DE102004057494A1 - Metallisierte Folie zur flächigen Kontaktierung - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kontaktieren mindestens einer elektrischen Kontaktfläche (1) auf einer Oberfläche eines Substrats (2) und/oder mindestens eines auf dem Substrat (2) angeordneten Bauelementes (3), insbesondere Halbleiterchips, mit den Schritten: DOLLAR A - Auflaminieren mindestens einer Isolierfläche (4) aus elektrisch isolierendem Kunststoffmaterial auf die die Kontaktfläche (1) aufweisenden Oberflächen des Substrats (2) und des Bauelementes unter Vakuum, DOLLAR A - Freilegen der zu kontaktierenden Kontaktfläche (1) auf den Oberflächen durch Öffnen eines Fensters (6) in der Isolierfolie (4). DOLLAR A Die vorliegende Erfindung zeichnet sich durch DOLLAR A - flächiges Ankontaktieren der freigelegten Kontaktfläche (1) mit mindestens einer Metallisierung (5) auf einer Isolierfolie (4) DOLLAR A aus.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kontaktieren einer oder mehrerer elektrischer Kontaktflächen auf einer Oberfläche eines Substrats und/oder mindestens eines Bauelements, mit dem Schritt Auflaminieren mindestens einer Isolierfolie aus elektrisch isolierendem Kunststoffmaterial auf die Oberflächen des Substrats und des Bauelements unter Vakuum, so dass die Isolierfolie die Oberfläche mit der oder den Kontaktflächen eng anliegend bedeckt und auf dieser Oberfläche haftet.
- Die WO03/030247 offenbart ein Verfahren zum Kontaktieren, mit den weiteren Schritten: Freilegen jeder zu kontaktierenden Kontaktfläche auf der Oberfläche durch Öffnen jeweiliger Fenster in der Folie, und flächiges Kontaktieren jeder freigelegten Kontaktfläche mit einer Schicht aus elektrisch leitendem Material. Gemäß diesem Verfahren wird nach dem flächigen Kontaktieren in und/oder auf der Schicht aus dem elektrisch leitendem Material mindestens eine Leiterbahn erzeugt. Zum Herstellen einer mehrlagigen Vorrichtung werden die Schritte Auflaminieren, Freilegen, Kontaktieren und Erzeugen der Leiterbahn mehrmals durchgeführt.
- Nachteilig bei dem herkömmlichen Kontaktierungsverfahren ist der zu betreibende Aufwand zur Kontaktierung, insbesondere von Bauelementen auf einer Oberfläche eines Substrats. Es ist eine Vielzahl von Prozessschritten erforderlich.
- Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung die Nachteile herkömmlicher Verfahren zu überwinden und eine Vereinfachung der Kontaktierung von Kontaktflächen auf einer Substratoberfläche, insbesondere von Kontaktflächen auf Bauelementen auf einer Substratoberfläche, zu ermöglichen.
- Die Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß dem Hauptanspruch und eine Vorrichtung gemäß dem Nebenanspruch gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen finden sich in den Unteransprüchen.
- Das vorliegende Verfahren dient der Kontaktierung lediglich einer Substratstruktur oder von mindestens einem Bauelement auf einem Substrat oder von mindestens einem Bauelement mit einem Substrat zusammen. Dabei kann das Auflaminieren mindestens einer Isolierfolie aus elektrisch isolierendem Kunststoffmaterial auf die Oberfläche des Substrats beziehungsweise Bauelements, insbesondere unter Vakuum, derart erfolgen, dass die Isolierfolie die jeweils darunter liegende Oberfläche eng anliegend bedeckt und auf dieser haftet.
- Es erfolgt vor oder nach dem Auflaminieren die Bereitstellung mindestens einer auf mindestens einer Oberflächenseite der Isolierfolie ausgebildeten Metallisierung. Diese dient der Bereitstellung von Leiterbahnen oder Leiterbahn- bzw. Kontaktierungsstrukturen. Diese Verbindungsstrukturen können mittels herkömmlicher Verfahren bereits vor dem Laminieren ausgebildet sein. Dabei können die Folien mit einseitiger Metallisierung oder mit zweiseitiger Metallisierung auf einer Isolierfolie erzeugt sein. Als metallisierte Isolierfolie eignet sich insbesondere eine ganzflächig, teilflächig oder mit Leiterbahnen vorstrukturierte Kupferbeschichtung einer Kunststofffolie. Andere insbesondere im spezifischen elektrischen Widerstand oder in der Verarbeitbarkeit vergleichbare Metalle können ebenso verwendet werden. Fenster können auf einfache Weise mechanisch, z.B., durch Stanzen, chemisch, z.B. durch Ätzen, oder physikalisch, durch Lasern, Plasmaöffnen, vor oder nach dem jeweiligen Laminierschritt erzeugt sein. Das Ankontaktieren kann durch Hineinführen der Metallisierung zur elektrischen Kontaktfläche hin oder durch Herausführen der elektrischen Kontaktfläche zur Metallisierung hinaus durchgeführt werden. Das Ankontaktieren erfolgt bei einem vorteilhaften Druck und bei einer vorteilhaften Temperatur. Flächiges Kontaktieren ist bevorzugt. Als Bauelemente eignen sich elektronische Bauelemente, LEDs, Halbleiterchips beziehungsweise Leistungshalbleiterchips. Eine Vielzahl von Prozessschritten herkömmlicher Kontaktierungsverfahren kann entfallen.
- Als Substrate kommen beliebige Schaltungsträger auf organischer oder anorganischer Basis in Frage. Solche Substrate sind beispielsweise PCB (Printed Circuit Board)-, DCB-, IM (Insulated Metal)-, HTCC (High Temperature Cofired Ceramics)- und LTCC (Low Temperature Cofired Ceramics)-Substrate.
- Das Auflaminieren erfolgt vorteilhaft in einer Vakuumpresse. Dazu sind Vakuumtief ziehen, hydraulisches Vakuumpressen, Vakuumgasdruckpressen oder ähnliche Laminierverfahren denkbar. Der Druck wird vorteilhafterweise isostatisch aufgebracht. Das Auflaminieren erfolgt beispielsweise bei Temperaturen von 100°C bis 250°C und einem Druck von 1 bar bis 10 bar. Die genauen Prozessparameter des Auflaminierens, also Druck, Temperatur, Zeit etc., hängen unter anderem von der Topologie des Substrats, des Kunststoffmaterials der Isolierfolie und der Dicke der Isolierfolie ab.
- Zum flächigen Kontaktieren wird vorteilhaft ein physikalisches oder chemisches Abscheiden des elektrisch leitenden Materials durchgeführt. Derartige physikalische Verfahren sind Sputtern und Bedampfen (Physical Vapor Deposition, PVD). Das chemische Abscheiden kann aus gasförmiger Phase (Chemical Vapor Deposition, CVD) und/oder flüssiger Phase (Liquid Phase Chemical Vapor Deposition) erfolgen. Denkbar ist auch, dass zunächst durch eines dieser Verfahren eine dünne elektrisch leitende Teilschicht aufgetragen wird, auf der dann eine dickere elektrisch leitende Teilschicht galvanisch abgeschieden wird.
- Vorzugs- und vorteilhafterweise wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ein Substrat mit einer Oberfläche verwendet, die mit einem oder mehreren Halbleiterchips, insbesondere Leistungshalbleiterchips bestückt ist, auf deren jedem je eine oder mehrere zu kontaktierende Kontaktflächen vorhanden ist oder sind, und wobei die mindestens eine Isolierfolie auf dieser Oberfläche unter Vakuum auflaminiert wird, so dass die Isolierfolie diese Oberfläche einschließlich jedes Halbleiterchips und jeder Kontaktfläche eng anliegend bedeckt und auf dieser Oberfläche einschließlich jedes Halbleiterchips haftet.
- Die Isolierfolie ist dabei beispielsweise so gestaltet, dass insbesondere ein Höhenunterschied von bis zu ca. 5 mm überwunden werden kann. Der Höhenunterschied ist unter anderem durch die Topologie des Substrats und durch die auf dem Substrat angeordneten Halbleiterchips verursacht. Ebenso können SMD-(surface mounted device) Bauteile aufgebracht, beispielsweise aufgelötet sein.
- Die Isolierfolie kann aus beliebigen Thermoplasten, Duroplasten und Mischungen davon bestehen. Als Folie wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren vorzugs- und vorteilhafterweise eine Folie aus einem Kunststoffmaterial auf Polyimid (PI)-, Polyethylen (PE)-, Polyphenol-, Polyetheretherketon (PEEK)- und/oder Epoxidbasis verwendet. Die Folie kann dabei zur Verbesserung der Haftung auf der Oberfläche eine Klebebeschichtung aufweisen.
- Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung wird die Metallisierung auf einer weiteren auflaminierten Isolierfolie aus elektrisch isolierendem Kunststoffmaterial auf der der Kontaktfläche zu gewandten Oberflächenseite vor dem Auflaminieren aufgebracht. Diese zusätzliche Isolierfolie weist keine Öffnung, sondern bevorzugt im Bereich der Öffnung die Metallisierung auf.
- Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung wird ein Substrat mit einer mit einem oder mehreren Leistungshalbleiterchips bestückten Oberfläche verwendet.
- Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung werden Metallisierungen auf verschiedenen Oberflächenseiten miteinander elektrisch verbunden. Dies kann über Kontaktstifte erfolgen.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung werden Isolierfolien aus einem Kunststoffmaterial auf Polyimid-, Polyethylen-, Polyphenol-, Polyetheretherketon- und/oder auf Epoxidbasis und als einseitige oder zweiseitige Metallisierungen Kupfer, Aluminium, Eisen und/oder Silber oder vergleichbare elektrische Leiter verwendet. Eine Kunststofffolie kann damit auf einer Oberflächenseite oder auf beiden Oberflächenseiten mit Metall beschichtet sein. Grundsätzlich sind auch reine Metallschichten verwendbar.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist eine Metallisierung der Isolierfolie ganzflächig, teilflächig oder vorstrukturiert bereit gestellt. Die Verbindungsstruktur entspricht der erforderlichen Verbindung von elektrischen oder elektronischen Bauelementen, die auf einem Substrat mit herkömmlichen Verfahren aufgebracht sein können. Die Metallstruktur kann beispielsweise über einen fotolithographischen Prozess erzeugt sein. Herkömmliche Strukturierungsverfahren sind ebenso anwendbar.
- Die Metallisierung der Isolierfolie kann durch Laserablation, Stanzen, Ätzen oder durch einen fotolithographischen Prozess strukturiert werden.
- Die flächige Ankontaktierung jeder freigelegten Kontaktfläche kann mittels Thermopressen, Anlöten und/oder Aufkleben der die Metallisierung aufweisenden metallisierten Isolierfolie durchgeführt werden.
- Für das flächige Ankontaktieren können zusätzliche mindestens eine Metallisierung aufweisende metallisierte Verbindungsfolien verwendet werden. Die Verbindungsfolien können durch Anlöten oder Aufkleben fixiert werden.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird die Ankontaktierung jeder freigelegten Kontaktfläche mittels Anlöten und/oder Aufkleben der metallisierten Isolierfolie, d.h der die Metallisierung aufweisenden Isolierfolie, durchgeführt. Die Kontaktierung erfolgt flächig. Die Kontaktierung kann von der metallisierten Isolierfolie in die freigelegte Kontaktfläche hinein erfolgen. Der umgekehrte Fall, der Hinausführung der freigelegten Kontaktfläche nach außen zu den Metallleiterbahnen ist bei entsprechender Bereitstellung der Kontaktflächen ebenso durchführbar.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird das Auflaminieren der Isolierschichtfolgen derart wiederholt, dass ein Multilayeraufbau erzeugt wird. Ebenso können dadurch Isolierschichtdicken vergrößert werden.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird eine metallisierte Isolierfolie mit einer Dicke (d), beispielsweise insbesondere im Bereich von 25 bis 250 μm verwendet.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung erfolgt zusätzlich ein Aufbringen einer isolierenden Abdeckung auf der dem Substrat abgewandten Seite der obersten Isolierfolie, und ein zur Erzeugung einer hermetischen Abdichtung erfolgendes Aufbringen einer Metallschicht auf diese isolierende Abdeckung und Erzeugen einer Direktkontaktierung der Metallschicht mittels eines direkten Metallanschlusses an einen Randbereich des Substrats. Die Metallschicht dient als mechanischer Schutz, als Deckel, mit Wärme ableitenden Eigenschaften. Zwischen Metallschicht und der eine Metallisierung aufweisenden metallisierten Isolierfolie dient die isolierende Abdeckung als elektrische Isolierung.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung erfolgt ein Anbringen von Kühlkörpern an der hermetischen Abdichtung von oben und/oder an dem Substrat von unten. Damit kann Wärme verbessert an die Umgebung abgeführt werden.
- Zu den weiteren vorteilhaften Ausgestaltungen gehören mittels der genannten Verfahren erzeugte Vorrichtungen.
- Unter Bezugnahme auf die Figuren werden vorteilhafte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ausführlicher beschrieben. Es zeigen:
-
1 eine Darstellung eines ersten Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. des Verfahrens; -
2 eine Darstellung eines zweiten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. des Verfahrens; -
3 eine Darstellung eines dritten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung, -
4 eine stark vereinfachte Draufsicht auf das dritte Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung. -
1 zeigt den Aufbau einer Vorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel mit mindestens einer elektrischen Kontaktfläche1 auf einer Oberfläche eines Substrats2 und/oder mindestens eines auf dem Substrat angeordneten Bauelementes3 . Auf den Oberflächen des Substrats1 und des Bauelements3 ist mindestens eine elektrisch isolierende Isolierfolie4 , die eng an der darunter liegenden Oberfläche anliegt und haftet, durch Vakuum auflaminiert. Mindestens eine Metallisierung5 ist auf mindestens einer Oberflächenseite der mindestens einen Isolierfolie4 aufgebracht. Die Isolierfolie4 weist bei der Kontaktfläche1 mindestens ein Fenster6 auf, in welchem die Kontaktfläche1 mit der Metallisierung5 flächig kontaktiert ist. Zusätzlich ist eine isolierende Abdeckung7 auf der Isolierfolie4 , und eine Metallschicht8 auf der isolierenden Abdeckung7 aufgebracht ist, wobei eine Direktkontaktierung der Metallschicht mittels eines direkten Metallanschlusses an einen Randbereich des Substrats zur Erzeugung einer hermetischen Abdichtung der Vorrichtung erzeugt ist. Jeweils ein Kühlkörper9 ist oberhalb der hermetischen Abdichtung und unterhalb des Substrats angeordnet. -
2 zeigt eine Ausführungsform bezüglich der Kontaktierung durch Fenster6 in der mindestens einen Isolierfolie4 . Beispielsweise wird die Ankontaktierung jeder freigelegten Kontaktfläche1 mittels Anlöten und/oder Aufkleben der metallisierten Isolierfolie4a durchgeführt. Vergleichbare Verbindungsverfahren sind ebenfalls anwendbar. Die Kontaktierung erfolgt flächig. Die Kontaktierung kann von der metallisierten Isolierfolie4a in die freigelegte Kontaktfläche hinein erfolgen. Der umgekehrte Fall, der Hinausführung von metallisierten Verbindungsfolien4b (separat oder als Fortführung der Kontaktfläche1 bereitgestellt) von der frei gelegten Kontaktfläche1 nach außen zu den Metallleiterbahnen5 ist bei entsprechender Bereitstellung der Kontaktflächen1 ebenso durchführbar. -
3 zeigt wie eine metallisierte Isolierfolie4a über die Außenkanten des Substrats2 freiliegend und strukturiert für die Anbindung zu außen liegenden Anschlüssen genutzt werden kann. Dadurch lassen sich ebenso Höhenunterschiede ausgleichen. Diese Art der flexiblen Ankontaktierung ersetzt beziehungsweise ergänzt zusätzliche Steckeranbindungen oder vergleichbare Verbindungslösungen. Die Folien- und Kupferdicken können variabel an die jeweiligen mechanischen, elektrischen, thermischen und vergleichbaren Anforderungen angepasst sein. - Gemäß
3 ist die metallisierte Isolierfolie4a über einer Isolierfolie4 auf der linken Seite des Substrats2 über das Substrat2 hinaus über einer Auflage10 mit nicht haftenden Eigenschaften, beispielsweise einer Teflonstruktur10 erzeugt. Die Teflonschicht10 kann derart von den Isolierfolien4 und4a abgenommen bzw. getrennt werden, dass diese freiliegend oder zum Substrat2 überhängend geschaffen werden. -
4 zeigt eine stark vereinfachte Ansicht der3 von oben. Die freiliegenden Isolierfolien4 und4a sind deutlich zu erkennen. Diese gehen jeweils über die Fläche des Substrats2 hinaus. Eine hermetische Abdeckung der Vorrichtung mittels einer Metallschicht8 über einer isolierenden Abdeckung7 kann zusätzlich erzeugt sein.
Claims (16)
- Verfahren zum Kontaktieren mindestens einer elektrischen Kontaktfläche (
1 ) auf einer Oberfläche eines Substrats (2 ) und/oder mindestens eines auf dem Substrat (2 ) angeordneten Bauelementes (3 ), insbesondere Halbleiterchips, mit den Schritten: – Auflaminieren mindestens einer Isolierfolie (4 ) aus elektrisch isolierendem Kunststoffmaterial auf die die Kontaktfläche (1 ) aufweisenden Oberflächen des Substrats (2 ) und des Bauelements unter Vakuum, – Freilegen der zu kontaktierenden Kontaktfläche (1 ) auf den Oberflächen durch Öffnen eines Fensters (6 ) in der Isolierfolie (4 ), gekennzeichnet durch – flächiges Ankontaktieren der freigelegten Kontaktfläche (1 ) mit mindestens einer Metallisierung (5 ) auf einer Isolierfolie (4 ). - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallisierung (
5 ) auf mindestens einer Oberflächenseite der mindestens einen Isolierfolie (4 ) vor oder nach dem Auflaminieren aufgebracht wurde. - Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallisierung (
5 ) auf der der Kontaktfläche (1 ) zugewandten Oberflächenseite einer nach dem Freilegen zusätzlich auflaminierten Isolierfolie (4 ) vor dem Auflaminieren aufgebracht wurde. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei Metallisierungen (
5 ) auf verschiedenen Oberflächenseiten miteinander elektrisch verbunden werden. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei Isolierfolie (
4 ) aus einem Kunststoffmaterial auf Polyimid-, Polyethylen-, Polyphenol-, Polyetheretherketon- und/oder auf Epoxidbasis und als einseitige oder zweiseitige Metallisierung (5 ) Kupfer, Aluminium, Eisen und/oder Silber verwendet werden. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Metallisierung (
5 ) der Isolierfolie (4 ) ganzflächig, teilflächig oder vorstrukturiert, insbesondere in Form von Leiterbahnen, bereit gestellt ist. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Metallisierung (
5 ) der Isolierfolie (4 ) durch Lasern, Stanzen, oder durch ein nasschemisches Verfahren strukturiert wird. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei die flächige Ankontaktierung jeder freigelegten Kontaktfläche (
1 ) mittels Thermoformen bzw. -pressen, Anlöten, Schweißen und/oder Aufkleben der die Metallisierung (5 ) aufweisenden metallisierten Isolierfolie (4a ) durchgeführt wird. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei für das flächige Ankontaktieren zusätzliche mindestens eine Metallisierung (
5 ) aufweisende metallisierte Verbindungsfolien (4b ) verwendet werden. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Metallisierung (
5 ) aufweisende metallisierte Isolierfolie (4 ) über die Außenkanten des Substrats (2 ) freiliegend und strukturiert zur Anbindung zu Außenanschlüssen erzeugt wird. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die weiteren Schritte: – Aufbringen einer isolierenden Abdeckung (
7 ) auf die oberste Isolierfolie (4 ), – Aufbringen einer Metallschicht (8 ) auf die isolierende Abdeckung (7 ) und Erzeugen einer Direktankontaktierung der Metallschicht (8 ) mittels eines direkten Metallanschlusses an einen Randbereich des Substrats (2 ) zur Erzeugung einer hermetischen Abdichtung. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch den weiteren Schritt: – Aufbringen mindestens eines Kühlkörpers (
9 ) oberhalb der hermetischen Abdichtung und/oder unterhalb des Substrats (2 ). - Vorrichtung mit mindestens einer elektrischen Kontaktfläche (
1 ) auf einer Oberfläche eines Substrats (2 ) und/oder mindestens eines auf dem Substrat (2 ) angeordneten Bauelementes (3 ), wobei – auf den Oberflächen des Substrats (2 ) und des Bauelementes (3 ) mindestens eine elektrisch isolierende Isolierfolie (4 ) durch Vakuum auflaminiert ist, – mindestens eine Metallisierung (5 ) auf mindestens einer Oberflächenseite der Isolierfolie (4 ) aufgebracht ist, – die Isolierfolie (4 ) von der Kontaktfläche (1 ) zu der Metallisierung (5 ) ein Fenster (6 ) aufweist, in welchem – die Kontaktfläche (1 ) mit der Metallisierung (5 ) flächig ankontaktiert ist. - Vorrichtung nach Anspruch 13, wobei die die Metallisierung (
5 ) aufweisende metallisierte Isolierfolie (4 ) über die Außenkanten des Substrats (2 ) freiliegend und strukturiert zur Anbindung zu Außenanschlüssen ausgebildet ist. - Vorrichtung nach Anspruch 13 und/oder 14, wobei zusätzlich – eine isolierende Abdeckung (
7 ) auf der obersten Isolierfolie (4 ), und – eine Metallschicht (8 ) auf der isolierenden Abdeckung (7 ) aufgebracht ist, wobei eine Direktankontaktierung der Metallschicht (8 ) mittels eines direkten Metallanschlusses an einen Randbereich des Substrats (2 ) zur Erzeugung einer hermetischen Abdichtung der Vorrichtung erzeugt ist. - Vorrichtung nach Anspruch 15, wobei mindestens ein Kühlkörper (
9 ) oberhalb der hermetischen Abdichtung und/oder unterhalb des Substrats (2 ) angeordnet ist.
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