DE102005004885B4 - Transport von Ionen ins Vakuum - Google Patents

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Abstract

Verfahren für den Transport von Ionen aus einer Ionenquelle, die bei einem Druck von mehr als 100 Hektopascal betrieben wird, in ein Vakuumsystem eines Massenspektrometers, dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen durch mindestens zwei hintereinander angeordnete Vielkanalplatten in das Vakuumsystem des Massenspektrometers transportiert werden, wobei sich zwischen den Vielkanalplatten jeweils ein Zwischenraum befindet, aus dem Gas abgepumpt wird.

Description

  • Die Erfindung betrifft Verfahren und Vorrichtungen für den gasgeführten Transport von Ionen ins Vakuumsystem eines Massenspektrometers.
  • Die Erfindung verwendet statt einer kommerziell üblichen Einzelkapillare eine Vielkanalplatte mit Hunderttausenden von sehr kurzen und engen Kapillaren, deren Gasdurchsatz insgesamt nicht höher ist als der einer üblichen Einzelkapillare. Durch die weitflächige Aufnahme von Ionen im Gasfluss wird die Überführungsausbeute stark erhöht. Eine Leitfähigkeit der Kanäle verhindert Aufladungen der Innenoberflächen. Ein Ionentrichter kann die Ionen im Vakuum vom Gasfluss abtrennen und bündeln. Eine gasdynamische Fokussierung im elektrischen Gegenfeld vermindert Ionenverluste durch Wandstöße und verwehrt sehr leichten Ionen (Protonen, Wassercluster) den Eintritt ins Vakuum.
  • Stand der Technik
  • Für den Transport von Ionen von einem Ort zu einem anderen gibt es verschiedenartige Vorrichtungen, die den Druckverhältnissen der Umgebung angepasst sind. Für den Transport im Vakuum gibt es mehrere zufrieden stellende Lösungen einschließlich solcher Lösungen, die eine fokussierende Bündelung der Ionen in der Achse des Transportsystems erlauben. Für den gezielten, konzentrierten Transport von Ionen in Luft oder Gasen bei Atmosphärendruck gibt es jedoch nur den Transport mit dem fließenden Gas oder das Phänomen der Ionenmobilität, durch das Ionen längs elektrischer Kraftlinien durch das Gas driften, dabei ständig durch das Gas gebremst. Mit beiden Transportarten ist aber keine enge Bündelung der Ionen zu erreichen. Insbesondere für den gezielten Transport von Ionen, die sich in einer größeren Wolke in Umgebungsluft befinden, in das Vakuum eines Massenspektrometers hinein gibt es noch keine genügend verlustfreie Transportmöglichkeit.
  • In sehr gutem Hochvakuum kann man Ionen in Ionenleitsystemen transportieren, die aus einem äußerem Rohr und einem in der Achse gespanntem, dünnen Draht bestehen. Eine Potentialdifferenz zwischen Draht und Rohr schafft eine Feldkonstellation, in der Ionen im Rohr längs der Achse transportiert werden können, wobei die Ionen Kepler-Bewegungen um den Draht vollführen.
  • In weniger gutem Vakuum, in dem mäßig viele Stöße mit Restgasmolekülen die Bewegung der Ionen dämpfen, kann ein solches Ionenleitsystem nicht eingesetzt werden, da die gedämpften Ionen schließlich am zentralen Draht entladen würden. Hier kann man aber mit großem Erfolg Ionenleitsysteme auf der Basis linearer Hochfrequenz-Multipol-Stabanordnungen nach Wolfgang Paul benutzen, da diese elektrische Hochfrequenzfelder aufbauen, die die Ionen zur Achse der Stabanordnung hin beschleunigen. Durch die Dämpfung der Oszillationen quer zur Achse werden sie schließlich in der Achse des Stabsystems gesammelt. Ein Transport kann dann durch bewegtes Restgas oder durch Raumladungseffekte erreicht werden, beispielsweise dadurch, dass die Ionen an einem Ende des Stabsystems abgesaugt und durch die Raumladungswirkung nachgeschoben werden.
  • Zusätzlich zu diesen Stabsystemen sind weitere Ionenleitsysteme bekannt geworden, die mit Hochfrequenz betrieben und zusätzlich mit einer axialen Potentialdifferenz versehen werden können, wie beispielsweise Systeme aus einer Vielzahl von parallel angeordneten Ringblenden oder Doppelwendelsysteme ( US 5 572 035 A ; J. Franzen). Die axiale Potentialdifferenz führt die Ionen durch das Ionenleitsystem. Eine kürzlich gefundene Anordnung von parallelen Blenden mit sehr speziell geformten Öffnungen erlaubt sowohl die Sammlung in der Achse wie auch einen aktiven Vorwärtstransport der Ionen ( DE 10 2004 048 496 A1 ; J. Franzen et al.). Eine weitere Spielart eines Ionenleitsystems ist der Ionentrichter ( US 6 107 628 A ; R. D. Smith und S. A. Shaffer), der Ionen bei Drucken unterhalb eines Kilopascals aus einer größeren Wolke einsammeln, weitgehend von nachströmendem Gas befreien und bündeln kann. Er besteht aus Ringblenden mit sich verjüngenden Innendurchmessern der Blendenöffnungen und einer axialen Potentialdifferenz.
  • In Luft oder anderen Gasen können Ionen beliebig lange Zeiten überleben, wenn die Energie zu ihrer Ionisierung größer ist als die Energie zur Ionisierung der umgebenden Gase, und wenn Ionen anderer Polarität oder Elektronen für Rekombinationen nicht zur Verfügung stehen. Der Transport von Ionen durch Gase kann durch elektrische Felder bewirkt werden, wobei die Gesetze der Ionenmobilität gelten, nach denen die Ionen längs der elektrischen Kraftlinien wandern, stets gebremst und nur leicht durch Diffusionsbewegungen in ihrer Richtung gestört.
  • Es kann aber auch ein Transport der Ionen durch das bewegte Umgebungsgas selbst bewirkt werden. Wird Gas durch ein Rohr oder durch eine Kapillare gepresst, so werden Ionen im Gas viskos mitgenommen. So ist es bekannt, dass man Ionen, die außerhalb des Vakuumsystems erzeugt werden, durch eine Kapillare in das Vakuum eines Massenspektrometers führen kann. Man muss aber bei dem Transport von Ionen durch Kapillaren die Ionen davor bewahren, an die Wand zu stoßen, da diese Wandstöße die Ionen in der Regel entladen und damit vernichten.
  • Aus der Kapillarchromatographie weiß man, dass alle Moleküle eines Gases, das sich durch eine Kapillare bewegt, außerordentlich viele Wandstöße erleiden. Die Zahl der Wandstöße entspricht im wesentlichen der Zahl der theoretischen (Verdampfungs-)Böden, die für die Trennleistung von chromatographischen Säulen steht. Sie ist in Kapillarsäulen außerordentlich hoch. Man kann für eine optimale Gasgeschwindigkeit (der „van-Deemter-Geschwindigkeit”) als grobe Faustregel angeben, dass ein Molekül statistisch nach einer Wegstrecke, die dem Durchmesser der Kapillare entspricht, einmal an die Wand stößt. Für größere Gasgeschwindigkeiten nimmt die Zahl der Wandstöße pro Wegstreckeneinheit ab. Dabei gibt es allerdings immer wieder weite Wegstrecken ohne Wandstöße, abgelöst von Wegstrecken mit viel häufigeren Wandstößen. Es können daher durch eine Kapillare nur diejenigen Ionen unbeschädigt hindurchgelangen, die zufällig eine lange Wegstrecke ohne Wandberührung zurücklegen. Es steht zu vermuten, dass diese Ionen zentral in die Kapillare eingetreten sind.
  • In der Arbeit „Ion Transport by Viscous Gas Flow through Capillaries” von B. Lin und J. Sunner in J. Amer. Soc. Mass Spectr. 5, 873 (1994) ist das Phänomen des Transports von Ionen in Kapillaren untersucht worden. Die Autoren haben dabei zunächst der weit verbreiteten Vorstellung widersprochen, dass die Ionen durch Aufladung der Kapillarwände fokussiert werden können. Innerhalb einer Kapillare mit gleichmäßig aufgeladenen Wänden herrscht ein feldfreier Raum, in dem Ionen in keiner Weise fokussiert werden können. Es findet keinerlei Abstoßung der Ionen bei Annäherung an die geladene Wand statt. Die Versuche der Autoren ergaben, dass in der Tat starke Verluste durch die Diffusion der Ionen zu den Wänden hin in theoretisch erwartbarer Größe auftreten, und dass nur ein statistisch erwartbarer Rest der Ionen die Kapillare unbeschadet passieren kann. Die Ausbeute an transportierten Ionen nimmt mit der Länge der Kapillare ab, und wird für dünnere Kapillaren ebenfalls drastisch kleiner. Ein weiterer Verlust tritt insbesondere durch Raumladungseffekte auf, deren Coulombsche Abstoßung die Ionen an die Kapillarenwände treibt. Die Raumladungseffekte begrenzen den Transport von Ionen durch solche Einzellkapillaren.
  • Es ist weiterhin bekannt, dass man durch die viskose Mitnahme der Ionen im Gasstrom die Ionen sogar gegen eine Potentialdifferenz anpumpen kann, wie im Artikel „Electrospray Interface for Liquid Chromatographs and Mass Spectrometers” von C. Whitehouse et al., Anal. Chem. 1985, 57, 675, beschrieben. Davon macht man in kommerziell erhältlichen Geräten bereits Gebrauch. Die Ionen kann man damit beispielsweise auf ein Beschleunigungspotential innerhalb eines Massenspektrometers pumpen, oder man kann die Nadel einer Elektrosprüh-Einheit aus Sicherheitsgründen auf Erdpotential legen, und den Eingang der Kapillare auf das Sprühpotential.
  • Im Patent DE 195 15 271 C2 (J. Franzen, entsprechend GB 2 300 295 B , US 5 736 740 A ) wird eine gasdynamische Fokussierung vorgeschlagen, die beim Transport von Ionen gegen eine Potentialdifferenz in einer Kapillare auftreten muss. Die gasdynamische Fokussierung besteht in einem Umspülungsauftrieb eines Moleküls, dass sich wandnah im parabolischen Geschwindigkeitsprofil des Gasflusses befindet und eine rückwärts gerichtete Ionenmobilitätsbewegung ausführt.
  • Befindet sich ein abgebremstes Ion nicht in der Achse der Kapillare, so erlebt es auf der wandnahen Seite eine leicht geringere Geschwindigkeit der Gasumspülung als auf der Seite zur zentralen Achse hin. Dieser leichte Unterschied macht sich aufgrund der Bernoullischen Gesetze in einem so genannten Umspülungsauftrieb bemerkbar, der zur Seite der höheren Gasgeschwindigkeit, also zur Achse hin gerichtet ist. (Der Umspülungsauftrieb eines Flugzeugflügels ist bekannt, wenn auch etwas anders erzeugt, und hält das Flugzeug in der Luft.) Diese gasdynamisch gegebene Fokussierungskraft steht der zufälligen Diffusionsbewegung eines Ions auf die Wand zu entgegen und bringt das Ion wieder in die Achse der Kapillare zurück. Die Fokussierungskraft ist proportional zur Differenz der Umspülungsgeschwindigkeitsquadrate zu beiden Seiten des Ions, nimmt daher mit stärkerer Abbremsung zu. Sie ist nicht vorhanden, wenn sich das Ion mit der Geschwindigkeit des umgebenden Gases bewegt.
  • Dieser fokussierende Effekt als solcher konnte bisher nicht eindeutig nachgewiesen werden, wohl aber die mit diesem Effekt verbundene untere Abschneidegrenze für Ionen eines zu niedrigen Masse-Ladungs-Verhältnisses. Der fokussierende Effekt ist erwartbar sehr klein und entgegen gerichteten Raumladungseffekten weit unterlegen. Die gasdynamische Fokussierung kann daher nur wirken, wenn keinerlei Raumladungseffekte vorhanden sind.
  • In der Arbeit „Improved Ion Transmission from Atmospheric Pressure to High Vacuum Using a Multicapillary Inlet and Electrodynamic Ion Funnel Interface” von T. Kim et al., Anal. Chem., 72, 5014–5019 (2000) ist beschrieben, dass mit einem Bündel aus sieben gleichartigen Metallkapillaren weit mehr als das siebenfache des Ionentransports erreicht werden kann als mit einer einzigen Metallkapillare gleicher Dimension, eingelötet in einen gleichartigen Block, wenn auch die sieben Kapillaren mit stärkerem Pumpsystem ausgestattet werden müssen, um auf etwa gleichen Druck im Ionentrichter (ion funnel) zu kommen. Wie der 10- bis 20-fache Ionentransport durch das Bündel der sieben Kapillaren zustande kommt, ist bisher ungeklärt. Ebenfalls ist ungeklärt, wie zwei verschiedene Bündel mit 0,51 bzw. 0,43 Millimeter Innendurchmesser der einzelnen Kapillaren, deren Gasströme sich rechnerisch um einen Faktor zwei unterscheiden messen, eine Verringerung des Ionentransports um nur 30 Prozent zeigten.
  • Es kann nur vermutet werden, dass der Einstrom der Ionen in die sieben nebeneinander liegenden Kapillaren des Bündels durch eine gegenseitige Beeinflussung der Gasströme organisierter ist als der Einstrom in eine Einzelkapillare und möglicherweise zu weniger Verwirbelung im Eingangsbereich der Kapillare führt. Dass die Organisation des Gases am Eingang der Kapillare eine Rolle spielt, geht aus folgender Arbeit hervor: ”Improved Capillary Inlet Tube Interface for Mass Spectrometry – Aerodynamic Effects to Improve Ion Transmission”, D. Prior et al., Computing and Information Sciences 1999 Annual Report. Die Autoren berichten, dass eine leicht trichterförmige Aufweitung des Eingangs der Kapillare zu einer vierfach höheren Transmission der Ionen aus einer Elektrosprüh-Ionenquelle führt.
  • Aus der Druckschrift WO 2004/110583 A2 (Sheehan et al.) ist eine Vorrichtung zu entnehmen, mit der Ionen aus einem Gebiet höheren Druckes in ein Gebiet niedrigeren Druckes überführt werden, wobei die beiden Druckbereiche durch eine geschichtet aufgebaute Trennwand von einander getrennt sind, die eine Vielzahl von Löchern aufweist, durch die Ionen in das Gebiet niedrigen Druckes gelangen. Die Schichten der Trennwand bestehen jeweils entweder aus einem leitenden oder einem nichtleitenden Material.
  • Der Gasanfall im Vakuumsystem eines Massenspektrometers macht in der Regel ein differentielles Pumpsystem mit mindestens drei Druckstufen notwendig. Kommerziell erhältliche Elektrosprüh-Geräte enthalten diese Druckstufen. In der ersten Differenzpumpstufe herrscht dabei ein relativ hoher Druck in der Gegend von etwa einem bis zu drei Hektopascal, der die Weiterführung der Ionen stark behindert. Die Ionen werden dabei üblicherweise auf Abstreifer hin beschleunigt, die sich gegenüber der Stirnfläche der Kapillaren befinden. Dabei treten hohe Fokussierungs- und Streuverluste auf. Die Verwendung von Ionentrichtern, wie oben beschrieben, verbessert den Ionentransport durch diese erste Druckstufe. In der zweiten Druckstufe ist dann ein effektiver Einfang der Ionen möglich, beispielsweise durch ein Ionenleitsystem aus einer Multipolanordnung mit langen Polstäben.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Es ist die Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung bereitzustellen, mit denen Ionen bei etwa gleichem Gasstrom (oder sogar geringeren Gasströmen) verlustärmer als bisher und wenn irgend möglich mit viel kleineren Vorpumpen von Atmosphärendruck ins Vakuum eines Massenspektrometers transportiert werden können.
  • Beschreibung der Erfindung
  • Die Aufgabe wird durch ein Verfahren nach Anspruch 1 und durch Vorrichtungen nach Ansprüchen 9 und 14 gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen sind in den Ansprüchen 2 bis 8 bzw. 10 bis 13 ausgeführt.
  • Die Aufgabe der Erfindung wird dadurch gelöst, dass eine oder zwei hintereinander angeordnete Vielkanalplatten als Einführungssystem für Ionen aus einer Ionenquelle bei Atmosphärendruck in das Vakuum eines Massenspektrometers verwendet werden. Vielkanalplatten sind als Sekundärelektronen-Vervielfacher für Ionendetektoren bekannt; sie enthalten viele Tausende bis Hunderttausende von sehr engen Einzelkanälen quer durch relativ dünne Platten. Sie sind in der Regel aus Glas gefertigt und tragen Hochwiderstandsschichten auf den Innenwänden der Kanäle. Die Kanäle haben in der Regel Innendurchmesser, die kleiner als zehn Mikrometer sind. Günstige Innendurchmesser liegen bei etwa fünf Mikrometern.
  • Vielkanalplatten können so gewählt werden, dass der Gaseinstrom trotz Hunderttausender von sehr kurzen Kanälen etwa ebenso groß ist wie der Gaseinstrom durch eine Einzelkapillare. Beispiel: Eine Einzelkapillare mit 0,5 Millimeter Innendurchmesser und 160 Millimeter Länge und eine Vielkanalplatte von nur einem Millimeter Dicke und mit 500 000 Kanälen mit jeweils 5 Mikrometer Innendurchmesser haben nach dem Gesetz von Hagen-Poiseuille für kompressive Medien bei gleichem Druckunterschied den gleichen Gasdurchsatz. Die Kanäle können auf der Plattenoberfläche bei engstem Abstand eine Fläche von etwa sechs Quadratmillimetern einnehmen, bei größerem Abstand können sie über eine größere Fläche verteilt sein. Für eine Vielkanalplatte mit 0,3 Millimeter Dicke genügen etwa 150 000 Kanälchen, die minimal eine Fläche von etwa zwei Quadratmillimetern bedecken. Größere Abstände ergeben eine Vielka nalplatte größerer mechanischer Stabilität; sie bietet auch Vorteile für die Heranführung der Ionen, die nicht sonderlich fokussiert zu werden brauchen. Die Aufenthaltsdauer der Ionen in den Kanälchen von einem Millimeter Länge ist etwa ein Drittel so groß wie die der Ionen in der Einzelkapillare, sie beträgt weit weniger als eine Millisekunde. Dadurch herrschen ähnliche Verhältnisse für Desolvatationen und sonstige Prozesse, die in den Kapillaren ablaufen. Für eine dünne Vielkanalplatte von 0,3 Millimeter Dicke ergeben sich Aufenthaltszeiten der Ionen in den Kanälchen von nur etwa einem Zehntel einer Millisekunde.
  • Der Raumladungseffekt tritt in den Vielkanalplatten deutlich in den Hintergrund: Befindet sich zu jeder Zeit nur ein einziges Ion in jedem der Kanälchen aus obigen Beispielen, herrscht also überhaupt keine Coulombsche Abstoßung zwischen den Ionen, so können immerhin etwa eine Milliarde Ionen pro Sekunde ins Vakuum eintreten. In einer Einzelkapillare würde das zu starkem Gedränge führen: in einem Millimeter Kapillare würden sich etwa Zehntausend Ionen drängeln, was zu so starker Abstoßung führt, dass innerhalb von wenigen Mikrosekunden der größte Teil der Ionen an die Wand getrieben würde.
  • Durch die Hochwiderstandsbeschichtung ist es nicht nur möglich, Aufladungen auf den Innenwänden der Kanäle durch den gelegentlichen Aufprall von Ionen zu vermeiden, es ist darüber hinaus auch möglich, gleichmäßige Potentialgradienten zu erzeugen, die für eine gasdynamische Fokussierung eingesetzt werden können. In Abwesenheit von Raumladungsabstoßungen kann die oben beschriebene gasdynamische Fokussierung ihre Wirksamkeit entfalten und die Ionen von den Wänden fernhalten.
  • Die Kanälchen der Vielkanalplatte haben ein besseres (kleineres) Verhältnis von Länge zu Durchmesser als die Einzelkapillare. Bei gleichem Diffusionswinkel der Ionen im strömenden Gas haben die Ionen in den Kanälchen der Vielkanalplatte eine höhere Chance, selbst bei Fehlen einer gasdynamischen Fokussierung durch die Kanälchen unbeschädigt hindurch zu fliegen. Die überraschend hohe Wirksamkeit der Vielkanalplatte ist insbesondere wohl auch darauf zurück zu führen, dass, ähnlich wie beim Bündel aus sieben Kapillaren zu vermuten steht, der Einstrom des Gases besser organisiert ist und möglicherweise keine Eingangswirbel auftreten.
  • Die Technik der Herstellung von Vielkanalplatten ist ausgereift. Es gibt kommerzielle Anbieter, die Vielkanalplatten mit wählbaren Kanaldurchmessern, wählbarem Anstellwinkel der Kanäle, wählbarer Dicke und wählbarem Abstand zwischen den Kanälen anbieten. Die Vielkanalplatten können mit Hochwiderstandsbeschichtung an den Kanalwänden und mit metallischer Beschichtung der Plattenoberflächen geliefert werden, wie sie für Sekundärelektronen-Vervielfacher angeboten werden.
  • Beschreibung der Abbildungen
  • 1 zeigt eine Anordnung eines Ioneneinlasssystems nach dieser Erfindung mit schematischer Darstellung des Schutzgasstroms (6), der teils ins Vakuum eintritt, und teils der Ionenwolke (2) entgegenströmt. Hinter der Vielkanalplatte (4) befindet sich der Ionentrichter (5); vor ihr befindet sich eine Ringblende (3), die sowohl zur Führung des Schutzgases dient wie auch die Potentialverteilung für die Führung der Ionen zur Vielkanalplatte (4) formt.
  • 2 zeigt die gleiche Anordnung, jedoch mit schematischer Darstellung der Äquipotentialflächen der Potentialverteilung (7), die die Ionen aus der Ionenwolke (2) zur Vielkanalplatte (4) führen soll. Die Ionen wandern durch ihre Ionenmobilität stets senkrecht zu diesen Äquipotentialflächen zu den Stellen niedrigsten Potentials, das in diesem Fall an der Oberfläche der Vielkanalplatte (4) liegt.
  • 3 gibt schematisch eine Anordnung wieder, bei der eine Schließzunge (8) den Einstrom von Schutzgas (6) hinter der Vielkanalplatte (4) absperren kann. Außerdem lässt sich durch ein Heizelement (10) die Vielkanalplatte beheizen.
  • 4 gibt den abgesperrten Zustand der Anordnung aus 3 wieder. Dabei wird ein Gaskanal (9) frei geschaltet, durch den Schutzgas zugeführt werden kann, das dann in umgekehrter Richtung durch die Vielkanalplatte (4) strömt und diese von anhängendem Staub reinigt.
  • Besonders günstige Ausführungsformen
  • Es ist die Grundidee der Erfindung, eine oder zwei hintereinander angeordnete Vielkanalplatten mit Tausenden, in der Regel sogar mit Hundertausenden von engen und kurzen Kanälchen für den Einstrom eines Gemisches aus Ionen und Gas ins Vakuum zu verwenden. Eine Einführung von Ionen ins Vakuum ist für deren Analyse in einem Massenspektrometer notwendig, da jedes massenspektrometrische Prinzip nur in gutem Vakuum ausgeführt werden kann, häufig sogar im Hochvakuum oder Ultrahochvakuum (UHV).
  • Der Einstrom des Gemisches aus Ionen mit Gas, der bei Drucken nahe Atmosphärendruck beginnt, endet allerdings zunächst in einer ersten Stufe eines mehrstufigen Differenzpumpsystems. In dieser ersten Stufe müssen die Ionen weitgehend vom Gasfluss abgetrennt und getrennt weitergeleitet werden. Für diese Abtrennung wird bei Verwendung einer Einzelkapillare für gewöhnlich ein Abstreifer (Skimmer) benutzt. Der scharfe Gasjet, der aus der Einzelkapillare austritt, wird dabei auf die enge Durchtrittsöffnung des Abstreifers gerichtet, wobei der größte Teil des mitgeführten Gases durch die konische Ausführung des Abstreifers seitlich abgelenkt wird, während ein Teil der Ionen durch eine Unterstützung mit einem geeignet geformten elektrischen Führungsfeld durch die Öffnung des Abstreifers in die nächste Stufe des Differenzpumpsystems geführt wird. Der Anteil der Ionen, die durch die Öffnung des Abstreifers treten, ist nicht zufrieden stellend hoch.
  • Es ist nun eine besonders günstige Ausformung dieser Erfindung, den Abstreifer, der sich bei dem jetzt diffusen Einstrom durch die Vielkanalplatte (4) überhaupt nicht mehr wirksam verwenden lässt, durch einen Ionentrichter (5) zu ersetzen. Der Ionentrichter (5) besteht aus einer Vielzahl von parallel angeordneten Ringblenden, deren Öffnungen einen teils zylindri schen, teils konischen Innenraum bilden. An den Ringblenden liegen abwechselnd die beiden Phasen einer Hochfrequenzspannung (gewöhnlich einige Megahertz bei einigen Hundert Volt), und es liegt an den Ringblenden eine quasikontinuierlich abfallende Gleichspannungs-Potentialdifferenz. Die Hochfrequenzspannung bewirkt ein Ionen abstoßendes Pseudopotential und hält die Ionen von den Trichterwänden fern, die Gleichspannungs-Potentialdifferenz, die einen axialen Spannungsabfall erzeugt, führt sie durch den sich verjüngenden Konus des Ionentrichters durch eine kleine Blende zur nächsten Pumpstufe. In neuester Zeit sind Ionentrichter bekannt geworden, die nicht mehr einfach einen sich verjüngenden Konus besitzen, sondern durch Öffnungen, die nicht mehr rotationssymmetrisch geformt sind, eine besondere Fokussierung und damit den Durchtritt von Ionen eines weiteren Massenbereichs durch eine feinere Öffnung in die nächste Druckstufe bewirken. Eine Prallplatte im Ionentrichter (5) (in 1 und 2 nicht gezeigt) kann die Ausformung eines Gasjets und damit den direkten Gasstrom in die nächste Druckstufe unterbinden.
  • Die Einführung der Ionen ins Vakuum wird durch die zunehmend häufig angewandte Erzeugung der Ionen nahe Atmosphärendruck notwendig. Eine dieser Ionenerzeuger ist die Elektrosprüh-Ionenquelle (ESI), aber auch weitere Ionisierungsverfahren wie Photoionisation (APPI) oder chemische Ionisierung an Atmosphärendruck (APCI) mit Primärionisierung durch Corona-Entladungen oder Betastrahlern (beispielsweise durch 63Ni) sind hier aufzuführen. Desgleichen kann auch eine Ionisierung durch matrixunterstützte Laserdesorption (MALDI) mit oder auch ohne weitere Ionisierungshilfen an Atmosphärendruck betrieben werden (AP-MALDI). Alle diese Ionenquellen erzeugen jeweils eine Wolke von Ionen (2) in umgebendem Gas außerhalb des Vakuumsystems.
  • Unter dem Begriff „nahe Atmosphärendruck” soll hier jeder Druck verstanden werden, der eine viskose Mitnahme der Ionen durch die Kanälchen bewirkt; also jeder Druck deutlich oberhalb von etwa hundert Hektopascal. In diesem Druckbereich gelten die normalen gasdynamischen Gesetze und es herrscht die viskose Mitnahme von Ionen vor.
  • Eine besondere Ausführungsform besteht in einer Anordnung aus mindestens zwei Vielkanalplatten hintereinander, zwischen denen auf relativ hohem Zwischendruck Gas durch eine relativ kleine Membranpumpe abgepumpt werden kann. Es kann dann die Vorpumpe des Massenspektrometers sehr viel kleiner sein und beispielsweise von 30 Kubikmeter pro Minute auf drei Kubikmeter pro Minute reduziert werden. Die Ionen werden auf der Station des Zwischendrucks relativ einfach durch ein elektrisches Feld zwischen den beiden parallelen Vielkanalplatten von einer Vielkanalplatte zur anderen geleitet. Durch mehrere Vielkanalplatten kann das Pumpsystem im Preis optimiert werden, kleinere Pumpen sind auch leiser und daher verträglicher im Labor.
  • Es ist in der Regel nicht direkt diese in den vakuumexternen Ionenquellen entstehende Mixtur aus Gas mit Ionen in der Ionenwolke (2), die in das Vakuum eingeführt wird, da dieses Gemisch meist noch mit anderen Substanzen verunreinigt ist. Es wird daher nahe an der oder den Einführungsöffnungen ein sehr sauberes Schutzgas (6) zugeführt, das zudem geeignet beheizt und in seinem Feuchtigkeitsgehalt geregelt sein kann. Die Ionen werden dann aus der Ursprungswolke (2) durch elektrische Führungsfelder (Potentialflächen 7) in das zuströmende Schutzgas (6) überführt und mit diesem in das Vakuum eingesaugt. Das Schutzgas (6) muss in einer solchen Menge zugeführt werden, dass nicht nur die durch die Vielkanalplatte (4) eingesaugte Menge zur Verfügung steht, sondern auch ein überschüssiger Strom an Schutzgas, der sich auf die Wolke (2) mit Ionen zu bewegt und die Vielkanalplatte (4) gegenüber verschmutztem Gas abschirmt.
  • Bei Verwendung der Vielkanalplatte (4) wird das Schutzgas (6) zweckmäßig vom Rande der Platte her zugeführt, mit symmetrischem Zustrom von allen Seiten auf das Zentrum der Platte (4) zu. Vor der Vielkanalplatte (4) befindet sich eine Abdeck-Elektrode (3) mit runder Öffnung, deren Größe in etwa der Größe der mit Kanälen belegten Fläche der Vielkanalplatte (4) entspricht. Das elektrische Führungsfeld der Potentialverteilung (7) besteht aus einem Ionen anziehenden Potential an der Oberfläche der Vielkanalplatte (4), dessen elektrisches Feld durch die Abdeck-Elektrode (3) hindurch bis in die Ionenwolke (2) hineinreicht. Das Feld (7) kann durch äußere Elektroden (1) weiter geformt werden. Soweit das Schutzgas (6) nicht durch die Vielkanalplatte (4) ins Vakuum strömt, fließt es durch die Öffnung der Abdeck-Elektrode (3) auf die Ionenwolke (2) zu.
  • Der molare Gasfluss dn/dt durch eine Kapillare wird durch das Gesetz von Hagen-Poiseuille beschrieben:
    Figure 00140001
    wobei r der Innenradius der Kapillare, l deren Länge, p1 und p2 die Gasdrücke am Eingang und Ausgang der Kapillaren, η die Viskosität des Gases, R die allgemeine Gaskonstante und T die Temperatur ist. Der Gasfluss nimmt also mit der vierten Potenz des Kapillarenradius r zu, und linear mit der Länge l ab.
  • Im Vergleich zu einer Einzelkapillare mit 0,5 Millimeter Innendurchmesser und 180 Millimeter Länge kann eine Vielkanalplatte mit einem Millimeter Dicke etwa 5,5 × 105 Kanäle mit je fünf Mikrometer Innendurchmesser enthalten, um den gleichen Gasfluss ins Vakuum zu ergeben. Dabei ist das Verhältnis von Länge zu Durchmesser bei den Kanälchen der Vielkanalplatte sogar kleiner und somit günstiger für den Durchtritt der Ionen. Tritt ein Ion in ein solches Kanälchen einer Vielkanalplatte zentral ein, und diffundiert dieses Ion mit etwa gleichem Diffusionswinkel wie in der Einzelkapillare zur Seite, so hat es in dem Kanälchen der Vielkanalplatte eine mehrfach höhere Chance, ohne Wandberührung ins Vakuum einzutreten. Die Gasgeschwindigkeit ist in den Kanälchen der Vielkanalplatte deutlich reduziert, so dass die Aufenthaltszeit nicht dramatisch viel kürzer ist als die Aufenthaltszeit in einer Einzelkapillare. Es ist daher etwa gleiches Verhalten in Bezug auf die Desolvatation zu erwarten.
  • Die Vielkanalplatten können aber leicht durch Feinstaub verschmutzen. Es ist daher eine weitere Ausführungsform, den Zutritt des Gases aus der Ionenquelle zum Vakuum vor oder hinter der Vielkanalplatte verschließbar zu machen. Dann kann in Betriebspausen auch der Zustrom reines Schutzgases abgestellt werden, womit sich Kosten einsparen lassen. Es kann der Schließmechanismus auch so ausgebildet werden, dass sich der Durchfluss des Schutzgases durch die Kanälchen umkehren lässt, wodurch sich die Kanälchen wieder reinigen lassen.
  • Die Anzahl der Ionen, die pro Zeiteinheit durch die Vielkanalplatte hindurch unbeschädigt ins Vakuum eintreten können, ist viel höher als bei einer Einzelkapillare, weil sich in der Vielkanalplatte praktisch keine Raumladungseffekte bemerkbar machen. Befindet sich in jedem Kanälchen zu jeder Zeit nur ein einziges Ion, so kann keine Raumladungswirkung eintreten. Da die Aufenthaltszeit eines Ions im Kanälchen deutlich weniger als eine halbe Millisekunde beträgt, können bei gleichmäßiger Belegung aller Kanälchen etwa eine Milliarde Ionen pro Sekunde ins Vakuum eintreten. Eine solche gleichmäßige Belegung wird zwar nicht zustande kommen; andererseits können sich aber auch viele Ionen ohne Raumladungswirkung in einem Kanälchen aufhalten, wenn sie nur mehrere Kanaldurchmesser voneinander entfernt sind. In einer Einzelkapillare würden sich bei einem Einstrom von einer Milliarde Ionen pro Sekunde etwa 10 000 Ionen in einem Millimeter Kapillare tummeln, was nach Erfahrungen mit dreidimensionalen Ionenfal len zu einer dramatischen Explosion der Raumladungswolke führen muss; die Ionen würden in kürzester Zeit an die Kapillarenwand getrieben und dort entladen werden.
  • Durch das Fehlen einer Raumladungsbeeinflussung kann die gasdynamische Fokussierung voll zur Geltung kommen. Diese besteht darin, die Ionen im laminaren Gasfluss durch ein elektrisches Feld so abzubremsen, dass sie eine langsamere Transportgeschwindigkeit annehmen, als es der Gasgeschwindigkeit entspricht. Die Relativgeschwindigkeit der Ionen gegenüber dem strömenden Gas, und damit die Abbremsung, wird durch die Gesetze der Ionenmobilität unter Einfluss eines elektrischen Feldes gegeben. Die Ionen werden bei Abbremsung allseitig vom laminar fließenden Gas umspült und unterliegen dabei einer gasdynamischen Fokussierung in Richtung auf die Mittelachse der Kapillare.
  • Die laminare Strömung ist bekannterweise durch ein paraboloides Geschwindigkeitsprofil ausgezeichnet. Das Gas hat in der Achse der Kapillare die größte Geschwindigkeit; die Geschwindigkeit fällt zur Wand der Kapillare hin ab. In Wandnähe ist praktisch keine Geschwindigkeit mehr vorhanden. Die Geschwindigkeit in der Achse entspricht gerade der doppelten mittleren Geschwindigkeit.
  • Befindet sich ein abgebremstes Ion nicht in der Achse der Kapillare, so erlebt es auf der wandnahen Seite eine leicht geringere Geschwindigkeit der Gasumspülung als auf der Seite zur zentralen Achse hin. Dieser leichte Unterschied macht sich aufgrund der Bernoullischen Gesetze in einem so genannten Umspülungsauftrieb bemerkbar, der zur Seite der höheren Gasgeschwindigkeit, also zur Achse hin gerichtet ist. (Der Umspülungsauftrieb eines Flugzeugflügels ist bekannt, wenn auch etwas anders erzeugt, und hält das Flugzeug in der Luft.) Diese gasdynamisch gegebene Fokussierungskraft steht der zufälligen Diffusionsbewegung eines Ions auf die Wand zu entgegen und bringt das Ion wieder in die Achse der Kapillare zurück. Die Fokussierungskraft ist proportional zur Differenz der Umspülungsgeschwindigkeitsquadrate zu beiden Seiten des Ions, nimmt daher mit stärkerer Abbremsung zu. Sie ist nicht vorhanden, wenn sich das Ion mit der Geschwindigkeit des umgebenden Gases bewegt.
  • Dieser Fokussierungseffekt ist sehr schwach. Er besteht überhaupt nur, solange sich in der Achse der Kapillare nicht durch sehr große Ionendichten ein so starkes Raumladungsfeld aufbaut, dass die Coulombsche Abstoßung die gasdynamische Fokussierung zunichte macht. Die Spannung, die für eine gasdynamische Fokussierung in den Vielkanalplatten gebraucht wird, ist relativ klein und beträgt nur einige Zehn Volt für Kanälchen von einem Millimeter Länge. Die Spannung wird einfach zwischen den beiden metallisierten Oberflächen angelegt.
  • Vielkanalplatten (multi channel plates) haben sich im letzten Jahrzehnt zu einem reifen Produkt entwickelt, hauptsächlich für ihre Verwendung in flächigen Sekundärelektronen-Vervielfachern. Sie sind in vielen Formen erhältlich. Es gibt kommerzielle Anbieter, die Vielkanalplatten mit wählbaren Kanaldurchmessern, wählbarem Anstellwinkel der Kanäle, wählbarer Dicke und wählbarem Abstand zwischen den Kanälen anbieten. Die Vielkanalplatten können insbesondere mit Hochwiderstandsbeschichtung an den Kanalwänden und mit metallischer Beschichtung der Plattenoberflächen geliefert werden. Das macht sie ideal geeignet für die Anwendung der gasdynamischen Fokussierung.
  • Vielkanalplatten sind an sich sehr zerbrechlich. Sie können daher zur mechanischen Stabilisierung mit einem Stützgitter hinterlegt werden. Ein Stützgitter mit quadratischen Löchern kann beispielsweise durch Ätzen einer dünnen Metallfolie gewonnen werden; es ist dann sehr plan und bietet guten Halt für die Vielkanalplatte.
  • Die Vielkanalplatte kann auch bedeutend weniger Kanälchen besitzen, als in obigen Beispielen dargelegt, und doch so ausgelegt sein, dass viel mehr Ionen ins Vakuum eintreten als bei einer üblichen Einzelkapillare. Es ist dadurch möglich, die Vorpumpe des Vakuumsystems sehr viel kleiner und kostengünstiger auszulegen, als das gegenwärtig notwendig ist.
  • Ein nicht zu unterschätzender Vorteil der Vielkanalplatten ist es, gegenüber einer Einzelkapillare eine viel kürzere Baulänge der Einführung der Ionen ins Vakuum zu ermöglichen. Die kürzere Baulänge kann zu einem kürzeren Massenspektrometer genutzt werden, aber auch zu einer besseren Nutzung des Ionenweges zum Massenanalysator im Massenspektrometer.
  • Die Erfindung ist nicht nur bei Massenspektrometern mit vakuumexterner Ionenerzeugung zu verwenden, sondern auch für alle Arten von anderen Apparaturen, die Ionen im Vakuum verwenden. Dem Fachmann wird es in Kenntnis dieser Erfindung leicht möglich sein, Ioneneinführungen ins Vakuum für die verschiedenartigsten Anwendungszwecke zu entwickeln.

Claims (14)

  1. Verfahren für den Transport von Ionen aus einer Ionenquelle, die bei einem Druck von mehr als 100 Hektopascal betrieben wird, in ein Vakuumsystem eines Massenspektrometers, dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen durch mindestens zwei hintereinander angeordnete Vielkanalplatten in das Vakuumsystem des Massenspektrometers transportiert werden, wobei sich zwischen den Vielkanalplatten jeweils ein Zwischenraum befindet, aus dem Gas abgepumpt wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen in den Kanälen der Vielkanalplatten eine Potentialdifferenz durchlaufen.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen nach der letzten Vielkanalplatte durch einen Ionentrichter in weitere Pumpstufen des Vakuumsystems weitergeführt werden.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen von der Ionenquelle mit einem elektrischen Führungsfeld durch ihre Ionenmobilität zur ersten Vielkanalplatte geleitet werden.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der ersten Vielkanalplatte auf der Seite zur Ionenquelle vom Rande der Vielkanalplatte her ein Schutzgas zugeführt wird.
  6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Schutzgas beheizt ist.
  7. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Feuchtigkeitsgehalt des Schutzgases geregelt oder gesteuert ist.
  8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen durch ein elektrisches Feld zwischen den Vielkanalplatten von einer Vielkanalplatte zur nächsten Vielkanalplatte geleitet werden.
  9. Einführungssystem für Ionen ins Vakuum, bestehend aus (a) einer Vorrichtung zur Erzeugung von Ionen in einem Gas eines Drucks, bei dem Ionen von einer Gasströmung viskos mitgenommen werden können, und (b) einer Vielkanalplatte für den Durchtritt eines Gemisches von Ionen in ein Gebiet niederen Druckes, wobei die Vielkanalplatte aus Glas gefertigt ist und die Innenwände der Kanäle eine Hochwiderstandsschicht aufweisen.
  10. Einführungssystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Vielkanalplatte auf beiden Seiten eine elektrisch leitende Schicht besitzt.
  11. Einführungssystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Gebiet niederen Druckes ein Ionentrichter vorhanden ist.
  12. Einführungssystem nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass ein Ventil vorhanden ist, das einen Betriebszustand aufweist, in dem der Gasstrom durch die Vielkanalplatte in das Gebiet niederen Druckes abgesperrt wird.
  13. Einführungssystem nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass sich das Ventil auf der Seite niederen Druckes der Vielkanalplatte befindet, und dass eine Vorrichtung zur Zuführung eines Gases zwischen der Vielkanalplatte und dem Ventil vorhanden ist, sodass im gesperrten Betriebszustand des Ventils Gas aus der Zuführung durch die Vielkanalplatte zur Vorrichtung zur Erzeugung der Ionen strömt.
  14. Einführungssystem für Ionen aus einer Ionenquelle, die bei einem Druck von mehr als 100 Hektopascal betrieben wird, in das Vakuumsystem eines Massenspektrometers, bestehend aus mindestens zwei Vielkanalplatten, die zwischen der Ionenquelle und dem Vakuum des Massenspektrometers hintereinander angeordnet sind und jeweils einen Zwischenraum aufweisen, der mit einer Vorrichtung zum Abpumpen von Gas verbunden ist.
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GB0601732A GB2423629B (en) 2005-02-03 2006-01-27 Transport of ions into a vacuum
US11/343,922 US7462822B2 (en) 2005-02-03 2006-01-31 Apparatus and method for the transport of ions into a vacuum
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013004871A1 (de) 2013-03-21 2014-09-25 Bruker Daltonik Gmbh Vieldüsen-Chip für Elektrosprüh-lonisierung in Massenspektrometern

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7470899B2 (en) * 2006-12-18 2008-12-30 Thermo Finnigan Llc Plural bore to single bore ion transfer tube
US7671344B2 (en) 2007-08-31 2010-03-02 Battelle Memorial Institute Low pressure electrospray ionization system and process for effective transmission of ions
US8173960B2 (en) * 2007-08-31 2012-05-08 Battelle Memorial Institute Low pressure electrospray ionization system and process for effective transmission of ions
WO2010042303A1 (en) * 2008-10-06 2010-04-15 Shimadzu Corporation Curtain gas filter for mass- and mobility-analyzers that excludes ion-source gases and ions of high mobility
WO2010045049A1 (en) * 2008-10-13 2010-04-22 Purdue Research Foundation Systems and methods for transfer of ions for analysis
US8207496B2 (en) * 2010-02-05 2012-06-26 Thermo Finnigan Llc Multi-needle multi-parallel nanospray ionization source for mass spectrometry
US8389930B2 (en) * 2010-04-30 2013-03-05 Agilent Technologies, Inc. Input port for mass spectrometers that is adapted for use with ion sources that operate at atmospheric pressure
US8309916B2 (en) 2010-08-18 2012-11-13 Thermo Finnigan Llc Ion transfer tube having single or multiple elongate bore segments and mass spectrometer system
US8847154B2 (en) 2010-08-18 2014-09-30 Thermo Finnigan Llc Ion transfer tube for a mass spectrometer system
US20160163528A1 (en) 2014-12-03 2016-06-09 Bruker Daltonics, Inc. Interface for an atmospheric pressure ion source in a mass spectrometer
US9761427B2 (en) 2015-04-29 2017-09-12 Thermo Finnigan Llc System for transferring ions in a mass spectrometer
US10553414B2 (en) * 2015-06-26 2020-02-04 Honeywell International Inc. Apparatus and method for trapping multiple ions generated from multiple sources
US10720315B2 (en) 2018-06-05 2020-07-21 Trace Matters Scientific Llc Reconfigurable sequentially-packed ion (SPION) transfer device
RU2744235C2 (ru) * 2018-10-04 2021-03-03 Общество с ограниченной ответственностью "Девайс Консалтинг" Способ преобразования непрерывного потока ионов в источниках с ионизацией при атмосферном давлении в импульсный

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4444229A1 (de) * 1994-03-10 1995-09-14 Bruker Franzen Analytik Gmbh Schaltbare Elektrosprüh-Ionisierung für getaktet arbeitende Massenspektrometer
US5572035A (en) * 1995-06-30 1996-11-05 Bruker-Franzen Analytik Gmbh Method and device for the reflection of charged particles on surfaces
DE69030145T2 (de) * 1989-08-18 1997-07-10 Galileo Electro Optics Corp Kontinuierliche Dünnschicht-Dynoden
US5736740A (en) * 1995-04-25 1998-04-07 Bruker-Franzen Analytik Gmbh Method and device for transport of ions in gas through a capillary
US6107628A (en) * 1998-06-03 2000-08-22 Battelle Memorial Institute Method and apparatus for directing ions and other charged particles generated at near atmospheric pressures into a region under vacuum
WO2004110983A2 (en) * 2003-06-13 2004-12-23 Laboratorios S.A.L.V.A.T., S.A. New benzamides as pparϒ modulators
DE102004048496A1 (de) * 2004-10-05 2006-04-06 Bruker Daltonik Gmbh Ionenführung mit HF-Blendenstapeln

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU6477496A (en) * 1995-06-13 1997-01-09 Massively Parallel Instruments, Inc. Improved parallel ion optics and apparatus for high current low energy ion beams
US6803565B2 (en) * 2001-05-18 2004-10-12 Battelle Memorial Institute Ionization source utilizing a multi-capillary inlet and method of operation
US6583408B2 (en) * 2001-05-18 2003-06-24 Battelle Memorial Institute Ionization source utilizing a jet disturber in combination with an ion funnel and method of operation
WO2004110583A2 (en) * 2003-06-07 2004-12-23 Sheehan Edward W Ion enrichment aperture arrays

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69030145T2 (de) * 1989-08-18 1997-07-10 Galileo Electro Optics Corp Kontinuierliche Dünnschicht-Dynoden
DE4444229A1 (de) * 1994-03-10 1995-09-14 Bruker Franzen Analytik Gmbh Schaltbare Elektrosprüh-Ionisierung für getaktet arbeitende Massenspektrometer
US5736740A (en) * 1995-04-25 1998-04-07 Bruker-Franzen Analytik Gmbh Method and device for transport of ions in gas through a capillary
GB2300295B (en) * 1995-04-26 1998-10-14 Bruker Franzen Analytik Gmbh Method and device for transport of ions in gas through a capillary
DE19515271C2 (de) * 1995-04-26 1999-09-02 Bruker Daltonik Gmbh Vorrichtung für den gasgeführten Transport von Ionen durch ein Kapillarrohr
US5572035A (en) * 1995-06-30 1996-11-05 Bruker-Franzen Analytik Gmbh Method and device for the reflection of charged particles on surfaces
US6107628A (en) * 1998-06-03 2000-08-22 Battelle Memorial Institute Method and apparatus for directing ions and other charged particles generated at near atmospheric pressures into a region under vacuum
WO2004110983A2 (en) * 2003-06-13 2004-12-23 Laboratorios S.A.L.V.A.T., S.A. New benzamides as pparϒ modulators
DE102004048496A1 (de) * 2004-10-05 2006-04-06 Bruker Daltonik Gmbh Ionenführung mit HF-Blendenstapeln

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Ion Transport by Viscous Gas Flow through Capillaries", B.Lin und J.Sunner, Amer. Soc. Mass Spectr. 5 (873) 1994 *
"Ion Transport by Viscous Gas Flow through Capillaries", B.Lin und J.Sunner, Amer. Soc. Mass Spectr. 5 (873) 1994 C.Whitehouse et al: "Electrospray interface for liquid Chromatographs and Mass Spectrometers", Anal. Chem, 1985, 57, 675 T.Kim et al.: "Improved Ion Transmission from Atmospheric Pressure to high Vacuum Using a Multicapillary Inlet and Electrodynamic Ion Funnel Interface", Anal. Chem., 72 (2000), 5014-5019 D.Prior et al: "Improved Capillary Inlet Tube Interface for Mass Spectrometry Aerodynamic effects to improve Ion transmission", Computing and Information Sciences 1999 Annual Report
C.Whitehouse et al: "Electrospray interface for liquid Chromatographs and Mass Spectrometers", Anal. Chem, 1985, 57, 675 *
D.Prior et al: "Improved Capillary Inlet Tube Interface for Mass Spectrometry Aerodynamic effects to improve Ion transmission", Computing and Information Sciences 1999 Annual Report *
T.Kim et al.: "Improved Ion Transmission from Atmospheric Pressure to high Vacuum Using a Multicapillary Inlet and Electrodynamic Ion Funnel Interface", Anal. Chem., 72 (2000), 5014-5019 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013004871A1 (de) 2013-03-21 2014-09-25 Bruker Daltonik Gmbh Vieldüsen-Chip für Elektrosprüh-lonisierung in Massenspektrometern
DE102013004871B4 (de) * 2013-03-21 2015-01-22 Bruker Daltonik Gmbh Vieldüsen-Chip für Elektrosprüh-lonisierung in Massenspektrometern

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Publication number Publication date
GB2423629B (en) 2009-09-23
DE102005004885A1 (de) 2006-08-10
US7462822B2 (en) 2008-12-09
GB0601732D0 (en) 2006-03-08
GB2423629A (en) 2006-08-30
US20060186329A1 (en) 2006-08-24

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