DE1009312B - Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Koerper - Google Patents

Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Koerper

Info

Publication number
DE1009312B
DE1009312B DEN11516A DEN0011516A DE1009312B DE 1009312 B DE1009312 B DE 1009312B DE N11516 A DEN11516 A DE N11516A DE N0011516 A DEN0011516 A DE N0011516A DE 1009312 B DE1009312 B DE 1009312B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
tellurium
cadmium telluride
semiconducting body
producing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEN11516A
Other languages
English (en)
Inventor
Dirk De Nobel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE1009312B publication Critical patent/DE1009312B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/34Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies not provided for in groups H01L21/0405, H01L21/0445, H01L21/06, H01L21/16 and H01L21/18 with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/44Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/38 - H01L21/428
    • H01L21/441Deposition of conductive or insulating materials for electrodes
    • H01L21/445Deposition of conductive or insulating materials for electrodes from a liquid, e.g. electrolytic deposition
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/34Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies not provided for in groups H01L21/0405, H01L21/0445, H01L21/06, H01L21/16 and H01L21/18 with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/46Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428
    • H01L21/461Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/465Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
deutsches mmm< Patentamt
kl. 21g 11/02
INTERNAT. KL. H 01 1
AUSLEGESCHRIFT 1009 312
N 11516 VIII c/21g ANMELDE TA G: 3 0. NOVEMBER 19 5 5
BEKANNTMACHUNG
DER ANMELDUNG
UND AUSGABE DER
AÜSLEGESCHRIFT: 29. MAI 1957
Die Erfindung bezieht sich auf die Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Körper.
Tellurschichten auf Cadmiumtellurid, wenn dieses p-leitfähig ist, ergeben einen ohmschen Kontakt, während sie bei n-leitfähigem Material eine gleichrichtende oder eine photoempfindliche Wirkung haben.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß auf Cadmiumtellurid auf einfache Weise dadurch eine Tellurschicht hergestellt werden kann, daß das Cadmiumtellurid oberflächlich durch nasse Oxydation in Tellur umgewandelt wird.
Gemäß der Erfindung wird der halbleitende Körper dazu mit einer oxydierenden Lösung derart behandelt, daß eine oberflächliche Umwandlung in Tellur unter Vermeidung von Telluroxydbildung stattfindet. Ist die Behandlungslösung zu schwach oxydierend, so erfolgt keine Reaktion. Bei einer zu starken oxydierenden Wirkung wird das Cadmiumtellurid teilweise in Telluroxyd umgewandelt,-wobei Cadmium gelöst wird. In den dazwischenliegenden Oxydationsverhältnissen wird auf dem Cadmiumtellurid eine Tellurschicht gebildet.
Die Oxydationsverhältnisse können nicht nur durch die Wahl des oxydierenden Stoffes, sondern auch durch die Konzentration der Lösung dieses Stoffes, die Temperatur der Lösung und die Behandlungszeit des Halbleiters beeinflußt werden. In einem stark sauren Milieu verläuft die Reaktion bei niedrigerer Temperatur, und die Bildung von Telluroxyd ist weniger Verfahren zur Herstellung
einer Tellurschicht auf einem aus
Cadmiumtellurid bestehenden,
halbleitenden Körper
Anmelder:
N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (Niederlande)
Vertreter: Dr. rer. nat. P. Roßbach, Patentanwalt, Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Beanspruchte Priorität: Niederlande vom 4. Dezember 1954
Dirk de Nobel, Eindhoven (Niederlande), ist als Erfinder genannt worden
hinderlich. Die zur Oxydation geeigneten Verhältnisse können einfach an Hand einiger Versuche festgestellt werden, wie dies in der nachfolgenden Tabelle angegeben ist.
Tabelle
Oxydationsmittel Konzentration
in °/o
Temperatur
in 0C
Zeit in Minuten Konzentration
H Cl in °/o
Resultat
L 0,05 η 40 keine Reaktion
J2 0,05 η 70 3 Te-Schicht
0,1η 70 3 Te-Schicht + Oxyd
0,05 η 20 3 20,2 Te-Schicht
0,15 η 20 3 20,2 Te-Schicht
FeCl, 0,3 70 5 Te-Schicht
2 40 keine Reaktion
2 70 3 Te-Schicht mit Oxyd
flecken
12,5 20 einige haftender schwarzer
Sekunden Niederschlag mit
freiem Te
1 20 10 20,2 Te-Schicht
1 20 20 10,1 Te-Schicht
1 20 5,05 keine Reaktion
1 40 10 5,05 Te-Schicht
1 20 2,02 keine Reaktion
1 60 10 2,02 Te + Oxydflecken
709 546/355
3 Oxydationsmittel Konzentration
in°/o
Temperatur
Jn0C
Zeit in Minuten 4 Resultat
H2O2 1
3
0,5
0,5
0,5
0,5
22
22
12
6
3
3
1
20
20
20
20
30
40 bis 50
20
40
30 bis 50
20
20
40
30 bis 40
3
10
10
3
3
3
3
3
3
3
3
1
Konzentration
H Cl in »/o
Te-Schicht
schwarzer Nieder
schlag
Te-Schicht etwas Oxyd
Te-Schicht etwas Oxyd
Te-Schicht
Te-Schicht + Oxyd
flecken
Te-Schicht
Te-Schicht + Oxyd
Te-Schicht
Te-Schicht
keine Reaktion
Te-Schicht
Te-Schicht
HNO0 20,2
20,2
20,2
10,1
10,1
8
20,2
20,2
20,2
20
Ce(SOJ2
Zur Ansäuerung der Lösungen wird vorzugsweise HCl gewählt, da Säuren wie H2SO4, HNO3 und H Cl O4 bereits eine oxydierende Wirkung haben und Säuren wie HF, HBr und HJ weniger gut zu verarbeiten sind.
Beispiel 1 a5
Eine Platte aus p-leitfähigem CdTe wird z. B. mit einer Lösung von 0,3% FeCl3 während 5 Minuten bei einer Temperatur von 70° C behandelt. Die oberflächlich entstandene Tellurschicht bildet mit dem CdTe einen ohmschen Kontakt.
Beispiel 2
Eine n-leitfähige CdTe-Kristallplatte mit etwa 3,1017 Ladungsträgern pro cm3 wird durch Behandlung bei 40° C mit einer Lösung von 20,2% HCl und 3% HNO3 mit einer Tellurschicht versehen. Die Tellurschicht wird auf einer Seite z. B. durch Abscheuern entfernt. Auf dieser Seite wird ein ohmscher Kontakt durch Aufschmelzen von Indium bei 500° in einem Gemisch aus Stickstoff und 10% Wasserstoff angebracht. Der durch die Tellurschicht erhaltene Gleichrichter hat eine Strom-Spannungs-Kennlinie nach Fig. 1.
Bei Belichtung mit etwa 2700 Lux mittels einer Wolframbandlampe (Farbtemperatur 2800° K) ergibt die Tellurschicht eine Photo-EMK und/oder einen Photostrom. Der Kurzschlußstrom beträgt 150 μΑ, und die Spannung bei einem unendlichen Außenwiderstand beträgt 500 mV.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, in der der Verlauf der Photo-EMK über der Wellenlänge aufgetragen ist, liegt die maximale Empfindlichkeit bei einer Wellenlänge von 8250 A.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH:
    Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Körper, dadurch gekennzeichnet, daß der halbleitende Körper mit einer oxydierenden Lösung derart behandelt wird, daß eine oberflächliche Umwandlung in Tellur unter Vermeidung von Telluroxydbildung stattfindet.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
    © 709 5W355 5.57
DEN11516A 1954-12-04 1955-11-30 Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Koerper Pending DE1009312B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL339991X 1954-12-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1009312B true DE1009312B (de) 1957-05-29

Family

ID=19784661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEN11516A Pending DE1009312B (de) 1954-12-04 1955-11-30 Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Koerper

Country Status (6)

Country Link
BE (1) BE543308A (de)
CH (1) CH339991A (de)
DE (1) DE1009312B (de)
FR (1) FR1139450A (de)
GB (1) GB787935A (de)
NL (2) NL192946A (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9231134B2 (en) 2012-08-31 2016-01-05 First Solar, Inc. Photovoltaic devices
US9276157B2 (en) 2012-08-31 2016-03-01 First Solar, Inc. Methods of treating a semiconductor layer

Also Published As

Publication number Publication date
BE543308A (de)
FR1139450A (fr) 1957-07-01
CH339991A (de) 1959-07-31
GB787935A (en) 1957-12-18
NL192946A (de)
NL88297C (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AT247482B (de) Kondensator und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2259829C3 (de) Verfahren zur anodischen Bildung einer Oxidschicht auf mindestens 5% Gallium enthaltenden Verbindungshalbleitern, insbesondere GaP1GaAs, AlGaP, InGaP und InGaAs in einem wässrigen Elektrolyten
DE1146982B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiterzonen mit genauer Dicke zwischen flaechenhaften PN-UEbergaengen in einkristallinen Halbleiterkoerpern von Halbleiterbauelementen,insbesondere von Dreizonentransistoren
DE3108335A1 (de) &#34;verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung und durch dieses verfahren hergestellte halbleiteranordnung&#34;
DE1087704B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit wenigstens einem p-n-UEbergang
DE1489240B1 (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen
DE1009312B (de) Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Koerper
DE1614995B1 (de) Verfahren zum Herstellen von Aluminiumkontakten an planaren Halbleiteranordnungen
DE2649738C2 (de) Halbleiterbauelement
DE1277827B (de) Verfahren zur Herstellung von dotierten Halbleiterkoerpern
DE1002472B (de) Verfahren zum Anloeten von Elektroden an einen Halbleiter
DE1126513B (de) Verfahren zur Bearbeitung von Halbleiteranordnungen
DE669992C (de) Zahnradhobelmaschine mit einer Vorrichtung zum Abheben und Wiederanstellen des Werkzeugs an dessen Hubenden
DE2734072A1 (de) Verfahren zur herstellung von schottky-dioden mit gold-silicium- sperrschicht
DE69304130T2 (de) Verfahren zur Abscheidung eines ohmischen Kontaktes auf einer ZnSe-Schicht
DE1166394B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit Kadmiumchalkogenid-Halbleitern, insbesondere Photozellen
DE2646405A1 (de) Sperrschicht-feldeffekt-element
DE910193C (de) Verfahren zur Herstellung eines gleichrichtenden, insbesondere lichtempfindlichen Halbleiterelements
AT232549B (de) Tunneldiode
DE1105069B (de) AEtzverfahren eines pn-UEberganges bei der Herstellung einer Halbleiteranordnung
AT233059B (de) Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE2230150A1 (de) Verfahren zum herstellen eines halbleiterbauelementes
DE1177253B (de) Unsymmetrisch leitende Halbleiteranordnung aus einer Aluminiumoxydschicht und zwei Halbleiter-schichten
DE1614995C (de) Verfahren zum Herstellen von Aluminiumkontakten an planaren Halbleiteranordnungen
DE1621044C3 (de) Bad zur anodischen Oxidation von Galliumarsenid