DE1015240B

DE1015240B - Anordnung zur Materialpruefung mittels Gammastrahlen

Info

Publication number: DE1015240B
Application number: DEL22894A
Authority: DE
Inventors: Dr Phil Eberhard Steudel
Original assignee: Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Current assignee: Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date: 1955-09-09
Filing date: 1955-09-09
Publication date: 1957-09-05

Description

Anordnung zur Materialprüfung mittels Gammastrahlen Es ist bekannt, zur Materialprüfung Gammastrahlen zu verwenden. Fehler der zu untersuchenden Gegend stände machen. sich dabei durch eine unterschiedliche absorption bemerkbar. als fehlernachweismittel werden bei den beka, n, n. ten Verfahren photographisch empfindliche Materialien oder beispielsweise Geigerzählrobre verwendet. Die photographisch empfindlichen Materialien. haben den Nachteil, daß siel starke radioaktive Präparate und lange Belichtungszeiten erforderlich machen. Bei einer Verwendung von.
Geigerzählrohren als Fehelenachweiseinrichtung wird der genannte Nachteil zwar vermieden jedoch muß infolge der großen Dimensionen eines Zähirohres ein sehr viel geringeres Auflösungsvermögen in Kauf genommen werden. Der Nachteil eines geringeren Auflösungsvermögens kann jedoch, beli einer zumindest gegen, über dem zu untersuchenden Gegenstand punktfönnigen oder annähernd. spunktförmigen Gammar strahlenquelle vermieden werde,wenn das abtastende Zählorhr in genügend grßer Entfernung angeordnet und damit gewissermaßen ein vergrößerter Schatenriß des Prüfobjektes abgetastet wird.
Erfindungsgemäß wird daher bei einer Anordnung zur Materiaphrüfung mittels Gammastrahlen, bei der die Gammastrahlen durch Zähirohre nachgewiesen werden, am Ort des Gammastrahlers eine Lichtquelle vorgesehen. Durch die genannte Lichtquelle wird in einfacher Weise der Schattenriß des Prüfobjecktes sichtbar gemahct, womit während der Prüfung ohne weitere Hilfsmittel die jeweils mit dem Zählrohr abgetastete Stelle des Prüfogjektes feststellbar ist.
Es ist günstig, nach. einem anderen Merkmal delr Erfindung eine möglichst punktförmige Lichtquelle vorzusehen, deren Abstand gegenüber dem Prüfobjekt gemeinsam mit dem Abstand des Gammastrahlers ensellbar ist. Vorteilhafterwiese wird nach einem weiteren Merkmal der Erfindung die Prüfan ordnung derartig ausgebildet, d. d.e!r Abstand während der Prüfung vom Prüfenden verändert und eingestellt werden kann. Damit ist es auf einfache Weise dem Prüfenden möglich, die geometrische Vergrößerung des prüfobjektes zu verändern und eine gewünschte empfindliche Prüfung vorzunehemn.
Im folgenden soll die anordnungnach der Erfindung an Hand eines in der Figur weidergegebenen schematischen Ausführungsbeispliels näher erläutert werden.
Wie aus der Zeichnung ersichtlich, befindet sich am Ort des Gammastrahlers 1 die zweckmäßigerweise punktförmiget Lichtquelle 2, die auf einem Schirm 3 einen vergrößerten Scha.ttenriß des Prüflings 4, beispielsweise eines Hochspannungsisolators, entwirft.
Der Abstand des Gammastrahlers und der Lichtquelle vom Prüfling lassen sich durch eine nicht dargestellte Vorrichtung einstellen. Damit kann. die geo, metrische Vergrößerung des Prüflings und die Empfindlichkeit der Unterscuhung vom prüfenden verändert werden.
Das Zählorhr 5, durch welches der Nachweis der Gamma, strahlen erfolgt, wird zweickmäßgerweise hqnter dem Schirm 3 ganeordnet.

Claims

PATENTANSPRÜCHE: 1. Anordnung zur Materialprüfung mittels Gamma, strahlen, bei der die Gammastrahlen durch Zählrohre nachgewiesen werden, dadurch gekennzeichnet, daß am Ort des Gammastrahlers eine Lichtquelle vorgesehen ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekannezichnet, daß die Lichtquelle punktförmig ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand des Gammastrahlers und der der Lichtquelle gemeinsam gegenüber dem Prüfobjekt einstellbar sind.
4. Anordnung nach Anspruch 3, geknnzeichnet durch eine derartige Ausbildung der Prüfanordnung, daß der erwähnte Abstand während der Prüfung vom Prüfenden einstellbar ist.