich 13, welcher innerhalb einer Verbrennungskammer
eines Verbrennungsmotors angeordnet ist, ist an einem Vorderendbereich
(ein Endbereich, der in Richtung der Vorderes-Ende-Seite bezüglich der
Richtung der Achse O angeordnet ist) des Isolators 1 bereitgestellt.
Eine axiale Ausnehmung 12 ist in dem Isolator 1 in
der Form gebildet, so dass sie sich entlang der Achse O erstreckt.
-
Die
Mittenelektrode 2 ist in der axialen Ausnehmung 12 des
Isolators 1 gehalten und ist so aufgebaut, dass ein Kupferkern
mit einer Oberflächenschicht
einer Nickel-Legierung, wie beispielsweise INCONEL (Handelsname) 600 oder 601 oder ähnlichem
bedeckt ist. Der Vorderendbereich 22 der Mittenelektrode 2 ragt
von der Vorderes-Ende-Fläche
des Isolators 1 heraus und verjüngt sich so, dass der Durchmesser
in Richtung des Vorderendes reduziert ist. Ein zylindrischer Edelmetallchip 30 ist
an die Vorderes-Ende-Fläche
des Vorderendbereiches 22 geschweißt, beispielsweise durch Widerstandsschweißen oder
Laserschweißen,
so dass seine Achse mit der Achse O der Mittenelektrode 2 ausgerichtet
ist. Die Mittenelektrode 2 ist elektrisch mit dem oberen
metallischen Anschluß 4 über ein
Dichtungsteil 14 und einen Widerstand 3 verbunden,
welche in der axialen Ausnehmung 12 bereitgestellt sind.
Ein Hochspannungskabel (nicht gezeigt) ist mit dem metallischen
Anschluß 4 über eine
Kerzenkappe (nicht gezeigt) verbunden, wobei auf den metallischen
Anschluß 4 eine
Hochspannung von einem externen Schaltkreis angelegt wird.
-
Als
Nächstes
wird die metallische Hülse 5 beschrieben.
Die metallische Hülse 5 ist
dazu ausgebildet, den Isolator 1 zu halten und die Zündkerze 100 an
einen nicht gezeigten Verbrennungsmotor zu fixieren. Die metallische
Hülse 5 hält den Isolator 1 in
einem umgreifenden Zustand. Die metallische Hülse 5 ist aus einem Niedercarbonstahl
gebildet und umfasst einen Werkzeugeingriffbereich 51,
mit welchem ein nicht gezeigter Zündkerzenschlüssel in
Eingriff gebracht wird, und einen Außengewindebereich 52,
welcher in Schraub-Eingriff
mit einem an einem oberen Bereich des nicht gezeigten Verbrennungsmotors
bereitgestellten Maschinenkopf gebracht wird.
-
Die
metallische Hülse 5 umfaßt weiterhin
einen Bördelbereich 53,
der auf der Rückendseite
des Werkzeug-Eingriffbereichs 51 angeordnet ist. Ein Umbiegen
des Bördelbereiches 53 bewirkt,
dass der Isolator 1 auf einem gestuften Bereich 56 über eine
Blechpackung 8 gehaltert ist, wodurch die metallische Hülse 5 und
der Isolator 1 miteinander verbunden sind. Um die Dichtung
durch das Umbiegen zu sichern, vermitteln Ringteile 6 und 7 zwischen
der metallischen Hülse 5 und
dem Isolator 1. Talk 9 in Pulverform füllt einen
Raum zwischen den Ringteilen 6 und 7. Ein Flanschbereich 54 ist
an einem zentralen Bereich der metallischen Hülse 5 gebildet. Ein
Dichtungsring 10 (eine ringförmige durch Falten eines Blechs
gebildete Packung) ist durch Einfügen auf eine Auflagefläche 55 des
Flanschbereiches 54 eingepaßt, wobei die Auflagefläche 55 auf
der Rückendseite
des Außengewindebereiches 52 angeordnet
ist.
-
Als
Nächstes
wird die Masseelektrode 60 beschrieben. Die Masseelektrode 60 ist
aus einem Metall mit einem hohen Korrosionswiderstand gebildet;
beispielsweise einer Nickel-Legierung,
wie beispielsweise INCONEL (Handelsname) 600 oder 601. Die Masseelektrode 60 weist
einen im wesentlichen rechteckigen Querschnitt, rechtwinklig zu
ihrer longitudinalen Richtung genommen, auf. Ein erster Endbereich 62 der
Masseelektrode 60 ist durch Schweißen an die Vorderes-Ende-Fläche 57 der
metallischen Hülse 5 angefügt (verbunden).
-
Ein
zweiter Endbereich 61 der Masseelektrode 60 ist
so gebogen, dass er dem Vorderendbereich 22 der Mittenelektrode 2 gegenübersteht.
Der Edelmetallchip 90 ist an den zweiten Endbereich 61 beispielsweise durch
Widerstandsschweißen
oder Laserschweißen
angefügt.
Eine innere Fläche 63 des
zweiten Endbereiches 61 der Masseelektrode 60 ist
gegenüber
der Mittenelektrode 2 angeordnet und ist im wesentlichen
orthogonal zu der Achse O der Mittenelektrode 2. Eine Front-Ende-Fläche 91 des
zylindrischen Edelmetallchips 90, welcher auf der inneren
Fläche 63 der
Masseelektrode 60 in einem herausragenden Zustand bereitgestellt
ist, ist gegenüber
einer Front-Ende-Fläche 31 des
Edelmetallchips 30 der Mittenelektrode 2 angeordnet,
wodurch hierzwischen ein Funkenentladungsspalt gebildet ist.
-
Als
Nächstes
werden die Edelmetallchips 30 und 90 mit Bezugnahme
auf 2 beschrieben. Da der Edelmetallchip 30 und
der Edelmetallchip 90 einen ähnlichen Aufbau aufweisen,
abgesehen von den Abmessungen, werden die Edelmetallchips 30 und 90 mit
Bezugnahme auf die selbe Zeichnung beschrieben. Der Edelmetallchip 30, 90 ist
aus einer Legierung gebildet, die Iridium, welches einen exzellenten
Erosionswiderstand aufweist, in einer Menge von 70 Gew.-% oder mehr,
sowie Platin, Ruthenium oder Rhodium als eine zweite Komponente
enthält.
Insbesondere ist der Edelmetallchip 30, 90 aus
Ir-5 Gew.-% Pt, Ir-11 Gew.-% bis 8 Gew.-% Rh-1 Gew.-% Ni oder Ir-20
Gew.-% Rh gebildet. Wie in 2 gezeigt,
ist der Umfangsbereich der Front-Ende-Fläche 31, 91 des
zylindrischen Edelmetallchips 30, 90; d.h. ein
durch die Front-Ende-Fläche 31, 91 und
einer Umfangsseitenfläche 33, 93 gebildeter
Dihedralflächenbereich,
abgerundet oder angefast, so dass ein Bereich 32, 92 mit
einer abgetragenen Kante gebildet ist. In der vorliegenden Ausführungsform
beträgt
die Kantenabtragungs-Länge
0,01 mm oder mehr, und das Verhältnis
der Kantenabtragungs-Länge
(r) zu dem Radius der Front-Ende-Fläche (R) des Edelmetallchips 30, 90 is
kleiner als 0,3. Angemerkt sei, dass, wenn ein durch Abtragen einer
Kante von einem Dihedralflächenbereich
abgeschrägter
oder gebogener Bereich auf eine Ebene, die parallel zu einer Ebene
des Dihedralflächenbereiches
ist, projiziert wird, die Länge des
abgeschrägten
oder gebogenen Bereiches, wie auf der Ebene gemessen, als die Kantenabtragungs-Länge definiert
ist. Beispielsweise ist, in dem Fall einer Projektion auf eine Ebene
parallel zu der Front-Ende-Fläche 31, 91 des
Edelmetallchips 30, 90, die Kantenabtragungs-Länge die
Länge (durch
r in 2 angezeigt) des Bereiches 32, 92 mit
einer abgetragenen Kante, wie in einer radialen Richtung der projizierten
Front-Ende-Fläche 31, 91 gemessen
ist. Wie oben beschrieben, ist in dem zylindrischen Iridium-enthaltenden
Edelmetallchip 30, 90 ein Umfangsrandbereich der
Front-Ende-Fläche 31, 91 in
den Bereich 32, 92 mit einer abgetragenen Kante
gebildet, wodurch das Auftreten von Brechen oder Abplatzen des Edelmetallchips
reduziert ist. Auf diese Weise kann die Haltbarkeit vergrößert werden.
-
Der
Edelmetallchip 30, 90 der vorliegenden Ausführungsform
ist so aufgebaut, dass sein Durchmesser 0,3 mm bis 0,8 mm beträgt, um hierdurch
die Entladungsspannung abzusenken und die Zündleistung zu vergrößern.
-
Ein
Verfahren zur Herstellung des in der Zündkerze 100 verwendeten
Edelmetallchips 30, 90, mit dem oben beschriebenen
Aufbau, wird als Nächstes
unter Bezugnahme auf 3 und 4 beschrieben. 3 zeigt
schematisch ein Beispielverfahren zur Herstellung des Edelmetallchips 30, 90. 4 zeigt
schematisch ein Beispiel der Mikrostruktur des Edelmetallchips 30, 90.
-
Der
Edelmetallchip 30, 90 der vorliegenden Ausführungsform
wird in der folgenden Weise hergestellt. Wie in 3 gezeigt,
wird wenigstens eines von Platin, Ruthenium und Rhodium als eine
zweite Komponente mit Iridium, welches eine Hauptkomponente des
Edelmetallchips 30, 90 ist, gemischt, und, bei
Bedarf, wird eine andere Komponente (Nickel, Palladium, Wolfram
oder ähnliches)
weiterhin hinzugefügt,
wodurch ein Materialpulver 110 vorbereitet wird (Mischprozeß). Als
Nächstes
wird das Materialpulver 110 in einem Schmelzofen geschmolzen,
und ein Rohling 120 wird von dem geschmolzenen Metall erhalten
(Schmelzprozeß).
Der Rohling 120 wird so gewalzt, dass er sich in der axialen
Richtung erstreckt, wodurch ein Materialstab 131 erhalten
wird (siehe 4) (Walzprozeß). Der
Materialstab 131 wird durch ein Loch einer Drahtziehform 130 gezogen,
um hierdurch einen Materialdraht 135 mit einem kreisförmigen Querschnitt
und einem Durchmesser von 0,3 mm bis 0,8 mm zu erhalten (Formprozeß). Der
Materialdraht 135 wird in Stücke geschnitten, von denen jedes
eine vorbestimmte Länge
aufweist. Die Stücke
werden einer Kantenabtragung ausgesetzt, bei welcher Kanten von
entgegengesetzten Seiten jedes Stücks durch Verwendung eines
Fasses (nicht gezeigt) abgetragen werden. Als ein Ergebnis werden
die zylindrischen Edelmetallchips 30, 90 mit Bereichen 32, 92 mit
abgetragenen Kanten (siehe 2) erhalten
(Schneidprozeß).
-
Kristallkörner, die
den so gebildeten Edelmetallchip 30, 90 bilden
(d.h. Kristallkörner
eines Metalls, das Iridium als eine Hauptkomponente enthält) nehmen
die Form von sich in der axialen Richtung erstreckenden Fasern,
wie in 4 gezeigt, an. Die Faserform wurde den Kristallkörnern während der
Formung des gezogenen Materials 135 durch die in 3 gezeigten
Walz- und Formprozesse verliehen. Auf diese Weise kann der Edelmetallchip 30, 90 überragende
mechanische Eigenschaften hinsichtlich Zähigkeit und Stärke aufweisen, neigt
aber zum Brechen oder Abplatzen in der Richtung der Fasern; d.h.,
die axiale Richtung, entlang welcher sich die Kristallkörner erstrecken.
Insbesondere vergrößert sich
die Anfälligkeit
für Brechen
oder Abplatzen, wenn eine externe Kraft auf einen Dihedralwinkelbereich
des Edelmetallchips 30, 90 ausgeübt wird.
Um diese Wahrscheinlichkeit von Brechen oder Abplatzen zu verringern,
ist der Bereich 32, 92 mit einer abgetragenen Kante
in der vorliegenden Ausführungsform
gebildet. Die Bildung des Bereiches 32, 92 mit
einer abgetragenen Kante kann das Auftreten von Brechen oder Abplatzen
des Edelmetallchips wirksam verringern, wodurch eine Haltbarkeit
vergrößert wird.
-
Beispiel 1
-
Um
die Wirkung des Bereiches 32, 92 mit einer abgetragenen
Kante hinsichtlich eines verringerten Auftretens von Brechen oder
Abplatzen zu bestätigen,
wurde die Beziehung zwischen dem Radius R des Edelmetallchips 30, 90 und
der Kantenabtragungs-Länge
r des Bereiches 32, 92 mit einer abgetragenen
Kante untersucht. Als Erstes wurde, wie in Tabelle 1 unten gezeigt,
die Beziehung zwischen der Kantenabtragungs-Länge r und dem Auftreten von
Brechen oder Abplatzen ausgewertet. Die Auswertung wurde wie folgt
ausgeführt. Der
Edelmetallchip 30 wurde an die Mittenelektrode 2 angefügt, und
dann wurde die Mittenelektrode 2 in den Isolator 1 eingefügt. Der
Isolator, der die Mittenelektrode hielt, wurde in einer 70°-Schräge von einer
Höhe von 30
cm mit seinem Vorderende nach unten zeigend herabgleiten gelassen,
so dass der Edelmetallchip 30 auf die Aufschlagfläche traf.
Der Test wurde an 1000 Proben genommen mit jeder Kombination der
Größe (Durchmesser × Höhe mm) des
Edelmetallchips 30 und der Kantenabtragungs-Länge (r mm).
Wenn Brechen oder Abplatzen 10% oder mehr der Fläche der Front-Ende-Fläche 31 des
Edelmetallchips 30 einnimmt, wurde beurteilt, dass der
Edelmetallchip 30 Brechen oder Abplatzen erleidet. Auf
der Grundlage dieses Kriteriums wurde das Auftreten von Brechen
oder Abplatzen ermittelt. Angemerkt sei, dass das Einnehmen von
10% oder mehr von der Fläche
der Front-Ende-Fläche 31 des
Edelmetallchips 30 durch Brechen bedeutet, dass, wenn die
gebrochene Front-Ende-Fläche 31 von
oben gesehen ist, ein Bereich mit einer kleineren Fläche von
zwei Bereichen, in welche die Front-Ende-Fläche 31 durch
Brechen geteilt ist, 10% oder mehr der Fläche der Front-Ende-Fläche 31 einnimmt.
In diesem Fall ist die Fläche
der Front-Ende-Fläche 31 die
Fläche
der Front-Ende-Fläche,
bevor ein Bereich mit einer abgetragenen Kante gebildet ist, und
wird von dem Durchmesser des Edelmetallchips 30 berechnet.
-
Die
Proben, deren Edelmetallchips 30 einen Durchmesser von
0,6 mm (Radius 0,3 mm) und eine Höhe von 0,8 mm aufwiesen, und
die jeweiligen Bereiche 32 mit einer abgetragenen Kante
mit einer Kantenabtragungs-Länge
r von 0,005 mm, 0,01 mm, 0,02 mm, 0,08 mm und 0,1 mm beinhalteten,
zeigten jeweils ein Auftreten von Brechen oder Abplatzen von 15,0%,
1,0%, 0,4%, 0,5% und 0,1% auf. Die Proben, deren Edelmetallchips 30 einen
Durchmesser von 0,4 mm (Radius 0,2 mm) und eine Höhe von 0,6
mm aufwiesen, und die jeweiligen Bereiche 32 mit einer
abgetragenen Kante mit einer Kanten-Abtragungs-Länge
r von 0,005 mm, 0,01 mm, 0,02 mm, 0,08 mm und 0,1 mm beinhalteten,
zeigten jeweils ein Auftreten von Brechen oder Abplatzen von 20,0%,
3,0%, 0,6%, 0,5% und 0,3%. Die Proben, deren Edelmetallchips 30 einen
Durchmesser von 0,7 mm (Radius 0,35 mm) und eine Höhe von 0,5
mm aufwiesen und die jeweiligen Bereiche 32 mit einer abgetragenen
Kante mit einer Kantenabtragungs-Länge r von 0,005 mm, 0,01 mm,
0,02 mm, 0,05 mm, 0,08 mm und 0,1 mm beinhalteten, zeigten jeweils
ein Auftreten von Brechen oder Abplatzen von 13,0%, 0,9%, 0,3%, 0,1%
und 0,0%.
-
-
Die
obigen Testergebnisse zeigen, dass ein Vergrößern der Kantenabtragungs-Länge dazu
neigt, das Auftreten von Brechen oder Abplatzen zu verringern. Wenn
die Kantenabtragungs-Länge
sich vergrößert, ist das
Verhältnis
eines durch die Front-Ende-Fläche 31 und
die Umfangsseitenfläche 33 gebildeten
Dihedralwinkelbereiches des Edelmetallchips 30 zu dem gesamten
Edelmetallchip 30 verringert. Mit anderen Worten, von dem
Standpunkt des gesamten Edelmetallchips 30, bildet der
Bereich 32 mit einer abgetragenen Kante weniger den Dihedralwinkelbereich,
wenn die Kantenabtragungs-Länge
zunimmt. Sogar, wenn eine externe Kraft auf den Edelmetallchip 30 ausgeübt wird,
wird die externe Kraft verteilt, so dass Brechen oder Abplatzen
unwahrscheinlich wird, aufzutreten. Eine Kantenabtragungs-Länge von
0,01 mm oder mehr unterdrückt
das Auftreten von Brechen oder Abplatzen auf 3% oder weniger.
-
Beispiel 2
-
Als
Nächstes
wurden, wie in Tabelle 2 unten gezeigt, die Edelmetallchips hinsichtlich
Bogen-induzierter Erosion ausgewertet, in Bezug darauf, ob oder
ob nicht Brechen oder Abplatzen auf den Edelmetallchips vorliegt.
Von den Zündkerzen 100,
welche in Beispiel 1 bewertet wurden und an welche die Edelmetallchips 30 mit
der Größe und der
Kantenabtragungs-Länge,
wie in Tabelle 2 gezeigt, angefügt
sind, wurden die, die an Brechen oder Abplatzen litten, und die,
die frei von Brechen oder Abplatzen waren, zufällig ausgewählt. Die so ausgewählten Zündkerzen 100 wurden
ausgewertet. In einer Stickstoffatmosphäre mit einem Druck von 0,4 MPa
wurde eine Funkenentladung bei einer Funkenfrequenz von 60 Hz für 200 Stunden
durchgeführt.
Nach dem Test wurde der Betrag (Länge mm) einer Vergrößerung des
Funkenentladungsspaltes, verglichen mit dem Funkenentladungsspalt
vor dem Test, gemessen.
-
Von
den Zündkerzen 100,
deren Edelmetallchips 30 einen Durchmesser von 0,6 mm (Radius
0,3 mm), eine Höhe
von 0,8 mm und eine Kantenabtragungs-Länge r von 0,005 mm aufwiesen,
wiesen die Zündkerzen, deren
Edelmetallchips 30 frei von Brechen oder Abplatzen waren
und die Zündkerzen,
deren Edelmetallchips Brechen oder Abplatzen erlitten, eine Vergrößerung des
Funkenentladungsspaltes von jeweils 0,02 mm und 0,10 mm auf, was
nach dem Test gemessen wurde. Von den Zündkerzen 100, deren
Edelmetallchips 30 einen Durchmesser von 0,6 mm (Radius
0,3 mm), eine Höhe
von 0,8 mm und eine Kantenabtragungs-Länge r von 0,08 mm aufwiesen,
wiesen die Zündkerzen,
deren Edelmetallchips 30 frei von Brechen oder Abplatzen
waren und die Zündkerzen,
deren Edelmetallchips 30 ein Brechen oder Abplatzen erlitten,
eine Vergrößerung des Funkenentladungsspalts
von jeweils 0,03 mm und 0,11 mm auf, wie nach dem Test gemessen
wurde. Von den Zündkerzen 100,
deren Edelmetallchips 30 einen Durchmesser von 0,7 mm (Radius
0,35 mm), eine Höhe
von 0,5 mm und eine Kantenabtragungs-Länge r von 0,005 mm aufwiesen,
wiesen die Zündkerzen,
deren Edelmetallchips 30 frei von Brechen oder Abplatzen
waren und die Zündkerzen,
deren Edelmetallchips 30 Brechen oder Abplatzen erlitten,
eine Vergrößerung des
Funkenentladungsspalts um jeweils 0,01 mm und 0,09 mm auf, wie nach
dem Test gemessen wurde.
-
-
Die
obigen Testergebnisse zeigen, dass diejenigen Edelmetallchips 30,
die Brechen oder Abplatzen erlitten haben, eine schlechte Haltbarkeit
gegenüber
Funkenentladung aufweisen und zu Erosion neigen. Dies ist, weil
die Funkenentladung auf einen Dihedralwinkelbereich konzentriert
ist, welcher an dem Ort des Brechens oder Abplatzens aufgetreten
ist, was die Anfälligkeit
für Erosion
verursacht. Es wurde auch bestätigt, dass
den Edelmetallchip 30 einer Kantenabtragung auszusetzen,
nicht die Haltbarkeit gegenüber
Funkenentladung beeinflusst.
-
Beispiel 3
-
Als
Nächstes
wurden, wie in Tabelle 3 unten gezeigt, die Edelmetallchips hinsichtlich
der Beziehung zwischen der Größe ihrer
distalen Fläche
und der Kantenabtragungs-Länge
bewertet. Die Auswertung wurde wie folgt ausgeführt: Eine Funkenentladung wurde
500 Mal in einer Luft-Atmosphäre
bei einem Druck von 0,6 MPa aktiviert. Der Funkenentladungsspalt
wurde auf 1,05 mm gesetzt. Wie in dem Fall von Beispiel 1, wurde der
Test mit 50 Proben ausgeführt,
mit jeder Kombination der Größe (hier
Radius R, in mm) des Edelmetallchips 30 und der Kantenabtragungs-Länge (r,
in mm). Wenn der Durchschnittswert von gemessenen Entladungsspannungen
weniger als 12 KV betrug, wurde die Gruppe als "exzellent" bewertet und mit "o" in
Tabelle 3 markiert; wenn der Durchschnittswert 12 KV oder größer und
kleiner als 15 KV war, wurde die Gruppe als "gut" bewertet
und mit "Δ" markiert; und wenn
der Durchschnittswert 15 KV oder mehr betrug, wurde die Gruppe als "defekt" bewertet und mit "x" markiert.
-
Diejenigen
Proben, deren Edelmetallchips 30 einen Radius von 0,3 mm
(Durchmesser 0,6 mm, Höhe 0,8
mm) aufwiesen und die entsprechenden Bereiche 32 mit einer
abgetragenen Kante mit einer Kantenabtragungs-Länge r von 0,005 mm, 0,01 mm,
0,02 mm, 0,07 mm, 0,08 mm, 0,09 mm und 0,1 mm beinhalteten, wurden
jeweils als o, o, o, o, Δ,
x und x bewertet. In den Edelmetallchips 30 der Proben
waren die Verhältnisse der
Kantenabtragungs-Länge
r zu dem Radius R der Front-Ende-Fläche 31;
d.h., die Verhältnisse
r/R zwischen der Kantenabtragungs-Länge x und dem Radius R jeweils
0,017, 0,033, 0,067, 0,233, 0,267, 0,300 und 0,333. Ähnlich wurden
die Proben, deren Edelmetallchips einen Radius von 0,2 mm (Durchmesser
0,4 mm, Höhe
0,6 mm) aufwiesen und die entsprechenden Bereiche 32 mit
einer abgetragenen Kante mit einer Kantenabtragungs-Länge r von
0,005 mm, 0,01 mm, 0,04 mm, 0,05 mm, 0,06 mm und 0,08 mm beinhalteten,
jeweils als o, o, o, Δ,
x und x bewertet. In den Proben waren die Verhältnisse r/R zwischen der Kantenabtragungs-Länge r und
dem Radius R jeweils 0,025, 0,050, 0,200, 0,250, 0,300 und 0,400.
-
-
- o:
- Weniger als 12 KV
- Δ:
- 12 KV bis 15 KV (ausschließlich)
- x:
- 15 KV oder mehr
-
Die
obigen Tests zeigen, dass, wenn das Verhältnis r/R zwischen der Kantenabtragungs-Länge r und dem
Radius R 0,3 oder größer wird,
die Entladungsspannung zunimmt. Die Fläche der Front-Ende-Fläche 31 des
Edelmetallchips 30 nimmt ab und daher nimmt die Entladungsfläche ab.
Entsprechend ist die Funkenentladung auf einen bestimmten Bereich
konzentriert und die Erosion des Bereiches ist intensiviert. Als
ein Ergebnis neigt der Funkenentladungsspalt dazu, größer zu werden,
was möglicherweise
in verschlechterter Haltbarkeit resultiert. Daher ist das Verhältnis r/R
zwischen der Kantenabtragungs-Länge
r und dem Radius R wünschenswert
kleiner als 0,3. Mehr bevorzugt ist das Verhältnis r/R geringer als 0,25,
da die Entladungsspannung geringer als 12 KV sein kann.
-
Beispiel 4
-
Schließlich wurde,
wie in Tabelle 4 unten gezeigt, die Beziehung zwischen der Vickers-Härte der
Edelmetallchips und dem Auftreten von Brechen oder Abplatzen ausgewertet.
Die Auswertung wurde wie folgt durchgeführt: Der Falltest von Beispiel
1 wurde mit den Proben durchgeführt,
deren Edelmetallchips 30 sich in der Vickers-Härte unterschieden
und die einer Kantenabtragung ausgesetzt waren sowie denen, deren
Edelmetallchips 30 sich in der Vickers-Härte unterschieden
und die nicht einer Randabtragung ausgesetzt waren. Das Bewertungsverfahren
von Beispiel 1 wurde auch verwendet.
-
Vier
Arten von Edelmetallchips 30 (Durchmesser 0,6 mm, Höhe 0,8 mm),
auf welchen der Bereich 32 mit einer abgetragenen Kante
mit einer Kantenabtragungs-Länge
von 0,005 mm gebildet war und welche eine Vickers-Härte von
490 HV, 505 HV, 530 HV und 600 HV aufwiesen, wiesen ein Auftreten
von Brechen oder Abplatzen von jeweils 10,0%, 13,0%, 15,0% und 17,0%
auf. Vier Arten von Edelmetallchips 30 (Durchmesser 0,6
mm, Höhe
0,8 mm), an welchen der Bereich 32 mit einer abgetragenen
Kante mit einer Kantenabtragungs-Länge von 0,02 mm gebildet war
und welche eine Vickers-Härte
von 490 HV, 505 HV, 530 HV und 600 HV aufwiesen, wiesen ein Auftre ten
von Brechen oder Abplatzen von jeweils 0,8%, 0,6%, 0,4% und 0,2%
auf.
-
-
Die
obigen Testergebnisse zeigen, dass in dem Fall, wo die Edelmetallchips
(30) nicht einer Kantenabtragung ausgesetzt waren, mit
einer Zunahme der Härte,
zunehmend Brechen oder Abplatzen auftritt. Dies ist, weil ein Edelmetallchip
von geringerer Härte
eine extern ausgeübte
Kraft durch Deformation verteilen und absorbieren kann. Jedoch verringert
das Aussetzen des Edelmetallchips einer Kantenabtragung das Auftreten von
Brechen oder Abplatzen. Insbesondere zeigte sich bei einer 500 HV überschreitenden
Vickers-Härte
die Wirkung der Kantenabtragung signifikant. Mit anderen Worten
gestattet durch Vermeiden einer Konzentration einer extern ausgeübten Kraft
auf einen einzelnen Punkt mittels Kantenabtragung es einem Edelmetallchip, mit
einer höheren
Härte weniger
zu Brechen oder Abplatzen zu neigen.
-
In
den obigen Beispielen 1 bis 4 wurde ein an die Mittenelektrode 2 angefügter Edelmetallchip 30 ausgewertet.
Ein dem Edelmetallchip 30 ähnlicher Chip kann als der
Edelmetallchip 90 verwendet werden, der an die Masseelektrode 60 angefügt ist.
-
Die
vorliegende Erfindung ist nicht auf die oben beschriebene Ausführungsform
eingeschränkt,
sondern kann in verschiedenen anderen Formen ausgeführt werden.
Beispielsweise ist der Bereich 32, 92 mit einer
abgetragenen Kante in der vorliegenden Ausführungsform durch Abrunden gebildet,
aber er kann auch durch Fasen gebildet werden. Der Edelmetallchip 30 ist
auf der Mittenelektrode 2 bereitgestellt und der Edelmetallchip 90 ist
auf der Masseelektrode 60 bereitgestellt. Jedoch kann ein
Edelmetallchip auf einer der Mittenelektrode 2 oder der
Masseelektrode 60 oder beiden bereitgestellt sein. In der
vorliegenden Ausführungsform
wird eine Kantenabtragung auf den entgegengesetzten Endflächen des
Edelmetallchips 30 durch Verwendung einer Tonne durchgeführt. Jedoch
kann Kantenabtragung auf einer der entgegengesetzten Endflächen durchgeführt werden.
In diesem Falle wird die Endfläche,
an welcher die Kantenabtragung nicht durchgeführt wurde, an die Mittenelektrode
oder die Masseelektrode angefügt.
-
Während die
Erfindung im Detail und mit Bezug auf ihre spezifischen Ausführungsformen
beschrieben wurde, wird es dem Fachmann klar sein, dass verschiedene Änderungen
und Modifikationen an ihr, ohne von dem Geist und dem Bereich der
Erfindung abzuweichen, durchgeführt
werden können.
-
Diese
Anmeldung beruht auf der Japanischen Patentanmeldung Nr. 2004-61813,
angemeldet am 05. März
2004, welche hierin durch Referenz umfassend aufgenommen ist.
-
Zusammengefasst
stellt die Erfindung also eine Zündkerze
bereit, die einen an wenigstens entweder einer Mittenelektrode oder
einer Masseelektrode angefügten
Edelmetallchip aufweist, wobei die Mittenelektrode und die Masseelektrode
einen Funkenentladungsspalt bilden, und bei welchem Edelmetallchip
eine Umfangskante von seiner Front-Ende-Fläche abgetragen ist, so dass
ein Bereich mit einer abgetragenen Kante gebildet ist. Die Kantenabtragungslänge beträgt 0,01
mm oder mehr und ein Verhältnis
der Kantenabtragungslänge
zu einem Radius des Edelmetallchips ist kleiner als 0,3. Der Edelmetallchip
ist aus Iridium oder einer Legierung, die Iridium in einer Menge
von 70 Gew.-% oder mehr enthält,
gefertigt, und den Edelmetallchip bildende Kristallkörner erstrecken
sich in der axialen Richtung. Auch ist ein Verfahren zur Herstellung
der Zündkerze
offengelegt.