DE10019482A1 - Halbleiterbauelement mit einem Leadframe - Google Patents
Halbleiterbauelement mit einem LeadframeInfo
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Abstract
Die Erfindung schlägt ein Halbleiterbauelement mit folgenden Merkmalen vor: DOLLAR A - zumindest einem Halbleiterchip, der auf einer Hauptseite Kontaktpads aufweist, DOLLAR A - einen Leadframe mit einem Chipaufnahmebereich, auf dem der zumindest eine Halbleiterchip gelegen ist und der mit Anschlußfingern zur elektrischen Kontaktierung ausgestattet ist, DOLLAR A - einem Gehäuse, das den zumindest einen Halbleiterchip und den Leadframe umgibt, wobei äußere Bereiche der Anschlußfinger außerhalb des Gehäuses gelegen sind, DOLLAR A - Drahtverbindungen, die die Kontaktpads mit inneren Bereichen der Anschlußfinger elektrisch verbinden. DOLLAR A Zur Herstellung einer elektrischen Verbindung im Inneren des Gehäuses sind weitere Anschlußfinger vorgesehen, die mit zumindest einigen der Kontaktpads für eine interne Verbindung des zumindest einen Halbleiterchips elektrisch verbunden sind.
Description
Die Erfindung betrifft ein Halbleiterbauelement mit
- - zumindest einem Halbleiterchip, der auf einer Hauptseite Kontaktpads aufweist,
- - einem Leadframe mit einem Chipaufnahmebereich, auf dem der zumindest eine Halbleiterchip gelegen ist und mit Anschluß fingern zur elektrischen Kontaktierung,
- - einem Gehäuse, das den zumindest einen Halbleiterchip und den Leadframe umgibt, wobei äußere Bereiche der Anschluß finger außerhalb des Gehäuses gelegen sind,
- - Drahtverbindungen, die die Kontaktpads mit inneren Berei chen der Anschlußfinger elektrisch verbinden.
Derartige Halbleiterbauelemente sind aus dem Stand der Tech
nik hinlänglich bekannt. Es gibt sie in einer Vielzahl von
verschiedenen Ausführungen, zum Beispiel als Thin Small Out
line Package (TSOP), bei dem die äußeren Bereiche der An
schlußfinger auf allen vier Gehäuseseiten gelegen sind oder
als Dual Inline Package (DIP), bei denen die äußeren Bereiche
der Anschlußfinger auf zwei gegenüberliegenden Seiten des Ge
häuses angeordnet sind. Es existieren auch Varianten, bei de
nen das Halbleiterbauelement mehrere Halbleiterchips auf
weist. Diese Halbleiterbauelemente werden als Multichip
Packages bezeichnet. Bei diesen Multichip Packages ist es
manchmal notwendig, eine elektrische Verbindung zwischen den
Halbleiterchips des Halbleiterbauelementes herzustellen. Die
Herstellung einer elektrischen Verbindung bedeutet, die Kon
taktpads der Halbleiterchips miteinander elektrisch zu ver
binden.
Hierbei ist es bekannt, die elektrisch zu verbindenden Kon
taktpads jeweils über eine Drahtverbindung mit dem inneren
Bereich eines Anschlußfingers zu verbinden. Die Herstellung
der elektrischen Verbindung geschieht dann außerhalb des
Halbleiterbauelementes. Beispielsweise kann hierbei eine Lei
terbahn einer Leiterplatte, auf welchem das Halbleiterbauele
ment aufgebracht ist, die äußeren Bereiche der Anschlußfinger
miteinander verbinden. Diese Anordnung ist jedoch dann nach
teilig, wenn eine große Anzahl an elektrischen Verbindungen
zwischen den Kontaktpads zweier oder mehrerer Halbleiterchips
vorgenommen werden müssen. Neben den Anschlußfingern, die
ausschließlich einen elektrischen Kontakt außerhalb des Halb
leiterbauelementes bereitstellen sollen, sind nämlich weitere
Anschlußfinger notwendig, die lediglich zur externen Verbin
dung über die Leiterplatte vorgesehen werden müssen, um die
in dem Halbleiterbauelement angeordneten Halbleiterchips
elektrisch miteinander zu verbinden. Da die Abstände (Pit
ches) eines Halbleiterbauelementes normiert sind, vergrößert
sich das Gehäuse des Halbleiterbauelementes entsprechend der
Anzahl der zusätzlich benötigen Anschlußfinger.
Um dies zu vermeiden, ist man deshalb bestrebt, die elektri
sche Verbindung zwischen zwei oder mehreren Halbleiterchips
im Inneren des Halbleiterbauelementes vorzunehmen. Hierzu ist
es bekannt, auf dem Chipaufnahmebereich des Leadframes eine
elektrisch isolierende Keramik oder ein Laminat aufzubringen,
auf welchem die Halbleiterchips befestigt sind. Das Laminat
oder die Keramik kann dann mit Leiterbahnen versehen werden,
die eine elektrische Verbindung zwischen den Halbleiterchips
herstellen. Zur Herstellung eines derartigen Halbleiterbau
elementes ist jedoch eine Abänderung der Verfahrensschritte
gegenüber einem gewöhnlichen Halbleiterbauelement mit einem
Leadframe notwendig. Hierdurch verteuert sich die Herstellung
des Halbleiterbauelementes. Zudem weist ein derartiges Halb
leiterbauelement aufgrund des zusätzlichen Trägers eine grö
ßere Bauhöhe auf.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht deshalb darin,
ein Halbleiterbauelement bereitzustellen, welches auf einfa
che Weise herstellbar ist und die Verbindung mehrerer Halb
leiterchips im Inneren des Halbleiterbauelementes ermöglicht.
Diese Aufgabe wird mit den Merkmalen des Patentanspruches 1
gelöst.
Gemäß der Erfindung sind weitere Anschlußfinger vorgesehen,
die mit zumindest einigen der Kontaktpads für die interne
Verbindung des zumindest einen Halbleiterchips elektrisch
verbunden sind. Die weiteren Anschlußfinger dienen dazu, die
Kontaktpads verschiedener Halbleiterchips miteinander zu ver
binden. Da die weiteren Anschlußfinger ebenfalls Teil des
Leadframes sind, ist eine Abänderung des Herstellungsverfah
rens gegenüber den bekannten mit einem Leadframe ausgestatte
ten Halbleiterbauelementen nicht notwendig. Hierdurch ist ei
ne kostengünstige Fertigung möglich.
Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den untergeord
neten Ansprüchen.
Die weiteren Anschlußfinger sind dabei vorteilhafterweise im
Inneren des Gehäuses gelegen. Dadurch, daß diese nicht aus
dem Gehäuse herausgeführt werden, erhöht sich die Anzahl der
Anschlußfinger gegenüber einem konventionellen Halbleiterbau
element nicht.
Vorteilhafterweise liegt benachbart eines weiteren Anschluß
fingers jeweils ein für die externe Kontaktierung vorgesehe
ner Anschlußfinger. Besonders bevorzugt sind ein Anschlußfin
ger für die externe Kontaktierung und ein weiterer Anschluß
finger für die interne Verbindung mehrerer Halbleiterchips
alternierend jeweils nebeneinander angeordnet. Die weiteren
Anschlußfinger liegen also in dem Bereich, der durch zwei be
nachbarte, für die externe Kontaktierung vorgesehene An
schlußfinger ausgespart ist. Die weiteren Anschlußfinger und
die Anschlußfinger für die externe Kontaktierung verlaufen
deshalb vorteilhafterweise im wesentlichen parallel. Eine be
sonders einfache Herstellung ist dann möglich, wenn die weiteren
Anschlußfinger und die Anschlußfinger für die externe
Kontaktierung in einer Ebene liegen.
Die elektrische Verbindung von Kontaktpads zweier Halbleiter
chips wird dann besonders einfach, wenn die zwei Halbleiter
chips übereinander angeordnet auf den gegenüberliegenden
Hauptseiten des Chipaufnahmebereiches gelegen sind. Hierdurch
läßt sich die elektrische Verbindung zwischen den weiteren
Anschlußfingern und den zumindest einigen der Kontaktpads je
weils eines Halbleiterchips über eine Drahtverbindung reali
sieren. Vorteilhafterweise ist dann ein Kontaktpad des ersten
Halbleiterchips und ein Kontaktpad eines zweiten Halbleiter
chips jeweils über eine erste beziehungsweise zweite Draht
verbindung mit genau einem der weiteren Anschlußfinger ver
bunden. Die erste Drahtverbindung ist somit vorteilhafterwei
se auf eine erste Hauptseite und die zweite Drahtverbindung
auf eine zweite Hauptseite des weiteren Anschlußfinger gebon
det. Durch die übereinander liegende Anordnung der zwei Halb
leiterchips läßt sich somit ein Halbleiterbauelement herstel
len, dessen Gehäuseabmaße gegenüber den bekannten Standard-
Halbleiterbauelementen, z. B. TSOP, DIP usw. unverändert ist.
Es weist lediglich, aufgrund zweier übereinanderliegender
Halbleiterchips, eine größere Höhe auf. Die elektrische Ver
bindung zu dem erfindungsgemäßen Halbleiterbauelement und ei
nem Trägersubstrat, zum Beispiel einer Leiterplatte, läßt
sich jedoch in bekannter Weise vollziehen, da die Abstände
zwischen zwei Anschlußfingern die bekannten Maße aufweisen.
Vorteilhafterweise sind die weiteren Anschlußfinger auf genau
einer Seite oder zwei gegenüberliegenden Seiten des Halblei
terbauelementes gelegen. Hierdurch ist die Herstellung der
Drahtverbindung zwischen dem Kontaktpad und dem weiteren An
schlußfinger besonders einfach, wenn dieser Vorgang bei einer
Vielzahl an Kontaktpads beziehungsweise weiteren Anschlußfin
gern wiederholt werden muß. Die Maschine zur Herstellung der
Drahtverbindungen muß in diesem Fall nur geringe Wege zurück
legen.
Die Erfindung wird anhand der nachfolgenden Figuren weiter
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in der Draufsicht einen Ausschnitt aus einem erfin
dungsgemäßen Halbleiterbauelement,
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Leadframe des erfindungsge
mäßen Halbleiterbauelementes und
Fig. 3 einen Querschnitt durch ein Ausführungsbeispiel ei
nes erfindungsgemäßen Halbleiterbauelementes.
In der Fig. 1 ist ein Ausschnitt eines Ausführungsbeispiels
eines erfindungsgemäßen Halbleiterbauelementes dargestellt.
Die Fig. 1 zeigt in der Draufsicht einen Ausschnitt eines
Leadframes 4. Der Leadframe 4 weist einen Chipaufnahmebereich
5 auf, auf dessen erster Hauptseite 15 ein erster Halbleiter
chip 1a und auf dessen gegenüberliegenden, zweiten Hauptseite
16 ein zweiter Halbleiterchip 1b angeordnet sind. Der Lead
frame 4 weist weiterhin Anschlußfinger 6 auf. Die Anschluß
finger 6 dienen zur externen Kontaktierung des Halbleiterbau
elementes. Die Anschlußfinger 6 lassen sich in einen inneren
Bereich 8, der innerhalb des Gehäuserandes 12 (gestrichelt
dargestellt) gelegen ist und in einen äußeren Bereich 7, der
außerhalb des Gehäuserandes 12 gelegen ist, unterteilen. Die
Anordnung der Anschlußfinger 6 entspricht der aus dem Stand
der Technik bekannten Art und Weise.
Die Halbleiterchips 1a, 1b weisen auf ihren ersten Hauptsei
ten Kontaktpads 2a, 2b auf. Die Kontaktpads 2a sind dabei auf
dem Halbleiterchip 1a gelegen, während die Kontaktpads 2b dem
Halbleiterchip 1b zugeordnet sind. Die Kontaktpads 2a, 2b
lassen sich dabei in solche unterteilen, die ein externes Si
gnal bereitstellen und solche, die zur elektrischen Verbin
dung mit dem jeweils anderen Halbleiterchip vorgesehen sind.
Die für die externe Kontaktierung vorgesehenen Kontaktpads
sind in der Fig. 1 mit 25a, 25b bezeichnet, während diejeni
gen Kontaktpads, die zur Herstellung einer internen elektri
schen Verbindung dienen, mit 26a, 26b bezeichnet sind. In dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel weist der Halbleiterchip 1a
lediglich Kontaktpads 26a auf, die für eine interne Kontak
tierung bestimmt sind. Der auf der zweiten Hauptseite 16 des
Chipaufnahmebereiches 5 gelegene Halbleiterchip 1b weist hin
gegen sowohl Kontaktpads 25b zur externen Kontaktierung als
auch Kontaktpads 26b zur internen Kontaktierung auf. Auf der
der Gehäuseseite 20 zugewandten Seite des Halbleiterchips 2b
sind hierbei lediglich Kontaktpads 25b vorgesehen, die zur
Herstellung einer externen Verbindung mit den Anschlußfingern
6 über Drahtverbindungen 10 verbunden sind. Die der Gehäuse
seite 19 zugewandten Kontaktpads 2b beinhalten auch solche
Kontaktpads 26b, die über eine Drahtverbindung 13b mit weite
ren Anschlußfingern 11 elektrisch verbunden sind.
In der Fig. 1 ist der Leadframe derart ausgestaltet, daß auf
der der Gehäuseseite 19 zugewandten Seite alternierend ein
Anschlußfinger 6 für die externe Kontaktierung neben einem
weiteren Anschlußfinger 11 für die interne Signalverbindung
gelegen ist. Es ist selbstverständlich nicht notwendig, daß
zwischen zwei benachbarten Anschlußfingern 6 grundsätzlich
ein weiterer Anschlußfinger 11 gelegen ist. Je nach Anzahl
der benötigten internen Signalverbindungen können auch weni
ger oder mehr externe Anschlußfinger 11 vorgesehen sein. Vor
teilhaft ist es jedoch, wenn die weiteren Anschlußfinger auf
genau einer Seite des Halbleiterbauelementes, im vorliegenden
Fall der Gehäuseseite 19 gelegen sind. Im diesem Fall ist die
Herstellung der Drahtverbindung zwischen den Kontaktpads 26a,
26b und den jeweiligen weiteren Anschlußfingern 11 besonders
einfach, da die Maschine (ein Drahtbonder) nur wenig Weg
strecke zur Herstellung der Verbindung zurücklegen muß. Wird
eine sehr große Anzahl an internen Signalverbindungen benö
tigt, so ist es selbstverständlich auch denkbar, entlang al
ler vier Gehäuseseiten des Halbleiterbauelementes weitere An
schlußfinger 11 vorzusehen. Diese können dabei, wie in Fig.
1 dargestellt, jeweils zwischen zwei benachbarten Anschluß
fingern 6 gelegen sein. Es ist jedoch auch denkbar, nur ver
einzelte weitere Anschlußfinger 11 auf einer Gehäuseseite des
Halbleiterbauelementes vorzusehen. Die Kontaktpads der Halb
leiterchips sind dann natürlich entsprechend angeordnet.
Die Anordnung der weiteren Anschlußfinger 11 im Verhältnis zu
den Anschlußfingern 6 für die externe Kontaktierung wird aus
Fig. 2 näher deutlich, in der lediglich die Draufsicht auf
einen Leadframe 4 dargestellt ist. Hierbei ist ersichtlich,
daß die weiteren Anschlußfinger 11 auf zwei gegenüberliegen
den Seiten 19, 21 des Halbleiterbauelementes gelegen sind.
Die gestrichelte Linie, die parallel zu den Seiten des Chi
paufnahmebereichs 5 verläuft, gibt hierbei die später durch
das Gehäuse bestimmten Gehäuseseiten vor. Als Gehäuse wird
üblicherweise eine Vergußmasse aus einem Kunststoff vorgese
hen.
Fig. 3 zeigt in einem Ausführungsbeispiel ein erfindungsge
mäßes Halbleiterbauelement im Querschnitt. Auf dem Chipauf
nahmebereich 5 ist auf der ersten Hauptseite 15 der Halblei
terchip 1a gelegen. Dieser weist auf seiner ersten Hauptseite
3a Kontaktpads auf. Auf der rechten Seite befindet sich hier
bei ein Kontaktpad 25a, der über eine Drahtverbindung 10a mit
einem Anschlußfinger 6 zur externen Kontaktierung verbunden
ist. Auf der linken Hauptseite hingegen befindet sich (exem
plarisch) ein Kontaktpad 26a, der über eine Drahtverbindung
13a mit einem der weiteren Anschlußfinger 11 (im Querschnitt
nicht ersichtlich) verbunden ist. Die Drahtverbindung 13a ist
hierbei mit einer ersten Hauptseite 17 des weiteren Anschluß
fingers 11 verbunden. Auf der gegenüberliegenden, zweiten
Hauptseite 18 ist mit dem weiteren Anschlußfinger 11 eine
Drahtverbindung 13b verbunden, die mit ihrem anderen Ende mit
einem Kontaktpad 26b des auf der zweiten Hauptseite 16 des
Chipaufnahmebereichs 5 gelegenen Halbleiterchips 1b in Ver
bindung steht. Auf der rechten Seite des Halbleiterchips 1b
befindet sich ein Kontaktpad 25b, welcher über eine Drahtverbindung
10 mit der Unterseite eines Anschlußfingers 6, der
für die externe Kontaktierung bestimmt ist, verbunden ist.
Die Kontaktpads 25a, 25b sind im Normalfall mit unterschied
lichen Anschlußfingern 6 elektrisch verbunden. Diese befinden
sich nebeneinanderliegend in einer Ebene. Es wäre jedoch
denkbar, daß diese mit ein- und demselben Anschlußfinger ver
bunden sind, wodurch ein externes Signal beiden Halbleiter
chips zur Verfügung gestellt würde.
Die Halbleiterchips 1a, 1b sind in der vorliegenden Fig. 3
unterschiedlich groß. Dies ist nicht zwangsläufig notwendig.
Die Halbleiterchips 1a, 1b könnten auch gleich groß sein. Bei
einem der beiden Halbleiterchips könnte es sich beispielswei
se um einen logischen Halbleiterchip handeln, während der an
dere Halbleiterchip ein Speicher ist. Prinzipiell sind als
Halbleiterchips alle denkbaren Typen einsetzbar. Auf der er
sten Hauptseite 3a, 3b der Halbleiterchips 1a, 1b ist jeweils
eine Schutzschicht 14 gelegen, die während des Herstellungs
prozesses einen Schutz der aktiven Chipstrukturen bietet.
Das Gehäuse wird üblicherweise mittels eines Moldprozesses
hergestellt, das heißt bei dem Gehäuse handelt es sich um ei
nen Kunststoff, der in eine Kavität eingepreßt wird. Als
Leadframe wird vorteilhafterweise ein Kupferleadframe verwen
det. Denkbar ist jedoch jedes elektrisch leitfähige Material,
das mit den gängigen Verarbeitungswerkzeugen bearbeitet wer
den kann.
Die in den vorherigen Figuren dargestellten Ausführungsbei
spiele zeigen jeweils ein Halbleiterbauelement, das zwei
Halbleiterchips aufweist. Selbstverständlich wäre es auch
denkbar, auf den Hauptseiten des Chipaufnahmebereiches mehr
als einen Halbleiterchip anzuordnen. Die in den vorliegenden
Figuren gezeigte Anordnung weist jedoch den Vorteil auf, daß
eine gegenseitige elektrische Beeinflussung der Funktion,
hervorgerufen durch eine übereinanderliegende Anordnung, eli
miniert ist, da der metallische Chipaufnahmebereich eine
elektrische Abschirmung übernimmt. Gegenüber dem Stand der
Technik weist die Erfindung den Vorteil auf, daß ein zusätz
licher Verbindungsträger aus einem elektrisch nicht leitenden
Material (zum Beispiel ein Laminat oder eine Keramik) vermie
den werden kann, welche lediglich die Funktion zur Herstel
lung interner Signalverbindungen übernehmen würde. Hierdurch
läßt sich das erfindungsgemäße Halbleiterbauelement gegenüber
dem Stand der Technik mit geringeren Kosten herstellen. Wei
terhin weist die Erfindung den Vorteil auf, daß die nach au
ßen sichtbaren Anschlüsse (Anschlußfinger 6) gegenüber einem
konventionellen Multichip Package verringert sind. Hierdurch
geht eine Verringerung der Gehäusegröße einher.
1
a,
1
b Halbleiterchip
2
a,
2
b Kontaktpads
3
a,
3
b Erste Hauptseite
4
Leadframe
5
Chipaufnahmebereich
6
Anschlußfinger
7
Äußerer Bereich der Anschlußfinger
8
Innerer Bereich der Anschlußfinger
9
Gehäuse
10
Drahtverbindung (extern)
11
Anschlußfinger
12
Gehäuserand
13
a,
13
b Drahtverbindung (intern)
14
Schutzschicht
15
Erste Hauptseite des Chipaufnahmebereiches
16
Zweite Hauptseite des Chipaufnahmebereiches
17
Erste Hauptseite des weiteren Anschlußfingers
18
Zweite Hauptseite des weiteren Anschlußfingers
19
,
20
,
21
,
22
Gehäuseseite
25
a,
25
b Kontaktpads (extern)
26
a,
26
b Kontaktpads (intern)
Claims (11)
1. Halbleiterbauelement mit
- - zumindest einem Halbleiterchip (1a, 1b), der auf einer Hauptseite (3a, 3b) Kontaktpads (2a, 2b) aufweist,
- - einem Leadframe (4) mit einem Chipaufnahmebereich (5), auf dem der zumindest eine Halbleiterchip (1a, 1b) gelegen ist und mit Anschlußfingern (6) zur elektrischen Kontaktierung,
- - einem Gehäuse (9), das den zumindest einen Halbleiterchip (1a, 1b) und den Leadframe (4) umgibt, wobei äußere Berei che (7) der Anschlußfinger (6) außerhalb des Gehäuses (9) gelegen sind,
- - Drahtverbindungen (10), die die Kontaktpads (2a, 2b) mit inneren Bereichen der Anschlußfinger (8) elektrisch verbin den,
2. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die weiteren Anschlußfinger (22) im Inneren des Gehäuses (9)
liegen.
3. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
benachbart eines weiteren Anschlußfingers (11) jeweils ein
Anschlußfinger (6) liegt.
4. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
alternierend ein Anschlußfinger (6) und ein weiterer An
schlußfinger (11) angeordnet sind.
5. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
die weiteren Anschlußfinger (11) und die Anschlußfinger (6)
in einer Ebene liegen.
6. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
zwei Halbleiterchips (1a, 1b) übereinander angeordnet auf den
gegenüberliegenden Hauptseiten (15, 16) des Chipaufnahmebe
reichs (5) vorgesehen sind.
7. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
die elektrische Verbindung zwischen den weiteren Anschlußfin
gern (11) und den zumindest einigen der Kontaktpads (2a, 2b)
über Drahtverbindungen realisiert ist.
8. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß
ein Kontaktpad (26a) eines ersten Halbleiterchips (1a) und
ein Kontaktpad (26b) eines zweiten Halbleiterchips (1b) je
weils über eine erste beziehungsweise eine zweite Drahtver
bindung (13a, 13b) mit einem der weiteren Anschlußfinger (11)
verbunden ist.
9. Halbleiterbauelement nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß
die erste Drahtverbindung (13a) auf eine erste Hauptseite
(17) und die zweite Drahtverbindung (13b) auf eine zweite
Hauptseite (18) des weiteren Anschlußfingers (11) gebondet
ist.
10. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß
die weiteren Anschlußfinger (11) auf genau einer oder auf
zwei gegenüberliegenden Seiten (19, 21; 20, 22) des Halblei
terbauelementes gelegen sind.
11. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß
die weiteren Anschlußfinger (11) und die Anschlußfinger (6)
im wesentlichen parallel verlaufen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10019482A DE10019482A1 (de) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | Halbleiterbauelement mit einem Leadframe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10019482A DE10019482A1 (de) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | Halbleiterbauelement mit einem Leadframe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10019482A1 true DE10019482A1 (de) | 2001-07-19 |
Family
ID=7639368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10019482A Ceased DE10019482A1 (de) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | Halbleiterbauelement mit einem Leadframe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10019482A1 (de) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5780925A (en) * | 1992-10-28 | 1998-07-14 | International Business Machines Corporation | Lead frame package for electronic devices |
US6037661A (en) * | 1996-12-20 | 2000-03-14 | International Business Machines | Multichip module |
-
2000
- 2000-04-19 DE DE10019482A patent/DE10019482A1/de not_active Ceased
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5780925A (en) * | 1992-10-28 | 1998-07-14 | International Business Machines Corporation | Lead frame package for electronic devices |
US6037661A (en) * | 1996-12-20 | 2000-03-14 | International Business Machines | Multichip module |
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---|---|---|---|
OAV | Applicant agreed to the publication of the unexamined application as to paragraph 31 lit. 2 z1 | ||
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8131 | Rejection |