DE10128903A1 - Schaltungsanordnung zur Speicherung digitaler Daten - Google Patents

Schaltungsanordnung zur Speicherung digitaler Daten

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    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

Um Speicher gegen im Betrieb auftretende Störungen robust zu machen, werden ihnen üblicherweise Fehlerkorrektureinrichtungen zugeordnet. Wenn der Speicherinhalt der Speicherzelle (1) durch Auswerten des Zellenstrom erfolgt, tritt das Problem auf, dass der Zellenstrom sowohl wert- als auch zeitkontinuierlich ist. Treten in den Speicherzellen (1) Leckströme auf, die einen erhöhten Speicherzellenstrom verursachen, so kann der Stromfühlerverstärker (2) erst mit ständig zunehmender Zugriffszeit zwischen den Werten 0 und 1 unterscheiden. Bei auftretenden Leckströmen kann es demnach zu beliebigen Zeiten zu einem Umschalten des Stromfühlerverstärkers (2) zum Auswerten des Zellenstroms kommen. Um eine nachgeschaltete Fehlerkorrektur in einer Fehlerkorrektureinrichtung (5) korrekt durchführen zu können, sind zwischen den Stromfühlerverstärkern (2) und der Fehlerkorrektureinrichtung (5) jeweils Register (3) zwischengeschaltet, die zu einem bestimmten Zeitpunkt (t¶4¶) das Ausgangssignal der Stromfühlerverstärker (2) zwischenspeichert. Somit kann ein Umschalten des Eingangssignals der Fehlerkorrektureinrichtung (5) während der Fehlerkorrektur vermieden werden, das unter Umständen zu einer fehlerhaften Fehlerkorrektur führen könnte.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit einer Fehlerkorrektureinrichtung zur Speicherung digitaler Daten, bei der die zu speichernden Daten in Speicherzellen gespeichert werden, aus denen die gespeicherten Daten mittels eines Leseverstärkers durch Erfassen einer elektrischen Charakteristik ausgelesen werden.
  • Bei einer derartigen Speicherschaltung können in jeder Speicherzelle mehrere Zustände gespeichert werden, beispielsweise eine 1-Information und eine 0-Information. Abhängig vom jeweils gespeicherten Zustand liefert eine Speicherzelle, bei der die gespeicherte Information mit Hilfe eines Stromfühlerverstärkers ausgelesen wird, beim Auslesen zwei unterschiedliche, definierte Ströme. Diese definierten Ströme werden jedoch erst nach einer bestimmten Zeit erreicht, nach der ein zum Auslesen der Speicherzellen nötiger Verschiebestrom abgeklungen ist. Wird eine Speicherzelle ausgelesen, so steigt auf Grund des zum Auslesen nötigen Verschiebestroms der Zellenstrom steil auf einen bestimmten Wert an und fällt anschließend abhängig vom in der Zelle gespeicherten Zustand auf einen der beiden definierten Ströme ab, wobei der einer 0-Information entsprechende Zellenstrom niedriger als der einer 1-Information entsprechende Zellenstrom ist. Ebenso kann der Leseverstärker auch eine vom Strom verschiedene Charakteristik wie beispielsweise eine Spannung und/oder einen elektrischen Widerstand erfassen.
  • Die erfasste elektrische Charakteristik während des Auslesevorgangs ist demnach sowohl wertkontinuierlich als auch zeitkontinuierlich. Um aus dem Zellenstrom das gespeicherte digitale Datum gewinnen zu können, wird der Zellenstrom von einem Stromfühlerverstärker mit einem Referenzstrom verglichen, wobei der Ausgang des Stromfühlerverstärkers einen High-Pegel annimmt, wenn der Zellenstrom kleiner als der Referenzstrom ist, und einen Low-Pegel annimmt, sobald der Zellenstrom geringer als der Referenzstrom ist. Für die Auswertung des Zellenstroms muss dabei jedoch zuerst das Abklingen des Verschiebestroms abgewartet werden.
  • Die nachgeschaltete Fehlerkorrektureinrichtung als Verarbeitungseinrichtung erhält eingangsseitig die gespeicherten Daten von mehreren Speicherzellen und erzeugt daraus ein fehlerkorrigiertes Ausgangssignal. Zur Fehlerkorrektur können die Daten redundant in einer Weise gespeichert werden, die auch bei fehlerhaften einzelnen Bits eine Rekonstruktion der korrekten Daten ermöglicht.
  • Bei Speicherzellen, die mit einem Stromfühlerverstärker ausgelesen werden, können sich insbesondere durch Leckströme die Verläufe der Zellenströme verändern. Durch Leckströme können Ladungen in Speicherzellen abfließen, so dass sich die Einsatzspannungen der beim Auslesen der Speicherzellen verwendeten Transistoren und damit die beim Auslesen auftretenden Zellenströme verändern. Insbesondere kann es vorkommen, dass die den verschiedenen Informationen entsprechenden Zellenströme erhöht sind. Dies hat zur Folge, dass der Zellenstrom nach dem Abklingen des Verschiebestroms auf jeweils höhere Werte absinkt und auch langsamer absinkt. Im Fall einer gespeicherten 0-Information kann sich dadurch die Zeit beliebig verlängern, nach der der Zellenstrom den Referenzstrom unterschreitet. Bei auftretenden Leckströmen in der Schaltungsanordnung kann es nach dem Beginn des Auslesens der Speicherzellen auf unbestimmte Zeit zu einem Umschalten der Stromfühlerverstärker kommen. Da die einzelnen Stromfühlerverstärker nicht notwendigerweise zur gleichen Zeit und auch zu unbestimmten Zeitpunkten umschalten, kann es bei einer nachgeschalteten Fehlerkorrektureinrichtung zu fehlerhaften Korrekturen kommen, wenn beispielsweise das Umschalten der Stromfühlerverstärker nicht früh genug abgeschlossen ist. In diesem Fall bleibt zwischen dem letzten Umschalten eines Stromfühlerverstärkers und einem Zeitpunkt, zu dem das Ausgangssignal der Fehlerkorrektureinrichtung abgegriffen bzw. zwischengespeichert wird, nicht genügend Zeit, um die Fehlerkorrektur in der Fehlerkorrektureinrichtung durchzuführen.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung zur Speicherung digitaler Daten der eingangs genannten Art zu schaffen, wobei die Fehlersicherheit insbesondere auch bei Speicherzellen-Leckströmen erhöht werden kann.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Schaltungsanordnung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
  • Durch das Zwischenschalten eines Registers zwischen den Leseverstärker bzw. einen Stromfühlerverstärker und die Verarbeitungseinrichtung, insbesondere eine Fehlerkorrektureinrichtung, wird erreicht, dass am Eingang der Verarbeitungseinrichtung ein sowohl Wert- als auch zeitdiskretes Signal anliegt. Es kann somit verhindert werden, dass während der Verarbeitung der Daten bzw. des Vorgangs der Fehlerkorrektur sich das Eingangssignal der Fehlerkorrektureinrichtung ändert und zu Fehlern bei der Fehlerkorrektur führt. Tritt bei einer oder mehreren Speicherzellen ein gestörter Zellenstromverlauf auf, bei dem der Zellenstrom innerhalb des Auslesevorgangs nicht den korrekten Wert erreicht, so wird zwar vom Register ein falscher Zustand der Speicherzellen zwischengespeichert, jedoch kann dies von der Fehlerkorrektureinrichtung korrigiert werden, solange nicht zu viele Speicherzellen falsch ausgelesen werden.
  • Die Register können dabei so angesteuert werden, dass sie eine bestimmte Zeit nach Beginn des Auslesevorgangs das Ausgangssignal der Stromfühlerverstärker zwischenspeichern. Diese Zeitdauer ist so bemessen, dass die Verschiebeströme abgeklungen sind. Wenn dabei jedoch in Folge von Leckströmen die Zellenströme erhöht sind, fallen die der 0-Information entsprechenden Zellenströme nicht unter den Referenzstrom.
  • Zur korrekten Ansteuerung der Register kann der Schaltungsanordnung eine Steuereinrichtung zugeordnet sein, die eine bestimmte Zeit nach Beginn des Auslesevorgangs die Register derart ansteuern, dass sie das Ausgangssignal der Stromfühlerverstärker zwischenspeichern.
  • Besonders vorteilhaft kann die vorliegende Erfindung bei EEPROM-Speichern verwendet werden, bei denen die Gefahr von erhöhten Zellenströmen größer ist. Insbesondere kann die Erfindung bei EEPROM-Speichern verwendet werden, die zum Programmieren und Löschen Fowler-Nordheim-Tunnel aufweisen. Um in solchen Fällen mit niedriger Spannung auszukommen, wird in der Regel eine dünne Schicht Tunneloxid verwendet, wodurch wiederum die Wahrscheinlichkeit für einen statistisch zufällig auftretenden Leckstrompfad in einer Speicherzelle stark anwächst. Dies wird auch "moving bit" genannt.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung näher erläutert.
  • Fig. 1 zeigt den schematischen Aufbau einer Speicherstelle einer erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung, und
  • Fig. 2 zeigt die Verläufe des Speicherzellenstroms, des Ausgangssignals des Stromfühlerverstärkers und der Ansteuerung der Register.
  • In Fig. 1 ist ein Teil einer erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung dargestellt, der eine Speicherstelle 1 bis 3 sowie eine Fehlerkorrektureinrichtung 5 aufweist. Die Speicherstelle 1 bis 3 dient zur Speicherung eines Bits, wohingegen die Fehlerkorrektureinrichtung 5 weitere nicht dargestellte Ein- und Ausgänge aufweist, um anhand der gespeicherten Bits von mehreren Speicherstellen eine Fehlerkorrektur durchführen zu können.
  • Die Speicherstelle weist eine Speicherzelle 1 auf, in der die Information in Form einer Ladung auf einem Floating Gate gespeichert wird. Die in der Speicherzelle 1 gespeicherte Ladung bzw. die in der Speicherzelle 1 gespeicherte Information wird mit Hilfe eines Stromfühlerverstärkers 2 ausgelesen, der während eines Auslesevorgangs den Zellenstrom ermittelt und am Ausgang ein High-Signal ausgibt, wenn der Zellenstrom einen bestimmten Wert überschreitet, und ein Low-Signal ausgibt, wenn der Zellenstrom den Wert unterschreitet.
  • Der Auslesevorgang wird von einer nicht dargestellten Steuereinrichtung gesteuert, wobei zu Beginn des Auslesevorgangs ein erhöhter Verschiebestrom zum Auslesen des Inhalts der Speicherzelle 1 auftritt und die Information erst nach Abklingen dieses Verschiebestroms ermittelt werden kann.
  • Am Ausgang des Stromfühlerverstärkers 2 ist ein Register 3 angeschlossen, das das Ausgangssignal des Stromfühlerverstärkers 2 zwischenspeichert, sobald das Register 3 mit einem Steuersignal 4 angesteuert wird. Das Register 3 ist flankengesteuert, so dass es bei einer positiven Flanke des Steuersignals 4 das am Eingang anliegende Ausgangssignal des Stromfühlerverstärkers 2 zwischenspeichert, so dass es unveränderlich am Ausgang des Registers 3 anliegt. Der Ausgang des Registers 3 ist mit einem Eingang der Fehlerkorrektureinrichtung 5 verbunden.
  • Nachfolgend wird anhand der in Fig. 2 dargestellten Verläufe verschiedener in der Schaltung auftretender Ströme bzw. Signale der Auslesevorgang der Speicherzelle 1 beschrieben. Diagramm A zeigt den Verlauf des Zellenstroms in der Speicherzelle 1, wobei der Verlauf 6 den Zellenstrom für eine gespeicherte 1-Information und Verlauf 7 den Zellenstrom für eine gespeicherte 0-Information bei jeweils korrekten Stromverläufen zeigt. Der Verlauf 8 im Diagramm A zeigt den Verlauf des Zellenstroms bei gespeicherter 0-Information, wobei in Folge eines Fehlers ein Leckstrom auftritt und der Zellenstrom erhöht ist. Weiterhin ist im Diagramm A ein Referenzstrom 9 eingezeichnet, mit dem der Stromfühlerverstärker 2 den Zellenstrom der Speicherzelle 1 vergleicht.
  • Diagramm B zeigt das Ausgangssignal des Stromfühlerverstärkers 2 und Diagramm C zeigt das Taktsignal 4 zur Ansteuerung des Registers 3. Für alle drei Diagramme A bis C sind vier Zeitpunkte t1 bis t4 angegeben.
  • Zu Beginn des Auslesevorgangs steigt der Zellenstrom unabhängig von der in der Speicherzelle 1 gespeicherten Information in gleicher Weise an, da der Stromverlauf von dem Verschiebestrom bestimmt wird, der zum Auslesen des Inhalts der Speicherzelle 1 erforderlich ist. Sobald der Zellenstrom den Referenzstrom 9 überschreitet, schaltet der Ausgang des Stromfühlerverstärkers 2 auf High, was in den Diagrammen A, B zum Zeitpunkt t1 der Fall ist. Der Zellenstromverlauf im Diagramm A steigt bis auf einen Maximalwert an und fällt anschließend abhängig von der in der Speicherzelle 1 gespeicherten Information und möglichen Leckströmen in der Speicherzelle 1 unterschiedlich schnell auf unterschiedliche Werte ab. Ist beispielsweise in der Speicherzelle 1 eine 0-Information gespeichert und tritt kein Leckstrom auf, so unterschreitet der Zellenstrom, wie vom Verlauf 7 angegeben, zum Zeitpunkt t2 wieder den Referenzstrom 9, so dass zu diesem Zeitpunkt der Ausgang des Stromfühlerverstärkers 2 wieder auf Low schaltet. Ab diesem Zeitpunkt t2 liegt somit am Ausgang des Stromfühlerverstärkers 2 das korrekte Signal an. Wenn dagegen die Speicherzelle 1 eine 1-Information speichert und kein Leckstrom auftritt, so bleibt der Zellenstrom, wie im Verlauf 6 angegeben, über dem Referenzstrom 9, so dass in diesem Fall das Ausgangssignal des Stromfühlerverstärkers 2 auf dem High- Pegel verbleibt. Die Verläufe des im Diagramm B angegebenen Ausgangssignals des Stromfühlerverstärkers 2 sind in der gleichen Strichart wie die verschiedenen zugehörigen Zellenstromverläufe 6 bis 8 im Diagramm A angegeben. Beispielsweise ist das Stromfühlerverstärker-Ausgangssignal für den Fall einer gespeicherten 0-Information ebenso wie der entsprechende Zellenstromverlauf 7 durchgezogen wiedergegeben, wohingegen sowohl das Stromfühlerverstärker-Ausgangssignal als auch der entsprechende Zellenstromverlauf 6 für eine gespeicherte 1- Information gestrichelt wiedergegeben ist.
  • Wenn nun in der Speicherzelle 1 ein Leckstrom auftritt, so erhöht sich der Zellenstrom, so dass im Fall einer gespeicherten 0-Information, wie im Verlauf 8 angegeben, der Zellenstrom nach Abklingen des Verschiebestroms langsamer und auf einen höheren Wert absinkt. Der Zellenstrom unterschreitet daher den Referenzstrom 9 zu einem späteren Zeitpunkt t3.
  • Um nach einer definierten Zeit die gespeicherten Daten aus der Schaltungsanordnung auslesen zu können, wird zu einem festgelegten Zeitpunkt t4 das Register 3 mittels des Ansteuersignals 4 angesteuert, so dass das zu diesem Zeitpunkt am Ausgang des Stromfühlerverstärkers 2 anliegende Signal für die Weiterverarbeitung in der Fehlerkorrektureinrichtung 5 zwischengespeichert wird. Die Fehlerkorrektureinrichtung 5 benötigt zur Durchführung der Korrektur eine gewisse Zeit tF, während der am Ausgang der Fehlerkorrektureinrichtung 5 keine gültigen Daten anliegen. Am Ausgang der Fehlerkorrektureinrichtung 5 liegen erst ab dem Zeitpunkt t4 + tF gültige Daten an.
  • Wenn nun die Speicherzelle 1 eine 0-Information speichert und ein Leckstrom auftritt, so ergibt sich der Verlauf 8, bei dem allerdings der Zellenstrom erst zu einem späteren Zeitpunkt t3 den Referenzstrom 9 unterschreitet, so dass zum Zeitpunkt t4 am Ausgang des Stromfühlerverstärkers 2 ein High-Signal anliegt, obwohl die Speicherzelle 1 eine 0-Information speichert. Dieses Signal wird, wie zuvor beschrieben, zur Verarbeitung in der Fehlerkorrektureinrichtung 5 konstant zwischengespeichert, so dass die Fehlerkorrektur korrekt durchgeführt werden kann. Unter der Annahme, dass nicht zu viele Speicherzellen 1 in Folge von Leckströmen falsch ausgelesen worden sind, liegen daher am Ausgang der Fehlerkorrektureinrichtung 5 ab dem Zeitpunkt t4 + tF die korrekten Daten an. Ein Umschalten des Eingangssignals der Fehlerkorrektureinrichtung 5 in Folge eines verspäteten Absinkens des Zellenstroms unter den Referenzstrom 9 ist ausgeschlossen. Mit Hilfe des Registers 3 kann erreicht werden, dass das Eingangssignal der Fehlerkorrektureinrichtung 5 sowohl wertdiskret als auch zeitdiskret ist, und die Fehlerkorrektur ohne Störung durchgeführt werden kann.

Claims (6)

1. Schaltungsanordnung zum Speichern digitaler Daten mit Speicherstellen, die jeweils eine Speicherzelle (1), einen Leseverstärker zum Ermitteln des Inhalts der Speicherzelle (1) durch Erfassen einer elektrischen Charakteristik der Speicherzelle (1) und ein steuerbares Register (3) zum Zwischenspeichern eines Signalzustands aufweisen, und mit wenigstens einer Verarbeitungseinrichtung zur Weiterverarbeitung von in den Speicherstellen gespeicherten Daten, wobei der Eingang des Registers (3) mit einem Ausgang des Leseverstärkers und der Ausgang des Registers (3) mit einem Eingang der Verarbeitungseinrichtung verbunden ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Verarbeitungseinrichtung eine Fehlerkorrektureinrichtung zur Korrektur von Fehlern von in den Speicherstellen gespeicherten Daten ist.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Leseverstärker ein Stromfühlerverstärker (2) zum Erfassen des Speicherzellenstroms (A) ist.
4. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltungsanordnung eine Steuereinrichtung aufweist, die derart eingerichtet ist, dass sie das Register (3) einer Speicherstelle eine bestimmte Zeit nach Beginn eines Auslesevorgangs des Inhalts der Speicherzelle (1) mittels des Stromfühlerverstärkers (2) derart ansteuert, dass das Register (3) das Ausgangssignal des Stromfühlerverstärkers (2) zwischenspeichert.
5. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltungsanordnung ein EEPROM-Speicher oder ein DRAM-Speicher oder ein SRAM-Speicher ist.
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltungsanordnung ein EEPROM-Speicher ist und zum Programmieren und Löschen Fowler-Nordheim-Tunnel oder Channel-Hot-Elektron-Tunnel aufweist.
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