DE10064859A1 - Sensor mit Hilfssensor zur Selbstkalibrierung - Google Patents
Sensor mit Hilfssensor zur SelbstkalibrierungInfo
- Publication number
- DE10064859A1 DE10064859A1 DE2000164859 DE10064859A DE10064859A1 DE 10064859 A1 DE10064859 A1 DE 10064859A1 DE 2000164859 DE2000164859 DE 2000164859 DE 10064859 A DE10064859 A DE 10064859A DE 10064859 A1 DE10064859 A1 DE 10064859A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- sensor
- temperature
- offset
- calibration
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/036—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
- G01D3/0365—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves the undesired influence being measured using a separate sensor, which produces an influence related signal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
- G01D3/022—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Technology Law (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft in erster Linie ein selbstkalibrierendes Meßsystem mit
einem Sensor und einer im Ausgangskreis des Sensors liegenden
Kalibrierungsschaltung (Oberbegriff des Patentanspruchs 1).
Auf nahezu sämtlichen technischen Gebieten werden Sensoren eingesetzt, welche
physikalische Meßgrößen erfassen sollen, wie z. B. den Druck, die Temperatur,
Geschwindigkeit, Wegstrecke etc. Die Darstellung und/oder automatische
Verarbeitung derartiger von Sensoren erfaßter Meßgrößen erfolgt üblicherweise
auf elektrischer bzw. elektromagnetischer und elektronischer Basis. Die immer
höheren Ansprüche an die Genauigkeit von Meßsystemen für die verschiedensten
Meßgrößen machen in der Praxis in zunehmendem Maße eine ständige Kontrolle
der Kalibrierung dieser Geräte notwendig. In vielen Fällen hängt das elektrische
Signal, welches von dem betreffenden Sensor bzw. Wandler erzeugt wird, nicht
linear mit der interessierenden physikalischen Meßgröße zusammen. Die
Meßkurve, welche von Kalibrierungspunkten definiert wird, weist im allgemeinen
einen gekrümmten Verlauf auf und verläuft nicht durch den Ursprung des
Koordinatensystems. Zwar gibt es Anwendungsfälle, in welchen die Linearität
oder Nichtlinearität des Zusammenhanges zwischen Meßgröße und elektrischem
Signal ohne Belang ist, solange der Zusammenhang nur eindeutig ist. Aufgrund
unvermeidlicher Toleranzen bei der Herstellung der Sensoren selbst und auch bei
der Realisierung von Linearisierungsschaltungen ist es jedoch notwendig, im
Rahmen einer Kalibrierungsmessung die einzelnen Knickpunkte für die sich
ändernde Verstärkung in Abhängigkeit von dem Eingangssignal für jede
Schaltung individuell einzustellen, um eine möglichst genaue Wiedergabe der
Meßkurve und somit eine möglichst genaue Korrektur der Nichtlinearität zu
erhalten. Demzufolge wurden die verschiedensten Varianten zur automatischen,
in kurzen Zeitabständen durchführbaren Selbstkalibrierung für viele Meßgrößen
und Anwendungsbereiche entwickelt.
Bei einfachen selbstkalibrierenden Meßsystemen wird, beim Auftreten von
unbestimmten Offsetgrößen, das Meßsystem zur Kalibrierung mit zwei
Referenzwerten der Meßgröße beaufschlagt. Dazu muß die Meßgröße
abgeschaltet werden und der durch Abschalten der Meßgröße ermittelte
Nullpunkt wird als ein Referenzwert und ein zusätzlich zur Meßgröße
aufgegebener Referenzwert zur Kalibrierung benutzt. Nur in den Fällen, in denen
damit gerechnet wird, dass keine messwertverfälschenden Offsetgrößen auftreten,
kann auf die Abschaltung des Meßwertes verzichtet werden. Dazu wird der
Meßwert mit einem meist elektrischen, thermischen oder optischen Testsignal
bekannter Größe überlagert und der Übertragungsfaktor des Meßsystems
ermittelt. Nachteilig ist, dass die durch Offsetfehler entstehenden
Messunrichtigkeiten infolge vielfältiger Umwelteinflüsse und Alterung aber bei
der Mehrzahl der bekannten Meßsysteme wesentlich größer sind, als die durch
Fehler des Übertragungsfaktors verursachten, zumal Offsetfehler bereits am
Messbereichsanfang voll wirksam werden. Daraus folgt die Notwendigkeit der
Kontrolle des Nullpunktes. In vielen Fällen ist aber die dazu unbedingt
notwendige Abschaltung und anschließende Anschaltung der Meßgröße
fehlerbehaftet, mit hohem Aufwand verbunden oder völlig unmöglich.
Aus der DE 39 43 386 A1 ist ein Verfahren zur Selbstkalibrierung von
Meßsystemen bekannt, bei dessen Anwendung die Meßgröße ständig am Eingang
des Meßsystems anliegen kann, das aber trotzdem die Ermittlung und Korrektur
messwertverfälschender driftender Offsetgrößen ermöglicht.
Hierzu wird ein Teilübertragungsfaktor definiert variiert, die zugehörigen
Meßwerte aufgenommen und diese zur sensorinternen Messwertkorrektur
benutzt. Im einzelnen ist vorgesehen, dass
- - die unbekannte Meßgröße x bei anliegender unbekannter Offsetgröße b
gemessen wird, wobei der Übertragungsfaktor k des Meßsystems auf den
Wert k1 eingestellt wurde, so daß sich der Meßwert
y1 = k1.x + b ergibt, - - die unbekannte Meßgröße x bei anliegender unbekannter Offsetgröße b
gemessen wird, wobei der Übertragungsfaktor k des Meßsystems auf
den Werk k2 eingestellt wurde, so daß sich der Meßwert
y2 = k1.x + b ergibt, - - mit bekannten Mitteln die unbekannte Meßgröße x oder der unbekannte
Offsetfehler b nach den Beziehungen
b = y1 + (y1 - y2).k1/(k2 - k1)
x = (y2 - y1)/(k2 - k1)
bestimmt wird und - - mit bekannten Mitteln die Meßgröße x ausgegeben oder die Offsetgröße b zur Korrektur des Offsetfehlers benutzt wird.
Zur Variation, d. h. zur definierten Modulation oder Umschaltung wird ein in der
Übertragungskette weit vorn liegender Teilübertragungsfaktor benutzt. Durch
diese Maßnahme und durch die Auswertung des dadurch entstehenden
modulierten bzw. zwischen zwei Zuständen umgeschalteten Ausgangssignals zur
Meßwertbestimmung wird die Wirkung aller unbestimmt driftenden
Offsetgrößen, die in der Übertragungskette hinter dem Teilübertragungsglied mit
dem variierten Übertragungsfaktor liegen, eliminiert.
Die Messung erfolgt entweder durch ständige Variation unabhängig von
Offsetdriften, oder die aktuellen Offsetgrößen werden durch zyklische Variation
bestimmt und bis zum nächsten Kalibriervorgang zur Offsetkorrektur benutzt. Die
Genauigkeit des Verfahrens hängt nur von der Genauigkeit der Änderung des,
Übertragungsfaktors ab.
In den Fällen, in denen auch die Größe der Änderung des Übertragungsfaktors
fehlerbehaftet ist, kann diese genau ermittelt werden. Dazu wird das Meßsystem
zusätzlich zur anliegenden Meßgröße und zusätzlich zur Variation des
Übertragungsfaktors mit einer Referenzmessgröße beaufschlagt. Aus dem so
entstehenden Ausgangssignal kann die Größe der Änderung des
Übertragungsfaktors und daraus die Größe des Meßwertes mit der Genauigkeit
der Referenzgröße, d. h. unabhängig von driftenden Offsetgrößen und
Übertragungsfaktoren ermittelt werden.
In der digitalen Meßtechnik werden zum Messen von Kräften, Drücken und
Schwingungen mittels piezoelektrischer Sensoren Ladungsverstärkerschaltungen
eingesetzt. Die in diesen Ladungsverstärkerschaltungen ständig neu auftretenden
Driften beeinflussen die Maßergebnisse, wodurch wiederholte Eichvorgänge bzw.
Driftkompensationen der einzelnen Elemente der Meßschaltung notwendig sind.
Aus der DE 43 10 384 A1 ist ein Verfahren zur Driftkompensation beim Messen
von Kräften, Drücken und Schwingungen mittels eines piezoelektrischen Sensors
bekannt, bei dem unmittelbar vor jedem Meßvorgang durch Einspeisen einer
definierten Ladungsmenge automatisch der augenblickliche elektrische und
thermische Zustand der Ladungsverstärkerschaltung digital erfaßt und daraus
mittels Mikroprozessor und unter Benutzung einer Referenzspannung die
Übertragungsfunktion berechnet wird. Die Übertragungsfunktion, welche im
einfachsten Fall ein Übertragungsfaktor sein kann, wird gespeichert. Nach dem
zeitlich unmittelbar darauffolgenden Meßvorgang wird das Meßergebnis
entsprechend der gespeicherten Übertragungsfunktion korrigiert. Dadurch sind
keine aufwendigen schaltungstechnischen Maßnahmen zur Eichung bzw. zur
Driftkompensation der einzelnen Elemente der Meßschaltung notwendig.
Schließlich ist aus der DE 197 07 263 A1 eine selbstkalibrierende
Sensoranordnung mit einem Sensor und mit einer im Ausgangskreis des Sensors
liegenden Kalibrierschaltung zur Einstellung von Schaltpunkten bekannt. Um bei
geringem Aufwand Schaltvorgänge in ausgewählten Punkten eines
Ausgangssignals des Sensors zuverlässig auszuführen, ist im einzelnen
vorgesehen, dass die Kalibrierschaltung einen Offset (bzw. eine Versetzung) im
Ausgangskreis derart einstellt, daß die Schaltpunkte mit Referenzwerten
zusammenfallen. Vorzugsweise dient ein Offset-D/A-Umsetzer zur Einstellung
des Offsets im Ausgangskreis, während eine Detektorschaltung aus einem
Stromteiler und einem Stromspiegel Signalspitzen des Ausgangssignals des
Sensors erfaßt und dazu dient, mittels Widerständen einen vorher bestimmten
Schaltpunkt einzustellen. Damit bleibt dieser vorher bestimmte Schaltpunkt
unabhängig von der Amplitude des Ausgangssignals und damit beispielsweise
unabhängig von der Breite des Luftspaltes konstant. Zwischen dem
Offset-D/A-Umsetzer und der Detektorschaltung liegt eine Kalibrierlogik, die von
Komparatoren angesteuert ist, denen die Ausgangssignale des Stromteilers und
des Stromspiegels einerseits und das Ausgangssignal des Sensors andererseits
zugeführt sind. Gegebenenfalls kann zu dem Ausgangskreis noch ein Parallelpfad
vorgesehen werden, der das Verhalten im unkalibrierten Zustand festlegt.
Zusätzlich kann auch daran gedacht werden, einmal ermittelte Kalibrierwerte in
einem permanenten Speicher, wie beispielsweise einem EEPROM oder einer
Fuse, abzulegen und diese Werte sodann bei einem erneuten Anlaufen der
Sensoranordnung im unkalibrierten Fall zu verwenden.
Neben den vorstehend geschilderten digitalen Lösung sind auch analoge
Linearisierungsschaltungen bereits seit langem bekannt, welche in der Regel aus
einem oder mehreren Verstärkern mit einem Eingangssignal abhängigen
Verstärkungsfaktor bestehen. Die Veränderung des Verstärkungsfaktors kann
z. B. durch Komparatoren geschehen, die das Eingangssignal mit einem
einstellbaren Grenzwert vergleichen und jeweils bei Erreichen des Grenzwertes
auf eine andere Verstärkungsstufe umschalten. Eine andere Möglichkeit besteht
in der Verwendung von Widerstands-Dioden- oder Widerstands-
Transistor-Netzwerken im Gegenkopplungszweig des Linearisierungsverstärkers.
Um eine möglichst genaue Wiedergabe der Meßkurve und somit eine möglichst
genaue Korrektur der Nichtlinearität zu erhalten, wird in der Regel das analoge
Linearisierungsnetzwerk mit einer Reihe von einstellbaren Potentiometern
bestückt, deren Einstellungswert jeweils die Lage eines bestimmten Knickpunktes
der Verstärkungskurve definieren. Um die Abgleicharbeit zu erleichtern und zu
vereinfachen wird und auch einen platzsparenderen und preiswerteren
Schaltungsaufbau zu ermöglichen ist aus der DE 44 01 525 A1 ein Verfahren
bekannt, bei dem das Ausgangssignal eines vorgegebenen analogen
Linearisierungsnetzwerkes eine weitere Korrektur erfährt, durch welche die
Krümmung des Ausgangssignales des analogen Linearisierungsnetzwerkes
verändert wird. Die entsprechende analoge Linearisierungsschaltung ist dadurch
gekennzeichnet, dass dem analogen Linearisierungsnetzwerk einer solchen
Schaltung eine Korrekturschaltung nachgeschaltet ist, welcher sowohl das
Rohsignal als auch das (vorläufige) Ausgangssignal des analogen
Linearisierungsnetzwerkes zugeführt wird und welche eine Korrekturspannung
erzeugt, die zu dem vorläufigen Ausgangssignal addiert wird oder einen
Verstärker mit einem variablen Verstärkungsfaktor steuert, der von dem
Rohsignal und/oder dem vorläufigen Ausgangssignal bzw. dem Wert der
Korrekturspannung abhängig ist. Diese nachgeschaltete Korrekturschaltung und
die erst im Anschluß an das analoge Linearisierungsnetzwerk folgende Korrektur
ermöglicht es nämlich, das Linearisierungsnetzwerk mit festen
Präzisionswiderständen zu bestücken, ohne Vorsehen irgendeines Potentiometers
zur Einstellung der Knickpunkte. Statt dessen wird anschließend nochmals die
Krümmung oder Durchbiegung der Verstärkungskurve, welche durch die auf
diese Weise festgelegten Knickpunkte und Verstärkungsstufen definiert wird,
korrigiert und verändert, so daß sie möglichst genau zu der Kalibrierungskurve
paßt. Um dieses zu erreichen, ist lediglich noch ein einziges Potentiometer
notwendig, mit welchem das Ausmaß der Krümmungsänderung eingestellt wird
und welches alle Potentiometer in dem bisher bekannten analogen
Linearisierungsnetzwerk ersetzt.
Schließlich ist aus der DE 34 29 854 A1 eine Gleichspannungs-Messeinrichtung
bekannt, welche mit einem sogenannten Hybridbaustein ausgestattet ist. Der
Hybridbaustein gleicht Offsetspannungen innerhalb eines vorgebbaren Pegels
sehr schnell durch Nullabgleich selbsttätig aus und ermöglicht dabei eine
Kontrolle, ab wann der Pegel überschritten ist bzw. ein Nullabgleich nicht mehr
möglich ist. Hierzu ermitteln extern getriggerte (z. B. durch einen Rechner)
Nullabgleichelemente, wie ein Komparator, ein sukzessives
Approximationsregister und ein D/A-Wandler, vor jedem Start einer Messung
einen eventuellen Offset des Gebers, halten ihn digital gespeichert und überlagern
ihn mittels eines analogen Rechenbausteins (Subtrahierer bzw Addierer) nach
Rückwandlung in ein analoges Signal während der eigentlichen Messung dem
Meßwert des Gebers ständig in gleicher Höhe.
Wie die vorstehende Würdigung des Standes der Technik aufzeigt, ist die
aufwandsgünstige und genaue Bestimmung verschiedenster Meßgrößen ohne eine
ständige Kontrolle der Kalibrierung dieser Geräte nur sehr eingeschränkt möglich.
Hinzukommt, dass Sensoren in Abhängigkeit der Prozeßparameter stark streuen,
so dass die Ausbeute bei der Chipherstellung nur knappe 90% beträgt und mit
entsprechend hohen Testkosten verbunden ist.
Der Erfindung liegt gegenüber den bekannten Meßsystem die Aufgabe zugrunde,
ein selbstkalibrierendes Meßsystem derart auszugestalten, dass einerseits die
Herstellkosten, insbesondere die Testkosten, reduziert werden können, anderseits
bei gleichbleibender Meßgenauigkeit die Ausbeute erhöht werden kann.
Diese Aufgabe wird, ausgehend von einem selbstkalibrierenden Meßsystem,
erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass die Kalibrierungsschaltung als Hilfssensor
mit Eingangs- und Ausgangsstufen, mit einem Rechenwerk und einem mit diesem
verbundenen Parameterspeicher ausgestaltet und zusammen mit dem Sensor in
einem Chip integriert ist, dass bei der Erst-Inbetriebnahme des Meßsystems
mittels Rechenwerk und Zentralrechner, welcher über mindestens eine Busleitung
mit dem Rechenwerk in Verbindung steht, während eines Kalibriervorgangs
Kalibrierungspunkte des temperaturabhängigen Kennlinienfelds aufgenommen
und nur einige kennliniencharakteristische Kalibrierungspunkte in dem
Parameterspeicher des Hilfssensors abgespeichert werden und dass beim erneuten
Anlegen der Versorgungsspannung an den Chip, der Parameterspeicher
ausgelesen und Offset, Nichtlinearitäten und Temperaturgang des Sensors sowie
Nichtlinearitäten der Eingangs- und Ausgangsstufen kompensiert werden,
wodurch die Kalibrierung des Meßsystems durch Benutzung der Steuer- und
Meßfunktionen des Hilfssensors erfolgt.
Das erfindungsgemäße Meßsystem weist den Vorteil auf, dass auf überraschend
einfache Art und Weise die Kalibrierung des Meßsystems durch Benutzung der
Steuer- und Meßfunktionen des Hilfssensors erfolgt. Hierdurch können einerseits
die Herstellkosten, insbesondere die Testkosten, reduziert werden, anderseits
kann bei gleichbleibender Meßgenauigkeit die Ausbeute erhöht werden.
Weiterhin ist von Vorteil, dass die Steuer- und Meßfunktionen des Hilfssensors in
einer komplexen Schaltung auch, für die Temperaturkompensation deren
Schaltungskomponenten mitgenutzt werden können. Die Kalibrierung des
Systems erfolgt nach abgeschlossener Montage und Häusung von Sensor und
Hilfssensor, wobei nur die auch später in der Anwendung benötigten Anschlüsse
erforderlich sind. Eine nachträgliche Änderung in der Beschaltung oder Justage
ist nicht erforderlich, da im Parameterspeicher alle benötigten Systemparameter
gespeichert sind und die Programmierung durch den vom Rechenwerk
gesteuerten erfindungsgemäßen Programmierzyklus erfolgt.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung vergrößert, gemäß
Patentanspruch 2, das Rechenwerk durch Interpolation die Anzahl der
Kalibrierungspunkte im Kennlinienfeld, ermittelt die Koeffizienten zur
Polynomberechnung, überprüft die ermittelten Koeffizienten durch
Stichprobenmessung und führt eine Skalierung der analogen Ausgangswerte
durch.
Diese Ausgestaltung der Erfindung gemäß Patentanspruch 2 weist den Vorteil
auf, dass ohne externen Speicher bzw. geringer externer Beschaltung ein breites
Spektrum von beispielsweise piezoresistiven Sensoren kalibriert werden kann
und dass durch die erfindungsgemäße Ausgestaltung das einfache Rechenwerk
für die Berechnung der kalibrierten Messwerte ausreichend ist. Wie
umfangreiche Untersuchungen ergeben haben, ist es trotz der großen Anzahl an
echten Stützstellen zur Polynomberechnung vorteilhaft, bei Verwendung aller
Koeffizienten deren Anzahl zu vergrößern, um bessere Resultate zu erzielen.
Erfindungsgemäß werden zwischen benachbarten Stützwerten durch das
arithmetische Mittel zusätzliche Werte eingefügt, was zu einer Glättung der
Approximationsfunktion führt. An den Rändern des Kennlinienfeldes wird
vorzugsweise auf der Basis der Steigung zum nächsten Nachbarwert linear
extrapoliert. Dadurch gelingt es, das Ausbrechen des Approximationspolynoms
weiter außerhalb des typischen Stützstellenbereichs der Sensoren zu verlagern,
wodurch die Empfindlichkeitsänderung und Nichtlinearität weitgehend eliminiert
wird. Innerhalb des Stützstellenbereichs wird dadurch eine betragsmäßig
maximale Abweichung von 0,11% erzielt und erst ein Überschreiten des
Arbeitsbereichs um mehr als 10% lässt den Fehler auf 0,6% anwachsen.
In Weiterbildung der Erfindung wird, gemäß Patentanspruch 3, als
Parameterspeicher ein Zener-PROM benutzt, wobei die analogen Parameter am
Anfang der Registerkette gespeichert sind und die Multiplexer, welche den
Koeffizienten auswählen, im Layoutbereich des Zener-FROM mit untergebracht
sind.
Diese Weiterbildung der Erfindung weist den Vorteil auf, dass zur
Programmierung des Parameterspeichers lediglich ein zusätzliches Anschlußpad
benötigt wird und das die Ausgestaltung als Zener-PROM Speicher einerseits
einen geringem Aufwand erfordert, andererseits die freie Skalierbarkeit und feste
Programmierung erlaubt.
Vorzugsweise weist, gemäß Patentanspruch 4, der Chip eine Sensorbrücke oder
einen neben oder auf dem Sensor angebrachten Temperatursensor auf und die
Temperaturabhängigkeit der Brückenspannung oder die Spannung über dem
Temperatursensor bei Bezugstemperatur wird zur Erfassung der Störgröße
Temperatur als Temperatursignal genutzt, wodurch die Störgröße mit der
gleichen Genauigkeit wie die Messgröße erfasst wird.
Durch die Anordnung sowie durch die ausgezeichnete Wärmleitfähigkeit der
Keramik sind beide Systeme bezüglich der gemeinsamen Störgröße Temperatur
stark gekoppelt, so dass kein individueller unabhängiger Temperatureinfluss
vorliegt. Für die Kalibrierung im P-Kanal (dient zur Aufbereitung der Messgröße
für die Digitalisierung) wird der Brückenstrom so gewählt, dass bei
Bezugstemperatur eine Spannung von ca. 2.4 V über der Sensorbrücke anliegt.
Für die Korrektur des Sensoroffsets muss ein Bezugswert gewonnen werden, der
einer Eingangsspannung von 0 mV entspricht. Um positive und negative Offsets
gleichzeitig erfassen zu können, verschiebt man den Nullpunkt des
Differenzeingangskanals um 50% in die. Mitte des Eingangsbereichs des AD-
Umsetzers. Man kann für eine bessere Auflösung eine große Verstärkung wählen,
muss dabei aber kontrollieren, dass der Bezugswert nicht im Grenzbereich oder
gar außerhalb des ADC-Eingangsbereiches landet. Hat man aufgrund der
Operationsverstärkeroffsets den Bezugswert aufgenommen, wird bei gleicher.
Einstellung der Wert für die Nullpunktspannung des Sensors ermittelt. Aus der
Differenz der aufgenommenen Werte, ermittelt man die Offsetspannung am
Eingang. Mit der Brückenspannung kann dann direkt der Korrekturwert für
Sensoroffset ermittelt werden, den man durch eine Kontrollmessung noch einmal
bestätigt. Da die Verbindung von Sensor und ASIC direkt, also ohne
Zwischenbondung, hergestellt wird und die Polarität der Brückenausgänge des
anzuschaltenden Sensorchips variieren kann, benötigt man eine wechselnde
Polarität der Differenzeingänge des Hilfssensors. Die Sensorbrücke wird mit
einem konstanten Strom gespeist, so dass, sich der Nullpunktoffset dabei
proportional zur Brückenspannung verhält. Um das Sensorsignal weitestgehend
von diesem Offset zu befreien ist erfindungsgemäß eine
brückenspannungsabhängige Offsetkompensation vorgesehen. Es sind
Signalspannen von 10 mV bis 200 mV am Brückenausgang zu erwarten, so dass
die Verstärkung in einem großen Bereich einstellbar ist. Da die Sensorsignale
durchaus einen Nulldurchgang aufweisen, ist eine Nullpunktverschiebung
vorgesehen, die es gestattet, den gesamten Signalbereich auf den Eingang des
AD-Umsetzers zu verschieben. Durch die große Verstärkung innerhalb des P-
Kanals wird eine Korrektur des Offsets der Operationsverstärker erforderlich. Für
die Kalibrierung im T-Kanal wird zunächst der Offsetstrom und dann die
Spannung am Temperatursensor bestimmt. Um den Offset des Temperaturkanals
bei der Verwendung als Spannungsmesser auszuschalten, wird das
Referenzsignal zum Abgleich des P-Kanals benötigt. Neben dem Digitalwert des
Temperatursignals bestimmt man auch den Wert der Referenz mit dem internen
AD-Umsetzer. Bildet man die Differenz der AD-Werte, blendet man den
Offsetanteil aus, da dieser in beiden gleich enthalten ist. Wird die Differenz mit
dem Quantisierungsschritt am Kanaleingang gewichtet und wird der Wert der
Referenzspannung addiert, erhält man die Spannung am Kanaleingang. Bei
Spannungsmessungen ist darauf zu achten, dass die Werte für den
Verstärkungsfaktor und die Offsetverschiebung für P-Kanal bzw. T-Kanal
dieselben sind. Wird ein Parameter verändert, muss die Referenz bzw. der bei
einer Differenzbildung beteiligte zweite Wert neu aufgenommen werden. Nach
der Bestimmung der Spannung am Temperatursensor erfolgt die Bestimmung der
Sensorströme. Der Absolutwert der Stromreferenz lässt sich nicht ermitteln und
die Widerstandswerte der Sensoren im Gesamtsystem sind meist unbekannt. Für
die Einstellung des Brückenstromes zur Justage der Brückenspannung oder der
Spannung über dem Temperatursensor bei Bezugstemperatur reicht die Kenntnis
der Spannungsstufung, die aus Sensorstromquantisierung und Sensorwiderstand
resultiert, aus. Da der Temperaturkanal als Spannungsmesser verwendet werden
kann, muss lediglich mit zwei verschiedenen Strömen die Spannung gemessen
werden, um zur gewünschten Sensorspannung den Parameter der Stromquelle zu
erhalten. Ein möglicher Offset im Temperaturkanal spielte bei bisherigen
Betrachtungen keine Rolle, da er durch die Differenzbildung ausgeblendet wird.
Die Offsetverschiebung gestattet jedoch eine Feinjustage, um die grobe
Quantisierung der Sensorströme auszugleichen und den Temperaturkanalausgang
optimal an den AD-Umsetzereingangsbereich anzupassen. Dadurch wird auch
verhindert, auf eine kleinere Verstärkung wechseln zu müssen, da eine
Bereichsüberschreitung im Grenztemperaturbereich auftreten könnte.
In Weiterbildung der Erfindung ist, gemäß Patentanspruch 5, zur Speisung von
Sensor und Hilfssensor mindestens ein programmierbarer Stromspiegel
vorgesehen, welcher einen temperaturstabilen Referenzstrom vervielfacht und
zur Offset- und Nullpunktverschiebung wird die gleiche Stromreferenz benutzt,
wobei die Schrittweite der Offsetverschiebung nach Maßgabe einer weiteren
Teilung durch nachgeschaltete programmierbare Stromspiegel und die
Nullpunktverschiebung mit unterschiedlichen Teilerverhältnissen erfolgt.
Diese Weiterbildung der Erfindung weist den Vorteil auf, dass auf einfache Art
und Weise durch die Verwendung eines programmierbaren Stromspiegels,
welcher einen temperaturstabilen Referenzstrom vervielfacht, eine hochpräzise
Stromquelle zur Sensorspeisung realisiert wird. Da es nicht möglich ist, einen
externen temperaturunabhängigen Widerstand für die Referenzstromerzeugung zu
verwenden, und die integrierbaren Polywiderstände einen großen
Temperaturkoeffizienten aufweisen, wird erfindungsgemäß eine
Referenzspannung erzeugt, deren Temperaturkoeffizient dem des zur
Strommessung verwendeten Widerstands entspricht. Weiterhin ist von Vorteil,
dass der Temperaturkoeffizient der Polywiderstände, welcher während des
Herstellungsprozesses nicht überwacht wird, die Funktionalität der Schaltung
nicht beeinflusst. Aus dem Referenzstrom werden über einen kaskadierten
Stromspiegel, die Sensorströme abgeleitet. Aufgrund der technologischen
Streuungen der integrierten Widerstände von bis zu 30%, unterliegt der
Referenzstrom ebenfalls derselben Streuung. Zum Ausgleich wurde bereits auf
der Strommessseite des Stromspiegels eine Programmiermöglichkeit vorgesehen.
Der Referenzstrom teilt sich in Abhängigkeit des Parameters "Justage der
Stromreferenz" auf drei bis sechs Einzelströme durch identische, aus zwei
kaskadierten MOS-Transistoren bestehende Strompfade auf der Strommessseite
des Stromspiegels auf. Der durch die Strompfade fließende Strom stellt an den
diode-connected geschalteten MOS-Transistoren bestimmte Biasspannungen ein.
Mit den Biasspannungen werden die Gates der anderen Strompfade gesteuert, die
den Strom daraufhin spiegeln. Um durch eine Erhöhung des Innenwiderstandes
der Stromquelle das PSRR-Verhalten zu verbessern, ist erfindungsgemäß eine
kaskadierte Ausführung der Stromquelle vorgesehen. In der Kaskadierung liegt
gleichzeitig die Ursache für die Beschränkung der Spannung über den Sensoren.
Nur wenn beide Transistoren eines Strompfades in Sättigung arbeiten, ist die
Stabilität des Sensorstromes gesichert.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung erfolgt, gemäß
Patentanspruch 6, während der Kalibrierung die Steuerung des Meßsystems über
eine serielle Schnittstelle mit IIC-Protokoll, wobei der Hilfssensor als Slave
arbeitet.
Diese Ausgestaltung der Erfindung weist den Vorteil auf, dass die während der
Kalibrierung zur Steuerung des Systems benötigte digitale Schnittstelle wenige
Leitungen erfordert und dass diese ohne großen Aufwand zu implementieren ist.
Für die Kommunikation mit dem Hilfssensor ist auf der Basis der seriellen
Schnittstelle mit IIC-Bus-Protokoll (von Fa. N. V. Philips entwickelt) ein eigenes
Protokoll- und Datenformat aufgestellt worden, das den Anforderungen beim
Datenaustausch während der Kalibrierungsphase und dem normalem Messbetrieb
gerecht wird. Es sind Befehle, der Parametersatz und Messdaten zu übertragen,
Parameter direkt zu setzen und Statusabfragen durchzuführen. Soll beispielweise
der Start der Kommunikation mit IIC-Read-Befehl erfolgen, so enthält das
interne Register DATA-Code den Code des zu sendenden Datums. Der ASIC
beginnt nach der Eröffnung der Kommunikation mittels IIC-Read-Befehl durch
den Master zu senden. Sind die Datenbytes übertragen und wird die
Kommunikation nicht beendet, so wird das Datum aktualisiert und sofort neu
gesendet. Damit ist ein Polling von Messwerten möglich. Da für bestimmte
Anwendungen nicht nur der Druckwert, sondern auch der Temperaturwert
benötigt wird, wurde ein sogenannter Multimode realisiert. Dieser sendet beide
Datums im Wechsel. Am Ende eines Datums wird der DATA-Code auf das
andere umgeschaltet. Wird die Kommunikation dabei beendet, so wird bei
erneuter Aufnahme mit dem anderen Wert fortgefahren.
In Weiterbildung der Erfindung ist, nach Patentanspruch 7, eine
Versorgungsspannungsüberwachung mit Einschaltverzögerung und mit
justierbarer temperaturunabhängiger Spannungsreferenz vorgesehen, wodurch ein
sicheres Auslesen des Zener-PROM über den gesamten Temperaturbereich und
die richtige Funktion der Stromquellen zur Speisung von Sensor und Hilfssensor
gewährleistet ist.
Die erfindungsgemäße Versorgungsspannungsüberwachung, welche aus
verschiedenen Modulen aufgebaut ist, löst folgende Aufgaben: ein sicheres
Auslesen des Zener-PROM über den gesamten Temperaturbereich ist erst bei
einer Versorgungsspannung ab 4 V gewährleistet; die Stromquellen zur
Sensorspeisung erfordern für eine korrekte Funktion eine Versorgungsspannung
von mindestens 4,5 V; eine zu niedrige Versorgungsspannung lässt die
Sensorströme zusammenbrechen und würde damit die Messergebnisse
verfälschen bzw. ganz unbrauchbar machen; die Generierung eines RESET-
Signals zum Zurücksetzen des Digitalteils ist on-chip notwendig, da das System
kein externes Reset-Signal erhält und nach dem Zuschalten der
Versorgungsspannung sofort seine Arbeit aufnehmen soll.
Im Modul Power On Reset wird zunächst eine noch stark von den
Prozessparametern und der Temperatur abhängige Schaltschwelle von ca. 3,7 V
realisiert. Diese statische Resetschwelle ist so gewählt, dass das Starten der
Bandgap sichergestellt ist, wobei das entsprechende Power On Reset-Signal
verzögert wird. Die Bandgap liefert eine nahezu temperaturunabhängige
Spannung, die zur Definition exakter Schaltschwellen in einem Modul zur
Versorgungsspannungsüberwachung (zwei Schaltschwellen 4,4 V und 4,65 V)
benötigt wird. Da die Ausgangsspannung der Bandgapzelle
"Temperaturunabhängige Referenzspannung" durch Prozessstreuung vom
typischen Wert abweichen kann, wird eine justierbare Variante eingesetzt. Der
Parameter zum Trimmen der Bandgap wird im Parameterspeicher gespeichert.
Im Modul Power Down für Stromreferenz und Clockgenerator wird die steigende
Flanke des Power On Reset-Signal am Eingang um eine gewisse Zeit verzögert.
Diese Verzögerung wurde hauptsächlich eingesetzt, um das Resetsignal für den
Digitalteil zu verbreitern. Das Einschaltverzögerungselement schaltet das Modul
zur Versorgungsspannungsüberwachung zu und wird außerdem noch genutzt als
Resetsignal für den Digitalteil und als Power down-Signal für die Stromreferenz
und den Clockgenerator.
Das Modul zur Versorgungsspannungsüberwachung vergleicht die
Referenzspannung der Bandgap mit einer im festen Verhältnis zur analogen
Versorgungsspannung stehenden Spannung. Vorzugsweise sind zwei
Schaltschwellen vorgesehen, da erst mit der justierten Bandgap die knapp unter
der zulässigen Versorgungsspannung liegende 4,65 V Schaltschwelle realisiert
werden kann. Für das Auslesen des Parameterspeichers genügt jedoch schon eine
niedrigere Schwelle, bei der sich eine größere positive. Toleranz zur minimalen
Versorgungsspannung gibt. Für diese Schwelle kann die ungetrimmte Spannung
der Bandgap verwendet werden. Schließlich ist es möglich den Power on Reset
abzuschalten und so jederzeit das ganze System trotz anliegender
Versorgungsspannung anzuhalten; das System weist in diesem Zustand eine
Stromaufnahme von wenigen µA auf.
Schließlich sind, gemäß Patentanspruch 8, zur Ausgabe der berechneten Werte
für Temperatur und Brückensignal zwei schaltbare analoge Ausgangsstufen
vorgesehen und für Kalibrierungszwecke werden die Ausgangsstufen
abgeschaltet und an den analogen Ausgängen die temperaturunabhängige
Spannungsreferenz und der Systemtakt zur Verfügung gestellt.
Die Beschränkung der nach der Häusung von Sensor und Hilfssensor noch
zugänglichen Signale wird durch die Doppelnutzung mit den zwei analogen
Ausgangsstufen wieder ausgeglichen. Zum einen stellen erfindungsgemäß die
zwei analogen Ausgangsstufen die berechneten Werte für Temperatur und Druck
als analoge Spannungssignale bereit und zum anderen können durch ein
entsprechendes Steuersignal die Ausgangsstufen abgeschaltet und die zur
Kalibrierung benötigten Signale (die Referenzspannung und das Clocksignal zur
Frequenzbestimmung) an den Pads der analogen Ausgänge zugänglich gemacht
werden.
Weitere Vorteile und Einzelheiten lassen sich der nachfolgenden Beschreibung
von bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung unter Bezugnahme auf die
Zeichnung entnehmen. In der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 eine Aufbauskizze für Sensor und Hilfssensor im Sensorgehäuse
des erfindungsgemäßen selbstkalibrierenden Meßsystems,
Fig. 2 ein vereinfachtes Blockschaltbild des Gesamtsystems,
Fig. 3 Einzelheiten des Blockschaltbilds nach Fig. 2 mit Modulen und
Pinbelegung und
Fig. 4 den Signalverlauf bei der Spannungsüberwachung und
Systemverhalten.
In Fig. 1 ist eine Aufbauskizze für Sensor S und Hilfssensor HS im
Sensorgehäuse (bzw. Chip CH) des erfindungsgemäßen selbstkalibrierenden
Meßsystems dargestellt. Beim erfindungsgemäßen System sind vorzugsweise der
Sensor S und Hilfssensor HS gemeinsam auf einer Keramik montiert. Dadurch
eröffnet sich die Möglichkeit, nicht nur den Offset, die Nichtlinearitäten und den
Temperaturgang des Sensors S zu kompensieren, sondern auch alle nicht-idealen
Eigenschaften der Eingangs- und Ausgangsstufen des Hilfssensors HS selbst, da
sich diese bei der Aufnahme des Kennlinienfeldes des Sensors S im digitalen
Messwert und am analogen Ausgang widerspiegeln. Durch die Lokalität sowie
die ausgezeichnete Wärmeleitfähigkeit der Keramik sind beide Systeme S und HS
bezüglich der gemeinsamen Störgröße Temperatur stark gekoppelt, so dass kein
individueller unabhängiger Temperatureinfluss vorliegt.
Im Sensorgehäuse CH werden neben dem Sensor S und dem Hilfssensor HS auch
die zur Filterung der analogen Ausgangssignale notwendigen Kapazitäten C mit
untergebracht. Die Anzahl, der für den Sensoranwender zugänglichen
Anschlüsse, reduziert sich bis auf acht. Infolge der erfindungsgemäßen
Ausgestaltung ist es möglich, mit den verbleibenden acht Anschlüssen, nämlich
im nachfolgend beschriebenen Beispiel TANAOUT, PANAOUT, VDD,
VPROG, SCL, SDA, GND und GNDA, das gesamte System auszumessen, zu
kalibrieren und zu programmieren.
In Fig. 2 ist eine vereinfachte Struktur des selbstkalibrierenden Meßsystems
dargestellt. Es enthält alle Systemparameter und ausgewählte Signale.
Einzelheiten des Blockschaltbilds nach Fig. 2 mit detaillierter Beschreibung der
Module und Pinbelegung erfolgt anhand der nachfolgenden Fig. 3. Der
Hilfssensor HS kann im Rahmen der Erfindung mit Anschlüssen für eine
Sensorbrücke bzw. Temperatursensor ausgestaltet werden (siehe Fig. 2 IP, VP1,
VP2, GNDAP bzw. IT, GNDAT). Bei den Sensoren kann es sich beispielsweise
um piezoresistive Sensoren handeln, die zum Beispiel zur Druck- oder
Feuchtemessung verwendet werden. Die Sensoren werden durch einen
konstanten Strom gespeist (siehe Fig. 2 VDD, GND, VDDA, GNDA). Eine
variable Eingangsstufe gestattet den Einsatz eines breiten Spektrums
piezoresistiver Sensoren.
Der Temperatursensor kann im Rahmen der Erfindung auch entfallen, da die
Temperaturabhängigkeit der Brückenspannung zur Erfassung der Störgröße als
Temperatursignal genutzt werden kann. Zur Kommunikation existiert eine serielle
Schnittstelle (siehe Fig. 2 SDA, SCL), welche Befehle, Parameter und
Messwerte überträgt. Das Kennlinienfeld des Sensor-Hilfssensor-Systems wird
während des Kalibriervorganges aufgenommen. Durch Interpolation wird die
Anzahl der Stützstellen vergrößert und es werden die Koeffizienten für den im
Hilfssensor HS implementierten Algorithmus zur Polynomberechnung ermittelt.
Die Koeffizienten werden an den Hilfssensor HS übertragen, durch
Stichprobenmessung überprüft und in einem nichtflüchtigen Parameterspeicher SP
fest programmiert (siehe Fig. 2 VPROG). Nach dem Anlegen der
Versorgungsspannung wird der Parameterspeicher SP ausgelesen, und sofern das
System programmiert ist, wird mit den Messungen begonnen. Zur Ausgabe der
kompensierten Werte stehen neben der seriellen Schnittstelle (siehe Fig. 2 SDA,
SCL) auch zwei analoge Spannungsausgänge zur Verfügung, die auch deaktiviert
werden können (siehe Fig. 2. TANAOUT, CDAT, PANAOUT, CDAP). Reset
und Takt werden auf dem Hilfssensor HS generiert.
In der folgenden Tabelle sind die in Fig. 3 zeichnerisch dargestellten Module mit
einer kurzen Beschreibung aufgelistet; danach folgt eine ausführliche
Beschreibung einzelner Module.
Modul | |
Bemerkung | |
Spannungsüberwachung | Power On Reset POR, Spannungsüberwachung |
ANAIN | Aufbereitung und Digitalisierung der Sensorsignale |
ANAOUT | Zwei analoge Ausgangstufen für kompensierte Größen |
DIGITAL | Digitaler Schaltungsteil zur Berechnung der kompensierten Größen in Abhängigkeit der Messwerte und zur Kommunikation |
Bandgap | Temperaturunabhängige Spannungsreferenz |
CSREF | Temperaturunabhängige Stromreferenz |
CLKGEN | Interner Clockgenerator |
CS | Zwei programmierbare Stromquellen zur Sensorspeisung |
T-Kanal | Eingangskanal für die Störgröße Temperatur |
P-Kanal | Differenzeingangskanal für Messgröße (z. B. Druck, Feuchte) |
VREF | Erzeugung der Bezugspotentiale |
ADC | 10-Bit Analog digital Umsetzer |
CLKRESGEN | Resetsynchronisation und Clockableitung |
MAIN_CTRL | Initialisierung, Befehlsdecodierung, Steuerung des Systems |
CONTROLLER | Steuerung des Polynomberechnung |
DZM | Digitales Filter, Mittelwertbildung und Dezimation |
DATA | Speicherung und Bereitstellung von Messwert, Zwischenergebnissen und Ausgabewerten |
FUSE | Parameterspeicher, ZENER-PROM |
FUSE_CTRL | Steuerung von Lese-, Schreib- und Programmiervorgängen in FUSE |
IIC | Serielle Schnittselle, I2C-Protokoll |
DATAOUT_IIC | Zwischenspeicherung der zu sendenden Daten und Bitauswahl |
Mit Zuschaltung der Versorgungsspannung nimmt das System selbständig seine
Arbeit auf. Das System wird dabei durch den. Power On Reset POR
zurückgesetzt. Die Versorgungsspannungsüberwachung stellt die korrekte
Funktion sensibler Module sicher. Die Bandgap liefert dazu eine
temperatununabhängige Referenzspannung VBG.
Im analogen Eingangsteil erfolgt die Bereitstellung der Sensorströme durch die
Stromquellen CS. Die Bezugspotentiale V125 und V25 werden durch VREF aus
der Bandgapspannung VBG abgeleitet. Die Signale V171 und V228 werden
durch Spannungsteiler aus V125 und V228 gewonnen. Der T-Kanal dient der
Signalaufbereitung der Störgröße Temperatur. Dazu sind verschiedene Quellen
auswählbar. Der P-Kanal mit seinem Differenzeingang bereitet die
Brückenausgangsspannung für die Digitalisierung auf. Es erfolgt ein Abgleich des
Nullpunktoffsets des Brückensignals. Aufgrund der Stromspeisung der Brücke
erfolgt dieser in Abhängigkeit von der Brückenspannung. Variable Verstärkung
und Nullpunkt- bzw. Offsetverschiebung ermöglichen in beiden Eingangskanälen
jeweils eine optimale Anpassung der Eingangssignale an den Eingangsbereich des
10-Bit Analog Digital Umsetzers ADC.
Die Erzeugung der Clock für den Digitalteil erfolgt innerhalb des Hilfssensor HS
durch einen stromgesteuerten Oszillator. Der Steuerstrom wird von der
Stromreferenz CSREF geliefert. Eine externe Taktung ist nur im Testbetrieb
vorgesehen.
Im Digitalteil wird die Berechnung der kompensierten Werte durchgeführt. Eine
serielle Schnittstelle mit einem I2C-Protokoll IIC ermöglicht während der
Kalibrierung und des Messbetriebs die Kommunikation mit einem zentralen
Prozesssteuerrechner (Siehe Fig. 2 Pin SCL, SDA und PC). Die dauerhafte
Speicherung der Systemparameter erfolgt im Modul FUSE (Parameterspeicher
SP). Vorzugsweise wird als Parameterspeicher SP ein Zener-PROM benutzt. Der
Test des Digitalteils ist in verschiedenen Testmodi durchführbar (Siehe Fig. 3
T_IO 1. . .3).
Das Modul MAIN_CTRL steuert die Initialisierungsphase und führt die
Auswertung der durch die Schnittstelle IIC empfangenen Daten durch. Die
Berechnung der Polynome erfolgt im Rechenwerk R mit den Modulen
CONTROLLER, DZM, DATA und AU. Der CONTROLLER koordiniert den
Ablauf der Polynomberechnung. Im Modul DZM erfolgt die Mittelwertbildung
und Dezimation der Messwerte vom ADC. Die Arithmetische Einheit AU führt
die arithmetischen Operationen durch. Die Speicherung und Bereitstellung der
Mess-, Zwischen- und Ergebniswerte erfolgt im Modul DATA. Das Modul
DATAOUT_IIC dient der Zwischenspeicherung der über die Schnittstelle zu
übertragenen Daten. Das Modul FUSE_CTRL steuert Lese-, Schreib- und
Programmiervorgänge des Moduls FUSE (Parameterspeicher SP).
Zur Ausgabe der berechneten Werte für Temperatur und Brückensignal existieren
zwei identische getrennt aktivierbare Ausgangsstufen A. Die Gültigkeit der
analogen Ausgangssignale wird durch DAVALID angezeigt. Für Kalibrierzwecke
werden an den Ausgangsstufen die Bandgapspannung VBG und die Systemclock
CLOCK zur Verfügung gestellt.
Parameter des Analogteils, die im Parameterspeicher SP gespeichert sind und
direkt zum Analogteil führen, tragen den Suffix "_F" im Namen. Der Suffix
"(_F)" kennzeichnet Parameter, die bis zum Abschluss der Initialisierungsphase
durch den Digitalteil auf ihren typischen Wert gesetzt werden, bevor der
programmierte Wert übernommen wird.
In der nachfolgenden Tabelle sind die Anschlüsse des Hilfssensors HS aufgelistet.
VDD, VDDA: Digitale und analoge positive Versorgungsspannung
GND, GNDA: Bezugspotential der digitalen und analogen Versorgungsspannung
XSLEEP: Power down by Pad, Abschaltung des ASIC
IT: Stromquellenausgang für Temperatursensor
GNDAT: GNDA-Pad für Temperatursensor
IP: Stromquellenausgang für Sensorbrücke
VP1, VP2: Differenzeingang für Sensorbrücke
GNDAP: GNDA-Pad für Sensorbrücke
DAVALID: Analoge Ausgangsstufe aktiv
TANAOUT: Analoger Signalausgang für kompensierte Störgröße Temperatur
PANAOUT: Analoger Signalausgang für kompensierte Meßgröße
CDAT: Anschluss externer Kapazität zur Tiefpassfilterung des analogen TDA- Signales
CDAP: Anschluss externer Kapazität zur Tiefpassfilterung des analogen PDA- Signales
CV171: Anschluss externer Kapazität zur Tiefpassfilterung von V171
SCL: Serielle Schnittstelle, Clocksignal
SDA: Serielle Schnittstelle, Datensignal
T_IO 1. . .3: Testeingänge
VDD, VDDA: Digitale und analoge positive Versorgungsspannung
GND, GNDA: Bezugspotential der digitalen und analogen Versorgungsspannung
XSLEEP: Power down by Pad, Abschaltung des ASIC
IT: Stromquellenausgang für Temperatursensor
GNDAT: GNDA-Pad für Temperatursensor
IP: Stromquellenausgang für Sensorbrücke
VP1, VP2: Differenzeingang für Sensorbrücke
GNDAP: GNDA-Pad für Sensorbrücke
DAVALID: Analoge Ausgangsstufe aktiv
TANAOUT: Analoger Signalausgang für kompensierte Störgröße Temperatur
PANAOUT: Analoger Signalausgang für kompensierte Meßgröße
CDAT: Anschluss externer Kapazität zur Tiefpassfilterung des analogen TDA- Signales
CDAP: Anschluss externer Kapazität zur Tiefpassfilterung des analogen PDA- Signales
CV171: Anschluss externer Kapazität zur Tiefpassfilterung von V171
SCL: Serielle Schnittstelle, Clocksignal
SDA: Serielle Schnittstelle, Datensignal
T_IO 1. . .3: Testeingänge
In der folgenden Tabelle sind die Systemparameter des Hilfssensors HS und eine
kurze Beschreibung zusammengefasst.
Die mit (*) gekennzeichneten Parameter sind über das IIC-Interface IIC direkt
setzbar.
Schließlich sind in der folgenden Tabelle die im Blockschaltbild verwendeten
Signale aufgelistet und ihre Bedeutung bzw. Funktion angegeben.
Das Kernstück des Digitalteils bildet eine Zustandsmaschine, die den
Algorithmus zur Polynomberechnung steuert. Erfindungsgemäß wird darauf
verzichtet, einen variabel programmierbaren Mikrocontroller einzusetzen, dessen
Programm man an verschiedene Situationen anpassen kann, sondern es wird ein
hochspezielles und minimiertes Rechenwerk R eingesetzt. Die Registerspeicher
sind an die Anforderungen der Anwendung angepasst. Die Anzahl der Parameter
wurde so reduziert, dass es möglich wurde, die benötigten 368 Bit direkt im
internen Parameterspeicher SP zu speichern. Dadurch entfallen zeitaufwendige
Speicherzugriffe auf einen externen Speicher. Es werden neben der
Polynomberechnung für zwei digitale Messgrößen und einer Skalierung der zwei
analogen Ausgangswerte, die System-, die Speichersteuerung sowie die serielle
Schnittstelle IIC realisiert. Ein umfangreiches Datenprotokoll ermöglicht die
vollständige Kalibrierung und gezielte Abfragen bestimmter Daten.
Der Digitalteil des Systems muss die folgenden Aufgaben erfüllen
- - Autonomes Starten und Initialisieren des Systems nach dem Einschalten der Versorgungsspannung
- - Autonome Aufnahme des Messzyklus im programmierten Zustand
- - Kommunikation mit einem Steuerrechner zur Befehls- und Datenübertragung
- - Steuerung des Parameterspeichers SP (Auslesen des PROM, Schreiben und Lesender Register)
- - Steuerung des Programmierzyklusses des Parameterspeichers SP
- - Verriegelung des Parameterspeichers SP nach Programmierung
- - Steuerung der Messwertaufnahme
- - Bereitstellung der AD- und DZM-Meßwerte
- - Polynomberechnung zur Temperatur- und Druckbestimmung, Skalierung der analogen Ausgangswerte
- - Signalisierung des Grenzbereiches der AD-Werte
- - Signalisierung der Gültigkeit der berechneten Werte
- - Powerdown-Steuerung des Analogteils
- - Powerdown-Steuerung der analogen Ausgangsstufen
- - Abschaltung bei Unterspannung
- - Stand by-Modus
Die in die Polynome eingehenden Werte, werden aus den 10-Bit AD-Werten
ermittelt, indem eine Mittelwertbildung über acht Werte mit einer anschließenden
Division durch zwei erfolgt (siehe Fig. 3 DZM). Damit wird eine digitale
Tiefpassfilterung des Signals erreicht. Die Umschaltung zwischen beiden
Eingangskanälen erfolgt durch das Signal ADSEL. Nach einer Kanalumschaltung
wird der erste Wert verworfen. Die folgenden 8 AD-Werte werden zur
Mittelwertbildung herangezogen, so das zur Berechnung der Polynome gemittelte
Messwerte benutzt werden.
Dem Berechnungsalgorithmus liegt die Zahlendarstellung im Fixpunktformat mit
Vorzeichen zugrunde. Die Bitbreite beträgt 20 und es wird eine 20 Bit
Arithmetische Einheit (siehe Fig. 3 AU) benutzt. Zur Zahlendarstellung wird
vorzugsweise nicht das Zweierkomplement gewählt, da hierdurch der Aufwand
für die Umrechnung zur Ausgabe über den DA-Umsetzer gespart werden kann.
Im einzelnen Darstellung erfolgt die Zahlendarstellung in Form des
Hornerschemas, welche den Vorteil einer speicherplatzoptimale
Berechnungsfolge zur Berechnung der analogen und digitalen Ausgabewerte
aufweist. Das Rechenwerk R ist zwar so ausgelegt, dass es zu keiner
Bereichüberschreitung kommt, allerdings ist eine Überschreitung des wesentlich
kleineren Wertebereiches der 10-Bit AD-Werte möglich. Um das Ergebnis nicht
zu verfälschen, werden vorzugsweise Clippingfunktionen eingeführt, welche die
Werte auf den datentypabhängigen minimalen oder maximalen Grenzwert
beschränken. Eine spezielle Signalisierung eines durchgeführten Clippings erfolgt
dabei nicht. Beim Auslesen der Werte über die digitale Schnittstelle erkennt man
dies durch das Erreichen eines Grenzwertes. Schließlich erfolgt das Runden nur
bei der letzten Addition in einem Multiplikationszyklus, wobei die Position, die
abgeschnitten wird, gerundet wird. Soll das Gesamtergebnis gerundet werden,
wird dies durch Addition von 0,5 auf die konstanten Glieder in den Polynomen,
realisiert.
Das Steuerwerk hat die Aufgaben die Mittelwertbildung zu starten, die
Quellenauswahl des ADC und den Algorithmus zu steuern. Weiterhin ist es für
die Auswahl der Operanden und Zielregister des Ergebnisses zuständig, wobei
diese Funktion durch das Modul CONTROLLER durchgeführt wird. Das
Rechenregister umfasst auch sogenannte Status-Register, welche nicht für die
Berechnung verwendet werden. In ihnen wird der Status des DZM-Wertes
gespeichert. Dieser sagt aus, ob sich der DZM-Wert des Eingangssignals im
Randbereich des ADC-Eingangsbereichs, z. B. einer Grenze von 12,5%, befindet.
Dieser Wert ist über das Interface abrufbar, und könnte vor ungenaueren
Messergebnissen im Grenzbereich warnen.
Die Arithmetische Einheit AU stellt die folgenden Grundfunktionen zur
Verfügung:
- 1. Addition zweier vorzeichenbehafteter Nichtkomplement-Zahlen.
- 2. Addition zweier vorzeichenloser Zahlen mit anschließender Division durch 2 (Rechtsshift)
- 3. zwei Clippingfunktionen (analog und digital).
Bei der einfachen Addition ergibt sich trotz einer Breite der Summanden von
jeweils 20 Bit nur ein Ergebnis mit der gleichen Bitbreite. Dies liegt am
Maximum des möglichen Endergebnisses bei Verwendung maximaler
Eingangswerte. Bei der Multiplikation besitzt der erste Faktor 20 Bit. Der 2.
Faktor ist der P- oder T-Wert, welcher 12 Bit breit, positiv und kleiner Eins ist.
Damit ergibt sich für das Ergebnis eine Breite von 20 Bit, wenn die neuen
Nachkommastellen, die für die weitere Berechnung keinen Einfluss haben,
unberücksichtigt bleiben. Das Vorzeichen wird durch den ersten Faktor bestimmt.
Die Multiplikation wird durch schrittweise Addition realisiert. Durch den
Rechtsshift nach einer Addition, wird die niederwertigste Position verworfen und
die Breite der Operanden bleibt während der Multiplikation erhalten. Da ein
Vorladen des zweiten Operanden im ersten Schritt erfolgt, werden nur 11 Takte
anstelle von 12 benötigt.
Die Kommunikation wurde durch die serielle Schnittstelle mit IIC-Bus-Protokoll
realisiert. Vorzugsweise arbeitet im IIC-Bus-System der Hilfssensor HS nur als
Slave. Er unterstützt die General Call-Funktion, womit sich mehrere
Hilfssensoren ansprechen lassen. Als Adressbereich stehen alle zulässigen
Adressen zwischen 1 und 126 zur Verfügung. Die eigene Adresse wird fest im
Paramerterspeicher SP abgelegt. Im Modul IIC ist die serielle Schnittstelle des
Hilfssensors HS inplementiert. Das Modul IIC beobachtet die Kommunikation
auf der Busleitung. Wird die eigene Adresse, die am Eingang ADDRESS anliegt,
erkannt, wird das dem MODUL MAIN_CTRL durch CHIP_SELECT mitgeteilt
und signalisiert, ob es sich dabei um einen Schreib- oder Lesezugriff handelt
(READ_WRITE). Die seriell ankommenden Daten werden in einem
Schieberegister aufgefangen und MAIN_CTRL in paralleler Form zur Verfügung
gestellt. Das Signal PAR_VALID zeigt die Gültigkeit des Datenbytes an.
MAIN_CTRL nimmt die Auswertung der Befehle vor und steuert die
Bereitstellung der zu sendenden Daten von DATAOUT_IIC oder stößt
FUSE_CTRL an, um den Parameterspeicher SP auszulesen oder mit SER_DATA
zu beschreiben. Das Modul FUSE_CTRL muß dann die Synchronisation mit dem
SCL-Takt durch SER_CHANGE und SER_READ realisieren. Nachfolgend sind
in der Tabelle die Schnittstellensignale und deren Beschreibung
zusammengefasst.
Für die Kommunikation mit dem Hilfssensor HS ist ein solches Protokoll- und
Datenformat vorgesehen, dass das Befehls- und Datenformat den Anforderungen
beim Datenaustausch während der Kalibrierungsphase und dem normalem
Messbetrieb gerecht wird. Es sind Befehle, der Parametersatz und Messdaten zu
übertragen, Parameter direkt zu setzen und Statusabfragen durchzuführen. Die
Decodierung der IIC-Befehle und deren Ausführung bzw. Weiterleitung erfolgt
durch das MODUL MAIN_CTRL. Für das Empfangen und Senden existiert
jeweils eine eigene Zustandsmaschine.
Die Decodierung der IIC-Befehle und deren Ausführung bzw. Weiterleitung
erfolgt durch das MODUL MAIN_CTRL. Für das Empfangen und Senden
existiert jeweils eine eigene Zustandsmaschine.
Nach dem. Einschalten der Versorgungsspannung muss sich das System selbst
initialisieren. Dabei werden die im Systemparameterspeicher SP gespeicherten
Daten ausgelesen. Durch die Signale NODATA und FUSEOPEN_F erkennt das
System seinen Initialisierungszustand. Das Signal NODATA wird aus der
gespeicherten IIC-Adresse des Systems gebildet. Wurde diese noch nicht
programmiert, ist dieses Signal aktiv. Das Signal FUSEOPEN_F ist eine
Speicherstelle im PROM, die einen Schreibschutz für das PROM darstellt und
nach erfolgter Programmierung weitere Programmierzyklen unterbindet. Es treten
die folgenden Initialisierungszustände auf:
- 1. No Data
- 2. Kalibriert
- 3. Closed
Nach dem Abschluss der Initialisierung befindet sich das System in einem der
drei Initialisierungszustände. In diesen Zuständen ist erstmals eine
Kommunikation über die serielle Schnittstelle möglich. Das Signal
STANDBY_IIC ist deaktiviert.
Im ersten Initialisierungszustand "No Data" wurde das System noch nicht
kalibriert. Es liegen keine Systemparameter vor. Der Analogteil und
Berechnungsalgorithmus sind abgeschaltet. Das System wartet auf Befehle über
die serielle Schnittstelle IIC. Es kann mit der Kalibrierung begonnen werden. Mit
Eintritt in den Zustand wurde die IIC-Adresse auf Null gesetzt und die maximale
Clockfrequenz über den Parameter DIVIDE eingestellt, um eine sichere
Kommunikation zu gewährleisten. Das System ist jetzt im Betriebszustand
STANDBY.
Im zweiten Initialisierungszustand "Kalibriert" ist das Signal NODATA
deaktiviert und FUSE_OPEN_F ist noch aktiv. Das System wurde bereits
kalibriert, aber der Programmierschutz ist noch nicht aktiviert worden.
Programmierzyklen können den Inhalt des Systemparameterspeichers SP noch
verändern. Die im Parameterspeicher SP vorliegenden Daten werden als gültig
betrachtet und für Clockteiler und IIC-Adresse übernommen. Dies gilt ebenso für
die Parameter W_F und BGDADJ_F. Damit ist es jetzt möglich, auf die höhere
Schwelle bei der Versorgungsspannungsüberwachung umzuschalten, um die
Genauigkeit der Messwerte abzusichern. Ist dies erfolgt, wird die serielle
Schnittstelle IIC aktiviert und das Power down Signal für den Algorithmus
aufgehoben. Das führt zum Einschalten des Analogteils und dem Beginn des
Meßzyklusses. In Abhängigkeit von der im Parameterspeicher SP eingestellten
Ausgangskonfiguration werden mit dem Vorliegen der ersten Messwerte die
analogen Ausgangsstufen aktiviert. Das System arbeitet jetzt autonom und kann
durch IIC-Befehle gesteuert werden. Es befindet sich im Betriebszustand RUN.
Der dritte Initialisierungszustand "PROM closed" unterscheidet sich vom
Initialisierungszustand "Kalibriert" nur durch die Abfrage des Signal
FUSE_OPEN im gesperrten Programmierzyklus.
Das System kann sich in den folgenden Betriebszuständen befinden:
- 1. Power down by Pad
- 2. STANDBY
- 3. RUN
- 4. Kalibrieren
Eine Umschaltung der Betriebszustände STANDBY, RUN und Kalibrieren ist
über die serielle Schnittstelle IIC möglich.
Der erste Betriebszustand "Power down by Pad" ist ein Stromsparmodus. über
den Eingang XLSEEP kann das gesamte System abgeschaltet werden. Die
Kommunikation ist nicht möglich.
Im STANDBY-Modus sind Analogteil und Berechnungszyklus abgeschaltet. Die
serielle Schnittstelle IIC ist aktiv. Dieser Modus ist durch Abfrage des
Systemstatusbytes ermittelbar. Eine Kennzeichnung der Messwerte als alte
Messwerte durch das Statusbyte, soll eine falsche Interpretation verhindern, da
diese auch im STANDBY-Modus abrufbar sind. Durch den entsprechenden IIC-
Befehl kann in den RUN-Modus gewechselt werden. Dabei wird ein sogenannter
Softreset ausgelöst, der die Statusbits zurücksetzt.
Im dritten Betriebszustand "RUN" sind der Analogteil, Mittelwertbildung und
Berechnungszyklus eingeschaltet. Es werden abwechselnd die Messwerte der
beiden Kanäle (xDZM) ermittelt, mit denen die Berechnung der Polynome
erfolgt. Bei aktivierten analogen Ausgangsstufen werden die korrigierten Werte
auch analog ausgegeben. Die Kommunikation ist möglich.
Gegenüber dem RUN-Modus unterscheidet sich der vierte Betriebszustand
"Kalibrieren" nur durch den abgeschalteten Berechnungszyklus PD(ALGO). Die
Mittelwertbildung ist aktiv, so dass die AD- und DZM-Werte verfügbar sind.
Durch den Befehl Set_ADSEL, kann als Signalquelle der durch ADSEL
bestimmte Eingangskanal fest eingestellt werden. Der zyklische Wechsel
zwischen T- und P-Kanal entfällt.
Im erfindungsgemäßen System sind 368 Bit zur Speicherung der analogen
Parameter, der Koeffizienten und der digitalen Parameter wie IIC-Adresse,
Clockteiler, Ident-Nummer etc. notwendig. Durch die serielle Schnittstelle IIC
kann auf den Systemparameterspeicher SP seriell lesend und schreibend
zugegriffen werden. Die Sicherheit des Auslesens hängt von der Temperatur und
der Versorgungsspannung ab. Darum ist erfindungsgemäß eine entsprechende
Überwachung während des Auslesevorganges vorgesehen. Die Anordnung der
einzelnen Parameter erfolgt nach folgenden Regeln:
- 1. Die analogen Parameter wurden an den Anfang der Registerkette gesetzt. Bei der Kalibrierung müssen diese häufig umgestellt werden, wobei die Koeffizienten noch nicht benötigt werden. Es reicht aus nur einen Teil des Fusedump zu schreiben, da die benötigten Parameter sehr schnell im Schieberegister erreicht werden.
- 2. Während der Polynomberechnung wird immer nur ein Koeffizient benötigt. Daher wurden die Multiplexer, die den Koeffizienten auswählen im Layoutbereich des ZENERPROM mit untergebracht. Benachbarte Register erhielten die gleiche Bitposition im Koeffizienten, wodurch der Verdrahtungsaufwand und Flächenbedarf erheblich minimiert wurde.
Nachfolgend wird der Kalibriervorgang anhand der einzelnen Kalibrierschritte
beschrieben, wobei mit Sensor das System aus Drucksensor S und Hilfssensor
HS bezeichnet wird.
Beim parallelen Kalibrieren von mehreren Sensoren ist jedem Sensor eine
eigene IIC-Adresse zu vergeben. Dazu wird er über einen General Call
angesprochen und durch den Befehl CODE(W2,3) seine Adresse zugeordnet.
Dazu muss jeder Sensor einzeln an den IIC-Bus angeschlossen werden, da
sonst jeder die gleiche Adresse erhält. Nach erfolgter Adressvergabe können
Sensoren parallel an den IIC-Bus angeschaltet werden. Befehle, die alle
Sensoren ausführen müssen, werden als General Call gesendet. Individuelle
Datenübertragungen, wie das Einstellen von Offsets und das Auslesen der
Messwerte, erfolgen über die am Anfang vergebene Adresse. Sollte ein Sensor
nicht mehr auf seine Adresse jedoch auf den General Call reagieren, so muss
eine kurzfristige Störung vorgelegen haben, die ihn veranlasste, die
Initialisierung erneut zu durchlaufen. Damit kann er die zuvor vergebene
Adresse nicht kennen. Dies ist ein guter Störungsindikator.
Durch den IIC-Befehl CODE(W2,1) SET_REFOUT wird die Spannung V125
auf den analogen Ausgang geschaltet. Die Spannung ist zu bestimmen und
über den Parameter BGADJ_F auf ca. 1,264 V einzustellen. Der Wert von
V125 ist zu protokollieren, da er für Berechnungen benötigt wird. Am zweiten
analogen Ausgang ist gleichzeitig die Systemclock CLOCK durchgeschaltet.
Das ermöglicht durch Messen der Frequenz den Parameter DIVIDE zu
bestimmen. Zu berücksichtigen ist, dass W den Referenzstrom für die
Sensorströme und somit auch die Clockfrequenz beeinflusst.
Die Temperatur ist die dominante systematische Störgröße bei piezoresistiven
Drucksensoren. Um ihre Einflüsse gut zu kompensieren, muss sie mit der
gleichen Genauigkeit wie die Messgröße erfasst werden. Zur Erfassung genügt
ein Spannungseingang. Mögliche Quellen können spezielle Temperatursensoren
sein, die sich neben oder mit auf dem Drucksensor befinden. Es ist aber auch
möglich, direkt die Brückenspannung, das heißt den Temperaturkoeffizienten des
Brückenwiderstandes zu nutzen. Daraus ergibt sich die Forderung einen
Eingangskanal mit einem Eingangsbereich, der beiden Quellen gerecht wird,
bereitzustellen.
Temperatursensoren haben einen wesentlich größeren Temperaturkoeffizienten
aber auch einen kleineren Widerstand als eine Sensorbrücke. Es ist denkbar die
externen Temperatursensoren mit einem Strom zu betreiben, der eine Spannung in
der Größe der Brückenspannung liefert. Dabei besteht jedoch die Gefahr, durch
einsetzende Eigenerwärmung des Temperatursensors, das Temperatursignal zu
verfälschen. Durch Vorschaltung eines Widerstandes wird ein kleinerer
Speisestrom benötigt, was die Verlustleistung am Temperatursensor reduziert.
Ein durchaus positiver Nebeneffekt ist dabei für Sensoren mit einem sehr großen
Temperaturkoeffizienten der resultierende reduzierte Temperaturkoeffizient der
Serienschaltung beider Widerstände.
Am abgeschlossenen Gesamtsystem von Sensor S und Hilfssensor HS ist das
Messen der über den Sensoren anliegenden Spannung durch ein externes
Messgerät nicht möglich. Der Temperaturkanal muss die Funktion eines
Spannungsmessers übernehmen. Der Absolutwert der Stromreferenz lässt sich
nicht ermitteln. Die Widerstandswerte der Sensoren im Gesamtsystem sind meist
unbekannt. Für die Einstellung des Brückenstromes zur Justage der
Brückenspannung oder der Spannung über dem Temperatursensor bei
Bezugstemperatur reicht die Kenntnis der Spannungsstufung, die aus
Sensorstromquantisierung und Sensorwiderstand resultiert, aus. Da der
Temperaturkanal als Spannungsmesser verwendet werden kann, muss man
lediglich mit zwei verschiedenen Strömen die Spannung messen. Der Offset im T-
Kanal hat aufgrund der geringen Verstärkung kaum eine Bedeutung. Die
Offsetverschiebung gestattet jedoch eine Feinjustage, um die grobe Quantisierung
der Sensorströme auszugleichen und den Temperaturkanalausgang optimal an den
AD-Umsetzereingangsbereich anzupassen. Dadurch wird auch verhindert, auf
eine kleinere Verstärkung wechseln zu müssen, da eine Bereichsüberschreitung
im Grenztemperaturbereich auftreten könnte.
Für die Speisung der Sensoren wird ein temperaturstabiler Strom benötigt. Dieser
wird aus einem programmierbaren Stromspiegel, der einen temperaturstabilen
Referenzstrom vervielfacht, gewonnen. Da es schwierig ist, einen externen
temperaturunabhängigen Widerstand für die Referenzstromerzeugung zu
verwenden, und die integrierbaren Polywiderstände einen großen
Temperaturkoeffizienten aufweisen, ist es von Vorteil, eine Referenzspannung zu
erzeugen, deren Temperaturkoeffizient dem des zur Strommessung verwendeten
Widerstand entspricht. Da in der Regel der Temperaturkoeffizient der
Polywiderstände während des Herstellungsprozesses nicht überwacht wird, ist
mit einem ungünstigerem Temperaturverhalten zu rechnen. Dies beeinflusst die
Funktionalität der Schaltung jedoch nicht. Aus dem Referenzstrom werden über
einen kaskadierten Stromspiegel, die Sensorströme abgeleitet. Aufgrund der
technologischen Streuungen der integrierten Widerstände von bis zu 30%,
unterliegt der Referenzstrom ebenfalls derselben Streuung. Zum Ausgleich wurde
bereits auf der Strommessseite des Stromspiegels eine Programmiermöglichkeit
vorgesehen. Die kaskadierte Ausführung der Stromquelle ist von Vorteil, um
durch eine Erhöhung des Innenwiderstandes der Stromquelle das PSRR-
Verhalten zu verbessern. In der Kaskadierung liegt gleichzeitig die Ursache für
die Beschränkung der Spannung über den Sensoren. Nur wenn beide Transistoren
eines Strompfades in Sättigung arbeiten, ist die Stabilität des Sensorstromes
gesichert. Die folgende Tabelle zeigt den Wertebereich der Parameter
Stromreferenz und Sensorströme.
Parameter | |
Wertebereich | |
W(2) | Referenzstrom: typ. {67, 50, 40, 33} µA |
IP(5) | und Sensorströme: typ. 0. . .1,5 mA in 50 µA Schritten |
IT(5) | exakt: 0. . .31-fache des Referenzstroms |
Die Biasspannungen für den Steuerstrom des Clockgenerators werden ebenfalls
in der Stromreferenzstufe gebildet. Das bedingt, dass die Stromreferenzstufe
eingeschaltet sein muss, um den Digitalteil starten zu können. Durch mehrere
Stromspiegel wird sichergestellt, dass die Rückwirkung des Clocksignals über die
Biasspannung auf die Sensorströme ausreichend gedämpft ist.
Die Programmierbarkeit der Offsetverschiebung erreicht man wieder durch
programmierbare Stromspiegel. Den Referenzstrom gewinnt man durch eine
spannungsgesteuerte Stromquelle. Der Messwiderstand der Stromquelle und der
Rückkoppelwiderstand R2 sind dabei matching-Partner. Das Verhältnis der
Widerstände und die Teilerverhältnisse der nachgeschalteten Stromspiegel
ermöglichen eine Offsetverschiebung in einem genauen Verhältnis zur
Steuerspannung. Die Schrittweite der Offsetverschiebung im T-Kanal ergibt sich
wie folgt. Der Widerstand RMess entspricht dem Rückkopelwiderstand der
Ausgangsstufe, wo der Offsetstrom eingespeist wird. Der Strom Imess wird durch
34 parallel geschaltete Strompfade geteilt zu Iref. Als Referenzstrom für die
Offsetverschiebung, werden zwei Spiegelströme von Iref verwendet. Die
Schrittweite ergibt sich nach einer weiteren Teilung durch drei im
nachgeschalteten programmierbaren Stromspiegel. Für die Nullpunktverschiebung
im P-Kanal wird die gleiche Stromreferenz jedoch mit unterschiedlichen
Teilerverhältnissen verwendet. Im Gegensatz zum T-Kanal ist hier eine positive
und negative Verschiebung möglich.
Da die Steuerspannung dem Aussteuerbereich des ADC entspricht, erreicht man
durch dieses Prinzip in der letzten Stufe des jeweiligen Kanals eine bestimmte
prozentuale Verschiebung gegenüber dem Eingangsbereich des ADC. Die
jeweiligen Bereiche decken dabei die durch Operationsverstärkeroffset und durch
die jeweilige Anwendung geforderte Nullpunktverschiebung vollständig ab. Für
die Korrektur des Nullpunktoffsets der Sensorbrücke wird die
temperaturabhängige Brückenspannung als Steuerspannung verwendet. Dies ist
von Vorteil, da sich durch die Stromspeisung mit dem ändernden
Brückenwiderstand auch proportional das Offsetsignal verändert und der neue
Nullpunktoffset ebenso ausgeglichen werden muss. Die Generierung des
Offsetstromes erfolgt im Modul PCH_OFF und wird in der
Differenzeingangsstufe eingespeist.
Der AD-Umsetzer arbeitet vorzugsweise nach dem Prinzip der sukzessiven
Approximation und enthält eine interne Holdfunktion. Für eine Umsetzung
werden beispielsweise nach der Initialisierung 11 Takte benötigt und dieser wird
mit einer Frequenz von ca. 100 kHz betrieben. Im Digitalteil erfolgt eine
Mittelwertbildung über acht aufeinanderfolgende Messwerte mit einer
anschließenden Dezimation. Der dezimierte Wert wird dann für die weiteren
Berechnungen verwendet. Der Eingangsbereich wird durch die zwei
Bezugsspannungen V125 und V25 festgelegt. Die analogen Eingangskanäle sind
so ausgelegt, dass eine optimale Ausnutzung des Eingangsbereichs ermöglicht
wird.
Die Bestimmung der Parameter des T-Kanals ist wie folgt: Entsprechend der zu
nutzenden Signalquelle wird der Parameter TSEL_F festgelegt. Die Verstärkung
wird passend zum Temperaturkoeffizienten des Temperatursensors gewählt.
Danach wird ein erster Wert des Parameter TOFF bestimmen: Den ersten Wert
für den Sensorstrom IT_F wählt man anhand des typischen Sensorwiderstandes,
so dass bei Messung der AD-Wert nicht in den Randbereich fällt. Den zweiten
Wert für IT_F wählt man passend. Zwei Messungen mit unterschiedlichen I-
Werten gestatten es, den korrekten Sensorstrom IT_F zu berechnen. Durch die
Messung der Referenz erhält man einen Bezugswert, der es nach Einstellung des
Sensorstromes IT_F ermöglicht die Spannung am Sensor S zu bestimmen.
Entspricht die Spannung am Sensor S dem Zielwert für die Bezugstemperatur, ist
der Wert für IT_F gefunden. Die Spannung am Temperatursensor modifiziert man
durch Veränderung des Sensorstromes IT_F. Der aufgrund des gewählten
Sensorstromes IT_F bei Bezugstemperatur ermittelte AD-Wert wird mit dem AD-
Zielwert für die Bezugstemperatur verglichen. Die Differenz zum Zielwert ergibt
die an TOFF vorzunehmende Veränderung, um TOFF festzulegen.
Sollte TOFF bei diesem Feinabgleich den Wertebereich des Parameters Verlassen,
so ist durch Veränderung von IT_F eine Gegenmaßnahme zu ergreifen und bei
TOFF erneut der Feinabgleich durchzuführen. Wird ein extra Temperatursensor
verwendet, werden die Parameter IT_F, VT_F und TOFF_F ermittelt.
Der P-Kanal dient der Aufbereitung der Messgröße für die Digitalisierung. Da die
Verbindung von Sensor S und Hilfssensor HS direkt, also ohne
Zwischenbondung, hergestellt wird und die Polarität der Brückenausgänge der
anzuschaltenden Sensorchips variieren kann, benötigt man eine wechselnde
Polarität der Differenzeingänge des Hilfssensor HS. Die Sensorbrücke wird mit
einem konstanten Strom gespeist. Der Nullpunktoffset einer Sensorbrücke verhält
sich dabei proportional zur Brückenspannung. Erfindungsgemäß wird dafür
gesorgt, dass das Sensorsignal weitestgehend von diesem Offset befreit wird.
Dies geschieht durch eine brückenspannungsabhängige Offsetkompensation. Es
sind Signalspannen von 10 mV bis 200 mV am Brückenausgang zu erwarten. Die
Verstärkung muss deshalb in einem großen Bereich einstellbar sein. Da die
Sensorsignale durchaus einen Nulldurchgang aufweisen, muss eine
Nullpunktverschiebung vorhanden sein, die es gestattet, den gesamten
Signalbereich auf den Eingang des AD-Umsetzers zu verschieben. Durch die
große Verstärkung innerhalb des P-Kanals wird eine Korrektur des Offsets der
Operationsverstärker erforderlich. Der T-Kanal muss ausgemessen werden, falls
dies noch nicht geschehen ist, um ihn als Spannungsmesser im P-Kanal zur
Bestimmung der Brückenspannung zu verwenden. Aufgrund des verwendeten
Drucksensors wird die Polarität am Differenzeingang eingestellt. Die Summe der
Offsetspannungen kann aufgrund einer hohen Verstärkung einen sehr großen
Anteil am Spannungssignal erreichen. Der Offset verursacht dabei eine
Verschiebung gegenüber dem Eingangsbereich des ADC. Durch eine Erweiterung
des Bereiches der ohnehin erforderlichen Nullpunktverschiebung, bei der
Verwendung von Sensoren mit Nulldurchgang, kann dies ausgeglichen werden.
Es ist bei der Kalibrierung notwendig, genau zwischen Sensoroffset und
Operationsverstärkeroffset zu unterscheiden. Die Bestimmung der Parameter
IP_F, P_OFF_F, VP_F und PNULL_F des P-Kanals zur Kalibrierung im P-Kanal
erfolgt wie folgt:
Der Brückenstrom wird so gewählt, dass bei Bezugstemperatur eine Spannung von ca. 2.4 V über der Sensorbrücke anliegt. Die Vorgehensweise ist direkt auf den Parameter IP zu übertragen. Für die Korrektur des Sensoroffsets muß ein Bezugswert gewonnen werden, der einer Eingangsspannung von 0 mV entspricht.
Der Brückenstrom wird so gewählt, dass bei Bezugstemperatur eine Spannung von ca. 2.4 V über der Sensorbrücke anliegt. Die Vorgehensweise ist direkt auf den Parameter IP zu übertragen. Für die Korrektur des Sensoroffsets muß ein Bezugswert gewonnen werden, der einer Eingangsspannung von 0 mV entspricht.
Dazu wird das Signal SET_PXCOM aktiviert. Die Sensoroffsetkompensation
wird dabei mit dem Parameter POFF ausgeschaltet. Um positive und negative
Offsets gleichzeitig erfassen zu können, verschiebt man den Nullpunkt des
Differenzeingangskanals um 50% in die Mitte des Eingangsbereichs des AD-
Umsetzers. Man kann für eine bessere Auflösung eine große Verstärkung wählen,
muss dabei aber kontrollieren, dass der Bezugswert nicht im Grenzbereich oder
gar außerhalb des ADC-Eingangsbereiches landet. Hat man aufgrund der
Operationsverstärkeroffsets den Bezugswert aufgenommen, deaktiviert man
SET_PXCOM und ermittelt bei gleicher Einstellung den Wert für die
Nullpunktspannung des Sensors. Aus der Differenz der aufgenommenen Werte,
ermittelt man die Offsetspannung am Eingang. Mit der Brückenspannung kann
man direkt den Wert für POFF ermitteln, den man durch eine Kontrollmessung
noch einmal bestätigt. Die Verstärkung wird zunächst aufgrund der zu
erwartenden Empfindlichkeit des Sensors gewählt. Da diese jedoch stark
schwanken kann, muss diese durch zwei Messungen von Null- und Nenndruck
mit einer geringeren Verstärkung gewonnen werden. (Skalierungsformel auf %
vom ADC-Bereich). Mit der gefundenen Verstärkung muss der Nullpunkt der
jeweiligen Anwendung entsprechend eingestellt werden
Werden die analogen Ausgänge verwendet, so müssen diese ausgemessen
werden. Der jeweilige Ausgang wird durch den Parameter TOEN_F bzw.
POEN_F aktiviert.
- - Offset, Koeffizienten E0 und F0, Skalierungsfaktoren E1 und F1 Um den konstanten Offset, Koeffizienten E0 und F0, zu bestimmen muss ein Referenzwert ausgegeben werden, der vermessen wird. Dazu setzt man die Parameter E1 und F1 auf null und E0 und F0 auf einen Wert. Durch einen Fusedump werden die Parameter übertragen. Wird der Berechnungszyklus aktiviert, werden die Werte von E0 und F0 an die DACs gegeben und sind dann an den analogen Ausgängen zu messen. Um die Verstärkungsfaktoren, Koeffizienten E1 und F1 zu bestimmen, wird ein zweiter Wert über E0 und F0 ausgegeben. Aus den beiden ermittelten Werten und dem gewünschten Zielbereich, kann man den Skalierungsfaktor E1 bzw. F1 bestimmen.
Für die analogen Eingangskanäle sind alle Parameter eingestellt. Somit kann mit
der Aufnahme des Kennfeldes begonnen werden. Es werden ausgewählte Druck-
und Temperaturpunkte angefahren und die Messwerte T_DIG und P_DIG
aufgenommen. Will man die Ausgangsstufe vollständig Temperaturkompensieren,
so muss bei jeder Temperaturstufe der analoge Ausgang einmal vermessen
werden.
Es erfolgt die Definition der Zielfunktionen für T- und P-Werte. Soll der
Temperaturgang der Ausgangsstufe berücksichtigt werden, muss dies bei der
Definition der Zielfunktion beachtet werden. Die aufgenommenen Kennwerte
werden durch ein geeignetes Verfahren expandiert. Jetzt erfolgt die Berechnung
der Koeffizienten.
Die berechneten Koeffizienten werden an den jeweiligen Sensor übertragen.
Durch das Anfahren einiger ausgewählter Punkte kann die korrekte Funktion
getestet werden. Abschließend werden die Parameter programmiert und nach
einem Neustart des Sensors zur Kontrolle noch einmal ausgelesen. Damit ist die
Kalibrierung abgeschlossen.
Die Forderung nach einer Versorgungsspannungsüberwachung ergibt aus den
folgenden Gründen. Ein sicheres Auslesen des Parameterspeichers SP über den
gesamten Temperaturbereich ist erst bei einer Versorgungsspannung ab 4 V
gewährleistet. Die Stromquellen zur Sensorspeisung erfordern für eine korrekte
Funktion eine Versorgungsspannung von mindestens 4,5 V. Eine zu niedrige
Versorgungsspannung lässt die Sensorströme zusammenbrechen und würde damit
die Messergebnisse Verfälschen bzw. ganz unbrauchbar machen. Die Generierung
eines RESET-Signals zum Zurücksetzen des Digitalteils ist on-chip notwendig,
da das System kein externes Reset-Signal erhält und nach dem Zuschalten der
Versorgungsspannung sofort seine Arbeit aufnehmen soll. Das Problem der
Versorgungsspannungsüberwachung wird erst durch das Zusammenwirken
mehrere Module gelöst, welche nachfolgend in der Tabelle zusammengestellt
sind:
Modul | |
Funktion | |
I_PORS | Power On Reset, Schaltschwelle ca. 3,7 V |
I_BG | Justierbare Bandgapreferenz |
I_PORD | Einschaltverzögerungselement |
I_WDVDDA | Versorgungsspannungsüberwachung mit zwei Schaltschwellen 4,4 V und 4,65 V |
Das erste Modul I_PORS ist ein Power On Reset und realisiert eine noch stark
von den Prozessparametern und der Temperatur abhängige Schaltschwelle von
ca. 3,7 V. Diese Schaltschwelle ist so gewählt, dass das Starten der Bandgap
sichergestellt ist. Das Signal PORS startet die Bandgap und wird verzögert.
Das zweite Modul Bandgap liefert eine nahezu temperaturunabhängige
Spannung, die zur Definition exakter Schaltschwellen im Modul I_WDVDDA
benötigt wird. Da die Ausgangsspannung der Bandgapzelle VBG durch
Prozessstreuung vom typischen Wert abweichen kann, wird eine justierbare
Variante eingesetzt. Ihr Parameter BGADJ wird im Parameterspeichers SP
gespeichert. Das Anlaufen der Bandgap wird durch verschiedene Faktoren in der
Zeitdauer beeinflusst. Das Signal BG_RUN zeigt an, dass die Bandgap gestartet
ist und die Referenzspannung einen gültigen Wert hat.
Im dritten Modul I_PORD wird die steigende Flanke von PORS am Eingang
XPD um eine gewisse Zeit verzögert und bildet das Signal PORD. Diese
Verzögerung wurde hauptsächlich eingesetzt, um das Resetsignal für den.
Digitalteil zu verbreitern. PORD schaltet das Modul I_WDVDDA zu und wird
außerdem noch genutzt als Resetsignal für den Digitalteil und als Power down-
Signal für die Stromreferenz und den Clockgenerator.
Das vierte Modul I_WDVDDA vergleicht die Referenzspannung der Bandgap
mit einer im festen Verhältnis zur analogen Versorgungsspannung stehenden
Spannung. Das Signal WDVDDA zeigt an, ob die durch THSEL gewählte
Schwelle überschritten wird. Zwei Schaltschwellen sind notwendig, da erst mit
der justierten Bandgap die knapp unter der zulässigen Versorgungsspannung
liegende 4,65 V Schaltschwelle realisiert werden kann. Für das Auslesen des
PROM genügt jedoch schon eine niedrigere Schwelle, bei der sich eine größere
positive Toleranz zur minimalen Versorgungsspannung gibt. Für diese Schwelle
kann die ungetrimmte Spannung der Bandgap verwendet werden (BGADJ = 0).
BGRUN und PORD werden mit WDVDDA zu VDDAOK verknüpft, so dass bei
noch nicht angelaufener Bandgap das durch die fehlende Referenz ungültige
WDVDDA-Signal korrekt ausgewertet wird. Da die Schwellenumschaltung durch
THSEL und die Umschaltung des Wertes BGADJ das Signal VDDAOK stören
kann, wird dies durch das Signal WDOVL während des Umschaltens überlagert.
Das Pad XSLEEP gestattet es, den Power on Reset I_PORS abzuschalten und so
jederzeit das ganze System trotz anliegender Versorgungsspannung anzuhalten,
Power down by Pad (PD by Pad). Das System weist in diesem Zustand eine
Stromaufnahme von wenigen µA auf.
In Fig. 4 ist der Signalverlauf der Spannungsüberwachung im Zusammenhang
mit dem Systemzustand in Abhängigkeit von der analogen Versorgungsspannung
UVDDA dargestellt (siehe auch den oben beschriebenen Ablauf beim Zuschalten
der Versorgungsspannung). Erst wenn die Versorgungsspannung 4,4 V übersteigt,
beginnt das Auslesen des Parameterspeichers SP. Ist der Lesevorgang
abgeschlossen und das System kalibriert, wird der richtige Wert zur Justage der
Bandgap BGADJ eingestellt und auf die höhere Schwelle umgeschaltet.
Gleichzeitig werden mit dem Signal PDANALOG die Sensorstromquellen,
Referenzspannungsverstärker und die beide Eingangskanäle zugeschaltet. Das
System kann mit dem Messen beginnen. Es ist im Zustand RUN. Sinkt die
Versorgungsspannung unter die obere Schaltschwelle, so bedeutet dies
Unterspannung. Die durch PDANALOG aktivierten Module werden nun
abgeschaltet. Das System befindet sich im STANDBY-Modus. Erst wenn die
Versorgungsspannung wieder für eine korrekte Funktion ausreicht, wird erneut in
den RUN-Modus gewechselt. Beim Abschälten der Versorgungsspannung
wechselt das System zunächst wieder in den STANDBY-Modus, bevor es durch
Unterschreiten der Schaltschwelle des Power On Reset I_PORS zurückgesetzt
wird. PORS wird in diesem Fall nicht verzögert. Das würde zu Fehler führen,
denn es würden Spannungseinbrüche überbrückt werden, bei denen ein Reset des
Digitalteils erforderlich ist.
Die Signale der Spannungsüberwachung und Resetgenerierung sind zusammen
mit einer Kurzbeschreibung in nachfolgender Tabelle aufgelistet:
Signal | |
Bemerkung | |
XSLEEP | Pad mit pull-up-Widerstand, low active |
XPD | Power down des jeweiligen Moduls, low active |
PORS | Power On Reset-Signal, statische Resetschwelle |
PORD | Einschaltverzögertes PORS-Signal; Reset für Digitalteil, Power Down für Stromreferenz und Clockgenerator |
VBG | Temperaturunabhängige Referenzspannung |
BGADJ | Parameter zum Trimmen der Bandgap |
THSEL | Schwellenauswahl Versorgungsspannungsüberwachung |
Da sich Störungen auf dem Signal VBG und der Versorgungsspannung direkt im
Signal VDDAOK bemerkbar machen, wird diese Signal über alle
Abtastzeitpunkte integriert. Das neue Signal heißt LOWPOWER. Wird
VDDAOK mit '1' abgetastet, wird die Summe inkrementiert ansonsten
dekrementiert. Eine Deaktivierung von LOWPOWER erfolgt, wenn die Summe
ihren Maximalwert von 3 erreicht. Reduziert sich die Summe auf den
Minimalwert 0, so wird LOWPOWER wieder aktiviert. Die Lage der
Abtastzeitpunkte hängt dabei vom Systemzustand ab. Während des Auslesens des
Parameterspeichers SP in der Initialisierungsphase wird bei jedem Bit einmal
abgetastet. Ist das System im RUN-Modus, wird am Ende eines jeden ADC-
Wandlungszyklusses VDDAOK abgetastet.
Im Vergleich zum bekannten Stand der Technik lieferten erste Tests sehr gute
Ergebnisse. Es wurde in der Anwendung eine Genauigkeit von 0,2% über den
gesamten Arbeitsbereich des Gesamtsystems von Sensor S und Hilfssensor HS
erzielt. Damit wurde bestätigt, dass durch die Polynomapproximation eine
Korrektur des. Kennfeldes von Sensoren durchgeführt werden kann.
Bei den Tests kam man bei bestimmten. Sensoren an die Grenzen der
Reproduzierbarkeit. Hystereseffekte der Sensoren beschränkten die Genauigkeit.
Die 10 Bit Genauigkeit des ADC-Umsetzers, wurde durch die analoge
Signalaufbereitung nicht reduziert. Weiterhin haben sich die Annahmen, die über
die zu erwartenden Bereiche der Koeffizienten gemacht wurden, bestätigt.
Das spezialisierte, reduzierte Rechenwerk R erfüllt die Aufgaben. Es zeigte sich,
dass kein programmierbarer Mikroprozessor für die Kennlinienkorrektur
eingesetzt werden muss, und es möglich ist die Polynome ohne zeitliche
Probleme zu berechnen. Das Rechenwerk R benötigt ca. 200 Takte, um die
Berechnung des T- und P-Polynoms durchzuführen. Lediglich die Clockfrequenz
bestimmt dabei die Dauer einer Berechnung. Der Digitalteil besteht aus ca. 6875
Gates.
Der Temperaturfehler der Ausgangstufe kann durch Berücksichtigung in der
Zielfunktion des digitalen Zwischenwertes eliminiert werden. Es hat sich bei den
Tests gezeigt, dass die im Schnittstellen-Protokoll vorgesehenen
Steuerungsmöglichkeiten notwendig und ausreichend sind. Weiterhin ist von
Vorteil, dass auch andere Schnittstellenprotokolle realisiert werden können, die
den Anwendungsbereich dieses Systems auf bestehende Anwendungen ausweiten
und dass die Stromaufnahme noch weiter gesenkt werden kann senken. Dadurch
können auch Batterieanwendungen und Anwendungen mit 4-20 mA
Stromschnittstelle realisiert werden und es besteht auch die Einsatzmöglichkeit
bei nicht auf dem piezoresistiven Effekt beruhenden Sensoren durch die
erfindungsgemäße Polynomapproximation.
Alle dargestellten und beschriebenen Ausführungsmöglichkeiten, sowie alle in
der Beschreibung und/oder der Zeichnung offenbarten neuen Einzelmerkmale
und ihre Kombination untereinander, sind erfindungswesentlich. Beispielsweise
können bei der Realisierung der hochpräzisen Stromquelle zur Sensorspeisung
auch programmierbare Verstärker mit Offsetkompensation benutzt werden; die
Bestimmung der Koeffizienten für den Sensor durch Minimierung der
Fehlerfunktion kann entweder - wie beschrieben - durch Minimierung der
Fehlerquadrate oder durch Minimierung des absoluten Fehlers oder durch
Minimierung des maximalen absoluten Fehlers erfolgen u. a.
Claims (8)
1. Selbstkalibrierendes Meßsystem mit einem Sensor (S) und einer im
Ausgangskreis des Sensors (S) liegenden Kalibrierungsschaltung, dadurch
gekennzeichnet, dass die Kalibrierungsschaltung als Hilfssensor (HS) mit
Eingangs- und Ausgangsstufen (E, A), mit einem Rechenwerk (R) und einem
mit diesem verbundenen Parameterspeicher (SP) ausgestaltet und zusammen
mit dem Sensor (S) in einem Chip (CH) integriert ist, dass bei der Erst-
Inbetriebnahme des Meßsystems mittels Rechenwerk (R) und Zentralrechner,
welcher über mindestens eine Busleitung mit dem Rechenwerk (R) in
Verbindung steht, während eines Kalibriervorgangs Kalibrierungspunkte des
temperaturabhängigen Kennlinienfelds aufgenommen und nur einige
kennliniencharakteristische Kalibrierungspunkte in dem Parameterspeicher
(SP) des Hilfssensors (HS) abgespeichert werden und dass beim erneuten
Anlegen der Versorgungsspannung an den Chip (CH), der Parameterspeicher
(SP) ausgelesen und Offset, Nichtlinearitäten und Temperaturgang des
Sensors (S) sowie Nichtlinearitäten der Eingangs- und Ausgangsstufen (E, A)
kompensiert werden, wodurch die Kalibrierung des Meßsystems durch
Benutzung der Steuer- und Meßfunktionen des Hilfssensors (HS) erfolgt.
2. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass das Rechenwerk (R) durch Interpolation die Anzahl
der Kalibrierungspunkte im Kennlinienfeld Vergrößert, die Koeffizienten zur
Polynomberechnung ermittelt, die ermittelten Koeffizienten durch
Stichprobenmessung überprüft und eine Skalierung der analogen
Ausgangswerte durchführt.
3. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach Anspruch 1 und 2, dadurch
gekennzeichnet, dass als Parameterspeicher (SP) ein Zener-PROM benutzt
wird, wobei die analogen Parameter am Anfang der Registerkette gespeichert
sind und die Multiplexer, welche den Koeffizienten auswählen, im
Layoutbereich des Zener-PROM mit untergebracht sind.
4. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach Anspruch 1 und 2, dadurch
gekennzeichnet, dass der Chip (CH) eine Sensorbrücke oder einen neben
oder auf dem Sensor (S) angebrachten Temperatursensor aufweist und dass
die Temperaturabhängigkeit der Brückenspannung oder die Spannung über
dem Temperatursensor bei Bezugstemperatur zur Erfassung der Störgröße
Temperatur als Temperatursignal genutzt wird, wodurch die Störgröße mit
der gleichen Genauigkeit wie die Meßgröße erfaßt wird.
5. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass zur Speisung von Sensor (S) und Hilfssensor (HS)
mindestens ein programmierbarer Stromspiegel (CS) vorgesehen ist, welcher
einen temperaturstabilen Referenzstrom vervielfacht und dass zur Offset-
und Nullpunktverschiebung die gleiche Stromreferenz benutzt wird, wobei
die Schrittweite der Offsetverschiebung nach Maßgabe einer weiteren
Teilung durch nachgeschaltete programmierbare Stromspiegel (CS) und die
Nullpunktverschiebung mit unterschiedlichen Teilerverhältnissen erfolgt.
6. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass während der Kalibrierung die Steuerung des
Meßsystems über eine serielle Schnittstelle mit IIC-Protokoll (IIC) erfolgt,
wobei der Hilfssensor (HS) als Slave arbeitet.
7. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass eine Versorgungsspannungs
überwachung mit Einschaltverzögerung und mit justierbarer
temperaturunabhängiger Spannungsreferenz vorgesehen ist, wodurch ein
sicheres Auslesen des Zener-PROM (SP) über den gesamten
Temperaturbereich und die richtige Funktion der Stromquellen zur Speisung
von Sensor (S) und Hilfssensor (HS) gewährleistet ist.
8. Selbstkalibrierendes Meßsystem nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass zur Ausgabe der berechneten Werte
für Temperatur und Brückensignal zwei schaltbare analoge Ausgangsstufen
(A) vorgesehen sind und dass für Kalibrierungszwecke die Ausgangsstufen
(A) abgeschaltet und an den analogen Ausgängen die temperaturunabhängige
Spannungsreferenz und der Systemtakt zur Verfügung gestellt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000164859 DE10064859A1 (de) | 2000-12-23 | 2000-12-23 | Sensor mit Hilfssensor zur Selbstkalibrierung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000164859 DE10064859A1 (de) | 2000-12-23 | 2000-12-23 | Sensor mit Hilfssensor zur Selbstkalibrierung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10064859A1 true DE10064859A1 (de) | 2002-07-04 |
Family
ID=7668864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2000164859 Ceased DE10064859A1 (de) | 2000-12-23 | 2000-12-23 | Sensor mit Hilfssensor zur Selbstkalibrierung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10064859A1 (de) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10254391A1 (de) * | 2002-11-21 | 2004-06-03 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Schaltungsanordnung sowie mit dieser Schaltungsanordnung ausgestattetes Winkel- bzw. Längenmessgerät |
EP1493997A2 (de) | 2003-07-04 | 2005-01-05 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Sicherung der Qualität der Messwertaufnahme eines Sensors |
DE102004049838B4 (de) * | 2004-10-13 | 2007-06-14 | Daimlerchrysler Ag | Messsystem zur Messgenauigkeitsprüfung einer Messeinrichtung und entsprechendes Verfahren |
EP2012092A1 (de) * | 2007-07-04 | 2009-01-07 | Micronas GmbH | Messvorrichtung mit mindestens zwei Sensoren |
DE102007044471A1 (de) * | 2007-09-18 | 2009-04-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur abschnittsweisen Bestimmung eines parameterabhängigen Korrekturwertnäherungsverlaufs und Sensoranordnung |
DE102006026264A1 (de) * | 2006-06-02 | 2009-04-02 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Messanordnung und Verwendung der Messanordnung |
DE202008011848U1 (de) | 2008-09-04 | 2010-02-11 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
Citations (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3142468A1 (de) * | 1980-10-28 | 1982-06-24 | Hans 6343 Rotkreuz Gügler | Verfahren und einrichtung zur erfassung, aufzeichnung und auswertung von physikalischen messdaten |
DE3128095A1 (de) * | 1981-07-16 | 1983-02-03 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | "verfahren zur digitalen korrektur des zusammenhanges zwischen einem digitalen eingangssignal und einem digitalen ausgangssignal sowie schaltungsanordnung zur durchfuehrung dieses verfahrens" |
DE3309802A1 (de) * | 1983-03-18 | 1984-09-20 | Audi Nsu Auto Union Ag, 7107 Neckarsulm | Elektronisches system fuer kraftfahrzeuge |
DE3429854A1 (de) * | 1983-08-23 | 1985-03-14 | Zahnradfabrik Friedrichshafen Ag, 7990 Friedrichshafen | Gleichspannungs-messeinrichtung mit offsetspannungskompensation |
DE3427743A1 (de) * | 1984-07-27 | 1986-02-06 | Keller AG für Druckmeßtechnik, Winterthur | Verfahren zur temperaturkompensation und messschaltung hierfuer |
DE3446248A1 (de) * | 1984-12-19 | 1986-06-19 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Sensor zur messung physikalischer groessen und verfahren zum abgleich des sensors |
GB2183342A (en) * | 1985-10-24 | 1987-06-03 | Johnson Matthey Plc | Displaying corrected transducer readings |
DE3634854A1 (de) * | 1986-10-13 | 1988-04-14 | Degussa | Verfahren und vorrichtung zur erzeugung einer einheitlichen kennlinie fuer sensoren |
DE3943386A1 (de) * | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Leipzig Tech Hochschule | Verfahren zur selbstkalibrierung von messsystemen |
DE4311614A1 (de) * | 1992-04-11 | 1993-10-14 | Elcometer Instr Ltd | Meßinstrument |
WO1994012940A1 (en) * | 1992-11-25 | 1994-06-09 | Mcbean Ronald V | Instrumentation system with multiple sensor modules |
DE4310384A1 (de) * | 1993-03-30 | 1994-10-06 | Abstron Electronics Gmbh | Verfahren zur digitalen Driftkompensation in einer Ladungsverstärkerschaltung |
US5361218A (en) * | 1992-08-11 | 1994-11-01 | Itt Corporation | Self-calibrating sensor |
US5365768A (en) * | 1989-07-20 | 1994-11-22 | Hitachi, Ltd. | Sensor |
DE4418059A1 (de) * | 1993-05-25 | 1994-12-01 | Weber Srl | Umsetzungs- und Meßeinheit |
DE4401525A1 (de) * | 1993-12-24 | 1995-07-13 | Impac Electronic Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Linearisieren elektrischer Meßsignale |
DE4410705A1 (de) * | 1994-03-28 | 1995-10-05 | Christof Kaufmann | Verfahren und Vorrichtung zur Ausschaltung von Meßfehlern eines wenigstens, einen Sensor aufweisenden Meßsystems infolge von Störeinflüssen durch Wertzuordnung unter vollständiger interner Linearisierung der Meßsignale |
DE19547281A1 (de) * | 1994-12-27 | 1996-07-04 | Gegauf Fritz Ag | Meßanordnung, Verfahren zur Herstellung derselben und Meßverfahren |
DE19612660A1 (de) * | 1996-03-29 | 1997-10-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Optische Sensorvorrichtung mit Störsignalkompensation |
DE29800404U1 (de) * | 1998-01-13 | 1998-04-16 | Bkm Kaeltemechanik Bobbau Gmbh | Kontrollarmatur zum Messen, Kontrollieren und Auswerten physikalischer Parameter von im Kreislauf geführten gasförmigen und/oder flüssiggasförmigen Druckmedien |
DE3917979C2 (de) * | 1989-06-02 | 1998-05-07 | Bosch Gmbh Robert | Emulationsvorrichtung für ein Steuergerät, insbesondere ein Zünd- und/oder Einspritzsteuergerät für Brennkraftmaschinen |
DE19707263A1 (de) * | 1997-02-24 | 1998-08-27 | Siemens Ag | Selbstkalibrierende Sensoranordnung |
DE19722744A1 (de) * | 1997-05-30 | 1998-12-03 | Draegerwerk Ag | Detektionssystem mit austauschbaren Sensoren |
DE29903260U1 (de) * | 1999-02-23 | 2000-04-13 | Siemens Ag | Meßumformer |
-
2000
- 2000-12-23 DE DE2000164859 patent/DE10064859A1/de not_active Ceased
Patent Citations (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3142468A1 (de) * | 1980-10-28 | 1982-06-24 | Hans 6343 Rotkreuz Gügler | Verfahren und einrichtung zur erfassung, aufzeichnung und auswertung von physikalischen messdaten |
DE3128095A1 (de) * | 1981-07-16 | 1983-02-03 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | "verfahren zur digitalen korrektur des zusammenhanges zwischen einem digitalen eingangssignal und einem digitalen ausgangssignal sowie schaltungsanordnung zur durchfuehrung dieses verfahrens" |
DE3309802A1 (de) * | 1983-03-18 | 1984-09-20 | Audi Nsu Auto Union Ag, 7107 Neckarsulm | Elektronisches system fuer kraftfahrzeuge |
DE3429854A1 (de) * | 1983-08-23 | 1985-03-14 | Zahnradfabrik Friedrichshafen Ag, 7990 Friedrichshafen | Gleichspannungs-messeinrichtung mit offsetspannungskompensation |
DE3427743A1 (de) * | 1984-07-27 | 1986-02-06 | Keller AG für Druckmeßtechnik, Winterthur | Verfahren zur temperaturkompensation und messschaltung hierfuer |
DE3446248A1 (de) * | 1984-12-19 | 1986-06-19 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Sensor zur messung physikalischer groessen und verfahren zum abgleich des sensors |
GB2183342A (en) * | 1985-10-24 | 1987-06-03 | Johnson Matthey Plc | Displaying corrected transducer readings |
DE3634854A1 (de) * | 1986-10-13 | 1988-04-14 | Degussa | Verfahren und vorrichtung zur erzeugung einer einheitlichen kennlinie fuer sensoren |
DE3943386A1 (de) * | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Leipzig Tech Hochschule | Verfahren zur selbstkalibrierung von messsystemen |
DE3917979C2 (de) * | 1989-06-02 | 1998-05-07 | Bosch Gmbh Robert | Emulationsvorrichtung für ein Steuergerät, insbesondere ein Zünd- und/oder Einspritzsteuergerät für Brennkraftmaschinen |
US5365768A (en) * | 1989-07-20 | 1994-11-22 | Hitachi, Ltd. | Sensor |
DE4311614A1 (de) * | 1992-04-11 | 1993-10-14 | Elcometer Instr Ltd | Meßinstrument |
US5361218A (en) * | 1992-08-11 | 1994-11-01 | Itt Corporation | Self-calibrating sensor |
WO1994012940A1 (en) * | 1992-11-25 | 1994-06-09 | Mcbean Ronald V | Instrumentation system with multiple sensor modules |
DE4310384A1 (de) * | 1993-03-30 | 1994-10-06 | Abstron Electronics Gmbh | Verfahren zur digitalen Driftkompensation in einer Ladungsverstärkerschaltung |
DE4418059A1 (de) * | 1993-05-25 | 1994-12-01 | Weber Srl | Umsetzungs- und Meßeinheit |
DE4401525A1 (de) * | 1993-12-24 | 1995-07-13 | Impac Electronic Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Linearisieren elektrischer Meßsignale |
DE4410705A1 (de) * | 1994-03-28 | 1995-10-05 | Christof Kaufmann | Verfahren und Vorrichtung zur Ausschaltung von Meßfehlern eines wenigstens, einen Sensor aufweisenden Meßsystems infolge von Störeinflüssen durch Wertzuordnung unter vollständiger interner Linearisierung der Meßsignale |
DE19547281A1 (de) * | 1994-12-27 | 1996-07-04 | Gegauf Fritz Ag | Meßanordnung, Verfahren zur Herstellung derselben und Meßverfahren |
DE19612660A1 (de) * | 1996-03-29 | 1997-10-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Optische Sensorvorrichtung mit Störsignalkompensation |
DE19707263A1 (de) * | 1997-02-24 | 1998-08-27 | Siemens Ag | Selbstkalibrierende Sensoranordnung |
DE19722744A1 (de) * | 1997-05-30 | 1998-12-03 | Draegerwerk Ag | Detektionssystem mit austauschbaren Sensoren |
DE29800404U1 (de) * | 1998-01-13 | 1998-04-16 | Bkm Kaeltemechanik Bobbau Gmbh | Kontrollarmatur zum Messen, Kontrollieren und Auswerten physikalischer Parameter von im Kreislauf geführten gasförmigen und/oder flüssiggasförmigen Druckmedien |
DE29903260U1 (de) * | 1999-02-23 | 2000-04-13 | Siemens Ag | Meßumformer |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
DE-Z: MARX, W.R.: Einsatz von Mikroprozessoren in Gasanalysegeräten. In: messen prüfen automatisie- ren, 1988, H. 5, S. 250-257 * |
GB-Z: BRIGNELL, J.E., DOREY, A.P.: Sensors for microprocessor-based applications. In: J.Phys.E: Sci.Instrum., 1983, Vol. 16, S. 952-958 * |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10254391A1 (de) * | 2002-11-21 | 2004-06-03 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Schaltungsanordnung sowie mit dieser Schaltungsanordnung ausgestattetes Winkel- bzw. Längenmessgerät |
DE10254391B4 (de) * | 2002-11-21 | 2016-05-12 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Schaltungsanordnung sowie mit dieser Schaltungsanordnung ausgestattetes Winkel- bzw. Längenmessgerät |
EP1493997A2 (de) | 2003-07-04 | 2005-01-05 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Sicherung der Qualität der Messwertaufnahme eines Sensors |
DE102004049838B4 (de) * | 2004-10-13 | 2007-06-14 | Daimlerchrysler Ag | Messsystem zur Messgenauigkeitsprüfung einer Messeinrichtung und entsprechendes Verfahren |
DE102006026264A1 (de) * | 2006-06-02 | 2009-04-02 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Messanordnung und Verwendung der Messanordnung |
DE102006026264B4 (de) * | 2006-06-02 | 2009-12-10 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Messanordnung und Verwendung der Messanordnung |
EP2012092A1 (de) * | 2007-07-04 | 2009-01-07 | Micronas GmbH | Messvorrichtung mit mindestens zwei Sensoren |
US8329104B2 (en) | 2007-07-04 | 2012-12-11 | Micronas Gmbh | Measurement device with at least one sensor |
DE102007044471A1 (de) * | 2007-09-18 | 2009-04-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur abschnittsweisen Bestimmung eines parameterabhängigen Korrekturwertnäherungsverlaufs und Sensoranordnung |
US8311760B2 (en) | 2007-09-18 | 2012-11-13 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. | Method for determining, section after section, a parameter-dependent correction value approximation course and sensor arrangement |
DE202008011848U1 (de) | 2008-09-04 | 2010-02-11 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
EP2161592A1 (de) | 2008-09-04 | 2010-03-10 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0324067B1 (de) | Messwertaufnehmer | |
DE112009005104B4 (de) | Prozess-, Spannungs- und Temperatursensor | |
DE10196182B4 (de) | Prozesssteuergeber mit einem extern zugänglichen gemeinsamen Schaltungsnullpunkt und Verfahren zur Herstellung eines Prozesssteuergebers | |
DE102007008226B4 (de) | Frequenzverhältnis-Digitalisierungs-Temperatursensor mit Linearitätskorrektur | |
DE19846461B4 (de) | Sensoreinstellschaltung | |
EP0883097B1 (de) | Anordnung zur Signalübertragung zwischen einer Geberstelle und einer Empfangsstelle | |
DE69815203T2 (de) | Sensor mit Netzwerk zur thermischen Kompensation | |
EP0892249A1 (de) | Messanordnung | |
EP1500992B1 (de) | Anordnung zur Bedienung von Feldgeräten einer betriebstechnischen Anlage eines Gebäudes | |
DE102007035710A1 (de) | Messumformer und Stellungsregler zum Anschließen an eine Zweileiter-Stromschleife sowie deren Verwendung | |
DE3832145A1 (de) | Verfahren und schaltungsanordnung zur messung kleiner elektrischer signale | |
DE10064859A1 (de) | Sensor mit Hilfssensor zur Selbstkalibrierung | |
EP0263305B1 (de) | Schaltungsanordnung zur Beeinflussung von Signalen | |
DE10156026B4 (de) | Komparatorschaltung sowie Verfahren zum Bestimmen eines Zeitintervalls | |
DE10331078B4 (de) | Einrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe | |
EP0045737A2 (de) | Temperaturregeleinrichtung für Klima- bzw. Heizanlagen, vorzugsweise in Eisenbahnfahrzeugen | |
EP1156299B1 (de) | Messumformer für potentiometrische Positionssensoren und Verfahren zur Parametrierung | |
EP0758739A1 (de) | Sensormodul | |
DE102004042077A1 (de) | Integrierte Schaltung zur Verwendung mit einem externen Hall-Sensor, und Hall-Sensormodul | |
DE4446775B4 (de) | Verfahren zur Kompensation der thermischen Offsetdrift von Sensoren | |
EP2936078A1 (de) | Verfahren zur stabilisierung der taktfrequenz eines microcontrollers | |
JPH07286910A (ja) | 温度変換器 | |
DE19934489C2 (de) | Schaltung zum Auswerten von Thermoelement-Messsignalen | |
DE10133525A1 (de) | Sensor mit Selbst-Test-Funktion | |
DE4016922A1 (de) | Elektrischer messumformer nach dem zwei-draht-verfahren |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: IAD GESELLSCHAFT FUER INFORMATIK, AUTOMATISIER, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: IAD GESELLSCHAFT FUER INFORMATIK, AUTOMATISIER, DE Free format text: FORMER OWNER: MAZ MIKROELEKTRONIK-ANWENDUNGSZENTRUM GMBH, 14542 WERDER, DE Effective date: 20110221 |
|
R011 | All appeals rejected, refused or otherwise settled | ||
R003 | Refusal decision now final |
Effective date: 20120712 |