DE102005003378A1 - Vorrichtung zur Erkennung ionisierender Strahlung - Google Patents
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- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 title claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- YFSLABAYQDPWPF-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-trichloro-4-(2,3,5-trichlorophenyl)benzene Chemical compound ClC1=CC(Cl)=C(Cl)C(C=2C(=C(Cl)C(Cl)=CC=2)Cl)=C1 YFSLABAYQDPWPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000005658 nuclear physics Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20183—Arrangements for preventing or correcting crosstalk, e.g. optical or electrical arrangements for correcting crosstalk
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/1446—Devices controlled by radiation in a repetitive configuration
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14632—Wafer-level processed structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/1464—Back illuminated imager structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H01L27/14661—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers of the hybrid type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H01L27/14663—Indirect radiation imagers, e.g. using luminescent members
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
Eine
Fotodiodendetektoranordnung (110) zur Verwendung mit einem Detektor
für ionisierende
Strahlung (100) enthält
eine erste Schicht (200), die eine erste Seite (202), eine zweite
Seite (204) und ein an der zweiten Seite (204) angeordnetes Array
von Backlit-Fotodioden (206) aufweist, und eine zweite Schicht (210),
die der zweiten Seite (204) der ersten Schicht (200) benachbart
und gegenüberliegend
angeordnet ist. Die zweite Schicht (210) enthält Vias (212). Lichtstrahlen
(230), die an der ersten Seite (202) in die erste Schicht (200)
eintreten und auf die Backlit-Fotodioden (206) an der zweiten Seite (204)
auftreffen, rufen an den Vias (212) der zweiten Schicht (210) elektrische
Signale hervor, wodurch sie elektrische Ausgangssignale von den
Backlit-Fotodioden (206) in einer Entfernung von den Backlit-Fotodioden
(206) liefern.
Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG:
- Die vorliegende Offenbarung bezieht sich allgemein auf einen Detektor für ionisierende Strahlung und speziell auf einen Detektor für ionisierende Strahlung, der ein Backlit-Fotodiodenarray verwendet.
- Strahlungsbildgebungssysteme werden vielfach für medizinische und industrielle Zwecke verwendet, wie z.B. für Röntgen-Computertomographie (CT). Ein typisches Detektorsystem kann ein Feld oder Array aus Szintillatorelementen aufweisen, die an einem Array aus Fotodioden befestigt sind, die zum Erkennen von ionisierender Strahlung und Umwandeln derselben in Lichtenergie und danach in elektrische Signale verwendet werden, die die einfallende ionisierende Strahlung repräsentieren. Um die Bildqualität zu erhöhen, ist eine große Anzahl einzelner Pixel, wie z.B. in der Größenordnung von 1000 bis 4000 einzelnen Pixeln mit je einem für jedes entsprechende Pixel verwendeten Verstärker erforderlich. Wenn die Anzahl der einzelnen Pixel und Verstärker steigt, wird die Schaffung der notwendigen Signalverbindungen zur Verarbeitung komplex und umständlich. In dem Bestreben, einen Teil dieser Komplexität beseitigen, sind Arrays aus rückseitig beleuchteten oder Backlit-Foto dioden untersucht worden, was eine Erhöhung der Anzahl der Fotodioden-Erkennungselemente in einem Fotodiodenarray-Chip ermöglicht. Backlit-Fotodiodenarray-Chips sind jedoch gegen elektronisches Übersprechen empfindlich, was zumindest teilweise auf die Dicke des Fotodiodenarray-Chips selbst zurückzuführen ist. Demgemäß besteht in der Fachwelt Bedarf an einer Detektoranordnung für ionisierende Strahlung, die diese Nachteile überwindet.
- ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG:
- Die hierin offenbarten Ausführungsformen schaffen eine Fotodiodendetektoranordnung zur Verwendung mit einem Detektor für ionisierende Strahlung. Die Anordnung enthält eine erste Schicht, die eine erste Seite, eine zweite Seite und ein auf der zweiten Seite angeordnetes Array von Backlit-Fotodioden aufweist, und eine zweite Schicht, die der zweiten Seite der ersten Schicht benachbart und gegenüberliegend angeordnet ist. Die zweite Schicht enthält Durchkontaktierungen oder Vias. Lichtstrahlen, die an der ersten Seite in die erste Schicht eintreten und auf die Backlit-Fotodioden an der zweiten Seite auftreffen, führen zu elektrischen Signalen an den Vias der zweiten Schicht und erzeugen dabei elektrische Ausgangssignale von den Backlit-Fotodioden in einem Abstand entfernt von den Backlit-Fotodioden.
- Weitere hierin offenbarte Ausführungsformen schaffen einen Detektor für ionisierende Strahlung, der eine Fotodiodendetektoranordnung und einen Szintillator aufweist. Die Fotodiodendetektoranordnung enthält eine erste Schicht, die eine erste Seite, eine zweite Seite und ein an der zweiten Seite angeordnetes Array von Backlit-Fotodioden aufweist, und eine zweite Schicht, die der zweiten Seite der ersten Schicht benachbart und dieser gegenüberliegend angeordnet ist, wobei die zweite Schicht Vias aufweist. Der Szintillator ist an der ersten Seite der ersten Schicht angeordnet und enthält eine Strahlungseinfalloberfläche und eine Strahlungsaustrittsoberfläche. Der Szintillator erzeugt Lichtstrahlen, die in Folge von an der Einfalloberfläche einfallender Strahlung an der Austrittsoberfläche austreten, wobei die an der Austrittsoberfläche austretenden Lichtstrahlen auf der ersten Seite der ersten Schicht der Fotodiodendetektoranordnung einfallen. Lichtstrahlen, die auf der ersten Seite in die erste Schicht eintreten und auf die Backlit-Fotodioden an der zweiten Seite auftreffen, verursachen elektrische Signale an den Vias der zweiten Schicht, wodurch sie elektrische Ausgangssignale von den Backlit-Fotodioden entfernt von den Backlit-Fotodioden erzeugen.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN:
- Es wird nun auf die beispielhaften Zeichnungen Bezug genommen, wobei gleiche Elemente in den beigefügten Figuren gleich nummeriert sind:
-
1 stellt ein beispielhaftes Mehrschicht-CT-Röntgendetektormodul gemäß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung dar, -
2 stellt eine Endansicht des Detekormoduls aus -
1 dar, wobei einige Details weggelassen worden sind, und -
3 veranschaulicht Daten, die von beispielhaften Ausführungsformen der Erfindung aufgenommen worden sind. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG:
- Ausführungsformen der Erfindung schaffen eine sehr dünne Backlit-Fotodiodendetektoranordnung zur Verwendung innerhalb eines Detektors für ionisierende Strahlung, wie z.B. eines Mehrschicht-Computertomografie(CT)-Röntgendetektors. Während die hierin beschriebenen Ausführungsformen Röntgenstrahlen als beispielhafte ionisierende Strahlung beschreiben, wird erkannt werden, dass die offenbarte Erfindung auch auf andere hochenergetische ionisierende Strahlung, wie z.B. Gammastrahlung, hochenergetische Elektronen (Beta)-Strahlung oder hochenergetische geladene Teilchen (wie z.B. solche, die in der Kernphysik und Weltraumteleskopen auftreffen) anwendbar ist. Demgemäß ist die offenbarte Erfindung nicht auf die Ausführungsformen mit Röntgenstrahlenerkennung beschränkt.
-
1 zeigt eine beispielhafte Ausführungsform eines Mehrschicht-CT-Röntgendetektors100 , der eine Fotodiodendetektoranordnung110 , einen an einer Oberfläche der Anordnung110 befestigten Szintillator, eine an einer anderen Oberfläche der Anordnung110 befestigte gedruckte Schaltungsplatine (PCB)130 und eine mit der PCB130 über Verbinder150 ,160 verbundene flexible Leitung140 aufweist. Die PCB130 kann Verarbeitungschips170 enthalten. - Indem nun auf die
1 und2 gemeinsam Bezug genommen wird, enthält die Fotodiodendetektoranordnung110 eine erste Schicht200 , die eine erste Seite202 und eine zweite Seite204 aufweist, und eine zweite Schicht210 , die der zweiten Seite204 der ersten Schicht200 benachbart und gegenüberliegend angeordnet ist. Die erste Schicht200 , die auch als Backlit-Fotodiodenarray bezeichnet wird, enthält ein Array von Backlit-Fotodioden206 , die auf der auch als Rückseite bezeichneten zweiten Seite204 angeordnet sind. Die zweite Schicht210 weist Vias212 zum Übertragen eines elektrischen Signals durch die zweite Schicht210 auf. - In einer Ausführungsform ist die erste Schicht
200 von einer Dicke gleich oder kleiner als etwa 150 Mikrometer, in einer anderen Ausführungsform ist die erste Schicht200 von einer Dicke gleich oder kleiner als 100 Mikrometer, in einer weiteren Ausführungsform ist die erste Schicht200 von einer Dicke gleich oder kleiner als etwa 50 Mikrometer, und in noch einer anderen Ausführungsform ist die erste Schicht200 von einer Dicke gleich oder größer als etwa 25 Mikrometer. In einer Ausführungsform, bei der die erste Schicht von einer Dicke gleich oder kleiner als etwa 150 Mikrometer und gleich oder größer als etwa 25 Mikrometer ist, ist das Zelle/Zelle-Signalübersprechen zwischen benachbarten Backlit-Fotodioden206 gleich oder kleiner als etwa 4%, und in einer Ausführungsform, bei die erste Schicht von einer Dicke gleich oder kleiner als etwa 100 Mikrometer und gleich oder größer als etwa 25 Mikrometer ist, ist das Zelle/Zelle-Signalübersprechen zwischen benachbarten Backlit-Fotodioden206 gleich oder kleiner als etwa 2%, wie in den Testdaten in3 dargestellt ist. In3 stellt die Datenkurve300 das gesamte Signalübersprechen zwischen einer und allen acht ihr benachbarten Backlit-Fotodioden206 für eine Siliziumdicke der ersten Schicht200 von etwa 150 Mikrometer dar, und die Datenkurve310 stellt das gesamte Signalübersprechen zwischen einer und allen acht ihr benachbarten Backlit-Fotodioden206 für eine Sili ziumdicke der ersten Schicht200 von etwa 100 Mikrometern dar. Demgemäß ist das durchschnittliche Signalübersprechen zwischen zwei beliebigen benachbarten Backlit-Fotodioden206 bei einer Siliziumdicke der ersten Schicht200 von etwa 150 Mikrometern gleich oder kleiner als etwa 4%, und das durchschnittliche Signalübersprechen zwischen zwei beliebigen benachbarten Backlit-Fotodioden206 ist bei einer Siliziumdicke der ersten Schicht200 von etwa 100 Mikrometern gleich oder kleiner als etwa 2%. Das durch die Datenkurven300 und310 in3 dargestellte Signalübersprechen ist über eine Pixelteilung in dem Bereich von etwa 500 Mikrometer bis etwa 900 Mikrometer dargestellt, wobei die Pixelteilung von der Vorderkante eines Pixels bis zu der Vorderkante eines anderen, in linearer Anordnung benachbarten Pixels gemessen wird. - In einer Ausführungsform sind die erste und zweite Schicht
200 ,210 aus Silizium hergestellt, und die erste Schicht200 ist mechanisch und elektrisch mit der zweiten Schicht210 verbunden. Die erste und zweite Schicht200 ,210 können unter Verwendung von Lötpunkten, leitfähigen Epoxidpunkten, Kaltverschmelzen von Metallunterlagen, jedes anderen geeigneten Verfahrens oder einer beliebigen Kombination davon verbunden sein. - Der Szintillator
120 empfängt Röntgenphotonenenergie, die durch den Pfeil220 dargestellt wird, an einer Strahlungseinfallfläche124 und wandelt die Photonenenergie220 über Szintillatorelemente122 in durch die Pfeile230 dargestellte Lichtstrahlen um, die den Szintillator120 an einer Strahlungsaustrittsfläche126 verlassen. Die Lichtstrahlen230 werden an der ersten Seite202 der ersten Schicht200 empfangen, durchqueren die erste Schicht200 und treffen auf den Backlit-Fotodioden206 an der zweiten Seite204 auf, wobei sie elektrische Signale an den Vias212 der zweiten Schicht210 hervorrufen, wodurch sie elektrische Ausgangssignale von den Backlit-Fotodioden206 in einer Entfernung von der zweiten Seite204 der ersten Schicht200 liefern. In einer Ausführungsform erstrecken sich die Vias212 von einer Vorderseite214 der zweiten Schicht210 zu einer gegenüberliegenden Rückseite216 . Es können jedoch Variationen der Signalführung in das Silizium der zweiten Schicht210 eingebaut sein, wodurch eine Vorderseite/Rückseite-, Vorderseite/Kante-Signalübertragung oder beliebige Kombinationen davon geschaffen werden. - Wie zuvor erörtert kann die Fotodiodendetektoranordnung
110 eine dritte Schicht, die PCB130 , aufweisen, die an der Rückseite216 der zweiten Schicht210 befestigt ist und in Signalverbindung mit den Vias212 an der Rückseite216 steht. In einer Ausführungsform enthält die PCB130 elektrische Verbindungen (nicht dargestellt), die sich von einer ersten Platinenoberfläche132 , wo sie mit den Vias212 verbunden sind, zu einer zweiten Platinenoberfläche134 erstrecken, wo sie mit elektronischen Komponenten, wie z.B. den Verarbeitungschips170 , verbunden sein können. Leiterbahnen (nicht dargestellt) auf der PCB130 verbinden die Verarbeitungschips170 elektrisch mit dem Verbinder160 , der seinerseits über den Verbinder150 eine Signalverbindung zu der flexiblen Verbindung140 herstellt. Die Verarbeitungschips170 können eine Datenakquisitionsschaltung, wie z.B. Verstärker, Analog/Digital-Wandler und Steuerungslogik, enthalten, die elektrisch mit dem Fotodiodenarray206 verbunden werden soll und die Ausgangssignale von diesem verarbeitet. In einer alternativen Ausführungsform können Ausgangssignalleitungen136 in geringer Dichte verwen det werden, um Verbindungen zu anderen elektronischen Komponenten (nicht dargestellt) herzustellen. In einer weiteren alternativen Ausführungsform kann ein Mehrschicht-Keramikelement als PCB130 verwendet werden. In einer beispielhaften Ausführungsform kann das Fotodiodenarray206 aus 512 Fotodioden bestehen, die jeweils Ausdehnungen von etwa 15 mm mal etwa 32 mm aufweisen. - Eine beispielhafte Anwendung der Backlit-Fotodiodendetektoranordnung
110 findet in einem CT-Röntgendetektor100 statt, wobei ein geringes elektronisches Übersprechen und eine hohe Bildqualität erwünscht sind. Die lamellenförmige Anordnung einer sehr dünnen ersten Siliziumschicht200 , die die Backlit-Fotodioden206 aufweist, mit einer zweiten Siliziumschicht210 , die die Vias212 aufweist, sorgt für das geringe elektronische Übersprechen mit der hohen Bildqualität, während eine einfache Materialhandhabung für die anschließende Montage erhalten bleibt. - Wie offenbart, können einige Ausführungsformen der Erfindung einige der folgenden Vorteile haben: Einfachheit der Materialhandhabung während der Montage eines CT-Röntendetektormoduls, hohe Bildqualität der CT-Ausgabe, geringes Signalübersprechen zwischen benachbarten Fotodiodenzellen, die Möglichkeit, Signalverbindungen aus der rückwärtigen Oberfläche der Fotodetektoranordnung herauszuführen, das Ermöglichen des Zusammenpackens eines zweidimensionalen Arrays von Detektormodulen zur verbesserten Patientenerfassung durch CT-Rotation und die Verwendung einer Siliziumschicht mit Vias, die einen zu der Siliziumschicht des Fotodiodenarrays, zu einer mechanischen Versteifung zur Glättung und zu einem mechanischen Träger zur Handhabung passenden thermischen Ausdehnungskoeffizienten aufweist.
- Eine Fotodiodendetektoranordnung
110 zur Verwendung mit einem Detektor für ionisierende Strahlung100 enthält eine erste Schicht200 , die eine erste Seite202 , eine zweite Seite204 und ein an der zweiten Seite204 angeordnetes Array von Backlit-Fotodioden206 aufweist, und eine zweite Schicht210 , die der zweiten Seite204 der ersten Schicht200 benachbart und gegenüberliegend angeordnet ist. Die zweite Schicht210 enthält Vias212 . Lichtstrahlen230 , die an der ersten Seite202 in die erste Schicht200 eintreten und auf die Backlit-Fotodioden206 an der zweiten Seite204 auftreffen, rufen an den Vias212 der zweiten Schicht210 elektrische Signale hervor, wodurch sie elektrische Ausgangssignale von den Backlit-Fotodioden206 in einer Entfernung von den Backlit-Fotodioden206 liefern. - Obwohl die Erfindung mit Bezug auf beispielhafte Ausführungsformen beschrieben worden ist, wird von Fachleuten verstanden, dass vielfältige Änderungen gemacht und Äquivalente für ihre Elemente eingesetzt werden können, ohne den Bereich der Erfindung zu verlassen. Zusätzlich können zahlreiche Abwandlungen vorgenommen werden, um eine spezielle Situation oder ein Material an die Lehren der Erfindung anzupassen, ohne von deren wesentlichem Bereich abzuweichen. Daher ist es beabsichtigt, dass die Erfindung nicht auf die spezielle Ausführungsform beschränkt ist, die als die beste oder einzige zum Ausführen der Erfindung in Erwägung gezogene Art offenbart ist, sondern dass die Erfindung alle Ausführungsformen einschließt, die in den Bereich der beigefügten Ansprüche fallen. Darüber hinaus deutet die Verwendung der Ausdrücke erster, zweiter etc. keine Reihenfolge oder Bedeutung an, sondern die Ausdrücke erster, zweiter, etc. werden nur verwendet, um ein Element von einem anderen zu unterscheiden. Darüber hinaus deutet die Verwendung der Ausdrücke ein, eine etc. keine Beschränkung der Anzahl an, sondern bezeichnet stattdessen nur das Vorhandensein von wenigstens einem der bezeichneten Objekte.
-
- 100
- Röntgendetektor
- 110
- Fotodiodendetektoranordnung
- 120
- Szintillator
- 122
- Szintillatorelemente
- 124
- Strahlungseinfallfläche
- 126
- Stahlungsaustrittsfläche
- 130
- Gedruckte Schaltungsplatine (PCB)
- 132
- Erste Platinenoberfläche
- 134
- Zweite Platinenoberfläche
- 136
- Ausgangssignalleitungen
- 140
- Flexible Leitung
- 150
- Verbinder
- 160
- Verbinder
- 170
- Verarbeitungschips
- 200
- Erste Schicht
- 202
- Erste Seite
- 204
- Zweite Seite
- 206
- Fotodioden
- 210
- Zweite Schicht
- 214
- Vorderseite
- 216
- Rückseite
- 220
- Pfeile (Röntgenstrahlen)
- 230
- Pfeile (Lichtstrahlen)
- 300
- Daten bei 150 μm Dicke
- 310
- Daten bei 100 μm Dicke
Claims (10)
- Fotodiodendetektoranordnung (
110 ) zur Verwendung mit einem Detektor (100 ) für ionisierende Strahlung, wobei die Anordnung (110 ) aufweist: Eine erste Schicht (200 ), die eine erste Seite (202 ), eine zweite Seite (204 ) und ein auf der zweiten Seite (204 ) angeordnetes Array von Backlit-Fotodioden (206 ) aufweist, und eine zweite Schicht (210 ), die der zweiten Seite (204 ) der ersten Schicht (200 ) benachbart und gegenüberliegend angeordnet ist, wobei die zweite Schicht (210 ) Vias (212 ) aufweist, wobei Lichtstrahlen, die in die erste Schicht (200 ) an der ersten Seite (202 ) eintreten und auf die Backlit-Fotodioden (206 ) an der zweiten Seite (204 ) auftreffen, elektrische Signale an den Vias (212 ) der zweiten Schicht (210 ) hervorrufen, wodurch sie elektrische Ausgangssignale von den Backlit-Fotodioden (206 ) entfernt von den Backlit-Fotodioden (206 ) liefern. - Anordnung (
110 ) nach Anspruch 1, bei der die Dicke der ersten Schicht (200 ) gleich oder größer als etwa 25 Mikrometer und gleich oder kleiner als etwa 100 Mikrometer ist. - Anordnung (
110 ) nach Anspruch 1, bei der die erste Schicht (200 ) mit der zweiten Schicht (210 ) mechanisch und elektrisch verbunden ist, die Dicke der ersten Schicht (200 ) gleich oder kleiner als etwa 150 Mikrometer ist und die erste und zweite Schicht (200 ,210 ) jeweils Silizium enthalten. - Anordnung (
110 ) nach Anspruch 1, bei der sich die Vias (212 ) von einer Vorderseite (214 ) der zweiten Schicht (210 ) zu einer gegenüberliegenden Rückseite (216 ) der zweiten Schicht erstrecken. - Anordnung (
110 ) nach Anspruch 1, bei der das Array von Backlit-Fotodioden (206 ) benachbarte Backlit-Fotodioden (206 ) enthält, die ein Zelle/Zelle-Signalübersprechen von gleich oder weniger als etwa 4% aufweisen. - Anordnung (
110 ) nach Anspruch 1, bei der das Array von Backlit-Fotodioden (206 ) benachbarte Backlit-Fotodioden (206 ) enthält, die ein Zelle/Zelle-Signalübersprechen von gleich oder weniger als etwa 2% aufweisen. - Detektor (
100 ) für ionisierende Strahlung, der aufweist: Eine Fotodiodendetektoranordnung (110 ), die aufweist: Eine erste Schicht (200 ), die eine erste Seite (202 ), eine zweite Seite (204 ) und ein an der zweiten Seite (204 ) angeordnetes Array von Backlit-Fotodioden (206 ) aufweist, und eine zweite Schicht (210 ), die der zweiten Seite (204 ) der ersten Schicht (200 ) benachbart und gegenüberlie gend angeordnet ist, wobei die zweite Schicht (210 ) Vias (212 ) aufweist, und einen Szintillator (120 ), der an der ersten Seite (202 ) der ersten Schicht (200 ) angeordnet ist, wobei der Szintillator (120 ) aufweist: Eine Strahlungseinfallfläche (124 ) und eine Strahlungsaustrittsfläche (126 ), wobei der Szintillator (120 ) Lichtstrahlen (230 ) erzeugt, die in Folge der an der Einfallfläche (124 ) einfallenden Strahlung an der Austrittsfläche (126 ) austreten, wobei die an der Austrittsfläche (126 ) austretenden Lichtstrahlen (230 ) auf der ersten Seite (202 ) der ersten Schicht (200 ) der Fotodiodendetektoranordnung (110 ) einfallen, wobei die Lichtstrahlen (230 ), die in die erste Schicht (200 ) an der ersten Seite (202 ) eintreten und auf die Backlit-Fotodioden (206 ) an der zweiten Seite (204 ) auftreffen, elektrische Signale an den Vias (212 ) der zweiten Schicht (210 ) hervorrufen, wodurch sie elektrische Ausgangssignale von den Backlit-Fotodioden (206 ) entfernt von den Backlit-Fotodioden (206 ) liefern. - Detektor (
100 ) nach Anspruch 7, bei dem die Dicke der ersten Schicht (200 ) gleich oder größer als etwa 25 Mikrometer und gleich oder kleiner als etwa 150 Mikrometer ist, und das Array der Backlit-Fotodioden (206 ) benachbarte Backlit-Fotodioden (206 ) enthält, die ein Zelle/Zelle- Signalübersprechen von gleich oder weniger als etwa 4% aufweisen. - Detektor (
100 ) nach Anspruch 7, bei dem die Dicke der ersten Schicht (200 ) gleich oder kleiner als etwa 100 Mikrometer ist, und das Array der Backlit-Fotodioden (206 ) benachbarte Backlit-Fotodioden (206 ) enthält, die ein Zelle/Zelle-Signalübersprechen von gleich oder weniger als etwa 2% aufweisen. - Detektor (
100 ) nach Anspruch 7, bei dem sich die Vias (212 ) von einer Vorderseite (214 ) der zweiten Schicht (210 ) zu einer gegenüberliegenden Rückseite (216 ) der zweiten Schicht (210 ) erstrecken, und der weiterhin aufweist: Eine dritte Schicht, die eine gedruckte Schaltungsplatine (130 ) aufweist, die elektrische Verbindungen auf einer ersten Platinenoberfläche (132 ) aufweist, die sich bis zu einer zweiten Platinenoberfläche (134 ) hindurch erstrecken, wobei die elektrischen Verbindungen auf der ersten Platinenoberfläche (132 ) zur Signalverbindung mit den Vias (212 ) angeordnet sind und die elektrischen Verbindungen auf der zweiten Platinenoberfläche (134 ) zur Signalverbindung mit wenigstens einer elektronischen Komponente (170 ) angeordnet sind.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/707,984 US7075091B2 (en) | 2004-01-29 | 2004-01-29 | Apparatus for detecting ionizing radiation |
US10/707,984 | 2004-01-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005003378A1 true DE102005003378A1 (de) | 2005-08-11 |
Family
ID=34749170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200510003378 Withdrawn DE102005003378A1 (de) | 2004-01-29 | 2005-01-24 | Vorrichtung zur Erkennung ionisierender Strahlung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7075091B2 (de) |
JP (1) | JP4974130B2 (de) |
CN (1) | CN1648687A (de) |
DE (1) | DE102005003378A1 (de) |
IL (1) | IL166392A (de) |
NL (1) | NL1028105C2 (de) |
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2004
- 2004-01-29 US US10/707,984 patent/US7075091B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-01-19 IL IL166392A patent/IL166392A/en unknown
- 2005-01-24 DE DE200510003378 patent/DE102005003378A1/de not_active Withdrawn
- 2005-01-24 NL NL1028105A patent/NL1028105C2/nl not_active IP Right Cessation
- 2005-01-28 JP JP2005021073A patent/JP4974130B2/ja active Active
- 2005-01-31 CN CN200510006180.5A patent/CN1648687A/zh active Pending
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NL1028105A1 (nl) | 2005-08-01 |
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US7075091B2 (en) | 2006-07-11 |
IL166392A0 (en) | 2006-01-15 |
JP2005229110A (ja) | 2005-08-25 |
US20050167603A1 (en) | 2005-08-04 |
CN1648687A (zh) | 2005-08-03 |
JP4974130B2 (ja) | 2012-07-11 |
NL1028105C2 (nl) | 2008-02-25 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |