DE1009312B - Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Koerper - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden KoerperInfo
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Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
deutsches mmm<
Patentamt
kl. 21g 11/02
INTERNAT. KL. H 01 1
N 11516 VIII c/21g ANMELDE TA G: 3 0. NOVEMBER 19 5 5
BEKANNTMACHUNG
DER ANMELDUNG
UND AUSGABE DER
AÜSLEGESCHRIFT: 29. MAI 1957
DER ANMELDUNG
UND AUSGABE DER
AÜSLEGESCHRIFT: 29. MAI 1957
Die Erfindung bezieht sich auf die Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid
bestehenden, halbleitenden Körper.
Tellurschichten auf Cadmiumtellurid, wenn dieses p-leitfähig ist, ergeben einen ohmschen Kontakt, während
sie bei n-leitfähigem Material eine gleichrichtende oder eine photoempfindliche Wirkung haben.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß auf Cadmiumtellurid auf einfache Weise dadurch eine
Tellurschicht hergestellt werden kann, daß das Cadmiumtellurid oberflächlich durch nasse Oxydation in
Tellur umgewandelt wird.
Gemäß der Erfindung wird der halbleitende Körper dazu mit einer oxydierenden Lösung derart behandelt,
daß eine oberflächliche Umwandlung in Tellur unter Vermeidung von Telluroxydbildung stattfindet. Ist
die Behandlungslösung zu schwach oxydierend, so erfolgt keine Reaktion. Bei einer zu starken oxydierenden
Wirkung wird das Cadmiumtellurid teilweise in Telluroxyd umgewandelt,-wobei Cadmium gelöst wird.
In den dazwischenliegenden Oxydationsverhältnissen wird auf dem Cadmiumtellurid eine Tellurschicht
gebildet.
Die Oxydationsverhältnisse können nicht nur durch die Wahl des oxydierenden Stoffes, sondern auch
durch die Konzentration der Lösung dieses Stoffes, die Temperatur der Lösung und die Behandlungszeit
des Halbleiters beeinflußt werden. In einem stark sauren Milieu verläuft die Reaktion bei niedrigerer Temperatur,
und die Bildung von Telluroxyd ist weniger Verfahren zur Herstellung
einer Tellurschicht auf einem aus
Cadmiumtellurid bestehenden,
halbleitenden Körper
Anmelder:
N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken,
Eindhoven (Niederlande)
Vertreter: Dr. rer. nat. P. Roßbach, Patentanwalt, Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Beanspruchte Priorität: Niederlande vom 4. Dezember 1954
Dirk de Nobel, Eindhoven (Niederlande), ist als Erfinder genannt worden
hinderlich. Die zur Oxydation geeigneten Verhältnisse können einfach an Hand einiger Versuche festgestellt
werden, wie dies in der nachfolgenden Tabelle angegeben ist.
Oxydationsmittel | Konzentration in °/o |
Temperatur in 0C |
Zeit in Minuten | Konzentration H Cl in °/o |
Resultat |
L | 0,05 η | 40 | keine Reaktion | ||
J2 | 0,05 η | 70 | 3 | Te-Schicht | |
0,1η | 70 | 3 | Te-Schicht + Oxyd | ||
0,05 η | 20 | 3 | 20,2 | Te-Schicht | |
0,15 η | 20 | 3 | 20,2 | Te-Schicht | |
FeCl, | 0,3 | 70 | 5 | Te-Schicht | |
2 | 40 | keine Reaktion | |||
2 | 70 | 3 | Te-Schicht mit Oxyd | ||
flecken | |||||
12,5 | 20 | einige | haftender schwarzer | ||
Sekunden | Niederschlag mit | ||||
freiem Te | |||||
1 | 20 | 10 | 20,2 | Te-Schicht | |
1 | 20 | 20 | 10,1 | Te-Schicht | |
1 | 20 | 5,05 | keine Reaktion | ||
1 | 40 | 10 | 5,05 | Te-Schicht | |
1 | 20 | 2,02 | keine Reaktion | ||
1 | 60 | 10 | 2,02 | Te + Oxydflecken |
709 546/355
3 | Oxydationsmittel | Konzentration in°/o |
Temperatur Jn0C |
Zeit in Minuten | 4 | Resultat |
H2O2 | 1 3 0,5 0,5 0,5 0,5 22 22 12 6 3 3 1 |
20 20 20 20 30 40 bis 50 20 40 30 bis 50 20 20 40 30 bis 40 |
3 10 10 3 3 3 3 3 3 3 3 1 |
Konzentration H Cl in »/o |
Te-Schicht schwarzer Nieder schlag Te-Schicht etwas Oxyd Te-Schicht etwas Oxyd Te-Schicht Te-Schicht + Oxyd flecken Te-Schicht Te-Schicht + Oxyd Te-Schicht Te-Schicht keine Reaktion Te-Schicht Te-Schicht |
|
HNO0 | 20,2 20,2 20,2 10,1 10,1 8 20,2 20,2 20,2 20 |
|||||
Ce(SOJ2 | ||||||
Zur Ansäuerung der Lösungen wird vorzugsweise HCl gewählt, da Säuren wie H2SO4, HNO3 und
H Cl O4 bereits eine oxydierende Wirkung haben und Säuren wie HF, HBr und HJ weniger gut zu verarbeiten
sind.
Beispiel 1 a5
Eine Platte aus p-leitfähigem CdTe wird z. B. mit einer Lösung von 0,3% FeCl3 während 5 Minuten bei
einer Temperatur von 70° C behandelt. Die oberflächlich entstandene Tellurschicht bildet mit dem CdTe
einen ohmschen Kontakt.
Eine n-leitfähige CdTe-Kristallplatte mit etwa
3,1017 Ladungsträgern pro cm3 wird durch Behandlung bei 40° C mit einer Lösung von 20,2% HCl und
3% HNO3 mit einer Tellurschicht versehen. Die
Tellurschicht wird auf einer Seite z. B. durch Abscheuern entfernt. Auf dieser Seite wird ein ohmscher
Kontakt durch Aufschmelzen von Indium bei 500° in einem Gemisch aus Stickstoff und 10% Wasserstoff
angebracht. Der durch die Tellurschicht erhaltene Gleichrichter hat eine Strom-Spannungs-Kennlinie
nach Fig. 1.
Bei Belichtung mit etwa 2700 Lux mittels einer Wolframbandlampe (Farbtemperatur 2800° K) ergibt
die Tellurschicht eine Photo-EMK und/oder einen Photostrom. Der Kurzschlußstrom beträgt 150 μΑ,
und die Spannung bei einem unendlichen Außenwiderstand beträgt 500 mV.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, in der der Verlauf der Photo-EMK über der Wellenlänge aufgetragen
ist, liegt die maximale Empfindlichkeit bei einer Wellenlänge von 8250 A.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH:Verfahren zur Herstellung einer Tellurschicht auf einem aus Cadmiumtellurid bestehenden, halbleitenden Körper, dadurch gekennzeichnet, daß der halbleitende Körper mit einer oxydierenden Lösung derart behandelt wird, daß eine oberflächliche Umwandlung in Tellur unter Vermeidung von Telluroxydbildung stattfindet.Hierzu 1 Blatt Zeichnungen© 709 5W355 5.57
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