DE10045193A1 - Entwärmungssystem mit einer Mehrzahl von elektrisch gegeneinander isolierten Halbleiterchips sowie Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem - Google Patents
Entwärmungssystem mit einer Mehrzahl von elektrisch gegeneinander isolierten Halbleiterchips sowie Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips an ein EntwärmungssystemInfo
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Abstract
Durch ein direktes Aufsetzen von einzelnen Halbleiterchips auf elektrisch voneinander isolierte Kühlsysteme eines Kühlkörpers wird eine optimale thermische Ankopplung an die Umgebung und somit eine Steigerung der thermischen Effizienz des Halbleiterchips erreicht. Des weiteren wird der Gesamtaufbau eines Entwärmungssystems vereinfacht, indem die Zahl der erforderlichen Komponenten reduziert wird, was eine erhebliche Kosteneinsparung mit sich bringt.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Entwärmungssystem mit ei
ner Mehrzahl von elektrisch gegeneinander isolierten Halblei
terchips, die thermisch und mechanisch mit einem Kühlkörper
verbunden sind.
Bekannte Prinzipien zur thermischen Ankopplung von einer
Mehrzahl von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem sowie
die damit verbundene elektrische und mechanische Anschluss
technik sind sehr aufwendig. Dies wird insbesondere über
additive Komponenten wie Chip-Gehäuse, DCB (Design Copper
Bonding), also das Aufbringen der aus mehreren Halbleiter
chips gebildeten Schaltungsstruktur auf eine in der Regel
kupferne Gehäusebodenplatte mit Hilfe der bekannten Bonding-
Technik, das Anschließen der Anschlusspins und die Verarbei
tung verschiedener Verbindungsplatten zum Kühlkörper reali
siert.
Nach dem bekannten Stand der Technik wird das Problem der
thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips
an ein Entwärmungssystem über modulintegrierte Halbleiter
chips oder das bereits angesprochene DCB auf Kühlplatten ge
löst. Über Schraubverbindungen und zusätzliche oder alterna
tive Lötverbindungen wird dann die elektrische und die mecha
nische Anschlusstechnik für einen stabilen Aufbau realisiert.
Daraus werden bereits der Aufwand und damit verbunden die ho
hen Kosten herkömmlicher Lösungen deutlich.
Große Bedeutung kommt dabei der elektrischen Isolierung zwi
schen den unterschiedlichen Halbleiterchips der Schaltung zu.
Außerdem muss eine elektrische Isolierung zum Entwärmungssys
tem gewährleistet werden. Hierzu ist nach herkömmlichen Kon
zepten eine zusätzliche Isolierung erforderlich, die sich
wiederum negativ auf die Kosten auswirkt.
Herkömmliche Lösungen realisieren diese Anforderungen mit ho
hem Kostenaufwand sowie mit Einschränkungen im Hinblick auf
die Entwärmungsqualität und die Flexibilität der elektrischen
und mechanischen Anschlusstechnik.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, die Anzahl
der eingangs angeführten additiven Komponenten zu reduzieren,
den Gesamtaufbau des genannten Entwärmungssystems zu verein
fachen und den hohen Kostenaufwand zu reduzieren.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe durch ein Entwärmungs
system mit einer Mehrzahl von elektrisch gegeneinander iso
lierten Halbleiterchips gelöst, die thermisch und mechanisch
mit einem Kühlkörper verbunden sind, indem jeder Halbleiter
chip thermisch und mechanisch auf einem eigenen Kühlsystem
aufgebracht ist und mehrere solche Kühlsysteme innerhalb des
Kühlkörpers elektrisch voneinander isoliert sind.
Zudem wird die Aufgabe der Erfindung durch ein Verfahren zur
thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips
an ein Entwärmungssystem mit einem Kühlkörper gelöst, wobei
die Halbleiterchips jeweils elektrisch voneinander isoliert
sind, wobei der Kühlkörper in mindestens der Anzahl der Halb
leiterchips entsprechende elektrisch voneinander isolierte
Kühlsysteme aufgeteilt wird und jeder Halbleiterchip direkt
auf ein diesem zugeordnetes Kühlsystem so aufgebracht wird,
dass der Halbleiterchip thermisch und mechanisch mit dem je
weiligen Kühlsystem verbunden wird.
Nach einer ersten vorteilhaften Ausgestaltung des Verfahrens
nach der Erfindung wird der jeweilige Halbleiterchip direkt
auf das zugeordnete Kühlsystem aufgelötet oder aufgeklebt.
Es hat sich als besonders vorteilhaft erwiesen, wenn jedes
Kühlsystem aus einem Körper mit hohem Wärmeleitkoeffizienten,
insbesondere einem Aluminiumkörper, besteht, auf den der je
weilige Halbleiterchip direkt aufgelötet oder aufgeklebt ist.
Das direkte Aufsetzen von einzelnen Halbleiterchips auf elek
trisch voneinander isolierte Kühlsysteme bringt unter anderem
den Vorteil einer wesentlich verbesserten thermischen Anbin
dung an die Umgebung und damit verbunden auch eine Steigerung
der thermischen Effizienz des Halbleiterchips selbst mit
sich. Durch die Erfindung lässt sich somit also auch die
Leistungsfähigkeit des Halbleiterchips steigern bzw. der
Halbleiterchip an einer höheren Leistungsgrenze betrieben.
Als besonders vorteilhaft hat es sich erwiesen, die einzelnen
Kühlsysteme innerhalb eines Kühlkörpers durch Zwischenisolie
rungen aus Keramik elektrisch voneinander zu isolieren.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung
sind die einzelnen Kühlsysteme innerhalb eines Kühlkörpers
durch Zwischenisolierungen aus Luft elektrisch voneinander
isoliert.
Durch das beschriebene Entwärmungssystem und das Verfahren
zur thermischen Anbindung von Halbleiterchips nach der Erfin
dung wird, neben den bereits angeführten Vorteilen, der Ge
samtaufbau wesentlich vereinfacht und es kann die Zahl der
eingangs angeführten additiv notwendigen Zusatzkomponenten
für bekannte Entwärmungssysteme reduziert werden.
Weitere Vorteile und Details der Erfindung ergeben sich an
hand des im folgenden beschriebenen Ausführungsbeispiels,
welches einer bekannten Lösung nach dem Stand der Technik ge
genübergestellt wird. Dabei sind Elemente mit gleicher Funk
tionalität mit denselben Bezugszeichen gekennzeichnet.
Es zeigt:
Fig. 1 Schematischer Aufbau eines erfindungsgemäßen Ent
wärmungssystems für eine Mehrzahl von Halbleiter
chips und
Fig. 2 Schematischer Aufbau eines herkömmlichen Entwär
mungssystems.
Des besseren Verständnisses halber soll im folgenden zunächst
der Aufbau eines herkömmlichen Entwärmungssystems, wie es in
der Darstellung nach Fig. 2 gezeigt ist, näher erläutert wer
den.
Gezeigt sind sechs Halbleiter-Einzelchips 1 bis 6, von denen
die Halbleiterchips 1, 2 und 3 miteinander in direkter schal
tungstechnischer Verbindung stehen. Diese Halbleiter-Einzel
chips sind über entsprechende thermische und mechanische Ver
bindungen 1a, 4a, 5a, 6a mit einer gemeinsamen Zwischeniso
lierungsschicht 8 verbunden. Die drei verbundenen Halbleiter-
Einzelchips 1 bis 3 sind über eine gemeinsame Verbindungs
schicht 1a auf die Oberfläche der Zwischenisolierungsschicht
8 aufgebracht, insbesondere aufgelötet, aufgeklebt oder auch
aufgeschweißt. Gleiches gilt für die übrigen Halbleiter-Ein
zelchips 4 bis 6, welche über jeweilige Verbindungen 4a bis
6a, auf die Zwischenisolierungsschicht 8 aufgebracht sind.
Die Zwischenisolierungsschicht 8 besteht beispielsweise aus
Keramik und muss über eine gute thermische Anbindung verfü
gen, was durch die Lötung, Klebung oder Verschweißung 1a, 4a,
5a und 6a mehr oder weniger gut erreicht wird. Über diese
Zwischenisolierungsschicht werden, was bereits der Name deut
lich macht, die Halbleiter-Einzelchips elektrisch gegeneinan
der isoliert.
Die Zwischenisolierungsschicht 8 wiederum ist mit ihrer ent
gegengesetzten Oberfläche über eine weitere Verbindungs
schicht 9 mit einer Gehäusebodenplatte 10 verbunden. Es han
delt sich erneut um eine thermische und mechanische Verbin
dung, z. B. durch Verlöten, Kleben oder Aufschweißen.
Die Gehäusebodenplatte 10 besteht in der Regel aus Metall,
insbesondere aus Kupfer, und trägt das Gehäuse 12 in das die
Halbleiter-Einzelchips mit der Zwischenisolierungsschicht
eingebettet sind, z. B. ein Kunststoffgehäuse, in welches
diese eingegossen sind.
Die Gehäusebodenplatte 10 wiederum ist über eine weitere
thermische und mechanische Verbindungsschicht 11 mit dem ei
gentlichen Kühlkörper 7 verbunden, über den die von den Halb
leiter-Einzelchips 1 bis 6 produzierte Wärme an die Umgebung
abgeführt wird. Der Kühlkörper kann beispielsweise aus Alumi
nium bestehen und zur Oberflächenvergrößerung Kühlrippen auf
weisen.
Die Verbindung zwischen Gehäusebodenplatte 10 und Kühlkörper
7 wird thermisch z. B. über eine Wärmeleitpaste, mechanisch
z. B. über eine Klebung oder Verschraubung hergestellt.
Anhand dieser "Sandwichstruktur" wird deutlich, wie viele
Komponenten und Schichten additiv erforderlich sind, um ein
ausreichend effektives Entwärmungssystem zu erhalten. Insbe
sondere die Anforderungen an die Zwischenschicht 8 hinsicht
lich einer guten thermischen Anbindung sind hoch.
Dem wirkt das Entwärmungskonzept nach der vorliegenden Erfin
dung entgegen, wobei in der Darstellung nach Fig. 1 eine mög
liche Ausführungsform eines solchen erfindungsgemäßen Entwär
mungssystems gezeigt ist. Soweit die Bauelemente oder deren
Funktionen übereinstimmen, sind die gleichen Bezugszeichen
gewählt wie in Fig. 2.
Es sollen die gleichen Halbleiter-Einzelchips 1 bis 6 gekühlt
werden, wobei die Halbleiter-Einzelchips 1 bis 3 wiederum
miteinander in direkter schaltungstechnischer Verbindung ste
hen. Anders als nach dem herkömmlichen Entwärmungskonzept
werden die jeweiligen Halbleiter-Einzelchips 1 bis 6 nunmehr
jedoch über eine thermische und mechanische Verbindung direkt
auf den Kühlkörper aufgebracht, z. B. über eine Lötung oder
Klebung. Der Kühlkörper besteht beispielsweise ebenfalls aus
Aluminium.
Damit die erforderliche elektrische Isolierung zwischen den
Halbleiter-Einzelchips 1 bis 3 und 4, 5, 6 gewährleistet
wird, ist der Kühlkörper jedoch in diesen zugeordnete sepa
rate Kühlsysteme 7a für die Halbleiter-Einzelchip-Gruppe 1
bis 3, 7b für den Halbleiter-Einzelchip 4, 7c für den Halb
leiter-Einzelchip 5 und 7d für den Halbleiter-Einzelchip 6
untergegliedert.
Diese vier separaten Kühlsysteme 7a bis 7d sind durch ent
sprechende Zwischenisolierungen 8a, 8b, 8c elektrisch vonein
ander isoliert. Dabei isoliert die Zwischenisolierung 8a die
beiden Kühlsysteme 7a und 7b gegeneinander, die Zwischeniso
lierung 8b die beiden Kühlsysteme 7b und 7c sowie die Zwi
schenisolierung 8c die beiden Kühlsysteme 7c und 7d.
Vorteilhaft ist hierbei vor allem, dass die Anforderungen an
die Zwischenisolierungen 8a bis 8c geringer sind als an die
Zwischenisolierungsschicht 8 des Standes der Technik nach
Fig. 2. Die Zwischenisolierungen 8a bis 8c müssen nämlich nur
eine elektrische Isolierung gewährleisten, jedoch keine gute
thermische Anbindung gewährleisten. Dies erleichtert die Aus
wahl geeigneter Isolatormaterialien, insbesondere sind güns
tigere Isolierstoffe einsetzbar.
Auch ist eine bessere Entwärmung der Halbleiter-Einzelchips
möglich, weil keine Zwischenschicht 8 zwischen Einzelchip und
Kühlkörper 7 notwendig ist, die auch bei einer guten thermi
schen Anbindung schlechtere Wärmeleiteigenschaften aufweist
als eine direkte thermische und mechanische Anbindung der
Halbleiter-Einzelchips an den Kühlkörper bzw. dessen jeweili
ges Kühlsystem 7a bis 7d. Aufgrund der besseren Kühlwirkung
lassen sich die Halbleiterchips somit bei einem Entwärmungs
system nach der vorliegenden Erfindung an einer höheren Leis
tungsgrenze betrieben, wodurch auch die technischen Eigen
schaften einer elektronischen Schaltung positiv beeinflusst
werden.
Claims (6)
1. Entwärmungssystem mit einer Mehrzahl von elektrisch gegen
einander isolierten Halbleiterchips, die thermisch und mecha
nisch mit einem Kühlkörper verbunden sind,
dadurch gekennzeichnet, dass
jeder Halbleiterchip thermisch und mechanisch auf einem eige
nen Kühlsystem aufgebracht ist und mehrere solche Kühlsysteme
innerhalb des Kühlkörpers elektrisch voneinander isoliert
sind.
2. Entwärmungssystem nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, dass
jedes Kühlsystem aus einem Körper mit hohem Wärmeleitkoeffi
zienten, insbesondere einem Aluminiumkörper, besteht, auf den
der jeweilige Halbleiterchip direkt aufgelötet oder aufge
klebt ist.
3. Entwärmungssystem nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass
die einzelnen Kühlsysteme innerhalb eines Kühlkörpers durch
Zwischenisolierungen aus Keramik elektrisch voneinander iso
liert sind.
4. Entwärmungssystem nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass
die einzelnen Kühlsysteme innerhalb eines Kühlkörpers durch
Zwischenisolierungen aus Luft elektrisch voneinander isoliert
sind.
5. Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl
von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem mit einem Kühl
körper, wobei die Halbleiterchips jeweils elektrisch vonein
ander isoliert sind,
dadurch gekennzeichnet, dass
der Kühlkörper in mindestens der Anzahl der Halbleiterchips
entsprechende elektrisch voneinander isolierte Kühlsysteme
aufgeteilt wird und jeder Halbleiterchip direkt auf ein die
sem zugeordnetes Kühlsystem so aufgebracht wird, dass der
Halbleiterchip thermisch und mechanisch mit dem jeweiligen
Kühlsystem verbunden wird.
6. Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl
von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, dass
der jeweilige Halbleiterchip direkt auf das zugeordnete Kühl
system aufgelötet oder aufgeklebt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10045193A DE10045193A1 (de) | 2000-09-13 | 2000-09-13 | Entwärmungssystem mit einer Mehrzahl von elektrisch gegeneinander isolierten Halbleiterchips sowie Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
DE10045193A DE10045193A1 (de) | 2000-09-13 | 2000-09-13 | Entwärmungssystem mit einer Mehrzahl von elektrisch gegeneinander isolierten Halbleiterchips sowie Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10045193A1 true DE10045193A1 (de) | 2001-10-04 |
Family
ID=7655994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10045193A Ceased DE10045193A1 (de) | 2000-09-13 | 2000-09-13 | Entwärmungssystem mit einer Mehrzahl von elektrisch gegeneinander isolierten Halbleiterchips sowie Verfahren zur thermischen Ankopplung von einer Mehrzahl von Halbleiterchips an ein Entwärmungssystem |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10045193A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10339692A1 (de) * | 2003-08-28 | 2005-03-31 | eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH | Entwärmende Isolationsschicht |
DE102008035485A1 (de) * | 2008-07-30 | 2010-02-04 | Brose Fahrzeugteile GmbH & Co. Kommanditgesellschaft, Würzburg | Vorrichtung, insbesondere zur Stromleitung, um ein Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung, insbesondere zur Stromleitung |
-
2000
- 2000-09-13 DE DE10045193A patent/DE10045193A1/de not_active Ceased
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JP 03234047 A. In: Pat.Abstr. of JP * |
JP 11026663 A. In: Pat.Abstr. of JP * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10339692A1 (de) * | 2003-08-28 | 2005-03-31 | eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH | Entwärmende Isolationsschicht |
DE102008035485A1 (de) * | 2008-07-30 | 2010-02-04 | Brose Fahrzeugteile GmbH & Co. Kommanditgesellschaft, Würzburg | Vorrichtung, insbesondere zur Stromleitung, um ein Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung, insbesondere zur Stromleitung |
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