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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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1. Gebiet der Erfindung
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Die
Erfindung betrifft eine Wärmeschutzvorrichtung,
die in einem Kristallziehgerät
zum Ziehen und Züchten
eines Silicium-Einkristallrohlings aus einer Schmelze (im folgenden
auch als Kristallziehgerät
bezeichnet) vorgesehen ist, und ferner ein Kristallziehgerät unter
Einsatz einer solchen Wärmeschutzvorrichtung.
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2. Beschreibung der dazugehörigen Technik
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Bis
jetzt wurden bereits in vielen Veröffentlichungen verschiedene
Geräte
zum Ziehen und Züchten
von Silicium-Einkristallrohlingen beschrieben. Hiervon offenbart
beispielsweise die geprüfte
japanische Patentanmeldung Nr. 57-40119 (1982)
ein Kristallziehgerät,
das eine Kammer mit einem Quarztiegel, in dem sich eine Siliciumschmelze
befindet, und eine zwischen einer Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings
und einer Innenfläche
des Quarztiegels vorgesehene Wärmeschutzvorrichtung aufweist,
so dass der Rohling von der Wärmeschutzvorrichtung
umschlossen ist. D. h. die Wärmeschutzvorrichtung
weist ein rohrförmiges
Element auf, das die Peripherie des nach oben zu ziehenden Silicium-Einkristallrohlings
umgibt, und ist zur Unterbindung der Wärmeabstrahlung von einem Heizgerät über der
Oberfläche
der Siliciumschmelze in einem bestimmten Abstand dazwischen angeordnet.
Beim stufenweisen Ziehen des Siliciumkristalls aus der Siliciumschmelze
sinkt der Flüssigkeitsspiegel
der Siliciumschmelze unter Exposition einer peripheren Innenwand
des Quarztiegels ab. Die Wärmeabstrah lung
von der peripheren Innenfläche
des exponierten Quarztiegels wird an die periphere Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings
abgestrahlt. Somit blockiert das wärmedämmende Element eine solche Abstrahlung
und verhindert, dass sich die Wärmeabstrahlung
bis zur peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings
ausdehnt, so dass der Silicium-Einkristallrohling während des
Ziehschrittes unter einer beschleunigten Verfestigung hiervon schnell abgekühlt werden
kann.
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Zusätzlich offenbart
die ungeprüfte
japanische Patentanmeldung Nr. 8-325090 (1996)
ein rohrförmiges
Element in der Art der Wärmeschutzvorrichtung,
das als mehrschichtige Struktur ausgelegt ist, die ein Basismaterial
und ein Deckelement aufweist. Das Basismaterial ist ein Graphit
oder dergleichen mit Hitzebeständigkeitseigenschaft
bei einer dieser Strahlung entsprechenden Temperatur. Andererseits ist
das Deckelement aus Quarz oder dergleichen mit einem im Vergleich
zum Basismaterial geringen thermischen Abstrahlvermögen hergestellt.
Ein solcher Aufbau der Wärmeschutzvorrichtung
steigert die Effektivität
der Unterbindung von Wärmeabstrahlung von
Tiegel und Heizgerät
zum Silicium-Einkristallrohling durch Bedecken des Basismaterials
mit hohem thermischen Abstrahlvermögen mit dem Deckelement, das
ein thermisches Abstrahlvermögen
aufweist, das geringer ist als das Abstrahlvermögen des Basismaterials. Folglich
kann die Ziehgeschwindigkeit des Silicium-Einkristallrohlings aus
der Schmelze durch die beschleunigte Abkühlung des Silicium-Einkristallrohlings
erhöht
werden, so dass die Produktivität
für den
Silicium-Einkristallrohling gesteigert werden kann.
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Die
in der veröffentlichten
ungeprüften
japanischen Patentanmeldung Nr.
8-325090 (1996)
offenbarte Wärmeschutzvorrichtung
des Kristallziehgerätes
verursacht die ungleichmäßige Temperaturverteilung
in einem der Siliciumschmelze benachbarten Teil des Silicium-Einkristallrohlings.
Das bedeutet, im Zentrum eines solchen Teils kann die maximale Temperatur
festgestellt werden, während
die Temperatur vom Zentrum nach außen abnimmt und an der äußeren Peripherie
dieses Teils ein plötzlicher
Temperaturabfall festgestellt wird. Es ist einsehbar, dass die Temperaturdifferenz
zwischen Zentrum und äußerer Peripherie
des Silicium-Einkristallrohlings durch Vergrößerung des Durchmessers des
Silicium-Einkristallrohlings
weiter vergrößert werden
kann. Darum besteht die Möglichkeit,
dass als Folge der oben beschriebenen Temperaturdifferenz in dem
Silicium-Einkristallrohling
eine Wärmespannung
hervorgerufen werden kann.
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US 60 36 776 A offenbart
ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen, wobei
eine Wärmeschutzvorrichtung
so ausgebildet ist, dass sich ein adiabatischer Zylinder nach unten von
der Innenkante des Randes der Wärmeschutzvorrichtung
erstreckt und den Einkristall umgibt. Eine ähnliche Wärmeschutzvorrichtung wird in
der
JP 11-240790 A offenbart.
Die ältere
Anmeldung
WO 00/50671
A1 offenbart eine Wärmeschutzvorrichtung für ein Kristallziehgerät, die einen äußeren Reflektor und
einen inneren Reflektor aufweist, die so ausgebildet sind, dass
zwischen ihnen eine Isolationskammer liegt. Die ebenfalls ältere Anmeldung
DE 100 06 589 A1 offenbart
ein Hitzeschild für
eine Czochralski-Zugvorrichtung, das ein ringförmiges Hitzeschild-Gehäuse mit
einer inneren und äußeren Hitzeschutz-Wand
aufweist, die vertikale Wände sind.
US 60 27 562 A1 betrifft
ein Verfahren zur Herstellung eines Silicium-Einkristalls gemäß der Czochralski-Methode,
bei dem der Einkristall unter bestimmten Temperatur- und Zeitbedingungen
gezüchtet
wird. Die ältere
DE 100 55 648 A1 betrifft Czochralski-Ziehapparate
zur Herstellung von Einkristall-Siliciumrohlingen, mit einem ringförmig gestalteten
Hitzeschild-Gehäuse,
das voneinander getrennte, innere und äußere Hitzeschild-Gehäusewände in einer
bestimmten Ausgestaltung umfasst.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
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Es
ist eine Aufgabe der Erfindung, eine Wärmeschutzvorrichtung bereitzustellen,
die in einem Kristallziehgerät
zum Ziehen und Züchten
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze unter Erhalt eines Silicium-Einkristallrohlings
vorgesehen ist.
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Durch
die Wärmeschutzvorrichtung
läßt sich der
steile Temperaturabfall an der äußeren Peripherie
eines Silicium-Einkristallrohlings, der aus der Siliciumschmelze
gezogen wird, verhindern, wobei die Erzeugung von Wärmespannung
in dem Silicium-Einkristallrohling unterbunden wird.
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Eine
weitere Aufgabe der Erfindung besteht in der Bereitstellung eines
Kristallziehgerätes
zum Ziehen und Züchten
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze unter Erhalt eines Silicium-Einkristallrohlings.
Das Gerät
weist eine Wärmeschutzvorrichtung auf,
durch die sich der steile Temperaturabfall an der äußeren Peripherie
des Silicium-Einkristallrohlings, der aus der Siliciumschmelze gezogen
wird, verhindern läßt, wobei
die Erzeugung von Wärmespannung in
dem Silicium-Einkristallrohling unterbunden wird.
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Beim
ersten Aspekt der Erfindung werden eine Wärmeschutzvorrichtung gemäß Patentanspruch
1 und eine Wärmeschutzvorrichtung
gemäß Patentanspruch
2 bereitgestellt.
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Hier
kann die Höhe "H" der vertikalen Wand im Bereich von
10 mm bis d/2 liegen, wobei "d" für den Durchmesser
des Silicium-Einkristallrohlings steht.
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Hier
kann der Abstand zwischen der peripheren Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings
und der vertikalen Wand im Bereich von 10 mm bis 30 mm liegen.
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Hier
kann die Beziehung zwischen dem Durchmesser "D1" der
Unterkante des rohrförmigen Teils,
dem Innendurchmesser "D2" des Quarztiegels und
dem Durchmesser "d" des Silicium-Einkristallrohlings
durch 1,65d < D1 < D2 angegeben sein.
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Hier
kann das rohrförmige
Teil mit nach unten stufenweise abnehmendem Durchmesser ausgebildet
sein.
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Hier
kann das rohrförmige
Teil ein rohrförmiges
Innenteil, ein rohrförmiges
Außenteil
und ein in den Raum zwischen rohrförmigem Innenteil und rohrförmigem Außenteil
eingefülltes
wärmedämmendes Element
aufweisen.
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Hier
kann mindestens ein ringförmiges
Wärmeaustauscherelement
mit einer peripheren Außenkante,
die mit dem rohrförmigen
Teil oder der schrägen
Außenwand
verbunden ist, und einer peripheren Innenkante, die verbunden ist
mit der vertikalen Wand oder der schrägen Innenwand, in Querrichtung im
Inneren des abstehenden Teils ausgebildet sein.
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Bei
einem zweiten Aspekt der Erfindung werden ein Kristallziehgerät gemäß Patentanspruch
9 und ein Kristallziehgerät
gemäß Patentanspruch
10 bereitgestellt.
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Demgemäß vermag
die Erfindung die Probleme zu lösen,
dass in der herkömmlichen
Wärmeschutzvorrichtung
die Temperaturverteilung in einem der Siliciumschmelze naheliegenden
Abschnitt des Silicium-Einkristallrohlings nicht gleichmäßig ist,
wobei im Zentrum eines solchen Abschnittes die Maximaltemperatur
festgestellt wird, während
die Temperatur vom Zentrum zur Außenseite stufenweise abnimmt
und eine plötzliche
Temperaturabnahme an der äußeren Peripherie
dieses Abschnittes festgestellt wird. Erfindungsgemäß kann andererseits
die Wärmeabstrahlung
von der peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings durch die vertikale Wand des abstehenden
Teils reflektiert oder durch die Temperatur des abstehenden Teils,
die durch die Wärmeabstrahlung
aus der Silicium-Hochtemperaturschmelze beträchtlich zunimmt, verhindert
werden. Somit verhindert das abstehende Teil die steile Abnahme
der Temperaturen des peripheren äußeren Teilabschnittes
des Silicium-Einkristallrohlings. Folglich kann die Temperaturverteilung
vom Zentrum zum peripheren äußeren Teilabschnitt
eines solchen Rohlings praktisch gleichmäßig sein. D. h. das abstehende
Teil gestattet einen vertikalen Wärmegradienten in dem Silicium-Einkristallrohling,
wobei die radiale Temperaturverteilung in jedem Teil hiervon im
Wesentlichen gleichmäßig ist.
Somit kann als Ergebnis der Verhinderung der auf den Silicium- Einkristallrohling
ausgeübten
Wärmespannung,
die Erzeugung von Schlupf und erster Platzverschiebung in dem resultierenden
Produkt verhindert werden.
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Erfindungsgemäß gestattet
die kegelförmige Decke,
dass ein durch den Raum zwischen dem äußeren peripheren Teilabschnitt
des Silicium-Einkristallrohlings und der peripheren Außenfläche des rohrförmigen Teils
nach unten strömendes
Inertgas glatt in den Raum zwischen der Siliciumschmelze und dem
abstehenden Teil eingeleitet werden kann. Somit verhindert das wärmedämmende Teil
effektiv die Temperaturabnahme des äußeren peripheren Teilabschnittes
des Silicium-Einkristallrohlings
durch Akkumulation von Strahlungswärme aus der Siliciumschmelze
zu dem abstehenden Teil.
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Die
obigen und anderen Ziele, Merkmale und Vorteile der Erfindung werden
anhand der folgenden Beschreibung der Ausführungsformen hiervon in Verbindung
mit den beigefügten
Zeichnungen klarer.
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KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine Querschnittsansicht der Querschnittsansicht eines Kristallziehgerätes zum
Ziehen und Züchten
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze gemäß einer bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung;
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2 ist
eine vergrößerte Querschnittsansicht
eines Teils (angegeben durch den Pfeil "A" in 1)
einer Wärmeschutzvorrichtung
des in 1 gezeigten Kristallziehgerätes;
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3 ist
eine Querschnittsansicht eines Teils einer Wärmeschutzvorrichtung eines
Kristallziehgerätes
zum Ziehen und Züchten
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze gemäß einer weiteren bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung;
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4 ist
eine Querschnittsansicht einer Wärmeschutzvorrichtung
mit einem rohrförmigen Element
mit in Richtung seines unteren Endes stufenweise abnehmendem Durchmesser;
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5 ist
eine Querschnittsansicht einer Wärmeschutzvorrichtung
mit einem rohrförmigen Element,
das mit wärmedämmendem
Material gefüllt ist;
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6 ist
eine Querschnittsansicht einer Wärmeschutzvorrichtung,
die sowohl Boden-Innenwände
als auch Boden-Außenwände aufweist;
und
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7 ist
ein Graph, der die Änderung
in G/Gc bezüglich
des radialen Abstandes vom Zentrum eines Silicium-Einkristallrohlings
erläutert,
wobei "G" den Mittelwert eines
Temperaturgradienten entlang der äußeren Peripherie des Silicium-Einkristallrohlings
in vertikaler Richtung von der Oberfläche einer Siliciumschmelze
bis zu einer Höhe
von 30 mm über
der Schmelze angibt und "Gc" den Mittelwert eines
Temperaturgradienten entlang des Zentrums des Silicium-Einkristallrohlings
in vertikaler Richtung von der Oberfläche einer Siliciumschmelze
bis zu einer Höhe
von 30 mm über
der Schmelze angibt.
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AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN
AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Unter
Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen
wird nun eine bevorzugte erste Ausführungsform der Erfindung beschrieben.
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Unter
Bezugnahme auf 1 ist ein Kristallziehgerät zum Ziehen
und Züchten
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze gemäß der ersten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung gezeigt. Das Gerät 10 der
Ausführungsform
weist eine Kammer 11 auf, in der ein Quarztiegel 13 angeordnet
ist, in dem sich eine Siliciumschmelze 12 befindet. Die
Außenfläche des
Quarztiegels 13 ist mit einem Gra phitträger 14 bedeckt. Die
Unterseite des Quarztiegels 13 ist am oberen Ende einer
Trägerachse 16 über den Graphitträger 14 koaxial
befestigt, während
das untere Ende der Trägerachse 16 an
einen Antriebsmechanismus 17 mit einem ersten Drehmotor
(nicht gezeigt), der den Quarztiegel 13 in eine Drehbewegung versetzt,
und einem Doppelhubmotor (nicht gezeigt), der den Quarztiegel 13 in
eine Auf- und Abbewegung versetzt,
angeschlossen ist. Darum kann sich der Quarztiegel 13 zuzüglich zu
der Auf- und Abbewegung in eine bestimmte Richtung drehen. Die Außenfläche des
Quarztiegels 13 ist von einem Heizgerät 18 in einem bestimmten
Abstand dazwischen umgeben. Außerdem
ist das Heizgerät 18 von
einem wärmedämmenden
Zylinder 19 umgeben. Bei der Herstellung einer Siliciumschmelze 12 ist
das Heizgerät 18 für das Aufheizen
und Schmelzen des gesamten hochreinen polykristallinen Siliciummaterials,
das sich in dem Quarztiegel 13 befindet, verantwortlich.
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An
das obere Ende der Kammer 11 schließt sich ein zylindrisches Gehäuse 21 an,
an dem ein Ziehelement 22 vorgesehen ist. Das Ziehelement 22 weist
auf: einen Ziehkopf (nicht gezeigt), der in horizontaler Position
am oberen Ende des Gehäuses 21 drehbar
angeordnet ist; einen zweiten Drehmotor (nicht gezeigt) zum Drehen
des Ziehkopfes; ein Drahtseil 23, das vom Kopf bis zum
Rotationszentrum des Quarztiegels 13 herabhängt; und
einen Ziehmotor (nicht gezeigt), der in dem Kopf zum Auf- und Abwickeln
des Drahtseils 23 angebracht ist. Am unteren Ende des Drahtseils 23 ist
ein Kristallkorn 24 befestigt, um das Korn 24 in
die Schmelze 12 einzutauchen und das Korn 24 anschließend langsam
aus der Schmelze 12 herauszuziehen. Der Kristall, der gezogen
wird, wird gedreht, um unter Erhalt eines Silicium-Einkristallrohlings 25 ein
gleichmäßiges Kristallwachstum
zu gewährleisten.
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Außerdem ist
die Kammer 11 mit einem Gaszuführ- und Gasabführelement 28 verbunden,
das auf der Seite des Silicium-Einkristallrohlings 25 in
der Kammer 11 ein Inertgas zuführt und das Inertgas auf der
Seite der peripheren Innenfläche
des Quarztiegels 13 in der Kammer 11 abführt. Das
Gaszuführ- und
Abführele ment 28 weist
ein Zuführrohr 29 und ein
Abführrohr 30 auf.
Das Zuführrohr 29 weist
ein Ende, das über
eine periphere Wand des Gehäuses 21 mit
dem Inneren der Kammer 11 in Verbindung steht, und das
andere Ende, das an einen Tank (nicht gezeigt) zur Aufnahme des
oben beschriebenen Inertgases angeschlossen ist, auf. Andererseits
weist das Abführrohr 30 ein
Ende, das über
den Boden der Kammer 11 mit dem Inneren der Kammer 11 in
Verbindung steht, und das andere Ende, das an eine Vakuumpumpe (nicht
gezeigt) angeschlossen ist, auf. Sowohl die Zuführ- als auch die Abführrohre 29, 30 sind
mit einem ersten und einem zweiten Strömungsventil 31 bzw. 32 zum
Regulieren der durch diese Rohre 29, 30 strömenden Inertgasmenge
ausgestattet.
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Eine
Abtriebswelle (nicht gezeigt) des Ziehmotors ist mit einem Drehkodierer
(nicht gezeigt) ausgestattet, während
der Antriebsmechanismus 17 mit einem Gewichtssensor (nicht
gezeigt) und einem Linearkodierer (nicht gezeigt) ausgestattet ist.
Der Gewichtssensor weist ein Gewicht der Siliciumschmelze 12 in
dem Quarztiegel 13 nach, und der Linearkodierer weist eine
Position der Trägerachse 16 während ihrer
Auf- und Abbewegung nach. Die Nachweis-Ausgaben des Rotationskodiereres,
des Gewichtssensors und des Linearkodiereres sind mit Kontrolleingaben
eines Kontrollers (nicht gezeigt) gekoppelt. Ferner sind die Kontrollausgaben
des Kontrollers mit dem Ziehmotor des Ziehelementes 22 bzw.
dem Doppelhubmotor des Antriebsmechanismus gekoppelt. Außerdem besitzt
der Kontroller einen Speicher (nicht gezeigt), der eine erste und
eine zweite Karte speichert. Die erste Karte enthält Daten über eine
Länge des
Drahtseils 23, das abhängig
von der Nachweis-Ausgabe des Drehkodierers aufgewickelt wird (d.
h. um eine Länge
des durch Ziehen des Kristalls aus der Siliciumschmelze 12 zu
bildenden Silicium-Einkristallrohlings 25). Andererseits
enthält die
zweite Karte Daten über
den Flüssigkeitsspiegel der
Siliciumschmelze 12 in dem Quarztiegel 13 in Abhängigkeit
von der Nachweis-Ausgabe des Gewichtssensors. Um das Niveau der
Siliciumschmelze 12 in dem Quarztiegel zu halten, ist der
Kontroller zur Kontrolle des Doppelhubmotors der Tiegel-Antriebseinrichtung 17 auf
der Basis des Nachweissignals des Gewichtssensors ausgelegt.
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Zwischen
der peripheren Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings 25 und
der peripheren Innenfläche
des Quarztiegels 13 ist eine Wärmeschutzvorrichtung 36 angeordnet,
so dass der Rohling 25 von der Wärmeschutzvorrichtung 36 eingeschlossen
ist. Die Wärmeschutzvorrichtung 36 umfaßt: ein
rohrförmiges
Teil 37 zur Unterbindung der Strahlungswärme von
dem zylindrisch geformten Heizgerät 18; einen Flanschabschnitt 38,
der mit dem oberen Rand des rohrförmigen Teils 37 verbunden
ist und nach außen
fast horizontal absteht. Der Flanschabschnitt 38 ist auf
dem wärmedämmenden
rohrförmigen
Teil 19 befestigt, um die Wärmeschutzvorrichtung 36 in
der Kammer 11 anzubringen. Die Wärmeschutzvorrichtung 38 ist
aus einem Material hergestellt, das ausgewählt ist aus Molybdän (Mo),
Wolfram (W), und Kohlenstoff (C), SiC-beschichtetem Graphit oder
dergleichen. Das rohrförmige
Teil 37 kann so sein, dass jeder Teil entlang seiner Achse denselben
Durchmesser aufweist. Alternativ kann das rohrförmige Teil 37 mit
einer kegelförmigen Struktur
mit stufenweiser Abnahme seines Durchmessers vorgesehen sein. Bei
dieser Ausführung
ist das rohrförmige
Teil zudem so ausgelegt, dass es die durch 1,65d < D1 < D2 dargestellte
Beziehung zwischen Außendurchmesser "D1" des unteren Endes des
rohrförmigen
Teils 37, Innendurchmesser "D2" des
Quarztiegels 13 und Durchmessers "d" des
Silicium-Einkristallrohlings erfüllt.
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Das
in 2 gezeigte rohrförmige Teil 37 ist so,
dass es entlang seiner Achse den gleichen Durchmesser für jeden
Abschnitt aufweist und ein nach innen abstehendes Teil 41 aufweist,
das an seinem unteren Ende entlang des Randes ausgebildet ist. Das
abstehende Teil 41 weist eine Bodenwand 42, eine
vertikale Wand 44 und eine Deckenwand 46 auf.
Die Bodenwand 42 ist in der Draufsicht wie ein auf den
zu züchtenden
Kristall passenden Ring geformt. Wie in der Figur gezeigt, ist eine
Außenkante der
ringförmigen
Bodenwand 42 mit dem unteren Rand des rohrförmigen Teils 37 verbunden
und verläuft
horizontal bis in die Nähe
der peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings 25. Andererseits ist die Innenkante
der Bodenwand 42 mit der vertikalen Wand 44 verbunden.
Die Deckenwand 46 verläuft
wie die Oberfläche
eines Kegelstumpfes mit stufenweise zunehmendem Durchmesser nach oben.
Wie in der Figur gezeigt, ist eine schräge Innenwand 43 als
Kreuzung zwischen vertikaler Wand 44 und Bodenwand 42 vorgesehen.
Die schräge
Innenwand 43 verläuft
ebenfalls wie die Oberfläche
eines Kegelstumpfes mit stufenweise abnehmendem Durchmesser nach
oben. Andererseits ist eine schräge
Außenwand 45 als
Kreuzung zwischen dem rohrförmigen
Teil 37 und der Bodenwand 42 vorgesehen. Die schräge Außenwand 45 verläuft wie
die Oberfläche
eines Kegelstumpfes mit stufenweise zunehmendem Durchmesser nach
unten. Die Neigung θ bzw. α der schrägen Innen-
bzw. Außenwand 43 bzw. 45 ist
nicht größer als
80° und
liegt bezüglich
der Unterseite der Bodenwand 42 vorzugsweise im Bereich von
5 bis 30°.
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Bei
dieser Ausführungsform
sind das rohrförmige
Teil 37 und die Wände 42, 43 und 45 als
einteilige Konstruktionen geformt. Die schrägen Innen- und Außenwände 43, 45 sind
so ausgelegt, dass sie jeweils die folgenden Bedingungen erfüllen. D.
h. die Beziehung zwischen einem Durchmesser "d" des
zu ziehenden Silicium-Einkristallrohlings 25 und einem vertikalen
Abstand "L1" von der Unterkante
der vertikalen Wand 44 bis zur Unterseite der Bodenwand 42 ist
durch 0 < L1 < d/2 dargestellt.
Auch die Beziehung zwischen "d" und einem vertikalen
Abstand "L2" vom unteren Rand
des rohrförmigen
Teils 37 bis zur Unterseite der Bodenwand 42 ist
durch 0 < L2 < d/2 dargestellt.
Außerdem
liegt der Abstand "W1" zwischen peripherer
Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings 25 und vertikaler Wand 44 im
Bereich von 10 bis 30 mm und vorzugsweise im Bereich von 15 bis
20 mm. In diesem Fall ist es bevorzugt, dass eine Breite "W2" des abstehenden
Teils 41 50 mm oder größer ist.
Ein horizontaler Abstand "W3" zwischen der Innenseite
der vertikalen Wand 44 und einer Innenkante der Bodenwand 42 ist
größer als
0 mm, allerdings kleiner als die Breite "W2" des
abstehenden Teils 41. Ebenso ist ein horizontaler Abstand "W4" zwischen der peripheren
Außenfläche des
rohrförmigen
Teils 37 und einer Außenkante
der Bodenwand 42 größer als
0 mm, allerdings kleiner als die Breite "W2" des abstehenden
Teils 41.
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Die
vertikale Wand 44 ist so geformt, dass sie eine Höhe von 10
bis 100 mm aufweist und parallel zu einer Achse des Silicium-Einkristallrohlings 25 verläuft oder alternativ
in einem Winkel von –30
bis +30° bezüglich der
Achse geneigt ist. Im letzteren Fall bedeutet "–30°", dass die vertikale
Wand 44 mit stufenweise abnehmendem Durchmesser in einem Winkel
von 30° bezüglich der
Achse nach oben verläuft,
und "+30°" bedeutet, dass die
vertikale Wand 44 mit stufenweise zunehmendem Durchmesser
in einem Winkel von 30° bezüglich der
Achse nach oben verläuft.
Bei dieser Ausführungsform
ist es bevorzugt, dass die vertikale Wand 44 parallel zur
Achse des Silicium-Einkristallrohlings 25 verläuft. Mit
anderen Worten ist es bevorzugt, die vertikale Wand so auszurichten,
dass sie vertikal verläuft.
Die vertikalen Abstände
L1, L2, der Abstand W1 und die Höhe
H, die vorstehend beschrieben sind, sind übrigens in Übereinstimmung mit einem Durchmesser
des zu erhaltenen Silicium-Einkristallrohlings 25 entsprechend definiert.
Die kegelförmige
Deckenwand 46 ist so ausgebildet, dass ihr Durchmesser
nach oben stufenweise zunimmt. Zusätzlich stellt die Oberkante der
Wand 46 den Kontakt mit der peripheren Innenfläche des
rohrförmigen
Teils 37 her. Die Innenseite des abstehenden Teils 41 ist
von dem unteren Teil des rohrförmigen
Teils 37, der Bodenwand 42, der vertikalen Wand 44 und
der Deckenwand 46 unter Bildung eines abgeschlossenen Raums
umschlossen, in den ein wärmedämmendes
Element 47, wie aus Kohlefasern hergestelltes Filzmaterial,
eingefüllt ist.
Die vertikale Wand 44 und die Deckenwand 46 sind
als Einstückkonstruktion
zur Befestigung an der schrägen
Innenwand 43 und dem rohrförmigen Teil 37 durch
Schrauben oder Nägel
nach dem Einfüllen des
wärmedämmenden
Elementes 47 in den durch den unteren Teil des zylindrischen
Abschnittes 37, die schräge Außenwand 45 die Bodenwand 42 und die
schräge
Innenwand 43 definierten Raum ausgebildet.
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Im
folgenden werden die Merkmale des so aufgebauten Kristallziehgerätes zum
Ziehen eines Siliciumeinkristalles beschrieben.
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Bei
dem herkömmlichen
Kristallziehgerät, wie
vorstehend beschrieben, kann die nicht gleichmäßige Verteilung der Temperatur
in einem der Siliciumschmelze 12 naheliegenden Teil des
Silicium-Einkristallrohlings 25 festgestellt werden, wenn er schrittweise
aus der Siliciumschmelze 12 gezogen wird. Das bedeutet,
die maximale Temperatur kann im Zentrum eines solchen Teilabschnittes
festgestellt werden, während
die Temperatur vom Zentrum zur Außenseite in Richtung des Radius
des Rohlings 25 stufenweise abnimmt. Aufgrund einer großen, von der
peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings 25 abgestrahlten Wärmemenge
kann auch an der äußeren Peripherie
dieses Teilabschnittes eine plötzliche
Temperaturabnahme festgestellt werden.
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Bei
dieser Ausführungsform
kann eine solche Störung
allerdings wie folgt vermieden werden. Die Wärmeschutzvorrichtung 36 mit
dem abstehenden Teil 41 umschließt den Silicium-Einkristallrohling 25,
der aus der Siliciumschmelze 12 gezogen wird.
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Insbesondere
befinden sich die schräge
Innenwand 43 und die vertikale Wand 44 des abstehenden
Teils 41 an der Stelle, an der der Teil des Silicium-Einkristallrohlings 25 gerade
aus der Oberfläche
der Schmelze 25 austritt, so dass die beträchtliche
Strahlungswärme
von der peripheren Außenfläche eines
solchen Teils des Rohlings 25 unterbunden werden kann.
Das bedeutet, die Strahlungswärme von
der peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings 25 kann von der schrägen Innenwand 43 und
der vertikalen Wand 44 des abstehenden Teils 41,
die in unmittelbarer Nähe
zu dieser Fläche
angeordnet sind, reflektiert werden. Zusätzlich wird die Temperatur
des abstehenden Teils 41 durch die Wärmeabstrahlung aus der Hochtemperatur-Siliciumschmelze 12 beträchtlich
erhöht.
Folglich kann die drastische Temperaturabnahme des äußeren peripheren
Teilbereiches des Silicium-Einkristallrohlings 25 verhindert
werden, und die Temperaturverteilung vom Zentrum zum äußeren peripheren
Teilbereich kann praktisch gleichmäßig gemacht werden. Mit anderen
Worten, gestattet das Kristallziehgerät der vorliegenden Ausführungsform
einen vertikalen Wärmegradienten
in dem Silicium-Einkristallrohling 25, wobei die radiale
Temperaturverteilung in jedem beliebigen Teil hiervon praktisch
gleichmäßig ist,
so dass die Erzeugung von Schlupf und erster Platzveränderung
in dem resultierenden Produkt als Er gebnis der Unterbindung von
Wärmespannung,
der der Silicium-Einkristallrohling 25 ausgesetzt ist,
verhindert wird.
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Unter
Bezugnahme auf 3 ist eine Wärmeschutzvorrichtung 36 eines
Kristallziehgerätes zum
Ziehen eines Siliciumeinkristalls aus einer Schmelze gemäß einer
zweiten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung gezeigt. In dieser Figur bezeichnen die gleichen Bezugsziffern
wie in 2 die gleichen Bauteile wie in 2.
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Bei
dieser Ausführungsform
sind zwei ringförmige
Wärmeaustauscherelemente 48 in
dem abstehenden Teil angeordnet, so dass eine Außenkante eines jeden Elementes 48 mit
dem rohrförmigen
Teil 37 oder der schrägen
Außenwand 45 verbunden
ist, während
eine Innenkante hiervon mit der vertikalen Wand 44 oder
der schrägen
Innenwand 43 verbunden ist. Wenn das wärmedämmende Element 47 in den
abstehenden Teil 41 eingefüllt wird, werden mit dem wärmedämmenden
Element 47 auch die Wärmeaustauscherelemente 48 in
den abstehenden Teil 41 angeordnet. Das bedeutet, die Wärmeaustauscherelemente 48 werden
in dem Raum angeordnet, der definiert ist durch den unteren Teilabschnitt
des rohrförmigen
Teils 37, die schräge
Außenwand 45, die
Bodenwand 42 und die schräge Innenwand 43, und
dann werden die vertikale Wand 44 und die Deckenwand 46,
die aus einem Stück
geformt sind, an der schrägen
Innenwand 43 und dem rohrförmigen Teil 37 mit
Schrauben ober Nägeln
befestigt. Darum queren die Wärmeaustauscherelemente 48 die
Innenseite des abstehenden Teils 41, wobei ihre periphere
Außenkante
mit dem rohrförmigen
Teil 37 und ihre Innenkante jeweils mit der vertikalen
Wand 44 oder der schrägen
Innenwand 43 verbunden ist.
-
Die
wie vorstehend beschrieben aufgebaute Wärmeschutzvorrichtung 36 verhindert
die steile Temperaturabnahme des äußeren peripheren Teilabschnittes
des Silicium-Einkristallrohlings 25. Während des Prozesses des Ziehens
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze wird die vertikale Wand 44 oder
die schräge
Innenwand 43 durch Strahlungswärme von der peripheren Innenwand
des Quarztie gels 13 oder durch Wärme aus dem Heizgerät 48 aufgeheizt.
In diesem Fall gestattet das Kristallziehgerät der vorliegenden Ausführungsform
eine effektive Steigerung der Temperatur sowohl der vertikalen Wand 44 als
auch der schrägen
Innenwand 43, indem Wärme über die
Wärmeaustauscherelemente 48 von
dem rohrförmigen
Teil 37 oder der schrägen Außenwand 45 zu
der vertikalen Wand 44 oder der schrägen Innenwand 43 abgeführt wird.
Somit absorbieren die vertikale Wand 44 oder die schräge Innenwand 43,
die eine Temperaturerhöhung
erfahren, die Strahlungswärme
von dem Siliciumeinkristall 25 unter Verhinderung des steilen
Temperaturabfalls in dem äußeren peripheren
Teilbereich des Silicium-Einkristallrohlings 25. Übrigens
kann die Dicke eines jeden Wärmeaustauscherelementes 48 abhängig sein
von der Anzahl der Wärmeaustauscherelemente 48.
Vorzugsweise allerdings kann sie im Bereich von 6 bis 9 mm liegen.
Weitere Angaben über die
Betriebsmerkmale des Kristallziehgerätes der vorliegenden Ausführungsform
entsprechen fast denjenigen der ersten Ausführungsform, so dass die sich
wiederholende Beschreibung weggelassen wird.
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Bei
den obigen Ausführungsformen
liegt übrigens
das rohrförmige
Teil 37 der Wärmeschutzvorrichtung 36 in
Form eines zylindrischen Rohres vor. Wie in 4 gezeigt,
kann es allerdings ein Hohlkörper
in Form eines kreisförmigen
Kegelstumpfes mit stufenweise abnehmendem Durchmesser unter stufenweiser
Verjüngung
nach unten sein. In diesem Fall verbreitert sich der Raum zwischen
dem äußeren peripheren
Teilbereich des Silicium-Einkristallrohlings 25 und der
peripheren Außenfläche des
rohrförmigen Teils 37 in
Richtung der Siliciumschmelze stufenweise, so dass ein durch einen
solchen Raum nach unten strömendes
Inertgas ohne weiteres in den Raum zwischen Siliciumschmelze 12 und
abstehendem Teil 41 eingeleitet werden kann. Wie in 5 gezeigt, kann
alternativ das rohrförmige
Teil 37 ein rohrförmiges
Innenteil 37a, ein rohrförmiges Außenteil 37b und ein
in den Raum zwischen rohrförmigem
Innen- und Außenteil 37a, 37b eingefülltes wärmedämmendes
Material 37c aufweisen. Das in einer Doppelwandstruktur
des rohrförmigen
Körpers 37 vorgesehene
wärmedämmende Material
hält Strahlungswärme von
der peripheren Innenwand des Quarztiegels 13 in Richtung
des Silicium-Einkristallrohlings 25 zurück.
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Bei
den obigen Ausführungsformen
ist außerdem
die schräge
Innenwand 43 zwischen der vertikalen Wand 44 und
der Bodenwand 42 vorgesehen, und ferner ist die schräge Außenwand 45 zwischen dem
rohrförmigen
Teil 47 und der Bodenwand 42 vorgesehen.
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Zusätzlich kann
die Bodenwand wie ein Kegel geformt sein, wie er in der in 6 gezeigten Konfiguration
vorgesehen ist. Diese weist eine äußere Bodenwand 42a,
wobei ihre Kante mit dem rohrförmigen
Teil 37 verbunden ist, und eine innere Bodenwand 42b,
wobei ihre Kante mit dem vertikalen Element 44 verbunden
ist, auf. Die äußere Bodenwand 42a ist
in einem Winkel α von
80° oder
weniger (α > 0) bezüglich einer
horizontalen Ebene geneigt, wobei der Durchmesser nach unten stufenweise
abnimmt. Andererseits ist die innere Bodenwand 42b in einem Winkel θ von 80° oder weniger
(θ > 0) bezüglich einer horizontalen
Ebene geneigt, wobei der Durchmesser nach oben stufenweise abnimmt.
Jede in den 4 bis 6 gezeigte
Wärmeschutzvorrichtung
vermag die steile Temperaturabnahme in dem äußeren peripheren Teilabschnitt
des Siliciumeinkristalls 25 durch Reflektieren der Wärmeabstrahlung
von dem Rohling 25 auf die vertikale Wand 44 des
abstehenden Teils 41 oder durch Erhöhung der Temperatur des abstehenden
Teils 41 mit der Hochtemperaturheizung 18 und
der Siliciumschmelze zu verhindern.
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Im
folgenden werden konkrete Beispiele für die Erfindung und die Vergleichsbeispiele
ausführlich erläutert.
-
<Beispiel
1>
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Eine
Wärmeschutzvorrichtung 36 eines
Kristallziehgerätes
zum Ziehen eines Siliciumkristalls aus einer Siliciumschmelze mit
der gleichen Konfiguration wie in den 1 und 2 gezeigt,
war wie folgt aufgebaut.
-
Ein
rohrförmiges
Teil 37 der Wärmeschutzvorrichtung 36 wies
einen Innendurchmesser von 410 mm und eine Höhe von 420 mm auf. Ein abstehendes
Teil 41, das eine schräge
Außenwand 45, eine
Bodenwand 42, eine schräge
Innenwand 43, eine vertikale Wand 44 und eine
Deckenwand 46 aufweist, war am unteren Endabschnitt des
rohrförmigen
Teils 37 ausgebildet. Das abstehende Teil 41 war als
rohrförmige
Struktur vorgesehen, in der die vertikale Wand 44 die Neigung
Null (d. h. parallel zur peripheren Fläche des rohrförmigen Teils 37),
einen Innendurchmesser von 250 mm und eine Höhe von 40 mm aufwies. Ein unteres
Ende der schrägen
Innenwand 43 war so geformt, dass es einen Innendurchmesser
von 330 mm, eine Neigung "α" von 45° und einen
vertikalen Abstand "L" von 40 mm aufwies.
Außerdem
betrug der Raum zwischen einer unteren Fläche der Bodenwand 42 und
einer Fläche
der Siliciumschmelze 12 35 mm, während der Raum "W1" zwischen der vertikalen
Wand 44 20 mm betrug. In diesem Beispiel waren zudem sämtliche
strukturellen Bauteile 37, 45, 42, 43, 44 und 46 aus
einem Kohlenstoffmaterial hergestellt. Darum war das Kristallziehgerät zum Ziehen
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze mit dem so erhaltenen
Wärmeschutzelement
ausgestattet, und ein solches Kristallziehgerät wurde als Beispiel 1 bezeichnet
und einem Vergleichstest und der Bewertung, die nachstehend beschrieben
sind, unterzogen.
-
<Beispiel
2>
-
Eine
Wärmeschutzvorrichtung 36 eines
Kristallziehgerätes
zum Ziehen eines Siliciumkristalls aus einer Siliciumschmelze derselben
Konfiguration wie in 3 gezeigt, war auf die gleiche
Weise wie in Beispiel 1 aufgebaut, mit folgender Ausnahme: Zwei ringförmige Wärmeaustauscherelemente 48 waren nämlich so
vorgesehen, dass sie die Innenseite eines abstehenden Teils 41 querten,
wobei die äußere periphere
Kante von jedem von ihnen mit einem rohrförmigen Teil 37 verbunden
war und die Innenkante von jedem von ihnen mit einer schrägen Innenwand 43 verbunden
war. Darum war das Kristallziehgerät zum Ziehen eines Siliciumkristalls
aus einer Schmelze mit dem so erhaltenen Wärmeschutzelement ausgestattet,
und ein solches Kristallziehgerät
wurde als Beispiel 2 bezeichnet und dem Vergleichstest und der Bewertung,
die nachstehend beschrieben sind, unterzogen.
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<Vergleichsbeispiel
1>
-
Eine
Wärmeschutzvorrichtung 36 eines
Kristallziehgerätes
zum Ziehen eines Siliciumkristalls aus einer Siliciumschmelze war
auf die gleiche Art wie in Beispiel 1 aufgebaut, mit der Ausnahme,
dass kein abstehendes Teil 41 am unteren Endabschnitt eines rohrförmigen Teils 37 vorgesehen
war (nicht in der Figur gezeigt). Darum war das Kristallziehgerät zum Ziehen
eines Siliciumkristalls aus einer Schmelze mit dem erhaltenen Wärmeschutzelement
ausgestattet, und ein solches Kristallziehgerät wurde als Vergleichsbeispiel
1 bezeichnet und dem Vergleichstest und der Bewertung, die nachstehend
beschrieben sind, unterzogen.
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<Vergleichstest
und Bewertung>
-
Unter
Anwendung eines analytischen Wärmeleitfähigkeitsprogramms
wurde eine Computersimulation vorgenommen.
-
Zuerst
simulierte der Computer die folgenden Bedingungen. D. h., die Kristallziehgeräte von Beispiel
1, Beispiel 2 und Vergleichsbeispiel 1 wurden jeweils zum Ziehen
eines Silicium-Einkristallrohlings mit einem Durchmesser von 210
mm aus einer Siliciumschmelze verwendet. Zu dem Zeitpunkt wurde
der obere Abschnitt des Rohlings 400 mm von der Oberfläche der
Schmelze herausgezogen, die Temperaturverteilung in dem Silicium-Einkristallrohling wurde
simuliert und unter Anwendung des analytischen Wärmeleitfähigkeitsprogramms berechnet. Anschließend berechnete
der Computer die Änderungen
G/Gc bezüglich
des Abstandes vom Zentrum des Silicium-Einkristallrohlings bis zur
peripheren Außenfläche hiervon
in radialer Richtung. In diesem Fall steht "G" für einen
Mittelwert der vertikalen Temperaturverteilung bezüglich eines
jeden Teils des Silicium-Einkristallrohlings
bis zu einer Höhe
von 30 mm von der Oberfläche
der Siliciumschmelze. Ferner steht "Gc" für einen
Mittelwert der vertikalen Temperaturverteilung bezüglich des
Zentrums des Silicium-Einkristallrohlings bis zu einer Höhe von 30
mm von der Oberfläche
der Siliciumschmelze. Die durch die obige Berechnung erhaltenen
Ergebnisse wurden in 7 aufgetragen.
-
Wie
aus 7 hervorgeht, waren die Kurven, die durch Auftrag
der erhaltenen G/Gc-Werte von Beispiel 1 und Beispiel 2 gebildet
wurden, im Vergleich mit dem Vergleichsbeispiel 1 leicht ansteigend. Bezogen
auf Beispiel 1 bzw. Beispiel 2, konnte ferner keine steile Änderung
des G/Gc-Wertes an der peripheren Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings festgestellt
werden. D. h. die radiale Temperaturverteilung des vertikalen Temperaturgradienten
gestaltete sich fast gleichmäßig. Beispiel
1 bzw. Beispiel 2 vermögen
jeweils die steile Temperaturabnahme im äußeren peripheren Teilabschnitt
des Siliciumeinkristalls durch Reflexion der Wärmestrahlung von dem Rohling
auf die vertikale Wand des abstehenden Teils 41 oder durch
Erhöhen
der Temperatur des abstehenden Teils durch das Hochtemperaturheizgerät 18 und
die Siliciumschmelze zu unterbinden.
-
Zusätzlich gestaltete
sich die radiale Temperaturverteilung des vertikalen Temperaturgradienten von
Beispiel 2 gleichmäßiger als
diejenige von Beispiel 1.
-
In
diesem Fall ist es verständlich,
dass sich mit dem Kristallziehgerät von Beispiel 2 die Temperatur
sowohl der vertikalen Wand 44 als auch der schrägen Innenwand 43 durch
Abführen
von Wärme
aus dem rohrförmigen
Teil 37 oder der schrägen
Außenwand 45 zu
der vertikalen Wand 44 oder der schrägen Innenwand 43 über die
Wärmeaustauscherelemente 48 effektiv
erhöhen
läßt. Somit
unterbindet die vertikale Wand 44 oder die schräge Innenwand 43, deren
Temperatur erhöht
wird, ferner die Wärmeabstrahlung
von dem Silicium-Einkristallrohling 25 unter Vermeidung
einer steilen Temperaturabnahme in dem peripheren äußeren Teilabschnitt
des Siliciumeinkristalls 25.
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Erfindungsgemäß bestehen,
wie vorstehend beschrieben, die Vorteile der Erfindung darin, dass eine
Wärmeschutzvorrichtung
mit einem abstehenden Teil, der an einem unteren Teilabschnitt eines rohrförmigen Teils
ausgebildet und mit ei nem wärmedämmenden
Element gefüllt
ist, aufgebaut ist. Das abstehende Teil steht nach innen ab und
besitzt eine in Richtung der Siliciumschmelze weisende Bodenwand.
Das abstehende Teil weist eine Bodenwand, eine vertikale Wand und
eine Deckenwand auf. Die Bodenwand kann ring- oder kegelförmig geformt sein,
wobei eine Außenkante
mit einem unteren Rand des rohrförmigen
Teils verbunden ist. Die Bodenwand verläuft horizontal oder in einer
bestimmten Neigung bis zu einer peripheren Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings.
Die vertikale Wand ist in einem bestimmten Abstand von der peripheren
Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings angeordnet und mit einer Innenkante
der Bodenwand verbunden. Die vertikale Wand verläuft parallel zu einer Achse des
Silicium-Einkristallrohlings
oder in einem zuvor festgelegten Winkel bezüglich der Achse des Silicium-Einkristallrohlings.
Die Deckenwand weist eine Unterkante, die mit einer Oberkante der
vertikalen Wand verbunden ist, und eine Oberkante, die mit einer
peripheren Innenfläche
des rohrförmigen
Teils in Verbindung steht, auf. Die Deckenwand verläuft nach oben
mit stufenweise zunehmendem Durchmesser. Darum kann die Wärmestrahlung
von der peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings
durch die vertikale Wand des abstehenden Teils reflektiert oder
durch die Temperatur des abstehenden Teils, die sich durch die Wärmeabstrahlung
von der Hochtemperatur-Siliciumschmelze beträchtlich erhöht, unterbunden werden. Somit
verhindert die Konfiguration des abstehenden Teils die steile Temperaturabnahme
des äußeren peripheren
Teilabschnittes des Silicium-Einkristallrohlings.
Folglich kann die Temperaturverteilung vom Zentrum zum äußeren peripheren
Teilabschnitt eines solchen Rohlings im Wesentlichen gleichmäßig gestaltet
werden. Zusätzlich
gestattet das abstehende Teil einen vertikalen Wärmegradienten in dem Silicium-Einkristallrohling,
wobei die radiale Temperaturverteilung in jedem Teil hiervon praktisch
gleich ist. Somit kann die Erzeugung von Schlupf und erster Platzverschiebung
in dem resultierenden Produkt als Ergebnis der Unterbindung der
Wärmespannung,
der der Silicium-Einkristallrohling
ausgesetzt ist, verhindert werden.
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Es
ist zudem von Vorteil, dass eine schräge Innenwand, die mit stufenweise
abnehmendem Durchmesser nach oben verläuft, als Kreuzung zwischen
der vertikalen Wand und der Bodenwand ausgebildet ist. In diesem
Fall kann die Wärmestrahlung von
der peripheren Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings durch die schräge Innenwand reflektiert werden.
Als Ergebnis kann die steile Abnahme der Temperatur des äußeren peripheren
Teilbereiches des Silicium-Einkristallrohlings,
insbesondere der Temperatur in der Nähe der fest-/flüssig Grenzfläche eines
solchen Rohlings unterbunden werden. Zudem ist eine kegelförmige schräge Außenwand,
die mit stufenweise abnehmendem Durchmesser nach unten verläuft, als
Kreuzung zwischen dem rohrförmigen
Teil und der Bodenwand ausgebildet. In diesem Fall kann die Wärmestrahlung
von der Siliciumschmelze oder dem Quarztiegel durch die schräge Innenwand
reflektiert werden. Als Ergebnis kann die Temperatur des abstehenden
Teils weiter erhöht
werden.
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Es
ist ferner von Vorteil, dass der Abstand zwischen peripherer Außenfläche des
Silicium-Einkristallrohlings und vertikaler Wand im Bereich von 10
bis 30 mm liegt. In diesem Fall kann die Wärmestrahlung von einem solchen
Rohling effektiv ohne Kontakt zwischen ihnen reflektiert werden.
-
Es
ist zweckmäßig, dass
mindestens ein ringförmiges
Wärmeaustauscherelement,
wovon eine periphere Außenkante
mit dem rohrförmigen
Teil oder der schrägen
Außenwand
verbunden ist und eine periphere Innenkante mit der vertikalen Wand oder
der schrägen
Innenwand verbunden ist, im Inneren des abstehenden Teils in Querrichtung
ausgebildet ist. In diesem Fall gestattet die Konfiguration eine effektive
Zunahme der Temperatur sowohl der vertikalen Wand als auch der schrägen Innenwand,
indem über
die Wärmeaustauscherelemente
Wärme von
dem rohrförmigen
Teil oder der schrägen
Innenwand, die durch Strahlungswärme
von der peripheren Innenwand des Quarztiegels oder durch Wärme aus
dem Heizgerät
erhitzt wird, zu der vertikalen Wand oder der schrägen Innenwand
abgeführt
wird. Somit vermindert die vertikale Wand oder die schräge Innenwand,
die eine Tem peraturerhöhung
erfahren, außerdem
die Wärmeabstrahlung
von dem Silicium-Einkristallrohling
unter Verhinderung der steilen Temperaturabnahme des äußeren peripheren
Teilbereiches des Silicium-Einkristallrohlings. Folglich kann die
Erzeugung von Wärmespannung
in dem Silicium-Einkristallrohling wirksam verhindert werden, da die
steile Temperaturabnahme der peripheren Außenfläche des Silicium-Einkristallrohlings,
der aus einer Siliciumschmelze gezogen wird, durch das abstehende
Teil, dessen Temperatur vergleichsweise hoch ist, unterbunden werden
kann.
-
Die
vorliegende Erfindung wurde ausführlich unter
Bezugnahme auf die bevorzugten Ausführungsformen beschrieben, und
der Fachwelt ist klar, dass Änderungen
und Modifikationen ohne Abweichen von der Erfindung in ihren breiteren
Aspekten vorgenommen werden können,
und darum besteht die Absicht, mit den beigefügten Ansprüchen sämtliche derartigen Änderungen
und Modifikationen, die im Geist und Umfang der Erfindung liegen,
abzudecken.
-
- 10
- Kristallziehgerät
- 11
- Kammer
- 12
- Siliciumschmelze
- 13
- Quarztiegel
- 14
- Graphitträger
- 16
- Trägerachse
- 17
- Antriebsmechanismus
- 18
- Heizgerät
- 19
- Wärmedämmender
Zylinder
- 21
- Gehäuse
- 22
- Ziehelement
- 23
- Drahtseil
- 24
- Kristallkorn
- 25
- Silicium-Einkristallrohling
- 28
- Gaszuführ- und
Abführelement
- 29
- Zuführrohr
- 30
- Abführrohr
- 31
- Erstes
Strömungsventil
- 32
- Zweites
Strömungsventil
- 36
- Wärmeschutzvorrichtung
- 37
- Rohrförmiges Teil
- 37a
- Rohrförmiges Innenteil
- 37b
- Rohrförmiges Außenteil
- 37c
- Wärmedämmendes
Material
- 38
- Flanschabschnitt
- 41
- Abstehendes
Teil
- 42
- Horizontale
Bodenwand
- 42a
- Äußere Bodenwand
- 42b
- Innere
Bodenwand
- 43
- Innenwand
- 44
- Vertikale
Wand
- 45
- Außenwand
- 46
- Deckenwand
- 47
- Wärmedämmendes
Element
- 48
- Wärmeaustauscherelement